材料分析重点归纳
高考地理材料分析题的解题技巧
高考地理材料分析题的解题技巧一、明确答题方向1.自然环境特点——性质特点的综合成因分析。
这类题先定位最为重要。
应注意图表中的数值，在平面地图中植被类型和农业地域类型，以“水环境”为中心，围绕“气候——地形”这一重点的成因因子来分析。
如：气候分析可从①气温高低：纬度——太阳辐射，洋流——寒暖流，海陆分布——海陆热力差异，地形——地势高低，人——植被破坏和城市热岛。
②降水多少：风、压——环流形势(西风带、低压带、海风是多雨的)，地形——迎风坡与背风坡，洋流——寒暖流，人——对林、草、湖、湿地的破坏与保护。
这类题目要排除雷同条件，突出主导因素。
这也是近几年常用的考法：在小比例尺(多在选择题中、大范围平面图中)地图中，一般是考大地理格局因素即：纬度因素和风带、气压带、季风因素;在大比例尺地图中(多在非选择题中、小范围平面图中)，一般是考地理局地因素即：地形因素、洋流因素、海陆热力差异因素和人为因素。
例1台湾火烧寮成为我国“雨极”的原因。
【答案】临海空气湿润，水汽丰富;地形抬升致雨;西北来的冬季风经海洋变性，水汽易达到过饱和。
【技巧点拨】这是小范围局地因素所致。
例2比较旧金山和洛杉矶的气候特点异同。
【答案】同：两者均为地中海式气候，夏季高温干燥，冬季温和多雨。
因为两均处于30°～40°N的大陆西岸。
异：旧金山的雨季比洛杉矶长，年降水量较大;洛杉矶比旧金山高温干旱季节时间长。
因为旧金山受西风控制时间长;洛杉矶受副高控制时间长【技巧点拨】这是大地理环境因素所致。
2.地理灾害的综合成因分析：多从“天、地、人”三角度综合采点分析。
例3 说明淮河夏季洪涝多发的原因和措施?【答案】成因：①天(气候因素)——淮河流域夏季降水集中，多暴雨。
②地(地形地貌因素)——扇形水系，汇水快;下游地势低平，又曾为黄河的洪泛区，河床高悬。
③人(社会因素)——不合理地利用资源，破坏植被引起水土流失，河床变浅;围湖围滩造田降低了河湖的调蓄能力。
材料分析方法重点总结
材料分析⽅法重点总结1.（1）试说明电⼦束⼊射固体样品表⾯激发的主要信号、主要特点和⽤途。
（2）扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 给出典型信号成像的分辨率（轻元素滴状作⽤体积），并说明原因。
（3）⼆次电⼦（SE）信号主要⽤于分析样品表⾯形貌，说明其衬度形成原理。
（4）⽤⼆次电⼦像和背散射电⼦像在显⽰表⾯形貌衬度时有何相同与不同之处?答：（1）背散射电⼦:能量⾼；来⾃样品表⾯⼏百nm深度范围；其产额随原⼦序数增⼤⽽增多.⽤作形貌分析、成分分析以及结构分析。
⼆次电⼦:能量较低；来⾃表层5－10nm深度范围；对样品表⾯形貌⼗分敏感.不能进⾏成分分析.主要⽤于分析样品表⾯形貌。
吸收电⼦:其衬度恰好和SE或BE信号调制图像衬度相反;与背散射电⼦的衬度互补.吸收电⼦能产⽣原⼦序数衬度，即可⽤来进⾏定性的微区成分分析.透射电⼦：透射电⼦信号由微区的厚度、成分和晶体结构决定.可进⾏微区成分分析.特征X射线: ⽤特征值进⾏成分分析，来⾃样品较深的区域俄歇电⼦: 各元素的俄歇电⼦能量值低；来⾃样品表⾯1－2nm范围。
适合做表⾯分析.（2）影响因素:电⼦束束斑⼤⼩,检测信号类型,检测部位原⼦序数.信号⼆次电⼦背散射电⼦吸收电⼦特征X射线俄歇电⼦分辨率 5～10 50～200 100～1000 100～1000 5～10对轻元素，电⼦束与样品作⽤产⽣⼀个滴状作⽤体积(P222图)。
⼊射电⼦在被样品吸收或散射出样品表⾯之前将在这个体积中活动。
AE和SE因其本⾝能量较低，平均⾃由程很短，因此，俄歇电⼦的激发表层深度：0.5～2 nm，激发⼆次电⼦的层深：5～10 nm，在这个浅层范围，⼊射电⼦不发⽣横向扩展，因此，AE和SE只能在与束斑直径相当的园柱体内被激发出来，因为束斑直径就是⼀个成象检测单元的⼤⼩，所以它们的分辨率就相当于束斑直径。
BE在较深的扩展体积内弹射出，其分辨率⼤为降低。
X射线在更深、更为扩展后的体积内激发，那么其分辨率⽐BE更低。
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《综合素质》材料分析题第一章：职业理念第一节、教育观1、素质教育的内涵：（1）素质教育以提高国民素质为根本宗旨；（2）素质教育是面向全体学生的教育；（3）素质教育是促进学生全面发展的教育；（4）素质教育是促进学生个性发展的教育；（5）素质教育是以培养学生的创新精神和实践能力为重点的教育。
总结一下就是“提素、个性、创两全”。
在这五点中，后四点是经常考材料分析题的考点，大家在备考时要着重理解，在理解的基础上识记。
2、新课改的教学观：（1）教学从“教育者为中心”转向“以学习者为中心”；（2）教学从“教会学生知识”转向“教会学生学习”；（3）教学从“重结论轻过程”转向“重结论的同时更重过程”；（4）教学从“关注学科”转向“关注人”。
第二节、学生观：“以人为本”的学生观1、学生是发展的人：学生的身心发展是有规律的 ( 顺序性、阶段性、不平衡性、互补性、个别差异性 ) 对于这一点在材料分析题中考的较少，大家可以以单选题的形式备考，理解每一个规律的含义即可；学生具有巨大的发展潜能；学生是处于发展过程中的人；2、学生是独特的人：学生是完整的人；每个学生都有自身的独特性；学生与成人之间存在着巨大的差异；3 、学生是具有独立意义的人：每个学生都是独立于教师的头脑之外，不依教师的意志为转移的客观存在；学生是学习的主体；学生是责权的主体第三节、教师观：新课改背景下的教师观包括教师角色的转变和教师行为的转变。
