常用电子元件的检测方法
常用元器件检测方法

常用电子元器件检测方法元器件的检测是电子产品生产中不可缺少的重要部分,如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否.熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要,以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供参考。
第一章电阻器的检测方法与经验1、固定电阻器的检测.A将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。
为了提高测量精度,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。
由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范围内,以使测量更准确。
根据电阻误差等级不同。
读数与标称阻值之间分别允许有±5%、±10%或±20%的误差。
如不相符,超出误差范围,则说明该电阻值变值了.B注意:测试时,特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时,手不要触及表笔和电阻的导电部分;被检测的电阻从电路中焊下来,至少要焊开一个头,以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定,但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。
2、水泥电阻的检测。
检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。
3、熔断电阻器的检测。
在电路中,当熔断电阻器熔断开路后,可根据经验作出判断:若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦,可断定是其负荷过重,通过它的电流超过额定值很多倍所致;如果其表面无任何痕迹而开路,则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。
对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断,可借助万用表R×1挡来测量,为保证测量准确,应将熔断电阻器一端从电路上焊下. 若测得的阻值为无穷大,则说明此熔断电阻器已失效开路,若测得的阻值与标称值相差甚远,表明电阻变值,也不宜再使用。
在维修实践中发现,也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象,检测时也应予以注意。
常用电子元器件的识别与检测

常用电子元器件的识别与检测
电子元器件是电子设备的基本构成部分,广泛应用于电子产品、信息技术、通讯等领域,因此对于电子元器件的识别与检测是电子产业的基本技能。
下面将根据常见的电子元
器件,介绍其识别与检测方法。
1. 电容器
电容器是常用的电子元器件,常见的有电解电容器和陶瓷电容器。
电解电容器的极性
明显,阳极和阴极可以通过外观识别,用万用表可以测试容值和损耗等参数。
而陶瓷电容
器的极性不明显,对其进行测试需要在检测时注意新旧电容的区别,使用万用表或LCR表
可以测试其容值、Q值等参数。
电阻器是电子电路中常用的电子元件,通常使用万用表测量其电阻值。
需要注意的是,电阻器通常会有一个色环编码,按照编码对其颜色进行判断可以知道电阻值。
此外,电阻
器的品质检测需要检查其温度系数等参数。
3. 二极管
二极管是常用的半导体器件,具有单向导电性。
通过外观和标识可以判断二极管的正
负极,通过万用表可以测试其导通电压和反向电压等参数。
需要注意的是,有些二极管具
有低压降和高压降等不同类型,需要对其类型进行识别。
5. 集成电路
集成电路是电子电路中常用的器件,可以包含多种电子元件。
其品牌、型号、批次等
信息通过外观可以判断,使用万用表进行测试,可以测试其输入电压和输出电压等参数。
此外,还需要注意集成电路的静态和动态特性,比如其工作温度和供电电流等等。
总之,对于以上所介绍的电子元件,识别和检测是电子产业中必不可少的技能,有效
的识别和检测方法可以将故障排查时间缩短,提升生产效率。
电子元器件的检测方法

电子元器件的检测方法
1.外观检查:外观检查是最基本的电子元器件检测方法之一,通过目
视观察和仪器测量等手段检查元器件的形状、尺寸、表面质量和引线等外
观特征。
主要检查项包括器件封装形式、引脚排列与间距、引线长度与弯
曲度、焊盘和焊接质量、器件表面缺陷等。
2.物理性能检测:物理性能检测是用来检验电子器件内外部物理特性
的方法,包括尺寸、重量、密度、硬度、磁性、热特性等。
常用的方法有
测量封装尺寸、引脚间距、焊盘尺寸等;利用显微镜观察元器件表面形貌,配合金相显微镜来观察器件的金属结构和应力分布;测量元器件的质量、
密度和强度等指标。
3.电气性能检测:电气性能检测是检验元器件电性能的方法,主要包
括静态参数测试、动态特性测试和电容、电感、电阻等电性能参数测试。
常用的方法有使用万用表、示波器、信号发生器等测量工具,对元器件的
电压、电流、频率、响应时间、电阻值等进行测试。
同时,还可以利用射
频信号源、功率测量器等专用设备对射频器件的性能进行测试。
