半波长型超导腔的等离子体清洗工艺及机理研究

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半导体超临界清洗技术

半导体超临界清洗技术

半导体超临界清洗技术嘿,大伙们!今天咱来聊聊半导体超临界清洗技术这听上去就很厉害的玩意儿。

有一回啊,我去一个工厂参观。

那工厂里到处都是高科技的设备,看得我眼花缭乱。

我正好奇地东张西望呢,突然听到有人在介绍半导体超临界清洗技术。

我就凑过去听了听,嘿,还真挺有意思。

他们说啊,这半导体超临界清洗技术就像是给半导体洗了个超级干净的澡。

咱平时洗澡就是用水冲冲,搓搓肥皂啥的。

但这半导体可金贵着呢,不能随便用水洗。

得用一种特别的方法,就是超临界清洗。

我就想象着那些小小的半导体芯片,就像一个个小宝贝似的,被小心翼翼地清洗着。

据说啊,这种清洗技术能把半导体上的脏东西、杂质啥的都洗得干干净净,一点不留。

有一次,我看到一个技术员在操作那个超临界清洗设备。

他戴着眼镜,一脸认真的样子。

他先把半导体芯片放进一个小盒子里,然后把盒子放进那个设备里。

接着,他按了几个按钮,设备就开始嗡嗡地响起来。

我就好奇地问他:“这玩意儿咋洗啊?”他笑着说:“这可复杂了,简单来说就是用一种特殊的流体,在超临界状态下,把芯片上的脏东西都冲掉。

”我听得云里雾里的,但感觉很厉害。

等设备停下来,技术员把盒子拿出来,打开一看,哇,那些芯片变得亮晶晶的,就像新的一样。

我心里想,这技术可真牛啊。

要是没有这种技术,那些半导体芯片上有脏东西,肯定会影响性能。

在工厂里转了一圈,我对这半导体超临界清洗技术有了更深的认识。

这技术虽然听起来很复杂,但其实就是为了让半导体变得更干净,更好用。

以后啊,要是再看到那些小小的半导体芯片,我就会想起这个超临界清洗技术,想起那些技术员们认真的样子。

嘿嘿,今天就唠到这儿吧,大伙们下次再见哟!。

微波等离子体化学气相沉积装置的工作原理

微波等离子体化学气相沉积装置的工作原理

47 V acuum & C ryogen ics 1997年6月微波等离子体化学气相沉积装置的工作原理吕庆敖 邬钦崇(中国科学院等离子体物理研究所,合肥 230031)(收稿日期1997-01-19)WORK ING PR INC IPL E OF M I CROW AVE PLAS M A CVD SET UPLüQi ngao W u Qi nchong(I n stitute of Pla s ma Physics,Acade m i a Si n ica,Hefe i230031)Abstract:M icrow ave P las m a Chem ical V apo r D epo siti on(M PCVD)is an i m po rtan t m ethod fo r diamond fil m p reparati on.T he m icrow ave modes such as T E10,T E M and TM01in the m icrow ave mode converter of the M PCVD set up s w ere m easu red in experi m en ts.T he in itial phases of T E Mand TM01modes w ere given respectively.T he coup ling betw een m icrow ave and p las m a w as de2 scribed.5k W an tenna coup led M PCVD set up w as developed in Ch ina fo r the first ti m e.Keywords:M icrow ave mode,P las m a,CVD set up.摘 要:微波等离子体化学气相沉积(M PCVD)是制备金刚石膜的一种重要方法。

金属调制分子束外延生长氮化铝薄膜

金属调制分子束外延生长氮化铝薄膜

开、关闭时间,可以获得形貌较好的 AlN 薄膜。 通过调整优化获得的 MME 方案为:首先 Al 源快门打开 30 s,然后 Al
源和 N 源快门打开 60 s,最后单独打开 N 源快门 72 s;单一周期内,Al 源快门打开时间与 N 源快门打开时间比例为
0. 7。 以上述方案为一个周期进行循环生长 40 个周期,可获得粗糙度低至 0. 3 nm(2 μm × 2 μm) ,几乎无凹坑的 AlN
MOCVD) 法、反应磁控溅射法等 [4] 。 其中,MBE 系统的超高真空环境可以有效避免 MOCVD 反应器中严重
的寄生反应和镁受体的氢钝化效应;其另一个优点是可以精确控制快速快门的打开和关闭,从而实现复杂的
结构和尖锐的异质界面 [5-6] ,可用来外延生长超晶格、多重量子阱、p 型高铝组分 AlGaN 等。 在外延 AlN 的过
Abstract:In this paper, conventional continuous epitaxial growth and metal modulated epitaxial ( MME) growth of AlN were
investigated with the plasma-assisted molecular beam epitaxy ( PA-MBE) system. It is difficult to control the growth mode of
1 实 验
本文实验使用 RIBER Compact 21 等离子体辅助分子束外延( plasma-assisted molecular beam epitaxy, PA-
MBE) 系统,此系统配备了几种Ⅲ族金属( Al、Ga 和 In) 的蒸发源和氮等离子体源。 所有样品都生长在由

