第一次数电实验内容(1)
数电实验报告1
实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路学习机及示波器使用方法。
二、实验仪器及材料1、双踪示波器2、器件74LS00 二输入端四与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片74LS86 二输入端四异或门1片74LS04 六反相器1片三、预习要求1、复习门电路工作原理相应逻辑表达示。
2、熟悉所有集成电路的引线位置及各引线用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
四、实验内容实验前按学习机使用说明先检查学习机是否正常，然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误方可通电。
试验中改动接线须先断开电源，接好线后在通电实验。
1、测试门电路逻辑功能。
（1）选用双输入与非门74LS20一只，插入面包板，按图连接电路，输入端接S1~S4(电平开关输入插口)，输出端接电平显示发光二极管（D1~D8任意一个）。
（2）将电平开关按表1.1置位，分别测出电压及逻辑状态。
（表1.1）2、异或门逻辑功能测试（1）选二输入四异或门电路74LS86，按图接线，输入端1﹑2﹑4﹑5接电平开关，输出端A﹑B﹑Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。
表 1.23、逻辑电路的逻辑关系（1）选用四二输入与非门74LS00一只，插入面包板，实验电路自拟。
将输入输出逻辑关系分别填入表1.3﹑表1.4。
（2）写出上面两个电路的逻辑表达式。
表1.3 Y=A ⊕B表1.4 Y=A ⊕B Z=AB 4、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器（非门）按图1.5接线，输80KHz 连续脉冲，用双踪示波器测输入，输出相位差，计算每个门的平均传输延迟时间的tpd 值 ： tpd=0.2μs/6=1/30μs 5、利用与非门控制输出。
选用四二输入与非门74LS00一只，插入面包板，输入接任一电平开关，用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用:一端接高有效的脉冲信号，另一端接控制信号。
数电实验内容1-6
实验1 实验仪器的使用及集成门电路逻辑功能的测试一、实验目的1．掌握数字逻辑实验箱、示波器的结构、基本功能和使用方法 2．掌握TTL 集成电路的使用规则与逻辑功能的测试方法 二、实验仪器及器件1．实验仪器：数字实验台、双踪示波器、万用表2．实验器件：74LS00一片、74LS20一片、74LS86一片、导线若干 三、实验内容1．DZX-1型数字电路实验台功能实验（1）利用实验台自带的数字电压/电流表测量实验台的直流电源、16位逻辑电平输出/输入（数据开关）的输出电压。
（2）将8段阴极与阳极数码显示输入开关分别与16位逻辑电平输出连接，手动拨动电平开关，观察数码显示，并将数码显示屏上的数字对应的各输入端的电平值记录下来。
2．VP-5566D 双踪示波器实验 （1）测量示波器方波校准信号将示波器的标准方波经探头接至X 端，观察并记录波形的纵向、横向占的方格数，并计算周期、频率、幅度。
（2）显示双踪波形利用实验台上的函数信号发生器产生频率为KHz 的连续脉冲并接至示波器X 端，示波器的标准方波接至Y 端，观察并记录两波形。
3．测试与非门的逻辑功能（1）将74LS20（4输入2与非门）中某个与非门的输入端分别接至四个逻辑开关，输出端Y 接发光二极管，改变输入状态的电平，观察并记录，列出真值表，并写出Y 的表达式。
a b c d e f g ha b c d af be f g hg e c d(a) 外形图(b) 共阴极(c) 共阳极+V CCa b c d e f g hA 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1B 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1C 0 0 0 0 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1D 0 0 0 0 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 11 Y（2）将引脚1接1KHz 连续脉冲Vi （即接脉冲信号发生器Q12端口），引脚2接逻辑电平输出，引脚4、5接逻辑电平“1”，用示波器双踪显示并记录引脚1和引脚6端的波形Vi 和V o 如下图示（标出电平的幅度值）。
数电实验报告1
实验一定时器一、实验目的：按电路图 1的要求用 555 时基集成电路及相关元器件，构成“定时器”，在“面包板上”焊接实际电路，并调试出正确结果。
