实验一基本门电路参数测试实验
实验一 门电路及其参数测量
逻辑电路的表示方法有三种：逻辑表达式法、真值表法和卡诺图法。 其中，逻辑表达式法比较直观，可以直接看出电路的逻辑功能；真值表 法可以直接看出电路输出结果；卡诺图法一般用来帮助化简逻辑表达式 使用。 在电子电路中，用高、低电平分别表示二值逻辑的1和0两种状态， 对于门电路的输入，都有一定的门限值：输入信号幅度高于高电平门限 值，输入为高电平，逻辑状态为1；输入信号幅度低于低电平门限值， 输入为低电平，逻辑状态为0。对于TTL门电路，其高低电平门限值分 别为2.4V和0.4V。 如果以输出的高电平表示逻辑状态1，以低电平表示逻辑状态0，称 这种表示方法为正逻辑；反之，若以输出的高电平表示逻辑状态0，低 电平表示逻辑状态1，则称这种表示方法为负逻辑。在数字电路实验中， 若非特殊说明，一般采用正逻辑。
实验一
实验目的
门电路及其参数测量
1、学习使用基本逻辑门电路，掌握各种门电路之间的转换方法。
2、学会测试逻辑门电路参数的方法。
实验原理
集成逻辑门电路是最基本的数字电路元件，目前使用较为普遍的分 别有双极型TTL逻辑门电路、CMOS型逻辑门电路，以及之后所开发的 一些与TTL兼容的CMOS逻辑门电路，比如74HCT系列。
Y
74LS00 74LS00 74LS00
4、用示波器的XY模式测量7400的电压传输曲线，画出曲线，记录并在曲 线上标注VOH、VOL、Voff、Von。测试电路如图1-2所示。 其中VOH、VOL分别为与非门的输出高电平和低电平；Voff是关门电平， 指保持输出为高电平的最大输入低电平；Von是开门电平，指保持输出为 低电平的最小输入高电平。
实验01门电路逻辑功能及参数测试
实验01门电路逻辑功能及参数测试引言：门电路是数字电路中最基本的构件之一，用于实现逻辑运算和控制电路。
本实验旨在了解门电路的基本逻辑功能和参数，并通过实验测试验证其正确性。
一、实验目的1.了解与门、或门、非门的逻辑功能及原理；2.掌握门电路的基本参数测试方法和步骤；3.了解门电路的工作特性，验证其正确性。
二、实验原理与实验步骤1.实验仪器与元件-电压源；-万用表；-两个开关；-与门、或门、非门集成电路芯片。
2.实验步骤1)搭建与门电路测试电路，其中包括一个与门芯片和两个开关。
连接电源和地线，将门输出连接到万用表并测量输出。
2)置两个开关的初始状态为断开，在此状态下观察和记录输出结果。
3)依次闭合两个开关，观察和记录输出结果。
4)重复以上步骤，分析与门的逻辑功能和输出规律。
3.理论分析与实验结果对比通过以上实验步骤，可以观察到与门的逻辑功能和输出规律。
当两个输入同时为高电平时，输出为高电平；当两个输入中有一个或两个为低电平时，输出为低电平。
实验结果与理论分析一致，验证了与门的逻辑功能与输出规律。
4.实验参数测试为了更全面地了解门电路的参数特性，我们还可以测试门电路的一些重要参数，如电压传输特性和输入电流特性。
测试电压传输特性时，改变输入电压，记录输出电压的变化，绘制输入-输出特性曲线。
测试输入电流特性时，改变输入电压，记录输入电流的变化，绘制输入电流特性曲线。
三、实验结果分析通过实验，我们可以得到门电路的电压传输特性曲线和输入电流特性曲线。
通过分析这些曲线，我们可以了解门电路的非线性特性、噪声容限和电气性能等方面的参数。
四、实验总结通过对门电路的逻辑功能和参数的测试，我们了解了门电路的基本原理与工作特性，并对其逻辑功能和参数进行了验证和分析。
门电路作为数字电路中最基本的构件之一，具有重要的应用价值。
掌握门电路的逻辑功能和参数测试方法，对于进一步学习和设计数字电路、控制电路等方面的内容具有重要意义。
实验一 基本门电路的逻辑功能测试
实验一基本门电路的逻辑功能测试姓名:潘建成班级10级电信1学号120101003132 指导老师：陈金恩一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。
3、了解测试的方法与测试的原理。
4、掌握TTL集电极开路门（OC门）的逻辑功能及应用。
5、掌握TTL三态输出门（3S门）的逻辑功能及应用。