物理学本科毕业论文题目

物理学本科毕业论文题目

物理学本科毕业论文题目 20世纪是科学技术飞速发展的时代。

在这个时代,目睹了人类分裂原子、拼接基因、克隆动物、开通信息高速公路、纳米加工和探索太空。

很难设想,若没有科学技术的飞速发展,现代生活将是什么样子。

与科学技术的发展一样,物理学也经历了极其深刻的革命。

可以说,物理学每时每刻都在不停的发展,其活跃的前沿领域很多,是最有生命力、成果最多的学科之一。

下面学术堂为你提供了物理学本科毕业论文题目,希望对你有所帮助。

物理学本科毕业论文题目一: 1、MATLAB在大学物理实验仿真中的应用 2、基于Flash的大学物理电学仿真实验的设计与实现 3、量子点和一维量子线相耦合系统在Kondo区物理性质的研究 4、基于时域物理光学方法的半空间上方目标散射研究 5、有机光电材料的光物理特性研究 6、基于激光混沌的全光物理随机数发生器 7、基于超导电路系统的量子模拟和基础量子物理研究 8、金属亚波长结构阵列电磁场增强及光学异常透射的机理研究 9、微型热电系统的多物理场耦合模型与性能优化研究 10、外尔半金属的反常物理性质研究 11、中子光子输运物理过程蒙特卡罗处理方法研究 12、红外视景仿真关键技术研究 13、关于拓扑物理的量子模拟研究 14、高真实感红外场景实时仿真技术研究 15、氢化非晶硅薄膜结构及其物理效应 16、PIC数值方法以及激光-物质相互作用若干物理研究 17、目标电磁散射特性的快速计算方法研究 18、钙钛矿半导体中的瞬态物理过程研究 19、基于激光自混合效应的多物理参数同步测量方法研究 20、高性能多物理场数值算法研究及其应用 21、超薄Bi薄膜的电子态研究 22、铁电基复合薄膜的光伏效应及其调控研究 23、高增益短波长自由电子激光相关物理研究 24、基于条码质量的直接标刻激光参量与物理机制的研究 25、超标准模型和新物理现象的理论研究 26、PLD制备InGaZnO薄膜及其物理性质研究 27、高场磁体的多物理场耦合作用机理 28、电大目标的时域及频域散射场计算方法研究 29、超冷原子系统物理性质研究 30、表面增强拉曼散射结构化衬底制备及其高灵敏探测研究 31、含时薛定谔方程的高阶辛算法研究 32、激光器中的自调制及不稳定性研究 33、自由电子激光物理中统计物理分析方法的若干研究 34、金属-介质-金属结构中表面等离子特性研究及器件设计 35、新型宽带太赫兹源物理机制的研究 36、基于矢量声场的水下被动探测与定位技术研究 37、CPT原子钟物理系统的研究与探索 38、物理虚拟仿真实验系统的设计研究 39、科学推理能力和物理问题解决能力的对比研究 40、高温高压声场测试平台设计 物理学本科毕业论文题目二: 41、硅基SiO_2薄膜材料的制备与物理特性研究 42、电大尺寸目标的电磁特性分析方法研究 43、基于驻相法积分和NURBS曲面建模的物理光学法研究 44、FLASH游戏型物理课件的设计与开发研究 45、普通物理实验课程教学改革的探索与实践 46、钙钛矿型氧化物透明导电薄膜的制备与物理性质研究 47、光学薄膜在激光作用过程中的热吸收与热应力的研究 48、强关联材料LaTiO_3和NdTiO_3物理性质及应用研究 49、基于FLASH技术的大学物理仿真实验的研究 50、半导体物理发展史探讨 51、激光物理的创立及早期的发展 52、复杂目标的RCS计算 53、电子束蒸发制备ZnO:Al薄膜及光电性质研究与普通物理实验改革 54、设计性物理实验的设计与实施研究 55、偶氮染料掺杂聚乙烯醇薄膜的光致双折射实验设计与研究 56、激光打标的物理机制研究 57、基于交互式Flash技术的网络虚拟大学物理实验的探索与实践 58、PBAIP等离子体鞘层物理特性的应用研究 59、结构不良物理问题解决研究 60、基于虚拟仪器的主减速器噪声检测技术与系统 61、甲基橙掺杂聚乙烯醇薄膜简并四波混频特性的实验教学研究 62、物理师范生实习前后光学PCK的差异比较研究 63、面向再制造的超声清洗研究及应用 64、亚临界密度等离子体中激光加速离子物理机制的研究 65、Bi系氧化物薄膜分子束外延法制备及物理性能的研究 66、矩量法和物理光学法的混合算法及应用研究 67、高频算法在电磁散射计算中的应用 68、含有表面过渡层的铁电薄膜动态物理性质的理论研究 69、ZrO_2化学膜与物理膜损伤机理的对比研究 70、物理光学法在导体与涂层目标电磁散射中的应用 71、基于混沌激光产生物理真随机数的后续处理 72、面向高速随机数发生器的宽带物理熵源 73、Sr_2FeMoO_6复合体系的制备和物理性能研究 74、钛酸锶钡和氧化铈薄膜的制备及物理性能表征 75、PECVD氮化硅薄膜制备与微结构研究 76、空气环境下激光诱导金属靶等离子体物理参数测量 77、GPU在矩量法与物理光学法中的应用研究 78、二维波导结构中类电磁诱导透明及其物理机制的研究 79、Ⅱ-Ⅵ族核壳结构半导体量子点的制备及其光电特性和物理机制的研究 80、InGaAs/InAlAs量子级联激光器物理、材料及器件 物理学本科毕业论文题目三: 81、中红外波段锑化物激光器、探测器器件与物理研究 82、ZnO薄膜制备及性质研究 83、基于声矢量阵的高分辨方位估计技术研究 84、梯度铁电薄膜的热力学性质研究 85、锑化物激光器、探测器MBE生长与物理研究 86、大型工程结构模态识别的理论和方法研究 87、长波长垂直腔面发射激光器材料与物理研究 88、纳米薄膜力学行为的分子动力学模拟研究 89、脉冲激光沉积技术中等离子体演化及薄膜生长的模拟研究 90、熔石英元件离子束抛光物理规律与激光损伤特性研究 91、非合作目标水中物理场特性测量的定位技术研究 92、真空激光有质动力加速机制和物理特性的研究 93、等离子体薄膜表面制造中的偏压效应研究 94、高功率激光器前端系统关键物理问题与关键技术研究 95、导电聚合物纳米复合薄膜的制备及其氨敏特性研究 96、水下动目标被动跟踪关键技术研究 97、ZnO薄膜的掺杂和光电性质研究 98、自由基辅助磁控溅射制备ZnO:Al透明导电薄膜的研究 99、铁磁金属薄膜的高频性质 100、超精密运动平台中气浮支承振动特性的研究 101、浅海矢量声场及其信号处理 102、液相基底表面金属薄膜的形成机理和表面粗糙机制的AFM研究 103、自组织固态激光器阵列的调频混沌和相位锁定物理机制的研究 104、液相基底表面磁性薄膜的形成机理和物理特性研究 105、磁性与非磁性粗糙金属(Fe 106、平整与非平整基底表面磁性薄膜的物理特性研究 107、强激光在实验室天体物理中的应用 108、界面调制的功能氧化物薄膜制备与物理性能 109、自组织量子点与量子环物理性质的理论研究 110、水声声图测量技术研究 111、浅海甚低频声传播建模与规律研究 112、金属钛膜中氢对氦行为作用和影响的研究 113、SrTiO_(3-δ)薄膜与WTe_2晶体的磁电阻效应研究 114、硫化铅、硫化锌量子点的光物理特性研究 115、二硫化钼薄膜的制备及其光电探测特性研究 116、光纤端面几何参数干涉测量法物理方法简化 117、电大复杂目标散射时频域分析及RCS统计特性研究 118、深水顶张式立管螺旋侧板抑制VIV机理研究。