二、实验内容与原理：接通电源后， 555 的引脚 2为高电位，引脚 3 输出为低电位，晶体管9013 为截止状态，集电极没有电流通过，发光管 LED 不发光；当 K2 按下后，引脚 2 为低电位，使引脚 3 输出为高电位，进而使晶体管 9013为通导状态，使发光管 LED 发光，同时引脚 2 为低电位，使引脚 6、7拉成低电位，定时开始，由于电源通过47K电阻和 100K 电位器给引脚 6、7所接的 47μ电容充电，经过一段充电时间后，47μ电容的电压降增加，使引脚6、7由低电位变为高电位，又使引脚 3 输出为低电位，使晶体管 9013 又变为截止状态，发光管 LED 不发光。
发光管LED发光的时间为延迟定时时间，当改变100K电位器的数值时，即改变对47μ电容充电电流，充电电流大，可缩小对 47μ电容充电时间，充电电流小，可延长对 47μ电容充电时间，使引脚 6、7由低电位变成高电位的时间发生改变，从而100K电位器可用来调整延迟时间。
由定时器的引脚3引出电信号，或在发光二极管处，换成继电器，就可接在其它应用定时器的电子线路中去。
定时器的线路图由下图所示：图1 定时器线路图三、实验器材：直流稳压电源、数字万用表、面包板、555定时器、发光二极管、三极管、轻触开关、电阻（10kΩ两个、560Ω一个、51kΩ一个）、滑动变阻器（100kΩ一个）、电解电容（47uF一个、100uF一个）、电容（0.01uF一个）、Multisim软件四、实验原理根据 555 电路的基本特性，搭建延时器和振荡器实现定时器。
五、实验步骤：1 ．按电路要求在面包板上插接实际电路。
2 ．检查无误后，正确接通 5 伏电源。
3 ．出现问题，仔细寻找原因，纠正错误，调整好电路。
六、实验数据及结果分析:接通电源，按下开关后，发光二极管上有电流流过，二极管发光；一段时间后，二极管熄灭。
数电实验报告1
实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路学习机及示波器使用方法。
二、实验仪器及材料1、双踪示波器2、器件74LS00 二输入端四与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片74LS86 二输入端四异或门1片74LS04 六反相器1片三、预习要求1、复习门电路工作原理相应逻辑表达示。
2、熟悉所有集成电路的引线位置及各引线用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
四、实验内容实验前按学习机使用说明先检查学习机是否正常，然后选择实验用的集成电路，按自己设计的实页脚内容1验接线图接好连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误方可通电。
试验中改动接线须先断开电源，接好线后在通电实验。
1、测试门电路逻辑功能。
（1）选用双输入与非门74LS20一只，插入面包板，按图连接电路，输入端接S1~S4(电平开关输入插口)，输出端接电平显示发光二极管（D1~D8任意一个）。
（2）将电平开关按表1.1置位，分别测出电压及逻辑状态。
（表1.1）2、异或门逻辑功能测试（1）选二输入四异或门电路74LS86，按图接线，输入端1﹑2﹑4﹑5接电平开关，输出端A﹑B ﹑Y接电平显示发光二极管。
（2）将电平开关按表1.2置位，将结果填入表中。
页脚内容2表1.23、逻辑电路的逻辑关系页脚内容3路自拟。
将输入输出逻辑关系分别填入表1.3﹑表1.4。
（2）写出上面两个电路的逻辑表达式。
表1.3 Y=A⊕B表1.4 Y=A⊕B Z=AB4、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器（非门）按图1.5接线，输80KHz连续脉冲，用双踪示波器测输入，输出相位差，计算每个门的平均传输延迟时间的tpd值：tpd=0.2μs/6=1/30μs5、利用与非门控制输出。
选用四二输入与非门74LS00一只，插入面包板，输入接任一电平开关，用示波器观察S对输出脉冲的控制作用:页脚内容4页脚内容5一端接高有效的脉冲信号，另一端接控制信号。
数电实验实验报告
dry实验一组合逻辑电路分析一．试验用集成电路引脚图74LS00集成电路74LS20集成电路四2输入与非门双4输入与非门二．实验内容1.实验一X12.5 VABCDU1A74LS00NU2AU3A74LS00N逻辑指示灯：灯亮表示“1”，灯灭表示“0”ABCD按逻辑开关，“1”表示高电平，“0”表示低电平自拟表格并记录:A B C D Y A B C D Y0 0 0 0 0 1 0 0 0 00 0 0 1 0 1 0 0 1 00 0 1 0 0 1 0 1 0 00 0 1 1 1 1 0 1 1 10 1 0 0 0 1 1 0 0 10 1 0 1 0 1 1 0 1 10 1 1 0 0 1 1 1 0 10 1 1 1 1 1 1 1 1 12.实验二密码锁的开锁条件是：拨对密码，钥匙插入锁眼将电源接通，当两个条件同时满足时，开锁信号为“1”，将锁打开。
否则，报警信号为“1”，则接通警铃。
试分析密码锁的密码ABCD是什么？AＢＣDABCD接逻辑电平开关。
