校准夹具金板制作和线损计算操作方法
金板(样机)制作与使用管制程序
金机(样品)制作使用管控程序版 本/次: 01页 码:第 1 页 共 12 页 生效日期: 2011年8月1日※ ※ 目 录 ※ ※会 审撰 写审 核批 准日 期章 节内 容页 次/ 目 录 / 修 订 履 历 1 目 的 2 范 围 3 职 责 和 权 限 4 定 义 5 程序/流程正文 6 相 关 文 件 7 相 关 记 录金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第 2 页共12 页生效日期: 2011年8月1日※※修订履历※※Revision History版次Rev. 系统文件变更SDCN No.修订内容Modified Contents发行日期Issue Date01 GAP-005 首次发行2010-9-1金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第 3 页共12 页生效日期: 2011年8月1日一.目的:因仪器、夹具的射频电缆属于易损部件,在经过一段时间的磨损后,对于测试指标会产生一定的影响,所以仪器、夹具使用过一段时间后,需要使用金板样机机型重新校准,以确保生产测试指标的准确。
本文档描述了金机(样机)的制作和使用流程。
二.范围:适用于辉烨四部工厂测试设备金机点检操作。
三.权责:生产部:负责对相关设备进行日常维护、保养;工程部:负责对测试仪设备的调试及点检;品质部:负责对测试设备及金机(样机)点检记录的跟进、监督。
四.定义:金板(样机):用于检验测试装备可使用性及外部射频衰减的工程样机。
五.程序/流程正文:5.1 金机的制作流程与工具:5.2 金板使用时间:5.2.1综合测试仪、RF连接线、屏蔽箱等设备出现更换时;5.2.2每周一次例行点检;5.3金机点检操作流程:5.3.1明确金板射频参数指标:金板值如下(示例)每个金板值都标明了单板测试工位各射频测试项参数值,如:中频点(410)中频点频率误差 2.05 Hz中频点波形质量因素0.9953金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第 4 页共12 页生效日期: 2011年8月1日中频点开环功率-54.65 dBm -11.17 dBm 14.67 dBm中频点最大功率24.36 dBm中频点杂散辐射低高-53.44 dBm -53.94 dBm -66.47 dBm -66.40 dBm中频点接收灵敏度0(-109.5 dBm)中频点最小功率-63.41 dBm中频点动态范围0(-21 dBm)高频点(774)高频点最大功率24.30 dBm高频点接收灵敏度0(-109 dBm)高频点最小功率-62.98 dBm低频点(1017)低频点最大功率24.32 dBm低频点接收灵敏度0(-110 dBm)低频点最小功率-64.00 dBm注:控制项:中频点最大发射功率,高频点最大发射功率,低频点最大发射功率5.3.2金机点检操作步骤:a、手动测试:1、确认综测仪、射频线、屏蔽箱连接正确,且综测仪正常通电开机;2、在综测仪、射频线、屏蔽箱连接正确后,按综测仪开关键开机选择频段进入测试界面;金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第 5 页共12 页生效日期: 2011年8月1日3、根据客户提供的金板信息(如频段GSM900、功率等级为5、测试信道为62,要求的功率值为33.4dbm)设置测试频段、功率等级、端口选择、测试信道;金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第 6 页共12 页生效日期: 2011年8月1日(1)频段选择: (2)功率等级设置:金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第7 页共12 页生效日期: 2011年8月1日(3) 端口选择(4)测试信道设置:金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第8 页共12 页生效日期: 2011年8月1日4、再次确认综测仪、射频线、将金板装入测试卡、电池,放入屏蔽箱内定好位,按开机键开机,待金机搜索网络并在CMU200上注册成功后,CMU200提示“Make a callfrom the mobileor press the Connect Mobile key.”