半导体制造管理

半导体制造管理

Jean-Luc
,P2
潔淨室介紹
• 潔淨室定義:
– 潔淨室是一個嚴格控制環境,任何進入空氣、水、及化學 品需經過濾,以期達到高度純化標準。
– 溫度 、濕度及壓力也在控制之內,但主要項目是在空氣 過濾上。
Jean-Luc
,P3
潔淨室簡介
• 由於半導體工業所製作的積體電路元件尺寸愈來愈 小,在一塊小小的晶片上,整合了許許多多的元 件,因此在製作的過程中就必須防止外界雜質污染 源,因為這些污染源可以造成元件性能的劣化及電 路產品良率和可靠度的降低。一般污染源包括了塵 埃、金屬離子、有機物等。所以製作積體電路必須 在潔淨的環境下進行,盡量將污染源和晶圓隔離, 一般提供潔淨空氣、控制塵粒數的空間我們即稱之 為潔淨室。
,P18
二氧化矽(SiO2)的製作方法有
• 二氧化矽(SiO2)的製作方法有:
– 熱氧化法(Thermal Oxidation) – 沈積法(Deposition) – 陽極氧化法(Anodization) – 電漿氧化法(Plasma oxidation)
• 其中較常用的熱氧化法又可分為:
– 乾氧化法(Dry oxidation) – 濕氧化法(Wet oxidation) – 水氣氧化法(Stream oxidation) – 摻氯氧化法(Oxidation with Cl)
• 電阻加熱蒸鍍法利用鎢 絲加熱所需的金屬材 料,使之分解為單原子 或原子聚合體,並結合 或凝聚在矽晶圓表面, 形成薄膜。
Jean-Luc
,P32
PVD 鍍膜系統圖示
I 蒸鍍 (Evaporation)
絕緣體
接真空系統 A
DC power
蒸鍍室
基板與基板座 蒸鍍源 坩堝

《半导体清洗工艺》课件

《半导体清洗工艺》课件

清洗液的种类
介绍常用的半导体清洗液类型,如酸碱清洗剂、 溶剂和生物缓冲液。
清洗液的性能指标
讨论选择清洗液时需要考虑的性能指标,如清 洁度、去离子率和残留物。
四、清洗实施
1
清洗室环境要求
了解半导体清洗室的环境要求,如温度控制、湿度控制和压力控制。
2
清洗步骤
详细介绍半导体清洗的步骤,包括浸泡、超声波清洗和喷淋清洗。
《半导体清洗工艺》PPT 课件
欢迎来到《半导体清洗工艺》的课程!在本课程中,我们将深入探讨半导体 清洗的重要性、准备工作、清洗液的选择、清洗实施、清洗之后的处理,以 及常见问题和清洗工艺的改进。
一、清洗工艺的重要性
半导体清洗工艺的意义
了解清洗工艺对半导体制造的重要性,包括确 保产品质量、提高芯片性能和延长芯片寿命。
清洗工艺的优势
了解清洗工艺与其他清洗方法相比的优势和好 处,如高效、可追溯性和环保。
二、清洗前的准备工作
1 设备检查
了解清洗前对设备进行的必要检查,以确保其正常运行和安全。
2 工具准备
了解在清洗过程中所需的工具及其使用方法。
3 安全注意事项
了解清洗操作中的安全注意事项,以保护自己和周围的环境。
三、清洗液的选择
八、总结
清洗工艺的关键
总结清洗工艺的关键因素,如设备可靠性和操作人员技术。
未来的发展方向
展望清洗工艺未来的发展方向和可能的研究方向。
参考资料
书籍
列出一些有关半导体清洗工艺的重要书籍。
文献
引用一些相关的学术文献和研究论文。
报告
提供一些有关清洗工艺的行业报告和研究报告。
解释清洗后留有水痕的可能原因和解决方案。
清洗后留有化学物