1、教师角色的转变：（1）从教师与学生的关系看，新课程要求教师应该是学生学习的促进者；（2）从教学与课程的关系看，新课程要求教师应该是课程的建设者和开发者；（3）从教学与研究的关系看，新课程要求教师应该是教育教学的研究者和反思的实践者；（4）从学校与社区的关系来看，新课程要求教师应该是社区型的开放教师。
教师角色的转变总结一下就是“学生反建社”：学生是指学生学习的引导者和发展的促进者；反是指研究者和反思的实践者；建是指课程的建设者和开发者；社是指社区型的开放教师。
材料分析方法考试重点
连续谱强度分布曲线下的面积即为连续X 射线谱的总强度，其取决于X射线管U、i、Z 三个因素：I连= K1iZU2。
X 射线管的管电压越高、阳极靶原子序数越大，X 射线管的效率越高。
电子击靶时绝大部分能量消耗于使靶发热。
X射线产生的基本条件？产生自由电子（热阴极），使电子作定向高速运动（加速电场），在电子运动路径上设置障碍物（阳极(靶)。
当X射线管压高于靶材相应的某一特征值UK 时，在某些特定波长位置上，将出现一系列强度很高、波长范围很窄的线状光谱，称为特征谱或标识谱。
吸收系数在某些波长位置突然升高，所对应的波长称为吸收限。
当入射X射线光量子能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能时，电子易获得能量从内层逸出，成为自由电子，称为光电子，这种光子击出电子的现象称为光电效应。
将消耗大量入射能量，导致吸收系数突增，光电效应引起的入射能量消耗为真吸收，真吸收还包括热效应。
对于同一元素，λK < λKβ < λKα，此为同一元素的X射线发射谱与其吸收谱的关系。
这种一个K层空位被两个L 层空位代替的过程为俄歇效应。
相干散射：入射X射线光子与原子中束缚紧密的电子碰撞，只是方向改变，波长（能量）不变。
相干散射是X射线衍射的基础。
（弹性散射）不相干散射：入射X射线光子与原子中束缚弱的电子碰撞，产生反冲电子，入射X射线光子的方向和波长（能量）均改变，形成衍射花样的背底。
（非弹性散射，量子散射）。
X 射线与原子内受束缚较紧的电子相遇时产生的相干散射波，在某些方向相互加强，而在某些方向相互减弱，称这种散射波干涉的总结果为衍射。
入射线与晶面间的夹角θ称为掠射角或布拉格角；入射线和衍射线之间的夹角2θ称为衍射角；n 称为反射级数。
采用短波长X射线照射，可获得较大干涉面指数的反射。
因dsinθ =λ/ 2，故d≥λ/2，说明采用短波长的X射线照射时，参与反射的干涉面将会增多。
劳埃法—连续X射线入射固定的单晶体，主要用于单晶取向测定及晶体对称性研究。
材料分析重点归纳
名词解释1.物相：成分和结构完全相同的部分才称为同一个相；2.K系辐射：K电子被打出K层时，此时外层如L，M，N……层电子来填充K空位时，则产生K系辐射；3.相干干涉：.由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射；4.非相干散射：X射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射X射线长的X射线，且波长随散射方向不同而改变，散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，称为非相干散射。
5.荧光辐射：当X射线光量子具有足够高的能量时，可以将被照射物质原子中内层电子激发出来，使原子处于激发状态，通过原子中壳层上电子跃迁，辐射出X射线特征谱线，叫做二次辐射，也叫荧光辐射。
6.吸收限：激发K系光电效应时，入射光子的能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷，λk为产生K系激发的最长波长，称远时所作的功WK，入射X射线波长必须满足λk≤1.24V k为K系辐射的激发限。
7.俄歇效应：K层的一个空位被L层的两个空位所代替，这种现象称俄歇效应。
8.结构因子：单位晶胞中所有原子散射波叠加的波即为结构因子，用F表示。
9. 透射电子：如果样品足够薄(1μm以下)，透过样品的入射电子为透射电子，其能量近似于入射电子能量。
10. 二次电子：当入射电子与原子核外电子发生相互作用时，会使原子失掉电子而变成离子，这个脱离原子的电子称为二次电子。
11. 背散射电子：在弹性和非弹性散射中，被固体样品原子反弹回来的一部分入射电子。
12. 吸收电子：当样品较厚时，入射电子中的一部分在样品内经多次非弹性散射后，能量耗尽，既无力穿透样品，也不能逸出表面，称为吸收电子。
13. 特征X射线：当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的X 射线释放出来14. 俄歇电子：如果原子内层电子在能级跃过程中释放出来的能量δe并不以x射线的形式发射出去，而是用这部分能量把空位层的另一个电子发射出去（或空位层的外层电子发射出去），这一个被电离的电子称为俄歇电子。
材料分析测试技术期末复习(重点)
材料分析测试技术期末复习1.X射线的本质：X射线属电磁波或电磁辐射，同时具有波动性和粒子性特征，波长较为可见光短，约与晶体的晶格常数为同一数量级，在10（-8次方）cm左右。
其波动性表现为以一定的频率和波长在空间传播；粒子性表现为由大量的不连续的粒子流构成。
X射线的产生条件：产生自由电子；使电子做定向高速运动；在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物。
2.P7(计算题例题）计算当管电压为50 kv时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