按CMU200上的“Connect Mobile (手机连接)”;注:以下测试的功率值与金板功率值错差的允许范围<1.5dBm(1)当CMU200提示“call to mobile in progress”时,按金板接听键接听电话;(2)电话接通后CMU200自动跳至功率测试界面,看功率值是否符合金机功率标准值;(3)如所测试的功率值符合金机功率标准值;选择“Connect Control”返回主测试界面,选择端口设置;界面跳至线损补偿界面,记录此时的线损值,记录在《金板点检记录表》里;(4)如所测试的功率值与金机要求标准值有差异;选择“Connect Control”返回主测试界面,选择端口设置;界面跳至线损补偿界面,选择“Ext Att Output (输出信道的射频补偿)”“Ext Att Input(输入信道的射频补偿)”进行适当射频线损补偿,至仪器测试的功率值与金板要求的功率值一致即可;(注:线损补偿值不可大于20dB)详细操作及图示见下页:版本/次: 01金机(样品)制作使用管控程序页码:第9 页共12 页生效日期: 2011年8月1日金机(样品)制作使用管控程序版本/次: 01页码:第10 页共12 页生效日期: 2011年8月1日5、完成频段GSM900的线损测试后按下边上的软键“Handover”再按右边上的软键“Handover”转换到DCS1800测试线损,方法同GSM900,需要设置的功率等级、信道值按客户提供的金板信息进行设置;完成频段DCS1800的线损测试后按下边上的软键“Handover”再按右边上的软键“Handover”转换到PCS1900测试线损,方法同GSM900,需要设置的功率等级、信道值按客户提供的金板信息进行设置;产线在生产手机,客户未提供金板的前提下,可自制对应生产机型的样机或参考其他机型的金机点检综测仪,如实将耦合测试的线损值记录在《金机点检记录表》里。
MTK智能机测试作业指导
上海锐嘉科科技集团MTK智能机FT作业指导书文件编号:保密等级:一般文件类型:三阶文件版本:A页数:28页编制日期:2013-12-24 编制者:BU6工程部参与讨论、评审人员部门姓名签名质量保证部硬件部硬件部软件部生产管理部软件测试部部门主管审核/日期:管理者代表批准/日期:文件类型文件编号 MTK 智能机CFT 测试作业指导书页数版本 保密等级三阶文件2/ 28A一般(内部使用)最高管理者批准/日期:1.目的指导CFT 测试作业规范化。
2.适用范围R agentek MTK 平台智能机。
3.定义 无4.工作职责在保证产品品质的前提下,能够最大化提高生产效率。
版本历史版本 DCN 编号修改描述 影响部分 编制/修改日期 编制/修改人 A --- 新订首次发出--- 2013-12-24鼎讯工程部文件类型文件编号MTK智能机CFT 测试作业指导书页数版本保密等级三阶文件3/ 28 A一般(内部使用)1.CFT的定义对手机的射频性能进行校准及检验的测试。
2.CFT分为BT校准和FT(综测)两部分2.1 BT主要是对手机的射频参数进行调整,具体包括(MTK校准必选项):自动频率校准(AFC)。
自动增益控制校准(AGC),对MTK平台来说叫着Pathloss。
自动功率控制校准(APC)电池电量指示校准(ADC)。
校准通过后,程序会在校准数据区写一个通过校准标志2. 2 FT 的全称为Final Test(综合测试),主要是测试手机的一些射频指标,具体包括:峰值功率(PeakPower)功率时间模板(Burst Mask)。
峰值相位误差(PeakPhaseError)。
(+/-20)均方根相位误差(RMS PhaseError)。
(+/-5)频率误差(FreqError)。
(0.1ppm)灵敏度(Ber)。
(-102,<%2.439)接收信号强度(RXLevel)。
开关谱(Switch Spectrum)。
实验室计量器具校准操作规程
实验室计量器具校准操作规程一、校准操作目的及范围校准操作的目的是为了保证实验室计量器具的准确度和可靠性,以确保实验结果的可靠性和数据的精确性。
本操作规程适用于实验室内各种计量器具的校准操作。
二、校准操作的要求1.校准操作应符合国家有关法规和标准的要求,确保校准结果的真实有效。
2.校准操作应由经过培训的专业技术人员进行,并记录其姓名和资格证书编号。
3.校准操作应在有利于减小外界干扰的条件下进行,避免与其他设备、物品和人员接触。
4.校准操作前,应对所需校准的仪器进行检查,确保仪器的完好性和适用性。
如发现异常情况,应及时通知上级并予以相应处理。
5.校准操作应按照操作规程进行,确保操作的准确性和一致性。
三、校准操作的步骤1.校准前准备(1)确认校准仪器的型号和规格,并对其进行清洁和检查。
(2)确认校准仪器的校准日期和有效期限,并检查其校准证书的完整性。
(3)准备校准所需的标准器具和校准样品。
(4)确认校准操作的环境条件和要求,确保操作的准确性和一致性。
2.校准操作(1)按照校准仪器的操作说明书进行操作,遵守操作规程和安全操作要求。
(2)根据校准要求,使用标准器具对校准仪器进行校准,记录校准值和校准结果。
(3)如果校准值与标准值存在偏差,记录偏差值和原因,并进行相应的调整和修正。
(4)定期检查校准仪器的工作状态和准确度,并记录检查结果。
如有异常情况,应及时处理。
3.校准操作记录(1)记录校准操作的日期、时间、仪器名称、规格型号、校准人员等基本信息。