4.可靠性测试:可靠性测试是用来预测和评估电子元器件在特定条件
下的可靠性能的方法,包括环境可靠性测试、应力可靠性测试和可行性试
验等。
常用的方法有温度循环试验、高低温试验、湿热循环试验、振动试验、冲击试验、可靠性寿命试验等。
通过这些测试,可以评估元器件在不
同环境和应力条件下的工作能力和寿命,为设计和生产提供可靠性参考。
总结起来,电子元器件的检测方法包括外观检查、物理性能检测、电
气性能检测和可靠性测试等多个方面,通过综合运用这些方法,可以全面
评估和验证电子元器件的质量和性能,确保其符合设计要求、可靠工作。
电子元器件的检测方法

电子元器件的检测方法电子元器件的检测方法对于保障产品质量、确保设备正常运行至关重要。
本文将介绍几种常用的电子元器件的检测方法。
一、外观检测外观检测是电子元器件检测中最简单且最基础的方法之一。
通过目视观察元器件的外观,检查是否存在外观缺陷、氧化、变形等问题。
一些常用的外观检测设备包括显微镜、放大镜和高清摄像机等。
外观检测可以快速检查大量元器件,但不能确定元器件内部是否存在问题。
二、电性能测试电性能测试是常见的电子元器件检测方法之一,通过测量元器件的电性能参数来判断其正常与否。
例如,对于半导体器件,可以通过测量其电流、电压和电阻等参数来判断其质量。
电性能测试需要使用仪器设备,如万用表和示波器等。
三、无损检测无损检测是一种非破坏性的电子元器件检测方法,通过检测元器件所发出的信号或响应来判断其内部是否存在缺陷。
无损检测常用于印刷电路板(PCB)和焊接接头等元器件的质量检测。
常见的无损检测方法包括红外热成像、超声波检测和射线检测等。
四、环境适应性测试环境适应性测试是一种测试电子元器件在不同环境条件下性能稳定性的方法。
通过模拟实际工作环境中的温度、湿度、振动和电磁干扰等因素,测试元器件在这些条件下的可靠性和稳定性。
环境适应性测试可以帮助制造商评估元器件在不同环境下是否能满足产品要求。
五、X射线检测X射线检测是一种用于检测电子元器件内部缺陷的方法。
通过照射元器件并观察其产生的衍射和散射现象,可以检测到元器件内部的焊点开裂、引线脱落等问题。
X射线检测可以在不破坏元器件的情况下对其进行全面的内部检测。
六、寿命测试寿命测试是一种测试电子元器件使用寿命和可靠性的方法。
通过模拟实际使用条件,对元器件进行长时间的工作状况下的测试,以确定其在使用寿命方面的性能。
寿命测试可以帮助制造商评估元器件的耐久性和可靠性,并提前发现潜在的故障问题。
综上所述,电子元器件的检测方法多种多样,不同的方法适用于不同的元器件和不同的检测需求。
通过合理选择和应用这些检测方法,可以确保电子元器件的质量和可靠性,提高产品的竞争力和市场认可度。
常用电子元件进料检测指导书

电阻1. 目的为了确保供货商交货质量符合公司设计质量规格要求,并降低制程产品质量不良率;则制定此检验标准作为进料检验质量判定基准,以确保出货质量满足客户需求。
2. 使用范围本进货检验质量判定基准适用于公司所有外购生产用的碳膜电阻(CF),金属膜电阻(MF),金属氧化膜电阻(MOF),金属玻璃釉电阻,网络电阻,可变电阻又名电位器,光敏电阻,压敏电阻,热敏电阻(PTC/NTC),功率电阻(RW)等之检验。
3. 抽样方案3.1 进货抽验标准依据:一般依GB/T2828 II 正常一次抽样计划.3.2 抽样方法:一般采用随机抽样.3.3 接收品质水准 AQL 值:CRI=0 MAJ=0.4 MIN=0.653.4 抽验结果判定类别:允收<Acc> 拒收<Rej> 特采<Waive> 挑选<Sort> 退货<RTV>4. 缺点定义4.1 严重缺点(CRITICAL DEFECT,简写 CRI):不良缺陷,使产品在生产、运输或使用过程中可能出现危与人身财产安全之缺点,称为严重缺点.4.2 主要缺点(MAJOR DEFECT,简写 MAJ):不良缺陷,使产品失去全部或部分主要功能,或者相对严重影响的结构装配的不良,从而显著降低产品使用性的缺点,称为主要缺点.4.3 次要缺点(MINOR DEFECT,简写 MIN):不良缺陷,可以造成产品部分性能偏差或一般外观缺点,虽不影响产品性能,但会使产品价值降低的缺点,称为次要缺点.5. 检验依据5.1 承认书检验项目5.2 样品对照5.3 客户重点质量要求5.4 质量标准要求有质量体系认证证书;供货方出厂检验报告、合格证6. 检验条件6.1 在正常室内白色冷光瑩光灯管的照明条件(灯光强度为 100-300流明).6.2 将待测电源板置于执行检测者面前,目距约 18-24 英吋(约手臂长).6.3 应以兩种角度观察:正常方式,视线与待检件呈 45 度角以利光反射;垂直方式,视线与待检件垂直.6.4 检验员应配带静电手套作业.7.测试工量具与仪表TH2811D LCR数字电桥,游标卡尺,锡炉,测力计,浓度不低于95%的酒精8. 检验内容检验判定标准.电容1. 目的为了确保供货商交货质量符合公司设计质量规格要求,并降低制程产品质量不良率;则制定此检验标准作为进料检验质量判定基准,以确保出货质量满足客户需求。
电子元件如何检测是否带电

电子元件如何检测是否带电引言电子元件是现代电路中不可或缺的组成部分。
在操作电路或进行维修时,了解元件是否带电非常重要。
本文将介绍几种常见的方法来检测电子元件是否带电。
方法一:目视检查法目视检查法是最简单、常见的检测电子元件是否带电的方法。
