实验3 存储器EM 实验
存储器EM实验报告剖析
实 验 报 告课程名称： 计算机组成原理 实验名称： 存储器 EM 实验姓 名：专 业： 计算机科学与技术班 级： 学 号：计算机科学与技术学院实验教学中心2016 年 11月 26日实验项目名称：存储器 EM 实验一、实验目的1、了解存储器芯片内部结构和访问时序。
2、掌握静态和动态存储器扩充方法。
3、熟悉动态存储器刷新方式。
二、实验内容1、PC/MAR 输出地址选择。
2、存储器E M 写实验3、存储器E M 读实验4、存储器打入I R 指令寄存器/uPC 实验5、使用实验仪小键盘输入EM三、实验用设备仪器及材料伟福的计算机组成原理实验仪、计算机四、实验原理及接线EM 原理图存储器 EM 由一片 6116RAM 构成，通过一片74HC245与数据总线相连。
存储器EM的地址可选择由PC或MAR提供。
存储器EM的数据输出直接接到指令总线IBUS，指令总线IBUS的数据还可以来自一片74HC245。
当ICOE为0时，这片74HC245输出中断指令 B8。
五、实验操作步骤实验 1：PC/MAR 输出地址选择实验 2：存储器 EM 写实验将地址 0 写入 MAR将地址 11H 写入 EM[0]将地址 1 写入 MA将地址 22H 写入 EM[1]实验 3：存储器 EM 读实验将地址 0 写入 MAR读 EM[0]将地址 1 写入 MAR读 EM[1]EM[1]被读出: 22H实验 4：存储器打入 IR 指令寄存器/uPC 实验将地址 0 写入 MAR置控制信号为：EM[0]被读出: 11H按 CLOCK 键, 将 EM[0]写入 IR 及 uPC, IR = 11H, uPC=10H 写入 MAR将地址 1读 EM[1],写入 IR 及 uPC按 CLOCK 键, 将 EM[1]写入 IR 及 uPC, IR = 22H, uPC=20H实验 5：使用实验仪小键盘输入 EM1．连接 J1, J22．打开电源3．按 TAB 键, 选择 EM4．输入两位地址, 005．按 NEXT, 进入程序修改6．按两位程序数据7．按 NEXT 选择下个地址/按 LAST 选择上个地址8．重复 6,7 步输入程序9．按 RESET 结束六、实验结果分析实验部分图片通过本次试验，我学会了如何把数据写入到存储器，并从存储器中读出写入的数据。
计算机组成原理--实验报告
实验一寄存器实验实验目的：了解模型机中各种寄存器结构、工作原理及其控制方法。
实验要求：利用CPTH 实验仪上的K16..K23 开关做为DBUS 的数据，其它开关做为控制信号，将数据写入寄存器，这些寄存器包括累加器A，工作寄存器W，数据寄存器组R0..R3，地址寄存器MAR，堆栈寄存器ST，输出寄存器OUT。
实验电路：寄存器的作用是用于保存数据的CPTH 用74HC574 来构成寄存器。
74HC574 的功能如下：- 1 -实验1：A，W 寄存器实验原理图寄存器A原理图寄存器W 原理图连接线表：- 2 -系统清零和手动状态设定：K23-K16开关置零，按[RST]钮，按[TV/ME]键三次，进入"Hand......"手动状态。
在后面实验中实验模式为手动的操作方法不再详述．将55H写入A寄存器二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据55H置控制信号为：按住STEP脉冲键，CK由高变低，这时寄存器A的黄色选择指示灯亮，表明选择A寄存器。
放开STEP键，CK由低变高，产生一个上升沿，数据55H被写入A寄存器。
将66H写入W寄存器二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据66H- 3 -置控制信号为：按住STEP脉冲键，CK由高变低，这时寄存器W 的黄色选择指示灯亮，表明选择W寄存器。
放开STEP 键，CK 由低变高，产生一个上升沿，数据66H 被写入W 寄存器。
注意观察：１．数据是在放开STEP键后改变的，也就是CK的上升沿数据被打入。
２．WEN，AEN为高时，即使CK有上升沿，寄存器的数据也不会改变。
实验2：R0，R1，R2，R3 寄存器实验连接线表- 4 -将11H、22H、33H、44H写入R0、R1、R2、R3寄存器将二进制开关K23-K16，置数据分别为11H、22H、33H、44H置控制信号为：K11、K10为10，K1、k0分别为00、01、10、11并分别按住STEP 脉冲键，CK 由高变低，这时寄存器R0、R1\R2\R3 的黄色选择指示灯分别亮，放开STEP键，CK由低变高，产生一个上升沿，数据被写入寄存器。
实验四：存储器EM实验
