软件测试指导书
合集下载
相关主题
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
13.1在按住一受开关状态影响的键,在发码的同时拔动模式转换开关,此时MCU应保持原IR码发送或不发码,具体情况可以根据所用MCU型号及客户规格书而定。在此种操作下RCU不能出现因开关档位改变而码错,格式错等现象。
13.2在按住一受开关状态影响的键,在发码的同时拔动模式转换开关,LCD显示是否随着模式的改变而改变(视规格书而定)。
5.3键位与码测试
检查遥控器每一个跳线下的每一个按键所发的IR码是否符合规格。对于多功能遥控器,应测试各种模式下每个设置的每一个键的码,并测试在不同设置下其它模式的键码是否因此设置而发生变化。
5.4设置改变时专用键测试
此项测试主要是针对具有多功能设置的遥控器进行测试,要确保遥控器的专用键(即不受设置改变而改变的按键)不受设置影响而改变,检查遥控器在每个档位中当2009-12-4设置改变时是否因不同的设置而使其IR码,格式改变。对于多档位的遥控器,还应注意交叉测试。即一个档位的设置改变了是否会影响其他档位的IR码格式。
12.2当RCU所用LCD为点阵型时,对LCD的测试一定要对照规格书的显示图进行逐点核对,看其是否符合规格。在测试过程中不能出现有LCD显示点的个数缺少位置不符等不正常现象。
13、开关档位测试:
模式转换开关拔动测试主要是针对带有模式开关的RCU进行开关拔动测试,各种模式的设置是否受开关的改变而改变,LCD在此种操作下会不会出现在此操作中应对以下四种不同情况进行测试:
5.2IR码时间参数测试:
对于除周期之外的时间误差范围定在+/-3%之内,但对于某些bit时间较短的码,由于MCU指令周期的原因,可能会超出此允许误差,此情况应征得客户或相关人员的确认;对于码的周期时间误差范围为+/-0.5ms之间,对于有些格式不是周期固定,而是X时间固定的时间误差范围也同样为+/-0.5ms之内。如果客户有特别要求,需根据客户标准进行相关的测试。
5.1.4测试软件时应按照不同的格式相应记录以下列表中的各项;对于多功能遥控器IR码只作抽样记录,但所有键均需进行读码校对测试,对于没有设置功能的遥控器应将每个按键下的每个IR码都记录于报告中。
C:Customer code
D: Date code
RC:Reverse customer code
RD:Reverse data code
b.测试时是:X:wait time在变化还是T: Cycle time时间在变化。
c.快速按键测试时,观察是否发码,发几帖码。发出的码是否符合规格,它的第一组,第二组,第三组是否都符合规格要求,并予记录。
d.同一键按多次测试,即多次测试同一个键,观察键码是否发生改变,此测试有两种情况,第一种是连续多次按统一键,另一种是按一次测试键,然后按一次其他键,再按测试键,如此循环,检查码是否符合规格,是否会出现出错码的现象。
11、按键反应时间测试:
指从按键MCU的输入端口电平变换到IR信号发送出来的这一段时间。在测试反应时间时,对于遥控器带有功能转换开关或跳线模式,则应在转换开关的各档位或每个跳线模式下作测试。若无客户特别规定,按键反应时间一般在20ms一5Oms之间。MCU的输入端口随选用的IC不同而不同。
12、LCD显示测试:
5.1码的规格测试与步骤
5.1.1收到一款新的测试通知后,应认真研究测试通知书及客户规格书,并准备样机准备测试,
5.1.2测试人员在测试软件之前,应确保测试样机每一按键有效,静态动态电流正常。
5.1.3码的规格测试主要包括码的格式,IR码的类型,重复码的类型,IR码的各个时间参数进行测试。对于单一功能遥控器,按键测试每一个键码,将IR码的各项参数与规格书进行比较,如有不符合标准,将其记录于测试报告中;对于多功能遥控器,应测试各模式下每一个设置的每一个键的码极其发码格式是否符合规格,并测试在不同设置下其它模式的键功能是否发生变化。
版本
修订日期
修订内容
原(修)订人
1.01
2010-5-10
增加8.3掉电速度测试
程友江
需会签部门:
■市场部:■工程部:■品质部:
■采购部:■生技部:□管理部:
■PMC部:■仓储部:□财务部:
■生产部:■文控中心:
1目的
为确保软件设计和开发能预期达到客户所规定和期望的要求,特制订本测试作业指导书。
2适用范围
8.2正常入电、掉电测试是指在未按键的一青况下连续进行入电、掉电100次以上,每次入电后都应检查遥控器的IR是否正常,LCD显示是否正常,开关跳线有无错误。不能出现如:死机、IR管常发射、发码的格式不对或发错码、LCD显示字体错乱等。
8.3掉电速度测试:为了避免在掉电过程按键以致对其它外部储存器构成影响,要做掉电速度测试。对带储存IC的RCU掉电到1.0V以下应<1S,对不带储存IC的RCU掉电到截止电压应>10S.
