硬X射线微米探针高精度样品定位系统

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精密测量技术

精密测量技术

精密测量技术一、背景研究跟着社会的发展,一般机械加工的加工偏差从过去的mm级向“ m级发展,精密加工则从 10 p,m级向炉级发展,超精美加工正在向nm级工艺发展。

由此,制造业对精美丈量仪器的需求愈来愈宽泛,同时偏差要求也愈来愈高。

精美丈量是精密加工中的重要构成部分,精美加工的偏差要依靠丈量正确度来保证。

目前,对于丈量偏差已经由“ m级向 nm级提高,并且这类趋向一年比一年迅猛[1] 。

二、概括现代精美丈量技术是一门集光学、电子、传感器、图像、制造及计算机技术为一体的综合性交错学科,它和精美超精美加工技术相辅相成,为精美超精美加工供给了评论和检测手段;精美超精美加工水平的提高又为精美丈量供给了有力的仪器保障。

现代丈量技术波及宽泛的学科领域,它的发展需要众多有关学科的支持,在现代工业制造技术和科学研究中,丈量仪器拥有精美化、集成化、智能化的发展趋向,作为来世纪的要点发展目标,各国在微 /纳米丈量技术领域展开了宽泛的应用研究[1]。

三、丈量技术及应用特色3.1扫描探针显微镜1981年美国 IBM 公司研制成功的扫描地道显微镜 (STM), 将人们带到了微观世界。

STM 拥有极高的空间分辨率(平行和垂直于表面的分辨率分别达到 0.1nm和0.01nm,即可分辨出单个原子),宽泛应用于表面科学、资料科学和生命科学等研究领域 ,在必定程度上推进了纳米技术的产生和发展。

与此同时,鉴于 STM 相像原理与构造 ,接踵产生了一系列利用探针与样品的不一样互相作用来探测表面或界面纳米尺度上表现出来性质的扫描探针显微镜(SPM),用来获取经过 STM 没法获取的有关表面构造和性质的各样信息,成为人类认识微观世界的有力工具。

下边介绍几种拥有代表性的扫描探针显微镜。

(1)原子力显微镜( AFM ):AFM 利用微探针在样品表面划过时带动高敏感性的微悬臂梁随表面起伏而上下运动 ,经过光学方法或地道电流检测出微悬臂梁的位移 ,实现探针尖端原子与表面原子间排挤力检测 ,进而获取表面容貌信息。

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案

智慧树知到《材料分析方法》章节测试答案绪论1、材料研究方法分为()A:组织形貌分析B:物相分析C:成分价键分析D:分子结构分析正确答案:组织形貌分析,物相分析,成分价键分析,分子结构分析2、材料科学的主要研究内容包括()A:材料的成分结构B:材料的制备与加工C:材料的性能D:材料应用正确答案:材料的成分结构,材料的制备与加工,材料的性能3、下列哪些内容不属于材料表面与界面分析()A:晶界组成、厚度B:晶粒大小、形态C:气体的吸附D:表面结构正确答案:晶粒大小、形态4、下列哪些内容属于材料微区分析()A:晶格畸变B:位错C:晶粒取向D:裂纹大小正确答案:晶格畸变,位错,晶粒取向,裂纹大小5、下列哪些内容不属于材料成分结构分析()A:物相组成B:晶界组成、厚度C:杂质含量D:晶粒大小、形态正确答案:晶界组成、厚度,晶粒大小、形态第一章1、扫描电子显微镜的分辨率已经达到了()A:0.1 nmB:1.0 nmC:10 nmD:100 nm正确答案: 1.0 nm2、利用量子隧穿效应进行分析的仪器是A:原子力显微镜B:扫描隧道显微镜C:扫描探针显微镜D:扫描电子显微镜正确答案:扫描隧道显微镜3、能够对样品形貌和物相结构进行分析的是透射电子显微镜。

A:对B:错正确答案:对4、扫描隧道显微镜的分辨率可以到达原子尺度级别。

A:对B:错正确答案:对5、图像的衬度是()A:任意两点存在的明暗程度差异B:任意两点探测到的光强差异C:任意两点探测到的信号强度差异D:任意两点探测到的电子信号强度差异正确答案:任意两点存在的明暗程度差异,任意两点探测到的信号强度差异6、对材料进行组织形貌分析包含哪些内容()A:材料的外观形貌B:晶粒的大小C:材料的表面、界面结构信息D:位错、点缺陷正确答案:材料的外观形貌,晶粒的大小,材料的表面、界面结构信息,位错、点缺陷7、光学显微镜的最高分辨率为()A:1 μmB:0.5 μmC:0.2 μmD:0.1 μm正确答案: 0.2 μm8、下列说法错误的是()A:可见光波长为450~750 nm,比可见光波长短的光源有紫外线、X射线和γ射线B:可供照明的紫外线波长为200~250 nm,可以作为显微镜的照明源C:X射线波长为0.05~10 nm,可以作为显微镜的照明源D:X射线不能直接被聚焦,不可以作为显微镜的照明源正确答案: X射线波长为0.05~10 nm,可以作为显微镜的照明源9、 1924年,()提出运动的电子、质子、中子等实物粒子都具有波动性质A:布施B:狄拉克C:薛定谔D:德布罗意正确答案:德布罗意10、电子束入射到样品表面后,会产生下列哪些信号()A:二次电子B:背散射电子C:特征X射线D:俄歇电子正确答案:二次电子,背散射电子,特征X射线,俄歇电子第二章1、第一台光学显微镜是由哪位科学家发明的()A:胡克B:詹森父子C:伽利略D:惠更斯正确答案:詹森父子2、德国科学家恩斯特·阿贝有哪些贡献()A:阐明了光学显微镜的成像原理B:解释了数值孔径等问题C:阐明了放大理论D:发明了油浸物镜正确答案:阐明了光学显微镜的成像原理,解释了数值孔径等问题,阐明了放大理论,发明了油浸物镜3、光学显微镜包括()A:目镜B:物镜C:反光镜D:聚光镜正确答案:目镜,物镜,反光镜,聚光镜4、下列关于光波的衍射,错误的描述是()A:光是电磁波,具有波动性质B:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将沿直线传播C:障碍物线度越小,衍射现象越明显D:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将偏离直线传播正确答案:遇到尺寸与光波波长相比或更小的障碍物时,光线将沿直线传播5、下列说法正确的是()A:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释B:由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑C:两个埃利斑靠得越近,越容易被分辨D:埃利斑半径与光源波长成反比,与透镜数值孔径成正比正确答案:衍射现象可以用子波相干叠加的原理解释,由于衍射效应,样品上每个物点通过透镜成像后会形成一个埃利斑6、在狭缝衍射实验中,下列说法错误的是()A:狭缝中间每一点可以看成一个点光源,发射子波B:子波之间相互干涉,在屏幕上形成衍射花样C:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长,形成中央亮斑D:在第一级衍射极大值处,狭缝上下边缘发出的光波波程差为1波长正确答案:整个狭缝内发出的光波在中间点的波程差半波长,形成中央亮斑7、下列关于阿贝成像原理的描述,正确的是()A:不同物点的同级衍射波在后焦面的干涉,形成衍射谱B:同一物点的各级衍射波在像面的干涉,形成物像C:物像由透射光和衍射光互相干涉而形成D:参与成像的衍射斑点越多,物像与物体的相似性越好。