6、熟练掌握multisim仿真测试。
二、实验仪器1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、双踪示波器，数字万用表。
4、相应74LS系列芯片若干。
三、实验原理1、验中用到的基本门电路的符号为：图1-1与门图1-2或门图1-3非门图1-4与非门图1-5或非门图1-6异或门在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，（即实验箱上面的拨动开关）然后使用逻辑电平显示单元（实验箱上部的LED）显示其逻辑功能。
2、数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。
对于普通的TTL电路，由于输出级采用了推拉式输出电路，无论输出是高电平还是低电平，输出阻抗都很低。
因此，不允许将它们的输出端并接在一起使用，而集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路，它们允许把输出端直接并接在一起使用，也就是说，它们都具有“线与”的功能。
(1)、TTL集电极开路门（OC门）本实验所用OC门型号为2输入四与非门74LS03，引脚排列见附录。
工作时，输出端必须通过一只外接电R和电源Ec相连接，以保证输出电平符合电路要求。
阻LOC门的应用主要有下述特点：电路的“线与”特性方便的完成某些特定的逻辑功能。
图1-7所示，将两个OC 门输出端直接并接在一起，则它们的输出：21212121B B A A B B A A F F F B A +=∙=∙=图1-7 OC 与非门“线与”电路即把两个（或两个以上）OC 与非门“线与”可完成“与或非”的逻辑功能。
实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试
实验一逻辑门电路的基本参数及逻辑功能测试逻辑门电路是数字电路中最基本的组成单元之一，用于处理和操作二进制信号。
逻辑门电路可以实现布尔逻辑运算，包括与门、或门、非门、异或门等。
本实验将介绍逻辑门电路的基本参数以及逻辑功能测试。
1.逻辑门电路的基本参数：逻辑门电路由多个晶体管和其他电子元件组成，其基本参数包括输入电压范围、输入电流范围、输出电压范围、输出电流范围等。
输入电压范围是指逻辑门电路所需的输入电压范围，超出此范围将无法正常工作。
例如，一个逻辑门电路的输入电压范围为0V到5V，当输入电压小于0V时，逻辑门将会判定为低电平；当输入电压大于5V时，逻辑门将会判定为高电平。
输入电流范围是指逻辑门电路所需的输入电流范围，超出此范围将可能损坏电路。
例如，一个逻辑门电路的输入电流范围为0mA到10mA，当输入电流小于0mA时，逻辑门将会判定为低电平；当输入电流大于10mA 时，逻辑门将会判定为高电平。
输出电压范围是指逻辑门电路输出的电压范围，其值取决于供电电压和逻辑门本身的设计。
例如，一个逻辑门电路的输出电压范围为0V到5V，当输出电压低于0V时，代表逻辑门输出低电平；当输出电压高于5V时，代表逻辑门输出高电平。
输出电流范围是指逻辑门电路输出的电流范围，即逻辑门可以提供的最大电流。
例如，一个逻辑门电路的输出电流范围为0mA到20mA，当输出电流小于0mA时，表示逻辑门提供的电流为零；当输出电流大于20mA 时，逻辑门将无法提供足够的电流。
2.逻辑门电路的逻辑功能测试：为了验证逻辑门电路的逻辑功能，我们可以进行一系列的实验以测试其输入输出关系。
以下是几个常用的逻辑功能测试实验：(1)AND门测试：将AND门的两个输入端分别接入逻辑1和逻辑0信号源，观察输出端的信号变化。
当输入端均为逻辑1时，输出端应为逻辑1；当输入端有一个或两个信号为逻辑0时，输出端应为逻辑0。
逻辑1和逻辑0表示高电平和低电平。
(2)OR门测试：将OR门的两个输入端分别接入逻辑1和逻辑0信号源，观察输出端的信号变化。
基本门电路的逻辑功能测试实验报告
基本门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过对基本门电路进行逻辑功能测试，掌握基本门电路的逻辑功能及其工作原理。