最简表达式为：X1=AB’C’D 密码为：1001三.实验体会：1.分析组合逻辑电路时，可以通过逻辑表达式，电路图和真值表之间的相互转换来到达实验所要求的目的。
2.这次试验比较简单，熟悉了一些简单的组合逻辑电路和芯片，和使用仿真软件来设计和构造逻辑电路来求解。
实验二组合逻辑实验（一）半加器和全加器一．实验目的1.熟悉用门电路设计组合电路的原理和方法步骤二．预习内容1.复习用门电路设计组合逻辑电路的原理和方法步骤。
2.复习二进制数的运算。
3.用“与非门”设计半加器的逻辑图。
4.完成用“异或门”、“与或非”门、“与非”门设计全加器的逻辑图。
5.完成用“异或”门设计的3变量判奇电路的原理图。
三．元件参考依次为74LS283、74LS00、74LS51、74LS136其中74LS51：Y=（AB+CD）’，74LS136：Y=A⊕B（OC门）四．实验内容1.用与非门组成半加器，用或非门、与或非门、与非门组成全加器（电路自拟）U1NOR2NOR2U3NOR2U4NOR2U5NOR2SC半加器U1A74LS136DU1B74LS136DU2C74LS00DR11kΩR21kΩVCC5VU3A74LS51D81121391011J1Key = AJ2Key = BJ3Key = CSi2.5 VCi2.5 V被加数A i0 1 0 1 0 1 0 12.用异或门设计3变量判奇电路，要求变量中1的个数为奇数是，输出为1，否则为0.3.“74LS283”全加器逻辑功能测试五．实验体会：1.通过这次实验，掌握了熟悉半加器与全加器的逻辑功能2.这次实验的逻辑电路图比较复杂，涉及了异或门、与或非门、与非门三种逻辑门，在接线时应注意不要接错。
数字电路第一次实验报告
实验一ＴＴＬ逻辑门参数测试一、实验目的：1．了解TTL 逻辑门电路的主要参数及测量方法。
2．熟悉TTL 逻辑门电路的参数意义。
3．掌握TTL 逻辑门电路的逻辑功能及使用规则。
二、实验仪器：74LS00:三、实验原理：逻辑门电路早期是由分立元件构成，体积大，性能差，随着半导体工艺的不断发展，电路设计的随之改进，使所有元器件连同布线都集成在一小块硅芯片上，形成集成逻辑门，集成逻辑门是最基本的数字集成元件，目前使用最普遍的双极型数字集成电路是TTL 逻辑门电路，它的品种已超过千种，近年来出现的高速型系列已成为新一代数字设备的支撑器件。
通过这次实验，希望同学们初步掌握数字电路实验的基本方法，学会查阅器件手册，学会逻辑箱的使用，正确掌握操作规范。
1．TTL 与非门的参数本实验采用的逻辑门为TTL 双极型数字集成逻辑门电路74LS00，它有四个 2 输入与非门，外形为双列直插，引脚排列如图1-1 所示，逻辑符号如图1-2 所示。
输入为A、B 端，输出为Y 端，Y= A B。
参数分别有：（1）I CCL、I CCHI CCL 为输出低电平电源电流，是指输入端全部悬空，输出端空载时电源提供器件的电流；I CCH 为输出高电平电源电流，是指输入端至少一个接地，输出端空载时电源提供器件的电流。
（2）I IL、I IHI IL为输入低电平电流，是指一个输入端接地，其它输入端悬空，这个输入端流向接地端的电流；I IH为输入高电平电流，是指一个输入端接高电平VCC，其它输入端接地，高电平VCC流向高电平输入端的电流。
（3）电压传输特性电压传输特性是直观反映输出电压V O随输入电压V I变化而变化的关系曲线，见图1-3，从特性曲线图中可以得到重要参数：输出低电平V OL，是指当与非门输入端均接高电平或悬空时的输出电压值，当输出空载时V OL≈0．2V，当输出接有灌电流负载时，V OL将上升，其允许最大值为0．4V。
输出高电平V OH，是指当与非门有一个或以上的输入端接地或接低电平时的输出电压值，当输出空载时V OH≈4．２V，当输出接有拉电流负载时，V OH将下降，其允许最小值为2．4V。
数电实验报告东大
一、实验目的1. 理解数字电路的基本组成和基本原理。
2. 掌握常用数字电路的分析和设计方法。
3. 提高动手实践能力，加深对数字电路理论知识的理解。
二、实验内容本次实验主要包含以下内容：1. 数字电路基础实验2. 组合逻辑电路实验3. 时序逻辑电路实验三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 数字信号发生器3. 示波器4. 计算器5. 实验指导书四、实验原理1. 数字电路基础实验：通过实验了解数字电路的基本组成和基本原理，包括逻辑门、编码器、译码器等。
2. 组合逻辑电路实验：通过实验掌握组合逻辑电路的分析和设计方法，包括加法器、编码器、译码器、数据选择器等。
3. 时序逻辑电路实验：通过实验掌握时序逻辑电路的分析和设计方法，包括触发器、计数器、寄存器等。
五、实验步骤1. 数字电路基础实验- 连接实验箱，检查电路连接是否正确。
- 按照实验指导书的要求，进行逻辑门、编码器、译码器等电路的实验。
- 观察实验结果，分析实验现象，并记录实验数据。
2. 组合逻辑电路实验- 连接实验箱，检查电路连接是否正确。
- 按照实验指导书的要求，进行加法器、编码器、译码器、数据选择器等电路的实验。
- 观察实验结果，分析实验现象，并记录实验数据。
3. 时序逻辑电路实验- 连接实验箱，检查电路连接是否正确。