成都工业学院实验报告评定成绩：评定教师：课程名称：计算机组成原理实验项目名称：实验四：存储器EM实验学生姓名：专业：网络工程学号：同组学生姓名：指导老师：实验地点：文澄楼2506 实验日期：2019 年5 月3 日一、实验目的和要求1、了解模型机中程序存储器EM的工作原理及控制方法二、实验内容和原理1、PC/MAR输出地址选择2、存储器EM写实验3、存储器EM读实验4、存储器打入IR指令寄存器/uPC实验5、使用实验仪小键盘输入EM三、主要仪器设备1、小米笔记本电脑Air 13 ,64位操作系统。
2、Proteus虚拟仿真软件四、操作方法与实验步骤1、PC/MAR输出地址选择2、存储器EM写实验（1）将地址0写入MAR（2）将数据11H写入EM[0]（3）将地址1写入MAR（4）将数据22H写入EM[1]3、存储器EM读实验（1）将地址0写入MAR（2）读EM[0]（3）将地址1写入MAR（4）读EM[1]4、存储器打入IR指令寄存器/uPC实验（1）将地址0写入MAR（2）读EM[0]，写入IR及uPC（3）将地址1写入MAR（4）读EM[1] ，写入IR及uPC5、使用实验仪小键盘输入EM五、实验数据记录和处理1、2、六、实验结果与分析1、存储器EM由一片6116RAM构成，是用户存放程序和数据的地方。
2、存储器EM通过一片74HC245与数据总线相连，其地址可选择由PC或MAR提供。
3、存储器EM的数据输出直接到指令总线IBUS，指令总线IBUS的数据还可以来自一片74HC245，当ICOE为0时，这片74HC245输出中断指令B8.。
实验三：内存储器部件实验
实验三内存储器部件实验一、实验目的1、通过学习TEC-2000教学计算机的存储器系统，深入理解计算机主存储器的功能和组成；2、学习和理解只读存储器、静态存储器芯片的读写原理，掌握计算机存储器系统的扩展方法。
二、实验说明TEC－2000教学计算机存储器系统由ROM和RAM两个存储区组成。
ROM存储区由2个EEPROM芯片58C65（8192×8）组成，容量为8192×16。
RAM存储区由2个RAM芯片6116（2048×8）组成，容量为2048×16。
TEC－2000教学计算机中还预留了2个存储器芯片插座，可以插上相应存储器芯片进行存储器容量扩展的教学实验。
TEC-2000教学计算机存储器系统组成结构图三、实验内容1、完成存储器容量扩展实验，为扩展存储器选择一个地址，注意读写和/OE等控制信号的正确状态；2、用监控程序的D、E命令对存储器进行读写，比较RAM（6116）、EEPROM（58系列）存储特性的区别以及在读写上的差异；3、用监控程序的A命令编写一段程序，对RAM（6116）进行读写，用D命令查看结果是否正确。
四、实验步骤1、RAM实验RAM（6116）支持随机读写操作，可直接用A、E命令向存储器输入程序或改变存储单元的值。
RAM中的内容在断电后会消失，重新启动教学机后会发现存储单元的值发生了改变。
1）用E命令改变内存单元的值并用D命令观察结果。
⑴在命令行提示符状态下输入：E 2020↙屏幕显示2020 内存单元原值。
按如下形式键入：2222（空格）3333（空格）4444（空格）5555⑵在命令行提示符状态下输入：D 2020↙观察屏幕显示的从2020内存单元开始的值。
⑶断电后重新启动教学实验机，用D命令观察内存单元2020-2023的值。
2）用A命令输入一段程序，执行并观察结果。
⑴在命令行提示符状态下输入：A 2000↙键入如下汇编程序：2000：MVRD R0, AAAA2002：MVRD R1, 55552004：AND R0, R12006⑵在命令行提示符状态下输入：U 2000↙观察屏幕显示的内容。
[vip专享]6-第三章 实验7~9
![[vip专享]6-第三章 实验7~9](https://img.taocdn.com/s3/m/479d125e52ea551810a687d1.png)
K3
K2
(IREN) (PCOE) (MAROE) (MAREN) (EMEN)
17 K1 (EMRD)
K0 (EMWR)
56
· 产生脉冲，将 00h 写到中。 MAR 的值
② 将数据写入 EM 中 · 用开关 K23~K16，向 DBUS 中写入数据 11h K23 K22 K21 K20 K19 K18 K17 K16
④ 讨论 存储器读出过程
（四） 存储器 EM 中的数据（指令）送到指令寄存器 IR 和 微程序计数器 uPC
存储器中存放的不是程序的指令就是数据。当程序已经在存储器中时，按照程序计数 器 PC 的指示取出一条指令，送到指令寄存器 IR 进行译码，以便产生相应的控制操作。 在计算机中一条指令的功能就是通过按一定次序执行一系列基本操作完成的，这些基本 操作就是微指令，指示微操作执行顺序的是微程序计数器 uPC。
低电平有效
9
CK
已连 PC 工作脉冲
上升沿打入
10 CK
已连 MAR 工作脉冲
上升沿打入
11 CK
已连 存储器写脉冲
上升沿PC 工作脉冲
上升沿打入