二、实验器材1.数字电路实验箱2.直流稳压电源3.数字万用表三、实验原理基本门电路是数字电路中最基本的逻辑元件，包括与门、或门、非门等。
它们分别对应着布尔代数中的“与”、“或”、“非”运算。
在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。
四、实验步骤1.连接与门电路：将两个输入端分别连接到数字电路实验箱上的两个开关上，将输出端连接到数字万用表上。
2.打开第一个开关，记录输出结果。
3.关闭第一个开关，打开第二个开关，记录输出结果。
4.打开两个开关，记录输出结果。
5.重复以上步骤，连接或门和非门电路进行测试。
五、实验结果及分析1.与门电路测试：当两个输入都为高电平时（即两个开关都打开），输出为高电平；当有一个或两个输入为低电平时（即有一个或两个开关关闭），输出为低电平。
这符合与运算的规律。
2.或门电路测试：当两个输入都为低电平时（即两个开关都关闭），输出为低电平；当有一个或两个输入为高电平时（即有一个或两个开关打开），输出为高电平。
这符合或运算的规律。
3.非门电路测试：当输入为高电平时（即开关打开），输出为低电平；当输入为低电平时（即开关关闭），输出为高电平。
这符合非运算的规律。
六、实验结论通过对基本门电路进行逻辑功能测试，我们掌握了与门、或门、非门的逻辑功能及其工作原理。
在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。
掌握了基本门的工作原理之后，我们可以更好地理解和设计数字电路。
七、实验注意事项1.在连接实验箱之前，确认所有器材已经通电并处于正常工作状态。
2.在进行实验前，检查所有连接是否正确，并确保没有短路情况发生。
3.在进行实验过程中，注意安全操作，避免触碰到带电部分。
实验一实验常用门电路逻辑功能测试
实验名称：常用门电路逻辑功能测试
一、实验目的：
1、熟悉试验环境、学会识别常用芯片的引脚分配。
2、掌握逻辑门逻辑功能的测试方法。
3、掌握简单组合电路的设计。
二、实验内容：
1.测试实验室常用数字逻辑芯片的逻辑功能：74LS00 74LS02 74LS04
74LS08 74LS20 74LS32 74LS86（预习时查出每个芯片的功能、内部结构以及管脚分配）
2、应用与非门74LS00实现以下逻辑：
①：F=ABC ②：F=ABC③：F=A+B ④：F=A B+A B
三、实验内容步骤：
（学生根据自己实验情况简要总结步骤和内容，主要包括：
1、实验原理图；如：
2、实验真值表；
3、实验结果记录。
如：
输入输出
A B F3
0 0 灭
0 1 亮
1 0 亮
1 1 亮
四、实验总结
（学生根据自己实验情况，简要总结实验中遇到的问题及其解决办法）
注：本实验室提供的数字集成芯片有：
74ls00,74ls02,74ls04,74ls08,74ls20,74ls32,74ls74，74ls90,74ls112，74ls138，
74ls153,74ls161 F=A+B=A B•=11
⋅•⋅
A B。
实验一基本门电路的逻辑功能测试
实验一基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2、了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理实验中用到的基本门电路的符号为：在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。
三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。
2、数字逻辑电路实验箱扩展板。
3、相应74LS系列芯片若干。
四、实验内容测试TTL门电路的逻辑功能：a）测试74LS08（与门）的逻辑功能。
b）测试74LS32（或门）的逻辑功能。
c）测试74LS04（非门）的逻辑功能。
d）测试74LS00（与非门）的逻辑功能。
e）测试74LS02（或非门）的逻辑功能。
f）测试74LS86（异或门）的逻辑功能。