- 按照实验指导书的要求，进行触发器、计数器、寄存器等电路的实验。
- 观察实验结果，分析实验现象，并记录实验数据。
六、实验结果与分析1. 数字电路基础实验- 通过实验，验证了逻辑门、编码器、译码器等电路的基本原理和功能。
- 实验结果符合理论预期，验证了数字电路的基本组成和基本原理。
2. 组合逻辑电路实验- 通过实验，掌握了组合逻辑电路的分析和设计方法。
- 实验结果符合理论预期，验证了组合逻辑电路的基本原理。
3. 时序逻辑电路实验- 通过实验，掌握了时序逻辑电路的分析和设计方法。
- 实验结果符合理论预期，验证了时序逻辑电路的基本原理。
七彩圣诞树数电实验报告(一)
七彩圣诞树数电实验报告(一)
实验报告：七彩圣诞树数电实验
1. 实验目的
•掌握七彩圣诞树数电实验的原理和方法
•增强对数电电路的理解和实践能力
2. 实验器材
•Arduino开发板
•七彩LED灯
•杜邦线
•面包板
3. 实验步骤
1.将Arduino开发板与面包板相连接
2.使用杜邦线将七彩LED灯与Arduino开发板连接
3.编写Arduino代码实现七彩圣诞树效果
4.将编写好的代码烧录到Arduino开发板
5.执行代码，观察七彩圣诞树效果
4. 实验结果
通过实验，成功实现了七彩圣诞树效果。
观察到LED灯呈现出七
种不同的颜色，并以一定的频率闪烁，给人一种温暖而欢乐的感觉。
5. 实验分析
七彩圣诞树实验是基于Arduino编程和数字电路的应用实验。
通
过控制LED灯不同引脚的电平状态以及闪烁频率，能够产生不同颜色
的光效，给人节日氛围。
6. 实验总结
通过完成本次实验，我对七彩圣诞树数电实验有了更深入的理解。
同时，我也进一步熟悉了Arduino开发板的使用方法，并提升了自己
的电路搭建及编程能力。
这对我未来的创作和实验都有很大的帮助。
7. 参考资料
无。
数电项目实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 理解数字电路的基本概念和组成原理。
2. 掌握常用数字电路的分析方法。
3. 培养动手能力和实验技能。
4. 提高对数字电路应用的认识。
二、实验器材1. 数字电路实验箱2. 数字信号发生器3. 示波器4. 短路线5. 电阻、电容等元器件6. 连接线三、实验原理数字电路是利用数字信号进行信息处理的电路，主要包括逻辑门、触发器、计数器、寄存器等基本单元。
本实验通过搭建简单的数字电路，验证其功能，并学习数字电路的分析方法。
四、实验内容及步骤1. 逻辑门实验（1）搭建与门、或门、非门等基本逻辑门电路。
（2）使用数字信号发生器产生不同逻辑电平的信号，通过示波器观察输出波形。
（3）分析输出波形，验证逻辑门电路的正确性。
2. 触发器实验（1）搭建D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发器电路。
（2）使用数字信号发生器产生时钟信号，通过示波器观察触发器的输出波形。
（3）分析输出波形，验证触发器电路的正确性。
3. 计数器实验（1）搭建异步计数器、同步计数器等基本计数器电路。
（2）使用数字信号发生器产生时钟信号，通过示波器观察计数器的输出波形。
（3）分析输出波形，验证计数器电路的正确性。
4. 寄存器实验（1）搭建移位寄存器、同步寄存器等基本寄存器电路。
（2）使用数字信号发生器产生时钟信号和输入信号，通过示波器观察寄存器的输出波形。
（3）分析输出波形，验证寄存器电路的正确性。
五、实验结果与分析1. 逻辑门实验通过实验，验证了与门、或门、非门等基本逻辑门电路的正确性。
实验结果表明，当输入信号满足逻辑关系时，输出信号符合预期。
2. 触发器实验通过实验，验证了D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发器电路的正确性。
实验结果表明，触发器电路能够根据输入信号和时钟信号产生稳定的输出波形。
3. 计数器实验通过实验，验证了异步计数器、同步计数器等基本计数器电路的正确性。
实验结果表明，计数器电路能够根据输入时钟信号进行计数，并输出相应的输出波形。
数电实验一实验报告
数字电路实验报告专业班级姓名学号实验时间：实验地点：电工电子实验中心指导教师：实验一组合逻辑电路设计（一）一、实验目的1、熟悉实验室数字电路实验箱的使用方法。
2、熟悉门电路逻辑功能的测试方法。
3、熟悉常用SSI集成电路芯片的应用。
4、熟悉基于SSI的组合电路设计方法。
二、实验仪器和器材数字逻辑电路实验实验箱一个；74LS00一块；74LS283一块；导线若干。
三、实验内容1、在逻辑功能上测试74LS00集成电路的完好性。
2、用1片74LS00实现一个裁判表决电路。
设裁判为A、B和C,其中A为主裁判，B、C为副裁判。
裁判用“0”表示否决，用“1”表示合格。
仅当主裁判和一名或一名以上副裁判都认为运动员的动作合格时，输出L为“1”，指示灯亮，否则输出L为“0”，灯不亮。
3、用四位全加器74LS283设计一个代码转换电路，将四位BCD8421码转换成余3码（提示：四位BCD8421码转换成余3码就是每一位的BCD8421码+0011）。