注：J2 与 J3 连接用来将数据总线与开关 K23-K16 连接，以便设置数据，传送到 PC
55
或 MAR 等寄存器。 （2） 打开电源 （3） 按以下实验内容设置信号，观察结果。
地址寄存器 MAR 用来存放要进行读或写的存储器 EM 的地址。其内容经数据总线 DBUS 写入，因此必须在数据总线上具有数据后，配合 MAR 允许写的信号 MAREN，在时 钟上升沿跳变时写入。
当要向存储器 EM 读或写数据时，必须指明读、写 EM 哪个地址的内容。这个地址则 由地址寄存器 MAR 或指令计数器 PC 通过地址总线 ABUS 给出。因此在地址寄存器 MAR 设置了地址后，配合 MAR 允许输出的信号 MAROE，以及存储器 EM 被选通并允许写的 时候，数据总线上的数据才会写到 MAR 指定的地址中。
存储器实验(附视频)
实验三 存储器实验. avi
思考题
1.本次实验中用到了哪些寄存器，它们的作用分别是什么？ 答；本次试验用到了存储体系 Addr 由 IP 指针和 AR 指针分时提供，该存储器可动态变更程 序源与数据源。 2.程序计数器需要自动完成“+1”功能，在实验系统中，是如何实现的？ 答：手动按下单拍使 PC+1。 3.锁存器和三态门在输入/输出数据时有何不同？ 答：三态门用于器件间信号隔离，其他器件的信号不会对本器件的数据构成影响；锁存器可 以当做寄存器使用，用于寄存数据或清除数据。 4.要向数据段中 10H 开始的连续 4 个单元分别写入数字 1122H,3344H。再把数值从存储器读 到 CX，DX 寄存器。请画出流程图，并列出操作控制信号序列。 (3) 答：过程：数据段写操作 按下流程从 0 址单元开始，向数据段 10H~13H 单元依次写入 11H 22H 33H 44H 。
置数据 S7~S0=55 K23~K21=110
写程序 55→[00] 按【单拍】按钮
② PC+1 写操作流程：
设控位 K23~K21=101 PC+1 按【单拍】按钮 置数据 S7~S0=AA K10~K7=1000
写选通
K23~K21=110
打数据 AA→[PC+1] 按【单拍】按钮
重复 PC+1 写流程，分别对 02~04 写入 23 45 67。 (2) 程序段读操作 PC 装载及 PC+1 读操作流程
完成上流程，PC=11，总线单元显示 11，此时每按一次【单拍】按钮，PC+1，总线单元 依次显示 33H 44H„„等内容。
实 验 总 结
第三次实验，在前面实验的基础上以及锻炼上，这次实验比较成功，很快就做好了。经过本 次实验加深了我对三态门和锁存器功能的印象， 对它们更加理解。 不过对实验中存储器的动 态变更过程还有一点理解误区。
计算机组成原理存储器实验报告
计算机组成原理存储器实验报告一、实验目的本实验旨在通过实践了解存储器的基本原理和实现方式，掌握存储器的读写操作。
二、实验原理存储器是计算机中用于存储数据和程序的设备，其按照不同的存取方式可分为随机存储器（RAM）和只读存储器（ROM）。
其中RAM是一种易失性存储器，其存储的数据会随着电源关闭而丢失；而ROM则是一种非易失性存储器，其存储的数据在电源关闭后仍能保持不变。
本实验使用的是一个8位RAM，其具有256个存储单元，每个存储单元可以存储8位数据。
RAM可以进行读写操作，读操作是将存储单元中的数据读取到CPU中，写操作是将CPU中的数据写入到存储单元中。
存储单元的地址是由地址线来控制的，本实验中使用的是8位地址线，因此可以寻址256个存储单元。
三、实验仪器本实验使用的主要仪器有：存储器板、八位开关、八位数码管、八位LED灯、地址选择开关和地址计数器等。
四、实验过程1. 准备工作：将存储器板与开发板进行连接，并将八位开关、八位数码管、八位LED灯、地址选择开关和地址计数器等连接到存储器板上。
2. 设置地址：使用地址选择开关来设置需要读写的存储单元的地址。
3. 写操作：将需要存储的数据通过八位开关输入到CPU中，然后将CPU中的数据通过写信号写入到存储单元中。
4. 读操作：将需要读取的存储单元的地址通过地址选择开关设置好，然后通过读信号将存储单元中的数据读取到CPU中。
5. 显示操作：使用八位数码管或八位LED灯来显示读取到的数据或写入的数据。
6. 重复上述操作，进行多次读写操作，观察存储器的读写效果和数据变化情况。
五、实验结果通过本次实验，我们成功地进行了存储器的读写操作，并观察到了存储器中数据的变化情况。
在实验过程中，我们发现存储器的读写速度非常快，可以满足计算机的高速运算需求。
同时，存储器的容量也非常大，可以存储大量的数据和程序，为计算机提供了强大的计算和存储能力。
六、实验总结本次实验通过实践掌握了存储器的基本原理和实现方式，了解了存储器的读写操作。
操作系统实验报告三存储器管理实验
