应用于FPGA芯片的边界扫描电路

应用于FPGA芯片的边界扫描电路
马晓骏;童家榕
【期刊名称】《微电子学》
【年(卷),期】2004(34)3
【摘要】针对在FPGA芯片中的应用特点,设计了一种边界扫描电路,应用于自行设计的FPGA新结构之中。

该电路侧重于电路板级测试功能的实现,兼顾芯片功能的测试;同时,加入了器件编程功能。

在电路设计中采用单触发器链寄存器技术,节省芯片面积。

版图设计采用0.6μm标准CMOS工艺,并实际嵌入FPGA芯片中进行流片。

该电路可实现测试、编程功能,并符合IEEE1149.1边界扫描标准的规定,测试结果达到设计要求。

【总页数】5页(P326-329)
【关键词】边界扫描;现场可编程门阵列;可测试性设计;器件编程
【作者】马晓骏;童家榕
【作者单位】复旦大学微电子系专用集成电路国家重点实验室
【正文语种】中文
【中图分类】TN407
【相关文献】
1.基于SerDes系统芯片边界扫描测试设计与电路实现 [J], 代鸣扬;蔡志匡;陈冬明;郭宇锋
2.应用于FPGA的边界扫描设计 [J], 蒋晓
3.FPGA芯片中边界扫描电路的设计实现 [J], 于薇;来金梅;孙承绶;童家榕
4.板载FPGA芯片的边界扫描测试设计 [J], 雷沃妮
5.边界扫描在带DSP芯片数字电路板测试中的应用 [J], 曹子剑;杜舒明
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