X射线复习和思考题

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XRD复习题(打印)第一个老师的作业

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X射线衍射复习题习题一1.名词解释:相干散射(汤姆逊散射):散射波的波长和频率与入射波完全相同,新的散射波之间将可以发生相互干涉-----相干散射不相干散射(康普顿散射):散射辐射的波长λ₂应要比入射光束的波长λ₁长,波长的增量Δλ取决于散射角α,散射位相与入射波位相之间不存在固定关系,故这种散射是不相干的,称之为非相干散射。

荧光辐射:能量较高的光子和原子作用后,转变为较低能量的光子时所发生的辐射。

俄歇效应:原子发射的一个电子导致另一个或多个电子(俄歇电子)被发射出来而非辐射X射线(不能用光电效应解释),使原子、分子成为高阶离子的物理现象,是伴随一个电子能量降低的同时,另一个(或多个)电子能量增高的跃迁过程吸收限:物质对电磁辐射的吸收随辐射频率的增大而增加至某一限度即骤然增大。

3.若X射线管的额定功率为1.5kW,在管电压为35kV时,容许的最大电流是多少?4.讨论下列各组概念中二者之间的关系:1)同一物质的吸收谱和发射谱;答:λk吸收〈λkβ发射〈λkα发射2)X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。

答:λkβ发射(靶)〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射(靶)。

任何材料对X 射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。

如 Ni 的吸收限为0.14869 nm。

也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。

而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。

Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。

5.为使Cu靶的Kβ线透射系数是Kα线透射系数的1/6,求滤波片的厚度。

7.欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?答:欲使Cu样品产生荧光X射线辐射,V =1240/λCu=1240/0.15418=8042,V =1240/λCu=1240/0.1392218=8907激发出荧光辐射的波长是0.15418nm8.X射线的本质是什么?10.实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?已知一个以Fe为主要成分的样品,试选择合适的X射线管和合适的滤波片。

材料分析方法习题

材料分析方法习题

注: *的多少仅代表该题可能的难易程度。

第一章 X 射线物理学基础1、X 射线有什么性质,本质是什么?波长为多少?与可见光的区别。

(*)2、什么是X 射线管的管电压、管电流?它们通常采用什么单位?数值通常是多少?(*)3、X 射线管的焦点与表观焦点的区别与联系。

(*)4、X 射线有几种?产生不同X 射线的条件分别是什么?产生机理是怎样的?晶体的X 射线衍射分析中采用的是哪种X 射线?(*)5、特征X 射线,连续X 射线与X 射线衍射的关系。

(*)6、什么是同一线系的特征X 射线?不同线系的特征X 射线的波长有什么关系?同一线系的特征X 射线的波长又有什么关系?7、什么是临界激发电压?为什么存在临界激发电压?(**)8、什么是、射线?其强度与波长的关系。

什么是、射线其强度与波长的关系。

(**)αK βK 1αK 2αK 9、为什么我们通常只选用Cr 、Fe 、Co 、Ni 、Mo 、Cu 、W 等作阳极靶,产生特征X 射线的波长与阳极靶的原子序数有什么关系。

10、 什么是相干散射、非相干散射?它们各自还有什么名称?相干散射与X 射线衍射的关系。

(*)11、 短波限,吸收限,激发限如何计算?注意相互之间的区别与联系。

(**)12、 什么是X 射线的真吸收?比较X 射线的散射与各种效应。

(*)13、 什么是二次特征辐射?其与荧光辐射是同一概念吗?与特征辐射的区别是什么?(**)14、 什么是俄吸电子与俄吸效应,及与二次特征辐射的区别。

(**)15、 反冲电子、光电子和俄歇电子有何不同? (**)16、 在X 射线与物质相互作用的信号中,哪些对我们进行晶体分析有益?哪些有害?非相干散射和荧光辐射对X 射线衍射产生哪些不利影响?(**)17、 线吸收系数与质量吸收系数的意义。

并计算空气对CrK α的质量吸收系数和线吸收系数(假如空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3g/cm 3)(**)18、 阳极靶与滤波片的选择原则是怎样的?(*)19、 推导出X 射线透过物质时的衰减定律,并指出各参数的物理意义。

X-Ray衍射分析思考题

X-Ray衍射分析思考题

X-Ray衍射分析思考题1-1 X射线与可见光相比有何异同及特点?这些特点将带来一些什么重要作用与用途。

1-2 解释为什么会有吸收限,在X射衍射中吸收限的应用有哪些?1-3 试解释X射线与物质发生相互作用时的光电效应。

1-4 X射线管中产生的连续谱和标识谱与电学参量之间有什么关系?如何控制X射线管的电学参量以达到改变X射线波长和强度的目的。

1-5 连续谱和标识谱各有哪些规律,试解释之。

1-6 研究纯铁时该用什么靶和滤波片,不能用什么靶。

1-7 X射线与物质发生的相互作用有哪些。

1-8 X射线光管的组成包括哪几部分。

1-9 获得X射线必须具备哪些基本条件。

1-10 标识谱的波长与阳极物质的原子序数的关系是什么。

1-11 欲使钼靶所发射的X射线能激发放置在光束中的铜块发射K系荧光辐射,必须施加的电压是多少,所发射的荧光辐射的波长是多少。

1-12 Co Ka射线滤波器通常是由氧化铁(Fe2O3)粉末制成,假使滤波器含有Fe2O3为5mg/cm2,求Co Ka线透射因子(I X/I0)以及I X/I0=0.5时的厚度。