9.3不带LCD的RCU静态电流一般为1-3uA左右,带有LCD的RCU最大静态电流不能超过50uA,动态电流最大一般不超过50mA。对于用不同的IC其静态电流是不同的;对于动态电流,其大小与所发码格式有关。
10、截止电压测试:
截止电压是指RCU能正常工作发码的最低工作电压,RCU测试时IC最低工作电压不能高于2.3V。在测试截止电压时,对于遥控器带有模式转换开关或跳线模式,则应在模式转换开关的各档位或每一个跳线模式下作测试,特别注意有跳点设置的行上的键此时发码是否正常。
13.3当进入设置模式时,拔动开关。此时设置是否受开关的改变而退出或保持在原状(视规格书而定)。
13.4当在按键或不按键的两种状态和决速拔动开关,模式是否因此种非法操作而出错、LCD的显示是否能及时刷新显示。
14、方向键处理测试:
方向键处理主要是针对于当RUC方向键的机械结构为一个整体时,为适应此种机械结构而在软件中对五个方向键进行特殊处理操作。在进行方向键测试时,当注意五个方向键是否处于同一输入端口若不处于同一端则应当提出。方向键的处理方法因各个客户规定各不相同,所以对不同机型的方向键处理测试时应严格按照规格书进行。
S: Start code
E:End code
H:Header time
E:Ending time
0:Waveform time of data bit 0
1:Waveform time of data bi
T:Cycle time
CF:Carrier frequency(unit: Hz or us)
5.5快速单间/双键测试
5.5.1是指按住任意键的时间在不大于最少所防码组数的时间内释放,检查所发的码、格式、组数是否符合规格,根据不同的格式,快速按键时间的长短也不同,如SONY格式,规定快速按键最少发3组IR码,它的每组码的长度是45ms,那么意味着在按键时间不大于45ms*3=135ms之内释放都要发出三组IR码,且只能是三组。而对于NEC格式,按键时间为100ms之内都只能发一组IR码。
本程序适用于本公司工程部所从事软件测试的相关技术人员。
3职责
3.1工程部电子主管负责提供市场上对产品软件的需求信息和客户提供的资料接收。
3.2工程部软件组负责电路和软件设计的策划、输入、输出、评审、验证、更改和确认。
3.2.1软件组长负责提供软件资料和信息接收,评审,制订开发进度表,软件设计和开发的责任
15、测试模式测试:
此测试主要是对当RCU进入测试模式下所有按键的发码,显示等是否符合客户规书要求。对于发码较复杂的机型,如空调的IR码;带有LCD显示的机型若客户规格书未作要求,为方便生产品质控制,要求软件工程师都应自订一个测试模式。自定的测试模式要包含能测试所有按键是否正常,所有的开关是否正常.所有的硬件电路能否工作,LCD显示全显,半显,不显点操作等。
5.5.2此测试的目的是检测快速按键发码是否正常,一般情况下只发一帧码,参考图1(特殊格式除外)。如果快速按键测试发码为图2,则为不合格。
图1
图2
5.5.3快速双键交换测试,以最快的速度按住“A”键,此时发的是“A“键的码,又以最快的速度按住”B“键,马上又释放”A“键,此时应发”B“键的码,就这样连续交换测试数10次,检查是否有异常情况发生。
12.1主要是指针对带有LCD显示的遥控器进行测试,在测试时是否按照客户规格书进行显示;应特别测试LCD是否有缺划、显示混乱、起彩、闪烁不清、背影重等不正常现象。当RCU带有模式转换开关时,拨动模式开关,看LCD的显示是否因档位开关的拔动而使显示出现错误,闪烁等不正常现象;乱按键之后观察LCD显示是否正常;按键上电观察LCD显示是否正常。
4.1.9方向键处理测试
4.1.10按键入电、掉电测试
4.1.11静态、动态电流测试
4.1.12截止电压测试
4.1.13按键反应时间测试
4.1.14LCD显示测试
4.1.15开关档位测试
4.1.16测试模式测试
4.1.17冷、热启动测试