Phoenix纳米焦点工业CT——nanotom S

Phoenix纳米焦点工业CT——nanotom S

Phoenix nanotom S——适用于适用于材料科学、精密注塑成型、微观力学、电气、地质/生物学等应用领域菲尼克斯nanotom®是第一款180kV/15W纳米焦点CT系统,广泛适用于材料科学、精密注塑成型、微观力学、电子地质学和生物学等应用领域。

由于系统配备了180kV/15W超高性能纳米焦点X射线管、精密机械系统和先进的软件模块,使得nanotom®成为广泛3D CT应用领域中杰出的检测解决方案。

一经扫描,全3D的CT信息为各种分析提供了可能。

例如,非破坏性可视化切片、任意截面的观察、自动空洞分析。

当整个几何物体扫描后,就能实现对复杂物体的精确3D测量甚至能够在一小时内自动生成一份检测报告。

主要特征●首台180kV/15W纳米CT系统,低维护、长寿命、开管设计●配备空气轴承的高精度转台,为可靠的CT图像提供保证●花岗岩基座,能够提供长期的稳定性和高精确度●在相同的图像质量下,采用钻石靶(选配)数据采集速率提高一倍客户优势●四种应用操作模式,从亚微米模式到高能模式●能够一小时内自动生成检测报告●出色的软件模块及保障了CT的高质量,也使得CT操作变得简单易学●“点-测”技术实现高精度、重复性的3D测量。

CT系统配置的datos|x 2.0软件,能够实现全自动的CT扫描、重建和过程分析●采用velo|CT后,快速3D CT重建结果能在几分钟甚至几秒钟内完成(取决于体积大小)●紧凑的系统更适合于小型实验室应用3D计算机层析技术(CT)X射线3D CT在工业中的传统应用范围无非是对金属和塑料铸件进行检测和三维测量。

然而,菲尼克斯的高分辨率X射线技术却在传感技术、电子、材料科学及其他自然科学中开辟了全新的应用领域。

nanoCT 采用了尺寸为0805(2.0mm X 1.2mm)的贴片电感。

3D图像能够清楚显示封口底部里面的线圈。

在任何传统的X片中,层与层之间是相互重叠的,但是nanoCT®却能将物体一层一层地展示出来。

高精度运动控制系统的关键技术及综合运用ppt课件

高精度运动控制系统的关键技术及综合运用ppt课件
公司自主研制的0.1微米级精密运动平台及集成 控制系统是微电子制造和测试设备的核心部件,也 是生物医疗设备和精密制造业发展的关键部件,这 些产品在以上领域的应用可以极大提高我国的制造 水平,缩小和先进国家的差距。
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公司简介(二)
此外公司还与秦皇岛海纳科技公司 合作研发了国内首款可驱动直线电机和 旋转电机的通用型伺服驱动器。该驱动 器具有高阶轨迹生成、支持用户编程等 高端功能,产品性能已达到国际先进水 平,可广泛用于高精密运动控制系统的 驱动和控制。
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总结
❖ 运动控制技术是多学科复合技术:机械与电子、硬件和软件、算法 和分析
❖ 运动控制应用范围广:开环控制或闭环控制、半闭环或全闭环控制 ❖ 采用闭环控制首要考虑的是系统稳定性 ❖ 运动控制的性能不仅要考核时域响应,还要考核频域特性 ❖ 运动控制系统由控制平台、功率放大器/驱动器、执行机构/电机/
安装误差的影响
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实例:编码器安装对信号质量及精度的影响(续) 信号质量对误差影响
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运动控制系统的保护
软件级 •计算错误保护 •位置误差保护 •饱和保护 •震荡保护 •RMS功率保护 •电源故障保护 •急停保护
机械级 •机械限位装置 •机械刹车/卡紧装置 •机械防撞装置 •… …
硬件级 •限位传感器保护 •看门狗保护 •电源故障保护 •过功率保护 •驱动器短路保护 •驱动器过压/欠压保护 •驱动器过温保护 •驱动器RMS电流保护 •… …
➢ 光栅尺的精度
➢ 线距,或信号周期(每毫米线数,或每圈线)
➢ 光栅尺的热敏系数
➢ 差值技术
➢ 信号质量
➢ 频率响应与最高速度
旋转编码器最大速度 = [工作频率 (Hz) / (每转线数) ]*60 [RPM]

娜子同步辐射应用专题答案

娜子同步辐射应用专题答案

简答60分(任选4题)1.组合材料学通过在一块基片上合成大量密集排列的微量材料样品阵列,并快速表征每个微量样品的特性,筛选/优化新材料.在此工作中同步辐射可以发挥很大的作用,现已发展哪些手段,并用于哪些材料性质的表征?(高琛,组合化学)答:并行合成:Mix&Split,液滴喷射、阵列燃料、四元方案、成分梯度,GAAG 高通量表征:照相术,扫描光谱仪、FTIR光谱成像,阵列微四探针、SEMM(介电、压电、磁电)、X射线分析,μSIMS,合成表征一体化组合材料学的应用:荧光材料、磁电材料、光催化材料,无铅压电。

(或超导、磁阻、发光、铁电、电光、催化、半导体、沸石、金属合金、……)OR高通量表征技术,用于发光材料,磁电材料,以及电催化材料的表征2.同步辐射紫外单光子电离与传统的电子轰击电离相比有哪些优势?(潘洋,质谱)同步辐射单光子电离与传统的电子轰击电离相比,有以下优势:1)PIMS在VUV波段能量连续可调,可以避免碎片离子的产生,分辨能力强;2)裂解碎片大量减少,使质谱图更加“干净”;3)它的能量分辨比电子轰击电离高,通过扫描光子能量,可以区分同分异构体;4)一些稳定且电离能高的化合物如O2,H2O,CO,and CO 更容易被电离;3.与投射电镜相比,软x射线显微术主要有哪些优势?(蒋诗平,软X射线显微)软X射线显微术,主要应用于生物、材料等样品的显微研究。