2-1 空间点阵与晶体结构的关系是2-2 晶体宏观对称变换可归纳为哪四种。

2-3 倒易矢量的基本性质有哪些。

2-4 利用倒易矢量推导立方晶面间距的计算公式。

2-5 绘出立方晶系(111)*、(110)*、(112)*、(321)*的倒易结点平面。

2-6 点阵面(110),(121),(312)是否属于同一晶带?如果是的话,试指出其晶带轴,再指出属于该晶带的任一其它点阵面。

2-7 四方晶系中(121)等同晶面族包括哪些晶面。

3-1 衍射线的分布规律由什么决定,衍射线的强度取决于什么。

3-2 X射线在晶体中衍射必须满足哪两条。

3-3 X射线的衍射几何可用哪些方法来描述,简述之。

3-4 从厄瓦尔德作图法来看,X射线衍射有哪几种可能的实验方法。

3-5 试用厄瓦尔德作图法解释劳厄法、粉末法成相原理。

part.1--材料物理与化学复试---X射线复习题

part.1--材料物理与化学复试---X射线复习题

p a r t.1--材料物理与化学复试---X射线复习题-CAL-FENGHAI.-(YICAI)-Company One1材料物理与化学——X射线复习题(part.1)1.同一物相X射线衍射谱中,衍射线条的相对强度一般不同,简述原因。

答:由公式I c=CI p|G|2可知:衍射线相对强度是G的函数,又由于干涉函数G与晶面的晶面指数(hkl)有关,因此,不同晶面所对应的衍射线条相对强度也不同。

2.简述使用粉末多晶X射线衍射仪测量单晶样品时得到的衍射谱特征,解释原因。

答:粉末多晶衍射仪测量在工作时,为了使计数器永远处于试样表面的衍射方向,必须让试样表面与入射线呈θ角,且计数器必须正好处于2θ的方位。

所以,粉末多晶体衍射仪所探测的始终是与试样表面平行的那些衍射面。

因此,使用粉末多晶衍射仪测量单晶时只有与试样表面平行的晶面才能发生衍射,在衍射谱上则表现为尖锐的单峰。

3.论述立方点阵衍射图谱(德拜相)的指标化原理及过程以及点阵类型与点阵参数的确定。

答:由立方晶系晶面间距公式d2=a2/(h2+k2+l2)和布拉格方程可得:sin2θ/N=λ2/4a2,其中N=h2+k2+l2,于是有sin2θ1:sin2θ2…:sin2θm=N1:N2…:N m;因此,测出试样每个衍射峰的sin2θm后,就可算出它们之间的比值,并与立方晶系的系统消光相比较,便能确定衍射峰的指标、点阵类型和晶胞参数。

测定过程如下:①在衍射仪上测出各衍射峰的θ值;②计算各个sin2θm;③求出各个sin2θm与sin2θ1之比值,并化为整数;④根据立方晶系系统消光规律得到N m和(hkl)。

4.使用Ka1-X射线测量粉末多晶衍射谱,为了获得更多的衍射线应选择什么样的阳极靶?解释原因。

答:晶体发生衍射满足布拉格公式2dsinθ=λ;其中sinθ<1;因此要发生衍射,必须要满足晶面间距:d>λ/2;为了获得更多的衍射线,可以使用Ka1较短的X射线作为入射线。

X射线衍射分析思考题

X射线衍射分析思考题

X射线衍射分析思考题1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2.什么叫"相干散射"、"非相干散射"?3.产生X射线需要什么条件?4.连续X射线谱是怎样产生的?其短波限由什么决定?5.特征X射线谱是怎样产生的?为什么特征谱对应的波长不变?6.试推导布拉格方程7.什么是结构因子(结构振幅)? 结构因子表征了什么?8.写出面心立方点阵中能产生衍射的前5个晶面(干涉面).9.物相定性分析的原理是什么?10.若待测物质中有两种物相,定性分析时有哪些步骤?透射电镜与高分辨显微方法思考题1.电子波长由什么决定?常用透射电镜的电子波长在什么范围内?2.透射电镜主要由哪几部分组成?各部分的主要功能?3.比较光学显微镜和电子显微镜的异同点。

4.影响透射电子显微镜分辨率的因素?5.球差、像散和色差是怎样造成的?如何减小这些像差?哪些是可消除的像差?6.有几种主要的透射电镜样品制备方法?各自的应用范围?双喷减薄和离子减薄各适用于制备什么样品?7.发生电子衍射产生的充要条件是什么?8.说明体心立方和面心立方晶体结构的消光规律,分别写出两种结构前10个衍射晶面。

9.何为质厚衬度?说明质厚衬度的成像原理。

10.试推导电子衍射的基本公式.11.如何利用已知参数的多晶样品标定透射电镜有效相机常数?12.说明已知相机常数及晶体结构时单晶衍射花样标定的基本步骤.13.何为明场像?何为暗场像?画出明场成像和中心暗场成像光路图。

