液晶显示器基板玻璃质量的检测方法
显示屏检验规范及缺陷判定标准
一、目的：规定LCD液晶显示屏的检验项目、检验方法及判定规格，为IQC、OQC、IPQC、QA检验人员提供判定依据。
二、适用范围：适用本公司各供应商及无特殊要求顾客提供的液晶屏的检验判定。
三、抽样水准：进行全检四、使用工具：1、VGA信号发生器2、测屏治具3、静电环、静电手套4、卷尺、放大镜、游标卡尺;五、检验条件：1、照明条件：日光灯600～800LUX；2、目光与被测物距离：30～45CM；3、常温条件下六、PANEL等级：6.1像素缺陷6.1.1定义液晶屏由正方形的像素组成，每一组像素有R/G/B三个子像素组成，如图1或图2所示6.1.2暗点：由于MOS管失效，造成一个子像素点一直不发光，称为暗点暗点的判定：当不发光的子像素面积大于像素面积的1/2时，判定为一个暗点，反之则不计。
如图3，图46.1.3亮点：由于MOS管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点亮点的判定；当发光的子像素面积大于子像素面积的1/2时，判定为一个亮点如图5，图6所示6.1.4微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮，符合下面条件时判为微亮点如图76.1.5杂质不良：杂质不良是液晶屏内背光模组部分或偏光片两面等部位侵入杂质引起的不良，杂质不良形状不规则，与像素没有必然的联系，分为圆形和线形，如下图6.1.6偏光片缺陷：液晶屏表面有划伤，凹痕，起泡，气泡等从外表可以看到的不良现象；6.1.7漏光：在黑场，或者蓝场的界面下（有专用测试LCD的颜色软件）能看到有泛白的区域，如图14对于漏光可以根据自己以及客户的接受界限来判定，像上图的大面积漏光且于周围有明显的分别是不允许接受的，如漏光区面积小且与正常区过渡平缓，无明显的分界（如图15）可以适量的接受。
七、屏幕划区：A/B区：八、检验项目及判定标准：1、外包装检查:检查外包装是否完好无损.（全检/批）2、规格型号、等级检查:按入库单号及采购定单，核对每批来料的规格型号、等级是否与实物一致（5PCS/批）.3、外形尺寸检测:检测其长度、宽度、厚度与及灯管线的长度，以工程研发提供相应的规格书为标准，确保所有检测的数据符合要求.（5PCS/批）4、显示画面缺陷判定:通电，用专用检测设备对各个画面进行检九、液晶屏等级判定：9.1 A+ 级等级判定规格备注A＋级亮点N=0所有缺陷不可同时存在微亮点N≤3 Windows桌面不可见暗点N≤3 暗点间距≥5cm连点不允许微暗点忽略污点A区不允许；B区≤1；C区≤2；A区+B区+C区N≤3；且Φ≤0.3mm或W≤0.3，L≤1.0mm；间距≥5cm Windows桌面显示为暗点白点（团）不可见.暗斑无9.2 A级9.3 B 级9.4 C 级十.相关记录:QR-H-02 A/0 --- IQC检验记录表。
LCD、LED屏检验判定标准
一、目的统一规定LCD液晶显示屏的检验项目、检验方法及判定规格,为IQC、QC、QA 提供液晶判定依据.二、适用范围适用本公司各供应商及顾客提供的LCD液晶屏.三、检验水准全检四、使用工具卷尺、MASK、电脑附专用测试软件、放大镜、游标卡尺、测屏冶具、静电环、静电手套、滤光片.五、注意事项5.1 检测时,检验员必须配戴静电环和静电手套;5.2 操作时,注意手不能紧握驱动板和液晶面板显示区域;5.3 仪器设备必须接地良好;5.4 检查距离正面目视距显示屏30～50cm,每个检测画面目视至少3-5秒;5.5 检测环境:温度,25±3℃;湿度,60～80﹪RH;亮度为300-800LUX;5.6 LCD屏属贵重物品,注意轻拿轻放,拿出或装进包装箱时,手应托住显示屏边框下部.六、坏像素名词解释6.1 亮点: 在底色画面或红/绿/蓝画面,屏幕上一直发光的一个红/绿/蓝发光的像素格,计为一颗单亮点.