(2)记录校准仪器的校准值和校准结果,并标明与标准值的偏差。
(3)记录校准操作中发现的问题和异常情况,并记录调整和修正的方法和结果。
(4)记录校准仪器的检查结果,包括工作状态、准确度等信息。
四、校准操作的验证1.校准操作的结果应与校准证书的校准结果进行验证,确保校准结果的准确性和可靠性。
2.校准操作的记录应由相关部门或质量管理部门进行审核,并签字确认。
3.校准操作的验证结果应进行记录和归档,作为日后工作的参考和依据。
金机日常校准操作指引
一、目的:本文档主要描述了整机测试金机的使用方法,并用来校准整机测试外部衰减。
因装备夹具中的射频电缆属于易损部件,在经过一段时间的磨损后,对于测试指标会产生一定的影响,所以终端装备夹具在使用一段时间后,必须要经过重新校准,以确保生产测试指标。
二、金机校准方法:(一)概述——使用条件射频衰减校准必须符合R&D或客户输入文件定义的标准。
以下任何一种情况必须使用金机重新校准。
·射频线缆的更换。
·射频仪器如综测仪的更换。
·夹具和屏蔽盒的更换。
·每班射频衰减校准主要测量综测仪—射频电缆—屏蔽盒—夹具—手机通路上的射频衰减值。
采用金机的校准方法,金机制作方法见附录。
(二)校准仪器主要需要以下仪器和附件射频线缆·整机测试系统·射频校准金机1个(三)金机使用校准流程金机值如下(示例)每个金机值都标明了整机测试工位各射频测试项参数值,如:校准误差以客户文件“金机测试标准”为依据调校。
校准步骤操作指引- 1、把金机放入测试台进行测试- 2、记录测试结果- 3、与金机比较算出差值- 4、重复步骤1、2、3两次,算出另两个差值。
- 5、算出三个差值的平均值- 6、将平均值补偿入测试系统- 7、检查差值- 如果测量出来的发射最大差值不超过2dB,且衰减补偿在正常范围之内,就认为装备和衰减补偿正确,否则进行再校准,重复步骤1、2、3、4、5、6再校准。
如果达不到上述要求,换一部金机验证。
- 8、将新衰减值填入测试程序属性页衰减补偿处。
校准判断:1、如果金机校准在误差范围之内,测试系统良好,可以生产。
2、如果金机的校准超出误差范围,则可以判断为测试系统问题,需要对测试装备检查、维护、分析。
三、注意事项金机的有效期为6个月,超过6个月要求采用新的金机进行校准。
使用过程中,发现金机失效,及时更换。
四、附录整机测试金机制作指导书方法一:单板测试获得金机值1.1 特点·操作简单·不需要额外的设备和电缆·不够准确·利用整机测试的射频指标值都在单板测试测量处测量的方法获得金机值1.2 制作准备已校准的单板测试系统射频指标稳定的单板1.3 制作方法- 1、记录整机测试需要测试的射频测试项- 2、对单板测试系统进行校准- 3、选取单板进行单板校准测试- 4、对单板进行综测记录整机测试需要的射频指标值- 5、重复进行9次单板测量,记录整机测试需要的射频指标值- 6、如果10次测试值MAX-MIN不大于2dB。
3、线损分析操作手册(共5篇)
3、线损分析操作手册(共5篇)第一篇:3、线损分析操作手册采集系统线损分析操作手册1.线损模型维护 1.1.台区线损模型维护 1.1.1.业务说明根据营销业务应用系统维护台区线损模型,同时可根据实际需要调整台区线损考核单元模型。
1.1.2.操作说明点击【高级应用】->【线损分析】->【线损模型维护】->【台区线损模型维护】页面如下:根据考核单元编号、台区编号、台区状态等查询条件查询台区考核单元信息,双击考核单元信息,展示该考核单元下的公变信息和低压信息;其中公变信息对应在运系统的供入计量点,低压信息对应在运系统的供出计量点;“增加考核单元”、“修改考核单元”、“删除考核单元”、“线损模型维护”按钮与在运系统业务一致;1.2.线路线损模型维护 1.2.1.业务说明线路线损模型维护包括“变电站线损模型”、“主变线损模型”、“母线电量平衡线损模型”、“线路线损模型”、“配变线路线损模型”维护,其中“变电站线损模型”对象在运系统“变电站线损模型”,“主变线损模型”对应在运系统”变压器组线损模型“,”母线电量平衡线损模型“对应在运系统的”母线不平衡线损模型“,“线路线损模型”对应在运系统”高压线路线损模型“,”配变线路线损模型“对应在运系统的”配变线路线损模型。
1.2.2.操作说明点击【高级应用】->【线损分析】->【线损模型维护】->【线路线损模型维护】页面如下:其中“输入测量点”对应在运系统的“供入计量点”,“输出测量点”对应在运系统的“供出计量点”。