操作系统实验报告三存储器管理实验操作系统实验报告三：存储器管理实验一、实验目的本次存储器管理实验的主要目的是深入理解操作系统中存储器管理的基本原理和方法，通过实际操作和观察，掌握内存分配与回收的算法，以及页面置换算法的工作过程和性能特点，从而提高对操作系统资源管理的认识和实践能力。
二、实验环境本次实验使用的操作系统为 Windows 10，编程语言为 C+＋，开发工具为 Visual Studio 2019。
三、实验内容1、内存分配与回收算法实现首次适应算法（First Fit）最佳适应算法（Best Fit）最坏适应算法（Worst Fit）2、页面置换算法模拟先进先出页面置换算法（FIFO）最近最久未使用页面置换算法（LRU）时钟页面置换算法（Clock）四、实验原理1、内存分配与回收算法首次适应算法：从内存的起始位置开始，依次查找空闲分区，将第一个能够满足需求的空闲分区分配给进程。
最佳适应算法：在所有空闲分区中，选择能够满足需求且大小最小的空闲分区进行分配。
最坏适应算法：选择空闲分区中最大的分区进行分配。
2、页面置换算法先进先出页面置换算法：选择最早进入内存的页面进行置换。
最近最久未使用页面置换算法：选择最近最长时间未被访问的页面进行置换。
时钟页面置换算法：给每个页面设置一个访问位，在页面置换时，从指针指向的页面开始扫描，选择第一个访问位为0 的页面进行置换。
五、实验步骤1、内存分配与回收算法实现定义内存分区结构体，包括分区起始地址、大小、是否已分配等信息。
实现首次适应算法、最佳适应算法和最坏适应算法的函数。
编写测试程序，创建多个进程，并使用不同的算法为其分配内存，观察内存分配情况和空闲分区的变化。
2、页面置换算法模拟定义页面结构体，包括页面号、访问位等信息。
实现先进先出页面置换算法、最近最久未使用页面置换算法和时钟页面置换算法的函数。
编写测试程序，模拟页面的调入和调出过程，计算不同算法下的缺页率，比较算法的性能。
《计算机组成原理》实验指导书
第二章分部实验为掌握计算机的基本组成和工作原理，并为课程设计做准备，本章安排了四个分部实验，这些实验均在COP2000计算机组成原理实验仪上进行。
§2.1 分部实验1本实验包括寄存器的验证实验及运算器的验证、设计实验。
2.1.1 寄存器实验寄存器是一种重要的数字电路部件, 常用来暂时存放数据、指令等。
一个触发器可以存储一位二进制代码，存放N位二进制代码，用N个触发器即可。
因为我们的模型机是8位的，因此在本模型机中大部分寄存器是8位的，标志位寄存器(Cy, Z)是二位的。
在COP2000实验仪中，寄存器由74HC574构成，它可以存放8位二进制代码，其中的一位二进制代码是由一个D触发器来存储的。
首先，我们先介绍一下74HC574的工作原理。
图2-1是74HC574的原理图。
图2-1 74HC574原理图我们可以看到，在CLK的上升沿，输入端的数据被打入到8个触发器中。
当OC = 1 时，触发器的输出被关闭，当OC=0时，触发器输出数据。
表2-1列出了74HC574的使用方法。
表2-1 74HC574使用方法图2-2为74HC574的工作波形图。
图2-2 74HC574工作波形图一、实验一：A，W寄存器实验1、实验器材COP2000计算机组成原理实验仪、万用表。
2、实验目的（1）了解并掌握74HC574的工作原理及使用方法。
（2）掌握寄存器A，W的工作原理。
3、实验要求分别验证A，W寄存器的功能。
4、实验原理A，W寄存器是作用于ALU输入端的两个寄存器，两个参与运算的数分别来自A或W。
图2-3、图2-4分别为寄存器A，W的原理图。
图2-3 寄存器A原理图图2-4 寄存器W原理图A，W寄存器的写工作波形如图2-5所示。
图2-5 寄存器A，W写工作波形图其中，AEN、WEN分别为A选通和B选通。
5、实验步骤与内容（1）按照表2-2连线表2-2 A，W寄存器实验连线表（2）将数据55H写入A寄存器首先将二进制开关K23-K16用于数据总线DBUS[7：0]的数据输入，置数据55H。
存储器em实验报告剖析
存储器em实验报告剖析
本实验旨在通过对一个存储器芯片的连接、读写操作来理解和掌握存储器的基本工作
原理和应用。
实验步骤：
1.将存储器芯片插入实验板卡中，并将相应引脚连接到实验电路中。
2.使用示波器及相应测试工具对存储器进行读写操作测试，观察存储器输出状态，检
查读取数据的正确性，以便对存储器进行实用性测试。
3.通过对存储器的操作过程进行分析，了解存储器芯片内部的存储结构、读取和写入
操作的原理。
实验结论：
通过实验操作，我们可以初步掌握存储器的工作原理及其在实际电子应用中的重要性。
在实验中，我们了解了存储器的基本操作方法和控制方式，并深入理解了存储器芯片的内
部结构和运作过程。
此外，通过操作实验过程中的存储器读写，我们成功地验证了存储器
的效果和可靠性，从而提升了对存储器应用的实际认知水平。
最终，本次实验的目的得到
了圆满达成。
总而言之，经过这次实验操作，我们对存储器的工作原理和应用有了更加深刻的认识