4.1.18按客户规格书各项内容测试
4.1.19时间参数测试
5.测试方法
分配、跟进,以及开发结果的验收,必要时提供技术支持。
3.2.3测试组工程师负责根据客户规格书要求制订测试方案,,测试编写工厂测试程序。
Baidu Nhomakorabea3.2.4工程部软件测试技术人员负责对新开发的软件进行测试,验证及记录,并完成测试报告。
3.2.5项目组负责开发进度跟踪,安排软件测试样机给客户确认,提供烧录软件和测试机架
Duty: Carrier duty
Toggle bit: waveform time
X: Wait time
Y: Wait time
5.1.6软件在测试码时要注意以下几项。
a.它是属于重复结束码、还是重复整组码或是只重复数据码,重复码的整个周期时间是否正常,它的第一组、第二组和第三组的重复数据是否符合规格要求。
给生产技术部。
3.2.6工程部样板组负责软件样机的制作、测试。
4测试程序及方法
4.1软件测试项目如下:
4.1.1码的规格测试,
4.1.2键位与码是否相符测试
4.1.3快速单键/双键测试
4.1.4双键测试
4.1.5多键测试
4.1.6乱按键测试(多次按单,双键)
4.1.7按键入电、掉电测试
4.1.8功能键测试(如SHIFT键,backlight,触摸屏,学习,搜索等)
7、乱按键测试:
在摇控器键位上乱按测试100次以上,在乱按键过程中应注意观察有无死机,发乱码,或常发射,LCD显示字体错乱等现象。
8、按键入电、掉电测试及正常入电、掉电测试:
8.1先按任意键然后入电,测试其功能是否会出现异常,如:死机、IR管常发射、发错码、LCD显示字体错乱等。对于单功能的遥控器,一般情况若客户未作要求,按键入电应不会发码的,因为上电发码可能会影响MCU读跳线。
5.5.4双键测试:
除规格书特殊要求外,双键同时按时,都应不发码。同时按A和B,先释放“A”键,应发“B“键的码,反之应发“A”键的码。总之,在任何情况下,不管是“A”、“B”哪个键先释放,最后保留所按下的单键都应是重新发码。
6、多键测试:
除客户特别有要求外,多键(二键以上)都应不发码。在一般情况下不管是按住双键或多键应无发码,如果客户规格有双键或多键功能时,此时应特别留意当按住规定的双键、多键发码时按其余键,测试此时是否互锁互锁后再释放其余的键,测试此时发码是否符合规格。
9、静态、动态电流测试:
静态电流是指RCU在无按键情况下RCU所消耗的电流,动态电流是指RCU在正常工作发码的情况下,RCU所消耗的电流。
9.1在进行静态、动态测试时,测试标准电压应为3+/-0.1v,如遥控器带有模式转换开关或跳线模式,则应在每种模式转换开关档位或跳线模式下作相应测试。
9.2在进行静态电流测试的过程中,要对下列两种情况分别测试:一是不按键的情况下从上电到静态电流稳定所需时间,一般只需5-8秒万用表的读数就应稳定下来,若存在不停的有较大幅度上下跳变或居高不下的清况都属于不正常现象;二是当按键发码后静态电流也应很快平稳下来,否则都属于不正常现象
16、冷、热启动测试
冷、热启动测试主要是针对带设置的RCU进行的一项测试,目的在于测试当RCU短时间掉电后原设置号是否会丢失,LCD显示是否出错,模式等各项内容是否符合规定。
16.1所谓冷启动.即MCU在彻底掉电后,再重新上电,MCU此时将会对对RAM进行初始化操作。冷启动测试即测试RCU在冷启动后其各个模式是否处于相应的默认模式,默认状态下的IR码是否正确,LCD显示是否正确等各项内容测试。
13.2在按住一受开关状态影响的键,在发码的同时拔动模式转换开关,LCD显示是否随着模式的改变而改变(视规格书而定)。
5.3键位与码测试
检查遥控器每一个跳线下的每一个按键所发的IR码是否符合规格。对于多功能遥控器,应测试各种模式下每个设置的每一个键的码,并测试在不同设置下其它模式的键码是否因此设置而发生变化。
5.4设置改变时专用键测试