半导体激光在口腔临床医疗中的应用和研究进展

半导体激光在口腔临床医疗中的应用和研究进展

半导体激光在口腔临床医疗中的应用和研究进展杨相笛;陈悦;李丹;王浩宇;张江琳【摘要】Application of laser in stomatology is becoming increasingly wider. Semiconductor Laser, for its various mer-its, has an extensive application in stomatology. This article reviewed clinical application of semiconductor laser in each department of stomatology and its progress.%激光在口腔领域中的应用越来越多。

半导体激光以其诸多的优点,在口腔领域的应用也越来越广泛,现就半导体激光在口腔内科、口腔正畸学、口腔修复学、口腔种植学以及颌面外科等领域的临床应用现状及目前的研究进展加以综述。

【期刊名称】《激光生物学报》【年(卷),期】2015(000)003【总页数】6页(P226-231)【关键词】医用光学;半导体激光;口腔;临床应用【作者】杨相笛;陈悦;李丹;王浩宇;张江琳【作者单位】西安交通大学口腔医院牙周粘膜科,陕西西安710004;西安交通大学口腔医院牙周粘膜科,陕西西安710004;西安交通大学口腔医院牙周粘膜科,陕西西安710004;西安交通大学口腔医院牙周粘膜科,陕西西安710004;西安交通大学口腔医院牙周粘膜科,陕西西安710004【正文语种】中文【中图分类】R78激光被誉为“生命之光”,激光治疗做为临床治疗中一个新的治疗方法,它操作简单、快捷、创伤小,具有传统治疗方法无法比拟的优越性。

国内外激光医疗技术应用已经有40多年的历程。

激光与口腔治疗的结合始于1964年,随着激光技术的发展,其在口腔医疗领域的应用也越来越广泛。

激光在口腔领域的实用性和安全性已得到多方面的认证,并已获得美国食品及药品管理局(OP.)批准。

声波根管冲洗的研究进展

声波根管冲洗的研究进展

声波根管冲洗的研究进展
霍帜远;岳林;邹晓英
【期刊名称】《国际口腔医学杂志》
【年(卷),期】2023(50)1
【摘要】根管治疗的核心是感染控制。

由于根管系统解剖形态的复杂性和机械预备的局限性,单纯使用机械预备难以实现对根管系统的彻底清理,因此,需要结合根管冲洗来提升感染清除的效果。

但是,传统冲洗器冲洗受冲洗器针头进入深度、根管形态等因素影响较大,冲洗效果有限。

越来越多的冲洗液活化手段被应用于根管冲洗中以达到更好的感染清除效果。

近年来,声波根管冲洗因其器械和设备的更新受到了关注。

本文将对声波根管冲洗的发展历程、作用原理和临床性能特点进行综述,以期为临床工作提供一定参考。

【总页数】9页(P91-99)
【作者】霍帜远;岳林;邹晓英
【作者单位】北京大学口腔医学院·口腔医院牙体牙髓科
【正文语种】中文
【中图分类】R781.33
【相关文献】
1.根管冲洗剂QMix冲洗性能的研究进展
2.Vibringe声波根管冲洗器联合次氯酸钠对根管内粪肠球菌杀灭效果的观察
3.声波与超声波器械配合不同冲洗液对根管
清理效果的扫描电镜研究4.超声波与声波根管冲洗的清理效果评价5.超声、声波和传统冲洗方法对根管玷污层清除效果的比较研究
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半导体制造清洗工艺概述

