X射线电镀膜厚仪
X-RAY 测厚仪用户培训手册
X-射线仪器用户培训（仅共参考，以仪器跟机英文操作说明书为准）一．原理X-射线原理1)在X射线管中，由加热阴极产生的电子，在受到最大为50KV的可调高压的加速后，轰击阳极（通常由钨或钼组成）。
2)电子的动能主要转化为韧致辐射。
此外，在阳极（例如钨）上还会产生独特的，高强度的X射线荧光辐射。
初级辐射就是这两种辐射的组合。
最大能量为50KeV。
3)采用不同大小和形状（圆形，正方形，槽型）的视准器，可选择X射线射到工件上的形状和尺寸，这样就可以测量小到约50Ⅹ50 µm的测量点。
视准器由通透的可进行测量点光学成像的材料组成。
4)有一个光源（图中没有画出）用于样品的照明。
采用一块反射镜和透镜可直接反射光线到彩色的视频摄像头上。
反射镜的中心有一个孔，用于通过初级辐射。
5)初级辐射激励镀层和底材发射X射线荧光辐射。
这是由于初级辐射量子碰撞内部的某一电子层上的电子所致（光电效应）。
6)由于能量的缘故，产生的空位由外层的一个电子填充，能量差以X射线荧光辐射（Kα，Kβ辐射，等等）的形式发出。
该能量差是相应材料的特征能级差。
7)辐射信号使用辐射探测器来测量，通常采用充满氙气的比例计数器。
X射线荧光辐射电离氙原子。
释放出的电子朝着处于计数器中央的高压轴线加速。
自由电子的数目与X射线荧光辐射的能量成正比。
8)撞击轴线的电子转换为电脉冲，由放大器放大，脉冲的高度与辐射能量成正比。
9)脉冲按照它们产生的能量和频率（强度）进行排序。
这样就可以获得给定的镀层/底材组合的X 射线荧光辐射频谱。
采用基本参数方法，WinFTM®软件可根据相关的理论计算得出镀层厚度和成分，甚至可以允许无标准片测量。
10)测量数据和样品的图像可由彩色显示器显示。
测试台左方图示测试台右方图示测试台正面图示二．开关机顺序开机顺序：1. 打开计算机，显示器和打印机( 如果有的话) 。
2. 按动双稳开关打开FISCHERSCOPE X-RAY 仪器。
牛津 款镀层测厚仪X Stra 简介
镀层测厚仪X-Strata920：是牛津仪器最新发布的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品；在CMI900基础上，改进了系统安全部件、系统软件进行了更新、测量结果进行多样化的输出；是X射线荧光(XRF)镀层测厚仪；具有非破坏、非接触、无损测量；一键定焦，有效避免人为操作误差；快速简洁，仅需10秒即可得出测量结果。
适用于大多数行业，是质量控制、节约成本的最佳检测工具。
拥有着多种称谓：金镍测厚仪、LED测厚仪、金银测厚仪、X射线测厚仪、X-Ray测厚仪、台式测厚仪、镀层测试仪、支架测厚仪……镀层测厚仪X-Strata920应用行业：PCB、FPC、LED、连接器、端子、电阻和电容等电子元件、螺栓和弹簧等五金产品、卫浴洁具、汽车零部件、功能性电镀件、装饰件、首饰饰品等多个行业、检测机构和科研院校。
镀层测厚仪X-Strata920工作原理：对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线能量后被激发并释放出二次X射线。
每个化学元素会释放出特定能量的X射线，通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，镀层测厚仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
镀层测厚仪X-Strata920特点：可测元素：钛Ti22---铀U92间各元素；可测镀层：5层镀层(含基材层)，15种元素共存校正；测量时间约10秒，快速得出测量结果；测量结果精确到微英寸；测量结果报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；提供贵重金属分析和金纯度检查(即Au karat评价)；提供NIST认证的标准片；享有全球的服务与支持。
镀层测厚仪X-Strata920测厚范围：取决于具体的应用。
镀层测厚仪X-Strata920测量精度：膜厚≤20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±1µin，第二层±2µin，第二层±3µin膜厚＞20µin(0.5um)时，测量误差值为：第一层±5%，第二层±10%，第二层±15%。
x射线荧光光谱仪 测镀层厚度
射线荧光光谱仪测镀层厚度
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种分析仪器，用于测量材料中元素的种类和含量。
在测镀层厚度方面，X射线荧光光谱仪具有一定的局限性，因为镀层厚度测量会受到多种因素的影响，如镀层成分、厚度范围、样品形状等。
然而，通过合适的测量方法和参数设置，XRF可以用于镀层厚度的初步估算。
要使用X射线荧光光谱仪测量镀层厚度，需要注意以下几点：
1. 选择合适的仪器：根据测量需求，选择波长色散（WD-XRF）或能量色散（ED-XRF）X射线荧光光谱仪。
WD-XRF 在元素分析方面具有较高的分辨率，而ED-XRF在镀层厚度测量方面具有较好的灵敏度。
2. 制备样品：确保样品表面清洁、平整，无明显的凹凸不平。
样品厚度应尽量均匀，以减少测量误差。
对于不同厚度的镀层，可以采用多次测量后取平均值的方法提高准确性。
3. 设置测量参数：根据镀层成分和厚度范围，调整X 射线荧光光谱仪的测量参数，如射线能量、束流、探测器灵敏度等。
合适的参数设置有助于提高测量结果的准确性。
4. 数据处理：测量得到的原始数据可能包含基体和镀层的信号，需要通过数据处理软件进行分离和校正。
通常情况下，XRF测量结果会受到基体效应、化学计量误差等因素的影响，需要进行相应的校正。
5. 计算镀层厚度：根据测量得到的元素含量和已知镀层成分，可以通过合适的计算方法（如康普顿散射法、掠入射法等）估算镀层厚度。
