材料分析测试复习题及答案
材料分析测试方法练习与答案
材料分析测试⽅法练习与答案
第⼀章
⼀、选择题
1.⽤来进⾏晶体结构分析的X射线学分⽀是( B)
A.X射线透射学;
B.X射线衍射学;
C.X射线光谱学;
D.其它
2. M层电⼦回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称( B )
A.Kα;
B. Kβ;
C. Kγ;
D. Lα。
3. 当X射线发⽣装置是Cu靶,滤波⽚应选( C )
A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电⼦把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称(A )
A.短波限λ0;
B. 激发限λk;
C. 吸收限;
D. 特征X射线
5.当X射线将某物质原⼦的K层电⼦打出去后,L层电⼦回迁K层,多余能量将另⼀个L层电⼦打出核外,这整个过程将产⽣(D)(多选题)
A.光电⼦;
B. ⼆次荧光;
C. 俄歇电⼦;
D. (A+C)
⼆、正误题
1. 随X射线管的电压升⾼,λ0和λk都随之减⼩。()
2. 激发限与吸收限是⼀回事,只是从不同⾓度看问题。()
3. 经滤波后的X射线是相对的单⾊光。()
4. 产⽣特征X射线的前提是原⼦内层电⼦被打出核外,原⼦处于激发状态。()
5. 选择滤波⽚只要根据吸收曲线选择材料,⽽不需要考虑厚度。()
三、填空题
1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产⽣连续X射线和特征X射线。
2. X射线与物质相互作⽤可以产⽣俄歇电⼦、透射X射线、散射X 射线、荧光X射线、光电⼦
、热、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是波长极短的电磁波也是光⼦束,具有波粒⼆象性性。
5. 短波长的X射线称,常⽤于;长波长的X射线称
材料现代分析测试方法习题答案
材料现代分析测试方法习题答案
【篇一:2012年材料分析测试方法复习题及解答】lass=txt>一、单项选择题(每题 3 分,共 15 分)
1.成分和价键分析手段包括【 b 】
(a)wds、能谱仪(eds)和 xrd (b)wds、eds 和 xps
(c)tem、wds 和 xps (d)xrd、ftir 和 raman
2.分子结构分析手段包括【 a】
(a)拉曼光谱(raman)、核磁共振(nmr)和傅立叶变换红外光
谱(ftir)(b) nmr、ftir 和 wds
(c)sem、tem 和 stem(扫描透射电镜)(d) xrd、ftir 和raman
3.表面形貌分析的手段包括【 d】
(a)x 射线衍射(xrd)和扫描电镜(sem) (b) sem 和透射电镜(tem)
(c) 波谱仪(wds)和 x 射线光电子谱仪(xps) (d) 扫描隧道显微
镜(stm)和
sem
4.透射电镜的两种主要功能:【 b】
(a)表面形貌和晶体结构(b)内部组织和晶体结构
(c)表面形貌和成分价键(d)内部组织和成分价键
5.下列谱图所代表的化合物中含有的基团包括:【c 】
(a)–c-h、–oh 和–nh2 (b) –c-h、和–nh2,
(c) –c-h、和-c=c- (d) –c-h、和 co
2.扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。(√)
3.透镜的数值孔径与折射率有关。(√)
5.在样品台转动的工作模式下,x射线衍射仪探头转动的角速度是
样品转动角
速度的二倍。(√ )
三、简答题(每题 5 分,共 25 分)
材料科学:材料分析测试技术测考试题.doc
材料科学:材料分析测试技术测考试题 考试时间:120分钟 考试总分:100分
遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。 1、名词解释 溅射 本题答案: 2、问答题 衍射线在空间的方位取决于什么?而衍射线的强度又取决于什么? 本题答案: 3、单项选择题 透射电镜中电中间镜的作用是( )A 、电子源 B 、会聚电子束 C 、形成第一副高分辨率电子显微图像 D 、进一步放大物镜像 本题答案: 4、问答题 要观察钢中基体和析出相的组织形态,同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系,如何制备样品?以怎样的电镜操作方式和步骤来进行具体分析? 本题答案: 5、单项选择题 样品台和测角仪机械连动时,计数器与试样的转速关系是( )A 、1﹕1 B 、2﹕1 C 、1﹕2 D 、没有确定比例
姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________
--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------
本题答案:
6、名词解释
质厚衬度
本题答案:
7、名词解释
伸缩振动
本题答案:
8、单项选择题
菊池线可以帮助()。A.估计样品的厚度;
B.确定180不唯一性;