1.3.分压线损模型维护 1.3.1.业务说明根据电压等级维护考核单元,其中电压等级为10kv及其以上的考核单元其考核对象为线路,其他电压等级考核对象为台区;1.3.2.操作说明点击【高级应用】->【线损分析】->【线损模型维护】->【分压线损模型维护】页面如下:1.4.分区线损模型维护 1.4.1.业务说明查询询某区域的相关计量点信息,可以维护进出测点关系,类似于在运系统的综合误差线损模型维护功能;1.4.2.操作说明点击【高级应用】->【线损分析】->【线损模型维护】->【分区线损模型维护】页面如下:点击“增加考核单元”新增一个分区考核模型,如下图:点击“修改考核单元”修改分区考核模型,如下图:点击“损耗模型维护”按钮,维护模型对象以及供入供出计量点,如下图:供入计量点为供入考核对象下计量点主用途类型为趸售供电关口、地市供电关口、省级供电关口、台区供电考核、线路供电考核、终端考核计量点、指标分析、售电侧结算计量点;供入电厂计量点为供入考核对象下计量点主用途类型为发电机组计量点、发电上网关口;供出关口计量点为供出考核对象下计量点主用途类型为趸售供电关口、地市供电关口、省级供电关口、台区供电考核、线路供电考核、终端考核计量点、指标分析、售电侧结算计量点;供出高压结算计量点为供出考核对象下计量点主用途类型为高压结算计量点;供出低压计算计量点为供出考核对象下计量点主用途类型为低压结算计量点、居民结算计量点。
板式金检机校准方法
板式金检机校准方法
板式金检机的校准方法包括以下步骤:
1. 准备工作:确保金属检测机已经预热并处于正常工作温度,准备好所有测试标准物体(金属标准),这些标准物体的大小和金属类型应已知。
2. 设备清洁:在进行校准之前,确保金属检测机的检测头和传感器是干净的,没有杂质或污垢,以确保准确的检测。
3. 选择校准程序:根据金属检测机的型号和制造商的建议,选择适当的校准程序,这通常包括校准灵敏度和排除环境干扰。
4. 校准灵敏度:使用金属标准,将其逐个通过金属检测机的检测头,校准金属检测机以确保它可以检测到金属标准物体的大小和类型。
逐步调整灵敏度设置,直到金属检测机能够准确地检测到各个标准物体。
5. 排除环境干扰:使用标准物体测试金属检测机的抗干扰能力,这可能涉及在设备周围引入电磁干扰或振动,以确保设备不会产生误报。
6. 验证性能:使用多个不同大小和类型的金属标准进行校准,以确保金属检测机的性能稳定性和准确性。
7. 文档记录:记录校准的日期、结果和任何必要的调整,建立校准记录,以便随后的追踪和证明合规性。
8. 定期校准:定期执行校准程序,以确保金属检测机的性能持续稳定。
校准的频率应根据设备的使用情况和制造商的建议确定。
9. 培训操作人员:确保操作人员受过充分的培训,了解如何正确执行校准程序,以及如何识别和解决问题。
10. 遵循制造商建议:始终遵循金属检测机制造商的校准建议和指导,制造商通常会提供详细的校准手册和程序。
请注意,以上步骤可能因不同型号的板式金检机而有所不同,具体操作时应参照设备的操作手册或制造商提供的校准指南。
检测设备校验计量及操作规程完整
检测设备计量翡校验的操作程序1、目的为了对计量检验仪器设备的校准、检定进行管理,确保所有计量检验仪器设备正常、稳定的工作,以保证检测数据准确、有效,制定本操作规程。
2、范围本规程适用于计量检验仪器设备的检定、校准管理。
3、职责3.1技术质量科:负责公司所有仪器校准工作,包括送外校准、检查及对不合格器具的处理与保存校验的相关记录。
3.2仪器使用部门:负责保管和维护本部门使用的仪器、试验设备。
3.3仪器使用者:每次使用前,必须检查所使用的仪器设备是否损坏或是否符合产品检测要求,一旦发现不良情况必须停止使用该仪器设备,并通知技术质量科设备员处理4、程序4.1仪器量具的登记4.1.1建立公司仪器量具的登记系统:对所有需要校验及检查的仪器量具,登记注册于计量仪器统计表中予以追溯。
4.1.2这些登记,由技术质量科设备员保存和更新。
4.1.3公司新购仪器或量具时,应先交到技术质量科登记和安排送外校验。
4.1.4所有用来做测量和测试仪器都必须被标识和校准。
仪器上必须标识校验状况和有效期。
4.2仪器送校4.2.1技术质量科设备员需在仪器、量具、试验设备未过有效期前,安排送校事宜,应送往有国家认可资格的计量所进行校验。
4.2.2仪器量具送校合格后,将检定证书并将校验结果填写在《设备台账表格》内,将仪器量具、试验设备贴上合格证送回使用部门。
专业资料整理WORD完美格式编辑决定该仪器的处理方法并将处理方法记录于《设备台账表格》内4.2.4若送校结果合格,但实测值与标准值有偏差时,由设备员根据该仪器的实际使用情况结合产品的检测要求,决定该仪器是否继续使用,若能继续使用则连同证书复印件一齐交回使用部门,使用者参照校验结果使用;若不能继续使用,则贴停用标识,并将校验结果报技术质量科处理,决定该仪器的处理方法并将处理方法记录于《设备台账表格》内。
4.2.5由于长期使用或自然原因造成的设备精度下降的,技术质量科联系检定机构检定校准,并出具相应精度等级证书,随设备保管使用4.2.6由于长期停用而重新启用的检测设备在使用前一律进行校准后方可启用。
变损和线损地计算
变损和线损的计算一、变损:变压器损耗计算公式(1)有功损耗:ΔP=P0+KTβ2PK-------(1)(2)无功损耗:ΔQ=Q0+KTβ2QK-------(2)(3)综合功率损耗:ΔPZ=ΔP+KQΔQ----(3)Q0≈I0%SN,QK≈UK%SN式中:Q0——空载无功损耗(kvar)P0——空载损耗(kW)PK——额定负载损耗(kW)SN——变压器额定容量(kVA)I0%——变压器空载电流百分比。