此项测试主要是针对具有多功能设置的遥控器进行测试,要确保遥控器的专用键(即不受设置改变而改变的按键)不受设置影响而改变,检查遥控器在每个档位中当2009-12-4设置改变时是否因不同的设置而使其IR码,格式改变。对于多档位的遥控器,还应注意交叉测试。即一个档位的设置改变了是否会影响其他档位的IR码格式。
12.2当RCU所用LCD为点阵型时,对LCD的测试一定要对照规格书的显示图进行逐点核对,看其是否符合规格。在测试过程中不能出现有LCD显示点的个数缺少位置不符等不正常现象。
13、开关档位测试:
模式转换开关拔动测试主要是针对带有模式开关的RCU进行开关拔动测试,各种模式的设置是否受开关的改变而改变,LCD在此种操作下会不会出现在此操作中应对以下四种不同情况进行测试:
5.2IR码时间参数测试:
对于除周期之外的时间误差范围定在+/-3%之内,但对于某些bit时间较短的码,由于MCU指令周期的原因,可能会超出此允许误差,此情况应征得客户或相关人员的确认;对于码的周期时间误差范围为+/-0.5ms之间,对于有些格式不是周期固定,而是X时间固定的时间误差范围也同样为+/-0.5ms之内。如果客户有特别要求,需根据客户标准进行相关的测试。
5.1.4测试软件时应按照不同的格式相应记录以下列表中的各项;对于多功能遥控器IR码只作抽样记录,但所有键均需进行读码校对测试,对于没有设置功能的遥控器应将每个按键下的每个IR码都记录于报告中。
C:Customer code
D: Date code
RC:Reverse customer code
RD:Reverse data code
b.测试时是:X:wait time在变化还是T: Cycle time时间在变化。
c.快速按键测试时,观察是否发码,发几帖码。发出的码是否符合规格,它的第一组,第二组,第三组是否都符合规格要求,并予记录。
d.同一键按多次测试,即多次测试同一个键,观察键码是否发生改变,此测试有两种情况,第一种是连续多次按统一键,另一种是按一次测试键,然后按一次其他键,再按测试键,如此循环,检查码是否符合规格,是否会出现出错码的现象。
11、按键反应时间测试:
指从按键MCU的输入端口电平变换到IR信号发送出来的这一段时间。在测试反应时间时,对于遥控器带有功能转换开关或跳线模式,则应在转换开关的各档位或每个跳线模式下作测试。若无客户特别规定,按键反应时间一般在20ms一5Oms之间。MCU的输入端口随选用的IC不同而不同。
12、LCD显示测试:
5.1码的规格测试与步骤
5.1.1收到一款新的测试通知后,应认真研究测试通知书及客户规格书,并准备样机准备测试,
5.1.2测试人员在测试软件之前,应确保测试样机每一按键有效,静态动态电流正常。
5.1.3码的规格测试主要包括码的格式,IR码的类型,重复码的类型,IR码的各个时间参数进行测试。对于单一功能遥控器,按键测试每一个键码,将IR码的各项参数与规格书进行比较,如有不符合标准,将其记录于测试报告中;对于多功能遥控器,应测试各模式下每一个设置的每一个键的码极其发码格式是否符合规格,并测试在不同设置下其它模式的键功能是否发生变化。
版本
修订日期
修订内容
原(修)订人
1.01
2010-5-10
增加8.3掉电速度测试
程友江
需会签部门:
■市场部:■工程部:■品质部:
■采购部:■生技部:□管理部:
■PMC部:■仓储部:□财务部:
■生产部:■文控中心:
1目的
为确保软件设计和开发能预期达到客户所规定和期望的要求,特制订本测试作业指导书。
2适用范围
8.2正常入电、掉电测试是指在未按键的一青况下连续进行入电、掉电100次以上,每次入电后都应检查遥控器的IR是否正常,LCD显示是否正常,开关跳线有无错误。不能出现如:死机、IR管常发射、发码的格式不对或发错码、LCD显示字体错乱等。
8.3掉电速度测试:为了避免在掉电过程按键以致对其它外部储存器构成影响,要做掉电速度测试。对带储存IC的RCU掉电到1.0V以下应<1S,对不带储存IC的RCU掉电到截止电压应>10S.
