软件开发流程和check list
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测试条件：
在Sensor上安置好白屏光源 调节曝光时间，颜色增益，使得画面呈现灰色，并确认整体
亮度在最高亮度的80%左右 采集影像图片
Mean and Std
测试目的：
测试图片是否处于Middle Level
测试方法：
1.将图像分割为A，B两个区域，A区为图像中心25%区域， B区为图像周边区域
2）将每个通道分成M*N块数据块，并统计每块数据块的均值，记 录数据Rmean[m*n],Bmean[m*n],Gmean[m*n]， ROG[m*n],BOG[m*n]
3）统计每个色块的均值最大及最小值，再求积，则得到每个色块 的uniformity，作为测试数据
4）取出中心位置的ROGRef，BOGRef，再将m*n个ROG，BOG与 ROGRef，BOGRef进行比较，取差异最大值作为测试数据
高分辨率
低分辨率
对上图中大于10的亮度进行统计求和，再取自然对数，数值 分别为：12.2311 和 10.1364
从而可指定标准区分出良品不良品。
Line Chart Histogram
测试方法：
按亮度绘出对应视场角图像的直方图 统计两个波峰间的亮度所占的比例 测试图像及对应直方图如下：
测试方法：
工作电流：通过对Die的寄存器进行设置，让其处于功耗最 高的状态，测量其3路电源的电流。
待机电流：通过硬件或软件让Die进入待机状态，并调整 PWDN、RESET、MCLK、SDA、SCL的状态，调整AVDD、 DOVDD、DVDD的电压，让Die的功耗最低，测量总电流。
Middle Level Test
使用单位定义(3位字符)：
TSV事业部→TSV
WOC事业部→WLC
软件使用范围定义
MP→产线正常作业，EN→工程验证，RT→其他
新要求
如果软件为新项目的开发，完成软件代码的编辑后，将软件的 源代码上传至SVN建立软件的版本库。
如果是软件更新，开发人员必须先从SVN上检出正确的源代码， 在检出的源代码上进行修改，编辑完成后使用SVN客户端提供 的比较工具确认所做修改的正确性。确认无误后上传至SVN。
例如：一被测影像的Gr的亮度在700-800（10bit输出值）之 间，阈值设定为15%，取被测像素点周边5*5（必须为奇数） 的阵列大小求平均亮度进行比较。原始的Gr阵列和处理后的 二值阵列如下：
亮度过高或过低的像素点都以“0”标记
3）从上一步中得到的二值阵列中统计出该颜色通道中Small Blemish的测试数据，需要得到的数据有3个：异常像素点的 个数、总共有几簇坏点、最大的一簇坏点包括几个像素点； 例如从上面的Gr通道的部分二值阵列中需要得到该区域中有 7个异常像素点，共有4簇坏点，最大的一簇坏点包括3个像 素点。
工作电 流测试
待机电 流测试
测试项目
DC Test
OS Test LC Test(Aptina) Work Cuபைடு நூலகம்rent Test Soft/Hard Standby
Current Test BIST(Aptina) MIPI CRC(Aptina)
Middle Level Test
2）对取出的单个的颜色数据阵列进行处理，对像素点进行 标记，标记时以“1”标示正常的像素点，以“0”标示异常 的像素点，得到一个只有“1”和“0”的二值阵列。在查找 异常像素点时，采用的判断方法是：对被测像素点周围一定 大小区域内的像素点（不包括被测像素点）求平均亮度值 （当被测点在阵列的周边时用来计算平均亮度的区域需看情 况选取），预先设定阈值为n%，当被测像素的亮度值大于 平均亮度的（1+n%）或小于平均亮度的（1-n%）时则认为 该像素点异常。
这一步骤的难点是如何将每一簇坏点找出来，上面的示例中有 两簇大于1个像素点的坏点，准确的标记出每一簇坏点是关键。 为了实现该功能，软件中采用循环遍历的方法对这个阵列中的 每一簇坏点进行标记。标记过程中以“2”标记第一簇坏点， “3”标记第二簇，依此类推直到标记完所有的坏点。实现的难 点是：标记时如何在遇到一个异常像素点时将它周边各个方向 上与其相连通的异常像素点依次标记出。软件在标记时，预先 对每个像素点添加一些信息，该信息包括：像素点的位置（x， y），该像素点是否被查找过（0/1标示）。接着从第一行的第 一个像素点开始查找，当遇到一个异常像素点时，软件会查找 与其相邻的8个点是否存在异常像素点，不存在则将标记值加1， 继续查找。存在则建立一个队列，将该异常像素点和相邻的异 常像素点放入该队列，然后从队列中的第一个像素点开始提取， 因为预先对每个像素点添加了相应的信息，所以可以根据信息 中的像素点的位置查找被提取的像素点的周边是否存在没有被 查找过的异常像素点，有则继续添加到队列末尾，没有则将被 提取的像素点用当前的标记值标记，提取队列中的下个像素点， 当队列中所有的像素点都依次标记过后就表示所有相连通的像 素点都被标记过了，清空队列，将标记值加1，继续查找下一簇， 直到到达阵列末尾。