UK%——短路电压百分比β——平均负载系数KT——负载波动损耗系数QK——额定负载漏磁功率(kvar)KQ——无功经济当量(kW/kvar)上式计算时各参数的选择条件:(1)取KT=1.05;(2)对城市电网和工业企业电网的6kV~10kV降压变压器取系统最小负荷时,其无功当量KQ=0.1kW/kvar;(3)变压器平均负载系数,对于农用变压器可取β=20%;对于工业企业,实行三班制,可取β=75%;(4)变压器运行小时数T=8760h,最大负载损耗小时数:t=5500h;(5)变压器空载损耗P0、额定负载损耗PK、I0%、UK%,见产品资料所示。
变压器损耗的特征P0——空载损耗,主要是铁损,包括磁滞损耗和涡流损耗;磁滞损耗与频率成正比;与最大磁通密度的磁滞系数的次方成正比。
涡流损耗与频率、最大磁通密度、矽钢片的厚度三者的积成正比。
PC——负载损耗,主要是负载电流通过绕组时在电阻上的损耗,一般称铜损。
其大小随负载电流而变化,与负载电流的平方成正比;(并用标准线圈温度换算值来表示)。
负载损耗还受变压器温度的影响,同时负载电流引起的漏磁通会在绕组内产生涡流损耗,并在绕组外的金属部分产生杂散损耗。
变压器的全损耗ΔP=P0PC变压器的损耗比=PC/P0变压器的效率=PZ/(PZΔP),以百分比表示;其中PZ为变压器二次侧输出功率。
变压器节能技术推广1)推广使用低损耗变压器;(1)铁芯损耗的控制变压器损耗中的空载损耗,即铁损,主要发生在变压器铁芯叠片内,主要是因交变的磁力线通过铁芯产生磁滞及涡流而带来的损耗。
计量器具校准操作规程
计量器具校准操作规程1. 引言本文档旨在确保计量器具的准确性和可靠性,以满足计量要求。
校准操作是确保计量器具输出与已知标准之间的准确度的过程。
准确的计量器具对于各个领域的科学研究、工程开发和生产质量控制是至关重要的。
校准操作规程的制定是为了规范和优化计量器具的校准过程,确保其科学性和可靠性。
2. 适用范围本操作规程适用于所有使用计量器具的部门和人员,包括计量实验室、生产制造部门和质量控制部门。
3. 定义•计量器具:用于测量和记录物理量的设备、装置、器具或系统。
•校准:通过比较计量器具的输出结果与已知标准之间的差异,确定其准确性和可靠性的过程。
4. 校准操作步骤4.1 校准前的准备工作在进行校准之前,必须完成以下准备工作:1.确定校准的目标和要求。
2.准备所需的标准器具和校准设备,并检查其完好性和有效期。
3.确定校准操作的环境条件,包括温度、湿度和电磁场等因素。
4.了解待校准计量器具的工作原理和使用说明书。
4.2 校准操作的步骤1.将计量器具放置在稳定的校准台上,并根据使用说明书进行连接和设置。
2.打开校准设备,并根据要求选择合适的校准方法和程序。
3.根据标准器具的输出结果,调整待校准计量器具的相关参数,直到其输出结果与标准器具相符。
4.记录校准的日期、时间、环境条件和相关参数。
5.对校准结果进行评估,并根据要求制定校准报告。
6.如果校准结果不符合要求,则进行故障排除和调整,直到满足要求。
7.完成校准后,将计量器具进行封存,并贴上校准标签。
4.3 校准设备的维护和管理1.定期进行校准设备的检查和维护,确保其正常工作和精度。
2.根据使用频率和环境条件,制定校准设备的保养计划,包括清洁、校准和更换部件。
3.对于失效或不合格的校准设备,应及时采取措施修复或更换,确保校准操作的可靠性。
4.记录校准设备的维护和管理情况,并制定相应的记录和档案。
5. 质量控制和审核为确保校准操作的质量和可靠性,应建立相应的质量控制措施和审核机制:1.定期进行校准操作的内部审核,检查校准操作的执行情况,并对可能存在的问题进行纠正和改进。
手机校准培训
Calibration 硬件及软件架构
一、硬件
1、计算机:控制无线设备,执行校准过程。
2、综测仪 Set :给无线设备提供多种无线环境、测量无线
设备所发出信号旳功率、频率等。在Calibration中,Test Set
作为信号发生仪和功率测试仪,它经过GPIB 转接卡与PC 相 接,接受PC 控制;经过射频线(RF Cable)与Target 相连。
对于全速率话音信道(TCH/ FS),接受机输入电平为-102dBm时, 帧删除率(FER)不大于0.1%,Ib类 数据旳RBER不大于0.4%,II类数据 旳RBER不大于2%。 以残余误比特率(RBER)为例简介接受 敏捷度 ,当RBER=2%时 右表为 GSM与DCS接受敏捷度旳测量。
频段
GSM900 MHz
<90Hz
<180Hz
<20deg
<5deg
调制频谱和开关频谱
因为GSM调制信号旳突发特征,所以输出射频频谱应 考虑因为调制和射频功率电 平切换而引起旳对相邻信 干扰。在时间上,连续调制频谱和功率切换频谱不是发 生旳,因而输出射频频谱可分为连续调制频谱和动态频谱来分别地加以要求和测量。