五、实验步骤1、按照芯片的管脚分布图接线（注意高低电平的输入和高低电平的显示）。
2、测试各个芯片的逻辑功能六、实验报告要求1.画好各门电路的真值表表格，将实验结果填写到表中。
2.根据实验结果，写出各逻辑门的逻辑表达式，并判断逻辑门的好坏。
实验二编码器及其应用一、实验目的1.掌握一种门电路组成编码器的方法。
2.掌握8 -3线优先编码器74LS148，10 -4线优先编码器74LS147的功能。
二、实验原理1、8-3线优先编码器74LS148编码器74LS148的作用是将输入I0～I78个状态分别编成二进制码输出，它的功能表见表6-2，它的逻辑图见图6-2。
它有8个输入端，3个二进制码输出端，输入使能端EI，输出使能端7至I0递减。
输入输出EI 0 1 2 3 4 5 6 7 A2A1A0GS EOH ××××××××H H H H HL H H H H H H H H H H H H LL ×××××××L L L L L HL ××××××L H L L H L HL ×××××L H H L H L L HL ××××L H H H L H H L HL ×××L H H H H H L L L HL ××L H H H H H H L H L HL ×L H H H H H H H H L L HL L H H H H H H H H H H L H3、10-4线优先编码器74LS14774LS147的输出为8421BCD码，它的逻辑图见图6-3，其功能表为：输入输出5 6 7 8 9 D C B A GS1 2 34H H H H H H H H H H H H H 0××××××××L L H H L 1×××××××L H L H H H 1××××××L H H H L L L 1×××××L H H H H L L H 1××××L H H H H H L H L 1×××L H H H H H H L H H 1××L H H H H H H H H L L 1×L H H H H H H H H H L H 1L H H H H H H H H H H H L 174LS147逻辑图三、实验设备与器材1、数字逻辑电路实验箱。
门电路的测试实验报告
门电路的测试实验报告门电路的测试实验报告引言：门电路是数字电路中最基本的组成单元之一，它能够实现逻辑运算和控制信号的处理。
本次实验旨在通过对门电路的测试，验证其功能和性能，以及探究其在数字电路中的应用。
实验目的：1. 理解门电路的基本原理和工作方式；2. 掌握门电路的测试方法和技巧；3. 分析门电路的性能参数和特点。
实验材料和仪器：1. 门电路芯片；2. 电源；3. 示波器；4. 信号发生器；5. 连接线。
实验步骤：1. 准备工作：将门电路芯片插入实验板上，并确保连接线的接触良好；2. 测试门电路的输入输出关系：将信号发生器的输出信号连接到门电路的输入端，通过示波器观察门电路的输出信号，并记录下输入输出的关系；3. 测试门电路的逻辑功能：根据门电路的真值表，设置不同的输入信号组合，观察门电路的输出信号是否符合逻辑运算的规律；4. 测试门电路的响应时间：通过改变输入信号的频率和幅度，观察门电路的响应时间，并记录下来；5. 测试门电路的功耗：通过测量门电路的输入电流和电源电压，计算门电路的功耗；6. 总结实验结果：分析门电路的性能参数和特点，总结实验结果。
实验结果和分析：1. 输入输出关系测试结果：根据不同的输入信号，门电路的输出信号呈现出明确的逻辑关系，验证了门电路的基本功能；2. 逻辑功能测试结果：门电路的输出信号与真值表中的逻辑运算结果一致，进一步验证了门电路的逻辑功能；3. 响应时间测试结果：门电路的响应时间与输入信号的频率和幅度有关，当频率和幅度较高时，门电路的响应时间较短；4. 功耗测试结果：门电路的功耗与输入电流和电源电压成正比，功耗较低，适合在数字电路中广泛应用。
结论：通过本次实验，我们验证了门电路的功能和性能，并深入了解了门电路在数字电路中的应用。
门电路作为数字电路的基本组成单元，具有逻辑运算、控制信号处理等重要功能，为数字系统的设计和实现提供了基础。