Mean and Std RAW Std Bright
OS Test
开短路测试详解
LC Test
Work/SS/HS Current Test
测试条件：
工作电流：Die工作在功耗最高状态，AVDD、DOVDD、 DVDD、MCLK需根据不同Die确认
待机电流：Die进入功耗最低状态AVDD、DOVDD、DVDD大 小需按要求设置，PWDN、RESET、MCLK、SDA、SCL按Die 的电气特性进行设置；
根据影像的分辨率和质量调整测试参数以得到比较准确的测 试结果。
Color Shading Test
测试目的：
测试图片是否有偏色
测试方法：
1）获取一帧bayer模式的图像数据阵列，并从该数据阵列中分别 取出Gr、Red、Blue、Gb四个颜色通道的数据阵列，每个颜色通 道的数据阵列的行列数为原影像数据阵列的一半。
高分辨率：
低分辨率：
从上图很明显可以看出，高分辨率波峰明显，且亮度在50-200之间的比例很小， 而低分辨率波峰不明显，亮度在50-200之间的比例很大
Dark Level Test
测试条件：
在Sensor上安置黑色遮光板 调节曝光及Gain值 取Dark Level 图片
Mean and Std
3）将得到的Large Blemish测试阵列按照Small Blemish测试 步骤的2）、3）两步进行处理，得到相应的测试结果。与 Small Blemish的测试类似，将测试结果与预设标准比较得出 测试的最终结果。
参数设置：
Small Blemish：1.用以计算被测像素点比较角度值的周边区 域的大小（reference kernel size，m*m，m为奇数）；2.阈 值（threshold，n%）；3.连同区域大小（continuity kernel size, m*m，m为奇数）
Large Blemish：1. 合并区域的大小（m*m，m为偶数）2.用 以计算被测像素点比较角度值的周边区域的大小（reference kernel size，m*m，m为奇数）；3.阈值（threshold，n%）； 4.连通区域大小（continuity kernel size, m*m，m为奇数）
1）按Small Blemish测试的步骤1）得到一个颜色通道的数 据阵列；
2）建立Large Blemish测试阵列，将由步骤1）得到的数据 阵列进行合并，将原数据阵列按照预先设定的区域大小（如 2*2）进行划分 ,对每个区域内求平均值，将一个区域作为 Large Blemish测试阵列中的一个点，生成新的阵列，如图：
测试方法：
与Middle Level 的Mean and Std的测试方法一样 标准制定
RAW Std
测试目的：
测试图片的RAW noise影响
测试方法：
计算图像每行的亮度均值，再对均值计算方差
Block Chart SFR
测试方法：
1）标记所有角点 2）提取对应视场角下的图像 3）提取图像里的黑白边界 4）对边界计算3/4/8格的最大亮度差 5）对亮度差进行判断是否符合标准
Block Chart SFR
测试方法：
1.对提取的对应位置的数据进行傅里叶变换； 2.对频谱数据进行高斯滤波，从而提取高频分量； 3.对滤波后的频谱数据进行逆傅里叶变换； 对两个不同分辨率的图像进行处理后的图像如下所示：
2.分别统计A，B两个区域的平均值跟方差 3.判断两个区域的平均值与方差是否符合标准；
Small Blemish
测试目的：
测试图片是否有脏点
测试方法：
1）获取一帧bayer模式的图像数据阵列，并从该数据阵列中 分别取出Gr、Red、Blue、Gb四个颜色通道的数据阵列，每 个颜色通道的数据阵列的行列数为原影像数据阵列的一半。 如下图所示，从原图中取出了Gr的数据阵列：
测试方法：
1）取每列/行的亮度均值 2）统计相邻亮度差，或间隔亮度差 3）取出最大亮度差最大值，判断是否超出标准，并记录最
大亮度差位置
Chart Test（Resolution)
测试条件：
移除白屏，使得Chart充满影像 调节曝光及Gain值并确认整体亮度在最高亮度的80%左右 采集Chart图片
Mean and Std Small Blemish Large1/Large2
Blemish Color Shading Lens Shading FPN
Chart Test（Resolution）
Block Chart
SFR FFT