(1)连续调制是测量由GSM调制处理而产生旳 在其标称载频 同频偏处(主要是在相邻频道)旳射 频功率。 (2)开关频谱即切换瞬态频谱,是测量因为调 制突发旳上下降沿而产生旳在其标称载频旳不同 频偏处(主要是在相邻频道)旳射频功率。
稳压电源 综测仪
二、相互连接
三、软件
我们一般所说旳Calibration 软件指旳是在PC 端运营旳程序,涉及串口控制,GPIB 接口控制,EMMI 协议,Calibration 算法,以及程序外观接口。
电路线损计算公式
电路线损计算公式电路线损可是个挺重要的概念,在咱们的日常生活和工业生产中都少不了它的身影。
先来说说啥是电路线损。
简单来讲,就是电能在传输过程中损耗掉的那部分。
这就好比你带着一袋子糖果去送给朋友,结果在路上不小心撒了几颗,这撒掉的糖果就相当于线损啦。
那电路线损的计算公式是啥呢?一般来说,线损的功率可以用下面这个公式来算:ΔP = I²R 。
这里的ΔP 就表示线损功率,I 呢是电流,R 是电阻。
电流越大,电阻越大,线损功率也就越大。
我给您讲个我之前遇到的事儿吧。
有一次,我们小区的电路出了点问题,老是跳闸。
电工师傅来检查,就用到了线损的知识。
他拿着工具,测了测电流和电阻,然后嘴里念叨着这个公式,一会儿就找出问题所在了。
原来是有一段电线老化,电阻变大了,导致线损增加,超过了电路的负荷,所以才老是跳闸。
再说说线损率的计算,线损率 = (线损电量÷供电量)× 100% 。
通过这个公式,就能清楚地知道线损在整个供电过程中所占的比例。
在实际应用中,要准确计算线损可不简单。
比如说,电线的材质不同,电阻也不一样;电流也不是一直稳定不变的,会随着用电设备的使用情况而波动。
这就需要我们综合考虑各种因素,才能得到比较准确的线损计算结果。
还有啊,为了减少线损,在电路设计和设备选择上都得下功夫。
比如说,选用电阻小的优质电线,合理规划电路布局,避免过长的输电线路等等。
总之,电路线损的计算虽然有点复杂,但搞清楚它对于保障电力供应的稳定和高效可是非常重要的。
咱们在日常生活中也要注意节约用电,这样既能省钱,也能为节能减排做贡献呢!希望通过我这一番讲解,您对电路线损计算公式能有更清楚的了解。
金板测试
1 准备综测仪器一台,射频线一条,金板一个,白卡一张,电源一台2 打开电源和综测仪,将电源电压调为3.8V~4.2V ,电流≤2A。
待仪器启动后,依次按以下按键(SYSTEM CONFIG)—F5 —F2将Frequency 1设为900mhz,将ffset 1设为0dB.将Frequency 2设为1.80000GHZ. 将offset 2设为0dB—CALL SETUP —F1选择Active cell(GSM)—F7—F7 0将Cell power设为-80dBM—F8将Call Band设为EGSM—F9将Broadcast Chan 设为30—按下ContinouousAll.3 将仪器电源与射频线和金板连接起来,按下金板上的开机键。
待金板开机(5S)后。
在金板上拨打“111”此时仪器提示已连机,按下Measurement selection 选择Transmit power ,按下F8—F9将Traffic channel 设为“975”—F10将MS TX Lelel设为“5”查看综测仪屏幕屏幕Average的测试值稳定后记录下来—F9将Traffic channel设为“62”,查看综测仪屏幕屏幕Average 的测试值稳定后记录下来—F9将Traffic channel设为“124”,查看综测仪屏幕屏幕Average的测试值稳定后记录下来4 按下F8将 Traffic Band设为“DCS”F9将Traffic channel 设为“513”—F10将MS TX Lelel设为“0”查看综测仪屏幕屏幕Average的测试值稳定后记录下来—F9将Traffic channel设为“698”,查看综测仪屏幕屏幕Average的测试值稳定后记录下来—F9将Traffic channel设为“884”,查看综测仪屏幕屏幕Average的测试值稳定后记录下来5 对照金板上的数据,将刚记录下来的值减去金板上的值得出现损按下SYSTEM CONFIG—F5—F2将offset 1设为射频线的线损(如1.0Db)。
配电网中理论线损计算方法与降损措施的研究设计方案
配电网中理论线损计算方法及降损措施的研究设计方案1 配电网理论线损计算简介配电网理论线损计算是对电能在输送和分配过程中各元件产生的电能损耗进行计算及各类损耗所占比例,确定配电网线损的变化规律。
配电网线损是电力部门一项综合性的经济、技术指标,是国家考核电力部门的一项重要指标。
多年来,随着配电网理论线损计算理论、方法和技术的不断丰富,人们研究出各种不同的计算方法,计算精度达到较高水平。
但由于配电网结构的复杂性、参数多样性和资料不完善以及缺乏实时监控设备等因素,准确计算配电网理论线损比较困难,一直是个难题。