在实际应用中，我们可以根据需要选择不同类型的门电路，如与门、或门、非门等，来满足不同的逻辑运算需求。
实验一-基本逻辑门电路实验
二 、 TTL、HC器件的电压传输特性
２.输出无负载时74LS00、74HC00电压传输特性测试数据
输入Vi(V)
0.0 0.2 … 1.2 1.4 … 4.8 5.0
74LS00
输出Vo
74HC00
二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性
３.输出无负载时74LS00、74HC00和 74HCT00电压传
互连规则与约束
TTL、CMOS器件的互连： 器件的互连总则
在电子产品的某些单板上，有时需要在某些逻辑电平的器件之间进行互连。 在不同逻辑电平器件之间进行互连时主要考虑以下几点： 1：电平关系，必须保证在各自的电平范围内工作，否则，不能满足正常逻辑 功能，严重时会烧毁芯片。 2：驱动能力，必须根据器件的特性参数仔细考虑，计算和试验，否则很可能 造成隐患，在电源波动，受到干扰时系统就会崩溃。 3：时延特性，在高速信号进行逻辑电平转换时，会带来较大的延时，设计时 一定要充分考虑其容限。 4：选用电平转换逻辑芯片时应慎重考虑，反复对比。通常逻辑电平转换芯片 为通用转换芯片，可靠性高，设计方便，简化了电路，但对于具体的设计电 路一定要考虑以上三种情况，合理选用。 对于数字电路来说，各种器件所需的输入电流、输出驱动电流不同，为了驱 动大电流器件、远距离传输、同时驱动多个器件，都需要审查电流驱动能力： 输出电流应大于负载所需输入电流；另一方面，TTL、CMOS、ECL等输入、输 出电平标准不一致，同时采用上述多种器件时应考虑电平之间的转换问题。
五、 不同逻辑电平接口转换及其应用
1.TTL与CMOS 2.CMOS与TTL 2.TTL与LVTTL 3.TTL与LVCMOS 4.LVTTL与TTL 5LVTTL与CMOS 5.LVCMOS与TTL 6.LVCMOS与CMOS 7.TTL/CMOS与ECL 8. LVTTL/LVCMOS与LVECL 9.其它
数字逻辑实验一基本门电路
1. 仿照老师的演示完成一个实验过程。
2. 独立重复步骤1，并记录操作方式。
3. 独立创建一个包含两个或门的图形文件。 4. 用模拟软件对步骤3创建的图像文件进行模拟。
参考资料
<数字逻辑实验指导书> p.8 第四章。
下次课的预习-组合电路
实验内容
使用分立元件的异或门和与非门分别构成半加器和全加器， 并进行测试。 使用MAXPLUS设计二位全加器，和4位奇偶发生器，并下 载到FPGA中进行测试。
预习内容
半加器、全加器构成原理。 MAXPLUS的操作步骤（引脚锁定，下载等）。
参考资料
《数字逻辑》理论课教材。 《数字逻辑实验指导书》第四章。 《数字逻辑实验指导书》p.34，“四、算术运算电路实验”。
用与非门分别构成与门、或门、非门等基本门并测试其功能。 用与非门构成异或门并测试其功能。
主要步骤
写出与非门构成基本门和异或门的表达式或者电路图。 按照表达式或者电路图连接74LS00的引脚。
使用开关和发光二极管进行测试。
画出接线电路图，记录结果。
参考资料
<数字逻辑实验指导书> p.16 “二、复合门电路的逻辑变换及应用实
验 ”。
例：与非门构成非门
AB 的逻辑 A 0 0 1 1 B 0 1 0 1 Y 1 1 1 0
例：与非门构成或门
用逻辑代数的公理、定理、规则转换成最小项 的方法进行变换，形成与非门的组合。
A+B
=>
A+B
=>
A B
MAXPLUS操作初步（第二时段）
实验步骤
大学电子技术实验一基本逻辑门的参数及特性测试
⼤学电⼦技术实验⼀基本逻辑门的参数及特性测试第⼆部分数字电⼦技术实验实验⼀基本逻辑门电路参数测试⼀、实验⽬的1、掌握TTL 与⾮门电路集成芯⽚的外形、引脚图和各引脚的作⽤。
2、掌握TTL 与⾮门电路主要参数和电压传输特性的测试⽅法。
3、掌握测试CMOS 门电路参数的测试⽅法及使⽤规则。
4、通过上⾯的测试加深对两种器件的认识以及正确的使⽤⽅法。
⼆、预习要求1、阅读数字电⼦基础教材第四章的内容。
