加速器质谱装置及加速器质谱测量方法[发明专利]

专利名称：加速器质谱装置及加速器质谱测量方法
专利类型：发明专利
发明人：何明,包轶文,游曲波,苏胜勇,姜山,李康宁,赵庆章,胡跃明
申请号：CN201910743604.8
申请日：20190813
公开号：CN110444461A
公开日：
20191112
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本发明提供了一种加速器质谱装置，包括用于产生负离子的离子源，离子源产生的负离子通过注入系统进入串列加速器，串列加速器连接至分析系统并且分析系统连接至探测器；其中，串列加速器包括第一加速管、气体剥离器和第二加速管，第一加速管、气体剥离器和第二加速管依次连接；注入系统包括第一静电分析器和注入磁铁；分析系统包括分析磁铁和第二静电分析器。

本发明还提供了一种基于该加速器质谱装置的测量方法。

本发明通过对加速器质谱装置进行优化设计以简化其结构并提高装置的质量分辨和传输效率，从而实现痕量或超痕量多核素的高效、高灵敏测量。

申请人：中国原子能科学研究院
地址：102413北京市房山区新镇三强路1号院
国籍：CN
代理机构：中科专利商标代理有限责任公司
代理人：张成新
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