(附图1)6.2 暗点: 在全白画面或红/绿/蓝画面,屏幕上一直不发光的一个红/绿/蓝发光的像素格,计为一颗单暗点. (附图2)6.3 连点: 相邻近的两个或两个以上的亮点或暗点组成一组点.如两个相邻的亮(暗)点,称为一组2连亮点(附图3)或2连暗点(附图4);三个相邻的亮(暗)点,称为一组3连亮点或3连暗点.(附图5)6.4 微亮点: 当某个单色发光点的面积小于1/2个像素格时,称微亮点.(附图6)6.5 微暗点: 当某上单色不发点的面积小于1/2个像素格时,称微暗点.(附图6)6.6 斜纹: 水波纹状的倾斜条纹,分布呈带状或满屏,称斜纹.6.7 污点: 液晶片生产用料不纯而带来的杂质,呈点状、线状或不规则形状,且颜色深浅不一.6.8 划伤: 异物接触液晶屏的偏光片,使其受损而形成的点状或线状的缺陷.6.9 暗团: 液晶屏局部显示亮度较其周围偏暗而出现视觉上的暗印,称暗团.6.10 亮斑: 液晶屏局部显示亮度较其周围偏亮而出现视觉上的亮团,称亮斑.6.11异物: 灰尘或其它小杂质落入偏光片和玻璃之间,在底色画面形成发光和白色画面不发光的点状或不规则线状的缺陷.6.12 Mura: 液晶屏局部显示在视觉上灰色或白色的色差,呈点状、线状或带状分布.6.13 白点(团): 液晶屏在单色画面或Windows桌面下局部显示呈白色的点(团)状缺陷,与周围显示区域的颜色差异变化明显.6.14 内划伤: 液晶屏生产时,偏光片内侧或玻璃表面由于刮伤而形成的线状缺陷,在底色画面下呈发光的短线状.6.15 雾点: 液晶屏在底色画面下显示时,局部呈云雾状的轻微发光缺陷.6.16 漏光: 在屏幕外壳与液晶面板贴合处,漏光就是在不紧密而造成的背光灯的光线泄露,局部显示亮度大于周围显示区域,呈带状或半圆形的缺陷.6.17弱线: 在单色画面或Windows桌面,与上、下边框平行(横线)或与左、右边框垂直(竖线)的整条线状缺陷,呈灰黑色(暗线)或乳白色(白线),线体朦胧,不影响字符或图像的显示.6.18 底色银粉: 在底色画面下,局部呈银色的粉状缺陷,成片的分布.6.19晕点: 偏光片内的异物反光造成,有底色画面或Windows桌面下,在异物的周围形成一道光晕,亮度在视觉上要较周围偏亮.6.20偏光板汽泡: 由偏光板内的残留汽泡在通电时发光形成的在任何检测画面都能显示的点状缺陷,以所占的横向像素格的个数作为直径.6.21压伤: 液晶屏正面的局部显示区域受到外力重压后,受压部位玻璃未破损,但液晶体不能正常显示而呈现的点状或条状黑斑.6.22 液晶溢出: 在液晶屏玻璃未破损的情况下,液晶体溢到玻璃和偏光片之间形成的形状不规则的黑色缺陷,在任何发光画面可见,溢出部位不能形成画面显示.6.23 亮线: 由于IC和玻璃之间的连接不良造成的横向或纵向的在底色和红/绿/蓝画面一直发光的完整的线状(带状)缺陷,缺陷部位不能形成画面显示.6.24 暗线: 由于IC和玻璃之间的连接不良造成的横向或纵向的在全白和红/绿/蓝画面一直不发光的完整线状(带状)缺陷,缺陷部位不能形成画面显示.(黑色称之为黑线,彩色称之为彩线)6.25 白屏: 由于驱动板不良造成的液晶屏只有灯管发光,显示区域无任何显示信号,整个屏幕为白色.6.26 密集点: 两个(组)或两个(组)以上相邻近但又不相连的点(连点)称为密集点.七、坏像素注释及说明7.1 亮点(附图1) 7.2 暗点(附图2)为一个暗点7.3 连亮点(附图3) 7.4 连暗点(附图4)连亮点 连暗点7.6 附图61).当某个单色发光点的面积小于1/2个 2).当某个单色不发光点的面积小于1/2个像素格时,称微亮点; 像素格时,称微暗点. 7.7 点状缺陷和线状缺陷的划分a:垂直宽度,b:水平宽度1)当2a ≥b时,为点状,Φ=(a+b)/2;2)2a ﹤b 时,为线状. 7.8 坏像素的判定发光面积≥1/2像素格 a ≥1/2像素格 ①a ≥1/2像素格 a ﹤1像素格◆亮点 ◆1个点 ◆2连亮点 ◆1亮点 ②a ﹤1/2像素格 ◆1亮点 7.9 显示区域的划分显示屏的正中心为圆心,以LCDA 区;区以外的所有区域.