基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术

基于J750Ex-HD的32位MCU芯片在线测试技术
余永涛;王小强;余俊杰;陈煜海;罗军
【期刊名称】《电子与封装》
【年(卷),期】2022(22)3
【摘要】微控制器(Microcontroller Unit,MCU)芯片以其高性能、多功能、可编程、低功耗等优点被广泛应用于各种信号处理和嵌入式系统。

MCU芯片在线测试是保证产品质量的重要技术手段,如何实现高性能和复杂功能的高效测试是MCU
芯片在线测试的难点。

针对一款32位高性能MCU芯片,基于J750Ex-HD型集成
电路ATE测试系统开展了MCU芯片在线测试技术研究,详细说明了MCU芯片内
部的POR/PDR、GPIO、ADC、Trimming、存储器等功能模块的功能性验证方法。

按照MCU在线测试方法流程,设计制作了MCU芯片测试适配器,开发了基于VBT
编程的芯片测试程序,实现了批量MCU芯片的在线测试。

【总页数】6页(P35-40)
【作者】余永涛;王小强;余俊杰;陈煜海;罗军
【作者单位】工业和信息化部电子第五研究所
【正文语种】中文
【中图分类】TN407
【相关文献】
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