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薄膜材料的表征方法-PPT

薄膜材料的表征方法-PPT

❖ 通过测量膜厚可以确定各种薄膜得沉积速率,即 以所测膜厚除以溅射时间得到平均沉积速率,因 此精确测量膜厚变显得尤为重要。
❖ 粗糙度仪法测膜厚得优点就是:
①直观―可以直接显示薄膜得几何厚度与表面(或 厚度)得不均匀;
②精确度高―在精确测量中,精度可达到0、5nm,通 常也能达到2nm,因此常用来校验其它膜厚测试方 法得测试结果;
来观测表面形貌。特别就
是二次电子因它来自样品
本身而且动能小,最能反映
样品表面层形貌信息。一
般都用它观测样品形貌。
图3-2 电子束与表面原子相互 特征X射线可供分析样品
作用图
得化学组分。
❖ 在扫描电子显微镜中,将样品发射得特征X射线送 入X射线色谱仪或X射线能谱仪可进行化学成份 分析。
❖ 当样品得厚度小于入射电子穿透得深度时,一部 分入射电子穿透样品从下表面射出。将这一系列 信号分别接受处理后,即可得到样品表层得各种 信息。SEM技术就是在试样表面得微小区域形成 影像得。下表列出了扫描电子显微镜可提供得样 品表层信息。
❖30keV左右得能量得电子束在入射到样品表面之后,将
与表面层得原子发生各种相互作用,产生二次电子、背散
射电子、俄歇电子、吸收电子、透射电子等各种信号(如
图3-2)。
从图3-2中瞧到,入射电子
束与样品表面相互作用可
产生7种信息。其中最常
用于薄膜分析得就是背散
射电子、二次电子与特征
X射线。前两种信息可用
❖ 扫描电子显微镜就是目前薄膜材料结构研究最直 接得手段之一,主要因为这种方法既像光学金相显 微镜那样可以提供清洗直观得形貌图象,同时又具 有分辨率高、观察景深长、可以采用不同得图象 信息形式、可以给出定量或半定量得表面成分分 析结果等一系列优点。扫描电子显微镜就是目前 材料结构研究得最直接得手段之一。

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氙 (Xe) 二氧化碳 (CO2)
铁 (Fe) 甲烷 (CH4)
氯 (Cl2) 一氧化碳 (CO)
-12.4 -118.0 -62.5 14.7 31.0 3700.0 -82.5
144 -140.2
可以看出,氮、氢、氩、氧和空气等物质的临界温度远低于室
温,所以常温下它们是气体;水蒸气、有机物质和气态金属的
平均自由程与分子密度n和分子直径σ的平方成反比关系
kT 22P
平均自由程与压强成反比,与温度成正比
37
稀薄气体的基本性质
若气体种类和温度一定的情况下
P常数
在25℃的空气情况下
P 0 .66 cm 7 Pa
或 0.667cm
P
38
稀薄气体的基本性质
三、碰撞次数与余弦定律
入射频率:单位时间内,在单位面积的器壁上发生碰撞的分子
RNAk (NA:阿伏伽德罗常数) n= 7.2×1022 P/T (个/m3)
在标准状态下,任何气体分子密度为3×1019 个/cm3 当 P = 1.3 ×10-11 Pa 的真空度时 T = 293 K 则 n = 4 ×103个/cm3
目前,即使采用最先进的真空制备手段所能达到的最低压强 下,每立方厘米的体积中仍然有几百个气体分子
18
真空的基本知识
PnkT PVM m RT
P: 压强(Pa) n: 气体分子密度(个/m3) V:体积(m3) m:气体质量(kg) M:气体分子量(kg/mol) T: 绝对温度(K) k: 玻尔兹曼常数(1.3810-23J/K) R:气体普适常数(8.314J/K·mol)
19
真空的基本知识
21
真空的基本知识
压强的表示方法: 国际单位:帕斯卡 (Pascal) 其它单位:托 (Torr) 毫米汞柱(mmHg) 毫巴(bar)