9.3不带LCD的RCU静态电流一般为1-3uA左右,带有LCD的RCU最大静态电流不能超过50uA,动态电流最大一般不超过50mA。对于用不同的IC其静态电流是不同的;对于动态电流,其大小与所发码格式有关。
10、截止电压测试:
截止电压是指RCU能正常工作发码的最低工作电压,RCU测试时IC最低工作电压不能高于2.3V。在测试截止电压时,对于遥控器带有模式转换开关或跳线模式,则应在模式转换开关的各档位或每一个跳线模式下作测试,特别注意有跳点设置的行上的键此时发码是否正常。
13.3当进入设置模式时,拔动开关。此时设置是否受开关的改变而退出或保持在原状(视规格书而定)。
13.4当在按键或不按键的两种状态和决速拔动开关,模式是否因此种非法操作而出错、LCD的显示是否能及时刷新显示。
14、方向键处理测试:
方向键处理主要是针对于当RUC方向键的机械结构为一个整体时,为适应此种机械结构而在软件中对五个方向键进行特殊处理操作。在进行方向键测试时,当注意五个方向键是否处于同一输入端口若不处于同一端则应当提出。方向键的处理方法因各个客户规定各不相同,所以对不同机型的方向键处理测试时应严格按照规格书进行。
S: Start code
E:End code
H:Header time
E:Ending time
0:Waveform time of data bit 0
1:Waveform time of data bi
T:Cycle time
CF:Carrier frequency(unit: Hz or us)
5.5快速单间/双键测试
5.5.1是指按住任意键的时间在不大于最少所防码组数的时间内释放,检查所发的码、格式、组数是否符合规格,根据不同的格式,快速按键时间的长短也不同,如SONY格式,规定快速按键最少发3组IR码,它的每组码的长度是45ms,那么意味着在按键时间不大于45ms*3=135ms之内释放都要发出三组IR码,且只能是三组。而对于NEC格式,按键时间为100ms之内都只能发一组IR码。
本程序适用于本公司工程部所从事软件测试的相关技术人员。
3职责
3.1工程部电子主管负责提供市场上对产品软件的需求信息和客户提供的资料接收。
3.2工程部软件组负责电路和软件设计的策划、输入、输出、评审、验证、更改和确认。
3.2.1软件组长负责提供软件资料和信息接收,评审,制订开发进度表,软件设计和开发的责任
15、测试模式测试:
此测试主要是对当RCU进入测试模式下所有按键的发码,显示等是否符合客户规书要求。对于发码较复杂的机型,如空调的IR码;带有LCD显示的机型若客户规格书未作要求,为方便生产品质控制,要求软件工程师都应自订一个测试模式。自定的测试模式要包含能测试所有按键是否正常,所有的开关是否正常.所有的硬件电路能否工作,LCD显示全显,半显,不显点操作等。
5.5.2此测试的目的是检测快速按键发码是否正常,一般情况下只发一帧码,参考图1(特殊格式除外)。如果快速按键测试发码为图2,则为不合格。
图1
图2
5.5.3快速双键交换测试,以最快的速度按住“A”键,此时发的是“A“键的码,又以最快的速度按住”B“键,马上又释放”A“键,此时应发”B“键的码,就这样连续交换测试数10次,检查是否有异常情况发生。
12.1主要是指针对带有LCD显示的遥控器进行测试,在测试时是否按照客户规格书进行显示;应特别测试LCD是否有缺划、显示混乱、起彩、闪烁不清、背影重等不正常现象。当RCU带有模式转换开关时,拨动模式开关,看LCD的显示是否因档位开关的拔动而使显示出现错误,闪烁等不正常现象;乱按键之后观察LCD显示是否正常;按键上电观察LCD显示是否正常。
4.1.9方向键处理测试
4.1.10按键入电、掉电测试