14.何为相位衬度?相位衬度条件下可获得什么图像?15.有几种常见的高分辨电子显微像?说明形成不同高分辨像所需的衍射条件1.电子束与固体样品相互作用时能产生哪些信号?它们有什么特点?各自的产生机理是什么?2.入射电子束强度与各激发信号强度之间有什么关系?为什么吸收电子像衬度与二次电子像和背散射电子像衬度相反?3.扫描电镜的分辨率与什么因素有关?为什么不同信号成像的分辨率不同?4.与透射电镜相比,扫描电镜有什么特点?其主要用途是什么?5.扫描电镜的主要性能指标有哪些?各代表什么含义?6.说明扫描电镜中二次电子像的形貌衬度是怎样形成的?颗粒尺寸大小对衬度有何影响?7.分别说明波谱仪和能谱仪的工作原理,它们各有什么优缺点?8.电子探针仪主要有几种分析方法?各用于进行什么检测?9.俄歇电子有什么特点?俄歇电子能谱仪的主要用途?10.扫描隧道显微镜有几种工作模式?请分别加以说明。

X射线 考试重点

X射线 考试重点

复习题一 简答题1特征X 射线:激发电压:答:XRD 是利用x-ray 在晶体中的衍射现象来分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体缺陷(位错等)、不同结构相的含量及内应力的方法。

是建立在一定晶体结构模型基础上的间接方法。

缺点:不是直接观察,无法把形貌和晶体结构同时分析。

聚焦困难,作用区域毫米数量级。

由特征X-ray 构成的X-ray 谱叫特征X-ray 谱,产生特征X-ray 的最低电压叫激发电压。

2.X 射线产生的基本条件?答:X-ray 是由高速运动着的带电(或不带电)粒子与某种物质相撞击后猝然减速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。

其大部分动能(~99%)转变为热能使物体升温,而一小部分动能(~1%)则转变为光能以X 射线形式向外界释放。

A 产生自由电子B 使电子作定向高速运动C 在电子运动的方向上设置使其突然减速的障碍物3说明连续X 射线谱存在短波限及特征X 射线的原因,并写出短波限表达式。

写出布拉格方程,并说明每一项的物理意义。

答:X-ray 谱:如果对X-ray 管施加不同的电压,再用适当的方法去测量由X-ray 管发出的X-ray 波长和强度,得到X-ray 强度与波长的关系曲线.X-ray 强度I 随波长λ变化的关系曲线。

实验发现:X-ray 管发射出的X-ray 分为连续X-ray 谱和特征(标识)X-ray 谱两类。

在管压很低,小于20kv 的曲线是连续变化的,故称之为X-ray 连续谱。

短波限: 随管压增高,X-ray 强度增高,连续谱峰值所对应的波长向短波方向移动。

在各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0,称为短波限。

连续谱短波限只与管压有关,当管压固定,增加管电流或改变靶时λ0不变。

当增加管压时,电子动能增加,电子与靶的碰撞次数和辐射出来的X-ray 光子的能量都增加,随管压增高,连续谱各波长的强度都相应增高,各曲线对应的最大值和短波限λ0都向短波方向移动。

特征X-ray: 改变管电压,管电流,这些谱线只改变强度而峰的位置所对应的波长不变,即波长只与靶的原子序数有关,与电压无关。

X射线荧光光谱-思考题

X射线荧光光谱-思考题
思考题
1. 简述X射线荧光光谱的基本原理、特点和它的作用。 说明波长色散和能量色散X射线荧光光谱的主要相同 点和区别。
2. CuKα线的能量和波长分别是多少?激发它需要的最 低能量是多少?测量它时,采用LiF200或LiF220晶 体分光后,2 θ角度分别是多少?并指出采用这两种 晶体的主要优缺点。 λ=0.154 nm
3. 一合金样品含铜(Cu)、锌(Zn)和银(Ag)三种 元素。用X射线荧光光谱定量分析这三种元素的含量, 若分别采用20kV和50kV激发,分别说明两种情况下 (1)如何选择分析谱线;(2)可能存在的元素-增强效应进行校正。

思考题解答

思考题解答
第五章X射线物相分析
原理
根据X射线衍射图谱进行定性的相分析的依据
每种结晶物质都有特定的结构参数,这些参数均影响这X射线衍射线的位置、强度。
位置:晶胞的形状、大小,即面间距d。
强度:晶胞内原子的种类、数目、位置。
尽管物质的种类多种多样,但却没有两种物质的衍射图是完全相同的。因此,一定物质的衍射线条的位置、数目、及其强度,就是该种物质的特征。当试样中存在两种或两种以上的物质时,它们的衍射花样,即衍射峰,会同时出现,但不会干涉,仅仅衍射线条强度的简单叠加。根据此原理就可以从混合物的衍射花样中将物相一个一个地寻找出来。
4.复型样品的基本制备方法有几种?简述塑料-碳二级的基本制备方法,并用图示之。
5.薄膜样品的制备方法有几种?基本原理与方法。
第十章
1.空间点阵的描述。倒易点阵的概念、厄瓦尔德作图法的应用。
2.晶带定律及其应用。
3.二维零层倒易点阵的画法(立方晶系)。如:试画出面心立方点阵及其(001)晶带轴的二维零层倒易点分布。
干涉指数引入的意义,与晶面指数(密勒指数)的关系
干涉指数HKL与Miller指数hkl之间的关系有:
H= nh ,K= nk ,L= nl
不同点:(1)密勒指数是实际晶面的指数,而干涉晶面指数不一定;
(2)干涉指数HKL与晶面指数( Miller指数) hkl之间的明显差别是:
干涉指数中有公约数,而晶面指数只能是互质的整数。
(1)连续扫描:探测器以一定的速度在选定的角度内进行连续扫描,探测器以测量的平均强度,绘出谱线,特点是快,缺点是不准确,一般工作时,作为参考,以确定衍射仪工作的角度。
(2)步进扫描:探测器以一定的角度间隔逐步移动,强度为积分强度,峰位较准确。
从物质的X射线衍射图谱上可以得到什么信息?