四、实验方法与实验结果1.验证TTL集成电路的逻辑功能（1）74LS00功能测试74LS00是TTL门电路，其外部引脚如图一所示。
内含四个2输入的与非门，其中A、B 是输入端，Y是输出端。
将因脚PIN14接电源VCC=5V，PIN7接地，将A、B通过实验箱的开关分别接逻辑“1”（高电平）和逻辑“0”（低电平），输出Y接实验箱指示灯L，实验结果如表1所示。
图一：74LS00引脚图表1：74LS00功能测试表（2）74LS283的功能测试74LS283是TTL门电路，其外部引脚如图二所示。
是一个四位二进制超前进位全加器，其中A、B分别是被加数和加数（两组4位二进制）的数据输入端，C0是低位器件向本器件最低位进位的进位输入端，Σ是和数输出端，C4是本器件最高位器件向高位器件进位的进位输出端。
将因脚PIN16接电源VCC=5V，PIN8接地，将A、B、C0通过实验箱的开关分别接逻辑“1”（高电平）和逻辑“0”（低电平），输出Σ、C4接实验箱指示灯L，实验结果如表2所示。
数电综合实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 巩固和加深对数字电路基本原理和电路分析方法的理解。
2. 掌握数字电路仿真工具的使用，提高设计能力和问题解决能力。
3. 通过综合实验，培养团队合作精神和实践操作能力。
二、实验内容本次实验主要分为以下几个部分：1. 组合逻辑电路设计：设计一个4位二进制加法器，并使用仿真软件进行验证。
2. 时序逻辑电路设计：设计一个4位计数器，并使用仿真软件进行验证。
3. 数字电路综合应用：设计一个数字时钟，包括秒、分、时显示，并使用仿真软件进行验证。
三、实验步骤1. 组合逻辑电路设计：（1）根据题目要求，设计一个4位二进制加法器。
（2）使用Verilog HDL语言编写代码，实现4位二进制加法器。
（3）使用ModelSim软件对加法器进行仿真，验证其功能。
2. 时序逻辑电路设计：（1）根据题目要求，设计一个4位计数器。
（2）使用Verilog HDL语言编写代码，实现4位计数器。
（3）使用ModelSim软件对计数器进行仿真，验证其功能。
3. 数字电路综合应用：（1）根据题目要求，设计一个数字时钟，包括秒、分、时显示。
（2）使用Verilog HDL语言编写代码，实现数字时钟功能。
（3）使用ModelSim软件对数字时钟进行仿真，验证其功能。
四、实验结果与分析1. 组合逻辑电路设计：通过仿真验证，所设计的4位二进制加法器能够正确实现4位二进制加法运算。
2. 时序逻辑电路设计：通过仿真验证，所设计的4位计数器能够正确实现4位计数功能。
3. 数字电路综合应用：通过仿真验证，所设计的数字时钟能够正确实现秒、分、时显示功能。
五、实验心得1. 通过本次实验，加深了对数字电路基本原理和电路分析方法的理解。
2. 掌握了数字电路仿真工具的使用，提高了设计能力和问题解决能力。
3. 培养了团队合作精神和实践操作能力。
六、实验改进建议1. 在设计组合逻辑电路时，可以考虑使用更优的电路结构，以降低功耗。
2. 在设计时序逻辑电路时，可以尝试使用不同的时序电路结构，以实现更复杂的逻辑功能。
数字电路实验的实验报告(3篇)
第1篇一、实验目的1. 理解和掌握数字电路的基本原理和组成。
2. 熟悉数字电路实验设备和仪器的基本操作。
3. 培养实际动手能力和解决问题的能力。
4. 提高对数字电路设计和调试的实践能力。
二、实验器材1. 数字电路实验箱一台2. 74LS00若干3. 74LS74若干4. 74LS138若干5. 74LS20若干6. 74LS32若干7. 电阻、电容、二极管等元器件若干8. 万用表、示波器等实验仪器三、实验内容1. 基本门电路实验（1）验证与非门、或非门、异或门等基本逻辑门的功能。
（2）设计简单的组合逻辑电路，如全加器、译码器等。
2. 触发器实验（1）验证D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发器的功能。
（2）设计简单的时序逻辑电路，如计数器、分频器等。
3. 组合逻辑电路实验（1）设计一个简单的组合逻辑电路，如4位二进制加法器。
（2）分析电路的输入输出关系，验证电路的正确性。
4. 时序逻辑电路实验（1）设计一个简单的时序逻辑电路，如3位二进制计数器。
（2）分析电路的输入输出关系，验证电路的正确性。
5. 数字电路仿真实验（1）利用Multisim等仿真软件，设计并仿真上述实验电路。
（2）对比实际实验结果和仿真结果，分析误差原因。
四、实验步骤1. 实验前准备（1）熟悉实验内容和要求。
（2）了解实验器材的性能和操作方法。
（3）准备好实验报告所需的表格和图纸。
2. 基本门电路实验（1）搭建与非门、或非门、异或门等基本逻辑电路。
（2）使用万用表测试电路的输入输出关系，验证电路的功能。
（3）记录实验数据，分析实验结果。
3. 触发器实验（1）搭建D触发器、JK触发器、T触发器等基本触发电路。
（2）使用示波器观察触发器的输出波形，验证电路的功能。
（3）记录实验数据，分析实验结果。