C.鉴别有序固溶体;
D.精确测定晶体取向。
本题答案:
9、问答题
什么是消光距离?影响晶体消光距离的主要物性参数和外界条件是什么?本题答案:
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案(一)
1、施工时所用的混凝土空心砌块的产品龄期不应小于( D)。
A、14d
B、7d
C、35d
D、28d
2、高强度大六角头螺栓连接副和扭剪型高强度螺栓连接副出厂时应分别随箱带有( C )和紧固轴力(预拉力)的检验报告。
A、抗拉强度
B、抗剪强度
C、扭矩系数
D、承载力量
3、勘察、设计、施工、监理等单位应将本单位形成的工程文件立卷后向( A )移交。
A、建立单位
B、施工单位
C、监理单位
D、设计单位
4、城建档案治理机构应对工程文件的立卷归档工作进展监视、检查、指导。在工程竣工验收前,应对工程档案进展( C ),验收合格后,须出具工程档案认可文件。
A、检查
B、验收
C、预验收
D、指导
5、既有文字材料又有图纸的案卷( A )。
A、文字材料排前,图纸排后
B、图纸排前,文字材料排后
C、文字材料、图纸按时间挨次排列
D、文字材料,图纸材料交叉排列
6、建筑与构造工程包括那几个分部( B )。
A、地基与根底、主体、装饰装修、屋面、节能分部
B、地基与根底、主体、装饰装修、屋面分部
C、地基与根底、主体、装饰装修分部
D、地基与根底、主体分部
7、在原材料肯定的状况下,打算混凝土强度的最主要因素是( B )。
A、水泥用量
B、水灰比
C、水含量
D、砂率
8、数据加密技术从技术上的实现分为在( A )两方面。
A、软件和硬件
B、软盘和硬盘
C、数据和数字
D、技术和治理
9、混凝土同条件试件养护:构造部位由监理和施工各方共同选定,同一强度等级不宜少于10组,且不应少于( A )组。
A、3
材料分析测试方法试题及答案
第一章电磁辐射与材料结构
一、名词、术语、概念
波数,分子振动,伸缩振动,变形振动(或弯曲振动、变角振动),干涉指数,晶带,原子轨道磁矩,电子自旋磁矩,原子核磁矩。
二、填空
1、电磁波谱可分为3个部分:①长波部分,包括( )与( ),有时习惯上称此部分为( )。②中间部分,包括( )、( )和( ),统称为( )。③短波部分,包括( )和( )(以及宇宙射线),此部分可称( )。
答案:无线电波(射频波),微波,波谱,红外线,可见光,紫外线,光学光谱,X射线,γ射线,射线谱。
2、原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为( )跃迁或( )跃迁。
答案:电子,能级。
3、电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式:跃迁过程中多余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出,称之为( )跃迁;若多余的能量转化为热能等形式,则称之为( )跃迁。
答案:辐射,无辐射。
4、分子的运动很复杂,一般可近似认为分子总能量(E)由分子中各( ),( )及( )组成。
答案:电子能量,振动能量,转动能量。
5、分子振动可分为( )振动与( )振动两类。
答案:伸缩,变形(或叫弯曲,变角)。
6、分子的伸缩振动可分为( )和( )。
答案:对称伸缩振动,不对称伸缩振动(或叫反对称伸缩振动)。
7、平面多原子(三原子及以上)分子的弯曲振动一般可分为( )和( )。
答案:面内弯曲振动,面外弯曲振动。
8、干涉指数是对晶面( )与晶面( )的标识,而晶面指数只标识晶面的()。
答案:空间方位,间距,空间方位。
9、晶面间距分别为d110/2,d110/3的晶面,其干涉指数分别为( )和( )。
材料科学:材料分析测试技术测试模拟考试.doc
材料科学:材料分析测试技术测试模拟考试 考试时间:120分钟 考试总分:100分
遵守考场纪律,维护知识尊严,杜绝违纪行为,确保考试结果公正。 1、问答题 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX 射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX 射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX 射线激发CuLα荧光辐射。 本题答案: 2、单项选择题 能帮助消除180不唯一性的复杂衍射花样是( )。A.高阶劳厄斑; B.超结构斑点; C.二次衍射斑; D.孪晶斑点 本题答案: 3、名词解释 溅射 本题答案: 4、问答题 如何操作透射电子显微镜使其从成像方式转为衍射方式 本题答案: 5、问答题 扫描电镜的分辨率受哪些因素影响?用不同的信号成像时,其分辨率有何不同?所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率? 本题答案:
姓名:________________ 班级:________________ 学号:________________