X射线荧光光谱-思考题

X射线荧光光谱-思考题

X射线荧光光谱思考题一、选择题1.以下几种射线中,能激发锌(Zn)的K系谱线的是:(D)能量大于其吸收限,原子序数比Zn大(A) Fe Kα谱线(B) Cu Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Br Kα谱线2. 以下几种射线中,激发铁(Fe)的K系谱线最有效的是:(B)最靠近Fe大于Fe原子系数(A) Cr Kα谱线(B) Ni Kα谱线(C) Zn Kα谱线(D) Rh Kα谱线3. 在X射线荧光光谱中,对于波长为λ的X射线荧光,样品达到“无限厚”时,厚度最大的物质是:(A)无限厚,荧光光谱穿透率99%(A) 硼酸(B) 二氧化硅(C) 硫酸铜(D) 铅4. 以下几种元素中,K系谱线的荧光产额最高的是:()原子序数越大(A) 铁(B) 镍(C) 铜(D) 银二、简答题1 简述X射线荧光光谱的基本原理。

2.用X射线荧光光谱测量含Fe、Cr、Ni三种元素的不锈钢样品时,如果激发源的能量足够高,请指出三种元素的K系谱线中,请分别指出会出现一次荧光、二次荧光和三次荧光的谱线。

能量最够高,一次谱线都会出现,Ni 0.1488,波长必须低于0.1488,Fe能.三次限激发出二次限,Cr1,2,3 Fe 1,2 Ni1Cr-Fe-Ni三元合金中Cr、Fe和Ni的特征X射线及相应吸收限的波长*为K系吸收限的波长3.试比较波长色散和能量色散X射线荧光光谱的优缺点。

三、计算题1.在X射线荧光光谱谱线强度测量中,测得计数率为1kcps。

如果测量时间为10s,请算强度测量的标准偏差和相对标准偏差。

2.波长色散X射线荧光光谱仪中,新安装了一块多层膜拟晶体。

在测量中,发现能量为1keV的谱线出现2θ角度为60°的位置,请计算该多层膜拟晶体的面间距。

现代材料测试技术(1)-作业与思考题

现代材料测试技术(1)-作业与思考题
补:制备复型的材料应具备的三个主要条件
6.制备薄膜样品的基本要求是什么?具体工艺过程如何,双喷减薄与离子减薄各适用于制备什么样品?
7.什么是衍射衬度,它与质厚衬度有什么区别?
8.画图说明衍衬成像原理,并说明什么是明场像,暗明场像和中心暗场像。
思考题:10.要观察钢中基体和析出相的组织形态.同时要分析其晶体结构和共格界面的位向关系,如何制备样品?以怎样的电镜操作方式和步骤来近行具体分析?
6.要同时断口形貌和断口上粒状夹杂物的化学成分,选用什么仪器?如何操作?
7.简述电子探针的三种工作方式在显微成分分析中的应用。
第7章电子光学基础
1.电磁透镜的像差是怎样产生的,如何来消除和减少像差?
2.电磁透镜景深和焦长主要受哪些因素影响?说明电磁透镜的景深大、焦长长,是什么因素影响的结果?假设电磁透镜没有像差,也没有衍射Airy斑,即分辨率极高,此时它的景深和焦长如何?
第8章电子束与材料的相互作用
1.电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?
第10章电子衍射
1.分析电子衍射与X射线衍射有何异同?
2.倒易点阵与正点阵之间关系如何?倒易点阵与晶体的电子衍射斑点之间有何对应关系?
3.用爱瓦尔德图解法证明布拉掐定律。
4.何为零层倒易截面和晶带定理?说明一晶带中各晶面及其倒易矢量与晶带轴之间的关系。
5.说明多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
(2)解释“干涉面指数(HKL)”与“晶面指数(hkl)”之间的区别。若某种立方晶体的(111)晶面间距为0.1506 nm,而X射线波长为0.0724 nm,问有多少干涉面参与反射,它们分别在什么角度上反射?
(3)用Cu Kα(=0.154 nm)射线照射点阵常数a = 0.286 nm的α-Fe多晶体,试用厄瓦尔德作图法求(110)晶面发生反射的θ角。

《X射线衍射部分》思考题

《X射线衍射部分》思考题

《X射线衍射》部分思考题一、部分概念成分,相,组织,结构,晶粒,晶体,多晶体,单晶体,晶胞,晶体点阵,晶向,晶面管电压,管电流,连续X射线谱,特征X射线谱,短波限,临界激发电压,质量吸收系数,线吸收系数,相干散射,不相干散射,原子散射因子,结构因子,衍射指数,衍射级数,多重性因子,温度因子,吸收因子衍射线相对强度、绝对强度、积分强度二、思考题1、材料的结构层次是如何划分的?2、连续X射线谱产生机制。