尽管目前软X射线显微术的分辨率还达不到电子显微镜那么高,但与电子显微镜相比,在生物样品的研究上,它具有无可比拟的优越性。

1)软X射线显微术比电子显微镜的穿透深度深。

软X射线可穿透几个微米厚的生物样品,它是典型的完整细胞的线度。

而一般使用的透射电镜的穿透深度远小于1微米。

因生物样品对X射线的吸收截面远大于对电子的散射截面,因此可处理比电镜厚得多的样品(10μm)(微米量级,约为完整的细胞线度)2)软X射线显微术与电子显微术相比,不仅可研究完整的活细胞或含水生物样品,而且可选择使用合适的软X射线波长而增加成像的衬度。

高精度电子束光刻技术在微纳加工中的应用

高精度电子束光刻技术在微纳加工中的应用

高精度电子束光刻技术在微纳加工中的应用一、本文概述随着纳米科技的迅速发展和微纳加工需求的日益增长,高精度电子束光刻技术已逐渐崭露头角,成为现代微纳制造领域的关键技术之一。

本文旨在深入探讨高精度电子束光刻技术在微纳加工中的应用,分析其基本原理、技术特点以及在实际应用中的优势和挑战。

我们将从高精度电子束光刻技术的理论基础出发,介绍其设备构成、操作原理以及关键技术参数,进而探讨其在微纳加工中的多种应用场景,包括微电子器件制造、纳米材料制备、生物医学器件以及光子晶体等领域的应用案例。

本文还将讨论高精度电子束光刻技术的未来发展趋势,展望其在未来微纳加工领域中的潜力和影响。

通过对高精度电子束光刻技术的全面分析,我们期望能为相关领域的科研人员和技术人员提供有价值的参考,推动高精度电子束光刻技术在微纳加工领域的进一步发展和应用。

二、高精度电子束光刻技术的基本原理高精度电子束光刻技术是一种先进的微纳加工技术,其基本原理是利用电子束在物质表面上的直接写入能力,实现对微纳尺度图形的精确刻蚀。

与传统的光学光刻技术相比,电子束光刻具有更高的分辨率和更低的制造成本,因此在微纳加工领域具有广泛的应用前景。

高精度电子束光刻技术的基本原理可以分为以下几个步骤:通过电子枪发射出高能电子束,这些电子束经过聚焦和偏转后,可以在待加工材料表面形成微米甚至纳米级的精细图形。

当高能电子束与材料表面相互作用时,会产生一系列物理和化学效应,如电子束诱导沉积、电子束刻蚀等,从而实现对材料表面的精确加工。

通过精确控制电子束的扫描路径和剂量,可以在材料表面制造出复杂的三维微纳结构。

高精度电子束光刻技术的优点在于其高分辨率和高灵活性。

由于电子束的波长比光波短得多,因此可以实现更高的分辨率和更精细的加工效果。

电子束光刻还具有高度的灵活性,可以适应各种复杂的图形和结构设计,为微纳加工提供了更多的可能性。

然而,高精度电子束光刻技术也存在一些挑战和限制。

例如,由于电子束的散射和衍射效应,其加工精度和速度受到一定的限制。

电子探针显微分析-课件

电子探针显微分析-课件

B、若电子束位置不变,改变晶体的位置,使(hkl) 晶面与入射X射线交角为θ2,并相应地改变检测器 的位置,就可以检测到波长为:
λ2= 2d sinθ2 的X射线。如此连续地操作,即可进行该定点的元 素全分析。若将发生某一元素特征X射线的入射角 θ固定,对样品进行微区扫描,即可得到某一元素 的线分布或面分布图像。
波谱仪有旋转式波谱仪和直进式波谱仪。 1)旋转式波谱仪
旋转式波谱仪虽然结构简单,但有三个缺点: a)其出射角φ是变化的,若φ2 <φ1,则出射
角为φ2的X射线穿透路程比较长,其强度就 低,计算时须增加修正系数,比较麻烦; b) X射线出射线出射窗口要设计得很大; c)出射角φ越小,X射线接受效率越低。
电子探针是目前微区元素定量分析最准 确的仪器。电子探针的检测极限(能检测到 的元素最低浓度)一般为(0.01-0.05)%, 不同测量条件和不同元素有不同的检测极限, 主元素定量分析的相对误差为(1—3)%,对 原子序数大于11的元素,含量在10% 以上 的时,其相对误差通常小于2%。
4. 不损坏试样、分析速度快
WDS 4Be-92U 慢 高(≈5eV) 10-2 (%)
定量分析准确度

X射线收集效率

峰背比(WDS/EDS) 10
EDS 4Be-92U 快 低(130 eV) 10-1 (%)
低 高 1
五、电子探针仪的实验方法
1、电子探针仪的操作特点 总的来说,除了与检测X射线信号有关的部件以
外,电子探针仪的总体结构与扫描电镜十分相似。 但两者的侧重点不同,因此这两种仪器对电子束的 入射角和电流强度的要求不同。
现在电子探针均与计算机联机,可以连续自 动进行多种方法分析,并自动进行数据处理和数 据分析。

超硬材料国家重点实验室仪器设备

超硬材料国家重点实验室仪器设备

超硬材料国家重点实验室是依托吉林大学原子与分子物理研究所建立的,是国际上最早达到百万大气压的五个实验室之一,在静水压的定标等超高压技术、高温高压下金刚石的合成机理、高压下物质结构相变等研究领域处于国际前沿,受到国际同行的关注。

实验室自建成以来在国家和学校的资助下购入了美国光谱物理公司的激光喇曼光谱仪(含氩离子激光器);显微共聚焦高压拉曼光谱仪;高压红外真空光谱仪;日本理学的x光衍射仪;法国JOBIN-YVON公司的多功能光谱仪;日本日立公司的透射电子显微镜等大型仪器并自行设计了HC-PCVD热阴极直流等离子体化学气相沉积系统,所以仪器目前运转良好,为全室师生及外院校科研人员创造了良好的实验条件。

高压布里渊散射实验系统显微共聚焦高压拉曼光谱仪简介高压布里渊散射的测量方法入射光进入样品后,由于与样品中声学声子的相互作用,使得入射光发生频率的位移,此种现象即布里渊散射。