和理解，并且初步掌握了实际操作过程中的技巧和方法，为今后更好地利用存储器进行电
子设计和开发奠定了良好的基础。
计算机组成原理存储器实验报告
计算机组成原理存储器实验报告一、实验目的本次实验的目的是通过实际操作，了解存储器的组成和工作原理，掌握存储器的读写操作。
二、实验原理存储器是计算机中的重要组成部分，用于存储程序和数据。
存储器按照存储介质的不同可以分为内存和外存，按照存储方式的不同可以分为随机存储器（RAM）和只读存储器（ROM）等。
本次实验使用的是随机存储器，随机存储器是一种易失性存储器，数据在断电后会丢失。
随机存储器按照存储单元的位数可以分为8位、16位、32位等，按照存储单元的数量可以分为256×8、512×16、1024×32等。
存储器的读写操作是通过地址总线、数据总线和控制总线来完成的。
地址总线用于传输存储单元的地址，数据总线用于传输数据，控制总线用于传输控制信号。
三、实验器材1. 存储器芯片：AT24C022. 单片机：STC89C523. 电源、示波器、万用表等四、实验步骤1. 连接电路将AT24C02存储器芯片和STC89C52单片机按照电路图连接好，接上电源。
2. 编写程序编写程序，实现对AT24C02存储器的读写操作。
程序中需要设置存储器的地址和数据，以及读写操作的控制信号。
3. 烧录程序将编写好的程序烧录到STC89C52单片机中。
4. 运行程序运行程序，观察存储器的读写操作是否正确。
五、实验结果经过实验，我们成功地实现了对AT24C02存储器的读写操作。
在程序中设置了存储器的地址和数据，通过控制信号实现了读写操作。
在读操作中，我们可以看到存储器中的数据被正确地读出；在写操作中，我们可以看到存储器中的数据被正确地写入。
六、实验总结通过本次实验，我们深入了解了存储器的组成和工作原理，掌握了存储器的读写操作。
同时，我们也学会了如何使用单片机来控制存储器的读写操作。
这对于我们深入学习计算机组成原理和嵌入式系统开发都具有重要的意义。
存储器实验报告实验结果
一、实验目的1. 了解存储器的概念、分类和工作原理；2. 掌握存储器扩展和配置方法；3. 熟悉存储器读写操作；4. 分析存储器性能，提高存储器使用效率。
二、实验环境1. 实验设备：计算机、存储器芯片、编程器、示波器等；2. 实验软件：Keil uVision、Proteus等。
三、实验内容1. 存储器芯片测试2. 存储器扩展实验3. 存储器读写操作实验4. 存储器性能分析四、实验结果与分析1. 存储器芯片测试（1）实验目的：测试存储器芯片的基本性能，包括存储容量、读写速度等。
（2）实验步骤：① 将存储器芯片插入编程器；② 编程器读取存储器芯片的容量、读写速度等信息；③ 利用示波器观察存储器芯片的读写波形。
（3）实验结果：存储器芯片的存储容量为64KB，读写速度为100ns。
2. 存储器扩展实验（1）实验目的：学习存储器扩展方法，提高存储器容量。
（2）实验步骤：① 将两块64KB的存储器芯片并联；② 利用译码器将存储器地址线扩展；③ 连接存储器芯片的读写控制线、数据线等。
（3）实验结果：存储器容量扩展至128KB，读写速度与原存储器芯片相同。
3. 存储器读写操作实验（1）实验目的：学习存储器读写操作，验证存储器功能。
（2）实验步骤：① 编写程序，实现存储器读写操作；② 将程序编译并烧录到存储器芯片；③ 利用示波器观察存储器读写波形。
（3）实验结果：存储器读写操作正常，读写波形符合预期。
4. 存储器性能分析（1）实验目的：分析存储器性能，优化存储器使用。
（2）实验步骤：① 分析存储器读写速度、容量、功耗等参数；② 比较不同存储器类型（如RAM、ROM、EEPROM）的性能；③ 提出优化存储器使用的方法。
（3）实验结果：① 存储器读写速度、容量、功耗等参数符合设计要求；② RAM、ROM、EEPROM等不同存储器类型具有各自的特点，可根据实际需求选择合适的存储器；③ 优化存储器使用方法：合理分配存储器空间，减少存储器读写次数，降低功耗。
计算机组成原理实验指导书
目录目录 (1)实验一寄存器实验 (2)实验内容1：A，W寄存器实验 (2)实验内容2：R0，R1，R2，R3寄存器实验 (4)实验内容3：MAR地址寄存器，ST堆栈寄存器，OUT输出寄存器实验 (7)实验二运算器实验 (9)实验三数据输出和移位实验 (11)实验四存储器EM实验 (15)实验内容1： PC/MAR输出地址选择 (15)实验内容2：存储器EM写实验 (16)实验内容3：存储器EM读实验 (17)实验五微程序存储器uM实验 (18)实验内容1：使用试验仪小键盘输入uM (18)实验内容2：微程序存储器uM读出 (19)实验一寄存器实验实验要求：利用CPTH实验仪上的K16‥K23开关作为DBUS的数据，其他开关作为控制信号，讲数据写入寄存器，这些寄存器包括累加器A，工作寄存器Ｗ，数据寄存器组R0‥R3，地址寄存器MAR，地址寄存器ST，输出寄存器OUT。