2、查阅集成电路器件（见附图），熟悉74LS00、74HC20的电路功能以及引脚结构图。
3、阅读本实验的实验原理和测试⽅法。
4、掌握数字万⽤表和⽰波器的使⽤⽅法。
三、实验内容1、TTL与⾮门的静态参数测试，以74LS00、74LS20为例。
2、TTL 与⾮门的动态参数测试。
以74LS00、74LS04为例。
3、CMOS门电路参数及逻辑功能测试。
四、实验原理与测试⽅法1、TTL 与⾮门的静态参数测试。
I（1）低电平输⼊电流iLTTL 与⾮门某⼀输⼊端接地，其余输⼊端均悬空，流过接地输⼊端的电流称为输⼊低电平电流iL I ，或称为输⼊短路电流is I 。
在实际应⽤中，is I 相当于前级门输出低电平时后级向前级门灌⼊的电流，因⽽is I 的⼤⼩影响到前级门低电平输出时驱动该类型负载门的个数。
is I 的测试电路如图1.1所⽰。
（2）⾼电平输⼊电流iH ITTL 与⾮门某⼀输⼊端接⾼电平，其余输⼊端均接地，流过接⾼电平输⼊端的电流称为输⼊⾼电平电流iH I 。
在多级门电路中，当前⼀级门输出⾼电平时，iH I 就是前级门的拉电流负载，因⽽iH I 的⼤⼩影响到前级门⾼电平输出时驱动该类型负载门的个数。
iH I 的测试电路如图1.2 所⽰。
图1.1 输⼊短路电流is I 的测试电路图1.2 ⾼电平输⼊电流iH I 的测试电路（3）关门电平OFF V与⾮门的⼀个输⼊接V1，其它输⼊端悬空，慢慢增⼤V1，使门电路的输出⾼电平达到其下限值(min)OH V 时所对应的输⼊电平称为该门的关门电平OFF V 。
实验一常用基本逻辑门电路功能测试
实验一常用基本逻辑门电路功能测试一、实验目的：通过对常用基本逻辑门电路的测试，了解其功能特点，掌握逻辑门的工作原理和应用场景。
二、实验器材：1.电源模块2.逻辑门集成电路芯片（如与门、或门、非门、与非门等）3.开关4.LED灯5.电阻6.连线电缆三、实验原理：逻辑门是一种能够根据输入信号的逻辑关系，产生相应的输出信号的电子电路。
常用的基本逻辑门有与门（AND）、或门（OR）、非门（NOT）、异或门（XOR）等。
1.与门（AND）：当且仅当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2.或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为高电平。
3.非门（NOT）：将输入信号取反，并输出。
4.异或门（XOR）：当输入信号中的高电平个数为奇数时，输出信号为高电平。
四、实验步骤：1.与门电路测试：a.将逻辑门芯片与门连接到电源模块，确定电源模块的供电电压和逻辑门芯片的工作电压。
b.将与门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将与门芯片的输出引脚连接到LED灯。
c.开关控制输入信号的高低电平，观察LED灯的亮灭情况。
当输入信号都为高电平时，LED灯亮起，验证了与门的功能特点。
2.或门电路测试：a.将逻辑门芯片或门连接到电源模块。
b.将或门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将或门芯片的输出引脚连接到LED灯。
c.开关控制输入信号的高低电平，观察LED灯的亮灭情况。
当至少一个输入信号为高电平时，LED灯亮起，验证了或门的功能特点。
3.非门电路测试：a.将逻辑门芯片非门连接到电源模块。
b.将非门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将非门芯片的输出引脚连接到LED灯。
c.开关控制输入信号的高低电平，观察LED灯的亮灭情况。
输入信号取反后输出，验证了非门的功能特点。
4.异或门电路测试：a.将逻辑门芯片异或门连接到电源模块。
b.将异或门芯片的输入引脚连接到开关和电源模块的信号源上，将异或门芯片的输出引脚连接到LED灯。
实验一 门电路的功能测试
实验一、门电路的功能测试一、实验目的1. 学会对门电路逻辑功能进行测试。
2. 掌握门电路闲置输入端的处理。