进行高压布里渊散射的测量,可以获得高压下物质的声速,从而求得压力与样品的弹性模量等的关系。

简介Renishaw inVia 显微拉曼光谱仪是能实现高分辨率的共焦测量的高灵敏度系统。

光谱仪支持多激光,与之配套使用的有四台从近红外到紫外的激光器,激发波长分别为830nm ,633nm ,514nm ,325nm. 可以根据布不同的材料和测试要求,分别选择不同的光路。

可以进行高压拉曼散射光谱、光致发光光谱等研究。

高压真空红外光谱仪日立H-8100Ⅳ透射电子显微镜简介高压真空红外光谱仪使用了布鲁克光谱公司生产的VERTEX 80v真空傅立叶变换红外光谱仪,并在其基础之上,自主改简介日立H-8100Ⅳ透射电子显微镜是一种分辨率很高的分析型显微镜。

可对各种无机、生物、金属、纳米粒子进行形态结进了测试平台,使之可以进行高压方面的研究。

该光谱仪可以同时可以配置多个检测器和多个光源并可自动选择,其提供的光谱范围可从远红外(太赫)一直到紫外区域。

构及其样品的选区电子衍射的研究,,晶格分辨率和点分辨率是0.144nm和0.205nm,最小束斑1nm,原位样品加热-120℃-1000℃,扫描透射功能的分辨率为1.5nm,可满足不同材料的测试需求,H-8100Ⅳ的CCD功能,可直接对图象进行采集和处理,附件有扫描电子显微镜(日本日立H-8110,分辨率2nm)和电子散射X光能谱(philips,DX-4)。

基于X射线微米CT扫描技术的煤岩孔裂隙多尺度精细表征——以沁水盆地南部马必东区块为例

基于X射线微米CT扫描技术的煤岩孔裂隙多尺度精细表征——以沁水盆地南部马必东区块为例

基于X射线微米CT扫描技术的煤岩孔裂隙多尺度精细表征——以沁水盆地南部马必东区块为例陈彦君;苏雪峰;王钧剑;宋洋;汪明丰;郎云峰【摘要】深入探究煤层气赋存和运移机理,不仅需要分析煤岩孔裂隙结构的空间分布特征,还需对其进行定量表征.为此,以沁水盆地南部马必东区块3#煤层为研究对象,应用X射线微米CT扫描技术,先构建低精度CT扫描煤岩母样三维数字化模型,再通过高精度CT扫描构建煤岩子样三维数字化模型.在此基础上,利用Avizo图像处理软件,重构煤岩孔裂隙系统,实现煤岩孔裂隙的多尺度定量表征.研究结果表明,沁水盆地南部马必东区块3#煤层发育多尺度孔裂隙结构.煤岩孔裂隙宏观上以C型为主,微观上以E型为主.煤岩发育成孤立片状分布的宏观孔裂隙及连通性较差的孔裂隙.据子样和母样矿物含量的相关性可知,较大规模的孔裂隙多被矿物充填,限制了煤层气的渗流和产出.【期刊名称】《油气地质与采收率》【年(卷),期】2019(026)005【总页数】7页(P66-72)【关键词】煤岩;多尺度孔裂隙;X射线微米CT扫描技术;孔裂隙分布特征;沁水盆地【作者】陈彦君;苏雪峰;王钧剑;宋洋;汪明丰;郎云峰【作者单位】中国石油集团公司煤层气开采先导试验基地,河北任丘062552;中国石油华北油田分公司,河北任丘062552;中国石油集团公司煤层气开采先导试验基地,河北任丘062552;中国石油华北油田分公司,河北任丘062552;中国地质大学(北京)能源学院,北京100083;中国石油集团公司煤层气开采先导试验基地,河北任丘062552;中国石油华北油田分公司,河北任丘062552;中国地质大学(北京)能源学院,北京100083;中国石油集团公司煤层气开采先导试验基地,河北任丘062552;中国石油华北油田分公司,河北任丘062552【正文语种】中文【中图分类】TE112.23煤层气是赋存在煤层的烃类气体,是优质清洁能源。

中国煤层气资源潜力巨大,加快煤层气有效动用,有助于保障煤矿安全生产、增加清洁能源供应、减少温室气体排放[1]。

纳米粒子粒径评估方法

纳米粒子粒径评估方法
纳米微粒分析技术
STM、SEM、SPM显微镜
形貌
X射线衍射法 IR、UV、拉曼光谱 法
核磁共振法
物相、构 造
纳米材料
化学成份
常规化学分析法(特征元素旳 解-滴定) 原子光谱分析法(吸收光谱、 射光谱) 质谱法 X射线特征分析法(X射线荧 光谱法、电子探针分析法) 光电子能谱法
性能
力学分析仪(显微硬度仪,力学万能试验 机等) 热综合分析仪,磁强分析仪,光谱仪等 多种性能测试仪
电镜照片 仪器照片
透射电镜旳构造
• 透射电镜旳外观照片。
• 一般透射电镜由电子光学 系统、电源系统、真空系 统、循环冷却系统和控制 系统构成,其中电子光学 系统是电镜旳主要构成部 分。
高辨别透射电子显微镜
• 透射电子显微镜发展旳另一种体现是辨别率旳不断提升。 目前200KV透射电子显微镜旳辨别率好于0.2nm,1000KV透 射电子显微镜旳辨别率到达0.1nm。
(a)恒高度模式;
(b)恒电流模式
S 为针尖与样品间距,I、Vb 为隧道电流和偏置电压,
Vz为控制针尖在 z 方向高度旳反馈电压。
6.2 原子力显微镜旳基本原理
• 原子力显微镜旳基本原理是:将一种对薄弱力极敏感 旳微悬臂一端固定,另一端有一微小旳针尖,针尖与样品 表面轻轻接触,因为针尖尖端原子与样品表面原子间存在 极薄弱旳排斥力,经过在扫描时控制这种力旳恒定,带有 针尖旳微悬臂将相应于针尖与样品表面原子间作用力旳等 位面而在垂直于样品旳表面方向起伏运动。
反馈控制是本系统旳关键工作 机制。
量子森林 • 该图是由托斯藤-兹欧姆巴在德国试验室中捕获旳图像,它展示了锗
硅量子点——仅高15纳米,直径为70纳米。
• 经过使用千万亿分之一秒旳激光脉冲撞击蓝宝石表面,蓝宝石被加热 了,表面留下了一道浅细旳陷坑之后,这块蓝宝石再次被撞击加热, 就产生了图中可见旳内部梯级构造