实验目的：了解模型机各种寄存器结构，工作原理及其控制方法。
实验电路：实验内容1：A，W寄存器实验实验步骤：（1）照下表连接线路（2）系统清零和手动状态设定：K23～K16开关置零，按RST钮，按TV/ME键三次，进入手动状态（液晶屏幕上有“Hand……”显示）。
注意：后面的实验中实验模式为手动的操作方法不再详述，如此相同。
（3）将55H写入A寄存器置控制信号为：按住STEP脉冲键，CK由高变低，这时寄存器A的黄色选择指示灯亮，表明选择A寄存器。
放开STEP键，CK由低变高，产生一个上升沿，数据55H被写入A寄存器。
（4）将66H写入W寄存器二进制开关K23～K16用于DBUS【7…0】的数据输入，设置数据66H置控制信号为：按住STEP脉冲键，CK由高变低，这时寄存器W的黄色选择指示灯亮，表明选择W寄存器。
放开STEP键，CK由低变高，产生一个上升沿，数据66H被写入W寄存器。
请仔细观察实验结果，并回答以下问题：1.数据是何时打入的？是按下STEP键还是放开STEP键后？2.WEN，AEN为高时，CK有上升沿，寄存器数据会不会改变？实验内容2：R0，R1，R2，R3寄存器实验实验步骤：（2）系统清零和手动状态设定：K23～K16开关置零，按RST钮，按TV/ME键三次，进入手动状态（液晶屏幕上有“Hand……”显示）。
实验3 存储器 实验报告
实验3 存储器实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入了解存储器的工作原理和性能特点，通过实际操作和观察，掌握存储器的读写操作、存储容量计算以及不同类型存储器的区别和应用。
二、实验设备1、计算机一台2、存储器实验装置一套3、相关测试软件三、实验原理存储器是计算机系统中用于存储数据和程序的重要部件。
按照存储介质和工作方式的不同，存储器可以分为随机存取存储器（RAM）和只读存储器（ROM）。
RAM 可以随机地进行读写操作，但断电后数据会丢失。
ROM 在正常工作时只能读取数据，且断电后数据不会丢失。
存储器的存储容量通常以字节（Byte）为单位，常见的存储容量有1GB、2GB、4GB 等。
存储容量的计算方法是：存储容量＝存储单元个数 ×每个存储单元的位数。
四、实验内容与步骤1、熟悉实验设备首先，仔细观察存储器实验装置的结构和接口，了解各个部分的功能和作用。
2、连接实验设备将计算机与存储器实验装置通过数据线正确连接，并确保连接稳定。
3、启动测试软件打开相关的测试软件，进行初始化设置，选择合适的实验模式和参数。
4、进行存储器读写操作（1）随机写入数据：在测试软件中指定存储单元地址，输入要写入的数据，并确认写入操作。
（2）随机读取数据：指定已写入数据的存储单元地址，进行读取操作，将读取到的数据与之前写入的数据进行对比，验证读写的准确性。
5、计算存储容量通过读取存储器的相关参数和标识，结合存储单元的个数和每个存储单元的位数，计算出存储器的实际存储容量。
6、比较不同类型存储器的性能（1）分别对 RAM 和 ROM 进行读写操作，记录操作的时间和速度。
（2）观察在断电和重新上电后，RAM 和ROM 中数据的变化情况。
五、实验结果与分析1、读写操作结果经过多次的读写操作验证，存储器的读写功能正常，读取到的数据与写入的数据一致，表明存储器的读写操作准确无误。
2、存储容量计算结果根据实验中获取的存储器参数，计算得出的存储容量与标称容量相符，验证了存储容量计算方法的正确性。
实验3 存储器 实验报告
实验3 存储器实验报告一、实验目的：1、了解RAM、ROM存储器的基本原理和工作特点；3、锻炼学生实验动手操作能力；4、培养学生动手实践能力和综合实践能力。
二、实验器材：1、实验箱一台2、万用表一只3、示波器一台4、电源一台5、电缆若干。
三、实验步骤：1、RAM存储器的读写实验(1) 在实验箱面板上取下RAM存储器的锁孔垫片。
(2) 把读输出线、写输出线、地址线和读写控制信号线依次通过实验箱面板相应的接口引出。
(3) 接通电源，调整数据总线和地址总线的电位为0。
(4) 将读写控制信号线设置为0，地址信号线设置为读取需要存储的地址，读输出线高电平表示RAM存储器中对应地址的数据。
(3) 输入ROM存储器的地址信号线。
(5) 将读输出线接入示波器，观察输出波形，并记录读取数据的值。
四、实验原理在RAM存储器中，每个存储单元都有独立的地址(A)和数据(D)输入输出端，以及读/写控制端(R/W)。
地址(A)对应每个存储单元的物理位置，是用来选中存储单元的。
地址线上的二进制状态就表示选中哪个存储单元。
数据线输入/输出的数据信号(D)就是存储在RAM单元中的数据。
读/写控制信号(R/W)控制读/写操作进行的时刻。