--------------------密----------------------------------封 ----------------------------------------------线----------------------
6、单项选择题
测角仪中,探测器的转速与试样的转速关系是()。A.保持同步1﹕1;
B.2﹕1;
C.1﹕2;
D.1﹕0。
本题答案:
7、问答题
一种化合物含有两个基团与各含一个基团的两种化合物的混合物,其红外谱图有大的差别吗?为什么?
现代化材料分析测试方法期末试题及解答
现代化材料分析测试方法期末试题及解答
试卷分析
本试卷主要考察了现代化材料分析测试方法的基本概念、原理、技术及其应用。试题涵盖了各种测试方法的特点、优缺点、适用范
围以及相关设备的操作和维护等内容。
试题部分
一、选择题(每题2分,共20分)
1. 下列哪一项不属于材料分析测试方法的分类?
A. 物理方法
B. 化学方法
C. 力学方法
D. 生物学方法
2. 扫描电子显微镜(SEM)的分辨率通常高于透射电子显微镜(TEM)。其主要原因是?
A. 加速电压更高
B. 样品制备更简单
C. 电磁透镜的放大倍数更大
D. 信号采集方式更优越
3. 在能谱分析中,能量色散谱(EDS)与波谱分析(WDS)的
主要区别是什么?
A. 能量分辨率不同
B. 信号采集方式不同
C. 检测元素种类不同
D. 谱图形态不同
4. 以下哪种测试方法可以同时获得材料的微观形貌和成分信息?
A. X射线衍射
B. 光学显微镜
C. 扫描电子显微镜
D. 原子力显微镜
5. 某同学在使用X射线光电子能谱(XPS)进行分析时,发现
获取的信号强度较低。可能的原因是?
A. 样品制备不充分
B. 仪器灵敏度不够
C. 加速电压设置不当
D. 样品与仪器接触不良
二、简答题(每题5分,共25分)
6. 请简述透射电子显微镜(TEM)的工作原理及其在材料分析
中的应用。
7. 什么是拉曼光谱?请列举其在材料分析中的应用。
8. 请简述原子力显微镜(AFM)的工作原理及其在材料分析中的优势。
三、论述题(每题10分,共30分)
9. 论述能谱分析(EDS)在材料分析中的应用范围及其局限性。
10. 结合实际情况,论述现代化材料分析测试方法在科研和工
材料分析测试复习题及答案
材料分析测试复习题及答案
材料分析测试复习题
第⼀部分
简答题:
1. X 射线产⽣的基本条件
答:①产⽣⾃由电⼦;
②使电⼦做定向⾼速运动;
③在电⼦运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
2. 连续X 射线产⽣实质
答:假设管电流为10mA ,则每秒到达阳极靶上的电⼦数可达6.25x10(16)个,如此之多的电⼦到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝⼤多数达到靶上的电⼦要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产⽣⼀系列能量为hv (i )的光⼦序列,这样就形成了连续X 射线。
3. 特征X 射线产⽣的物理机制
答:原⼦系统中的电⼦遵从刨利不相容原理不连续的分布在K 、L 、M 、N 等
不同能级的壳层上,⽽且按能量最低原理从⾥到外逐层填充。当外来的⾼速度的粒⼦动能⾜够⼤时,可以将壳层中某个电⼦击出去,于是在原来的位置出现空位,原⼦系统的能量升⾼,处于激发态,这时原⼦系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有⼀能量产⽣,这⼀能量以光⼦的形式辐射出来,即特征X 射线。
4. 短波限、吸收限
答:短波限:X 射线管不同管电压下的连续谱存在的⼀个最短波长值。
吸收限:把⼀特定壳层的电⼦击出所需要的⼊射光最长波长。
5. X 射线相⼲散射与⾮相⼲散射现象
答:相⼲散射:当X 射线与原⼦中束缚较紧的内层电⼦相撞时,电⼦振动时向四周发射电磁波的散射过程。
⾮相⼲散射:当X 射线光⼦与束缚不⼤的外层电⼦或价电⼦或⾦属晶体中的⾃由电⼦相撞时的散射过程。
6. 光电⼦、俄歇电⼦的含义
答:光电⼦:光电效应中由光⼦激发所产⽣的电⼦(或⼊射光量⼦与物质原⼦中电⼦相互碰撞时被激发的电⼦)。
现代材料分析测试方法:期末考试卷和答案
现代材料分析测试方法:期末考试卷和答
案
第一部分:选择题
1. 以下哪项不是常用的材料分析测试方法?
- A. 扫描电子显微镜(SEM)
- B. 红外光谱(IR)
- C. 傅里叶变换红外光谱(FTIR)
- D. 核磁共振(NMR)
答案:D
2. 扫描电子显微镜(SEM)主要用于:
- A. 表面形貌观察
- B. 元素成分分析
- C. 分子结构分析
- D. 力学性能测试
答案:A
3. X射线衍射(XRD)常用于:
- A. 表面形貌观察
- B. 元素成分分析
- C. 分子结构分析
- D. 晶体结构分析
答案:D
4. 热重分析(TGA)主要用于:
- A. 表面形貌观察
- B. 元素成分分析
- C. 分子结构分析
- D. 热稳定性分析
答案:D
5. 扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)的区别在于:
- A. SEM可以观察表面形貌,TEM可以观察内部结构