各种材料测试仪器

各种材料测试仪器

1、X射线衍射仪主要用途:材料结构相关的多方面分析:金属、陶瓷、矿物及人工合成的无机晶体;有机晶体;非晶态;聚合物、各种复合材料等。

研究和分析内容:物相鉴定,相变,非晶态晶化过程,聚合物、聚集态结构,多晶择优取向,结晶度,晶格常数,一定范围的长周期测定,单晶定向,外延膜晶格匹配等等。

2、金相显微镜用于研究金属的显微组织,作金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用,能在明场、暗场和偏光下进行观察、投影和摄影3、高分辨透射电子显微镜主要用于材料内部的显微结构分析和微区成分的定量分析,主要应用如下:物相鉴定,采用电子衍射花样和电子显微图像相结合的方法,对未知物相进行研究判定。

材料显微结构的表征,如材料的形貌、尺度、晶界、相界、孪晶、层错、位错、取向关系等等,在一定条件下,可获得材料相变过程及显微结构变化的信息。

高分辨晶格点阵像和原子结构像的获得,可揭示材料在原子分辨尺度上的显微结构细节,对物相鉴定,结构表征更有助益。

利用X射线能谱对材料的微小区域进行定量分析,把材料的结构研究和成分分析结合起来,有益于对材料的全面了解。

4、场发射扫描电子显微镜主要用于观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织,并对材料表面微区成分进行定性和定量分析,主要用途如下:无机或有机固体材料断口、表面形貌、变形层等的观察和机理研究金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定观察陶瓷、混凝土、生物、高分子、矿物、纤维等无机或有机固体材料表面形貌。

微型加工的表征和分析集成电路图形及断面尺寸,PN结位置,结区缺陷。

金属镀层厚度及各种固体材料膜层厚度的测定。

研究晶体的生长过程、相变、缺陷、无机或有机固体材料的粒度观察和分析进行材料表面微区成分的定性和定量分析,在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

5、电子探针显微分析仪材料表面微区(微米级、亚微米级)化学组成的高速定性或定量分析;材料表面或截面(包括纳米薄膜)的点扫描、线扫描(涂层或梯度结构中成分分布信息)、面扫描(成分面分布图像)分析;材料表面形貌观察(二次电子像、背散射电子像、断口表面分析);材料或生物组织的扫描透射电子像(STEM)观察;工业产品质量评价和失效分析。

电子探针的综述

电子探针的综述

电子探针的发展及应用1 电子探针的发展1949年法国Castaing与Guinier将一架静电型电子显微镜改造成为电子探针仪。

1951年Castaing的博士论文奠定了电子探针分析技术的仪器、原理、实验和定量计算的基础,其中较完整地介绍了原子序数、吸收、荧光修正测量结果的方法,被人们誉为EPMA显微分析这一学科的经典著作。

1956年,在英国剑桥大学卡文迪许实验室设计和制造了第一台扫描电子探针。

1958年法国CAMECA 公司提供第一台电子探针商品仪器,取名为MS-85。

现在世界上生产电子探针的厂家主要有三家,即日本岛津公司SHIMADZU、日本电子公司JEOL和法国的CAMECA公司。

随着科学技术的发展,电子探针显微分析技术进入了一个新的阶段,电子探针向高自动化、高灵敏度、高精确度、高稳定性发展。

现在的电子探针为波谱WDS和能谱EDS组合仪,用一台计算机同时控制WDS和EDS,结构简单、操作方便。

2 电子探针的原理电子探针的全称为电子探针X射线显微分析(Electron Probe Microanalysis,简称EPMA),是电子光学和X射线光谱的结合产物。

它用一束聚焦得很细(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的电子束,轰击用光学显微镜选定的待分析试样上某个“点”(一般直径为1-50um),利用试样受到轰击时发射的X射线的波长及强度,来确定分析区域中的化学组成。

EPMA是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析,它特别适用于分析试样中微小区域的化学成分,因而是研究材料组织结构和元素分布状态的极为有用的分析方法[1]。

2. 1 主要结构电子探针主要结构有:电子束照射系统( 电子光学系统),样品台,X射线分光(色散)器,真空系统,计算机系统(仪器控制与数据处理),如图1所示。

2. 2 电子光学系统与观察产生电子束照射样品的部分称为照射系统或电子光学系统(EOS),保持在约10- 3~ 10- 4Pa的真空系统中。

X射线荧光成像

X射线荧光成像

上海光源X射线成像讲习班2013年10月23-25日上海X 射线荧光成像邓彪上海光源国家科学中心先进成像实验室目录X射线荧光光谱基本原理X射线荧光成像X射线荧光mappingX射线荧光CT上海光源成像线站X射线荧光成像系统上海光源成像线站X实验装置重建算法实验操作X射线荧光的产生当试样受到x射线、高能粒子束、紫外光等照射时,由于高能粒子或光子与试样原子碰撞,将原子内层电子逐出形成空穴,使原子处于激发态,这种激发态离子寿命很短,当外层电子向内层空穴跃迁时,多余的能量即以x射线的形式放出,并在外层产生新的空穴和产生新的x射线发射,这样便产生一系列的特征x射线。

莫斯莱定律 1913年,英国物理学家莫斯莱(Moseley)就详细研究了不同元素的特征X 射线谱,依据实验结果确立了原子序数Z 与X 射线波长之间的关系射线波长之间的关系。

这就是莫斯莱定律:不同的元素具有不同的特征X 射线,根据特征谱线的波长波长,,可以判断元素的存在可以判断元素的存在,,即定性分析分析。

根据谱线的强度,可以进行定量分析分析。

特征X 射线线系并不是对应于所有能级组合的谱线都能出现的谱线都能出现,,而是必须遵守电子跃迁的选择定则进行跃迁,才能辐射出特征X 射线射线。

∆n=1的跃迁产生的线系命名为α线系线系,,∆n=2的跃迁产生的线系命名为β线系线系,,依次类推依次类推。

各系谱线产额依K ,L ,M 系顺序递减系顺序递减,,因此原子序数<55的元素通常选K 系谱线做为分析线系谱线做为分析线,,原子序数>55的元素元素,,选L 系谱线做为分析线系谱线做为分析线。

X 射线荧光光谱分析的基本原理试样受X 射线照射后射线照射后,,其中各元素原子的内壳层其中各元素原子的内壳层((K ,L 或M 层)电子被激发逐出原子而引起电子跃迁电子被激发逐出原子而引起电子跃迁,,并发射出该元素的特征X 射线荧光射线荧光。