解：已知条件：U=50kv电子静止质量：m=9.1×10-31kg光速：c=2.998×108m/s电子电量：e=1.602×10-19C普朗克常数：h=6.626×10-34J.s电子从阴极飞出到达靶的过程中所获得的总动能为E=eU=1.602×10-19C×50kv=8.01×10-18kJ由于E=1/2m0v 02所以电子与靶碰撞时的速度为v0=(2E/m)1/2=4.2×106m/s所发射连续谱的短波限λ的大小仅取决于加速电压λ（Å）＝12400/U(伏) ＝0.248Å辐射出来的光子的最大动能为E0＝hʋ＝hc/λ＝1.99×10-15J3.靶材选择公式：为避免入射X射线在试样上产生荧光X射线，且被试样吸收最小，若试样的K系吸收限为λ k，则应选择靶的λKα略大于λ k 一般由如下经验公式：Z靶≤ Z试样＋14.底片安装方法：正装法、反装法、偏装法。
（记住书本上的图，P15）正装法：X射线从底片接口处入射，照射式样后从中心孔穿出，这样，低角的弧线接近中心孔，高角线则靠近端部。
由于高角线有较高的分辨率，有时能讲Kα双线分开。
正装法的几何关系和计算均较简单，常用于物相分析等工作。
反装法：X射线从底片中心孔摄入，从底片接口处穿出。
高角线条集中于孔眼附近，衍射线中除θ角极高的部分被光阑遮挡外，其余几乎全能记录下来。
材料分析方法重点内容
第一章1表面形貌和内部组织形貌：①材料的外观形貌（如纳米线、断口、裂纹等）：扫描电子显微镜(SEM)；②晶粒大小与形态：x射线衍射(XRD)；③相的尺寸与形态、含量与分布、界面（表面、相界、晶界）：光学显微镜；④位向关系（新相与母相、孪生相）：x射线衍射(XRD)；⑤晶体缺陷（点缺陷、位错、层错）、夹杂物、内应力：高分辨率电子显微镜（HRTEM）。
2晶体的相结构。
各种相的结构，即晶体结构类型和晶体常数，和相组成：x 射线衍射(XRD)3化学成分,包括宏观和微区化学成份（不同相的成份、基体与析出相的成份）：能谱仪（EDS）和波谱仪（WDS）4价键（电子）结构,同种元素的不同价键类型和化学环境：X射线光电子能谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)。
5有机物的分子结构和官能团：红外光谱（IR）、拉曼光谱（Raman）、荧光光谱（PL）、核磁共振（NMR）第二章散射原子对电子的散射还可以进一步分为弹性散射和非弹性散射。
在弹性散射中，电子只改变运动方向，基本上无能量变化。
在非弹性散射中，电子不但改变方向，能量也有下同程度的衰减，衰减部分转变为热、光、x射线、二次电子等。
1二次电子当入射电子与原子核外电子发生相互作用时，会使原子失掉电子而变成离子，这种现象称为电离，而这个脱离原子的电予称为二次电子。
特点：（1）对样品表面形貌敏感（2）空间分辨率高（3）信号收集效率高应用：用于扫描电镜的成像原理2俄歇电子如果原子内层电子能级跃迁过程中释放出来的能量 E不以X射线的形式释放，而是用该能量将核外另一电子打出，脱离原子变为二次电子，这种二次电子叫做俄歇电子。
（l）特点：.①适于分析轻元素及超轻元素；②适于表面薄层分析（2）应用：俄歇电子信号适用于表层化学成分分析。
第三章 X 射线物理基础一 X 射线1 X 射线具有波粒二相性：2 X 射线谱X 射线强度与波长的关系曲线，称之X 射线谱。
①连续X 射线谱在管压很低时，小于20kv 的曲线是连续变化的，故称之连续X 射线谱，即连续谱。
现代材料分析技术期末总结
现代材料分析技术期末总结一、引言现代材料分析技术是指应用各种先进的科学和技术手段来对材料进行分析和研究的过程。
随着科学技术的不断发展，材料分析技术也取得了巨大的进展，涵盖了物理、化学、生物等多个领域。
本文将对现代材料分析技术进行总结，从光学显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、X射线衍射、质谱仪、红外光谱仪、核磁共振仪和热分析等技术进行详细介绍。
二、光学显微镜光学显微镜是一种常用的材料分析技术，通过可见光对材料进行观察和测量。
使用透射光和反射光来照射样品，通过目镜和物镜将图像放大到人眼可以识别的范围。
该技术可以观察材料的形貌、颗粒分布和晶粒结构等。
光学显微镜广泛应用于金属材料、生物材料和无机材料等研究领域。
三、扫描电子显微镜扫描电子显微镜是一种可以高分辨率地观察样品表面形貌和组织结构的技术。
通过束缚电子的扫描和检测，得到样品的二维和三维图像。
扫描电子显微镜可以观察到样品微观结构的细节，如晶体缺陷、晶界和纳米颗粒等。
该技术对金属材料、半导体材料和生物材料等的分析具有重要意义。
四、透射电子显微镜透射电子显微镜是一种可以观察材料内部的高分辨率分析技术。
通过将电子束通过样品，利用电子的衍射和透射来观察材料的晶体结构和原子成分。
透射电子显微镜可以观察到样品的晶体结构、晶界和位错等，可以分析材料的化学成分和晶态状态。
透射电子显微镜在材料科学、纳米材料和生物材料等研究领域具有重要的应用价值。
五、X射线衍射X射线衍射是一种分析材料晶体结构的技术。
通过用X射线照射样品，利用X射线与样品的晶胞相互作用来得到样品的衍射图像。
可以通过衍射图像来确定材料的晶胞参数、晶体结构和晶面取向等。
X射线衍射技术广泛应用于材料科学、金属材料和矿物材料等领域。
六、质谱仪质谱仪是一种通过分析样品中的离子和分子来测定其化学成分和结构的技术。
通过将样品中的分子或原子离子化并加速到一个高速运动状态，利用它们在磁场和电场中的行为，来分析它们的质量和相对丰度。
材料分析方法总结
材料分析方法总结材料分析是一门重要的科学技术，它在工程、材料科学、地质学、化学等领域都有着广泛的应用。
在材料分析中，我们需要运用各种方法来对材料的成分、结构、性能进行分析，以便更好地理解和利用材料。
本文将对常见的材料分析方法进行总结，希望能够对相关领域的研究者和工程师有所帮助。