4.1.11静态、动态电流测试
4.1.12截止电压测试
4.1.13按键反应时间测试
4.1.14LCD显示测试
4.1.15开关档位测试
4.1.16测试模式测试
4.1.17冷、热启动测试
4.1.18按客户规格书各项内容测试
4.1.19时间参数测试
5.测试方法
分配、跟进,以及开发结果的验收,必要时提供技术支持。
3.2.3测试组工程师负责根据客户规格书要求制订测试方案,,测试编写工厂测试程序。
Baidu Nhomakorabea3.2.4工程部软件测试技术人员负责对新开发的软件进行测试,验证及记录,并完成测试报告。
3.2.5项目组负责开发进度跟踪,安排软件测试样机给客户确认,提供烧录软件和测试机架
Duty: Carrier duty
Toggle bit: waveform time
X: Wait time
Y: Wait time
5.1.6软件在测试码时要注意以下几项。
a.它是属于重复结束码、还是重复整组码或是只重复数据码,重复码的整个周期时间是否正常,它的第一组、第二组和第三组的重复数据是否符合规格要求。
给生产技术部。
3.2.6工程部样板组负责软件样机的制作、测试。
4测试程序及方法
4.1软件测试项目如下:
4.1.1码的规格测试,
4.1.2键位与码是否相符测试
4.1.3快速单键/双键测试
4.1.4双键测试
4.1.5多键测试
4.1.6乱按键测试(多次按单,双键)
4.1.7按键入电、掉电测试
4.1.8功能键测试(如SHIFT键,backlight,触摸屏,学习,搜索等)
7、乱按键测试:
在摇控器键位上乱按测试100次以上,在乱按键过程中应注意观察有无死机,发乱码,或常发射,LCD显示字体错乱等现象。
8、按键入电、掉电测试及正常入电、掉电测试:
8.1先按任意键然后入电,测试其功能是否会出现异常,如:死机、IR管常发射、发错码、LCD显示字体错乱等。对于单功能的遥控器,一般情况若客户未作要求,按键入电应不会发码的,因为上电发码可能会影响MCU读跳线。
5.5.4双键测试:
除规格书特殊要求外,双键同时按时,都应不发码。同时按A和B,先释放“A”键,应发“B“键的码,反之应发“A”键的码。总之,在任何情况下,不管是“A”、“B”哪个键先释放,最后保留所按下的单键都应是重新发码。
6、多键测试:
除客户特别有要求外,多键(二键以上)都应不发码。在一般情况下不管是按住双键或多键应无发码,如果客户规格有双键或多键功能时,此时应特别留意当按住规定的双键、多键发码时按其余键,测试此时是否互锁互锁后再释放其余的键,测试此时发码是否符合规格。
9、静态、动态电流测试:
静态电流是指RCU在无按键情况下RCU所消耗的电流,动态电流是指RCU在正常工作发码的情况下,RCU所消耗的电流。
9.1在进行静态、动态测试时,测试标准电压应为3+/-0.1v,如遥控器带有模式转换开关或跳线模式,则应在每种模式转换开关档位或跳线模式下作相应测试。
9.2在进行静态电流测试的过程中,要对下列两种情况分别测试:一是不按键的情况下从上电到静态电流稳定所需时间,一般只需5-8秒万用表的读数就应稳定下来,若存在不停的有较大幅度上下跳变或居高不下的清况都属于不正常现象;二是当按键发码后静态电流也应很快平稳下来,否则都属于不正常现象
16、冷、热启动测试
冷、热启动测试主要是针对带设置的RCU进行的一项测试,目的在于测试当RCU短时间掉电后原设置号是否会丢失,LCD显示是否出错,模式等各项内容是否符合规定。
16.1所谓冷启动.即MCU在彻底掉电后,再重新上电,MCU此时将会对对RAM进行初始化操作。冷启动测试即测试RCU在冷启动后其各个模式是否处于相应的默认模式,默认状态下的IR码是否正确,LCD显示是否正确等各项内容测试。