半导体制造清洗工艺概述

3.3 清洗方法概况
添加氯化物可抑制光照的影响,但少量的氯化物离子由于在Cu2+/ Cu+反应中的催化作用增加了Cu的沉积,而大量的氯化物离子添加 后形成可溶性的高亚铜氯化物合成体抑制了铜离子的沉积。优化 的HF/HCl混合物可有效预防溶液中金属外镀,增长溶液使用时间。 第三步是使用最佳的臭氧化混合物,如氯化氘及臭氧,可在较低p H环境下使硅表面产生亲水性,以保证干燥时不产生干燥斑点或水 印,同时避免金属污染的再次发生。在最后冲洗过程中增加了HN O3的浓度可减少表面Ca的污染。
3.3 清洗方法概况
3.3.2 稀释RCA清洗 现行的RCA清洗方法存在不少问题:步骤多,消耗超纯水和化
学试剂多,成本高;使用强酸强碱和强氧化剂,操作危险;试剂易 分解、挥发,有刺激性气味,使用时必须通风,从而增加了超净间 的持续费用;存在较严重的环保问题;硅片干燥慢,干燥不良可能 造成前功尽弃,且与其后的真空系统不能匹配。其中的很多问题是 RCA本身无法克服的。
3.2 污染物杂质的分类
3.2.2 有机残余物 有机物杂质在IC制程中以多种形式存在,如人的皮肤油脂、净
化室空气、机械油、硅树脂、光刻胶、清洗溶剂等,残留的光刻胶 是IC工艺中有机沾污的主要来源。每种污染物对IC 制程都有不同程 度的影响,通常会在晶圆表面形成有机物薄膜阻止清洗液到达晶圆 表面,会使硅片表面无法得到彻底的清洗。因此有机残余物的去除 常常在清洗工序的第一步进行。
3.3 清洗方法概况
表3-3 硅片湿法清洗化学品
表3-3 硅片湿法清洗化学品
3.3 清洗方法概况
3.3.1 RCA清洗 工业中标准的湿法清洗工艺称为RCA清洗工艺,是由美国无线
电公司(RCA)的W.Kern和D.Puotinen于1970年提出的,主要由 过氧化氢和碱组成的1号标准清洗液(SC⁃1)以及由过氧化氢和酸组 成的2号标准清洗液(SC⁃2)进行一系列有序的清洗。RCA清洗工艺 技术的特点在于按照应该被清除的污染物种类选用相应的清洗药水, 按照顺序进行不同的药水的清洗工艺,就可以清除掉所有附着在硅 圆片上的各种污染物。需要注意的是,每次使用化学品后都要在超 纯水(UPW)中彻底清洗,去除残余成分,以免污染下一步清洗工 序。典型的硅片湿法清洗流程如图3⁃1所示。实际的顺序有一些变化, 应根据实际情况做相应调整以及增加某些HF/H2O(DHF)去氧化层 步骤。

半导体工艺晶圆清洗(精)培训课件

半导体工艺晶圆清洗(精)培训课件

半导体工艺-晶圆清洗(精)晶圆清洗摘要:介绍了半导体IC制程中存在的各种污染物类型及其对IC制程的影响和各种污染物的去除方法, 并对湿法和干法清洗的特点及去除效果进行了分析比较。

关键词:湿法清洗;RCA清洗;稀释化学法;IMEC清洗法;单晶片清洗;干法清洗中图分类号:TN305.97 文献标识码:B 文章编号:1003-353X(2003)09-0044-041前言半导体IC制程主要以20世纪50年代以后发明的四项基础工艺(离子注入、扩散、外延生长及光刻)为基础逐渐发展起来,由于集成电路内各元件及连线相当微细,因此制造过程中,如果遭到尘粒、金属的污染,很容易造成晶片内电路功能的损坏,形成短路或断路等,导致集成电路的失效以及影响几何特征的形成。

因此在制作过程中除了要排除外界的污染源外,集成电路制造步骤如高温扩散、离子植入前等均需要进行湿法清洗或干法清洗工作。

干、湿法清洗工作是在不破坏晶圆表面特性及电特性的前提下,有效地使用化学溶液或气体清除残留在晶圆上之微尘、金属离子及有机物之杂质。

2污染物杂质的分类IC制程中需要一些有机物和无机物参与完成,另外,制作过程总是在人的参与下在净化室中进行,这样就不可避免的产生各种环境对硅片污染的情况发生。

根据污染物发生的情况,大致可将污染物分为颗粒、有机物、金属污染物及氧化物。

2.1 颗粒颗粒主要是一些聚合物、光致抗蚀剂和蚀刻杂质等。

通常颗粒粘附在硅表面,影响下一工序几何特征的形成及电特性。

根据颗粒与表面的粘附情况分析,其粘附力虽然表现出多样化,但主要是范德瓦尔斯吸引力,所以对颗粒的去除方法主要以物理或化学的方法对颗粒进行底切,逐渐减小颗粒与硅表面的接触面积,最终将其去除。

2.2 有机物有机物杂质在IC制程中以多种形式存在,如人的皮肤油脂、净化室空气、机械油、硅树脂真空脂、光致抗蚀剂、清洗溶剂等。

每种污染物对IC 制程都有不同程度的影响,通常在晶片表面形成有机物薄膜阻止清洗液到达晶片表面。

940nm应变量子阱激光器的热特性研究及工艺改进中期报告

940nm应变量子阱激光器的热特性研究及工艺改进中期报告

940nm应变量子阱激光器的热特性研究及工艺改进中期报告一、研究背景和意义近年来,随着移动通信、光纤通信、激光雷达等技术的发展,近红外区域(780-1550nm)的激光器得到了广泛的应用。