首先，光学显微镜是材料分析中常用的方法之一。
通过光学显微镜，我们可以观察材料的形貌、颗粒大小、晶粒结构等信息。
这对于金属、陶瓷、塑料等材料的分析都非常有帮助。
同时，透射电子显微镜和扫描电子显微镜也是常用的分析工具，它们可以提供更高分辨率的图像，帮助我们观察材料的微观结构。
除了显微镜，X射线衍射也是一种常用的材料分析方法。
通过X射线衍射，我们可以确定材料的晶体结构和晶格参数，从而了解材料的晶体学性质。
X射线衍射在材料科学、地质学和化学领域都有着广泛的应用，是一种非常有效的分析手段。
此外，光谱分析也是材料分析中常用的方法之一。
光谱分析包括紫外可见吸收光谱、红外光谱、拉曼光谱等，它们可以用于分析材料的组成、结构和性能。
光谱分析在材料科学、化学和生物学领域都有着重要的应用，是一种非常有力的分析工具。
在材料分析中，热分析也是一种常用的方法。
热分析包括热重分析、差热分析、热膨胀分析等，它们可以用于研究材料的热稳定性、热分解过程、相变行为等。
热分析在材料科学、化学工程和材料加工领域都有着广泛的应用，是一种非常重要的分析手段。
最后，表面分析也是材料分析中不可或缺的方法。
表面分析包括扫描电子显微镜、原子力显微镜、X射线光电子能谱等，它们可以用于研究材料的表面形貌、化学成分和电子结构。
表面分析在材料科学、电子工程和纳米技术领域都有着重要的应用，是一种非常有效的分析手段。
综上所述，材料分析是一门重要的科学技术，它涉及到多个领域的知识和技术。
在材料分析中，我们可以运用光学显微镜、X射线衍射、光谱分析、热分析和表面分析等方法来对材料进行分析，从而更好地理解和利用材料。
材料分析方法考试重点
材料分析方法X 射线的本质是一种横电磁波,具有波粒二象性，伦琴首先发现了X 射线，劳厄揭示了X 射线的本质。
X射线的波长范围在0.001—10nm,用于衍射分析的X射线波长范围0.05—0。
25nm。
X 射线的产生通常获得X射线的方法是利用一种类似热阴极二极管的装置，用一定材料制作的板状阳极板和阴极密封在一个玻璃—金属管内，阴极通电加热，在阳极和阴极间加一直流高压U,则阴极产生的大量热电子e将在高压场作用下飞向阳极，在它们与阳极碰撞的瞬间产生X射线。
连续X射线谱：由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X射线谱。
特征X射线谱：当加于X射线管两端的电压增高到与阳极靶材相应的某一特定值时，在连续谱的某些特定的波长位置，会出现一系列强度很高，波长范围很窄的线状光谱,这就是特征X射线谱.光电效应：入射光子被原子吸收后,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子，这种原子被入射辐射点离的现象即光电效应.俄歇效应：一个k层空位被两个L层空位代替的过程的现象就是俄歇效应。
靶材和滤波片的选择原则分别从吸收限波长和原子序数两个方面表达滤波片和靶材的选择规程（表达式）滤波片的选择：λKβ（光源)〈λK(滤波片) 〈λKα(光源)αZ靶〈= 40时，Z滤= Z靶–1Z靶> 40时，Z滤= Z靶–2阳极靶材的选择：λKα(光源）〉λK(样品)Z靶〈= Z样品Z靶<= Z样品+ 1相干散射：X射线穿过物质发生散射时，散射波长与原波长相同，有可能相互干涉，这是。
非相干散射：X射线穿过物质发生散射时,能量发生损失，波长发生变化,散射波长与原波长不相同，这就是非相干散射。
等效干涉面:晶面（hkl）的n级反射面（nh nk nl），用符号（HKL）表示，成为反射面或干涉面。
空间点阵：倒易点阵：单晶、多晶、非晶的X射线仪衍射花样及形成原理答：（1）单晶电子衍射成像原理与衍射花样特征因电子衍射的衍射角很小,故只有O*附近落在厄瓦尔德球面上的那些倒易结点所代表的晶面组满足布拉格条件而产生衍射束，产生衍射的厄瓦尔德球面可近似看成一平面.电子衍射花样即为零层倒易面中满足衍射条件的那些倒易阵点的放大像。
材料分析技术复习
材料分析技术复习材料分析技术是一门研究材料性质和组成的科学和技术。
它主要包括材料结构、组分、性能以及材料制备和加工等方面的研究。
材料分析技术的重要性在于其可以揭示材料的微观结构和组成，帮助人们了解材料的性能和特性，为材料设计和工程应用提供科学依据。
1.X射线衍射（XRD）X射线衍射是一种非常重要的材料分析技术，可以用来研究晶体的结构和成分。
通过照射样品的X射线，通过结晶样品中的原子、离子、分子的散射作用，来捕捉到经过散射后的X射线的信息。
通过对散射强度的解析和计算，可以得到样品的晶体结构参数、相对晶粒尺寸、晶体的取向、材料的相变等信息。
2.扫描电子显微镜（SEM）扫描电子显微镜是一种常用的表征材料表面形貌和成分的技术。
它利用样品表面与电子束的相互作用产生的信号来观察和分析样品表面形貌。
SEM可以产生高分辨率的图像，并且可以通过能区谱仪来分析样品表面的化学成分。
3.透射电子显微镜（TEM）透射电子显微镜是一种高分辨率的显微镜，可以用于观察材料的微观结构。
与SEM不同的是，透射电子显微镜通过透射电子束穿过样品来观察样品的内部结构。
TEM可以用来观察材料中的晶体结构、晶界、位错等微观缺陷，并且可以通过选区电子衍射来分析晶体的晶格结构。
4.能谱分析技术能谱分析技术包括X射线能谱分析（XRF）和电子能谱分析（ESCA）等。
XRF是一种非破坏性的化学分析方法，可以用于分析材料中的元素组成和浓度。
它通过样品中元素吸收入射的X射线产生的特征能谱来分析样品的元素组成。
而ESCA则是利用电子束轰击样品产生的能量分布谱来分析元素的化学价态和表面成分。
5.热分析技术热分析技术包括热重分析（TG）、差热分析（DSC）和热膨胀分析（TMA）等。