- B. SEM可以观察内部结构,TEM可以观察表面形貌
- C. SEM只能观察金属材料,TEM只能观察非金属材料
- D. SEM只能观察非金属材料,TEM只能观察金属材料
答案:A
第二部分:简答题
1. 简述红外光谱(IR)的原理和应用领域。
红外光谱是一种基于物质吸收、散射和透射红外光的测试方法。它利用物质分子的特定振动模式与入射红外光发生相互作用,从而
获得物质的结构信息和化学成分。红外光谱广泛应用于有机物的鉴定、无机物的分析、聚合物材料的检测以及药物和食品的质量控制
等领域。
2. 简述傅里叶变换红外光谱(FTIR)的原理和优势。
傅里叶变换红外光谱是一种红外光谱的分析技术,它通过对红
材料分析测试技术习题及答案
第一章
一、选择题
1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()
A.X射线透射学;
B.X射线衍射学;
C.X射线光谱学;
D.其它
2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
A.Kα;
B. Kβ;
C. Kγ;
D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()
A.短波限λ0;
B. 激发限λk;
C. 吸收限;
D. 特征X射线
5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)
A.光电子;
B. 二次荧光;
C. 俄歇电子;
D. (A+C)
二、正误题
1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()
2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()
3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()
4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()
5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()
三、填空题
1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、
、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称
,常用于。
习题
1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?
2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?
(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;
材料分析测试技术习题及答案
第一章
一、选择题
1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()
A.X射线透射学;
B.X射线衍射学;
C.X射线光谱学;
D.其它
2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()
A.Kα;
B. Kβ;
C. Kγ;
D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()
A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()
A.短波限λ0;
B. 激发限λk;
C. 吸收限;
D. 特征X射线
5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)
A.光电子;
B. 二次荧光;
C. 俄歇电子;
D. (A+C)
二、正误题
1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。()
2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。()
3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。()
4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。()
5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。()
三、填空题
1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、
、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称
,常用于。
习题
1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?
2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?