每一种元素都有其特定波长的特征X 射线射线。

基于DSP控制的高精度机械定位系统

基于DSP控制的高精度机械定位系统

1 系统 总体 设 计
n u e v t ra d d l e, i h p e ii n L r l n u d n el e tc mbn d e e n , O i c n a he e t e r aie p n o n f o s s r o mo o n i v h g r cso M o l g g ie i tl g n o i e l me t S t a c iv h e l i p i t i i i z o
摘 要 : 绍 了一 种 应 用 于 同步 位 置检 测 的 高精 度 机 械 定 位 系统 。 系统 基 于转 子 磁 场 定 向 控 制 理 论 和 误 差 补 偿 算 法 , 介 采 用 D P控 制 永 磁 同步 伺 服 电动 机 , 动 高精 度 l 滚 动 导 轨 智 能 组 合 单 元 , 现 对 工 作 台的 精 确 定 位 。在 转 子 磁 场 定 S 驱 M 实 向 控 制 理 论 和 误 差 补 偿 算 法 基 础 上 , 出 了 系统 的 组 成 及 软 硬 件 设 计 方 案 。 采 用 C + +\ 给 C语 言 对 上 下位 机 编 程 , 实现 了 系统 运 动 的 快 速 性 和精 确性 。 实验 结 果 表 明 , 系统 达 到 微 米 级 的 定位 精 度 并 具 有 良好 的 操 作 性 能 。 该
2 2住 01

表 技 术 与 传 感 器
2 2 01 No 7 .
第 7期
I sr m e t Te hn q e a d S n o n tu n c iu n e s r
ห้องสมุดไป่ตู้
基 于 DS P控 制 的高精 度 机 械 定位 系统
赵 鹏 , 爱 国, 东林 王 杨

newton scientific,inc x光射线源说明书

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newton scientific,inc x光射线源说明书全文共四篇示例,供读者参考第一篇示例:我们的X射线源产品包括各种不同功率和波长的型号,可满足不同客户的需求。

我们的X射线源广泛应用于医学领域,用于X射线摄影、CT扫描、放射治疗等医疗设备中。

在材料分析领域,我们的X射线源被广泛应用于X射线衍射、X射线荧光光谱分析等实验中,帮助科研人员更好地了解材料的结构和成分。

在工业领域,我们的X射线源则用于产品质量检测、安全检查等工业应用中。

我们的X射线源具有以下优势:1. 高能量:我们的X射线源能够产生高能量的X射线,具有穿透力强、分辨率高的特点,可以应对各种复杂的检测需求。

2. 高分辨率:我们的X射线源具有高分辨率的特点,能够清晰地显示被检测物体的细节,帮助用户准确分析和诊断。

3. 稳定性好:我们的X射线源采用先进的稳定性控制技术,能够稳定输出X射线,保证检测结果的准确性和可靠性。

4. 使用方便:我们的X射线源操作简便,能够快速启动和停止,适用于各种实验和检测场合。

5. 服务完善:我们提供完善的售后服务,包括安装调试、培训、维护保养等服务,确保客户能够充分利用我们的X射线源。

Newton Scientific, Inc.的使命是成为全球领先的X射线技术供应商,为客户提供最优质的X射线源产品和服务。

我们将不断努力创新,提高技术水平,为客户创造更多价值。

期待与更多客户合作,共同发展,共创美好未来!第二篇示例:Newton Scientific, Inc.是一家专业的科研设备制造公司,致力于为科学家和研究人员提供优质的实验仪器。

作为公司的核心产品之一,我们自豪地推出了最新款的X射线源,以满足实验室和研究机构对高质量X射线的需求。

我们的X射线源具有以下几个主要特点:1. 高能量输出:我们的X射线源能够产生高能量的X射线,能够满足不同实验的需求。

用户可以根据自己的实验要求调节X射线的能量,以获取更准确的实验结果。

2021年山东省省级政府采购进口产品目录

2021年山东省省级政府采购进口产品目录
音频信号放大器
硬盘XX
A10
消防设备
消防头盔
消防手套
消防员灭火防护靴
正压式消防空气呼吸器
抢险XX头盔
抢险XX手套
抢险XX靴
二级化学防护服
一级化学防护服
特级化学防护服
核沾染防护服
防爆服
电绝缘装具
防高温手套
防化手套
正压式消防氧气呼吸器
强制送风呼吸器
潜水装具
消防员呼救器后场接收装置
无线XX传输系统
无线通信装置
XX:
2021年XX省省级XX采购进口产品XX
品目编码
品目名称
进口产品设备名称
备注
A02
计算机设备及软件
负载均衡设备
小型机
光盘库
存储区域网络设备SAN
网络附属存储设备NAS
直接附属存储设备DAS
移动存储设备
磁带机
磁带库
磁盘库
磁盘阵列
不间断电源(UPS)
专用光盘机
A03
办公设备
打印机
速印机
扫描仪
微单相机
机动链锯
无齿锯
气动切割刀
重型支撑套具
冲击钻
凿岩机
玻璃破碎器
手持式钢筋速断器
多功能刀具
混凝土液压破拆工具组
便携式汽油金属切割器
手动破拆工具组
便携式防盗门破拆工具组
毁锁器
内封式堵漏袋
外封式堵漏袋
XX式堵漏袋
金属堵漏套管
堵漏XX
阀门堵漏套具
注入式堵漏工具
强磁堵漏工具
粘贴式堵漏工具
电磁式堵漏工具
气动吸盘式堵漏器
二氧化硫分析仪
氮氧化物分析仪

Model370扫描电化学工作站

Model370扫描电化学工作站

2扫描系统规格说明M370仪器配置既包括了所有电化学扫描探测所需要的测定技术,更增加了基于激光技术的非触式表面形貌测定技术。

M370微区扫描电化学工作站,是一款建立在电化学扫描探针设计基础上,进行超高分辨率及空间分辨的非触式微区扫描电化学显微系统(SECM)扫描振动电极测试系统(SVET)扫描开尔文探针测试系统(SKP)微区电化学阻抗测试系统(LEIS)电解液微滴扫描系统(SDS)非触式微区形貌测试系统(OSP)M370采用了纳米分辨率,快速精确的闭环X,Y,Z定位系统,以及灵活快捷的数据采集系统,用户可根据实际需要选取合适配置,应用于各类型的实验操作。

M370设计理念灵活,且人体工程设计,方便确保池体,样品以及探针的进入。

TriCell),利用采集形貌数据,高采集面扫实验(SKP形貌,OSP或恒电流SECM命令)对于非标准实验,采用可编程宏语言控制简便易用,用户配置可视模板16,777,216色板可用,轻松编辑颜色060μm060μm 4以及恒流面扫,同时也包括了其他所有标准电化学技术测定方法。