热重分析可以用来测量材料的质量变化随温度的关系，从而确定材料中的各种成分的含量。
DSC可以用来测量材料的热性能，例如熔点、结晶温度和相变等。
而TMA则可以用来测量材料的尺寸或形状随温度的变化情况。
材料分析重点归纳
材料分析重点归纳材料分析是一种研究和评估不同材料性能和特性的方法。
在进行材料分析时，可以关注的重点主要有以下几个方面：1.材料的组成和结构：首先需要分析材料的组成，包括其原始成分和可能存在的杂质。
然后，进行结构分析，研究材料的结晶结构、晶格参数等。
这些信息对于了解材料的物理和化学特性非常重要。
2.材料的化学性质：材料的化学性质决定了其与其他物质的相互作用和反应。
分析材料的酸碱性、氧化还原性、溶解性等化学性质可以帮助确定其在特定环境条件下的稳定性和耐久性。
3.材料的物理性质：物理性质是描述材料在外力或热力作用下的相应反应。
例如，分析材料的导电性、磁性、热膨胀系数、硬度等物理性质可以评估材料在不同温度、压力和电场下的性能和应用潜力。
4.材料的机械性能：机械性能是描述材料在外力作用下的形变和破坏行为。
通过对材料的拉伸、压缩、弯曲等机械性能进行分析，可以了解材料的强度、韧性、疲劳性等特性，并对其在工程中的应用做出合理评估。
5.材料的热性能：热性能是评估材料在热力作用下的行为。
通过研究材料的热膨胀系数、热导率、热稳定性等热性能指标，可以了解材料的热胀缩行为、热传导性能和抗热破坏能力，为在高温环境下的应用提供参考。
在进行材料分析时，可以采用多种方法和技术。
常见的材料分析技术包括X射线衍射、电子显微镜、质谱分析、红外光谱分析、热重分析等。
通过这些方法，可以获取材料的形貌、成分、结构和性能等信息，为材料的设计、制备和应用提供科学依据。
总之，材料分析是一项复杂而重要的工作。
通过对材料进行综合分析，可以了解其组成、结构、化学性质、物理性质、机械性能和热性能等关键特征，从而为合理选择材料、设计新材料和评估其性能提供科学依据。
材料现代分析方法重点笔记
材料现代分析方法重点笔记一、材料X射线衍射分析1、X射线的性质、产生及谱线种类及机理2、X射线与物质的相互作用:几种现象及机理3、X射线衍射方向:布拉格方程及推导，X射线衍射方法4、X射线衍射强度:多晶体衍射图相的形成过程，衍射强度影响因数及积分强度公式5、多晶体分析方法:X射线衍射仪的构造及各部件的作用，实验参数的选择6、物相分析及点阵常数精确测定二、x衍射线知识点1、X射线的本质一种电磁波(波长短:0.01-10nm)2、X射线产生原理由高速运动着的带电粒子与某种物质相撞击后淬然减速,且与该物质中的内层电子相作用而产生的。
3、X射线产生的几个基本条件(1)产生自由电子;(2)使电子作定向高速运动:(3)在电子运动的路径上设置使其突然减速的障碍物4、旋转阳极(用于大功率转靶XRD仪)工作原理:因阳极不断旋转，电子束轰击部位不断改变，故提高功率也不会烧熔靶面。
目前有100kW的旋转阳极，其功率比普通X射线管大数十倍。
5、X射线谱X射线强度与波长的关系曲线6、连续x射线谱管压很低时，例如小于20kv，X射线谱曲线是连续变化的。
7、形成连续x射线谱两种理论解释:1.经典物理学理论:一个带负电荷的电子作加速运动时，电子周围的电磁场将发生急剧变化，此时必然要产生一个电磁波，或至少一个电磁脉冲。
由于极大数量的电子射到阳极上的时间和条件不可能相8/同，因而得到的电磁波将具有连续的各种波长，形成连续X 射线谱。
量子力学概念:当能量为ev的电子与靶的原子整体碰撞时，电子失去自己的能量，其中一部分以光子的形式辐射出去，每碰撞一次，产生一个能量为hv的光子，即“韧致辐射”。
大量的电子在到达靶面的时间、条件均不同，而且还有多次碰撞，因而产生不同能量不同强度的光子序列，即形成连续谱。
8、特征(标识)X射线谱当管电压等于或高于20KV时,则除连续X射线谱外,位于一定波长处还叠加有少数强谱线，它们即特征X射线谱。
9、形成特征X射线谱的理论解释:原子结构的壳层模型:特征X射线的产生机理与靶物质的原子结构有关。
材料科学基础重点总结 2 空位与位错
第2章晶体缺陷晶体缺陷实际晶体中某些局部区域，原子排列是紊乱、不规则的，这些原子排列规则性受到严重破坏的区域统称为“晶体缺陷”。
晶体缺陷分类：1)点缺陷：如空位、间隙原子和置换原子等。
2)线缺陷：主要是位错。
3)面缺陷：如晶界、相界、层错和表面等。
2.1 点缺陷空位——晶体中某结点上的原子空缺了，则称为空位。
点缺陷的形成：肖特基空位：脱位原子迁移到晶体表面或者内表面的正常结点位置，从而使晶体内部留下空位，这样的空位称为肖特基(Schottky)空位。
（内部原子迁移到表面）肖特基(Schottky)空位弗仑克耳(Frenkel)空位弗仑克耳空位：脱位原子挤入点阵空隙，从而在晶体中形成数目相等的空位和间隙原子，称为弗仑克耳(Frenkel)空位。
（由正常位置迁移到间隙）外来原子：外来原子也可视为晶体的点缺陷，导致周围晶格的畸变。
外来原子挤入晶格间隙（间隙原子），或置换晶格中的某些结点（置换原子）。
空位的热力学分析：空位是由原子的热运动产生的，晶体中的原子以其平衡位置为中心不停地振动。
对于某单个原子而言，其振动能量也是瞬息万变的，在某瞬间原子的能量高到足以克服周围原子的束缚，离开其平衡位置从而形成空位。
空位是热力学稳定的缺陷点缺陷的平衡浓度系统自由能F=U- TS (U为内能，S为总熵值，T为绝对温度)平衡机理：实际上为两个矛盾因素的平衡a 点缺陷导致弹性畸变使晶体内能U增加，使自由能增加，降低热力学稳定性b 使晶体中原子排列混乱度增加，熵S增加，使自由能降低，增加降低热力学稳定性熵的变化包括两部分：①空位改变它周围原子的振动引起振动熵，Sf。
②空位在晶体点阵中的存在使体系的排列方式大大增加，出现许多不同的几何组态，使组态熵Sc增加。