其中,940nm激光器作为成像、治疗、测距等方面的重要光源,在医疗、工业、军事等领域大量应用。

应变量子阱激光器作为近红外激光器的一种,因其发光效率高、温度稳定性好、结构简单等优点,在940nm激光器中也得到了广泛的应用。

但是,应变量子阱激光器的热特性研究仍然是一个重要的研究领域,对于提高其功率输出、延长寿命等方面具有重要意义。

针对此问题,本文以研究940nm应变量子阱激光器的热特性为主要内容,通过研究其性能参数的变化规律及其机理,探讨其热阻问题,并提出改进方案和工艺优化方案。

二、研究内容和方法本文采用实验和模拟相结合的方法,研究940nm应变量子阱激光器的热特性。

具体包括以下内容:1、制备940nm应变量子阱激光器,采用金刚石切割机、化学腐蚀、离子注入、气相外延等方法进行工艺处理和制备。

2、对激光器进行性能测试,测量其自然发光谱、阈值电流、输出功率等参数,并通过实验和理论分析探讨其性能变化机理。

3、测量激光器的温度特性,研究激光器在不同温度下的阈值电流、输出功率等参数的变化规律,并通过模拟分析其热阻问题。

4、提出改进方案和工艺优化方案,通过优化晶片设计、加强散热措施等方法改善激光器的热特性,提高其功率输出和寿命。

三、预期结果本文通过研究940nm应变量子阱激光器的热特性,将得到以下预期结果:1、研究其性能参数的变化规律及其机理,探讨其热阻问题。

2、提出改进方案和工艺优化方案,通过优化晶片设计、加强散热措施等方法改善激光器的热特性,提高其功率输出和寿命。

3、为应用940nm激光器的相关领域提供参考和指导。

四、结论本研究可为应用940nm激光器的相关领域提供参考和指导,同时也为应变量子阱激光器的热特性研究提供了有价值的实验和理论基础。

等离子体表面处理技术的原理

等离子体表面处理技术的原理

等离子体表面处理技术的原理理论说明1. 引言1.1 概述等离子体表面处理技术是一种改变材料表面性质的有效方法,通过利用等离子体对材料表面进行激发和修改,可以实现润湿性能提升、去除污染物、改善粘附性能等目标。

这项技术已经在多个领域得到广泛应用,如电子器件制造、材料加工和生物医学等。

1.2 文章结构本文主要围绕等离子体表面处理技术的原理和理论进行探讨,以及相关的实验验证和应用案例分析。

文章共分为五个部分:引言、等离子体表面处理技术的原理、等离子体表面处理技术的理论说明、实验验证与应用案例分析以及结论与未来展望。

1.3 目的本文的目的在于深入探讨等离子体表面处理技术的原理和机制,并通过对相关实验研究和应用案例的分析来评估该技术的可行性和效果。

同时,本文还将探讨该技术所面临的挑战并展望其在相关行业中的未来发展前景。

通过本文的撰写,旨在增进读者对该技术的了解和认识,促进其在实际应用中的推广和发展。

2. 等离子体表面处理技术的原理2.1 等离子体介绍等离子体是由加热至高温状态下电离而成的气体,其中包含了正离子、负离子和自由电子。

等离子体在物理、化学和工程领域中广泛应用,尤其在表面处理方面有着重要的作用。

2.2 等离子体表面处理的基本原理等离子体表面处理技术是利用含能量较高的等离子体对材料表面进行物理和化学改变的过程。

通过将某种气体加热至高温并施加电场或直接暴露在电弧中,可形成稳定的等离子态。

这些带电粒子与材料表面相互作用时会产生各种效应,包括清洁、去除污染物、增强润湿性能、提升附着力等。

2.3 受控等离子体处理技术的发展和应用随着科技进步和相关研究的不断深入,受控等离子体处理技术在多个领域得到了广泛运用。

例如,在纳米制造、光电器件加工、涂层改性、材料表面改良等方面都有广泛的应用。

受控等离子体处理技术不仅能够提高材料表面的物理和化学性能,还可实现对材料性质的调控和优化。

以上是关于等离子体表面处理技术原理的基本说明。

关于脉冲激光沉积PLD薄膜技术的探讨

关于脉冲激光沉积PLD薄膜技术的探讨

关于脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的探讨《表面科学与技术》课程作业关于脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的探讨摘要:薄膜材料广泛应用在半导体材料、超导材料、生物材料、微电子元件等方面。

为了得到高质量的薄膜材料,科学家一直在寻找和探讨各种新的技术,脉冲激光沉积(Pulsed Laser Diposition PLD)薄膜技术是近年来快速发展起来的使用范围最广,最有前途的制膜技术之一。

本文介绍了脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的原理及特点,并与其他薄膜技术进行对比,探讨衬底温度、靶材与基底的距离、退火温度、靶材的致密度、激光能量、激光频率等参数对薄膜质量的影响。

分析了脉冲激光沉积技术在功能薄膜材料中的应用和研究现状,并展望了该技术的应用前景。

关键字:脉冲激光沉积(PLD)等离子体薄膜技术前言上世纪60年代第一台红宝石激光器的问世,开启了激光与物质相互作用的全新领域。

科学家们发现当用激光照射固体材料时,有电子、离子和中性原子从固体表面逃逸出来,这些跑出来的粒子在材料附近形成一个发光的等离子区,其温度估计在几千到一万度之间,随后有人想到,若能使这些粒子在衬底上凝结,就可得到薄膜,这就是最初激光镀膜的概念。

最初有人尝试用激光制备光学薄膜,这种方法经分析类似于电子束打靶蒸发镀膜,没有体现出其优势来,因此这项技术一直不被人们重视。

直到1987年,美国Bell实验室首次成功地利用短波长脉冲准分子激光制备了高质量的钇钡铜氧超导薄膜,这一创举使得脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,简称PLD)技术受到国际上广大科研工作者的高度重视,从此PLD成为一种重要的制膜技术]1[1。