4. 组合逻辑电路实验（1）设计4位二进制加法器电路。
（2）搭建电路，使用万用表测试电路的输入输出关系，验证电路的正确性。
（3）记录实验数据，分析实验结果。
数电实验——精选推荐
实验一 TTL集成逻辑门的参数测试一、实验目的1、了解TTL与非门各参数的意义。
2、掌握TTL集成门电路的逻辑功能和参数测试方法。
二、实验原理、方法和手段TTL集成与非门是数字电路中广泛使用的一种逻辑门，使用时，必须对它的逻辑功能、主要参数和特性曲线进行测试，以确定其性能好坏。
本实验主要是对TTL集成与非门74LS20进行测试，该芯片外形为DIP双列直插式结构。
原理电路、逻辑符号和管脚排列如图1-1(a)、(b)、(c)所示。
图1-1 74LS20芯片原理电路、逻辑符号和封装引脚图1. 与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端有一个或一个以上的低电平时，输出端为高电平；只有输入端全部为高电平时，输出端才是低电平。
(即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
)对与非门进行测试时，门的输入端接逻辑开关，开关向上为逻辑“1”，向下为逻辑“0”。
门的输出端接电平指示器，发光管亮为逻辑“1”，不亮为逻辑“0”。
与非门的逻辑表达式为：Q ABCD2. TTL与非门的主要参数（1）低电平输出电源电流I CCL与高电平输出电源电流I CCH与非门在不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
I CCL 是指输出端空载，所有输入端全部悬空，（与非门处于导通状态），电源提供器件的电流。
I CCH 是指输出端空载，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，（与非门处于截止状态），电源提供器件的电流。
测试电路如图1-2(a)、(b)所示。
通常I CCL >I CCH ，它们的大小标志着与非门在静态情况下的功耗大小。
导通功耗：P CCL =I CCL ×U CC 截止功耗：P CCH =I CCH ×U CC由于I CCL 较大，一般手册中给出的功耗是指P CCL 。
注意：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 允许在＋5±10%的电压范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
【最新】西南交大,数字电路,实验报告-word范文 (8页)
本文部分内容来自网络整理，本司不为其真实性负责，如有异议或侵权请及时联系，本司将立即删除！== 本文为word格式，下载后可方便编辑和修改！ ==西南交大,数字电路,实验报告篇一：数字电子技术实验报告数字电子技术实验报告姓名：尚朝武学号：201X0123400044 实验时间：201X-12-24实验一（一） 1、实验内容：（1用静态法测试74LS00与非门电路的逻辑功能 2、实验原理图如图1.113、实验步骤：1) 用万用表测量双路跟踪稳压电源中的+5V电源电压； 2) 检查无误后引用通用接插板；3) 在芯片盒中找到74LS00芯片并插入通用接插板上； 4) 测试与非门的逻辑功能A. 按图1.1接线，检查接线无误后通电；；B. 设置输入变量A、B的高（H）、低（L）电平，并分别测量与非门的输出电压U；（U>3.6V时，则Y=H(1)；反之，Y=L(0)）。
5）用万用表测量输出电压，并将结果填入表1.1.1中 4、实验结果见表1.1.1表1.1.1（二 1、实验内容用动态测试法验证图（a）、（b）、（c）的输入输出波形。
2、实验原理图图图图（表）d74ls86管脚图和引脚图及真值表3、实验步骤1）利用实验一——（一）的双路跟踪稳压电源中的+5V电源电压； 2）检查无误后引用通用接插板；3）在芯片盒中分别找到74LS86、74LS60芯片并分别插入通用接插板上； 4）分次按图a、b、c、d接线，检查接线无误后通电；设置输入变量A的信号为100kHz 5）分别记下数字显示器显示的波形。
4、实验结果见下图图a的输入（图上）、输出（图下）波形图b的输入（图上）、输出（图下）波形三)图c的输入（图上）、输出（图下）波形1、实验内容：（1用静态法测试74LS139静态译码器的逻辑功能 2、实验原理图如图A、B 3、实验步骤：1) 利用实验一——（一）的双路跟踪稳压电源中的+5V电源电压； 2) 检查无误后引用通用接插板；3) 在芯片盒中找到74LS139芯片并插入通用接插板上； 4) 测试74LS139译码器的逻辑功能a) 按图1.1接线，检查接线无误后通电；；b) 设置输入变量A、B及E的高（H）、低（L）电平，并分别测量74LS139的输出电压U；（U>3.6V时，则Y=H(1)；反之，Y=L(0)）； 5）用万用表测量输出电压，并将结果填入表1.2中 4、实验结果见表1.2图A 74LS139的管脚图篇二：201X-201X西南交大数字电路第1次作业（注意：若有主观题目，请按照题目，离线完成，完成后纸质上交学习中心，记录成绩。