空位浓度，是指晶体中空位总数和结点总数(原子总数)的比值。
随晶体中空位数目n的增多，自由能先逐渐降低，然后又逐渐增高，这样体系中在一定温度下存在一个平衡空位浓度，在平衡浓度下，体系的自由能最低。
化学材料分析
化学材料分析化学材料分析是化学领域中的重要分支之一，它涉及到对各种化学材料的成分、结构和性质进行分析和测试。
化学材料分析的结果对于材料的研发、生产和应用具有重要的指导意义，因此在工业生产和科学研究中具有广泛的应用价值。
首先，化学材料分析的主要内容包括对材料的成分分析、结构分析和性质测试。
成分分析主要是确定材料中各种元素的含量和种类，可以通过化学分析、光谱分析、质谱分析等方法来实现。
结构分析则是研究材料的晶体结构、分子结构和微观结构，常用的方法包括X射线衍射、电子显微镜、核磁共振等。
性质测试是对材料的物理化学性质进行测试，如热学性质、力学性质、电学性质等，可以通过热分析、拉伸试验、电化学测试等方法来实现。
其次，化学材料分析的方法和技术不断得到改进和发展，以适应不同材料的分析需求。
随着科学技术的不断进步，新的分析方法和仪器设备不断涌现，如高分辨质谱、原子力显微镜、红外光谱等，这些新技术的应用为化学材料分析提供了更加精准和全面的手段。
同时，化学材料分析也逐渐向多元化、高通量、在线化和智能化方向发展，提高了分析效率和准确性。
另外，化学材料分析在材料科学、化学工程、环境保护、食品安全等领域具有广泛的应用。
在材料科学领域，化学材料分析可以帮助科研人员了解材料的性能和结构，指导新材料的设计和合成。
在化学工程领域，化学材料分析可以帮助工程师掌握原材料的质量和特性，保证产品的质量和稳定性。
在环境保护和食品安全领域，化学材料分析可以帮助监测和检测有害物质，保障环境和食品的安全。
综上所述，化学材料分析是化学领域中的重要内容，它对于材料的研发、生产和应用具有重要的指导意义。
随着科学技术的不断进步，化学材料分析的方法和技术也在不断发展和完善，为各个领域的应用提供了更加精准和全面的手段。
相信随着科学技术的不断发展，化学材料分析将会在更多领域发挥重要作用，为人类社会的发展进步做出更大的贡献。
纺织行业及材料管理知识分析考试重点
纺织行业及材料管理知识分析考试重点重点内容目录1. 纤维的分类 (3)2. 棉种类检验质量标示 (3)3. 羊毛的缩绒机理，对产品的利害 (4)4. 罕见纤维〔自然纤维、化学纤维〕的主要组成、形状结构、功用特点 (4)5. 化学纤维的制造 (4)6. 纺织纤维常用的鉴别方法及条件 (5)7. 纺织纤维细度、长度的测试方法及其原理。
(6)8. 调湿和预湿的概念和目的 (7)9. 烘箱法测回潮率时，三种称重方法对测试结果的影响 (7)10. 影响纤维吸湿的内因外因以及吸湿对纤维性质的影响 (7)11. 纤维拉伸功用目的及换算，影响断裂强度的要素 (9)12. 测定纱线细度不匀率的主要方法，依据波谱图剖析纱条不匀的缘由，不匀的种类 (10)13. 临界捻系数概念的了解以及加捻对纱线性质的影响。
(11)14. 纤维集合体的保暖性〔影响要素〕，纤维光泽的影响要素〔蚕丝〕 (12)15. 织物的分类 (13)16. 混纺纱的写法及纤维的径向散布 (13)17. 机织物三原组织的特点 (14)18. 机织物经、纬密和紧度的概念及适用范围 (15)19. 纱线在织物中的强力应用系数以及影响织物拉伸性质的要素 (15)20. 织物拉伸和撕裂功用的测试方法 (15)21. 织物磨损的机理及耐磨性的影响要素 (16)22. 织物起毛起球的进程与影响要素 (17)23. 织物缩水的机理与影响要素 (18)24. 棉本性纱线和棉本性布的质量评定 (18)一、主要概念1.织物作风从狭义上说，织物作风是织物自身所固有的外形作用于人的感官所发生的综合效应，就是指织物物理机械功用和外观等特征抚慰人的觉得器官以后，有可观实体与人的客观看法交互作用的产物。
感官对织物的感受分为六个方面：触觉作风，听觉作风、视觉作风。
其中视觉作风分为形感、光感、色泽感、图像感。
2.马克隆值国际规范中采用马克隆值来标定气流仪上的刻度值，表示一定量棉纤维在规则条件下的空气流量。
材料力学重难点分析
一、基本变形部分：重点、难点：教学重点为：（1）内力与外力的基本概念，内力的分析；（2）正应力、切应力和线应变、切应变的概念；（3）材料力学基本假设及其物理意义，小变形条件的含义；（4）轴向拉压杆、受扭轴、受弯梁的内力、横截面上的应力、变形分析；（5）材料的机械性能及相关实验分析；（6）超静定问题的认识，简单超静定问题的求解；（7）剪切与挤压的认识；（8）平面弯曲的概念；（9）弯曲中心的概念；（10）弯曲变形和位移，挠曲线的近似微分方程，边界条件、连续条件，叠加法。
教学难点为：（1）正应力、切应力和线应变、切应变的概念；（2）轴向拉压杆、受扭轴、受弯梁的内力、横截面上的应力、变形分析；（3）平面弯曲的概念；（4）弯曲中心的概念。
解决方案：根据学生学习过程中，常沿用《理论力学》的习惯思维的特点，分析理力与材力的基本模型的区别，帮助学生建立正确的基本概念，明确在两门课程中的异同点。
明确“能量守恒，力的平衡，位移协调”仍是材料力学中建立关系的主要依据，但要根据材料力学的特点进一步明确能量、力和位移的具体内容。
充分利用多媒体，演示物体受力的变形过程，建立正应力、切应力和线应变、切应变等概念。
结合相关实验现象，分析新概念的物理意义；以概念群为重点，切实掌握概念；精选例题，启发思维，培养基本解题能力。
在讲清楚基本概念的基础上，重点突出基本分析方法的讲解：1）结合介绍工程中的力学问题和力学问题的工程背景，讲授力学建模的基本方法。