通过直接观察元件表面是否有明显的电流指示灯、发光二极管等信号,可以初步判断元件是否带电。
但是,该方法仅适用于带有特殊的电流指示装置或显著发光的元件。
方法二:电压表检测法电压表检测法是一种更准确的方法,特别适用于元件之间存在电压差的情况。
使用电压表将一只探头接地,另一只探头接触待测的元件,读取电压表上的数值。
如果元件带电,电压表将显示非零值。
需要注意的是,使用电压表进行检测时,必须选择合适的电压档位,并按照正确的步骤操作,以避免损坏元件或电压表。
方法三:电表检测法电表检测法是一种测量电流的方法,适用于需要了解元件电流大小的情况。
通过将电表设置为电流测量模式,并将其串联在待测元件的电路中,测量所通过的电流大小。
如果元件带电,电表将显示相应的电流数值。
需要注意的是,在使用电表检测法时,必须正确连接电表,选用合适的电流档位,以免过载或电表显示不准确。
方法四:静电探测法静电探测法是一种触动式的检测方法,适用于微小电压的检测。
通过将手指或静电探头靠近待测元件的接触点,如果有带电现象,将感受到微弱的静电感。
虽然该方法对于高压电路并不适用,但在一些低压电路中是一种便捷的电子元件检测方式。
结论以上介绍了几种常见的方法来检测电子元件是否带电。
在实际操作中,根据具体情况选择合适的检测方法非常重要,以确保自身安全,并保护电子元件的使用寿命。
同时,正确的使用检测工具和遵循操作指南也是实施这些方法的必要条件。
希望本文可以帮助您更好地了解如何检测电子元件是否带电。
常用电子元器件的识别与检测新

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一:常用电子元器件的识别
CONTENTS
01
电阻的识别
晶体震荡器的识别
05
三极管的识别
熔断器的识别
03
电感的识别
集成模块管脚的识别
02
电容的识别
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06
光电耦合器的识别
单击添加文本具体内容
电阻的分类
固定电阻、可调电阻、特种电阻(敏感电阻)
按阻值特性
碳膜电阻、金属膜电阻、线绕电阻,无感电阻,薄膜电阻等
按制造材料
插件电阻、贴片电阻
按安装方式
负载电阻,采样电阻,分流电阻,保护电阻等
按功能分
可调电阻 固定电阻 光敏电阻 压敏电阻 线绕电阻
电阻的主要参数
02
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02
按结构分 :NPN 、 PNP
03
按功能分:开关管、功率管、达林顿管、光敏管等
04
按功率分 :小功率管、中功率管、大功率管
05
按工作频率分 :低频管、高频管、超频管
06
按结构工艺分 :合金管、平面管
07
按安装方式:插件三极管、贴片三极管
插件三极管 贴片三极管 大功率三极管 光敏三极管
分布电容 、额定电流
分布电容是指线圈的匝与匝之间、线圈与磁心之间存在的电容。电感器的分布电容越小,其稳定性越好。 额定电流是指电感器有正常工作时反允许通过的最大电流值。若工作电流超过额定电流,则电感器就会因发热而使性能参数发生改变,甚至还会因过流而烧毁。
二极管的定义
常用电子元器件检测方法及技巧

民常用电子元器件检测方法与技巧元器件的检测是家电维修的一项基本功,如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。
特别对初学者来说,熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要,以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。
一、电阻器的检测方法与经验:1固定1固定电容器的检测A检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象。
测量时,可选用万用表R×10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为无穷大。
若测出阻值(指针向右摆动)为零,则说明电容漏电损坏或内部击穿。
B检测10PF~0固定电容器是否有充电现象,进而判断其好坏。
万用表选用R×1k挡。
两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要小。
可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。
万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c 相接。
由于复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,从而便于观察。
应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摆动。
C对于0以上的固定电容,可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电,并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。
2电解电容器的检测A因为电解电容的容量较一般固定电容大得多,所以,测量时,应针对不同容量选用合适的量程。
根据经验,一般情况下,1~47μF间的电容,可用R×1k挡测量,大于47μF的电容可用R×100挡测量。