3. 掌握门电路的灵活运用 二、实验仪器设备和器件1. 实验仪器1) DLC —1数字电子技术实验箱 2) 万用表 示波器2. 实验器件74LS00 74LS02 74LS86 74LS20三、实验原理1．常用逻辑门电路有与、或、非、与非、或非、与或非和异或门电路，它们所完成的逻辑功能分别为：AB Y =、B A Y +=、A Y =、AB Y =、B A Y +=、CD AB Y +=、B A Y ⊕=。
2．逻辑门电路分为TTL 电路和CMOS 电路两大类示（请查阅相关资料）。
3．闲置输入端一般不能悬空，闲置输入端视逻辑功能可采取接地、接电源、或与信号输入端并联使用等方法进行处理。
（1）对于与非门（与门）多余的输入端：应接高电平，依据是A ·1=A ；或与有用的输入端相连（依据是A ·A=A ）,绝对不能接低电平。
（2）对于或非门（或门）多余的输入端：应接低电平，依据是A+0=A ； 或与有用的输入端相连（依据是A+A=A ）绝对不能接高电平。
4．门电路逻辑功能的测试方法 （1）对集成电路供电（2）按真值表给输入端输入信号，观察和测量输出端逻辑值 （3）与理论值比较是否一致。
四、实验内容及步骤（一）门电路逻辑功能的测试（10分） 1．测试与非门的逻辑功能（74LS00）74LS00是二输入四TTL 与非门，其管脚排列如下图74LS00引脚排列选用第一个与非门，按下图接线，测试与非门的逻辑功能并填入测试表格。
注：虚线内的电路在实验箱内，只需用导线插入插孔即可。
测试表格一比较上表中理论逻辑值Y和实际逻辑值Y是否相同，结果说明了什么问题？2．测试74LS02的逻辑功能74LS02是二输入四TTL或非门，其管脚排列如下图74LS02引脚排列仿照测试表格一画出74LS02的测试表格并测试（预习时画出测试表格）（二）闲置输入端的处理（20分）与非门闲置输入端处理74LS20是四输入端二与非门，管脚排列如下图74LS20引脚排列①选用其中的一个与非门，完成ABCY 的逻辑功能。
实验1-门电路逻辑功能及测试
实验1-门电路逻辑功能及测试实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉器件外形和管脚引线排列。
2、熟悉与非、异或门电路逻辑功能。
3、设计用与非门组成其它门电路并测试验证。
二、实验器件74LS86 四二输入端异或门1片74LS00 四二输入端与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片三、预习要求1、复习与非、异或门电路工作原理。
2、熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。
四、实验内容及步骤实验前先检查实验箱电源是否正常。
然后对所选实验用的集成电路进行连线，特别注意Vcc 及地线不能接错。
实验中改动接线须先断开电芯片引脚图如下所示：74LS86 四二输入端异或门 74LS00 四二输入端与非门74LS20 四输入端双与非门实验报告上此部分可不画图，其他部分需画图填写源，接好线后再通电源。
1、测试门电路逻辑功能（1）选用四输入端双非门74LS20一只，插入设计板，按图1接线，输入端a、b、c、d接S1—S4(电平开关输出插口)，输出端L接电平显示发光二极管（D1—D8任意一个）。
图1.1(2) 将电平开关按表1置位，分别测出输出逻辑状态。
将输出结果填入表1中。
表1.1输入输出a b c d L1 1 1 1 00 1 1 1 10 0 1 1 10 0 0 1 10 0 0 0 12、异或门逻辑功能测试（1）选四二输入端异或门74LS86，按图2接线，输入端a、b、c、d接电平开关，输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表2置位拨动，将输出结果填入表2中。
图2表2输入输出a b c d A B Y0 0 0 0 0 0 01 0 0 0 1 0 11 1 0 0 0 0 01 1 1 0 0 1 11 1 1 1 0 0 00 1 0 1 1 1 03、分析并验证逻辑电路的逻辑关系（1）用74LS00按图3、图4接线，将输入输出关系分别填入表3、表4中。