(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;
材料分析测试技术试题及答案
材料分析测试技术试题及答案
金材02级《材料分析测试技术》课程试卷答案
一、选择题:(8分/每题1分)
1.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生光电子和俄歇电子,答案为A+C。
2.有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm,用铁靶Kα(λKα=0.194nm)照射该晶体能产生四条衍射线,答案为B。
3.最常用的X射线衍射方法是粉末多晶法,答案为B。
4.测定钢中的奥氏体含量,若采用定量X射线物相分析,常用方法是直接比较法,答案为C。
5.可以提高TEM的衬度的光栏是物镜光栏,答案为B。
6.如果单晶体衍射花样是正六边形,那么晶体结构是六方
结构或立方结构,答案为A或B。
7.将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍
射斑点成像,这是中心暗场像,答案为C。
8.仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是二次电子,答案为B。
二、判断题:(8分/每题1分)
1.产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。√
2.倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。√
3.大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率,缩短暴光
时间。×
4.X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相,而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。×
5.有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同,前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率,后者仅仅是仪器的制造水平。√
6.电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。×
7.实际电镜样品的厚度很小时,能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。√
材料分析测试方法试题及答案
第一章电磁辐射与材料结构
一、名词、术语、概念
波数,分子振动,伸缩振动,变形振动(或弯曲振动、变角振动),干涉指数,晶带,原子轨道磁矩,电子自旋磁矩,原子核磁矩。
二、填空
1、电磁波谱可分为3个部分:①长波部分,包括( )与( ),有时习惯上称此部分为( )。②中间部分,包括( )、( )和( ),统称为( )。
③短波部分,包括( )和( )(以及宇宙射线),此部分可称( )。
答案:无线电波(射频波),微波,波谱,红外线,可见光,紫外线,光学光谱,X射线,射线,射线谱。
2、原子中电子受激向高能级跃迁或由高能级向低能级跃迁均称为( )跃迁或( )跃迁。
答案:电子,能级。
3、电子由高能级向低能级的跃迁可分为两种方式:跃迁过程中多
余的能量即跃迁前后能量差以电磁辐射的方式放出,称之为( )跃迁;
若多余的能量转化为热能等形式,则称之为( )跃迁。
答案:辐射,无辐射。
4、分子的运动很复杂,一般可近似认为分子总能量(E)由分子中各( ),( )及( )组成。
答案:电子能量,振动能量,转动能量。
5、分子振动可分为( )振动与( )振动两类。
答案:伸缩,变形(或叫弯曲,变角)。
6、分子的伸缩振动可分为( )和( )。
答案:对称伸缩振动,不对称伸缩振动(或叫反对称伸缩振动)。
7、平面多原子(三原子及以上)分子的弯曲振动一般可分为( )和( )。
答案:面内弯曲振动,面外弯曲振动。
8、干涉指数是对晶面( )与晶面( )的标识,而晶面指数只标识晶
面的()。
答案:空间方位,间距,空间方位。
9、晶面间距分别为d110/2,d110/3的晶面,其干涉指数分别为( )和( )。
材料分析测试技术复习题 附答案
材料分析测试技术复习题
【第一至第六章】
1.X射线的波粒二象性
波动性表现为:
-以波动的形式传播,具有一定的频率和波长
-波动性特征反映在物质运动的连续性和在传播过程中发生的干涉、衍射现象
粒子性突出表现为:
-在与物质相互作用和交换能量的时候
-X射线由大量的粒子流(能量E、动量P、质量m)构成,粒子流称为光子-当X射线与物质相互作用时,光子只能整个被原子或电子吸收或散射
2.连续x射线谱的特点,连续谱的短波限
定义:波长在一定范围连续分布的X射线,I和λ构成连续X射线谱
开始直到波长无穷大λ∞,•当管压很低(小于20KV 时),由某一短波限λ
波长连续分布
处)向短•随管压增高,X射线强度增高,连续谱峰值所对应的波长(1.5 λ
0波端移动
•λ
正比于1/V, 与靶元素无关
•强度I:由单位时间内通过与X射线传播方向垂直的单位面积上的光量子数的能量总和决定(粒子性观点描述)
•单位时间通过垂直于传播方向的单位截面上的能量大小,与A2成正比(波动性观点描述)
短波限:对X射线管施加不同电压时,在X射线的强度I 随波长λ变化的关系
,称为短波限。
曲线中,在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ
3.连续x射线谱产生机理
【a】.经典电动力学概念解释:
一个高速运动电子到达靶面时,因突然减速产生很大的负加速度,负加速度引起周围电磁场的急剧变化,产生电磁波,且具有不同波长,形成连续X射线谱。
【b】.量子理论解释:
* 电子与靶经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hυi的光子序列,形成连续谱
* 存在 ev=hυmax,υmax=hc/ λ0, λ0为短波限,从而推出
材料分析测试方法部分课后习题答案
第一章X 射线物理学基础
2、若X 射线管的额定功率为1.5KW,在管电压为35KV 时,容许的最大电流是多少?