独一无二的宏程序是M370软件的一大特色,用户可完全控制扫描阶段,将恒电位仪应用于更复杂的实验当中。

举例包括:开环电位测定,恒电流区扫描,自调整曲线斜面扫描。

图1图2图3图1中,尖端生成与基板收集模式下区域SECM显微成像图2中SECM成像的等轴3D投影,峰值电流差6n A左右-20-29-37-46-55-63-72-81-89-98-1070 -13 -26 -39 -52 -65 -78 -91 -104 -117 -130micrometers vs Ampsmicrometers-2-1-5-8-11-14-18-21-24-27-300 -25 -50 -75 -100 -125 -150 -175 -200 -225 -250micrometers vs Ampsmicrometers0 2.75millimeters 0millimeters 3.6应用SECM370系统包括一台高精度双恒电位系统,可对微电极探针境池TriCell联用。

”第二批国家自然科学基金重大项目申请指南

”第二批国家自然科学基金重大项目申请指南

“十五”第二批国家自然科学基金重大项目申请指南一、核技术在分子水平上研究典型环境污染物的毒理环境问题已成为全球共同关注的一个热点,亦是我国经济和社会可持续发展面临的主要问题之一。

其中的一个关键问题则是"对环境污染物的科学的危险性评价,即在种群、个体、器官、细胞乃至分子水平上对环境污染物的科学评价"。

这种评价的基础是环境毒理学,尤其是分子水平上的环境毒理学研究。

核技术由于其高灵敏度、高准确度、高分辨率、多元素分析能力等特点,更由于核技术可区分生物体中的内源性物质和外源性物质,因此在环境污染物的吸收、分布、代谢和排泄的研究,尤其是分子毒理机制研究中常可起到独特的作用。

此外,这类毒理学研究需要多种先进核技术的联合应用。

在研究环境污染物的过程中,进一步发展有关的核技术。

本项目拟重点研究环境毒理学领域中一些具有重要科学意义和社会效益,但尚未解决的典型问题:如汞与脑组织中生长抑制因子结合及其与神经系统中毒的关系,稀土是否进入脑组织及其与认知功能的关系,低剂量的有机化合物甲基叔丁基醚(MTBE)(无铅汽油的含氧添加剂)等的基因毒性,大气中可吸入颗粒物的重金属和有机卤族污染物的毒性,以及碳纳米材料在生物体中的分布和分子毒理等。

这些科学问题都具有典型性,既属国际前沿,有创新性和前瞻性,又符合我国国情。

研究目标:用先进核技术在分子水平上重点研究我国典型的环境污染物(重金属、大气细颗粒物、有机物等)的毒理作用机制和科学的、定量的危险性评价,以及新型碳纳米材料的毒理。