3、特征X射线谱产生机制,推导K系特征X射线波长表达式。

4、X射线滤波原理。

5、证明(011-)、(121-)、(213-)、(0-11)、(1-32)晶面属于[111]晶带。

6、X射线衍射实验有哪些实验方法?简述各自实验条件。

采用X射线衍射仪法进行分析时,准备试样需要考虑哪些因素?7、物相定性分析的原理是什么?对食盐进行化学分析与物相定性分析,所得信息有何不同?请说明多相混合物物相定性分析的原理与方法?8、原子散射因数的物理意义是什么?某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系?9、推导布拉格方程。

布拉格方程式有何用途?10、CuKα射线(λkα=0.154nm)照射Cu样品,已知Cu的点阵常数为0.361nm,试用布拉格方程求其(200)反射的θ角。

11、X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么?12、已知氯化钠的点阵常数为0.564nm,今用CuKα辐射在衍射仪上扫描测试其粉末样品,其最低角的三条衍射线由哪三个晶面反射的?求出相应的衍射角。

13、已知某样品中由α(体心立方)、β(面心立方)两相组成,如今在衍射仪上用CoKα对此样品自40°到120°的范围内进行扫描,所得衍射图上有几条衍射峰?标注相应的反射晶面。

(α相点阵常数为0.286nm,β相点阵常数为0.3 60nm)14、某立方晶体的衍射图中,从低角到高角有8个衍射峰,衍射角依次等于,36.58°、55.71°、69.82°、82.73°、95.26°、107.94°、121.90°、138.31°,判断该样品为何种点阵类型?确定对应的衍射指数。

X射线复习和思考题

X射线复习和思考题

X射线复习和思考题一、名词解释1、物相分析:确定材料由哪些相组成(即物相定性分析)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分析)。

2、零层倒易面:属于同一[uvw]晶带的各(HKL)晶面对应的倒易矢量r*HKL处于一个平面内. 这是一个通过倒易点阵原点的倒易面,称为零层倒易面。

3、X射线:一种波长介于紫外线和γ射线之间的具有较短波长的电磁波。

4、Kα射线与Kβ射线:管电压增加到某一临界值(激发电压),使撞击靶材的电子能量(eV)足够大,可使靶原子K层产生空位,其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射,其中由L层或M层或更外层电子跃迁产生的K系特征辐射分别顺序称为Kα,Kβ,…射线。

5、短波限:电子与靶材相撞,其能量(eV)全部转变为辐射光子能量,此时光子能量最大、波长最短,因此连续谱有一个下限波长λ0,即称为短波限。

6、参比强度:参比强度是被测物相与刚玉(α-Al2O3)按 1 : 1重量比混合时,被测相最强线峰高与刚玉(六方晶系,113衍射线)最强线峰高的比值。

7、质量吸收系数:设μm= μ/ρ(ρ为物质密度),称μm为质量吸收系数,μm为X射线通过单位质量物质时能量的衰减,亦称单位质量物质对X射线的吸收。

8、晶带:在晶体中如果若干个晶面同时平行于某一轴向时,则这些晶面属于同一晶带,而这个轴向就称为晶带轴。

9、光电效应:当入射X射线光子能量达到某一阈值,可击出物质原子内层电子,产生光电效应。

10、二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。

11、相干散射:相干散射是指入射电子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,其辐射出的电磁波的波长与频率与入射电磁波完全相同,新的散射波之间可以发生相互干涉。

二、简答,论述,计算题1、辨析点阵与阵胞、点阵与晶体结构、阵胞与晶胞的关系。

(完整版)XRD复习题

(完整版)XRD复习题

第一章X射线的物理学基础1.X射线的本质是什么?并请叙述其特征。

答:X射线的本质是电磁波,与可见光完全相同;其波长介于紫外线与γ射线之间,约为0.01—10nm的范围。

X射线的特征:波长短、光子能量大。

在通常实验条件下,很难观察到X射线的反射;对于所有的介质,X射线的折射率n都很接近于1。

2.X衍射实验中选择X射线管以及滤波片的原则是什么?答:滤波片的选择: (1)它的吸收限位于辐射源的Kα和K β之间,且尽量靠近K α。

强烈吸收Kβ,K吸收很小;(2)滤波片的厚度以将Kα强度降低一半最佳。

Z靶<40时Z滤片=Z靶-1;Z靶>40时Z 滤片=Z靶-2;阳极靶的选择:(1)阳极靶K波长稍大于试样的K吸收限;(2)试样对X射线的吸收最小。

Z靶≤Z试样+1。

(1)X衍射仪常采用Cu靶,Cu的特征X射线及其波长为,需要用滤波片或单色器去除,用软件去除。

(多选题)aKα1,1.5406埃;b Kα2,1.5444埃; c Kβ,1.392埃答案:a, c, b(2)X衍射选用Cu靶,相配的滤波片为(单选题)a Cub Fec Nid Al答案:c由X射线管发射出来的X射线可以分为两种类型:、。