学习如何“出题”；2）构件内力分析的基本方法（截面法）；3）应力计算公式推导的基本方法（利用平衡原理、物理关系和变形几何关系）；4）构件变形计算的基本方法（利用应变积分求和、叠加求和等）。
5）利用多媒体教学手段，结合构件失效原因剖析的实际例子，介绍材料力学研究方法的实用价值。
6）结合光弹性实验、有限元分析，展示构件内部应力分布规律，开展形象化教学，介绍材料力学公式的实用范围。
二、应力应变分析、强度理论和组合变形重点、难点：教学重点为：（1）应力状态的概念；（2）平面应力状态的分析；（3）三向应力状态下的概念；（4）广义虎克定律；（5）平面应变分析；（6）强度理论的概念及常用的四个强度理论；（7）组合变形和截面核心的概念，特别是扭转和弯曲的组合变形分析。
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名词解释1.物相：成分和结构完全相同的部分才称为同一个相；2.K系辐射：K电子被打出K层时，此时外层如L，M，N……层电子来填充K空位时，则产生K系辐射；3.相干干涉：.由于散射线与入射线的波长和频率一致，位相固定，在相同方向上各散射波符合相干条件，故称为相干散射；4.非相干散射：X射线经束缚力不大的电子或自由电子散射后，可以得到波长比入射X射线长的X射线，且波长随散射方向不同而改变，散射位相与入射波位相之间不存在固定关系，称为非相干散射。
5.荧光辐射：当X射线光量子具有足够高的能量时，可以将被照射物质原子中内层电子激发出来，使原子处于激发状态，通过原子中壳层上电子跃迁，辐射出X射线特征谱线，叫做二次辐射，也叫荧光辐射。
6.吸收限：激发K系光电效应时，入射光子的能量必须等于或大于将K电子从K层移至无穷，λk为产生K系激发的最长波长，称远时所作的功WK，入射X射线波长必须满足λk≤1.24V k为K系辐射的激发限。
7.俄歇效应：K层的一个空位被L层的两个空位所代替，这种现象称俄歇效应。
8.结构因子：单位晶胞中所有原子散射波叠加的波即为结构因子，用F表示。
9. 透射电子：如果样品足够薄(1μm以下)，透过样品的入射电子为透射电子，其能量近似于入射电子能量。
10. 二次电子：当入射电子与原子核外电子发生相互作用时，会使原子失掉电子而变成离子，这个脱离原子的电子称为二次电子。
11. 背散射电子：在弹性和非弹性散射中，被固体样品原子反弹回来的一部分入射电子。
12. 吸收电子：当样品较厚时，入射电子中的一部分在样品内经多次非弹性散射后，能量耗尽，既无力穿透样品，也不能逸出表面，称为吸收电子。
13. 特征X射线：当样品原子的内层电子被入射电子激发或电离时，原子就会处于能量较高的激发状态，此时外层电子将向内层跃迁以填补内层电子的空缺，从而使具有特征能量的X 射线释放出来14. 俄歇电子：如果原子内层电子在能级跃过程中释放出来的能量δe并不以x射线的形式发射出去，而是用这部分能量把空位层的另一个电子发射出去（或空位层的外层电子发射出去），这一个被电离的电子称为俄歇电子。
15.阴极荧光：入射电子束发击发光材料表面时，从样中激发出来的可见光或红外光。
16.感应电动势：入射电子束照射半导体器件的PN结时，将产生由于电子束照射而引起的电动势。
17.基频：分子吸收红外光后由基态跃迁到第一激发态时产生的吸收峰，是最重要的跃迁；18.倍频：分子吸收红外光后，由振动能级基态跃迁到第二、第三激发态时所产生的吸收峰；19.组合频：是一种频率红外光，同时被两个振动所吸收。
组合频和倍频统称为泛频。
20.振动偶合：：当相同的两个基团相邻，且振动频率相近时，会发生振动偶合裂分，结果引起吸收频率偏离基频，一个移向高频方向，另一个移向低频方向。
21.费米共振：是基频与倍频或组合频之间发生的振动偶合。
简答题1.特征X射线谱与连续谱的发射机制之主要区别？连续：高速运动的粒子能量转换成电磁波特征：高能级电子回跳到低能级多余能量转换成电磁波2.如何选择滤波片,靶?滤波片：1： Z靶＜40时，Z滤＝Z靶-1； 2： Z靶＞40时，Z滤＝Z靶-2 ；阳极靶：Z靶≤Z样+1。
3.原子散射因数的物理意义是什么？某元素的原子散射因数与其原子序数有何关系？为评价原子散射本领，引入系数f（f≤Z），称为散射因数，原子散射因数f是以一个电子散射波的振幅为度量单位的一个原子散射波的振幅。
它表示一个原子在某一方向上散射波的振幅是一个电子在相同条件下散射波振幅的f倍。
反映的是一个原子将X射线向某个方向散射时的散射效率。
它随原子序数增大而增大。
4.三种晶体可能出现衍射的晶面的条件（结构因子F什么时候不等于0）？简单点阵:什么晶面都能产生衍射体心点阵（BCC）:指数和为偶数的晶面（h+k+l=偶数）面心点阵（FCC）:指数为全奇或全偶的晶面（h，k，l全为奇数或者偶数）5.产生电子衍射的必要条件与充分条件是什么？产生电子衍射的充分条件是F hkl≠0，产生电子衍射必要条件是满足布拉格方程。
6.衍射仪测量在入射光束、试样形状、试样吸收以及衍射线记录等方面与德拜法有何不同？入射光束：衍射仪法：采用一定发散度的入射线，且聚焦半径随2θ变化，德拜法：通过进光管限制入射线的发散度。
试样形状：衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝试样吸收：衍射仪至少要0.5g试样，而德拜法仅需1mg左右，衍射仪法吸收时间短，德拜法吸收时间长。
衍射线记录：衍射仪用辐射探测器，德拜法用底片感光。
7.试述x射线衍射物相分析步骤？及其鉴定时应注意问题？步骤：（1）计算或查找出衍射图谱上每根峰的d值和i值（2）利用i值最大的三根强线的对应d值查找索引，找出基本符合的物相名称及卡片号。
（3）将实测的d、i值与卡片上的数据一一对照，若基本符合，就可以定为该物相。