八、检验项目8.1外包装检查:检查外包装是否完好无损.（全检/批）8.2规格型号、等级检查:按入库单号及采购定单,核对每批来料的规格型号、等级是否与实物一致.（5PCS/批）8.3外形尺寸检测:检测其长度、宽度、厚度与及灯管线的长度,以工程研发提供相应的规格书为标准,确保所有检测的数据符合要求.8.4玻璃在铁框内的移动范围:≤0.5mm.8.5黑边偏移:上下黑边偏移≤0.5mm,左右黑边偏移≤0.5mm.8.6显示画面缺陷判定:通电,用专用检测软件对各个画面进行检测,按《液晶屏缺陷判表据表》进行分类,并记录标示.九、液晶屏等级判定标准9.1 A+ 级9.2 A 级9.3 B 级9.4 C 级9.5 D 级。
基板玻璃的种类
基板玻璃的种类
基板玻璃是电子元件制造中常用的一种材料，主要用于半导体、平板显示器、光电子器件等领域。
不同的应用需要不同种类的基板玻璃，以下是几种常见的基板玻璃种类：
1.硅基板玻璃（Silicon Substrate Glass）：硅基板玻璃是一种用于制造集成电路（IC）和光电子器件的基板材料。
其具有优良的化学稳定性、热稳定性和机械强度，适用于高密度集成电路的制造。
2.玻璃基板（Glass Substrate）：玻璃基板通常用于液晶显示器（LCD）、有机发光二极管（OLED）等平板显示器件的制造。
根据具体应用的要求，玻璃基板可以采用不同的材料和加工工艺，如钠钙玻璃、硼硅玻璃等。
3.石英基板（Quartz Substrate）：石英基板具有优异的光学性能和化学稳定性，常用于制造光电子器件、激光器件等高精密度器件。
石英基板可以承受高温高压的加工条件，适用于微纳米加工工艺。
4.氧化铝基板（Alumina Substrate）：氧化铝基板具有优良的绝缘性能和热导率，适用于制造高功率、高频率的电子器件，如功率放大器、射频（RF）元件等。
5.氮化硅基板（Silicon Nitride Substrate）：氮化硅基板具有优异的热稳定性和机械强度，常用于制造高温高压传感器、微机电系统（MEMS）等微纳米器件。
以上所列举的基板玻璃种类仅为常见的几种，随着科技的进步和应用领域的不断拓展，还会有更多新型基板玻璃材料的出现。
选择合适的基板玻璃种类需要根据具体的应用要求、工艺需求和性能指标进行综合考虑。
浅论TFT—LCD用玻璃基板的性能及检测
浅论TFT—LCD用玻璃基板的性能及检测作者：岳峰汪斌来源：《中国化工贸易·下旬刊》2018年第07期摘要：我国作为TFT-LCD产品的消费大国，近年来对TFT-LCD的市场需求正逐渐提升，玻璃基板是生产TFT-LCD极为重要的材料，其性能如何直接决定了TFT-LCD产品的质量。
本文介绍了TFT-LCD用玻璃基板的性能要求，并初步分析了其性能检测方法。
关键词：TFT-LCD；玻璃基板；性能随着技术手段的不断创新与深化，薄膜晶体管型液晶显示器凭借清晰的图像、丰富的色彩、逼真的视觉感受以及较轻的重量等诸多优势在显示器的市场中逐渐占据主流地位，传统阴极射线管显示器相比TFT-LCD在质量和性能方面有很大不足，正日益从显示器领域中淘汰。
TFT-LCD的构成中包含了偏光板、背光源以及液晶面板等元件，液晶面板的制作过程中玻璃基板是必不可少也是最为重要的一部分，一块液晶面板的生产需要底层玻璃基板和滤光片两块玻璃基板。
玻璃基板即通常而言的素玻璃，其主要特点是平滑度、精细度都十分高，并且极薄。
玻璃基板的使用历史不长，自20世纪90年代开始，由日本研发并正式投入生产，到目前为止玻璃基板已经进行了数次更新换代。
尽管玻璃基板在显示器的制作全过程中仅仅耗费5%左右的成本，但玻璃基板的性能直接决定了显示器的制造水准，影响显示器在分辨率、视角、重量、透光水平等诸多方面的表现。
1 TFT-LCD用玻璃基板的性能要求1.1 外观与尺寸显示器的制造工艺对于精密性有着极高要求，玻璃基板的外观尺寸的误差不能超过0.1mm，对玻璃基板的厚度和外表的平整程度也有十分严格的限制。
平整度高的玻璃基板可以保证光刻过程顺利进行，使曝光时可以充分聚焦于整个平面，避免电路故障的产生。