Line Chart
Histogram
Dark Level Test
上例中的阵列经此步骤处理后的结果如下：
Small Blemish的测试包括4个颜色通道，每个颜色通道都必须 依此方法进行测试，将测试结果与预设标准比较得出最终测试 结果。
Large1/Large2 Blemish
测试方法：
Large Blemish 的测试与Small Blemish的测试类似，Small Blemish的测试针对的是每个像素点，而Large Blemish的测 试是将一个区域内的像素点当作一个点进行测试。
软件版本定义（4位字符）：
AA.BB
软件调试期间的变更修改软件版本的后一级字符段→“BB”（01-99）；
发行到产线的新版软件必须升级软件版本的前一级字符段→“AA”（01-99）；
软件版本的字符段在变更时依次递增，不能重复，并且必须有变更记录
适用厂内产品型号定义：参考《料号对照表》中厂内产品型号
软件开发流程和check list
沈金磊 2014-6-18
目录
软件开发流程
标准作业书 注意点 新要求
测试项目汇总 Chek List
软件开发流程
QT-WI-RD-140010 测试软件开发标准作业书 A6.doc.doc 新项目需求的测试软件开发需收集Test Plan和Sensor的
Lens Shading Test
测试目的：
测试图片是否暗边严重
测试方法：
1）提取图像的中心区域，及周边分割的八个区域 2）计算每个区域的均值 3）将周边八个区域的均值与中心区域算积，计算八个积的
方差及最小值作为测试数据
FPN Test
测试目的：
测试图片是否有水平或垂直暗线或亮线
软件上传至SVN时必须将软件的特征信息（功能，目的，软件 版本）描述清楚。
如下所示：为SVN界面及Message记录
测试项目汇总
测试一般流程
开始 测试
OS Test
NG
OK 测试初
始化
I2C测 试
ID 确认
NG
OK 寄存器设
置
获取图片数 据
NG
影像测 试
输出测 试结果 人工评
估 保存数
据
结束
显示图 片
Datasheet 软件开发人员需要完成的事情：
程序流程图 算法说明 数据结构图 实现模块 模块定义 模块接口 代码编写规范; 测试验证
注意点
软件命名及版本定义
软件命名规则：
XX_XXX_XXXXXXX_AA.BB
软件版本，
适用厂内产品型号
使用单位
软件使用范围
例如：MP_WLC_AAC203AD00_01.06
在Sensor上安置好白屏光源 调节曝光时间，颜色增益，使得画面呈现灰色，并确认整体
亮度在最高亮度的80%左右 采集影像图片
Mean and Std
测试目的：
测试图片是否处于Middle Level
测试方法：
1.将图像分割为A，B两个区域，A区为图像中心25%区域， B区为图像周边区域
2）将每个通道分成M*N块数据块，并统计每块数据块的均值，记 录数据Rmean[m*n],Bmean[m*n],Gmean[m*n]， ROG[m*n],BOG[m*n]
3）统计每个色块的均值最大及最小值，再求积，则得到每个色块 的uniformity，作为测试数据
4）取出中心位置的ROGRef，BOGRef，再将m*n个ROG，BOG与 ROGRef，BOGRef进行比较，取差异最大值作为测试数据
高分辨率
低分辨率
对上图中大于10的亮度进行统计求和，再取自然对数，数值 分别为：12.2311 和 10.1364
从而可指定标准区分出良品不良品。
Line Chart Histogram
测试方法：
按亮度绘出对应视场角图像的直方图 统计两个波峰间的亮度所占的比例 测试图像及对应直方图如下：
测试方法：
工作电流：通过对Die的寄存器进行设置，让其处于功耗最 高的状态，测量其3路电源的电流。
待机电流：通过硬件或软件让Die进入待机状态，并调整 PWDN、RESET、MCLK、SDA、SCL的状态，调整AVDD、 DOVDD、DVDD的电压，让Die的功耗最低，测量总电流。
Middle Level Test
使用单位定义(3位字符)：
TSV事业部→TSV
WOC事业部→WLC
软件使用范围定义
MP→产线正常作业，EN→工程验证，RT→其他
新要求
如果软件为新项目的开发，完成软件代码的编辑后，将软件的 源代码上传至SVN建立软件的版本库。
如果是软件更新，开发人员必须先从SVN上检出正确的源代码， 在检出的源代码上进行修改，编辑完成后使用SVN客户端提供 的比较工具确认所做修改的正确性。确认无误后上传至SVN。
例如：一被测影像的Gr的亮度在700-800（10bit输出值）之 间，阈值设定为15%，取被测像素点周边5*5（必须为奇数） 的阵列大小求平均亮度进行比较。原始的Gr阵列和处理后的 二值阵列如下：