为解决这一难题,众多科研工作者从理论到实践不断深入研究配电网理论线损计算方法,希望研究出更加适合配电网理论线损计算的新方法,更加快速、准确地计算配电网理论线损,满足电力部门配电网线损的分析和管理需要。
1.1国外研究动态和趋势配电网理论线损计算方法从二十世纪三十年代就有国外学者开始研究,研究电能在配电网络传输的过程中产生的损耗量,分析各元件产生电能损耗的原理,建立数学模型。
随着计算机技术的快速发展,以计算机为辅助工具,加速各种计算方法的研究和发展,计算精度逐步提高,逐步应用于工程实际。
到二十世纪后期,各种配电网理论线损计算方法已经成熟,开始广泛应用于各级配电网理论线损计算实际工作中,取得了很好的效果。
近几年来,随着配电网系统的迅速发展,配电网络结构更加趋于复杂化,为配电网理论线损计算增加了难度;配电网自动化系统逐步应用,加强配电网的监控,各种数据采集变得容易,为配电网理论线损计算提供丰富的运行数据资料,正是由于以上两个方面,需要研究新的更加适合于目前配电网实际情况的理论线损计算方法,从而推动计算方法研究不断深入。
目前,国外发表的配电网理论线损计算方法的文献很多,其采用的计算方法和计算结果的精度也各有不同,综合起来主要有以下几种类型。
1.2传统的配电网理论线损计算方法传统的配电网理论线损计算方法,主要分为两类,一类是依据网络主要损耗元件的物理特征建立的各种等值模型算法;一类是根据馈线数据建立的各种统计模型。
金机日常校准操作指引
一、目的:本文档主要描述了整机测试金机的使用方法,并用来校准整机测试外部衰减。
因装备夹具中的射频电缆属于易损部件,在经过一段时间的磨损后,对于测试指标会产生一定的影响,所以终端装备夹具在使用一段时间后,必须要经过重新校准,以确保生产测试指标。
二、金机校准方法:(一)概述——使用条件射频衰减校准必须符合R&D或客户输入文件定义的标准。
以下任何一种情况必须使用金机重新校准。
·射频线缆的更换。
·射频仪器如综测仪的更换。
·夹具和屏蔽盒的更换。
·每班射频衰减校准主要测量综测仪—射频电缆—屏蔽盒—夹具—手机通路上的射频衰减值。
采用金机的校准方法,金机制作方法见附录。
(二)校准仪器主要需要以下仪器和附件射频线缆·整机测试系统·射频校准金机1个(三)金机使用校准流程金机值如下(示例)每个金机值都标明了整机测试工位各射频测试项参数值,如:校准误差以客户文件“金机测试标准”为依据调校。
校准步骤操作指引- 1、把金机放入测试台进行测试- 2、记录测试结果- 3、与金机比较算出差值- 4、重复步骤1、2、3两次,算出另两个差值。
- 5、算出三个差值的平均值- 6、将平均值补偿入测试系统- 7、检查差值- 如果测量出来的发射最大差值不超过2dB,且衰减补偿在正常范围之内,就认为装备和衰减补偿正确,否则进行再校准,重复步骤1、2、3、4、5、6再校准。
如果达不到上述要求,换一部金机验证。
- 8、将新衰减值填入测试程序属性页衰减补偿处。
校准判断:1、如果金机校准在误差范围之内,测试系统良好,可以生产。
2、如果金机的校准超出误差范围,则可以判断为测试系统问题,需要对测试装备检查、维护、分析。
三、注意事项金机的有效期为6个月,超过6个月要求采用新的金机进行校准。
使用过程中,发现金机失效,及时更换。
四、附录整机测试金机制作指导书方法一:单板测试获得金机值1.1 特点·操作简单·不需要额外的设备和电缆·不够准确·利用整机测试的射频指标值都在单板测试测量处测量的方法获得金机值1.2 制作准备已校准的单板测试系统射频指标稳定的单板1.3 制作方法- 1、记录整机测试需要测试的射频测试项- 2、对单板测试系统进行校准- 3、选取单板进行单板校准测试- 4、对单板进行综测记录整机测试需要的射频指标值- 5、重复进行9次单板测量,记录整机测试需要的射频指标值- 6、如果10次测试值MAX-MIN不大于2dB。
16451B手动操作步骤
16451B手动操作步骤16451B是电介质测量夹具,与四端对接口的阻抗分析仪(4294A)或LCR表(E4980A/4285A )配合使用。
它采用了平行极板技术,将被测材料夹在两电极间形成电容器,通过测试电容特性,计算出材料的介电常数和损耗因子。
测试方法主要分为两种:接触法(contact mode)和非接触法(Non‐contact mode)。
接触法是指电极和被测材料直接接触,可以采用16451B中的A/B/C/D四种电极,其中,C/D电极用于表面镀膜的材料测试。
非接触法是指电极和被测材料之间存在空气隙,采用A/B电极。
Contact mode:1.准备待测材料,保证材料的厚度均匀,电容在下图范围内:图1. Recommended Capacitance Range Using Electrode‐A图2. Recommended Capacitance Range Using Electrode‐B2.将16451B连接到仪器上,设置cable length补偿为1m。