瞄准当前国际环境科学发展动向,结合我国解决实际环境问题的重要需求,为我国有关的环境治理和决策提供科学依据。

主要研究方向:1.金属的毒理研究。

用分子-中子活化分析等核技术研究汞与生长抑制因子(MT-III)的结合和稀土是否进入脑组织及其作用于中枢神经系统的机理。

2.可吸入大气颗粒物的细胞毒理研究。

用扫描质子微探针等核技术研究PM10和中重金属和有机卤族污染物对肺和呼吸道以及细胞的毒理。

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1 实验部分
样品定位系统简图由离线样品显微镜系统 、在线样品实 验系统和高精度定位样品架三部分组成 (图 2) 。 通过定位样 品架的高精度转换 ,将离线显微镜和在线实验平台相结合 。
收稿日期 :2013‐04‐16 ,修订日期 :2013‐07‐21
基金项目 :国家(973)项目 (2010CB934501 )资助 作者简介 :张继超 ,1986 年生 ,中国科学院上海应用物理研究所博士研究生 e‐mail :zjchao @ sinap畅 ac畅 cn
离线显微镜 Ludl 电动平台间的准确 、平行移动 。纳米台为正
在升级改造的硬 X 射线亚微米聚焦平台 ,尚未对用户开放 。
定位样品架主要采用铝合金材料制作 。 其中 ,样品框为
聚四氟乙烯材料 ,设计 7 种不同规格 ,以适应不同大小的样
品。
1畅 3 坐标转换程序
坐标转换程序 ,实现样品在离线显微镜和在线实验平台
第 3 4 卷 ,第 2 期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 2 0 1 4 年 2 月 Spectroscopy and Spectral Analysis
Vol畅 34 ,No畅 2 ,pp557‐561 February ,2014
在 BL15U1 进行微束实验时 ,确定样品中微区范围的常 规方法因存在缺陷而不能快速精确定位 。 如图 1 所示 ,X 射 线经 K‐B 镜聚焦 ,照射在样品上 。 样品与入射光呈 45°放置 在七轴样品台上 ,七轴样品台拥有 7 个可调节维度[12] ,其中 x , y ,z 方向精度均为 0畅 1 μm 。观察显微镜和荧光探测器与 入射光分别呈 45°和 90° 。常规方法是通过观察显微镜观测样 品 ,划定扫描范围 ,当样品处于最清晰状态 ,显微镜的焦点 位置定为 X 射线光照射到样品上的位置 。受观察显微镜焦深 限制 ,划定的扫描范围与实际扫描范围经常不一致 ,存在 5 ~ 20 μm 的误差 。 例如 ,生命科学领域用户扫描细胞[13 ,14] 时 ,通过显微镜确定扫描范围为整个细胞 ,扫描结束后发现
区范围的准确坐标 。离线显微镜为奥林巴斯 BX51 研究级正 置显微镜 ,采用奥林巴斯 DP71 高分辨率 CCD 获取样品图 像 。载物台处安装的是美国 Ludl Electronic Products 的 M ac 6000 电动平台 ,运动精度为 0畅 1 μm 。 Ludl 电动平台未配套 相应的控制软件 ,但可以使用串口命令进行控制 ,工作中基 于 VC + + 软件平台 ,编译了 Ludl 电动平台的控制程序 。
关键词 硬 X 射线微探针 ;高精度样品定位 ;坐标转换 中图分类号 :O4‐33 文献标识码 :A DOI :10畅 3964 /j畅 issn畅 1000‐0593(2014)02‐0557‐05
引 言
细胞只完成了一半的扫描 ,必须重新实验 。 因此 ,急需一种 快速准确确定样品中微区扫描区域的定位系统 。
上海光源硬 X 射线微聚焦线站 (BL15U1 )是国内首条基 于第三代同步辐射光源的硬 X 射线微探针光束线 。它利用高 通量 、能量可调 的 单 色 微 束 X 射 线 ,开 展 X 射 线 荧 光 光 谱[1‐3] 、 X 射线吸收精细结构谱[4 ,5] 及 X 射线衍射谱[6‐8] 的研 究 。目前 ,其空间分辨率可以达到 1 μm ,在生命科学 、 环境 科学 、 材料科学及纳米技术等领域均具有广泛的应用[9‐11] 。 科研工作者利用微束 X 射线研究物质微区特征时 ,快速寻找 微区研究对象是实验中最基本而又极其关键的问题 。
Z1 ) ,(X2 ,Z2 ) ,(X3 ,Z3 ) 。将坐标代入式(1)和式(2) ,得到
a1 b1 1 A1 A2
X1 Z1
a2 b2 1 B1 B2 = X2 Z2
(3)
a3 b3 1 C1 C2
X3 Z3
对方程求解 ,得 A1 ,B1 ,A2 ,B2 ,C1 ,C2 的值 ,将值代 入式(1)和式(2) ,得到坐标转换公式 ,根据离线显微镜下任
倡 通讯联系人 e‐mail :yuxiaohan@ sinap畅 ac畅 cn
558
光谱学与光谱分析 第 34 卷
Fig畅 2 Sample positioning system
1畅 1 离线样品显微镜系统 离线样品显微镜系统实现样品的离线观察 ,获取样品微
Fig畅 1 Layout diagram in experimental hutch
本工作设计一种用在 BL15U1 的高精度样品定位系统 , 该系统由离线样品显微镜系统 、在线样品实验系统和高精度 定位样品架三部分组成 ,首次在国内同步辐射装置上快速 、 准确地实现微区样品的定位 。选用金网进行 X 射线荧光成像 实验 ,对比离线高倍显微镜下金网各结点的坐标 ,验证样品 离线定位方法的准确可靠 。
2 结果与讨论
第一步为计算坐标转换公式 ,选取金网中某一区域进行 X 射线荧光成像 ,获得样品点的七轴样品台坐标 (X , Z) ;然 后 ,将样品移至离线显微镜下获得样品点 (a ,b)坐标 。 实验 结果如图 8 所示 ,图 8 (a )和 (c)为显微镜下金网图像 ,图 8 (b)和(d)为其对应的 X 射线荧光成像图 ,选取 3 个样品点 : T1 [(2 334 , - 2 122 ) , (5 793 , - 2 647畅 2 )] , T2 [(2 365 , 822 ) ,(4 824 , - 2 628)] ,T3 [(2 759 ,822) ,(5 155 ,312)] 。
计算六个转换参数 ,再根据转换参数和式(1)和式(2) ,得到
Fig畅 8 Images of gold mesh from offline microscopy (a ,c) and X‐ray fluorescence mapping (b , d) . There are three gold mesh nodes (T1 — T3 ) chosen as sample points
Fig畅 7 Two‐coordinates conversion software
Fig畅 9 Images of gold mesh from offline microscopy (a) and X‐ray fluorescence mapping (b) .There are eight gold mesh nodes (M1 — M8 ) chosen as sample points
硬 X 射线微米探针高精度样品定位系统
张继超 ,梁东旭 ,何 燕 ,李爱国 ,余笑寒 倡
中国科学院上海应用物理研究所 ,上海 201800
摘 要 介绍了上海光源硬 X 射线微聚焦光束线站(BL15U1)的高精度样品定位系统 。该系统由离线样品显 微镜系统 、在线样品实验系统和高精度定位样品架三部分组成 。 通过编译控制程序 、 样品架定位 、 坐标转 换 ,将样品的在线 X 射线荧光成像实验和离线显微镜观察进行有效结合 ,首次在国内同步辐射装置上实现 样品在微米范围内的快速离线定位 。该系统帮助科研工作者在利用微束 X 射线研究物质微区特征时 ,快速 准确地寻找微区研究对象 。利用金网进行 X 射线荧光成像实验 ,对比离线高倍显微镜下金网各结点的坐标 , 对样品定位系统的精度进行验证 。结果表明 ,该样品定位系统在 X 方向的平均误差为 1畅 3 μm , Z 方向的平 均误差为 2畅 5 μm 。该系统不仅简便快速 、准确可靠 ,节约宝贵的实验时间 ,也为同步辐射微聚焦线站开展样 品自动对焦方法提供技术前提 。
560
光谱学与光谱分析 第 34 卷
将 T1 , T2 , T3 点坐标分别输入坐标转换程序 ,如图 7
所示 ,计算六个转换参数 A1 , B1 , A2 , B2 , C1 , C2 ,将转换
任意样品点的定位坐标 。 1畅 4 实验 选取金网进行 X 射线荧光成像 ,对比离线显微镜下金网 各结点的坐标 ,对样品定位系统的精度进行验证 。 将金网剪 成三部分 ,粘贴在样品框上 ,金丝直径约为 4 μm ,金丝交叉 的孔约为 12 μm × 12 μm 。 X 射线能量为 12 keV ,激发金的 L3 边(11畅 918 keV ) ,扫描光斑为 5 μm × 5 μm ,扫描步长为 1 μm × 1 μm ,扫描区域为 100 μm × 100 μm 。
Fig畅 6 Coordinate systems of offline microscope (a) and 7‐axis sample stage in experimental hutch (b)
设已知三个样品点在离线显微镜下的坐标为 ( a1 , b1 ) 、
(a2 ,b2 ) 、 ( a3 , b3 ) ,相 对 应 的 七 轴 样 品 台 上 坐 标 为 ( X1 ,
控制程序的串口通信模块运用 M FC 类库中的 M SComm (M icrosoft Communications Control ,微软通信控件 )控件[15] 进行开发 ,采用事件驱动方式来触发消息响应 ,实现电机位 置信息的采集和控制指令的发送 。 Ludl 电动平台的控制流程 如图 3 所示 。
间的坐标转换 。如图 6 所示 ,离线显微镜上样品点坐标为(a ,
b) ,七轴样品台上样品点坐标为 (X , Z) ,同一样品点从 ( a ,
b)转换为(X ,Z)的转换公式
X = A1 a + B1 b + C1
(1)
Z = A2 a + B2 b + C2
(2)
其中 ,A1 ,B1 ,A2 和 B2 为转换系数 ,C1 和 C2 为常数 。
意样品点的坐标计算相对应的七轴样品台上的坐标 。
为减少实际实验时的计算时间 ,根据式 (1) — 式 (3 )编写
了坐标转换程序 ,如图 7 所示 。根据已知三点坐标 (a1 ,b1 ) ,
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