答:1.5KW/35KV=0.043A。
4、为使Cu 靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。
答:因X 光管是Cu 靶,故选择Ni 为滤片材料。查表得:μ m α=49.03cm2/g,μ mβ=290cm2/g,有公式,,,故:,解得:t=8.35um t
6、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?
答:eVk=hc/λ
Vk=6.626×10-34×2.998×108/(1.602×10-19×0.71×10-10)=17.46(kv)
λ 0=1.24/v(nm)=1.24/17.46(nm)=0.071(nm)
其中h为普郎克常数,其值等于6.626×10-34
e为电子电荷,等于1.602×10-19c
故需加的最低管电压应≥17.46(kv),所发射的荧光辐射波长是0.071纳米。
7、名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应
答:⑴当χ射线通过物质时,物质原子的电子在电磁场的作用下将产生受迫振动,受迫振动产生交变电磁场,其频率与入射线的频率相同,这种由于散射线与入射线的波长和频率一致,位相固定,在相同方向上各散射波符合相干条件,故称为相干散射。
⑵当χ射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后,可以得到波长比入射χ射线长的χ射线,且波长随散射方向不同而改变,这种散射现象称为非相干散射。
材料分析测试技术-试卷及答案
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得二、名词解释(每题4,共20分) 分
1.晶带轴[uvw]和零层倒易截面(uvw)*
2.电磁透镜的景深与焦长
3.明场像、暗场像和中心暗场像
4.物质对X射线的线吸收系数和质量吸收系数
5.荧光产额和俄歇产额
得三、简答题(每题6分,共30分)
分
1.高能电子束与固体样品相互作用时将产生那些信号?简述其产生原理,并说明这些
信号在材料的性能表征方面有何应用?
2.电磁透镜的像差有哪几种,并简述其产生原因及克服方法。
3.分别说明透射电镜中成像操作与衍射操作时各级透镜(像平面与物平面)之间的相对
位置关系,并画出光路图。
4.简述用X射线衍射仪对多相物质进行物相定性分析的基本程序。
2. 证明TEM 中的电子衍射基本公式)(hkl g L R L Rd G G λλ==。
3. 证明衍射分析中的厄瓦尔德球图解与布拉格方程等价。
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材料分析测试方法复习题
第一部分
简答题:
1. X 射线产生的基本条件
答:①产生自由电子;
②使电子做定向高速运动;
③在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
2. 连续X 射线产生实质
答:假设管电流为10mA ,则每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25x10(16)个,如此之多的电子到达靶上的时间和条件不会相同,并且绝大多数达到靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放到零,同时产生一系列能量为hv (i )的光子序列,这样就形成了连续X 射线。
3. 特征X 射线产生的物理机制
答:原子系统中的电子遵从刨利不相容原理不连续的分布在K 、L 、M 、N 等
不同能级的壳层上,而且按能量最低原理从里到外逐层填充。当外来的高速度的粒子动能足够大时,可以将壳层中某个电子击出去,于是在原来的位置出现空位,原子系统的能量升高,处于激发态,这时原子系统就要向低能态转化,即向低能级上的空位跃迁,在跃迁时会有一能量产生,这一能量以光子的形式辐射出来,即特征X 射线。
4. 短波限、吸收限
答:短波限:X 射线管不同管电压下的连续谱存在的一个最短波长值。
吸收限:把一特定壳层的电子击出所需要的入射光最长波长。
5. X 射线相干散射与非相干散射现象