B将万用表红表笔接负极,黑表笔接正极,在刚接触的瞬间,万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡,容量越大,摆幅越大),接着逐渐向左回转,直到停在某一位置。
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常用电子元件的检测方法
Standardization of sany group #QS8QHH-HHGX8Q8-GNHHJ8-HHMHGN# 常用电子元件的检测方法
元器件的检测是家电维修的一项基本功,如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。特别对初学者来说,熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要,以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。 一、电阻器的检测方法与经验:
1固定电阻器的检测。 A将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。为了提高测量精度,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范围内,以使测量更准确。根据电阻误差等级不同。读数与标称阻值之间分别允许有±5%、±10%或±20%的误差。如不相符,超出误差范围,则说明该电阻值变值了。
B?注意:测试时,特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时,手不要触及表笔和电阻的导电部分;被检测的电阻从电路中焊下来,至少要焊开一个头,以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定,但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。
2水泥电阻的检测。检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。
3熔断电阻器的检测。在电路中,当熔断电阻器熔断开路后,可根据经验作出判断:若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦,可断定是其负荷过重,通过它的电流超过额定值很多倍所致;如果其表面无任何痕迹而开路,则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断,可借助万用表R×1挡来测量,为保证测量准确,应将熔断电阻器一端从电路上焊下。若测得的阻值为无穷大,则说明此熔断电阻器已失效开路,若测得的阻值与标称值相差甚远,表明电阻变值,也不宜再使用。在维修实践中发现,也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象,检测时也应予以注意。
4电位器的检测。检查电位器时,首先要转动旋柄,看看旋柄转动是否平滑,开关是否灵活,开关通、断时“喀哒”声是否清脆,并听一听电位器内部接触点和电阻体摩擦的声音,如有“沙沙”声,说明质量不好。用万用表测试时,先根据被测电位器阻值的大小,选择好万用表的合适电阻挡位,然后可按下述方法进行检测。
A用万用表的欧姆挡测“1”、“2”两端,其读数应为电位器的标称阻值,如万用表的指针不动或阻值相差很多,则表明该电位器已损坏。
B检测电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好。用万用表的欧姆档测“1”、“2”(或“2”、“3”)两端,将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置,这时电阻值越小越好。再顺时针慢慢旋转轴柄,电阻值应逐渐增大,表头中的指针应平稳移动。当轴柄旋至极端位置“3”时,阻值应接近电位器的标称值。如万用表的指针在电位器的轴柄转动过程中有跳动现象,说明活动触点有接触不良的故障。
5正温度系数热敏电阻(PTC)的检测。检测时,用万用表R×1挡,具体可分两步操作:
A常温检测(室内温度接近25℃);将两表笔接触PTC热敏电阻的两引脚测出其实际阻值,并与标称阻值相对比,二者相差在±2Ω内即为正常。实际阻值若与标称阻值相差过大,则说明其性能不良或已损坏。
B加温检测;在常温测试正常的基础上,即可进行第二步测试加温检测,将一热源(例如电烙铁)靠近PTC热敏电阻对其加热,同时用万用表监测其电阻值是否随温度的升高而增大,如是,说明热敏电阻正常,若阻值无变化,说明其性能变劣,不能继续使用。注意不要使热源与PTC热敏电阻靠得过近或直接接触热敏电阻,以防止将其烫坏。
6?负温度系数热敏电阻(NTC)的检测。 (1)、测量标称电阻值Rt用万用表测量NTC热敏电阻的方法与测量普通固定电阻的方法相同,即根据NTC热敏电阻的标称阻值选择合适的电阻挡可直接测出Rt的实际值。但因NTC热敏电阻对温度很敏感,故测试时应注意以下几点:A,Rt是生产厂家在环境温度为25℃时所测得的,所以用万用表测量Rt时,亦应在环境温度接近25℃时进行,以保证测试的可信度。B,测量功率不得超过规定值,以免电流热效应引起测量误差。C,注意正确操作。测试时,不要用手捏住热敏电阻体,以防止人体温度对测试产生影响。