1 [1]邓国联,江建军.脉冲沉积技术在磁性薄膜制备中的应用[J].材料导报2003,17(2):66—68.原文:“1987年,美国Bell实验室首次成功地利用短波长脉冲准分子激光制备了高质量的钇钡铜氧(YBCO)超导薄膜,脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,简称PLD)技术才成由于脉冲激光沉积技术具有许多优点,它被广泛用于铁电、半导体、金刚石(类金刚石)等多种功能薄膜以及生物陶瓷薄膜的制备上,可谓前途光明。

关于脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的探讨

关于脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的探讨

《表面科学与技术》课程作业关于脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的探讨摘要:薄膜材料广泛应用在半导体材料、超导材料、生物材料、微电子元件等方面。

为了得到高质量的薄膜材料,科学家一直在寻找和探讨各种新的技术,脉冲激光沉积(Pulsed Laser Diposition PLD)薄膜技术是近年来快速发展起来的使用范围最广,最有前途的制膜技术之一。

本文介绍了脉冲激光沉积(PLD)薄膜技术的原理及特点,并与其他薄膜技术进行对比,探讨衬底温度、靶材与基底的距离、退火温度、靶材的致密度、激光能量、激光频率等参数对薄膜质量的影响。

分析了脉冲激光沉积技术在功能薄膜材料中的应用和研究现状,并展望了该技术的应用前景。

关键字:脉冲激光沉积(PLD)等离子体薄膜技术前言上世纪60年代第一台红宝石激光器的问世,开启了激光与物质相互作用的全新领域。

科学家们发现当用激光照射固体材料时,有电子、离子和中性原子从固体表面逃逸出来,这些跑出来的粒子在材料附近形成一个发光的等离子区,其温度估计在几千到一万度之间,随后有人想到,若能使这些粒子在衬底上凝结,就可得到薄膜,这就是最初激光镀膜的概念。

最初有人尝试用激光制备光学薄膜,这种方法经分析类似于电子束打靶蒸发镀膜,没有体现出其优势来,因此这项技术一直不被人们重视。

直到1987年,美国Bell实验室首次成功地利用短波长脉冲准分子激光制备了高质量的钇钡铜氧超导薄膜,这一创举使得脉冲激光沉积(Pulsed Laser Deposition,简称PLD)技术受到国际上广大科研工作者的高度重视,从此PLD成为一种重要的制膜技术]1[1。

由于脉冲激光沉积技术具有许多优点,它被广泛用于铁电、半导体、金刚石(类金刚石)等多种功能薄膜以及生物陶瓷薄膜的制备上,可谓前途光明。

1. PLD 技术装置图及工作原理1.1 PLD系统脉冲沉积系统样式比较多,但是结构差不多,一般由准分子脉冲激光器、光路系统(光阑扫描器、会聚透镜、激光窗等);沉积系统(真空室、抽真空泵、充气系统、靶材、基片加热器);辅助设备(测控装置、监控装置、电机冷却系统)等组成]2[2,如图1-1所示。

等离子体刻蚀加工装置[实用新型专利]

等离子体刻蚀加工装置[实用新型专利]

专利名称:等离子体刻蚀加工装置专利类型:实用新型专利
发明人:王文彦
申请号:CN202123354657.2
申请日:20211228
公开号:CN216487953U
公开日:
20220510
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本实用新型公开了一种等离子体刻蚀加工装置。

其中,该装置包括:真空刻蚀腔室;上电极,设置在所述真空刻蚀腔室内部的顶侧;下电极,设置在所述真空刻蚀腔室内部的底侧;中间电极,设置在所述上电极和所述下电极之间,其中,所述中间电极和所述上电极之间形成辉光电离区。

本实用新型解决了由于等离子体刻蚀速率较快,无法满足个别样片极低速刻蚀要求的技术问题。

申请人:北京量子信息科学研究院
地址:100193 北京市海淀区中关村软件园二期国际与区域协同创新中心A座
国籍:CN
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最新PVD预清工艺-SiCoNi

最新PVD预清工艺-SiCoNi

最新PVD预清工艺-SiCoNi
杨柳
【期刊名称】《集成电路应用》
【年(卷),期】2007(003)006
【摘要】对于65纳米以下工艺.半导体器件的栅极开始使用镍硅材料,而镍沉积之前的表面处理成为非常关键的技术。

由于传统的预清工艺发生了很多工艺问题.需要一种有效的干法化学预清来代替现有的氩电浆轰击工艺和氢氟酸沉浸工艺。

【总页数】2页(P55-56)
【作者】杨柳
【作者单位】
【正文语种】中文
【相关文献】
1.预转化制氢工艺的最新进展及其节能潜力浅析 [J], 李群柱;郭剑锋
2.预辐射接枝丙烯酰胺改性PVDF粉体及其亲水性滤膜的制备 [J], 杨璇璇;邓波;虞鸣;于洋;张伯武;李景烨
3.预辐照接枝法提高PVDF的紫外线吸收性能 [J], 董莉;熊征蓉;刘向东;杨宇明
4.针对Nor-Flash高深宽比STI的ALD&SiCoNi新型复合填充工艺开发及优化[J], 倪立华;周惟舜;张守龙
5.两个值得探讨的课题——选择适宜的预榨饼残油和改革传统的剥壳和清杂工艺[J], 徐则林[1]
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半波长型超导腔的等离子体清洗工艺及机理研究经过半个世纪的发展,超导射频(Superconducting radio frequency,SRF)腔体已成为一般现代粒子加速器装置的核心部件。