答: 相干散射:当X 射线与原子中束缚较紧的内层电子相撞时,电子振动时向四周发射电磁波的散射过程。
非相干散射:当X 射线光子与束缚不大的外层电子或价电子或金属晶体中的自由电子相撞时的散射过程。
6. 光电子、荧光X 射线以及俄歇电子的含义
答:光电子:光电效应中由光子激发所产生的电子(或入射光量子与物质原子中电子相互碰撞时被激发的电子)。
荧光X 射线:由X 射线激发所产生的特征X 射线。
俄歇电子:原子外层电子跃迁填补内层空位后释放能量并产生新的空位,这些能量被包括空位层在内的临近原子或较外层电子吸收,受激发逸出原子的电子叫做俄歇电子。
7. X 射线吸收规律、线吸收系数
答:X 射线吸收规律:强度为I 的特征X 射线在均匀物质内部通过时,强度的衰减与在物质内通过的距离x 成比例,即-dI/I=μdx 。
线吸收系数:即为上式中的μ,指在X 射线传播方向上,单位长度上的X 射线强弱衰减程度。
8. 晶面及晶面间距
答:晶面:在空间点阵中可以作出相互平行且间距相等的一组平面,使所有的节点均位于这组平面上,各平面的节点分布情况完全相同,这样的节点平面成为晶面。
晶面间距:两个相邻的平行晶面的垂直距离。
9. 反射级数与干涉指数
答:布拉格方程 表示面间距为d ’的(hkl )晶面上产生了n 级衍射,n 就是反射级数
λ
θn Sin d ='2:
干涉指数:当把布拉格方程写成: 时,这是面间距为1/n 的实际上存在或不存在的假想晶面的一级反射,若把这个晶面叫作干涉面,其间的指数就叫作干涉指数
10.衍射矢量与倒易矢量
答:衍射矢量:当束X 射线被晶面P 反射时,假定N 为晶面P 的法线方向,入射线方向用单位矢量S0表示,衍射线方向用单位矢量S 表示,则S-S0为衍射矢量。
倒易矢量:从倒易点阵原点向任一倒易阵点所连接的矢量叫倒易矢量,表示为:
r* = Ha* + Kb* + L c*
11.结构因子的定义
答:定量表征原子排布以及原子种类对衍射强度影响规律的参数,即晶体结构对衍射强度的影响因子
12.原子散射因子随衍射角的变化规律
答:随sin θ/λ 值减小,f 增大,sin θ=0时,f=Z
论述题:
一、推导劳埃方程和布拉格方程
解:1。推导劳埃方程:假定①满足干涉条件②X-ray 单色且平行
如图:以α0为入射角,α为衍射角,相邻原子波程差为
a(cos α-cos α0),产生相长干涉的条件是波程差为波长的整数倍,即:
a(cos α-cos α0)=h λ
式中:h 为整数,λ为波长。一般地说,晶体中原子是在三维空间
上排列的,所以为了产生衍射,必须同时满足:
a(cos α-cos α0)=h λ
b(cos β-cos β0)=k λ
c(cos γ-cos γ0)=l λ 此三式即为劳埃方程。
2.推导布拉格方程式:假定①X-ray 单色且平行②晶体无限大且平
整(无缺陷)
如右图:光程差为2d sin θ,要出现衍射条纹,则有:
2d sin θ=n λ (n=1,2…)
此式即为布拉格方程。
二、以体心立方(001)衍射为例,利用心阵点存在规律推导体心和面心
晶体的衍射消光规律
三、证明厄瓦尔德球图解法等价于布拉格方程
证明:根据倒易矢量的定义O*G=g ,于是我们得到k '-k=g
上式与布拉格定律完全等价。
由O 向O*G 作垂线,垂足为D ,因为 g 平行于(hkl )晶面的法向N hkl ,
所以OD 就是正空间中(hkl )晶面的方位,若它与入射束方向的夹角为θ,
则有
=
sin θ
即 g/2=ksin θ
由于 g=1/d k=1/λ
故有 2dsin θ =
λθ=Sin n
d '2
同时,由图可知,k '与k 的夹角(即衍射束与透射束的夹角)等于是2θ,这与布拉格定律的结果也是一致的。
四、阐明消光现象的物理本质,并利用结构因子推导出体心和面心晶体的衍射消光规律
解:参考P36-P42 由系统消光的定义<把因原子在晶体中位置不同或原子种类不同而引起的某些方向上的衍射消失的现象>知,消光的物理本质是原子的种类及其在晶胞中的位置。
由|F hkl =0| <=> 消光 可推出如下消汇丰银行规律
①体心晶体 存在2个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,1/2)
则 F hkl = f + fe πi(h+k+l) 要消光,则有 h+k+l=2n+1 (n=0,1,2…).