薄膜材料的组织结构教学课件

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结构对其光学性能具有显著影响。
详细描述
高分子薄膜的光学性能主要取决于其分子结构和聚集态 结构。高分子薄膜中的分子排列方式会影响光的吸收、 反射和透射等行为。此外,高分子薄膜的结晶度、取向 和相分离等聚集态结构也会影响其光学性能。因此,通 过控制高分子薄膜的组织结构,可以调节其光学性能, 如透明度、反射率和颜色等。
VS
复合相
复合相是指由两种或多种材料组成的一种 新的相。在薄膜材料中,复合相的形成可 以改善单一材料的性能,实现优异的综合 性能。通过制备具有复合相的薄膜材料, 可以满足各种不同的应用需求,如高强度、 高硬度、耐腐蚀等。
亚稳相与稳定相
亚稳相
亚稳相是指一种不稳定的相,其结构或成分 与稳定相有所不同。在薄膜材料的制备过程 中,亚稳相的形成是常见的现象。亚稳相的 存在可能会导致薄膜材料的性能不稳定,但 有时也可以通过控制亚稳相的形成来优化薄 膜材料的性能。
利用溶质的扩散和反应,在单晶基底 上生长单晶薄膜的方法。
溶胶-凝胶法
通过将前驱物溶液与适当的溶剂混合, 形成溶胶,然后经过凝胶化、干燥、 热处理等过程,制备出氧化物、氮化 物等无机薄膜的方法。
07
薄膜材料的性能测试与表征
光学性能测试
总结词
了解薄膜材料的光学性能是评 估其质量的重要指标。
反射光谱分析
THANKS
感谢观看
稳定性
稳定性是指薄膜材料在各种环境条件下保持其结构和性能的能力。包括温度、湿度、化 学环境等对薄膜材料稳定性的影响。提高稳定性是保证薄膜材料长期可靠性的重要因素。
表面与界面结构对性能的影响
力学性能
表面与界面结构对薄膜材料的力 学性能有显著影响。良好的表面 与界面结构可以提高薄膜材料的

《材料物理薄膜物理》课件

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CONTENTS 目录
• 材料物理与薄膜物理概述 • 材料的基本性质 • 薄膜的制备与生长机制 • 薄膜的物理性能与应用 • 材料与薄膜物理与薄膜物理概述
材料物理的定义与重要性
定义
材料物理是一门研究材料结构、性能和应用的科学,主要关注材料的基本组成 、微观结构和宏观性质之间的关系。
CHAPTER 03
薄膜的制备与生长机制
薄膜的制备方法
01
02
03
物理气相沉积法
利用物理过程将材料蒸发 或溅射到基底上形成薄膜 ,包括真空蒸发、溅射和 离子束沉积等。
化学气相沉积法
通过化学反应将气体转化 为固态薄膜,包括热化学 气相沉积和等离子体增强 化学气相沉积等。
液相外延法
在单晶基底上通过控制温 度和成分,使溶质从溶液 中析出,形成单晶薄膜。
介电性能
薄膜的介电常数和介质损耗是其电学 性能的重要参数,影响其在电子和微 波器件中的应用。
薄膜的磁学性能
磁导率与磁损耗
磁性薄膜的磁导率和磁损耗特性决定了其在磁记录、磁传感 器等领域的应用。
磁各向异性
不同方向的磁化行为,影响磁性薄膜的磁学性能和应用。
薄膜的应用领域
光学仪器制造
高反射、高透过的光学薄膜广 泛应用于各种光学仪器制造。
材料在循环应力作用下抵抗断裂的能力, 与其使用寿命密切相关。
材料的热学性质
热容与热导率
描述材料在温度变化时吸收或释放热量的能 力,以及热量在材料内部的传导速度。
热稳定性
材料在温度变化时保持其物理和化学性质稳 定的能力。
热膨胀
材料在温度升高时体积增大的现象。
热辐射
材料发射或吸收电磁辐射的能力,与温度和 波长有关。

第三章薄膜材料的制备

第三章薄膜材料的制备

(6) 特殊蒸发方法—化合物和合金材料

a.闪蒸蒸发 又称瞬间蒸发,把薄膜 材料做成细小颗粒或粉 末状,通过一定装置使 其以极小的流量逐渐进 入高温蒸发源。使每个 颗粒都在瞬间完全蒸发, 以保证薄膜的组分比例 与合金相同。
闪蒸蒸发设备示意图

b.多源蒸发 将合金薄膜所需的元素各 自置于单独的蒸发源中, 同时加热,并独立控制各 蒸发源的温度,以使薄膜 的组分比例满足合金要求。 要求各蒸发源参数能独立 控制和指示,蒸发源间分 隔开,避免相互污染。

