数电试验讲义2012版

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数字电子技术实验讲义

数字电子技术实验讲义

实验一示波器与数字电路实验箱的使用及门电路逻辑功能测试、变换(验证)一、实验目的:1、熟悉示波器及数字电路实验箱的使用2、验证门电路的逻辑功能3、掌握门电路的逻辑变换二、实验仪器及器材1、Vp—5225A—12、数字电路实验箱3、器件:74LS00(二输入与非门)、74LS02(或非门)、74LS86(异或门)说明:1)以上三个门电路中的V CC接电源电压,GND接地。

2)A、B为输入端,Y为输出端,指示灯亮为高电平,灯灭为低电平。

3)实验时,检查导线是否折断,方法:一端接电源,一端接指示灯。

三、实验内容:1、熟悉示波器各旋钮的功能作用并学会正确使用。

2、熟悉数字电路实验箱并正确使用。

3、时钟波形参数的测量1)测量脉冲波形的低电平和高电平。

(取f=1KHZ)2)测量脉冲的幅度(V OM),脉宽(T P),周期(T)。

(取f=1KHZ)3)用示波器调出频率f=2KHZ的波形图,并画出波形图。

4、门电路逻辑功能测试74LS00(二输入与非门)、74LS02(或非门)、74LS86(异或门)5、用与非门(74LS00)实现其它门电路的逻辑功能1)实现或门逻辑功能:写出转换表达式,画出电路图并验证功能。

2)实现异或门逻辑功能:写出转换表达式,画出电路图并验证功能四、数据记录及处理:1、脉冲波形参数的测量1)V H=?V L=?2)V OM=?T P=?T=?3)画出频率f=2KHZ的波形图2、门电路逻辑功能测试74LS00 与非门74LS02 或非门74LS86 异或门1)写出逻辑表达式的变换A+B=2)画出电路图3)功能测试4、用与非门74LS00实现异或门的逻辑功能1)写出逻辑表达式的变换A B=2)画出电路图3)功能测试五、注意事项:1、示波器的辉度不要太亮。

2、V/DIN衰减开关档应打得合适。

3、插入芯片时,应注意缺口相对,否则就错了。

4、接线时,注意检查电源、地线是否接正确。

六、思考题:在给定的器件中,自己选择一个器件并设计电路,使输入波形与输出波形反相,用示波器观察。

《数字电路》实验讲义

《数字电路》实验讲义
实验四寄存器与计数器
一、实验目的
1.掌握寄存器的工作原理、逻辑功能及应用;
2.掌握异步计数器的工作原理及输出波形;
3.掌握中规模集成电路计数器接成任意进制计数器的方法
二、实验设备及器件
1.SAC-DS数字逻辑实验箱一台;
⑶用一片74LS153和一片74LS00接成一位全加器
⑷设计一个有A、B、C三位代码输入的密码锁(假设密码是011),当输入密码正确时,锁被打开(Y1=1),如果密码不符,电路发出报警信号(Y2=1)。
以上四个小设计任做一个,多做不限。
实验三触发器及触发器之间的转换
一、实验目的
1.掌握D触发器和JK触发器的逻辑功能及触发方式;
输入
输出
A
B
C
D
Y
0
0
0
0
1
0
0
0
1
1
0
0
1
1
1
0
1
1
1
1
1
1
1
1
0
4.异或门逻辑功能的测试
⑴按图1-4接好电路。
⑵按表1-4的要求测试,将结果填入表1-4中。
输入
输出
A
B
Y
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
5.设计实验
⑴用一片74LS00实现Y = A+B的逻辑功能;
⑵用一片74LS86设计一个四位奇偶校验电路;
以上两个小设计必做一个,多做不限。
四、思考题
1.与非门一个输入端接连续脉冲,其余端是何状态时允许脉冲通过,是何状态时禁止脉冲通过?
2.为什么异或门又称为可控反相门?

(整理)数字电路实验讲义

(整理)数字电路实验讲义

数字电路实验讲义课题:实验一门电路逻辑功能及测试课型:验证性实验教学目标:熟悉门电路逻辑功能,熟悉数字电路实验箱及示波器使用方法重点:熟悉门电路逻辑功能。

难点:用与非门组成其它门电路教学手段、方法:演示及讲授实验仪器:1、示波器;2、实验用元器件74LS00 二输入端四与非门 2 片74LS20 四输入端双与非门 1 片74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS04 六反相器 1 片实验内容:1、测试门电路逻辑功能(1)选用双四输入与非门74LS20 一只,插入面包板(注意集成电路应摆正放平),按图1.1接线,输入端接S1~S4(实验箱左下角的逻辑电平开关的输出插口),输出端接实验箱上方的LED 电平指示二极管输入插口D1~D8 中的任意一个。

(2)将逻辑电平开关按表1.1 状态转换,测出输出逻辑状态值及电压值填表。

2、逻辑电路的逻辑关系(1)用74LS00 双输入四与非门电路,按图1.2、图1.3 接线,将输入输出逻辑关系分别填入表1.2,表1.3 中。

(2)写出两个电路的逻辑表达式。

3、利用与非门控制输出用一片74LS00 按图1.4 接线。

S 分别接高、低电平开关,用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。

4、用与非门组成其它门电路并测试验证。

(1)组成或非门:用一片二输入端四与非门组成或非门B+=,画出电路图,测试并填=AABY∙表1.4。

(2)组成异或门:①将异或门表达式转化为与非门表达式;②画出逻辑电路图;③测试并填表1.5。

5、异或门逻辑功能测试(1)选二输入四异或门电路74LS86,按图1.5 接线,输入端1、2、4、5 接电平开关输出插口,输出端A、B、Y 接电平显示发光二极管。

(2)将电平开关按表1.6 的状态转换,将结果填入表中。

6、逻辑门传输延迟时间的测量用六反相器74LS04 逻辑电路按图1.6 接线,输入200Hz 连续脉冲(实验箱脉冲源),将输入脉冲和输出脉冲分别接入双踪示波器Y1、Y2 轴,观察输入、输出相位差。

数字电路实验讲义2012

数字电路实验讲义2012
A3、A2、A1、A0、为8421BCD码输入端。
a、b、c、d、e、f、g:为译码输出端,输出为高电平1有效。
CD4511的内部有上拉电阻,在输入端与数码管笔段端接上限流电阻就可.
2、基本门电路逻辑功能的测试
(1)或非门逻辑功能的测试
①将或非门74LS27插入实验插座上。
②按图1─2接线,门的输入段3、4、5分别接逻辑开关K1、K2、K3的逻辑电平输出插孔,门的输出端6接电平指示器输入端L1,若发光二极管亮表示门的输出状态为“1”,若发光二极管不亮表示门的输出状态为“0”。门的7端接地,14端接+5V。
2、设计一个表决电路:三个输入A、B、C中有两个或两个以上为1时,输出为1,否则输出为0。
3、设计一个比较电路,能对两个两位二进制数A=A2A1,B=B2B1进行比较,当A=B时,输出函数G=1;当A>B时,输出函数M=1;当A<B时,输出函数N=1(提示:求出M、N之后,利用G+M+N=1求G)。
表4-1
输 入
输 出
S1
S2
S3
A2
A1
A0
Q0
Q1
Q2
Q3
Q4
Q5
Q6
Q7
0
Φ
Φ
Φ
Φ
Φ
Φ
1
1
Φ
Φ
Φ
1
0
0
0
0
0
1
0
0
0
0
1
1
0
0
0
1
0
1
0
0
0
1
1
1
0
0
1
0
0
1
0

数字电子技术实验讲义

数字电子技术实验讲义

预备实验门电路逻辑功能及测试一、实验目的1.熟悉门电路逻辑功能。

2.熟悉示波器使用方法。

二、实验仪器及材料双踪示波器74LS00 四2输入与非门 2片74LS20 二4输入与非门 1片74LS86 四2输入异或门 1片三、预习要求1.复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。

2.熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。

3.了解双踪示波器使用方法。

实验前先检查电源是否正常,然后选择实验用的集成电路,按自己的实验接线图接好连线,特别注意Vcc及地线不能接错。

先接好后经实验指导教师检查无误后可通电实验。

实验中改动接线须先断开电源,接好线后再通电实验。

1.测试门电路逻辑功能1)选用74LS20按图0-1接线输入端接S1-S4(电平开关输出插口),输出端接电平显示发光二极管(D1-D8任意一个)。

2)将电平开关按表0-1置位,分别测出电压及逻辑状态。

表0-12. 异或门逻辑功能测试1) 选74LS86按图0-2接线输入端1、2、4、5接电平开关,输出端A 、B 、Y 接电平显示发光二极管。

2) 将电平开关按表0-2置位,将结果填入表中。

表0-23.逻辑电路的逻辑关系1) 用74LS00按图 0-3,0-4接线,将输入输出逻辑关系分别填入表0-3,0-4中。

2) 写出上面两个电路逻辑表达式。

表0-3表0-4图0-2图 0-3图 0-44. 利用与非门控制输出用74LS00按图0-5接线,S 接任一电平开关用示波器观察S 对输出脉冲的控制作用。

5.用与非门组成其它门电路并测试验证1) 组成或非门:用一片四2输入与非门组成或非门,画出电路图,测试并填表0-5。

2) 组成异或门:将异或门表达式转化为与非门表达式后,画出逻辑电路图,测试并填表0-6。

表0-5五、 实验报告1. 按各步骤要求填表并画出逻辑图。

2.思考题1) 怎样判断门电路逻辑功能是否正常?2) 与非门的一个输入接连续脉冲,其余端什么状态时允许脉冲通过?什么状态时禁止脉冲通过? 3) 异或门又称可控反相门,为什么?表0-6图 0-5实验一TTL与非门主要参数测试一、实验目的掌握TTL与非门电路主要参数的意义及测试方法。

数电基础实验讲义

数电基础实验讲义

基础实验部分实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试一、实验目的1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。

2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。

二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱 1台2、万用表 1只3、元器件: 74LS00 74LS04 74LS55 74LS86 各一块导线若干三、实验内容1、测试74LS04(六非门)的逻辑功能将74LS04正确接入面包板,注意识别1脚位置(集成块正面放置且缺口向左,则左下角为1脚)重点讲解,按表1-1要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。

得表达式为AY=表1-1 74LS04逻辑功能测试表2、测试74LS00(四2输入端与非门)逻辑功能将74LS00正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-2要求输入高、低电平信号,测出相应的输出逻辑电平。

得表达式为BY∙=A表1-2 74LS00 逻辑功能测试表3、测试74LS55(二路四输入与或非门)逻辑功能将74LS55正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-3要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平,填入表中。

(表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据) 表1-3 74LS55部分逻辑功能测试表本器件的逻辑表达式应为:Y=EFGH ABCD ,与实侧值相比较,功能正确。

4、测试74LS86(四异或门)逻辑功能将74LS86正确接入面包板,注意识别1脚位置,按表1-4要求输入信号,测出相应的输出逻辑电平。

得表达式为Y=A⊕B表1-4 74LS86逻辑功能测试表四、实验结果分析(回答问题)若测试74LS55的全部数据,所列测试表应有256种输入取值组合。

用实验箱、万用表作一个实验示范,并强调测试方法及万用表的用法。

实验二集成逻辑门电路的参数测试一、实验目的掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。

进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。

二、实验仪器及设备1、数字逻辑实验箱 1台2、万用表 2只3、元器件:74LS20(T063)、 CC4012 各一块,2CK11 4只电阻及导线若干三、实验内容(简单实验步骤、实验数据及波形)1、TTL与非门74LS20静态参数测试导通电源电流I CCL和截止电源电流I CCH。

电子信息技术专业《数字电子技术实验讲义》

电子信息技术专业《数字电子技术实验讲义》

实验十一LSTTL与非门的参数测量一.实验目的了解TTL与非门参数的物理意义和测试方法二.电路介绍与非门是逻辑电路中应用最广的一种门电路,其输入输出之间满足逻A 。

A、B代表输入变量,Y代表输出变量。

了解与非门的辑关系Y=B参数和测量方法是十分必要的,在数字实验电路中,大都采用低功耗肖特基TTL电路(即LSTTL电路),与非门采用74LS00的二输入端四与非门,逻辑图及外引线排列见下图所示。

典型参数:t pd =9.5ns P D=2mw/每门三.实验内容与方法数字集成电路的性能,可以由它的参数来表示。

各种参数可以从产品手册中查到,也可以通过专门的仪器测得。

下面主要测量与非门的几个主要参数。

1.空载导通功耗P ON——静态工作、输出为低电平时的功耗,即电源电压V CC和导通电源电流I CCL的乘积。

测试电路见图11-1。

图11-1 P ON 测试图P ON=V CCL ╳I CCL = 5 I CCL2.输入短路电流I IS——任何一个输入端接地时,流经这个输入端的电流(其余输入端悬空或接高电平)。

测试电路见图11-2。

I IS = mA。

图11-2 I I S 测试图图11-3 I I H 测试图3.输入漏电流I IH——任何一个输入端接高电平时(其余端接地)的输入电流。

测试电路见图11-3。

I IH = μA。

4.输入关门电平V OFF及输出高电平V OH——当输出电压为额定输出高电平V OH的90% 时,相应的输入电平,称为输入关门电平V OFF 。

当输入端之中任何一个接低电平时的输出电平为输出高电平V OH。

测量电路见图11-4,方法是将电路在一输入端与地之间,接入0.8V 电压,其余输入端开路,输出接规定负载R L,测出V OH (R L= V OH/NI IH=3.2/(8╳50)=8KΩ)。

由0逐渐增大输入电压,当V0H下降至V OH的90%时,测得输入电压为V OFF 。

V OFF= (V)。

数字电子技术实验指导书(讲义)

数字电子技术实验指导书(讲义)

实验箱简介一、实验箱的组成及特点1.实验箱的供电实验箱的后方设有带保险丝管(0.5A)的220V单相交流三芯电源插座(配有三芯插头电源线一根)。

箱内设有一只降压变压器,供直流稳压电源。

2.两块大型(433 mm×323mm)单面散敷铜印刷线路板,正面丝印有清晰的各部件、元器件的图形、线条和字符;反面则是装接其相应的实际元器件。

该板上包含着以下各部分内容:(1)左下角装有带灯电源总开关一只。

(2)高性能双列直插式圆脚集成电路插座41只(其中40P 3只,28P 2只,24P,2只,20P 4只,16P 17只,14P 9只,8P 4只)。

(3)900多只高可靠的自锁紧式、防转、叠插式插座。

它们与集成电路插座、镀银针管座以及其它固定器件,线路等已在印制板面连接好。

正面板上有黑线条连接的地方,表示内部(反面)已接好。

采用高性弹性插件,这类插件,其插头与插座之间的导电接触面很大,接触电阻极其微小(接触电阻<Ω,使用寿命>10000次以上),而且插头之间可以叠插,从而可形成一个立体布线空间,使用起来极为方便。

(4)90多根镀银长(15mm)紫铜针管插座,供实验接插小型电位器、电阻、电容等分立元件之用(它们与相应的锁紧插座已在印刷面连通)。

(5)2只无译码LED数码管,其中“共阴”,“共阳”各一只。

¥八个显示段的管脚均已与相应的锁紧插座相连。

(6)6位十六进制七段译码器与LED数码显示器每一位译码器均采用可编程器件GAL设计而成,具有十六进制全译码功能。

显示器采用LED共阴极红色数码管(与译码器在反面已连接好),可显示四位BCD码十六进制的全译码代号:0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、A、B、C、D、E、F。

(7)4位BCD码十进制码拔码开关组每一位的显示窗指示出0~9中的一个十进制数字,在A、B、C、D四个输出插口处输出相对应的BCD 码。

每按一次“+”或“-”键,将顺序地进行加1计数或减1计数。

数电实验讲义

数电实验讲义

数字电子技术实验讲义实验一数字电子技术实验常用仪器的使用一、实验目的:1、熟悉数字逻辑实验台的使用。

2、熟悉示波器及数字万用表的使用。

二、实验内容及步骤:1、数字逻辑实验台的使用。

2、数字万用表在数字电子技术实验中的使用。

3、使用示波器观察数字信号。

三、实验仪器:1、数字万用表。

2、数字逻辑实验台。

3、示波器。

4、集成块74LS04。

五、实验报告要求:根据实验回答问题:1、数字量与模拟量的区别是什么?2、画出用波形图表示的数字信号“1”和“0”。

3、数字逻辑实验台上的逻辑电平是高电平点亮还是低电平点亮?实验二 基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的:1、掌握基本门电路逻辑功能的测试方法。

2、掌握基本门电路的逻辑功能。

二、实验原理:1、与非门(1)逻辑电路图 (2)逻辑表达式 B A F ∙= 2、或门(1)逻辑电路图 (2)逻辑表达式B A F +=3、异或门(1)逻辑电路图 (2)逻辑表达式B A F ⊕=三、实验内容及步骤:1、数字逻辑实验台的使用2、二输入端与非门74LS00的逻辑功能测试。

(1)填写真值表(a )(2)按逻辑电路图(一)接好电路,在下列情况下,用万用表测量悬空端和输出端的电平值填入表(b )。

(74LS00引脚排列图见附录)A B F0 0 0 1 1 0 1 1&A BF图≥1 F AB图(二)=1 F AB图(三)表(a ) b3、二输入端或门74LS32的逻辑功能测试。

(1)填写真值表(c )(2)按逻辑电路图(二)接好电路,在下列情况下用万用表测量悬空端和输出端的电平值填入表(d )。

(74LS32引脚排列图见附录)1、二输入端异或门74LS86的逻辑功能测试。

(1)填写真值表(e)(2)按逻辑电路图(三)接好电路,在下列情况下用万用表测量悬空端和输出端的电平值填入表(f )。

(74LS86引脚排列图见附录)A B F电位(V) 逻辑状态 电位(V) 逻辑状态 电位(V)逻辑状态0 1 1 0 0 0 1 1 0 1 1 A B F0 00 11 01 1A B F 电位(V) 逻辑状态 电位(V) 逻辑状态 电位(V) 逻辑状态 0 0 110 00 1 1 0 1 1 A B F0 00 110 11表(b ) 表(c)表(d)表(e)四、实验仪器:1、数字万用表。

数电设计实验讲义

数电设计实验讲义

设计性实验部分实验一简易数字控制电路一、实验任务和目的:1、实验任务设计并组装一数字控制电路。

计数器从0(10)开始计数,到100(10)时,显示灯(模拟受控设备)亮。

计数器继续计数,计数到300(10)时,显示灯暗,同时计数器清零。

接着再重复上述循环。

用七段数码管显示计数过程。

不显示有效数字以外的零。

2、实验目的(1)熟悉计数器、七段译码器和数码显示管的工作原理。

(2)自选集成电路组成小逻辑系统。

(3)了解使能端的作用。

(4)学习分析和排除故障。

二、实验预习:设计实验任务所要求实现的电路,其方框图见图1.1。

选择器件,画出安装图。

计数脉冲图1.1三、实验内容:组装电路,观测其功能是否满足实验任务的要求。

研究各使能端的作用。

分析和排除可能出现的故障。

2、说明各使能端的作用。

3、测试结果。

4、分析与排除故障的收获。

实验二简易数字计时电路一、实验任务和目的:1、实验任务设计并组装一简易的数字计时装置。

能显示“小时”(0~23时)、“分”(0~59分)和“秒”(0~59秒)。

小时、分、秒的十位的零均不予以显示。

2、实验目的(1)熟悉计数器(N进制)、七段译码器及数码显示管的工作原理。

(2)自选集成电路组成小逻辑系统。

(3)了解使能端的作用。

(4)学习分析和排除故障。

二、实验预习:按实验任务要求设计电路,其方框图见图2.1。

选择器件,画出安装图。

图2.1三、实验内容:组装电路,观测其功能是否满足实验任务的要求。

研究各使能端的作用。

分析和排除可能出现的故障。

2、说明各使能端的作用。

3、测试结果。

4、分析与排除故障的收获。

实验三电梯楼层显示电路一、实验任务和目的:1、实验任务设计并组装十层楼的电梯楼层显示电路。

2、实验目的(1)熟悉可逆计数器、译码器和数码显示管的工作原理。

(2)学习自选集成电路设计和组装小逻辑系统。

(3)了解使能端的作用。

(4)学习分析和排除故障。

二、实验预习:设计十层电梯楼层显示电路。

其方框图如图3.1所示。

实验指导书--2012(夏玉勤)

实验指导书--2012(夏玉勤)
(2)逻辑功能测试:按表4-4改变输入电平,验证其逻辑功能。
表4-4
R
S
Qn
Qn+1
逻辑功能
1
1
1
1
1
0
1
0
1
1
0
0
0
1
1
0
1
0
0
0
1
0
0
0
3. 集成JK触发器74LS112逻辑功能测试
(1) 异步置位及复位功能的测试
(2)图中A、B、C接电平开关,Y1、Y2接发光二极管电平显示。
(3)按表2-1要求,改变A、B、C的状态填表并写出Y1、Y2逻辑表达式。
(4)将运算结果与实验比较。
表2-1
输入
输出
A
B
C
Y1
Y2
0
0
0
0
0
1
0
1
0
0
1
1
1
0
0
1
0
1
1
1
0
1
1
1
2.测试用异或(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。
输入接逻辑开关,输出接发光二极管,验证其逻辑功能。(自己设计电路)
五、实验报告要求
1.整理实验结果,填入相应表格中,写出逻辑表达式,并分析各电路的逻辑功能。
2.总结用实验来分析组合逻辑电路功能的方法。
3.自行设计表格并整理实验结果。
实验三
一、实验目的
1.掌握中规模集成电路译码器的工作原理及逻辑功能
2.学习译码器的灵活应用
基本RS触发器。也可以用两个“或非门”组成,此时为高电平触发有效。
表4-1
图4-1基本RS触发器

《数字电子技术实验》讲义课件

《数字电子技术实验》讲义课件

实验一 门电路逻辑功能测试及简单设计一、实验目的1.熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用;2.掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法;3.了解门电路的电压传输特性的测试方法;4.掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能;5.掌握三态门的逻辑功能。

6.掌握利用门电路设计数字电路的方法。

二、预习要求1.了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。

2.熟悉各测试电路,了解测试原理及测试方法。

3.熟悉74LS00、74LS02、74LS86、74LS125和CC4011的外引线排列。

4.画实验电路和实验数据表格。

三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。

(1)输出高电平OH V :输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。

空载时,OH V 必须大于标准高电平(V V SH 4.2=),接有拉电流负载时,OH V 将下降。

测试OH V 的电路如图1.1所示。

(2)输出低电平OL V : 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。

空载时,OL V 必须低于标准电平(V V SL 4.0=),接有灌电流负载时,OL V 将上升。

测试OL V 的电路如图1.2所示。

图1.1 V OH 的测试电路 图1.2 V OL 的测试电路(3)输入短路电流IS I :输入短路电流IS I 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流。

前级输出低电平时,后级门的IS I 就是前级的灌电流负载。

一般IS I <1.6mA 。

测试IS I 的电路见图1.3。

(4)扇出系数N :扇出系数N 是指能驱动同类门电路的数目,用以衡量带负载的能力。

图1.4所示电路能测试输出为低电平时,最大允许负载电流OL I ,然后求得ISOL I I N 。

2012.3修改数电实验指导书

2012.3修改数电实验指导书

《数字电子技术》实验报告班级姓名学号指导教师实验一TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1.掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2.掌握TTL器件的使用规则3.进一步熟悉数字电路实验台的结构,基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用4输入双与非门74LS20,即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门,每个与非门有四个输入端。

其逻辑符号及引脚排列如图1-1(a)、(b)、(c)所示。

(a)(b)(c)原电子工业部标准(SJ)国家标准(GB)74LS20引脚排列逻辑符号逻辑符号图1-1 74LS20逻辑符号及引脚排列1.与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能:当输入端有一个或一个以上是低电平时,输出端为高电平;只有当输入端全部为高电平时,输出端才是低电平(即由“0”得“1”,全“1”得“0”。

)其逻辑表达式为Y=AB…。

2.TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流I CCL和高电平输出电源电流I CCH。

与非门处于不同工作状态,电源提供的电流是不同的。

I CCL是指所有输入端悬空,输出端空载时,电源提供器件的电流。

I CCH是指输出端空载,每个门各有一个以上的输入端接地,电源提供给器件的电流。

通常I CCL>I CCH,它们的大小标志着器件静态功耗的大小。

器件的最大功耗为P CCL=V CC.I CCL。

手册中提供的电源电流和功耗电量值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。

I CCL和I CCH测试电路如图1-2(a)、(b)所示。

[注意]:TTL电路对电源电压要求较严,电源电压V CC只允许在+5V±10%的范围内工作,超过5.5V将损坏器件;低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a ) (b ) (c ) (d ) 图1-2 TTL 与非门静参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iHI iL 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流值。

数电实验讲义 (2)

数电实验讲义 (2)

数字电子技术实验讲义万用表及实验箱使用一、万用表使用重点讲解:1、电压和电阻测量2、“HOLD”数据保持按钮3、自动关闭功能4、用完后关闭电源二、示波器的使用由学生阅读示波器使用手册完成1、校准和选择探头(P)2、观察输入信号并调出稳定波形3、精确测量输入信号的幅度、周期和频率三、实验箱的构成1、电源开关2、电源输出:要求测量数据3、数据开关:可输出高低电平。

要求测量数据。

4、逻辑开关:可输出单次脉冲。

要求测量数据。

5、元件区:介绍集成块引脚识别、判断集成块是否插好。

6、电平指示:7、数码显示8、拨码开关:9、导线:要求判断通断四、使用注意事项1、导线插拨方法2、接线和更改线路一定要关闭电源3、注意观察电源指示灯,如接通电源时指示灯变暗,说明接线有短路,应关闭电源实验课的目的是培养学生的电子电路实验研究能力,培养学生理论联系实际的能力。

使学生能根据实验结果,利用所学理论,通过分析找出内在联系。

从而对电路参数进行调整,使之符合性能要求。

在实验中培养1.正确使用常用电子仪器。

2.3.4.5.6.7.能独立写出严谨的、有理论分析的、实事求是的、文理通顺、字迹端正的实验报为了顺利完成实验任务,确保人身、设备安全,培养严谨、踏实、实事求是的科学作风和爱护国家财产的优秀品质,特制1.1.1 认真阅读实验指导书,分析、掌握实验电路的工作原理,并进行必要的估算。

1.21.31.42.使用仪器、设备前必须了解其性能、操作方法及注意事项,在使用时应严格遵守。

3.实验时接线要认真,相互仔细检查,确信无误才能接通电源。

初学或没有把握时应经指导教师审查同意后才能接通电源。

4.实验时应注意观察,若发现有破坏性异常现象(例如有元件冒烟、发烫或有异味),应立即关断电源,保持现场,报告指导教师。

找出原因、排除故障并经指导教师同意才能再继续实验。

如果发生事故(例如元件或设备损坏)应主动填写实验事故报告单,服从实验室和指导教师对事故的处理决定(包括经济赔偿)5.6.实验过程中应仔细观察实验现象,认真记录实验结果(数据、波形及其现象)。

数电实验讲义

数电实验讲义

数电实验讲义数字电子技术基础一实验设备认识及门电路功能测试一、目的:1、熟悉万用表及电子技术综合实验平台的使用方法;2、掌握门电路逻辑功能测试方法;3、了解TTL器件和CMOS器件的使用注意事项。

二、实验原理门电路的逻辑功能。

三、实验设备与器件1、电子技术综合实验平台一台2、万用表一块3、器件(1) 74LS02 一片(四二输入或非门)(2)74HC86 一片(四二输入异或门)(3) 74LS03 一片(四二输入与非门(OC))(4)74LS00 一片(四二输入与非门)四、实验内容和步骤1、测试74LS02和74HC86的逻辑功能。

注意CMOS电路的多余输入端不得悬空,应按需要接成相应的高低电平。

表中VO为不加负载时的电压,即开路输出电压。

表4-1-12.OC门上拉电阻计算及逻辑功能测试2.1 OC门上拉电阻的计算OC门输出端可以并联连接,即OC门可以实现“线与”逻辑,但必须接一个合适的上拉电阻RL,计算方法如下:RL(max)VCC VOLVCC VOHRL(mi nnIOH mIIHILM m IIL式中:m ― 负载门总输入端数n ― OC门并联的个数m ― 负载门个数IOH ― OC门输出管截止时的漏电流(对于74LS03按IOH=50 A计算) ILM ― OC门输出管导通时允许的最大灌电流(按VOL≤0.3V,ILM≤7.8mA估算) IIH ― 负载门每个输入端的高电平输入电流(对于74LS00按IIH=0.01 A) IIL ― 每个负载门的低电平输入电流(对于74LS00按IIL=-0.25mA估算) VCC ― 电源电压(5V) VOH ― 输出高电平(按3V估算) VOL ― 输出低电平(按0.3V估算)图4-1-1 2.2 OC门“线与”应用将各OC门输入端A、B和C分别接逻辑开关;Z、Y1和Y2分别接LED指示灯,连接电路图如图4-1-1所示。

当输入端A、B和C取不同值时,观察Z、Y1和Y2的变化情况,填入表4-1-2中。

数字电路实验(2)2012

数字电路实验(2)2012
哈尔滨工程大学
电子技术基础实验(二)
实验二 组合逻辑电路的设计与测试
信通学院数字电子技术课程组 2012.10
课程介绍
本课程共16学时,此为本学期第2次实验
1
2 3
集成门电路的逻辑功能及应用 组合逻辑电路的设计与测试 时序逻辑电路的设计与测试 综合逻辑电路的设计与测试
4
实验目的
掌握组合逻辑电路的设计方法及调试方法 熟练掌握常用MSI组合逻辑芯片的功能及使用 方法 熟悉PLD实验箱的结构和使用及Quartus II软 件的基本操作
实验内容
参见《数字电子技术实践教程》第138页 10. 10. 用硬件描述语言设计组合逻辑电路
从上述9个设计选题中选择一个,用VHDL或Verilog HDL完成选题的逻辑设计
完成对逻辑设计的波形仿真 将设计下载到实验箱并进行硬件功能测试 难度等级与所选题目一致
实验内容
参见《数字电子技术实践教程》第137页 9. 9. 汽车转向灯控制器(难度等级1.0)
有3个灯光控制开关:左转开关、右转开关、应急开关 控制左右的仪表灯、前灯、后灯(详见表6.21) 用最少的门电路完成设计,并进行波形仿真、下载
要求
3个输入变量的状态用四个开关控制 用左右两组红黄绿彩灯作为汽车的左右两组仪表灯、 前灯和后灯 灯闪烁频率为1Hz,且亮、灭时间相同
要求
输入变量分别用5个开关控制 输出分别用一组红黄绿三个发光二极管显示
实验内容
参见《数字电子技术实践教程》第136页 5. 5. 血型检测器(难度等级0.9)
设计一个判断输血者和受血者的血型是否匹配的血型 检测器 完成对逻辑设计的波形仿真 将设计下载到实验箱并进行硬件功能测试

《数字电子技术实验》讲义

《数字电子技术实验》讲义

实验一 门电路逻辑功能测试及简单设计一、实验目的1.熟悉数字万用表、示波器和数字电路基础实验箱的使用;2.掌握TTL 和CMOS 与门主要参数的测试方法;3.了解门电路的电压传输特性的测试方法;4.掌握74LS00与非门、74LS02或非门、74LS86异或门、74LS125三态门和CC4011门电路的逻辑功能;5.掌握三态门的逻辑功能。

6.掌握利用门电路设计数字电路的方法。

二、预习要求1.了解TTL 和CMOS 与非门主要参数的定义和意义。

2.熟悉各测试电路,了解测试原理及测试方法。

3.熟悉74LS00、74LS02、74LS86、74LS125和CC4011的外引线排列。

4.画实验电路和实验数据表格。

三、实验原理与参考电路1、TTL 与非门的主要参数TTL 与非门具有较高的工作速度、较强的抗干扰能力、较大的输出幅度和负载能力等优点烟而得到了广泛的应用。

(1)输出高电平OH V :输出高电平是指与非门有一个以上输入端接地或接低电平时的输出电平值。

空载时,OH V 必须大于标准高电平(V V SH 4.2=),接有拉电流负载时,OH V 将下降。

测试OH V 的电路如图1.1所示。

(2)输出低电平OL V : 输出低电平是指与非门的所有输入端都接高电平时的输出电平值。

空载时,OL V 必须低于标准电平(V V SL 4.0=),接有灌电流负载时,OL V 将上升。

测试OL V 的电路如图1.2所示。

图1.1 V OH 的测试电路 图1.2 V OL 的测试电路(3)输入短路电流IS I :输入短路电流IS I 是指被测输入端接地,其余输入端悬空时,由被测输入端流出的电流。

前级输出低电平时,后级门的IS I 就是前级的灌电流负载。

一般IS I <1.6mA 。

测试IS I 的电路见图1.3。

(4)扇出系数N :扇出系数N 是指能驱动同类门电路的数目,用以衡量带负载的能力。

图1.4所示电路能测试输出为低电平时,最大允许负载电流OL I ,然后求得ISOL I I N 。

数字逻辑电路实习讲义

数字逻辑电路实习讲义

实验一 智力竞赛抢答装置一、实验目的1、学习数字电路中D 触发器、分频电路、多谐振荡器、CP 时钟脉冲源等 单元电路的综合运用。

2、熟悉智力竞赛抢赛器的工作原理。

3、了解简单数字系统实验、调试及故障排除方法。

二、实验原理图1-1为供四人用的智力竞赛抢答装置线路,用以判断抢答优先权。

图1-1智力竞赛抢答装置原理图图中F 1为四D 触发器74LS175,它具有公共置0端和公共CP 端,引脚排列见附录;F 2为双4输入与非门74LS20;F 3是由74LS00组成的多谐振荡器;F 4是由74LS74组成的四分频电路,F 3、F 4组成抢答电路中的CP 时钟脉冲源,抢答开始时,由主持人清除信号,按下复位开关S ,74LS175的输出Q 1~Q 4全为0,所有发光二极管LED 均熄灭,当主持人宣布“抢答开始”后,首先作出判断的参赛者立即按下开关,对应的发光二极管点亮,同时,通过与非门F 2送出信号锁住其余三个抢答者的电路,不再接受其它信号,直到主持人再次清除信号为止。

三、实验设备与器件1、+5V直流电源2、逻辑电平开关3、逻辑电平显示器4、双踪示波器5、数字频率计6、直流数字电压表7、74LS175、74LS20、74LS74、74LS00四、实验内容1、测试各触发器及各逻辑门的逻辑功能。

试测方法参照实验二及实验九有关内容,判断器件的好坏。

2、按图1-1接线,抢答器五个开关接实验装置上的逻辑开关、发光二极管接逻辑电平显示器。

3、断开抢答器电路中CP脉冲源电路,单独对多谐振荡器F3及分频器F4进行调试,调整多谐振荡器10K电位器,使其输出脉冲频率约4KHz,观察F3及F4输出波形及测试其频率(参照实验十三有关内容)。

4、测试抢答器电路功能接通+5电源,CP端接实验装置上连续脉冲源,取重复频率约1KHz。

(1)抢答开始前,开关K1、K2、K3、K4均置“0”,准备抢答,将开关S置“0”,发光二极管全熄灭,再将S置“1”。

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闽江学院电子系电子教研室目录实验一基本门电路的逻辑功能测试 (1)实验二组合逻辑电路的设计与测试 (12)实验三译码器及其应用 (18)实验四触发器及其应用 (24)实验五计数器及其应用 (29)实验六555定时器及其应用 (34)实验七设计性实验 (41)附录常用芯片引脚 (42)实验一 基本门电路的逻辑功能测试一、实验目的1、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。

2、熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。

3、了解测试的方法与测试的原理。

4、掌握TTL 集电极开路门(OC 门)的逻辑功能及应用。

5、掌握TTL 三态输出门(3S 门)的逻辑功能及应用。

6、熟练掌握multisim 仿真测试。

二、实验原理1、 验中用到的基本门电路的符号为:图1-1与门 图1-2或门 图1-3非门图1-4与非门 图1-5或非门 图1-6异或门在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平,(即实验箱上面的拨动开关)然后使用逻辑电平显示单元(实验箱上部的LED )显示其逻辑功能。

2、数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL 电路,由于输出级采用了推拉式输出电路,无论输出是高电平还是低电平,输出阻抗都很低。

因此,不允许将它们的输出端并接在一起使用,而集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL 门电路,它们允许把输出端直接并接在一起使用,也就是说,它们都具有“线与”的功能。

(1)、TTL 集电极开路门(OC 门)本实验所用OC 门型号为2输入四与非门74LS03,引脚排列见附录。

工作时,输出端必须通过一只外接电阻L R 和电源Ec 相连接,以保证输出电平符合电路要求。

OC 门的应用主要有下述特点:电路的“线与”特性方便的完成某些特定的逻辑功能。

图1-7所示,将两个OC 门输出端直接并接在一起,则它们的输出:21212121B B A A B B A A F F F B A +=∙=∙=图1-7 OC 与非门“线与”电路即把两个(或两个以上)OC 与非门“线与”可完成“与或非”的逻辑功能。

(2)、TTL 三态输出门(3S 门)TTL 三态输出门是一种特殊的门电路,它与普通的TTL 门电路结构不同,它的输出端除了通常的高电平、低电平两种状态外(这两种状态均为低阻状态),还有第三种输出状态——高阻态,处于高阻态时,电路与负载之间相当于开路。

三态输出门按逻辑功能及控制方式来分有各种不同类型,本实验所用三态门的型号是74LS125三态输出四总线缓冲器,图1-8是三态输出四总线缓冲器的逻辑符号,它有一个控制端(又称为禁止端或使能端)E ,E =0为正常工作状态,实现Y=A 的逻辑功能;E =1为禁止状态,输出Y 是高阻态。

这种在控制端加低电平电路才能正常工作的方式称低电平使能。

74LS125的引脚排列见附录。

(a) (b)图1-8 三态四总线缓冲器逻辑符号右表为74LS125的功能表三态电路主要用途之一是实现总线传输,即用一个传输通道(称总线),以选通方式传送多路信息。

使用时,要求只有需要传输信息的三态控制端处于使能态(E =0)其余各门皆处于禁止状态(E =1)。

由于三态门输出电路结构与普通TTL 电路相同,显然,若同时有两个或两个以上三态门的控制端处于使能态,将出现与普通TTL 门“线与”运用时同样的问题,因而是绝对不允许的。

三、实验设备与器件1、数字逻辑电路实验箱。

2、数字逻辑电路实验箱扩展板。

3、双踪示波器,数字万用表。

4、相应74LS 系列芯片若干。

四、实验内容1、测试TTL 门电路的逻辑功能:测试74LS00(与非门)的逻辑功能。

测试74LS03(与非门)的逻辑功能。

2、集电极开路门的应用 用OC 门74LS03实现FE CD B A F++=,实验时输入变量允许用原变量和反变量,外接负载电阻R L 自取合适的值(使用multisim 完成电阻R L 的选择,然后硬件验证其可信度)。

3、三态输出门(1)、测试74LS125三态输出门的逻辑功能:将数字逻辑电路实验箱扩展板插在实验箱相应位置,并固定好,找一个14PIN 的插座插上芯片74LS125,并在14PIN 插座的第7脚接上实验箱的地(GND ),第14脚接上电源(VCC ),三态门输入端接逻辑开关,控制端接单次脉冲源,输出接发光二极管(逻辑电平显示)。

逐个测试集成块中四个门的逻辑功能,记入表1-1中。

表1-174LS125功能真值表(2)、三态输出门的应用将四个三态缓冲器按图1-9接线,输入端按图示加输入信号,控制端接逻辑开关,输出端接LED ,先使四个三态门的控制端均为高电平“1”,即处于禁止状态。

注意,应先使工作的三态门转换为禁止状态,再让另一个门开始传递数据。

记录实验结果。

图1-9 用74LS125实现总线传输实验电路五、实验步骤1、将数字逻辑电路实验箱扩展板固定到主电路板上。

2、在扩展板上插上要测试的芯片,注意管脚数数与扩展板上所标数对应。

芯片首先要接电源和地线(在主电路板上留有相应的插孔)。

3、按照芯片的管脚分布图接线(注意高低电平的输入和高低电平的显示)。

4、芯片的管脚分配见附录。

六、实验报告要求1.画好各门电路的真值表表格,将实验结果填写到表中。

2.根据实验结果,写出各逻辑门逻辑表达式,并判断逻辑门的好坏。

3. 画出实验电路图,并标明有关外接元件值。

4. 整理分析实验结果,总结集电极开路门和三态输出门的优缺点。

5. 思考:在使用总线传输时,总线上能不能同时接有OC门与三态输出门?为什么?附录一:实验报告参考格式下面的内容是预习报告和实验报告的格式,实验前务必完成实验目的、实验仪器、实验原理三大部分。

实验项目:实验目的:实验仪器:实验原理:1 、画出Y=AB ,Y=A+B,Y=A '的逻辑符号与真值表。

2、写出右边逻辑符号的真值表3、用multim 测试如下芯片的功能,填入下表格4、用74LS00实现函数5、用74LS03与74LS00实现函数2121B B A A F+=,要求先得出原理公式,并且画出电路图,其中的逻辑符号用国际通用符号。

6、用74LS00与74LS03实现函数F E CD B A F '++'=,画出电路图,用国际通用符号。

7、用74LS125实现总线传输,电路如下图,算出图中限流电阻选取范围?已知发光LED 的正向工作电压为2V ,电流范围为5mA~15mA 。

8、用multisim10验证3、4、5、6、7的结果,上实验课时带上电子版的仿真文件,备在电脑上检查。

实验内容:见讲义第四部分内容数据记录与处理(一)、画出实际连接图(必须和实际一致),测出原理中3的表格内容,把实际实际值填入下表,分析结果。

(1)实际连接图如右图:(根据实验具体情况画出,图中要标名元件值)(2)填表(3)分析:此结果与仿真的区别,以及是否达到预想目标,如果没达到,分析原因,并提出改进方案。

数据记录与处理(二)、结构参考数据记录(一).数据记录与处理(三)、结构参考数据记录(一).实验注意事项:思考题:1、总结集电极开路门和三态输出门的优缺点2、在使用总线传输时,总线上能不能同时接有OC门与三态输出门?为什么?附录二:用multisim测试74LS03逻辑功能。

.第一步:建立一个空白文档,命名为T_74LS03,并保存。

见下图保存后,左边的Circuit1将变化为T_74LS03,并且菜单项由Circuit1-Multisim-[Circuit1]变成T_74LS03-Multisim-[T_74LS03];含义是当前工程名为T_74LS03,工程中有一个名为T_74LS03的文件。

如下图第二步:在文件T_74LS03平台上,画出模拟实物图。

如下图所示第三步:通过空格键与B键控制开关通断。

观察输出灯(或者电压表)的情况与功能真值表是否吻合。

手册上的功能真值表如下通过仿真验证发现,与真值表中的功能不一致,是什么原因呢?那就要看看芯片的参数了,双击芯片74LS03N,得到下图。

从下图功能描述中可知,该门电路是OC门,因此需要加上拉电阻。

上拉电阻选取多少,发光LED才会亮呢?那就要先看LED的参数了,双击该参数就可以查看。

为了使LED发光,必须使电流超过5mA, 因此可以求出最大电阻为。

(5-1.66)V/5mA=668Ω正确的电路图如下:通过验证,符合真值表。

(1):74LS03属于TTL器件,点击下图中工具栏中的TTL按键,说明:即出现下图(2):4.7K电阻(resistor),点击下图工具栏中标有电阻符号的快捷键。

出现下图,选择相应器件即可。

当需要改变电阻的阻值时,双击该电阻,修改相应参数即可。

(3)高低电平选择(power)。

首先查手册,得到74LS03的输入高电平范围,然后选择合适的高电平。

通过手册可知,74LS03供电电源为4.75~5.25V,输入高电平最低为2V,输入低电平最高为0.8V。

因此选择输入高低电平分别为5V与0V是满足要求的。

通过开关来控制5V直流电源的获取高低电平。

按下电源快捷键,选择如下图的电源。

(4):开关的选择(switch)。

点击标有电阻符号(basic)的快捷键,选择如下单刀双掷开关。

(5):测试探针的选取。

点击显示器件按键,然后选择需要颜色的探针即可。

(6)发光LED灯的选取。

点击二极管按键,选取相应颜色的LED。

注意双击选取的LED,可以查看发光LED的导通电压以及发光电流(这个很重要)。

实验二组合逻辑电路的设计与测试一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的分析与设计方法。

2.加深对基本门电路使用的理解。

3.熟练掌握multisim仿真测试。

二、实验原理组合逻辑电路分析是根据给定的逻辑电路图分析说明逻辑功能。

组合逻辑电路设计是根据逻辑功能设计出实现电路。

1. 组合电路是最常用的逻辑电路,可以用一些常用的门电路来组合完成具有其他功能的门A 得知,可以用两个非门和一个或非门组合电路。

例如,根据与门的逻辑表达式Z= AB =B成一个与门,还可以组合成更复杂的逻辑关系。

2. 分析组合逻辑电路的一般步骤是:(1)由逻辑图写出各输出端的逻辑表达式;(2)化简和变换各逻辑表达式;(3)列出真值表;(4)根据真值表和逻辑表达式对逻辑电路进行分析,最后确定其功能。

3. 设计组合逻辑电路的一般步骤与上面相反,是:(1)根据任务的要求,列出真值表;(2)用卡诺图或代数化简法求出最简的逻辑表达式;(3)根据表达式,画出逻辑电路图,用标准器件构成电路;(4)最后,用实验来验证设计的正确性。

4. 组合逻辑电路的设计举例(1) 用“与非门”设计一个表决电路。

当四个输入端中有三个或四个“1”时,输出端才为“1”。

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