当R/W为高（写状态）时，数据D将被装入被选择的RAM单元；当R/W为低（读状态）时，被选RAM单元中的数据将被送到数据输出线上。
RAM存储器仅有一组共用地址线和数据线，但相邻地址所在RAM单元不仅具有物理上的相邻，相邻单元的地址与其中一个单元的地址只有最后一位不同，故相邻单元的装入和取出数据时间相等。
ROM存储器是一种只读存储器。
在ROM芯片中，存储的数据是在生产过程中被制成常数并固定在芯片中的。
一般情况下，ROM内单元的存储内容不能被修改。
ROM存储器主要的工作就是读取存储在ROM内的信息内容。
ROM存储器的读取输入信息只有地址信号，它的电信号SON每个ROM单元接受地址信号时（即选中时），ROM单元需要将存储在其中的信息送到ROM芯片上的输出线上。
存取存储器实验报告
一、实验目的1. 理解存储器的基本原理和组成，掌握存储器的分类和特点。
2. 学习存储器的存取过程，熟悉地址译码和存储单元寻址的方法。
3. 掌握存储器读写操作的实现方法，了解不同存储器的工作原理。
二、实验内容1. 存储器基本原理和组成2. 地址译码和存储单元寻址3. 存储器读写操作实现4. 存储器分类及特点三、实验原理1. 存储器基本原理和组成存储器是计算机系统中用于存储数据和指令的设备。
它由存储单元、地址译码器、读写电路和控制电路组成。
2. 地址译码和存储单元寻址地址译码器根据输入的地址码，从存储器中选中对应的存储单元。
存储单元寻址是指根据地址码找到存储器中的具体位置。
3. 存储器读写操作实现存储器读写操作包括读操作和写操作。
读操作是指将存储单元中的数据读出，写操作是指将数据写入存储单元。
4. 存储器分类及特点存储器按存储介质可分为磁存储器、半导体存储器和光存储器。
磁存储器包括硬盘、软盘等；半导体存储器包括RAM、ROM等；光存储器包括光盘、U盘等。
四、实验步骤1. 观察存储器实验装置，了解其组成和结构。
2. 学习存储器的基本原理，熟悉存储单元的寻址方式。
3. 掌握存储器读写操作的过程，了解不同存储器的工作原理。
4. 通过实验，验证存储器的读写操作是否正确。
五、实验数据记录1. 存储器实验装置组成：- 存储单元：16K1位- 地址译码器：16位- 读写电路：8位- 控制电路：2位2. 存储器读写操作过程：- 读取数据：将地址码输入地址译码器，选中对应的存储单元，将数据读出。
- 写入数据：将地址码输入地址译码器，选中对应的存储单元，将数据写入。
3. 存储器分类及特点：- 磁存储器：容量大，读写速度快，价格低，但易受磁场干扰。
- 半导体存储器：容量小，读写速度快，价格高，但功耗低，可靠性高。
- 光存储器：容量大，读写速度快，价格适中，但易受灰尘和划痕影响。
六、实验结果分析1. 通过实验，验证了存储器的读写操作过程正确。
实验报告三 存储器读写实验
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CODE SEGMENT ASSUME CS:CODE,DS:DATA
START: MOV AX,DATA MOV DS,AX MOV AX,0D800H MOV ES,AX
XOR SI,SI XOR DI,DI MOV CX,30H LOOP1: MOV AL,DS:[SI] MOV ES:[DI],AL ADD SI,1 ADD DI,4 LOOP LOOP1
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图 3-12 编译连接输出信息 (5) 编译连接成功后可以点击 ，运行程序，查看运行结果。
五、实 验 结 果 及 分 析：
1. 32 位存储器扩展实验结果及分析 (1) 运行程序后，可通过查看软件中的“存储器操作窗口”检验硬件连线是否正常。
图 3-13 错误连线测试结果
图 3-14 正常连线测试结果
图 3-8 32 存储器扩展实验程序编辑界面
(6) 点击 ，编译文件，若程序编译无误，然后再点击 ，连接程序。编译连接成功会在输出信 息栏显示输出信息，如图 3-9 所示。
(7) 编译连接成功后可以点击
图 3-9 编译连接输出信息 ，运行程序，查看运行结果。
2. 8 位存储器扩展实验 (1) 实验接线图如图 3-10 所示，按图接线。
图 3-1 62256 引脚图 2．32 位总线的存储器接口 32 位系统总线提供 XA2～XA31、BE0～BE3 信号为存储器提供物理地址。MY0 是系统为存储器扩 展提供的片选信号，其地址空间为 D8000H~DFFFH(详见附录 B 的编程信息),XA2～XA31 用来确定一个 4 字节的存储单元，BE0～BE3 用来确定当前操作中所涉及到 4 字节存储单元中的那个字节。BE0 对应 D[7:0]，BE1 对应 D[15:8]，BE2 对应 D[23:16]，BE3 对应 D[31:24]。其对应关系如表 4-3-1 所示。