六硼化镧薄膜的电子束蒸发法制备 基底选用玻璃和钽片, 使用的设备为南光H44500-3 型超高真空镀 膜机。基底固定在一个不锈钢底座上, e型电子枪为加工的块状 LaB6 , 用来代替原设备中的钨阴极, 试验装置的基本结构如图。 实验过程中冷阱中持续添加液氮, 真空度控制在8×105~3×10- 4Pa 之间, 电子束加速级电压控制在4500V 左右, 电 流为80mA, 蒸发时间为15min 。蒸发过程中通过控制电子束能 量来实现对多晶材料蒸发速率的控制, 通过蒸发时间来控制蒸发薄
一、薄膜和薄膜材料分类
1、薄膜材料的概念

采用一定方法,处于某种状态的一种或几种物质 (原材料)的基团(离子、原子或分子)以物理或 者化学方式附着于衬底材料表面,在衬底材料表 面形成一层新的物质,这层新物质就称为薄膜。

简而言之,薄膜是由离子、原子或分子的沉积过 程形成的二维材料。
2、薄膜的基本特征
多源蒸发装置示意图

c.反应蒸发(属化学成膜) 把活性气体导入真空室,使活性气体的原子、分子与来自 蒸发源的原子、分子在衬底表面反应,生成所需化合物。 这种方法在制作高熔点 化合物薄膜时经常被采 用。 例如:在空气或氧气中 蒸发Si来制备SiO2薄膜

薄膜基础知识行业培训材料PPT课件

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16
涂PVDC(2um厚)后透过性数据对比
材料
膜厚,um 透氧量,ml/m2.24h
BOPP
18
K-OPP
20
K-OPP(二面) 22
OPA
15
K-OPA
17
PETP
12
K-PETP
14
2300 225 25 40 16 77 17
透湿 量,g/m2.24h(65%R.H)
7 5 4 240 12 20 12
图3
27
镀铝层厚度与透湿度关系
透湿率,g/cm2.24h
15 12
9 6 3 0
0
PET12 um OPP25 um LDPE25 um
20
40
60
80
镀铝层厚度.nm
图4
28
常用于热封层的材料
• LDPE • CPP • PX
29
常用于热封层的材料
➢ LDPE薄膜的特点:
• 是薄膜中价格最便宜的 • LDPE薄膜软化温度为80 -90 ℃,熔点为110-
薄膜知识
➢软包装薄膜的要求
• 卫生性:无毒、无臭、无味 • 保护性:扩张强度、冲击强度、阻隔性、
耐热耐寒性 • 加要工性:易成型、热封、开口性好、抗
静电好 • 简便性:易计数、搬运、处理 • 商品性:可印刷美观,便于展销 • 经济性:价格合理
1
薄膜知识
➢ 各种膜的分类 • 流延膜 (cast film) • 吹胀膜 (inflation film)
12常用于印刷层的材料共挤boppmb400matoppmb400是bopp的双面都挤了一层pepp的共聚物使之双面都具有热封性matopp是在bopp上挤pe或pp的共聚物时通过雾化效果而使之具有一种特殊观感的bopp带涂层的bopp即在bopp膜涂布上pvdc或cn等材料使之具有热封性同时提高其印刷适性和阻隔性进化心理学综合了进化生物学的各种理论和当代心理学的研究法则主张用进化论的视野来看待和研究人格问题为人格心理学核心概念的建构提供了一个系统的框架