(若用于4294A,则采用adapter setup,进行phase compensation)3.将测试项选为Cp‐D4.将选中的测试电极安装到16451B上,进行粗略调平a.逆时针旋转千分尺旋钮,将两个电极距离拉开b.用盖子盖住电极,保护表面c.松开顶部的螺丝(见下图),取下原来的Guarded/Guard电极图3. Screw Position to Attach Guarded/Guard Electroded.将要用的电极安装好,拧紧螺丝e.将16451B如下图放置,电极垂直图4. Vertical Position and Electrode Adjustment Screwsf.移走电极表面的盖子,旋转千分尺的小旋钮,使两个电极接触g.检查此时千分尺的读数是否小于0,若大于0,将电极分开,调整16451B底部的三个螺孔,直到满足两电极接触时,千分尺读数小于0h.按下图所示,观察两个电极间是否有间隙图5. Rough Adjustment Procedurei.若存在缝隙,逆时针调整底部距离缝隙最远的螺丝,然后重复步骤f,直到看不到缝隙。
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Q 系列所有 MTK 项目,所有贴片工厂校准工位。
使用要求:
每项目每单每天生产前必须按照以下操作步骤严格进行操作。
需要工具:
MTK_ATE_Tool_exe_V6.1212.0.rar 或更高版本;。标准射频(座)测试短线一 根。下载线一根。校准测试工位。
操作步骤:
一、校准金板的制作
1、样板准备 从每个工单测试 OK 的首件取两个主板,装上射频测试座,使用射频测试座或者 把射频短线直接焊接在主板馈点进行校准。 2、设置标准射频短线线损值 选取一个测试位,运行校准平台 MTK_atedemo,选择对应的校准文件和配置校 准平台,先进入 Configuration->CalSetting,如下图,
7、点击 Calibration Test,将金板放入夹具,使用金板进行线损计算,线损计算 成功后界面如下:
8、重启校准工具,重复以上第 5 步,核对线损是否有变化。之后将 System Calibration 开关打到 Off 状态,重新初始化系统即可以进行正常校准。
3G 金机数据设定,将金板的 对应功率值输入此栏,根据校 准需求,勾选对应的频段,不 需要校准的频段去掉勾选。
5、进入 Configuration-》LossTestSetting,CalSetting 查看记录默认线损值以跟线 损计算后得到的数值进行对比:
6、点击 Initial Calibration,对校准系统进行初始化:
记录此数值为金板的 GSM900 最大功率值
记录此数值为金板的 DCS1800 最大功率值
4、校准金板在使用过程中应防止被误用夹具校准,若被误校准,应重新按以上 方法制作。 至此,校准金板制作完成,此金板可用至该工单完结。
二、校准夹具线损计算
1、运行 MTK_atedemo,打开校准工具界面:
2、点 Report & System,设置选择好校准文件:
九部 Q 组校准金板制作 和校准夹具线损计算操作方法 20120710
使用目的:
为保证主板品质,确保主板经过射频校准测试后每片主板性能保持较高的一致 性,发布此操作文档以统一生产校准测试的操作方法。测试工位的线损必须被准 确计算,否则线损比实际大会导致校准出来主板的功率值偏低引起信号不好,线 损比实际偏小会导致校准出来的主板功率值偏高引起功放容易饱和工作降低寿 命引发售后投诉。
ห้องสมุดไป่ตู้
3、将校准工具界面右下角的 System Calibration 开关打到 On 的位置:
此处开关在 On 位置为线损计算模 式,off 为正常校准模式。
4、选择菜单 Configuration-》LossTestSetting,设定金板的功率值
2G 金机数据设定,将金板的对应功率 值输入此栏.根据校准需求,勾选对应的 频段,不需要校准的频段去掉勾选。校 准两频 GSM850 和 GSM900 功率值填 写一样的数值,DCS 和 PCS 功率值填 写一样的数值。
在 对 应 框 中 填 入 如 下 数 值 : GSM850 OUT=GSM850 INP=0.4 ; GSM OUT LOSS=GSN INP LOSS=0.5;DCS OUT LOSS=SCS INP LOSS=0.7;PCS OUT LOSS=PCS INP LOSS=0.8。这组线损值是一般标准射频(座)测试短线的线损 值。输入完成点击 Done。 3、使用射频测试座用标准射频短线或者直接焊接在馈点的射频线校准 运行校准平台,对两块主板使用标准射频(座)测试短线分别进行校准并分别保 存各自的校准 log。校准完成后,分别记录两块主板的以下数值并标识在主板上: GSM900 最大功率值 GSM PCL 5,DCS1800 最大功率值 DCS PCL 0,GSM850、 PCS1900 类同,如下图: