如何在STM32中得到最佳的ADC精度

STM32的ADC设置步骤

STM32的ADC设置步骤STM32的ADC(Analog-to-Digital Converter)是一种用于将模拟信号转换为数字信号的外设。

在使用STM32的ADC之前，需要进行一系列的设置和配置。

以下是STM32的ADC设置步骤的详细说明：1.硬件连接：首先，将模拟信号连接到STM32的ADC引脚。

具体连接方式取决于所使用的STM32系列和芯片型号，可以参考芯片的数据手册。

2.时钟设置：ADC外设的时钟源需要配置和使能。

首先，选择一个适合的时钟源，通常使用主时钟源或外部时钟源。

然后，配置ADC时钟分频器，以确保时钟频率适合ADC的要求。

最后，使能ADC时钟。

3.ADC基本设置：完成时钟设置后，可以开始进行ADC的基本配置，包括设置ADC模式、采样时间、分辨率等。

-ADC模式：选择一种适合应用场景的ADC模式，常见的有单次转换模式和连续转换模式，前者适用于一次性转换，后者适用于连续转换。

-采样时间：根据输入信号的特性和采样速率，选择合适的采样时间。

采样时间越长，精度越高，但转换速度会降低。

-分辨率：设定ADC的分辨率，一般有8位、10位、12位等选项。

分辨率越高，转换精度越高，但转换时间会增加。

4.通道选择：在开始进行转换之前，需要选择要转换的ADC通道。

STM32的不同型号有不同的ADC通道数量和配置，可以通过相关寄存器设置选择。

参考芯片的数据手册，确定要使用的ADC通道。

5.触发源设置：可以通过外部触发源或软件触发来启动ADC转换。

外部触发源通常为其他硬件中断或定时器，配置相关的寄存器使能外部或软件触发转换。

6.DMA设置：如果需要使用DMA(Direct Memory Access)来传输ADC转换结果，需要进行DMA的相关设置。

首先，使能DMA。

然后配置DMA通道和传输方向。

最后，启动DMA传输。

7.中断设置：8.校准：在进行转换之前，需要进行ADC的校准。

校准过程会自动由硬件完成，可以通过设定寄存器使能自动校准。

ADC精度分析

AN2834应用笔记如何在STM32F10xxx上得到最佳的ADC精度前言STM32F10xxx微控制器产品系列，内置最多3个先进的12位模拟/数字转换模块(ADC)，转换时间最快为1μs，这个ADC模块还具有自校验功能，能够在环境条件变化时提高转换精度。

在需要模拟/数字转换的应用中，ADC的精度影响到整个系统的质量和效率。

为了能够达到应有的精度，用户需要了解ADC误差是如何产生的和影响它的参数。

转换精度不是仅仅依赖于ADC模块的性能和功能，它与该模块周边应用环境的设计密切相关。

本文旨在帮助用户了解ADC误差的产生，以及如何提高ADC的精度，包含以下2个部分：● 介绍了与ADC设计相关的，诸如外部硬件设计参数，和不同类型的ADC误差来源。

● 提出一些设计上的建议，和如何在硬件方面减小误差的方法。

译注：本译文的英文版下载地址为：/stonline/products/literature/an/15067.pdf目录如何在STM32F10xxx上得到最佳的ADC精度目录1ADC误差的种类31.1ADC模块自身相关的误差31.1.1偏移误差31.1.2增益误差41.1.3微分线性误差51.1.4积分线性误差61.1.5总未调整误差61.2与环境相关的ADC误差71.2.1电源噪声71.2.2电源稳压71.2.3模拟输入信号的噪声71.2.4ADC的动态范围与最大输入信号幅度严重不匹配71.2.5模拟信号源阻抗的影响81.2.6信号源的容抗与PCB分布电容的影响81.2.7注入电流的影响91.2.8温度的影响91.2.9I/O引脚间的串扰91.2.10EMI导致的噪声 10 2如何得到最佳的ADC精度 112.1减小与ADC模块相关的ADC误差的建议 112.2如何减小与外部环境相关的ADC误差 112.2.1减小电源噪声 112.2.2电源稳压的建议 122.2.3消除模拟输入信号的噪声 122.2.4将最大的信号幅度与ADC动态范围匹配 132.2.5模拟信号源的阻抗计算 142.2.6信号源频率条件与源电容和分布电容的关系 142.2.7温度效应补偿 152.2.8注入电流最小化 152.2.9减小I/O脚串扰 152.2.10降低EMI导致的噪声 162.2.11PCB的设计建议 162.2.12元器件的摆放与布线 18 3结论191 ADC误差的种类1.1 ADC模块自身相关的误差在STM32F10xxx的数据手册中，给出了不同类型的ADC精度误差数值。

48脚STM32内部基准电压校准ADC的一些心得记录

48脚STM32内部基准电压校准ADC的一些心得记录在进行STM32内部基准电压校准ADC的过程中，我积累了一些心得和经验。

在此记录下来，分享给大家。

首先，基准电压是ADC精度的关键，因此校准过程十分重要。

基准电压在STM32系列芯片中默认为3V，但实际上可能存在差异。

因此，我们需要通过校准过程来提高ADC的测量精度。

校准前，我们需要做一些准备工作。

首先，确定使用的电压参考源，常用的有外部参考电压和内部基准电压两种。

相比于外部参考电压，内部基准电压的供电更加稳定和可靠。

接下来，我们需要配置ADC的工作模式和精度。

根据实际应用情况，选择合适的采样速率和转换模式。

在校准过程中，一般选择单次转换模式。

校准的关键在于获取两组参考电压值：理论值和测量值。

理论值是指校准前，我们已知的基准电压值。

测量值是指通过ADC测量得到的实际电压值。

首先，我们需要获取理论值。

根据STM32芯片的技术手册，可以查找到基准电压的精确数值。

然后，我们需要通过参考电压源提供一个已知电压，并将其连接到芯片的ADC通道上。

接下来，我们需要获取测量值。

通过ADC测量参考电压源的输出电压，并将结果保存在寄存器中。

在单次转换模式下，可以直接通过读取ADC_DR寄存器来获取测量值。

获取了理论值和测量值后，我们就可以计算出校准系数。

校准系数是理论值与测量值之间的比例关系。

通过将测量值除以理论值，即可得到校准系数。

然后，我们可以在程序中使用这个校准系数来校准ADC转换结果。

通过上述步骤，我们可以提高ADC的精度和准确性。

但需要注意的是，校准系数是基于当前环境和条件下得到的。

如果环境和条件发生变化，可能会导致校准系数失效。

因此，我们需要定期进行校准，以保证ADC的准确性。

总结一下，进行STM32内部基准电压校准ADC需要做以下几个步骤：确定使用的电压参考源、配置ADC的工作模式和精度、获取理论值和测量值、计算校准系数和使用校准系数来校准ADC转换结果。

stm32adc采样原理

stm32adc采样原理STM32是一个基于ARM Cortex-M处理器的32位微控制器，拥有广泛的应用场景，其中ADC（模拟数字转换器）是其中一个重要的功能。

ADC通常被用于将外部的模拟信号转换为数字信号，以便交给微控制器处理，本文将着重介绍STM32ADC的采样原理。

1. STM32 ADC的概述STM32 ADC是一种高精度、高性能的模拟信号采集器。

它能够将外部的模拟信号转换成数字信号，然后进行数字信号处理。

STM32 ADC采用的是逐次逼近式转换（SAR）技术，这种技术的采集速度相比其他采样技术更快，动态性能更高。

逐次逼近式转换的工作原理是：在一次采样中，逐个比较模拟信号与基准电压的大小，然后根据大小关系输出1或0，最后把这些二进制串拼接起来，得到的数字就是模拟信号的数字化表示。

具体过程以一个12位ADC为例：（1）设置参考电压和采样周期时间；（2）将AD输入端连接的模拟信号与0V的电平进行比较，如果比0V高，则输出1，否则输出0；（3）将该二进制数与参考电压作比较，如果小于参考电压，则在原有数字的基础上加上2^11，输出结果；（4）逐位采样比较，直到得到最后的二进制结果，即为数字化的采集结果。

STM32 ADC采样是很复杂的过程，需要经过以下四个流程：首先，从参考电压引脚或内部参考电压源（VREFINT）获取参考电压。

ADC的参考电压决定着测量精度的上限。

其次，设置通道和采样时间。

通道决定了要采集的模拟信号，采样时间则必须足够长，以确保模拟信号稳定，信噪比达到最佳状态。

然后，启动ADC转换并等待结果返回。

在STM32F4系列中，转换器在最短的时间内完成转换，并将结果存储在ADC_DR寄存器中。

最后，通过DMA或中断机制读取ADC_DR寄存器中的数据。

（1）使能ADC时钟，可使用RCC_APBxPeriphClockCmd函数中的宏定义参数。

（2）将ADC的输入信号与其引脚连接，一种常见的连接方式是使用ADC_InitTypeDef 结构体中的ADC_ChannelConfig函数。

stm32adc滤波算法

stm32adc滤波算法在STM32系列微控制器中，使用ADC（模数转换器）进行模拟信号的数字化转换是一种常见的应用。

然而，由于模拟信号可能受到噪声干扰，为了减少噪声对转换结果的影响，通常需要对ADC读取的模拟信号进行滤波处理。

本文将讨论一些常见的STM32ADC滤波算法。

1.均值滤波算法：均值滤波算法是一种简单且常见的滤波算法。

该算法通过对一段时间内的模拟信号采样数据进行求平均值，从而得到一个平滑的输出值。

具体步骤为：-定义一个缓冲区存储一段时间内的采样数据。

-循环读取ADC的数据并存储到缓冲区中。

-计算缓冲区内所有数据的平均值，并将其作为输出。

优点：算法简单易懂，执行效率高。

缺点：只能对慢变化的信号进行滤波，对快速变化的信号效果较差。

2.中位值滤波算法：中位值滤波算法通过对一段时间内的模拟信号采样数据进行排序并取中值，从而得到一个平滑的输出值。

具体步骤为：-定义一个缓冲区存储一段时间内的采样数据。

-循环读取ADC的数据并存储到缓冲区中。

-对缓冲区内的数据进行排序。

-取排序后的中间值作为输出。

优点：对快速变化的信号有较好的滤波效果。

缺点：在处理大量数据时，算法的执行效率较低。

3.无滞后滑动平均滤波算法：无滞后滑动平均滤波算法通过对当前采样数据与前一次滤波结果之间进行加权平均，从而平滑输出值。

具体步骤为：-定义一个滤波结果变量。

-循环读取ADC的数据。

-将当前采样数据与滤波结果变量之间进行加权平均计算，并将计算结果更新到滤波结果变量中。

优点：较好地平衡了滤波结果的灵敏度和滞后效应。

缺点：需要权衡加权平均因子的选择，以满足实际应用的需求。

4.卡尔曼滤波算法：卡尔曼滤波算法是一种递归滤波算法，通过以先验估计和观测值之间的误差来调整滤波结果。

-定义系统的状态方程和观测方程，其中状态方程表示系统的状态变化规律，观测方程表示观测值与状态之间的关系。

-初始化系统的状态和误差协方差矩阵。

-循环读取ADC的数据并进行卡尔曼滤波计算。

STM32CUBEMX配置教程(十二)STM32的定时器触发的固定频率ADC采样(使用DMA)

STM32CUBEMX配置教程（十二）STM32的定时器触发的固定频率ADC采样（使用DMA）本教程将向您展示如何使用STM32CubeMX配置定时器触发的固定频率ADC采样，并使用DMA进行数据传输。

此配置可以用于您需要按照固定频率对模拟信号进行采样的应用中。

在开始之前，请确保已安装好STM32CubeMX和相应的IDE（如Keil、IAR等），并且您已熟悉STM32CubeMX的基本使用方法。

以下是配置步骤：1. 打开STM32CubeMX，并选择您的目标MCU型号。

2. 在"Pinout & Configuration"选项卡中，配置定时器和ADC引脚。

a.选择一个定时器，并设置其时钟源和频率。

您可以选择任何一个可用的定时器来触发ADC采样。

b.配置ADC引脚，将其连接到您的模拟信号源。

3. 在"Configuration"选项卡中，配置ADC。

a.启用ADC和DMA控制器。

b.配置ADC分辨率，采样时间和采样周期。

这些参数取决于您的应用需求。

c. 在"Mode"选项中，选择"Continuous Conversion Mode"。

这样ADC将会不断地根据定时器触发进行采样。

d. 启用"DMA Continuous Requests"。

这样当ADC完成一次采样后，DMA控制器将自动将数据传输到内存中。

4. 在"NVIC Settings"选项卡中，启用DMA和ADC中断。

5. 在"Project"选项卡中，选择生成代码所需的IDE和工程路径。

然后单击"Generate Code"按钮生成代码。

现在您已成功配置了定时器触发的固定频率ADC采样，并使用DMA进行数据传输。

您可以在生成的代码中初始化和启用各个模块，并编写相应的中断处理函数来处理DMA和ADC中断。

stm32adc校准函数

stm32adc校准函数
STM32ADC 校准函数是 STM32 微控制器提供的基础函数之一。

在使用 ADC（模数转换器）时，为了保证数据的精度和准确性，我们需要对 ADC 进行校准。

校准函数是对 ADC 进行校准的核心函数之一。

校准函数的主要作用是通过对 STM32 微控制器内部电压参考源和外部电压参考源进行比较，并在处理器内部保存一个补偿值。

该补偿值可以在后续的 ADC 采样中使用，以提高 ADC 数据的准确性。

在使用校准函数前，我们需要先初始化 ADC 并启动校准过程。

进行校准过程前，建议关闭 ADC 外部触发功能并使用默认时钟分频。

如果ADC 的输入信号电平发生变化，或者在重新配置 ADC 或更改时钟频率前，都需要重新执行 ADC 校准函数。

下面是 STM32ADC 校准函数的具体步骤：
1. 开启 ADC 并设置通道和采样时间；
2. 开启 ADC 校准模式；
3. 等待校准完成；
4. 获取 ADC 校准后的参数，并将其写入 ADC 处理器内部寄存器；
5. 关闭 ADC 校准模式。

需要注意的是，校准函数的执行时间较长，可能会导致程序在等待校准完成时出现一定的延迟。

因此，在开发过程中，我们需要考虑如何避免等待校准完成造成的延迟问题。

总的来说，STM32ADC 校准函数是 STM32 微控制器提供的重要函数之一。

它可以帮助我们提高 ADC 数据的精度和准确性，是开发STM32 基于 ADC 应用的关键之一。

在项目中，我们需要合理使用校准函数，并设置合适的参数，以保证 ADC 数据的准确性和稳定性。

STM32F0多路ADC采样中的BUG和解决方案

STM32F0多路ADC采样中的BUG和解决方案在STM32F0系列中，多路ADC采样时可能会出现一些问题，下面是一些常见的BUG以及对应的解决方案：1.ADC转换结果误差较大：-原因：ADC的转换精度受到参考电压和时钟精度的影响，以及输入信号的干扰等。

-解决方案：-确保参考电压稳定，可以使用稳压器等电压源。

-降低输入信号的干扰，可以使用滤波电路。

-选择合适的采样率和分辨率，根据实际需求调整。

-使用校准功能对ADC进行校准，可以提高转换精度。

2.ADC采样速度不稳定：-原因：在多通道ADC采样时，切换通道可能会引入额外的时间延迟，导致采样速度不稳定。

-解决方案：-配置ADC转换模式为扫描模式，使得ADC可以按照一定的顺序进行多通道采样。

-调整通道切换速度，可以通过增加延时或者降低采样速率来解决。

3.ADC采样结果不准确或者不稳定：-原因：在多路ADC采样时，可能存在模拟输入信号的串扰或者共模干扰，导致采样结果不准确或者不稳定。

-解决方案：-选择合适的参考电压和可靠的电源地，以减少参考电压的波动或者输入信号的干扰。

-适当延长采样时间，可以通过增加采样周期来提高稳定性。

-使用信号调制技术，如差分信号采样、抗共模干扰技术等。

4.ADC采样中断丢失：-原因：在多通道ADC采样时，如果不及时处理中断，可能会导致中断丢失。

-解决方案：-配置合适的优先级分组和中断优先级，以确保ADC中断能够得到及时处理。

-在中断处理函数中尽量减少处理时间，避免长时间占用CPU。

5.ADC采样时CPU占用率过高：-原因：在ADC连续转换模式中，如果没有合适的采样间隔，可能会导致CPU占用率过高。

-解决方案：-合理配置ADC的采样频率和采样间隔，根据实际需求进行调整。

-使用DMA传输数据，减少CPU的负载，提高系统的稳定性和响应速度。

以上是一些常见的STM32F0多路ADC采样中可能出现的BUG以及对应的解决方案，根据实际情况进行调试和优化，可以提高ADC的准确性和稳定性。

如何提高STM32微控制器内置的ADC的精度

请注意，本应用笔记提供的数据仅供参考。除非特别指出，测量条件皆为实验室典型条件而非生产环境。
表 1 列出了本应用笔记涉及的微控制器。
类型微控制器
表 1. 适用产品
部件编号
STM32F2xx (STM32F20x， STM32F21x) STM32F4xx (STM32F405， STM32F407， STM32F415， STM32F417， STM32F42x， STM32F43x)
4/31
DocID022945 Rev 5
AN4073
图片索引
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图 1. 图 2. 图 3. 图 4. 图 5. 图 6. 图 7. 图 8. 图 9. 图 10. 图 11. 图 12. 图 13. 图 14.
平均技巧的图形表示 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7 N 个采样平均算法 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 8 平均 N-X 个 ADC 采样算法 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9 柱状图图形表示与编码的离散度 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 12 当 ART 为 ON， VIN = 0.3 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 13 当 ART 为 OFF， VIN = 1.65 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14 当（D+I）缓存 ON + 预取 OFF VIN = 0.3 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15 当（D+I）缓存 ON + 预取 OFF VIN = 1.65 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 当（D+I）缓存 ON + 预取 OFF VIN = 3 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 16 当 ART 为 ON， VIN = 0.3 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 20 当 ART 为 OFF， VIN = 1.65 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 21 当（D+I）缓存 ON + 预取 OFF VIN = 0.3 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 22 当（D+I）缓存 ON + 预取 OFF VIN = 1.65V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23 当（D+I）缓存 ON + 预取 OFF VIN = 3 V 时的 ADC 编码分布 . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23

STM32的ADC采样频率及相应时间的确定

STM32 的ADC 采样频率及相应时间的确定STM32 ADC 介绍
STM32 ADC 是一个12 位精度、一种逐次逼近型模拟数字转换器。

它有多达18 个通道，可测量16 个外部和2 个内部信号源。

各通道的
A/D 转换可以单次、连续、扫描或间断模式执行。

ADC 的结果可以左对齐或右对齐方式存储在16 位数据寄存器中。

ADC 的输入时钟不得超过14MHz，它是由PCLK2 经分频产生。

转换时最快为1us，当ADC 的输入时钟超过14MHz 时其会损失一些精度。

当然如果可以达到我们的精度，输入时钟高点也没事。

在网上看到一回答ADC 不超过14MHz 的答案：资料上的都是推荐，事实上很多芯片的设计都是有超额余量的，很多人都会超额的利用这些资源，并且很好的工作。

若所看的程序频率是超过14M，也没有错，可能作者的目的在于快
速而宁愿损失一些精度，ADC 的分辨率是12 位，若是超过这个频率也是工作的，只不过采样到的精度可能仅到10 位，若这个已到作者的要求，也无错误之说了。

stm32adc采样频率计算

stm32adc采样频率计算1.前言本文将介绍如何计算S TM32微控制器中的AD C（模拟数字转换器）的采样频率。

我们将从基本原理开始，解释如何通过配置寄存器来实现所需的采样频率。

2.采样频率的定义在开始计算之前，让我们先明确什么是采样频率。

采样频率是指在模拟信号转换为数字信号时，获取模拟信号的速率。

它决定了系统对信号的精细程度和频率响应。

3. ST M32微控制器中的AD C模块S T M32微控制器通过其内置的AD C模块实现模拟信号的转换。

该模块可以设置为不同的采样频率，以满足不同应用的需求。

4. AD C采样频率的计算为了计算所需的A DC采样频率，我们需要考虑以下几个因素：4.1时钟频率A D C模块的时钟频率决定了其工作速度。

在S TM32微控制器中，时钟频率可以通过配置RC C（R es et an dC lo ck C on tr ol）寄存器来设置。

4.2A D C分辨率A D C模块的分辨率表示可以转换的模拟信号范围。

在S TM32微控制器中，分辨率可以通过配置AD C的C R寄存器来设置。

4.3A D C转换时间A D C转换时间表示进行一次模拟信号转换所需的时间。

它可以通过配置A DC的S MP R（Sam p le ti me）寄存器来设置。

4.4定时器的使用为了实现所需的采样频率，我们可以使用定时器来触发AD C的转换。

定时器的时钟频率、预分频因子和自动重装载寄存器的设置将影响AD C的采样频率。

5. AD C采样频率的计算公式根据以上因素，我们可以使用以下公式计算A DC的采样频率：采样频率=A DC时钟频率/(转换时间+12.5个A DC时钟周期)其中，转换时间表示A DC进行一次转换所需的时间（以秒为单位）。

6.示例为了更好地理解A DC采样频率的计算过程，我们来看一个示例。

假设：-A DC时钟频率为10M H z-转换时间为1u s根据以上假设和公式，我们可以计算出采样频率：采样频率=10M Hz/(1u s+12.5*(1/10M Hz))=800kH z因此，在这个示例中，A DC的采样频率为800kH z。

STM32如何得到最佳ADC精度

AN2834应用笔记如何在STM32F10xxx上得到最佳的ADC精度前言STM32F10xxx微控制器产品系列，内置最多3个先进的12位模拟/数字转换模块(ADC)，转换时间最快为1μs，这个ADC模块还具有自校验功能，能够在环境条件变化时提高转换精度。

在需要模拟/数字转换的应用中，ADC的精度影响到整个系统的质量和效率。

为了能够达到应有的精度，用户需要了解ADC误差是如何产生的和影响它的参数。

转换精度不是仅仅依赖于ADC模块的性能和功能，它与该模块周边应用环境的设计密切相关。

本文旨在帮助用户了解ADC误差的产生，以及如何提高ADC的精度，包含以下2个部分：● 介绍了与ADC设计相关的，诸如外部硬件设计参数，和不同类型的ADC误差来源。

● 提出一些设计上的建议，和如何在硬件方面减小误差的方法。

译注：本译文的英文版下载地址为：/stonline/products/literature/an/15067.pdf目录如何在STM32F10xxx上得到最佳的ADC精度目录1ADC误差的种类31.1ADC模块自身相关的误差31.1.1偏移误差31.1.2增益误差41.1.3微分线性误差51.1.4积分线性误差61.1.5总未调整误差61.2与环境相关的ADC误差71.2.1电源噪声71.2.2电源稳压71.2.3模拟输入信号的噪声71.2.4ADC的动态范围与最大输入信号幅度严重不匹配71.2.5模拟信号源阻抗的影响81.2.6信号源的容抗与PCB分布电容的影响81.2.7注入电流的影响91.2.8温度的影响91.2.9I/O引脚间的串扰91.2.10EMI导致的噪声 10 2如何得到最佳的ADC精度 112.1减小与ADC模块相关的ADC误差的建议 112.2如何减小与外部环境相关的ADC误差 112.2.1减小电源噪声 112.2.2电源稳压的建议 122.2.3消除模拟输入信号的噪声 122.2.4将最大的信号幅度与ADC动态范围匹配 132.2.5模拟信号源的阻抗计算 142.2.6信号源频率条件与源电容和分布电容的关系 142.2.7温度效应补偿 152.2.8注入电流最小化 152.2.9减小I/O脚串扰 152.2.10降低EMI导致的噪声 162.2.11PCB的设计建议 162.2.12元器件的摆放与布线 18 3结论191 ADC误差的种类1.1 ADC模块自身相关的误差在STM32F10xxx的数据手册中，给出了不同类型的ADC精度误差数值。

stm32f103 的adc例程

stm32f103 的adc例程STM32F103是一款由STMicroelectronics生产的32位ARM Cortex-M3微控制器系列，它具有丰富的外设和功能，其中包括模数转换器（ADC）。

ADC是用于将模拟信号转换为数字信号的重要外设，以下是一个简单的ADC例程，用于在STM32F103上初始化和读取ADC值。

首先，我们需要包含STM32F103的头文件和库文件。

然后，我们需要进行以下步骤来设置和读取ADC值：1. 初始化ADC外设，首先，我们需要初始化ADC外设。

这涉及设置ADC时钟，选择ADC输入通道，配置转换模式和分辨率等。

这通常涉及配置ADC的寄存器，具体步骤可以在STM32F103的参考手册中找到。

2. 启动ADC转换，一旦ADC外设初始化完成，我们可以启动ADC转换。

这通常涉及设置适当的标志位来启动转换。

3. 等待转换完成，一旦转换已经启动，我们需要等待转换完成。

这可以通过轮询ADC状态标志位或者使用中断来实现。

4. 读取转换值，一旦转换完成，我们可以从ADC数据寄存器中读取转换的数值。

以下是一个简单的伪代码示例，用于在STM32F103上初始化和读取ADC值：c.// 初始化ADC.void init_ADC() {。

// 设置ADC时钟。

// 配置ADC输入通道。

// 配置转换模式和分辨率。

// 启用ADC.}。

// 读取ADC值。

int read_ADC_value() {。

// 启动ADC转换。

// 等待转换完成。

// 从ADC数据寄存器中读取值。

return ADC_value;}。

int main() {。

init_ADC(); // 初始化ADC.while(1) {。

int value = read_ADC_value(); // 读取ADC值。

// 执行其他操作。

}。

请注意，以上示例是伪代码，并不是可直接在STM32F103上运行的代码。

在实际的应用程序中，您需要根据您的具体硬件连接和需求来配置和读取ADC值。

stm32f334标准库配置adc

stm32f334标准库配置adc要在STM32F334微控制器上配置ADC（模数转换器），您需要遵循以下步骤：1. 首先，确保您已经安装了STM32CubeMX软件，该软件可以帮助您生成用于配置微控制器外设的初始化代码。

2. 打开STM32CubeMX并创建一个新的工程。

选择您所使用的适当的微控制器型号。

3. 在"Pinout & Configuration"选项卡中，选择ADC通道的引脚。

您可以通过将鼠标悬停在GPIO引脚上来选择其功能，并选择ADC功能。

4. 选择ADC的时钟源。

在"Configuration"选项卡的"Analog Watchdog"部分，选择适当的时钟源。

5. 在"Configuration"选项卡的"ADC"部分，配置ADC的参数。

您可以选择触发模式（软件触发或外部触发），采样时间，数据对齐方式和分辨率等。

6. 在顶部菜单栏中，点击"Project"并选择"Generate Code"以生成初始化代码。

7. 导出生成的代码并将其添加到您的项目中。

8. 初始化ADC并开始转换。

您可以使用生成的代码中的函数来启动ADC转换，并使用相关的API来读取转换结果。

这些是配置STM32F334上ADC的基本步骤。

请注意，与其他外设一样，您还可以配置中断和DMA等功能来提高ADC 的性能和灵活性。

有关具体的配置细节和代码示例，您可以参考ST官方提供的相关文档和示例代码。

如何在STM32中得到最佳的ADC精度

如何在STM32中得到最佳的ADC精度
STM32家族中的所有芯片都内置了逐次逼近寄存器型ADC模块.内部大致框架如下:
每次ADC转换先进行采样保持，然后分多步执行比较输出，步数等于ADC的位数，每个ADC时钟产生一个数据位。

说到这里，用过STM32 ADC的人是不是想到了参考手册中关于12位ADC转换时间的公式：
ST官方就如何保障或改善ADC精度写了一篇应用笔记AN2834。

该应用笔记旨在帮助用户了解ADC误差的产生以及如何提高ADC的精度。

主要介绍了与ADC设计的相关内容，比如外部硬件设计参数，不同类型的ADC误差来源分析等，并提出了一些如何减小误差的设计上建议。

当我们在做STM32的ADC应用遇到转换结果不如意时，常有人提醒或建议你对采样时间或外部采样电路做调整。

这里调整的最终目的就是让信号进入ADC模块的充电时间与内部采样时间匹配，保证采得的电压尽量真实，最终得到符合精度要求的转换结果。

下面就聊聊相关话题。

一、模拟信号源阻抗的影响。

STM32的ADC设置步骤

STM32的ADC设置步骤STM32是一款设计非常巧妙的控制芯片，其中ADC是非常实用的模块，它和我们之前学习过的51、430单片机中的ADC有相同的原理，但是STM32相对来说略有复杂，对于初学者来说，要想快速搞定这个模块首先一定要了解硬件结构，其次了解寄存器位的功能，熟悉ADC设置流程是最主要核心。

1）开启PA口时钟，设置PA0为模拟输入。

STM32F103RBT6的ADC通道0在PA0上，所以，我们先要使能PORTA的时钟，然后设置PA0为模拟输入。

2）使能ADC1时钟，并设置分频因子。

要使用ADC1，第一步就是要使能ADC1的时钟，在使能完时钟之后，进行一次ADC1的复位。

接着我们就可以通过RCC_CFGR设置ADC1的分频因子。

分频因子要确保ADC1的时钟（ADCCLK）不要超过14Mhz。

3）设置ADC1的工作模式。

在设置完分频因子之后，我们就可以开始ADC1的模式配置了，设置单次转换模式、触发方式选择、数据对齐方式等都在这一步实现。

4）设置ADC1规则序列的相关信息。

接下来我们要设置规则序列的相关信息，我们这里只有一个通道，并且是单次转换的，所以设置规则序列中通道数为1，然后设置通道0的采样周期。

5）开启AD转换器，并校准。

在设置完了以上信息后，我们就开启AD转换器，执行复位校准和AD校准，注意这两步是必须的！不校准将导致结果很不准确。

6）读取ADC值。

在上面的校准完成之后，ADC就算准备好了。

接下来我们要做的就是设置规则序列0里面的通道，然后启动ADC转换。

在转换结束后，读取ADC1_DR里面的值就是了。

通过以上几个步骤的设置，我们就可以正常的使用STM32的ADC1来执行AD转换操作了。

感谢您的阅读，祝您生活愉快。

stm32adc采样原理

stm32adc采样原理
STM32ADC采样原理主要涉及STM32芯片内部ADC模块的工作原理和采样过程中需要注意的一些细节问题。

STM32ADC采用的是逐次逼近式ADC转换技术，其采样速度快、噪声小、精度高、易于使用等优点，被广泛应用于各种控制系统中。

在STM32ADC采样过程中，需要注意的问题有：采样时序的控制、采样精度的控制、采样通道的选择、参考电压的设置等。

采样时序的控制主要包括采样开始时间、采样持续时间、采样间隔时间等方面的控制。

采样精度的控制则涉及到ADC的分辨率、采样率、转换时间等方面的控制。

采样通道的选择则需要根据具体应用的需要来选择不同的采样通道。

参考电压的设置则需要根据实际电路中的电压范围来进行设置，一般情况下选择内部参考电压或外部参考电压均可。

在STM32ADC采样过程中，需要注意的其他问题还包括ADC的校准、DMA的使用、中断的处理等方面。

ADC的校准是确保ADC精度的关键步骤，DMA的使用可以提高采样效率，中断的处理则可以提高系统的响应速度。

总之，STM32ADC采样原理是掌握STM32芯片内部ADC模块工作原理和采样过程中需要注意的一些细节问题的基础，对于掌握STM32的控制系统设计和开发具有重要意义。

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stm32 adc分贝算法

stm32 adc分贝算法STM32 ADC 分贝算法是一种常用的测量声音强度的算法，在音频处理和设备控制中得到了广泛的应用。

本文将分步骤阐述STM32 ADC 分贝算法的具体实现方法。

第一步，硬件部分的准备。

为了使用STM32 ADC 分贝算法，需要准备一块STM32开发板和一个能够采集声音信号的麦克风模块。

将麦克风模块接到开发板的模拟输入通道上，并根据需要调整麦克风模块的增益，以便正确地测量声音信号的幅度。

第二步，软件部分的准备。

为了实现STM32 ADC 分贝算法，需要使用STM32 HAL库提供的ADC驱动程序。

通过这个程序，可以读取从麦克风模块采集到的声音信号，并将其转换为数字信号。

然后，使用数学函数来计算声音信号的幅度，从而得到声音强度值。

第三步，实现数据采集和处理。

在程序中实现数据采集和处理的过程。

首先，调用ADC驱动程序来采集麦克风模块的信号，然后将采样值传递给数学函数来计算幅度。

为了得到更准确的结果，可以通过多重采样和平滑处理来降噪和平滑化采样数据。

最后，根据声音的幅度值，可以使用标准的分贝计算公式来计算声音的强度，从而得到对声音信号的精确测量结果。

第四步，优化算法性能。

在进行数据采集和处理的过程中，需要考虑算法的性能问题。

为了提高算法的效率和精度，可以使用优化算法的技巧，如快速傅里叶变换和低通滤波器等，以提高算法的准确性和可靠性。

综上所述，STM32 ADC 分贝算法是一种常用的测量声音强度的算法，它能够通过麦克风模块采集声音信号，并使用数学函数来计算声音信号的幅度，进而得到声音强度的测量结果。

在实际应用中，我们需要根据具体的项目需求和算法性能问题来选择优化算法和进行算法改进，以提高算法的效率和精确性，从而实现更好的音频处理和设备控制效果。

stm32adc校准函数原理

stm32adc校准函数原理STM32是意法半导体（STMicroelectronics）推出的一款32位微控制器系列，其内部集成了一系列功能强大的外设模块，其中包括模数转换器（ADC）模块。

ADC模块在嵌入式系统中广泛应用于模拟信号的数字化转换，然而由于硬件因素的影响，ADC的输出值可能存在一定的误差。

为了提高ADC的准确性，需要进行校准操作。

本文将介绍STM32的ADC校准函数的原理及其实现方法。

ADC校准的目的是通过对ADC的内部参数进行测量和调整，从而使其输出的数字值更加准确地反映输入的模拟信号。

在STM32中，ADC 校准函数一般包括两个步骤：零点校准（Offset Calibration）和增益校准（Gain Calibration）。

首先是零点校准。

零点校准的目的是消除ADC的输出偏移误差，即在没有输入信号时，ADC输出的数字值应该为0。

零点校准的原理是通过测量ADC在没有输入信号的情况下输出的实际值，然后根据测量结果调整ADC的内部参数，使其输出值为0。

具体实现方法如下：1. 将ADC的输入通道设置为参考电压源（如内部参考电压或外部参考电压）；2. 启动ADC的转换过程，并等待转换完成；3. 读取ADC的输出值，并将其作为零点校准值；4. 根据零点校准值调整ADC的内部参数，使其输出值为0。

接下来是增益校准。

增益校准的目的是消除ADC的增益误差，即在有输入信号时，ADC输出的数字值应该与输入信号成正比。

增益校准的原理是通过测量ADC在给定的输入信号下输出的实际值，然后根据测量结果调整ADC的内部参数，使其输出值与输入信号成正比。

具体实现方法如下：1. 将ADC的输入通道设置为给定的输入信号源；2. 启动ADC的转换过程，并等待转换完成；3. 读取ADC的输出值，并将其作为增益校准值；4. 根据增益校准值调整ADC的内部参数，使其输出值与输入信号成正比。

需要注意的是，ADC的校准值通常会受到环境温度和供电电压等因素的影响，因此在实际应用中，建议对ADC进行定期校准，以保证其准确性。

stm32adc采样频率计算

stm32adc采样频率计算【实用版】目录1.STM32 ADC 简介2.STM32 ADC 采样频率的计算方法3.影响采样频率的因素4.提高采样频率的方法5.结论正文1.STM32 ADC 简介STM32 是一款由 STMicroelectronics 公司推出的单片机系列，具有高性能、低功耗、多功能等特点。

其中的 ADC（模拟数字转换器）是一种将模拟信号转换为数字信号的设备，可以对模拟信号进行数字化处理，为微控制器提供更加精确的数据。

STM32 的 ADC 具有 12 位精度，可以通过过采样原理实现 14 位精度采样，达到更高的精度。

2.STM32 ADC 采样频率的计算方法STM32 ADC 的采样频率取决于输入时钟频率，计算公式为：采样频率= 输入时钟频率 / 采样周期。

其中，采样周期可以通过寄存器配置，而输入时钟频率通常为 PCLK2 的分频。

例如，如果 PCLK2 设置为 8 分频，则采样频率为 14MHz / 8 = 1.75MHz。

3.影响采样频率的因素影响 STM32 ADC 采样频率的主要因素是输入时钟频率和采样周期。

输入时钟频率越高，采样频率越高；采样周期越长，采样频率越低。

另外，ADC 的通道数量也会影响采样频率，通道数量越多，采样频率越低。

4.提高采样频率的方法要提高 STM32 ADC 的采样频率，可以采取以下方法：（1）提高输入时钟频率：通过提高 PCLK2 的频率来提高 ADC 的采样频率。

但需要注意，输入时钟频率越高，转换精度可能会降低。

（2）缩短采样周期：通过缩短采样周期来提高采样频率。

但采样周期过短可能导致 ADC 转换不准确。

（3）减少通道数量：通过减少 ADC 的通道数量来提高采样频率。

但需要注意，减少通道数量可能会影响系统的功能。

5.结论STM32 ADC 的采样频率受多种因素影响，需要根据实际需求进行合理配置。