X衍射物相分析利用的是在晶体中的衍射。

a连续X射线b特征X射线答案:a b b 或b a b(3)判断对错。

用X衍射仪测一个以Fe为主要成分的样品,合适的X射线管和合适的滤波片是Cu靶和Ni滤波片。

(错)第二章X射线的晶体学基础一、晶体的定义是什么?请叙述其晶体的特点。

答:晶体的定义:内部质点在三维空间有规则排列的物体。

晶体的最明显特征是内部质点在三维空间作有规律的重复。

晶体的特点是:a 、均一性:指在宏观观察中,晶体表现为各部分性状相同的物体b 、各向异性:晶体在不同方向上具有不同的物理性质c 、自限性:晶体物质在适宜的外界条件下能自发的生长出晶面、晶棱等几何元素所组成凸多面体外形d 、固定熔点:晶体具有固定的熔点e、对称性:晶体的理想外形、宏观性质以及微观结构都具有一定的对称性g、最小内能二、晶体有四大空间格子类型、七大晶系,请具体说出其名称及其特征。

X射线荧光光谱分析-复习题及解答综述

X射线荧光光谱分析-复习题及解答综述

•X射线荧光光谱是连续谱还是特征谱?如何产生?为什么能用它 来进行元素的定性和定量分析? 答:X射线荧光光谱是特征谱。 它是当原子内电子层出现电子空位,外层电子跃迁填充时 所发射出来的X射线,故又称二次X射线… 由于各元素原子的能级差是不一样的,而同种元素原子的 能级差是一样的,对于同一元素的原子发射出来的X射线的波长 或能量是固定的;因此当样品中元素的原子受到高能X射线照射 时,即发射出具有一定特征的X射线谱, 特征谱线的波长只与元 素的原子序数(Z)有关;谱线的强度和元素含量的多少有关, 所 以测定特征谱线的波长, 就可知道试样中包含什么元素, 测定 特征谱线的强度, 就可知道该元素的含量。
•XRFS分析物质成分的特点有那些? 答:1.分析速度快,自动化程度高。 2.XRF分析是一种物理分析方法; 特别适合过程分析、 野外现场、对比和非破坏性分析。 3.分析浓度范围广、测量的线性好、精度高。 4.XRF分析比其他发射光谱简单,易于解析;尤其是 对未知样品的定性分析。 5.制样简单;试样形式多样化。 6.具有在原样上微区条件下进行定性、定量分析。 7.定量分析有时需要多标样对比,标样的组分与被测 样的组分要差不多; 对于原子序数低的元素,其荧光产 额低,因此检出限不是很理想;对于超轻元素(H、Li 、 Be)目前还不能直接进行分析。
•质量吸收系数:式I I 0 e μρt 中的比例系数μ称为密度为ρ材料对波长为λX射线的质量吸收 系数。式中I0、I为材料吸收前、后的波长为的X射线强度,t为 材料的厚度。 •基体:样品中除了被测元素外的其他成分,称为基体。 •基体效应:基体对分析元素的影响称为基体效应。有两类基 体效应:一类为样品的化学组成引起的效应,即吸收—增强效 应;一类为样品的物理特性引起的效应,如表面光滑度、颗粒 度、材料的不均匀性等。 •怎样校正基体效应的影响: 答:实验校正法…,数学校正法…及制样。并用其中某 一方法具体说明一下(略)

思考题答案

思考题答案

思考题答案第一章xrd1.x射线的定义、性质、连续x射线和特征x射线的产生、特点。

请问:x射线定义:高速运动的粒子与某种物质二者喷发后猝然失速,且与该物质中的内层电子相互作用而产生的。

性质:看不到;能够并使气体电离,并使照相底片感光,具备很强的反射能力,还能够并使物质收到荧光;在磁场和电场中都不出现偏移;当沿着物体时只有部分被反射;能够炮弹生物细胞。

连续x射线产生:经典物理学解释――由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不相同,因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续x射线谱。

量子力学解释――大量的电子在到达靶面的时间、条件均不同,而且还有多次碰撞,因而产生不同能量不同强度的光子序列,即形成连续谱。

特点:强度随波长连续变化特征x射线产生:当管电压达至或低于某一临界值时,阴极收到的电子在电场的快速下,可以将物质原子深层的电子划破能量较低的外部壳层或投出原子外,并使原子电离。

此时的原子处在激发态。

处在激发态的原子存有自发性返回激发态的女性主义,此时外层电子将充填内层空位,适当充斥着原子能量减少。

原子从高能态变成高能量态时,多出的能量以x射线的形式转化成。

因物质一定,原子结构一定,两特定能级间的能级差一定,故电磁辐射出来波长一定的特征x射线。

特点:仅在特定的波长处为特别弱的强度峰。

2.x射线与物质的相互作用请问:x射线与物质的相互作用,如图所示一束x射线通过物体后,其强度因散射和吸收而被衰减,并且吸收是造成强度衰减的主要原因。

反射分成两部分,即为电磁波反射和不相干反射。

当x射线照射物质的某个晶面时可以产生反射线,当反射线与x射线的频率、位相一致时,在相同散射方向上的各个反射波相互干预,产生电磁波反射;当x射线经束缚力并不大的电子或民主自由电子散射后,产生波长比入射光x射线波长长的x射线,且波长随着反射方向的相同而发生改变,这种现象称作不相干反射。

其中电磁波反射就是x射线在晶体中产生绕射现象的基础。

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X射线复习和思考题一、名词解释1、物相分析:确定材料由哪些相组成(即物相定性分析)和确定各组成相的含量(常以体积分数或质量分数表示,即物相定量分析)。