②面心晶体 存在4个原子,坐标分别为(0,0,0),(1/2,1/2,0) (1/2,0,1/2),(0,1/2,1/2)
则 F hkl = f + fe πi(h+k) + fe πi(h +l) + fe πi(k+l) 要消光则必使F hkl =0,故消光规律为: h,k,l 不能同时为奇或h,k,l 不能同时为偶
五、如何利用X 射线衍射方法研究晶体的有序—无序转变(举例说明)
解:本题答案谨供参考!
本题是利用X 射线衍射时,衍射线的出现与消失来研究晶体的有序—无序转变
对于TiAl ,高温时为无序的体心立方晶体,低温时为有序的体心立方晶体。
无序时:Ti 或Al 占据A 或B 点的几率各为50%,f 平均=0.5f Ni +0.5f Al ;注:A 为顶点,B 为体心点
有序时: Ti 100%占据A 位,Al 100%占据B 位,则 F hkl =f N i ±f Al
则:F hkl =f N i -f Al ≠0,由本该消光的地方,重新出现衍射条纹,可判断无序向有序的转变,反之亦然。
六、如何使用角因子中洛仑兹因子研究晶体的尺寸
解:利用布拉格公式2dsin θ=λ和晶面间距d 与晶格常数之间的关系(如:立方晶系d=a/(h 2+k 2+l 2)1/2)可以建立衍射束方向与晶胞尺寸的关系式。对于立系为sin 2θ=λ(h 2+k 2+l 2)/4a 2,测写了衍射束的方向,便可推知晶胞尺寸。洛仑兹因子便是一个只与衍射束方向(即布拉格角θ)有关的式子:
1/(4sin 2θcos θ)以布拉格角θ为中介,通过洛仑兹因子便函要以研究晶体尺寸。
七、阐述多晶体X 射线衍射强度影响因素及其应用
解:参考P42-P50 影响X 射线衍射强度的因素有如下5项:①结构因子②角因子包括极化因子和洛仑兹因子③多重性因子④吸收因子⑤温度因子。
应用:利用各影响因子对衍射强度的影响,可判断出晶胞内原子的种类,原子个数,原子位置。
结构因子:①消光规律的判断;②金属间化合物的有序度的判断。
角因子:利用谢乐公式研究晶粒尺寸大小;
多重性因子:等同晶面对衍射强度的影响
吸收规律:试样形状和衍射方向的不同,衍射线在试样中穿行的路径便不同,引起吸收效果的不一样。 温度因子:研究晶体的热运动,测定热膨胀系数等。
八、以立方晶系为例,分析利用XRD 测量点阵常数时为何采用高角度线条而不采用各个线条测量结果的平均值:
答:对于立方晶系 2dsin θ=λ,222/l k h a d ++=⇒222sin 2l k h a ++⨯÷=θλ
θ的误差主要来源于Δθ Δ(sin θ)
2dsin θ=λ dsin θ=λ/2 Δ dsin θ+dcos θ⨯Δθ=0
Δa/a=Δd/d=-cos θ⨯Δθ 当θ=o
90时Δa/a=0
故θ尽可能高 而对于外推法取θ=o 90
九、给出物相定性分析与定量分析的原理及一般步骤。