数字电路实验实验报告1
数字电路实验实验报告1姓名: 袁平欣学号: 20107990- 1 -实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试一(实验目的1(掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。
2(熟悉各种门电路参数的测试方法。
3. 熟悉集成电路的引脚排列，如何在实验箱上接线，接线时应注意什么。
二、实验仪器及材料a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。
b)1)CMOS器件:CC4011 二输入端四与非门 1 片 CC4071 二输入端四或门 1片2)TTL器件:74LS86 二输入端四异或门 1 片 74LS02 二输入端四或非门 1 片74LS00 二输入端四与非门 1片 74ls125 三态门 1片74ls04 反向器材 1片三(实验原理1(本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。
2(门电路是最基本的逻辑元件，它能实现最基本的逻辑功能，即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。
TTL集成门电路的工作电压为“5V?10%”。
本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路，其管脚识别方法:将TTL集成门电路正面(印有集成门电路型号标记)正对自己，有缺口或有圆点的一端置向左方，左下方第一管脚即为管脚“1”，按逆时针方向数，依次为1、2、3、4????????????。
如图1—1所示。
具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知，本书实验所使用的器件均已提供其功能。
图1—13(图1—2分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。
- 2 -4.图1,3是为了理解TTL逻辑门电路多余端的处理方法。
5.图1,4为三态门逻辑功能测试。
四.实验内容及步骤选择实验用的集成电路，按自己设计的实验接线图接好连线，特别注意Vcc及GND不能连接错。
线连接好后经检查无误方可通电实验。
1. TTL门电路及CMOS门电路的功能测试。
将CMOS或门CC4071,TTL与非门74LS00、和或非门74LS02分别按图1-2连线: 输入端,、,接逻辑开关，输入端,接发光二极管，改变输入状态的高低电平，观察二极管的亮灭，并将输出状态填入表1-1中:表1-1输入输出Y 输出Y输出Y12 3A B CD4071 74LS00 74LS020 0 0 1 10 1 1 1 01 0 1 1 01 1 1 0 0逻辑表达式 Y=A+B Y=A逻辑功能- 3 -2.TTL门电路多余输入端的处理方法:将74LS00和74LS02按图示1-3连线后，A输入端分别接地、高电平、悬空、与B端并接，观察当B端输入信号分别为高、低电平时，相应输出端的状态，并填表1-2. 3.TTL三态门逻辑功能测试:将TTL三态门74ls125和反相器按图1-4连线，输入端A、B、G分别接逻辑开关，输出端接发光二极管，改变控制端G和输入信号A、B的高低电平，观察输出状态，并填表1-3.表1-2输入输出A B 74LS00Y1 74LS02Y2 接地 01 表1-3高电平 0G A B Y 表达式 10 0 1 悬空 00 1 0 11 0 1 A、B并接 01 1 0 1五(总结1. 通过实验分析，说明TTL门电路多余端的处理方法有:CMOS门电路多余端的处理方法有: 2( 说明三态门有特点。
数电实验正文
实验一 TTL 集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、 实验目的1、掌握TTL 集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL 器件的使用规则3、熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法 二、实验设备与器材1、数电实验箱2、数字万用表3、74LS20，10K 电位器 三、实验原理1、与非门的逻辑功能2、TTL 与非门的主要参数： (1) 高，低电平输出电流ccH I , ccL I (2) 高，低电平输入电流iH I ,iL I (3) 扇出系数0N (4) 电压传输特性(5) 平均传输延迟时间pd T 74LS20主要电参数表2-1四、实验内容在合适的位置选取一个14P 插座，按定位标记插好74LS20集成块。
4输入与非门74LS20逻辑功能测试电路图1、 验证TTL 集成与非门74LS20的逻辑功能2、74LS20主要参数的测试表（2）按电路图连线并逐个测试与非门的静态参数注意：正确使用万用表电流档，选择好档位并串接入电路（3）按电路图连线，测试与非门的传输特性并把结果记录下表注意：正确使用万用表电压档，选择好档位并且并接入电路五实验报告1、记录，整理实验结果，并对结果进行分析。