此外，玻璃基板的尺寸必须控制在极小的误差范围内，否则会对像素和电场的稳定造成破坏，导致显示器出现色彩或是灰度不均匀的问题。
除了以上外观条件的限制，玻璃基板的表面应保证不存在污渍或是划痕，一些内在缺陷如包裹体或是气泡应尽量避免，即使存在也应保证内在缺陷足够小，缺陷面积不能超过单个像素面积的20%。
tft-led玻璃基板用途
tft-led玻璃基板用途
TFT-LCD（薄膜晶体管液晶显示器）是一种广泛应用于电子设备
中的显示技术，而LED（发光二极管）则是一种常见的光源。
结合
这两种技术，TFT-LCD和LED玻璃基板可以用于各种电子设备中，
包括但不限于电视、显示器、笔记本电脑、平板电脑、智能手机和
平板电视。
LED玻璃基板可以作为TFT-LCD显示器的背光源，通过LED的发光特性来提供显示器的亮度和对比度。
这种技术被广泛应
用于各种类型的电子设备，因为LED玻璃基板具有高效、长寿命和
节能的特点。
在TFT-LCD显示器中，TFT（薄膜晶体管）用于控制每个像素的
亮度和颜色，而LED玻璃基板则用于提供背光。
LED玻璃基板通常
被放置在TFT-LCD显示器的背面，通过不同的排列方式和控制方法，可以实现不同类型的显示效果，包括全彩色、高对比度和高亮度。
除了在消费类电子产品中的应用，TFT-LCD和LED玻璃基板还
被广泛应用于医疗设备、工业控制系统、车载显示器和户外广告牌
等领域。
在这些领域中，TFT-LCD和LED玻璃基板的高亮度、高对
比度和可靠性使其成为首选的显示技术。
总的来说，TFT-LCD和LED玻璃基板的结合主要用于提供各种电子设备中的高质量、高亮度和高对比度的显示效果，其应用范围广泛，包括消费类电子产品、工业设备和专业显示领域。
液晶显示器IQC来料检验作业指导书
3 电气性能显示特性显示内容应准确、清晰；无重影、断笔、缺笔画及显示错误等现象，字体大小应符合。
可见的损伤按如下测试标准：1）0.1mm以下不计；2）0.1（含0.1）mm―0.15（不含0.15）mm的点允许有4个，2个点作为一个缺陷；3）0.15（含0.15）mm―0.2 (不含0.2) mm的点允许有2个，每个点作为一个缺陷；4）0.2（不含0.2）mm以上的点不允许存在；当存在1个0.2mm点的同时，最多再允许上述2、3项中有一个缺陷。
★★ 5）装配至整机情况良好，在余角差45°能看到清晰光线。
3.5寸TFT彩屏显示特性：将显示屏安装到测试治具上通电进行图案显示：红、绿、蓝、白、黑以及一幅烹饪图片观察一遍，显示内容应准确、色彩清晰、字体大小应与封样的彩屏一致、无重影、断笔、缺笔画及显示错误。
显示屏可见损伤检验，将显示屏安装到测试治具上通电进行图案显示，进入任一幅图画，可见的损伤按如下标准坏点（以下数据指平均直径,单位:mm）0.2(含0.2)以下的坏点不计。
0.2(不含0.2)-0.5(含0.5)的坏点允许有3个。
0.5(不含0.5)以上的坏点不允许存在。
暗点在I区域允许有1个，在O区域允许有2个。
亮点在I区域不允许出现，在O区域允许有1个。
暗点和亮点在O区域内允许出现总共不超过2个，在整个可视区域内总共不超过3个坏线（以下数据单位为mm）坏线宽度小于0.03(含0.03)的不计。
坏线宽度在0.03（不含0.03）-0.04（含0.04）、线长小于5（含5）的条数不允许超过4条。
坏线宽大于0.04（含0.04）、线长大于5的不允许存在。
将显示器装于实际电路或工装检测装置中，加驱动电压，调节频率发生器的占空比、偏压比，频率调节为64Hz后进行全显和分选检测，视角准确。
工装、频率发生器BAQL=0.4Ⅱ亮度测试用数字式照度计对显示屏进行亮度测试，白色画面测试亮度值在195±10之间为合格（针对3.5寸TFT彩屏）亮度计BAQL=0.4Ⅱ4 环境试验★稳态湿热试验后，外观、显示特性测试符合要求将显示器放在温度40±2℃，RH90±2%的潮态箱中保持48h，恢复2小时。