注意问题：（1）d的数据比i/ic数据重要（2）低角度线的数据比高角度线的数据重要（3）强线比弱线重要，特别要重视d值大的强线（4）应重视特征线（5）应尽可能地先利用其他分析、鉴定手段，初步确定出样品可能是什么物相，将它局限于一定的范围内。
8.电子束入射固体样品表面会激发哪些信号?它们有哪些特点和用途?a. 透射电子：它仅仅取决于样品微区的成分、厚度、晶体结构及位向等，可以对薄样品成像和微区晶相分析；b. 二次电子：它产额随原子序数的变化不明显，主要决定于表面形貌。
可用于SEM分析形貌；c. 背散射电子：其能量近似于入射电子能量，背散射电子产额随原子序数的增加而增加。
利用背散射电子作为成像信号不仅能分析形貌特征，也可用来显示原子序数衬度，定性地进行成份分析。
d.吸收电子：与背散射电子数量成互补关系，随原子序数增大而减少，若用吸收电流成像，可得到原子序数不同得元素样品上各微区定性分布情况。
e. 特征X射线：具有固定能量，可利用它的固定波长进行成分分析和晶体结构研究f. 俄歇电子：从距样品表面几个Å深度范围内发射的并具有特征能量的二次电子，俄歇电子信号适用于表面化学成份分析。
g. 阴极荧光：可用于检测杂质和坚定物质相。
h. 感应电动势：测量半导体中少数载流子的扩散长度和寿命。
9. 分析电子衍射与x射线衍射有何异同?相同点:满足衍射的必要和充分条件,可借助倒易点阵和厄瓦德图解不同点：X射线衍射：1.波长λ长,试样是大块粉末2.要精确满足布拉格条件3.衍射角可以很大4.衍射强度弱,暴光时间长电子衍射：1.波长λ短,试样是薄片2.倒易点变成倒易杆3.不要精确满足布拉格条件4.衍射角很小5.衍射强度强,暴光时间短10.透射电镜的主要性能指标有哪些？如何测定透射电镜的分辨率与放大倍数?电镜的哪些主要参数控制着分辨率与放大倍数?主要指标：分辨率，放大倍数，加速电压。
利用金膜测定相机常数和利用已知晶体结构晶体衍射花样来测定，电镜中除了衍射效应对分辨率的影响外，还有像差对分辨率的影响。
由于像差的存在，使得电磁透镜的分辨率低于理论值。
电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。
11. 说明多晶、单晶及非晶衍射花样的特征及形成原理。
多晶：同心圆环，当试样由许多完全混乱取向的小晶粒构成时，根据反射球构图和倒易点阵概念，完全无序的多晶可以看成是一个单晶围绕一点在三维空间内作4π球面度旋转，因此多晶体衍射花样为一系列的同心圆环。
单晶：衍射斑点，单晶电子衍射谱是二维倒易点阵的投影，也就是由某一特征平行四边形平移所得的花样。
非晶体：弥散的光斑12.扫描电镜的分辨率受哪些因素影响? 所谓扫描电镜的分辨率是指用何种信号成像时的分辨率?扫描电子显微镜的分辨率除受电子束直径和调制信号的类型影响外，还受样品原于序数、信噪比、杂散磁场、机械振动等因素影响。
扫描电镜的分辨率是指用二次电子成像时的分辨率。
13. 二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处?相同处：均利用电子信号的强弱来行成形貌衬度不同处：1.背散射电子是在一个较大的作用体积内被入射电子激发出来的，成像单元较大，因而分辨率较二次电子像低。
2.背散射电子能量较高，以直线逸出，因而样品背部的电子无法被检测到，成一片阴影，衬度较大，无法分析细节；利用二次电子作形貌分析时，可以利用在检测器收集光栅上加上正电压来吸收较低能量的二次电子，使样品背部及凹坑等处逸出的电子以弧线状运动轨迹被吸收，因而使图像层次增加，细节清晰。
14.何为波谱仪和能谱仪？波谱仪和能谱仪各有什么优缺点?波谱仪：根据布拉格方程，从试样激发出的X射线经适当的晶体分光，波长不同得特征X射线将具有不同的衍射角2θ，利用这个原理制成的谱仪就叫做波谱仪。
能谱仪：一种电子仪器，主要单元是半导体探测器（一般称探头）和多道脉冲高度分析器，用以将X光量子按能量展谱。
波谱仪优点：分析的元素范围广、探测极限小、分辨率高，适用于精确的定量分析。
缺点：要求试样表面平整光滑，分析速度较慢，需要用较大的束流，从而容易引起样品和镜筒的污染。
能谱仪优点：分析速度快，可用较小的束流和微细的电子束，对试样表面要求不如波谱仪那样严格。
缺点：在分析元素范围、探测极限、分辨率等方面不如波谱仪。
15.俄歇电子谱仪（AES）的基本原理和特点？基本原理：用一定能量的电子束轰击样品，使样品原子的内层电子电力，产生俄歇电子，俄歇电子从样品表面逸出进入真空，被收集和进行分析。
由于俄歇电子具有特征能量，可以进行定性分析，确定原子种类，在一定条件下，根据俄歇电子信号的强度，可以确定元素含量，进行定量分析，再根据俄歇电子能量峰的位移和形状变化，获得样品表面化学态信息。
特点：1.分析层薄；2.分析元素广；3.分析区域小；4.有提供元素化学态的能力；5.具有测定深度-成分分布能力； 6.对于多数元素，定量检测的灵敏度为w（0.1~1.0）%。
16.X射线光电子能谱仪的基本原理和特点？基本原理：用一定能量的光子束（X射线）照射样品，使样品原子中的内层电子以特定几率电离，产生光电子，光电子从样品表面逸出进入真空，被收集和分析。
由于光电子具有特征能量，其特征能量主要由出射光子束能量及原子种类确定。
因此，在一定的照射光子能量条件下，测试光电子的能量，可以进行定性分析，确定原子的种类，即样品中存在的元素；在一定的条件下，根据光电子能量峰的位移和形状变化，可获得样品表面元素的化学态信息；而根据光电子信号的强度，可半定量地分析元素含量。
特点：1.分析层薄； 2.分析元素广； 3.主要用于样品表面的各类物质的化学状态鉴别，能进行各种元素的半定量分析；4.具有测定深度-成分分布曲线的能力；5.由于X射线不易聚焦，其空间分辨率较差，在µm级量；6.数据收集速度慢，对绝缘样品有一个充电效应问题。