2、零层倒易面:属于同一[uvw]晶带的各(HKL)晶面对应的倒易矢量r*HKL处于一个平面内. 这是一个通过倒易点阵原点的倒易面,称为零层倒易面。

3、X射线:一种波长介于紫外线和γ射线之间的具有较短波长的电磁波。

4、Kα射线与Kβ射线:管电压增加到某一临界值(激发电压),使撞击靶材的电子能量(eV)足够大,可使靶原子K层产生空位,其外层电子向K层跃迁产生的X射线统称为K系特征辐射,其中由L层或M层或更外层电子跃迁产生的K系特征辐射分别顺序称为Kα,Kβ,…射线。

5、短波限:电子与靶材相撞,其能量(eV)全部转变为辐射光子能量,此时光子能量最大、波长最短,因此连续谱有一个下限波长λ0,即称为短波限。

6、参比强度:参比强度是被测物相与刚玉(α-Al2O3)按1 : 1重量比混合时,被测相最强线峰高与刚玉(六方晶系,113衍射线)最强线峰高的比值。

7、质量吸收系数:设μm= μ/ρ(ρ为物质密度),称μm为质量吸收系数,μm为X射线通过单位质量物质时能量的衰减,亦称单位质量物质对X射线的吸收。

8、晶带:在晶体中如果若干个晶面同时平行于某一轴向时,则这些晶面属于同一晶带,而这个轴向就称为晶带轴。

9、光电效应:当入射X射线光子能量达到某一阈值,可击出物质原子内层电子,产生光电效应。

10、二次特征辐射(X射线荧光辐射):当高能X射线光子击出被照射物质原子的内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X射线(称二次特征辐射)。

11、相干散射:相干散射是指入射电子与原子内受核束缚较紧的电子(如内层电子)发生弹性碰撞作用,其辐射出的电磁波的波长与频率与入射电磁波完全相同,新的散射波之间可以发生相互干涉。

二、简答,论述,计算题1、辨析点阵与阵胞、点阵与晶体结构、阵胞与晶胞的关系。

答:(1)点阵与阵胞:点阵是为了描述晶体中原子的排列规则,将每一个原子抽象视为一个几何点(称为阵点),从而得到一个按一定规则排列分布的无数多个阵点组成的空间阵列,称为空间点阵或晶体点阵,简称点阵。

阵胞(晶胞)是在点阵中选择一个由阵点连接而成的几何图形(一般为平行六面体)作为点阵的基本单元来表达晶体结构的周期性,称为阵胞(晶胞)。

阵胞在空间的重复堆砌即形成空间点阵。

(2)点阵与晶体结构:若将组成晶体的原子(离子、分子等,以下称为结构基元)置于点阵的各个阵点上,则将还原为晶体结构,即:晶体结构 = 空间点阵 + 结构基元。

(3)阵胞与晶胞:同一基元结构从不同角度的表达。

2、判别下列哪些晶面属于[111]晶带:(011),(123),(231),(211),(011),(331),(211),(213),(110),(212)。

解:由晶带定理Hu + Kv + Lw = 0可知,如果[111]*(HKL)=0,就有(HKL )属于[111]晶带。

(011):(-1)×(-1)+1×(-1)+1×0 = 0 (123):(-1)×(-2)+1×(-3)+1×1 = 0 (231):(-1)×2 + 1×3 + 1×1 = 2 (211):(-1)×2 + 1×1 + 1×1 = 0 (011):(-1)×(-1)+1×0 +1×1 = 2 (331):(-1)× 1 + 1×(-3)+1×3 = -1 (211):(-1)×1 + 1×(-1)+1×2 = 0 (213):(-1)×(-1)+1×(-3)+1×2 = 0 (110):(-1)×0 + 1×(-1)+1×1 = 0 (212):(-1)× 2 + 1×1 + 1×2 = 1所以,(011),(123),(211),(011),(211),(213),(110)属于[111]晶带。

3、试计算(113)及(213)的共同晶带轴。

解:设(113)及(213)的共同晶带轴为[uvw],所以,由晶带定理,有H 1u + K 1v + L 1w = 0 即 (-3)×u + 1×v + 1×w = 0H 2u + K 2v + L 2w = 0 (-1)×u + (-3)×v + 2×w = 0 解联立方程组,可得:u :v :w = 3113:1231:2311------=5:5:10,所以其晶带轴为[112]. 4、何为晶带,说明晶带定律?答:(1)在晶体中如果若干个晶面同时平行于某一轴向时,则这些晶面属于同一晶带,而这个轴向就称为晶带轴。

(2)若晶带轴的方向指数为[uvw],晶带中某晶面的指数为(HKL),则有uH + vK + wL = 0,此公式称为晶带定理。

5、何为倒易矢量,它的基本性质是什么?答:(1)以任一倒易阵点为坐标原点,以a*、b*、c*分别为三坐标轴单位矢量。

由倒易原点向任意倒易阵点的连接矢量称为倒易矢量,用r*表示。

(2)r*HKL的基本性质:①r*HKL⊥正点阵中相应(HKL)晶面;② | r*HKL| = 1/ d HKL(长度为晶面间距的倒数)6、试述X射线的定义、性质,连续X射线和特征X射线的产生、有何应用?答:(1)X射线的定义:一种波长介于紫外线和γ射线之间的具有较短波长的电磁波。