（2）写出上面两个电路的逻辑表达式。
门电路的测试实验报告
门电路的测试实验报告实验名称：门电路测试实验实验目的：通过测试门电路，掌握其实际使用情况；了解门电路在电子电路中的应用。
实验原理：门电路由门电路开关、输入端和输出端等组成。
门电路输入端具有输入信号，当输入信号符合门电路规定的逻辑条件时，门电路产生输出信号。
门电路将输入信号的多种逻辑关系作为输出信号进行逻辑判断，实现复杂的逻辑运算。
门电路广泛应用于数字电路系统中的控制、存储和处理等部分。
实验器材：数字逻辑实验箱（Logic Box）、双倍增益数字逻辑触发器74LS73、数码钳形测试仪。
实验步骤：1.将门电路开关接入数字逻辑实验箱。
2.将门电路输入端和输出端分别引出。
3.将数码钳形测试仪设为“门电路测试模式”。
4.将数码钳形测试仪依次接入门电路输入端，观察输出端的信号变化。
5.测试门电路的不同逻辑功能，如与门、或门等。
6.记录测试结果。
实验结果：在测试中发现，门电路能够根据输入输出不同的逻辑关系，输出相应的逻辑运算结果。
比如在与门测试中，当A和B两个输入信号都为1时，输出端才会输出1，否则输出0。
此外，在或门测试中，只需要输入的两个信号中有一个为1，输出端即输出1，否则输出0。
通过测试，我们了解到门电路的基本功能和逻辑运算，掌握了门电路在数字电路系统中的应用。
实验结论：门电路是数字电路系统中的重要组成部分，能够进行逻辑运算，实现多种不同逻辑功能。
在实际使用中，门电路的测试是非常必要的，只有对其实际使用情况进行了解和掌握，才能够更好地应用于数字电路系统中，为人们所用。
实验建议：门电路测试应在数字电路实验箱等专业设备上进行，以确保实验的准确性和安全性。
建议在实验前，对门电路的组成和逻辑功能进行充分了解。
实验过程中，需要记录实验数据，以便后续分析。
以上是本次门电路测试实验报告，望采纳。
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实验一基本门电路参数测试实验
一、实验目的
1、熟悉各种门电路的逻辑功能及测试方法。
2、熟悉万用表的使用方法。
二、实验设备及器件
1、智能实验台 1个
2、数字万用表 1块
3、74LS20双四输入与非门 1片
4、74LS02四二输入或非门 1片
5、74LS51双二三输入与或非门 1片
6、74LS86四二输入异或门 1片
7、74LS00四二输入与非门 2片
三、实验内容与步骤
1、与非门逻辑功能测试
用74LS20双四输入与非门进行实验，其引脚图见附录。
（1）按图1-1接线。
图 1-1
（2）按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表，把测试结果填入表1-1中。
表 1-1
2、或非门逻辑功能测试
用74LS02二输入四或非门进行实验，其引脚图见附录。
（1）按图1-2接线。
图 1-2
（2）按电表1-2的要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各相应输出端F的状态，并将测试结果填入表1-2中。
表 1-2
3、
用74LS51双23输入与或非门进行实验，其引脚图见附录。
（1）按图1-3接线。
图 1-3
（2）按表1-3要求用开关改变输入量A、B、C、D的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果记入表1-3中。
表 1-3
4、异或门逻辑功能测试
用74LS86二输入四异或门进行实验。
（1）按图1-4接线。
图 1-4
（2）按表1.4要求用开关改变输入量A、B的状态，借助指示灯和万用表观测各对应输出端F的状态，并把测试结果填入表1-4中。
表 1-4
5
电路的逻辑表达式和真值表，画出逻辑图并在实验仪上加以验证。
四、实验要求
1、将实验结果填入各相应表中。
2、分析各门电路的逻辑功能。
3、回答下面问题
（1）与非门一个输入端接连续脉冲，其余端是何状态时允许脉冲通过，是何状态时禁止脉冲通过？
（2）为什么异或门又称可控反相门？
4、独立完成实验，交出完整的报告。