(2)、估测温度系数αt先在室温t1下测得电阻值Rt1,再用电烙铁作热源,靠近热敏电阻Rt,测出电阻值RT2,同时用温度计测出此时热敏电阻RT表面的平均温度t2再进行计算。
7,压敏电阻的检测。用万用表的R×1k挡测量压敏电阻两引脚之间的正、反向绝缘电阻,均为无穷大,否则,说明漏电流大。若所测电阻很小,说明压敏电阻已损坏,不能使用。
8,光敏电阻的检测。 A,用一黑纸片将光敏电阻的透光窗口遮住,此时万用表的指针基本保持不动,阻值接近无穷大。此值越大说明光敏电阻性能越好。若此值很小或接近为零,说明光敏电阻已烧穿损坏,不能再继续使用。
B,将一光源对准光敏电阻的透光窗口,此时万用表的指针应有较大幅度的摆动,阻值明显减些 此值越小说明光敏电阻性能越好。若此值很大甚至无穷大,表明光敏电阻内部开路损坏,也不能再继续使用。
C,将光敏电阻透光窗口对准入射光线,用小黑纸片在光敏电阻的遮光窗上部晃动,使其间断受光,此时万用表指针应随黑纸片的晃动而左右摆动。如果万用表指针始终停在某一位置不随纸片晃动而摆动,说明光敏电阻的光敏材料已经损坏。
二、电容器的检测方法与经验 1,固定电容器的检测 A,检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象。测量时,可选用万用表R×10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为无穷大。若测出阻值(指针向右摆动)为零,则说明电容漏电损坏或内部击穿。
B,检测10PF~0?01μF固定电容器是否有充电现象,进而判断其好坏。万用表选用R×1k挡。两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要些可选用3DG6等型号硅三极管组成复合管。万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。由于复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,从而便于观察。应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摆动。
C,对于001μF以上的固定电容,可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电,并可根据指针向右摆动的幅度大小估计出电容器的容量。 2?电解电容器的检测 A,因为电解电容的容量较一般固定电容大得多,所以,测量时,应针对不同容量选用合适的量程。根据经验,一般情况下,1~47μF间的电容,可用R×1k挡测量,大于47μF的电容可用R×100挡测量。
B,将万用表红表笔接负极,黑表笔接正极,在刚接触的瞬间,万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻挡,容量越大,摆幅越大),接着逐渐向左回转,直到停在某一位置。此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻,此值略大于反向漏电阻。实际使用经验表明,电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上,否则,将不能正常工作。在测试中,若正向、反向均无充电的现象,即表针不动,则说明容量消失或内部断路;如果所测阻值很小或为零,说明电容漏电大或已击穿损坏,不能再使用。
C,对于正、负极标志不明的电解电容器,可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。即先任意测一下漏电阻,记住其大小,然后交换表笔再测出一个阻值。两次测量中阻值大的那一次便是正向接法,即黑表笔接的是正极,红表笔接的是负极。 D,使用万用表电阻挡,采用给电解电容进行正、反向充电的方法,根据指针向右摆动幅度的大小,可估测出电解电容的容量。
3,可变电容器的检测 A?用手轻轻旋动转轴,应感觉十分平滑,不应感觉有时松时紧甚至有卡滞现象。将载轴向前、后、上、下、左、右等各个方向推动时,转轴不应有松动的现象。
B,用一只手旋动转轴,另一只手轻摸动片组的外缘,不应感觉有任何松脱现象。转轴与动片之间接触不良的可变电容器,是不能再继续使用的。
C,将万用表置于R×10k挡,一只手将两个表笔分别接可变电容器的动片和定片的引出端,另一只手将转轴缓缓旋动几个来回,万用表指针都应在无穷大位置不动。在旋动转轴的过程中,如果指针有时指向零,说明动片和定片之间存在短路点;如果碰到某一角度,万用表读数不为无穷大而是出现一定阻值,说明可变电容器动片与定片之间存在漏电现象。 三、电感器、变压器检测方法与经验 1,色码电感器的的检测将万用表置于R×1挡,红、黑表笔各接色码电感器的任一引出端,此时指针应向右摆动。根据测出的电阻值大小,可具体分下述三种情况进行鉴别:
A,被测色码电感器电阻值为零,其内部有短路性故障。 B,被测色码电感器直流电阻值的大小与绕制电感器线圈所用的漆包线径、绕制圈数有直接关系,只要能测出电阻值,则可认为被测色码电感器是正常的。
2,中周变压器的检测 A,将万用表拨至R×1挡,按照中周变压器的各绕组引脚排列规律,逐一检查各绕组的通断情况,进而判断其是否正常。
B,检测绝缘性能将万用表置于R×10k挡,做如下几种状态