亮度过高或过低的像素点都以“0”标记
3）从上一步中得到的二值阵列中统计出该颜色通道中Small Blemish的测试数据，需要得到的数据有3个：异常像素点的 个数、总共有几簇坏点、最大的一簇坏点包括几个像素点； 例如从上面的Gr通道的部分二值阵列中需要得到该区域中有 7个异常像素点，共有4簇坏点，最大的一簇坏点包括3个像 素点。
工作电 流测试
待机电 流测试
测试项目
DC Test
OS Test LC Test(Aptina) Work Cuபைடு நூலகம்rent Test Soft/Hard Standby
Current Test BIST(Aptina) MIPI CRC(Aptina)
Middle Level Test
2）对取出的单个的颜色数据阵列进行处理，对像素点进行 标记，标记时以“1”标示正常的像素点，以“0”标示异常 的像素点，得到一个只有“1”和“0”的二值阵列。在查找 异常像素点时，采用的判断方法是：对被测像素点周围一定 大小区域内的像素点（不包括被测像素点）求平均亮度值 （当被测点在阵列的周边时用来计算平均亮度的区域需看情 况选取），预先设定阈值为n%，当被测像素的亮度值大于 平均亮度的（1+n%）或小于平均亮度的（1-n%）时则认为 该像素点异常。
这一步骤的难点是如何将每一簇坏点找出来，上面的示例中有 两簇大于1个像素点的坏点，准确的标记出每一簇坏点是关键。 为了实现该功能，软件中采用循环遍历的方法对这个阵列中的 每一簇坏点进行标记。标记过程中以“2”标记第一簇坏点， “3”标记第二簇，依此类推直到标记完所有的坏点。实现的难 点是：标记时如何在遇到一个异常像素点时将它周边各个方向 上与其相连通的异常像素点依次标记出。软件在标记时，预先 对每个像素点添加一些信息，该信息包括：像素点的位置（x， y），该像素点是否被查找过（0/1标示）。接着从第一行的第 一个像素点开始查找，当遇到一个异常像素点时，软件会查找 与其相邻的8个点是否存在异常像素点，不存在则将标记值加1， 继续查找。存在则建立一个队列，将该异常像素点和相邻的异 常像素点放入该队列，然后从队列中的第一个像素点开始提取， 因为预先对每个像素点添加了相应的信息，所以可以根据信息 中的像素点的位置查找被提取的像素点的周边是否存在没有被 查找过的异常像素点，有则继续添加到队列末尾，没有则将被 提取的像素点用当前的标记值标记，提取队列中的下个像素点， 当队列中所有的像素点都依次标记过后就表示所有相连通的像 素点都被标记过了，清空队列，将标记值加1，继续查找下一簇， 直到到达阵列末尾。
Mean and Std RAW Std Bright
OS Test
开短路测试详解
LC Test
Work/SS/HS Current Test
测试条件：
工作电流：Die工作在功耗最高状态，AVDD、DOVDD、 DVDD、MCLK需根据不同Die确认
待机电流：Die进入功耗最低状态AVDD、DOVDD、DVDD大 小需按要求设置，PWDN、RESET、MCLK、SDA、SCL按Die 的电气特性进行设置；
根据影像的分辨率和质量调整测试参数以得到比较准确的测 试结果。
Color Shading Test
测试目的：
测试图片是否有偏色
测试方法：
1）获取一帧bayer模式的图像数据阵列，并从该数据阵列中分别 取出Gr、Red、Blue、Gb四个颜色通道的数据阵列，每个颜色通 道的数据阵列的行列数为原影像数据阵列的一半。
高分辨率：
低分辨率：
从上图很明显可以看出，高分辨率波峰明显，且亮度在50-200之间的比例很小， 而低分辨率波峰不明显，亮度在50-200之间的比例很大
Dark Level Test
测试条件：
在Sensor上安置黑色遮光板 调节曝光及Gain值 取Dark Level 图片
Mean and Std
3）将得到的Large Blemish测试阵列按照Small Blemish测试 步骤的2）、3）两步进行处理，得到相应的测试结果。与 Small Blemish的测试类似，将测试结果与预设标准比较得出 测试的最终结果。
参数设置：
Small Blemish：1.用以计算被测像素点比较角度值的周边区 域的大小（reference kernel size，m*m，m为奇数）；2.阈 值（threshold，n%）；3.连同区域大小（continuity kernel size, m*m，m为奇数）
Large Blemish：1. 合并区域的大小（m*m，m为偶数）2.用 以计算被测像素点比较角度值的周边区域的大小（reference kernel size，m*m，m为奇数）；3.阈值（threshold，n%）； 4.连通区域大小（continuity kernel size, m*m，m为奇数）