同常温腔体相比,超导腔具有较大束流孔径、更低的功率损耗等特性,使得其在长脉冲(连续)、高流强加速器装置中具有诸多优势。

然而,基于目前的技术水平,场致发射效应依然是限制超导腔加速性能的主要因素,并给加速器的实际运行带来诸多不稳定因素。

场致发射效应的产生通常与腔体内表面的污染有关。

例如,外部金属、灰尘等颗粒物在腔体内表面的附着导致的表面峰值电场的放大,大量的实践表明,此类较大颗粒的污染问题可采用高压水冲洗(High pressure rinsing,HPR)解决。

但是,来源于环境周围的化学污染物,诸如碳氢化合物以及各种残余气体在内表面的吸附等问题却难以通过标准的清洗方法得到有效地去除。

为了提高超导腔在线运行中的加速性能,SRF科学共同体经过多年的努力和探索,诸多原位在线清洗技术得以发展,主要以射频功率锻炼(连续波以及高功率脉冲锻炼)、低温氦清洗两大技术手段为主。

两种在线清洗手段的实现机理均为通过对腔体表面形貌的改善以降低场增强因子,从而达到缓解场致发射效应的目的。

然而,这两种技术属于物理手段,对于腔体内表面的碳化物污染以及残余气体的吸附并不能得到完全有效的清除。

近年来,基于活性氧等离子体的在线清洗技术得到发展,作用机理为利用具有氧活性的等离子体与腔体表面的碳氢化合物发生氧化反应生成具有挥发性的物质,使碳氢化合物污染较为彻底的从腔体表面清除,以达到缓解或消除场致发射效应的目的,其效果已在多-Cell椭球腔上得
到验证。

由中国科学院近代物理研究所主导、并同其他合作单位共同研发的我国加速器驱动次临界核嬗变系统(Chinese-Accelerator Driven System,C-ADS)已完成25MeV超导质子直线加速器原型样机的建设和调试,并实现了170μA连续质子束的运行。

然而,实验发现加速器的失束和不稳定性主要来源于半波长型(Half wave resonator,HWR)超导腔的场致发射效应而导致的系统故障。

因此,为减少场致发射导致的故障问题、提高C-ADS加速器的运行稳定性,基于半波长型超导腔的等离子体在线清洗技术被提出,促使了本论文的形成。

首先,为考察在线运行条件下HWR腔体中的等离子体的特性,搭建了基于恒温器工
况的放电实验平台。

对等离子体的激励过程、实验参数进行了系统的研究,发现了一种基于微波阻抗变化的等离子体控制方法。

同时,利用等离子体的特征发射光谱对等离子体的密度、电子的温度、氧分子的解离率进行了诊断,并掌握了适合于HWR腔在线等离子体清洗的最优实验参数。

然后,开展了基于小样品的铌腔表面处理工艺研究。

利用氩离子溅射实验分析表面成分以及功函数随深度变化,得到了功函数随碳化物减小而增大,随铌的
氧化物增加而增大的结论。

并且,分析了在以Nb<sub>2</sub>O<sub>5</sub>为
表面的系统上,功函数随碳化物的变化的线性定量关系。

另外,在由ICP等离子体源和开尔文探针集成的系统上开展了铌样品的清洗工艺和机理研究。

根据功函数随清洗时间演化的指数曲线规律,提出了碳化物的清洗速率模型。

利用该模型定量分析了等离子体中的离子通量、氧含量条件对清洗速率参数的贡献,证明了清洗过程中等离子体和表面碳化物之间的相互作用为离子协同的化学溅射机制。

对功函数的稳定性以及表面氧化物的生长进行了表征,以此确定了等离子体清洗所需的有效时间和最佳氧含量等工艺参数。

此外,直接通过垂测平台研究了碳化物的污染机理以及对腔体性能的影响。

根据污染和腔体表面结合能的不同,将其分为低温物理吸附污染以及碳化学沉积两种机制。

碳化物的低温物理吸附实验表明,该污染机制可以导致场致发射效应的增强而使腔体性能下降,但是,低温物理吸附可以通过回温解决碳污染导
致的性能下降问题。

然后,通过Ar/CH<sub>4</sub>等离子体增强气相沉积方法
在超导腔内表面形成碳沉积污染,测试表明,碳化学沉积导致的腔体性能下降问
题不能通过传统的功率锻炼得到解决。

最后,利用活性氧等离子体对碳化学沉积所污染的HWR开展了原位清洗实验研究。

清洗过程中,对残余气体进行分析证明了超导腔中的碳化物同等离子体发生了化学作用。

同时,垂测结果表明场致发射效应被消除,腔体性能不仅得到完全恢复而且同污染前的本底值相比,最大梯度提高约29%。

进一步地,为与实际在线污染情况一致,对HWR超导腔进行了直接的暴露空气污染处理,其结果导致了超导
腔的性能完全瘫痪,通过功率老练的处理方法亦不能使其性能恢复。

因此,再次对HWR开展等离子体清洗,测试发现超导腔性能得以恢复,进一步的分析表明,等离
子体清洗的化学作用对HWR超导腔中的碳化物污染具有清除效果。

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