(2)性质:X射线波长10–12——10–8m,X射线是一种电磁波,具有波粒二象性,X射线波长短、能量大,其主要体现在①穿透能力强。

能穿透可见光不能穿透的物质,如生物的软组织等。

②X射线穿过不同媒质时折射和反射极小,仍可视为直线传播。

③通过晶体时发生衍射,因而可用X射线研究晶体的内部结构。

(3)连续X射线的产生:当高速运动的电子击靶后,电子被减速。

电子所减少的能量(∆E)转为所发射X射线光子能量(hν),即hν=∆E。

由于击靶的电子数目极多,击靶时穿透的深浅不同、损失的动能不等,因此,由电子动能转换为X射线光子的能量有多有少,从而形成一系列不同频率、不同波长的X射线,构成了连续谱。

(4)特征X射线的产生:管电压增加到某一临界值(激发电压),使撞击靶材的电子能量(eV)足够大,可使靶原子内层产生空位,较外层电子向内层跃迁,产生波长确定的X射线(特征X 射线)。

(5)应用:连续X射线可以用来晶体定向,特征X射线用来进行物相鉴定和结构测定。

7、辨析概念:x射线散射、衍射与反射。

答:(1)x射线散射:X射线照射晶体,电子受迫振动产生相干散射;同一原子内各电子散射波相互干涉形成原子散射波。

(2)衍射:晶体中各原子相干散射波叠加(合成)的结果。

(3)反射:入射线照射各原子面产生的反射线实质是各原子面产生的反射方向上的相干散射线。

记录的样品反射线实质是各原子面反射方向上散射线干涉加强的结果,即衍射线。

所以,在材料的衍射分析中,“反射”与“衍射”作为同义词使用。

8、X射线与物质相互作用有哪些现象和规律?利用这些现象和规律可以进行哪些科学研究工作,有哪些实际应用?答:X射线照射固体物质,可能发生的各种相互作用,如下图:(1)光电效应:当入射X 射线光子能量等于某一阈值,可击出原子内层电子, 产生光电效应。

应用:光电效应产生光电子,是X 射线光电子能谱分析的技术基础。

光电效应使原子产生空位后的退激发过程产生俄歇电子或X 射线荧光辐射是X 射线激发俄歇能谱分析和X 射线荧光分析方法的技术基础。

(2)二次特征辐射(X 射线荧光辐射):当高能X 射线光子击出被照射物质原子的内层电子后,较外层电子填其空位而产生了次生特征X 射线(称二次特征辐射)。

应用:X 射线被物质散射时,产生两种现象:相干散射和非相干散射。

相干散射是X 射线衍射分析方法的基础。

9、为什么衍射线束的方向与晶胞的形状和大小有关?答:由干涉指数表达的布拉格方程2d hkl sin θ = n λ可知,它反映了衍射线束的方向(θ)、波长 (λ)与晶面间距(d )之间的关系,而晶胞参数决定着晶面间距,所以衍射线束的方向与晶胞的形状和大小有关。

10、当波长为λ的X 射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl )反射线的光程差是多少?相邻两个(HKL )反射线的光程差又是多少? 答:相邻两个(hkl )反射线的光程差2d hkl sin θ = n λ相邻两个(HKL )反射线的光程差2d HKL sin θ = λ11、α-Fe 为立方系晶体,点阵常数a=0.2866nm ,如用Cr λK α=0.22909nm 进行摄照,求(110)和(200)面的衍射布拉格角。

解:α-Fe 为立方系晶体,根据晶面间距公式所以d (110)=nm 2027.00112866.0=++222L K H a d ++=d (200)=nm 1433.00022866.02=++根据布拉格方程:2dsin θ = λ,得到:所以θ(110)=34.4°所以θ(200)=53.07°12、CuK α射线(λK α=0.154 nm )照射Cu 样品。

已知Cu 的点阵常数a =0.361 nm , 试分别用布拉格方程与厄瓦尔德图解法求其(200)反射的θ角。

答:(1)布拉格方程:Cu 为立方系晶体,根据晶面间距公式 d (200)=nm 1805.0002361.02=++根据布拉格方程:2dsin θ = λ,得到:所以θ(200)=25.252°(2)厄瓦尔德图解法:①沿入射线方向做长度为1/λ(6.49)的矢量S 0/λ,使该矢量的末端落在倒易点阵的原点O *。

②以矢量S 0/λ的起端O 为中心,以1/ λ(6.49)为半径画一个球,该球称为反射球。

③以O *为倒易原点, 作晶体的倒易点阵。

④若倒易结点与反射球面相交,则该倒易结点对应的(HKL)面满足衍射矢量方程产生衍射。

⑤从反射球心O 到该倒易结点做矢量,该矢量(1/d=5.54)代表该(HKL)面的衍射方向。

sin θ =|a*|1/b*5651.02027.0222909.02sin )110()110(=⨯==d λθ79934.01433.0222909.02sin )200()200(=⨯==d λθ222L K H ad ++=4266.01805.02154.02sin )200()200(=⨯==d λθ13、CuK α辐射(λ=0.154 nm )照射Ag (属于面心立方点阵)样品,测得第一衍射峰的位置2θ=38°,试求Ag 样品第一衍射峰的d 值和Ag 的点阵常数。

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