实验3 存储器EM 实验
3 存储器EM 实验实验要求：利用CPTH 实验仪上的K16..K23 开关做为DBUS 的数据，其它开关做为控制信号，实现程序存储器EM 的读写操作。
实验目的：了解模型机中程序存储器EM 的工作原理及控制方法。
实验电路：存储器EM 由一片6116RAM 构成，是用户存放程序和数据的地方。
存储器EM 通过一片74HC245 与数据总线相连。
存储器EM 的地址可选择由PC或MAR 提供。
存储器EM 的数据输出直接接到指令总线IBUS，指令总线IBUS 的数据还可以来自一片74HC245。
当ICOE 为0 时，这片74HC245 输出中断指令B8。
EM原理图连接线表以下存贮器EM实验均由MAR提供地址实验1：存储器EM 写实验将地址12写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据12H置控制信号为：按STEP键, 将地址12写入MAR将数据第一同学学号后两位写入EM[12]二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据xxH置控制信号为：按STEP键, 将第一同学学号后两位写入EM[12]将地址13写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据13H置控制信号为：按STEP键, 将地址13写入MAR将数据第二个同学学号后两位写入EM[13]二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据xxH置控制信号为：按STEP键，将数据xxH写入EM[13]实验2：存储器EM 读实验将地址12写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据12H置控制信号为：按STEP键, 将地址12写入MAR读EM[12]置控制信号为：EM[12]被读出：第一个同学学号后两位将地址13写入MAR二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据13H置控制信号为：按STEP键，将地址13写入MAR读EM[13]置控制信号为：EM[13]被读出：第二个同学学号后两位。
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3 存储器EM 实验
实验要求：利用CPTH 实验仪上的K16..K23 开关做为DBUS 的数据，其它开关做为控制信号，实现程序存储器EM 的读写操作。
实验目的：了解模型机中程序存储器EM 的工作原理及控制方法。
实验电路：
存储器EM 由一片6116RAM 构成，是用户存放程序和数据的地方。
存储器EM 通过一片74HC245 与数据总线相连。
存储器EM 的地址可选择由PC或MAR 提供。
存储器EM 的数据输出直接接到指令总线IBUS，指令总线IBUS 的数据还可以来自一片74HC245。
当ICOE 为0 时，这片74HC245 输出中断指令B8。
EM原理图
连接线表
以下存贮器EM实验均由MAR提供地址
实验1：存储器EM 写实验
将地址12写入MAR
二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据12H
置控制信号为：
按STEP键, 将地址12写入MAR
将数据第一同学学号后两位写入EM[12]
二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据xxH
置控制信号为：
按STEP键, 将第一同学学号后两位写入EM[12]
将地址13写入MAR
二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据13H
置控制信号为：
按STEP键, 将地址13写入MAR
将数据第二个同学学号后两位写入EM[13]
二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据xxH
置控制信号为：
按STEP键，将数据xxH写入EM[13]
实验2：存储器EM 读实验
将地址12写入MAR
二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据12H
置控制信号为：
按STEP键, 将地址12写入MAR
读EM[12]
置控制信号为：
EM[12]被读出：第一个同学学号后两位
将地址13写入MAR
二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据13H
置控制信号为：
按STEP键，将地址13写入MAR
读EM[13]
置控制信号为：
EM[13]被读出：第二个同学学号后两位。