2、画出实测的电压传输特性曲线，并从中读出各有关参数值。
六、注意事项1、安全用电。
2、实验前，先连线再通电，实验后，先切断电源后再拔线。
3、按TTL器件的使用规则正确操作，以防损坏器件。
4、正确使用万用表各档位，避免损坏或烧坏。
实验二 ＣＭＯＳ集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握CMOS 集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则。
2、掌握CMOS 集成门电路主要参数的测试方法。
二、实验设备与器材1、数电实验箱2、双踪示波器3、数字万用表4、CC4011，CC4001，CC4071，CC4081，100K 电位器，1K 电阻。
三、实验原理1、CMOS 集成门电路的主要优点是： （1）功耗低，（2）输入阻抗高，驱动电流小， （3）传输特性好， （4）电源电压范围广， 2、CMOS 门电路的逻辑功能， 3、CMOS 与非门的主要参数， 4、CMOS 门电路的使用规则，(1) V dd 接电源正极，Vss 接电源负极，不得接反。
数电实验一
数字电路实验实训指导书实验注意事项一、做好预习1．实验前要认真阅读实验指导书，明确实验目的，理解有关原理，熟悉实验电路内容、步骤及实验中的注意事项。
2．在实验课上，教师要对预习情况进行抽查提问，抽查通不过者暂不得参加本次实验。
二、认真实验1．实验时，应严格按照实验步骤进行，各种元器件应事先检验好坏，电子仪器应调试完好。
2．接线部分，每组学生可分工进行，但在接线完毕后，每个学生都要对全部接线进行检查。
共同确认无误后，再请教师复查。
如指导教师发现错误，应由学生自己改正。
最后经教师许可后，方可接电源，不得带电操作。
3．在实验过程中，如发现不正常现象（如稳压电源所指示的电压突降为零、电流过大、电压过高等），应立即断开电源，在教师指导下，共同分析检查原因；4．在测试数据中，一组学生应共同读取数据，并加以记录；5．实验过程中，应切实注意安全操作，防止触电事故；6．实验完毕后，先由本人检查实验是否符合要求，然后再请教师检查，经教师认可后再拆线，并将所有设备、元件放回原处，离开实验室。
7．要爱护国家财产，注意节约材料。
凡实验室的一切物品（包括导线、工具等）均不得私自带出实验场所，若发生仪器设备损坏事故，应立即报告指导教师，并到实验室办理事故登记和处理手续。
8．室内仪器设备，不准任意搬动调换。
9．遵守实验室规则，实验时要严肃认真，保持安静、整洁的学习环境。
三、实验报告1．报告由每人分别写出；2．报告应按实验指导书规定的要求抄写，字迹要清楚；3．凡指导教师认为不合格者，应退回重写；凡不交实验报告者，以缺席论。
实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
数电实验的基本要求及实验内容
实验的基本要求实验的基本过程，应包括：确定实验内容、选定最佳的实验方法和实验线路、拟出较好的实验步骤、合理选择仪器设备和元器件、进行连接安装和调试、最后写出完整的实验报告。
在进行数字电路实验时，充分掌握和正确利用集成器件及其构成的数字电路独有的特点和规律，可以收到事半功倍的效果，对于完成每一个实验，应做好实验预习、实验记录和实验报告等环节。
（一）实验预习认真预习是做好实验的关键。
预习好坏，不仅关系到实验能否顺利进行，而且直接影响实验效果。
预习应按本教材的实验预习要求进行，在每次实验前首先要认真复习有关实验的基本原理，掌握有关器件使用方法，对如何着手实验做到心中有数，通过预习还应做好实验前的准备，写出一份预习报告，其内容包括：1.绘出设计好的实验电路图，该图应该是逻辑图和连线图的混合，既便于连接线，又反映电路原理，并在图上标出器件型号、使用的引脚号及元件数值，必要时还须用文字说明。
2.拟定实验方法和步骤。
3.拟好记录实验数据的表格和波形座标。
4.列出元器件单。
（二）实验记录实验记录是实验过程中获得的第一手资料。
测试过程中所测试的数据和波形必须和理论基本一致，所以记录必须清楚、合理、正确，若不正确，则要现场及时重复测试，找出原因。
实验记录应包括如下内容：1.实验任务、名称及内容。
2.实验数据和波形以及实验中出现的现象，从记录中应能初步判断实验的正确性。
3.记录波形时，应注意输入、输出波形的时间相位关系，在座标中上下对齐。
4.实验中实际使用的仪器型号和编号以及元器件使用情况。
（三）实验报告实验报告是培养学生科学实验的总结能力和分析思维能力的有效手段，也是一项重要的基本功训练，它能很好地巩固实验成果，加深对基本理论的认识和理解，从而进一步扩大知识面。
实验报告是一份技术总结，要求文字简洁，内容清楚，图表工整。
报告内容应包括实验目的、实验内容和结果、实验使用仪器和元器件以及分析讨论等，其中实验内容和结果是报告的主要部分，它应包括实际完成的全部实验，并且要按实验任务逐个书写，每个实验任务应有如下内容：1.实验课题的方框图、逻辑图（或测试电路）、状态图，真值表以及文字说明等，对于设计性课题，还应有整个设计过程和关键的设计技巧说明。