液晶玻璃基板表面及内部缺陷检验设备光学原理
液晶玻璃基板表面及内部缺陷检验设备光学原理摘要：液晶玻璃板生产企业向下游生产企业供应玻璃制品,必须经过严格的质量检验,检验的重点是玻璃表面缺陷和玻璃内部缺陷。
本文部件介绍了液晶玻璃基板表面及内部的缺陷,还介绍了在不同相机配置和光源下时会产生不同位置缺陷的光学成像,并结合自动检测装置的这些检测缺陷的特点,来判断检测项目中存在的缺陷,为仪器的研制提供参考。
关键词：液晶玻璃基板；检测装置；光学成像；玻璃缺陷前言液晶玻璃基片质量检测中,最主要的检测项目是玻璃内部及表面的缺陷。
例如内部结石、白金、气泡、表面的玻璃等附着、擦伤等检测内容,包括这些缺陷的部位,尺寸的大小,具体种类等,一般都采用自动检测设备,不同企业对光源、相机的选择不同。
根据光干涉原理,通过对玻璃基片表面光强的变化进行对比,设计了系统。
流水线上,干涉条纹会光在通过玻璃基底时产生,有缺陷在玻璃表面时,会明显的看到条纹变化,而原来检测系统的灵敏度会变的更高。
本系统可实现生产线的自动检测和快速检测,并可根据检测结果的变化,对玻璃缺陷进行实时识别。
但由于需要大量的光学检测设备,检测方法和原理复杂,以及生产线的安装和使用成本较高,玻璃基板生产商很少采用这种检测方法。
本文主要从光源和相机配置两个方面,分析了光学成像中玻璃不同位置缺陷产生的原因,以了解如何获取有缺陷玻璃厚度方向上的位置,缺陷的大小及具体类型,,其图像各不相同,其次才是光学分析。
一、检查表面和内部缺陷1.表面粒子检测玻璃板材出厂前必须清洁,环境设备、操作条件、工艺条件、清洗液都会影响清洗效果。
异物残留量较大的玻璃基板需重新清洗为检查清洗效果符不符合质量的要求,玻璃表面清洗后剩下的残留的异物需要被检测和确认(颗粒),以确保产品出厂。
在玻璃基板上,剩余的异物可被人为地划分为三种大小:小颗粒(一般尺寸:1-3μm)、中颗粒(一般尺寸:3-5μm)、大颗粒(一般尺寸:5-10μm)。
在粒径检测时,检测设备只需将剩余的杂质分成小、中、大三个粒径规格,并分别列出数量。
液晶屏检验标准
5.2.7彩色分析仪5.2.8视频信号图形产生器5.3 像素点失效判定方式5.3.1暗点(Dark Dot)：由于MOS 管失效造成一个子像素一直不发光，称为暗点，如图3 所示；像素失效，于白色、50%灰阶、红色、绿色、蓝色画面，显示为暗态者暗点的判定：当不发光面积大于单个子像素1/2 面积时判定为一个暗点；当不发光面积小于或等于单个子像素1/2 面积时不计。
相邻的暗点：相邻的两个子像素（水平或垂直）都是暗点时，称为相邻的暗点，如图4所示。
5.3.2 亮点（Bright Dot）由于MOS 管失效，造成一个子像素一直发光，称为亮点，如图5 所示。
像素失效，于50%灰阶、Windows标准、黑,红,绿,蓝画面，显示为亮态者。
当发光面积大于单个子像素1/2 面积时判定为一个亮点，如图6 所示；微亮点：由于液晶屏内两个电极间侵入了可导电的杂质微粒，造成像素内部分区域一直发亮。
符合以下条件时，判定为微亮点（如图7 所示）：发光面积小于或等于单个子像素面积的1/2；在第50%灰阶下可以看到的亮点计为微亮点，在第50%灰阶下无法看到的亮点不计。
5.3.3 碎点(Partial Dot)像素失效的大小小于单个Dot 的1/2（如下图）(大于1/2 Dot) (碎点：大小小于1/2 Dot)备注：当1 dot 里面出现2个碎点，但是2个碎点的大小和超过1/2 dot ，同样算1do 不良5.3.4点状缺陷与线状缺陷的判定方式： 5.3.4.1点状缺陷：a.点状：以点的规格D 平均直径判定，参见图1。
平均直径D=a+b/2。
b.圆形之线状：θ>180°，以点的规格D 平均直径判定，参见图2。
平均直径D=D 1+D 2/2。
图1 图25.3.4.2线状缺陷：a .若θ≤180∘，以线的规格W/L 判定，参见图3。
W ：线宽，L ：线长b.若θ>180∘，但卷曲的平均直径d ≤0.1mm ，则以线的规格W/L 判定，参见图4。