10-第10讲--薄膜材料物理--第四章薄膜的表面和界面

10-第10讲--薄膜材料物理--第四章薄膜的表面和界面

10讲 第10讲 第4章 金属薄膜的导电
依结的宽度可分为: 依结的宽度可分为: 实变型结: 实变型结:结宽仅有几个原子长度的范围内 缓变型结: 缓变型结:结宽在几个扩散长度范围内 单边实变结: 单边实变结:过渡在一种半导体中只有几个 原子长度, 原子长度,而在另一种半导体中却为几个扩散长度 同质方法 型半导体和N P型半导体和N型半导体接触
两金属自由电子浓度不同也要引起电势差, 两金属自由电子浓度不同也要引起电势差,因为 浓度大的要向浓度小的一方扩散,从而前者带正电, 浓度大的要向浓度小的一方扩散,从而前者带正电, 后者带负电。有自由电子论知,其静电电势差为: 后者带负电。有自由电子论知,其静电电势差为: 所以,两个金属的接触电势差为: 所以,两个金属的接触电势差为: n1 φ1 − φ2 kT n1 kT ' '' V12 = V12 + V12 = V1 − V2 + ℓn = + ℓn q n2 q q n2 上述是在理想接触情况下的结果事实上, 上述是在理想接触情况下的结果事实上, 接触有三种如下: 接触有三种如下:
这时,空间电荷层具有一定的厚度, 这时,空间电荷层具有一定的厚度,其厚度与接触 类型和材料而异,通常是微米数量级。 类型和材料而异,通常是微米数量级。两边存在电位 差,其中电荷分布与电位关系服从泊松方程,由 其中电荷分布与电位关系服从泊松方程,
自 建 电 场分 布 电荷分布 ⇒ 求出 电位 的 分 布 泊 松 方 程 空 穴 的 势能 结宽 ⇒ 求出 ⇒ 求出 电 子 的势 能 结电容
q2 J s ATqd Q exp − = σ s = exp πε dkT E k kT 0 1 k q2 Q ρ s = σ = ATqd exp kT exp − πε dkT s 0
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浆料印刷法形成的膜层——厚膜,前者膜厚多,厚~ 200微米
薄膜的真空沉积法优点
可以得到各种材料的膜层 镀料气化方式很多(如电子束蒸发、溅射、气体源等),控 制气氛还可以进行反应沉积
通过基板、镀料、反应气氛、沉积条件的选择,可以对界面结 构、结晶状态、膜厚等进行控制,还可制取多层膜、复合膜及 特殊界面结构的膜层等。由于膜层表面精细光洁,故便于通过 光刻制取电路图形
特别是可直接印刷电路图形。
典型的成膜方法
电镀和化学镀成膜
是依靠电场反应,使金属从金属盐溶液中析出成 膜的方法
电镀 促进电场析出的还原能量由外部电源提供
化学镀 需添加还原剂,利用自分解而成膜
电镀或化学镀成膜的特点 可对大尺寸基板大批量成膜,与其他成膜方法 相比,设备投资低 需要考虑环境保护问题
为保证金属—半导体间连接为欧姆接触,要求: 金属与半导体的结合部位不形成势垒 对于n型半导体,金属的功函数要比半导体的功函数小 对于p型半导体,与上述相反 金属与半导体结合部的空间电荷层的宽度要尽量窄,电子 直接从金属与半导体间向外迁移受到限制等
2、薄膜材料
导体薄膜材料 电阻薄膜材料 介质薄膜材料 功能薄膜材料
2、薄膜材料 导体薄膜材料
材料的种类及性质 实际情形
单一种导体不可能满足上述所有要求 构成电子电路往往需要多种导体膜的组合
2、薄膜材料 导体薄膜材料
而且 相互连接及电极中往往也不是采用单一金属,而是多种导体膜积 层化,以达到上述各种要求
多层金属组合的实例
2、薄膜材料 导体薄膜材料
从道理上讲,这种方法ຫໍສະໝຸດ 以在任何基板上沉积任何物 质的薄膜,但一般多用于氧化物、氮化物等绝缘材料 及合金材料的成膜
典型的成膜方法 CVD法
泛指由气态原料通过化学反应生成固体薄膜的沉积过程