1）按Small Blemish测试的步骤1）得到一个颜色通道的数 据阵列；
2）建立Large Blemish测试阵列，将由步骤1）得到的数据 阵列进行合并，将原数据阵列按照预先设定的区域大小（如 2*2）进行划分 ,对每个区域内求平均值，将一个区域作为 Large Blemish测试阵列中的一个点，生成新的阵列，如图：
测试方法：
与Middle Level 的Mean and Std的测试方法一样 标准制定
RAW Std
测试目的：
测试图片的RAW noise影响
测试方法：
计算图像每行的亮度均值，再对均值计算方差
Block Chart SFR
测试方法：
1）标记所有角点 2）提取对应视场角下的图像 3）提取图像里的黑白边界 4）对边界计算3/4/8格的最大亮度差 5）对亮度差进行判断是否符合标准
Block Chart SFR
测试方法：
1.对提取的对应位置的数据进行傅里叶变换； 2.对频谱数据进行高斯滤波，从而提取高频分量； 3.对滤波后的频谱数据进行逆傅里叶变换； 对两个不同分辨率的图像进行处理后的图像如下所示：
2.分别统计A，B两个区域的平均值跟方差 3.判断两个区域的平均值与方差是否符合标准；
Small Blemish
测试目的：
测试图片是否有脏点
测试方法：
1）获取一帧bayer模式的图像数据阵列，并从该数据阵列中 分别取出Gr、Red、Blue、Gb四个颜色通道的数据阵列，每 个颜色通道的数据阵列的行列数为原影像数据阵列的一半。 如下图所示，从原图中取出了Gr的数据阵列：
测试方法：
1）取每列/行的亮度均值 2）统计相邻亮度差，或间隔亮度差 3）取出最大亮度差最大值，判断是否超出标准，并记录最
大亮度差位置
Chart Test（Resolution)
测试条件：
移除白屏，使得Chart充满影像 调节曝光及Gain值并确认整体亮度在最高亮度的80%左右 采集Chart图片
Mean and Std Small Blemish Large1/Large2
Blemish Color Shading Lens Shading FPN
Chart Test（Resolution）
Block Chart
SFR FFT
Line Chart
Histogram
Dark Level Test
上例中的阵列经此步骤处理后的结果如下：
Small Blemish的测试包括4个颜色通道，每个颜色通道都必须 依此方法进行测试，将测试结果与预设标准比较得出最终测试 结果。
Large1/Large2 Blemish
测试方法：
Large Blemish 的测试与Small Blemish的测试类似，Small Blemish的测试针对的是每个像素点，而Large Blemish的测 试是将一个区域内的像素点当作一个点进行测试。
软件版本定义（4位字符）：
AA.BB
软件调试期间的变更修改软件版本的后一级字符段→“BB”（01-99）；
发行到产线的新版软件必须升级软件版本的前一级字符段→“AA”（01-99）；
软件版本的字符段在变更时依次递增，不能重复，并且必须有变更记录
适用厂内产品型号定义：参考《料号对照表》中厂内产品型号
软件开发流程和check list
沈金磊 2014-6-18
目录
软件开发流程
标准作业书 注意点 新要求
测试项目汇总 Chek List
软件开发流程
QT-WI-RD-140010 测试软件开发标准作业书 A6.doc.doc 新项目需求的测试软件开发需收集Test Plan和Sensor的
Lens Shading Test
测试目的：
测试图片是否暗边严重
测试方法：
1）提取图像的中心区域，及周边分割的八个区域 2）计算每个区域的均值 3）将周边八个区域的均值与中心区域算积，计算八个积的
方差及最小值作为测试数据
FPN Test
测试目的：
测试图片是否有水平或垂直暗线或亮线
软件上传至SVN时必须将软件的特征信息（功能，目的，软件 版本）描述清楚。
如下所示：为SVN界面及Message记录
测试项目汇总
测试一般流程
开始 测试
OS Test
NG
OK 测试初
始化
I2C测 试
ID 确认
NG
OK 寄存器设
置
获取图片数 据
NG
影像测 试
输出测 试结果 人工评
估 保存数
据
结束
显示图 片
Datasheet 软件开发人员需要完成的事情：
程序流程图 算法说明 数据结构图 实现模块 模块定义 模块接口 代码编写规范; 测试验证
注意点
软件命名及版本定义
软件命名规则：
XX_XXX_XXXXXXX_AA.BB
软件版本，
适用厂内产品型号
使用单位
软件使用范围
例如：MP_WLC_AAC203AD00_01.06