该反应可以是气态化合物由基板表面向其内部的扩散,气 态化合物与基板表面的反应,气态化合物的分解,或者是 气态化合物之间的反应等
以此负图形为“模型”,在其槽中 印入导电浆料或沉积金属膜层,即 所谓“填平”
最后将残留的光刻胶剥离 缺点:采用印刷法填平时,导电胶
膜中容易混入气泡
蚀刻法
化学蚀刻法: 印刷电路图形材料的浆料、烧成 涂布光刻胶、电路图形掩模曝光 化学蚀刻去除部分光刻胶 有机溶剂去除掉电路图形不对应部分的电极 材料 问题 使用有机溶剂,废液处理比较困难 有时线条会出现残差(残留)
厚膜印刷法
工艺过程 通过网版在基板表面印刷厚膜导体浆料,形成 与网版对应的图形 经烧成法形成电路图形
特点 浆料仅印刷在需要的部位,因此材料的利用率 高 印刷机的价格较低,可降低设备总投资
缺点 线条精细度差 图形分辨率低 多次印刷难以保持图形的一致性
喷沙法
工艺过程: 在基板全表面由电路图形材料成膜 在表面形成光刻胶图形 经喷沙去除掉不需要的材料部分,保留 光刻胶图形覆盖的部分 剥离光刻胶后得到所需要的电路图形
典型的成膜方法 厚膜印刷法
是按功能要求将金属、金属氧化物、玻璃粘结剂 等的粉末同有机粘结剂、表面活性剂、有机溶剂 等均匀混合,调制成符合丝网印刷要求的浆料, 利用丝网印刷等工艺,在基板上印刷图形,经烧 成,有机粘结剂挥发而成膜的方法
特点:工艺简单、设备投资少,在低价格的优 势下可大量生产导体、电阻体、介电体等厚膜
积过程中伴随有表面参与的化学反应
1、电子封装工程中至关重要的膜材料及膜技术
薄膜、厚膜区分通常无实际意义
针对具体膜层形成方法
膜层材料
界面结构
结晶状态
晶体学取向
微观组织
各种性能和功能
进行研究更有用
电子封装工程涉及膜层:膜厚1μm~数百微米
按膜层的形成方法:
真空法(干式)和溶液法(湿式)沉积得到的膜层——薄 膜,为数微米
多层组合薄膜说明 导体的表面方阻均在50mΩ/□以下 进一步降低电阻,需要在Au膜上再电镀Au 所列的材料组合之外,在半导体IC的电极凸点及梁式引线部分,还 采用Au-Pd-Ti,Sn·Sb-Cu-Cr,Au-W·Ti 等组合,以及PtSi,Pd2Si,CrSi等金属硅化物作导体。
2、薄膜材料 导体薄膜材料
材料的种类及性质 实际情形
随半导体的表面处理,在导体和半导体表面往往会存在薄 的氧化膜,但电子通过隧道效应可穿过此膜层,因此并不 存在很大的问题
依表面处理条件不同,半导体的表面状态会发生变化,相 应金属及半导体的功函数也会发生变化
功函数还与表面能级、晶体取向等相关,必须注意其值的 变化
第四章 薄膜材料与工艺
1、电子封装中至关重要的膜材料及膜技术 1.1 薄膜和厚膜 1.2 膜及膜电l路的功能 1.3 成膜方法 1.4 电路图形的形成方法 1.5 膜材料
2、薄膜材料 2.1 导体薄膜材料 2.2 电阻薄膜材料 2.3 介质薄膜材料 2.4 功能薄膜材料
1、电子封装工程中至关重要的膜材料及膜技术
若低于此,则操作难度太大,成品率太低
元件搭载
想提高封装密度,需要由四侧引出端子的QFP方式转变为 平面阵列布置端子的BGA方式
这样,端子节距提高(1.0mm,1.5mm)的同时,反而 降低了实装密度
对BGA来说,端子节距由1.5mm降为1.0mm,实装面 积可减小到1/(1.5×1.5)=1/2.25
这些反应的共同特点是,至少要有一种固态产物生成,并 且以薄膜的形态沉积在基板表面上
化合物蒸气一般是常温下具有较高蒸气压的气体,多采用 碳氢化物、氢氧化物、卤化物、有机金属化合物等
CVD法成膜材料范围广泛,除碱金属、碱土金属之外, 几乎所有材料均可以成膜,特别适用于绝缘膜、超硬膜等 特殊功能膜的沉积
2、薄膜材料 导体薄膜材料
材料的种类及性质 其他布线及电极用的导体材料,还应具有下述特性:
电导率要高 对电路元件不产生有害影响,为欧姆连接 热导率高、机械强度高,对于碱金属离子及湿度等的电化
学反应要尽量小 高温状态,电气特性也不发生变化,不发生蠕变现象 附着力大,成膜及形成图形容易 可形成电阻、电容,可进行选择性蚀刻 可进行Au丝、Al丝引线键合及焊接等加工
印制线路板(PWB)的发明,使电路以膜的 形式与基板作成一体,元器件搭载在基板上并 与导体端子相连接,这对于整个系统的小型化、 高性能、低功耗、高可靠性及经济性等方面都 有重大贡献
三维立体布线方式的PWB多层板、陶瓷多层 共烧基板、积层多层板、复合多层板的出现, 对于提高封装密度起着十分关键的作用
设备投资大 工艺不容易掌握
掩模法
工艺过程 机械或光刻制作“正” 掩模 将掩模按需要电路图形位置定位 真空蒸镀等方法成膜 借助“正”的掩模,基板表面形成所需要的电路 图形
优点 工序少、电路图形精细度高
缺点 需要预先制作掩模 有些薄膜沉积技术,如溅射镀膜、离子镀等,不 便于掩模沉积
金属被釉基板、有机或无机绝缘层包覆的金属芯基板 塑料表面电镀金属以增加耐磨性、降低接触电阻等,常用的方法有镀铑、
镀金等
1、电子封装工程中至关重要的膜材料及膜技术 成膜方法
按干式和湿式对分类 干式:
PVD(物理气相沉积)——真空蒸镀、溅射镀膜、离子镀 CVD(化学气相沉积) 湿式: 电镀、化学镀、阳极氧化、溶胶-凝胶、厚膜印刷法
20世纪60年代,出现薄膜制备技术
在纸、塑料、陶瓷上涂刷乃至真空蒸镀、溅射金属膜,用以形 成小型元器件及电路等
进入晶体管时代
从半导体元件、微小型电路到大规模集成电路,膜技术便成为 整套工艺中的核心与关键。
1、电子封装工程中至关重要的膜材料及膜技术
薄膜和厚膜
与三维块体材料比较:一般地,膜厚度很小,可看作二维
通过丝网印刷,可直接形成电路图形 膜层较厚,经烧结收缩变得致密,电阻率低,容易实现很低的电路电阻 导体层、电阻层、绝缘层、介电质层及其他功能层都可以印刷成膜 容易实现多层化,与陶瓷生片共烧可以制取多层共烧基板 设备简单,投资少
1、电子封装工程中至关重要的膜材料及膜技术 膜及膜电路的功能
电气连接
薄膜和厚膜 电子封装过程中膜材料与膜技术的出现及发展,源于
与电器、电子装置设备向高性能、多功能、高速度方向发展及 信息处理能力的急速提高
系统的大规模、大容量及大型化 要求构成系统的装置、部件、材料等轻、薄、短、小化
晶体管普及之前
真空电子管的板极、栅极、灯丝等为块体材料,电子管插在管 座上由导管连接,当时并无膜可言
元件搭载
芯片装载在封装基板 无论采用引线键合方式还是倒装片方式都离不开焊盘
元器件搭载在基板上 特别是LSI封装体实装在基板上,无论采用DIP、SM T、COX、MCM等哪种方式,都离不开导体端子
焊盘,端子都是膜电路的一部分。 在许多情况下,引线端子节距的大小以及引线端子的排列方式
是决定封装类型及封装密度的关键因素 批量生产QFP来说,最小端子节距的界限为0.3mm,
通常,不需要部位的电路图形材料应完全去除 实际上,电路图形材料经烧成、化学蚀刻形成图
形后,应该去除的部分往往不能完全去除掉,而 是有一部分残留下来
蚀刻法
薄膜光刻法: 用磁控溅射、真空蒸镀等先在整个基板 表面形成电路材料的薄膜 光刻制取电路图形
可以获得精细度很高的图形 所形成膜层的质量高 膜厚可精确控制 缺点:
➢以LCD(液晶显示器)中所采用的TFT(薄膜三极管)玻璃复合基板为例
特殊功能 ➢玻璃基板分前基板和后基板两块
➢前基板:形成偏光膜、滤色膜、ITO膜,后基板上形成TFT、ITO膜、金属布线及绝缘膜等 ➢液晶夹于二者之间 ➢受TFT控制的非晶硅(a-Si)图像传感器按阵列布置在后基板上,并由Cr/a-Si/ITO构成
典型的成膜方法 真空蒸镀及溅射法
真空蒸镀:是将镀料在真空中加热、蒸发,使蒸气的原子 或原子团在温度较低的基板上析出形成薄膜的方法
主要用于Au、Cu、Ni、Cr等导体材料及电阻材料成膜
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