需要注意的是，X射线荧光光谱仪在测量镀层厚度方面具有一定的局限性，对于非常薄或成分复杂的镀层，测量结果可能存在误差。
在这种情况下，可以考虑采用其他方法（如原子力显微镜、扫描电子显微镜等）进行精确测量。
X射线光谱测定金属镀层厚度ISO 3497(中文翻译版)
金属镀层镀层厚度的测量X射线光谱测定法（等同采用ISO 3497-2000）（中文翻译版）编制: 日期:审核: 日期:批准: 日期:修订历史修订序号对应的条号修订内容修改人批准人日期1. 目的Purpose本标准试验方法涵盖了规定了用X射线光谱法测量金属镀层厚度的方法。
2. 范围Scope本测量方法适用的基本上是确定单位面积质量的方法。
利用对涂层材料密度的了解，测量结果也可以表示为涂层的线性厚度。
允许同时测量最多三层的涂层系统，或同时测量最多三层的涂层厚度和成分。
3. 职责Responsibility程序执行：实验室授权制样人员程序监督：实验室技术负责人及相关责任人4. 原理Principle4.1试验基础——涂层单位面积的质量（如果密度已知，则为线性涂层厚度）与二次辐射强度之间存在关系。
对于任何实际的仪器系统，这种关系首先是通过使用单位面积具有已知质量涂层的校准标准进行校准来建立的。
如果已知涂层材料密度，则此类标准可以以线性厚度单位给出涂层，前提是也给出了实际密度值。
注：涂层材料密度是涂层的密度，在测量时可能是也可能不是涂层材料的理论密度。
如果该密度与校准标准的密度不同，则应使用反映该差异的系数并记录在试验报告中。
荧光强度是元素原子序数的函数。
如果顶涂层、中间涂层（如果有）和基底由不同的元素组成或涂层由多个元素组成，则这些元素将为每个元素产生辐射特性。
一个合适的探测器系统可以调整以选择一个或多个能带，使设备能够同时测量顶部涂层或顶部和一些中间涂层的厚度和/或成分。
4.2激励4.2.1概述——用X射线光谱法测量涂层厚度是基于涂层（或涂层）和基体与强的，通常是窄的，多色或单色X 射线辐射的联合作用。
这种相互作用产生离散的波长或二次辐射能量，这是构成涂层和基底的元素的特征。
产生的辐射来自高压X射线管发生器或合适的放射性同位素。
4.2.2高压X射线管产生——如果在X射线管上施加足够的电势，并且在稳定的条件下，X射线管将产生适当的激发辐射。
膜厚仪设备简介
膜厚仪膜厚仪又名膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理是，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。
也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
目录使用步骤电涡流测量原理磁感应测量原理使用步骤测定准备（1）确保电池正负极方向正确无误后设定。
（2）探头的选择和设定：在探头上有电磁式和涡电流式2种类型。
对准测定对象，在本体上进行设定。
测定方法（1）探头的选择和安装方法：确认电源处于OFF状态，与测定对象的质地材质接触，安装LEP—J或LHP—J。
（2）调整：确认测定对象已经被调整。
未调整时要进行调整。
（3）测定：在探头的末端加肯定的负荷，即使用[一点接触定压式]。
捉住与测定部接近的部分，快速在与测定面成垂直的角度按下。
下述的测定，每次都要从探头的前端测定面开始离开10mm以上。
使用管状的东西连续测定平面时，假如采纳探头适配器，可以更加稳定地进行测定。
电涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时，就在其中形成涡流。
测头离导电基体愈近，则涡流愈大，反射阻抗也愈大。
这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小，也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。
由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，所以通常称之为非磁性测头。
非磁性测头采纳高频材料做线圈铁芯，例如铂镍合金或其它新材料。
与磁感应原理比较，重要区分是测头不同，信号的频率不同，信号的大小、标度关系不同。
与磁感应测厚仪一样，涡流测厚仪也达到了辨别率0.1um，允许误差1%，量程10mm的高水平。
采纳电涡流原理的测厚仪，原则上对全部导电体上的非导电体覆层均可测量，如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆，塑料涂层及阳极氧化膜。
覆层材料有肯定的导电性，通过校准同样也可测量，但要求两者的导电率之比至少相差3—5倍（如铜上镀铬）。
电镀端子品质检验规范和方法
电镀端子品质检验规范和方法电镀端子的检验是电镀完成后不可缺少的工作，只有检验合格的产品才能交给下一工序使用。
通常的检验项目为：膜厚,附着力,可焊性,外观,包装,盐雾实验。
对于图纸有特别要求的产品，有孔隙率测试（30U”）金使用硝酸蒸气法或其它环境测试。
一膜厚：1．膜厚为电镀检测基本项目，使用工具为（X-RAY）膜厚仪，其原理是使用X射线照射镀层，收集镀层返回的能量光谱，鉴别镀层厚度及成分。
2．使用X-RAY注意事项：1）每次开机需做波谱校准2）每星期应至少做一次程式校正3）测量时应根据产品材质及电镀规格选取相配套的测量程式4）对于新产品没有测试程式，应建立测试程式3．测试程式的意义：例：Au-Ni-Cusn ----------测试在黄铜基材上镀镍打底再镀金的厚度。
二．附着力：附着力检测为电镀基本检测项目，附着力不良也是电镀最常见不良现象之一，检测方法有两种：1．折弯法：先用与所需检测端子相同厚度的铜片垫于需折弯处，用平口钳将样品弯曲至180度，用显微镜观察弯曲面是否有镀层起皮，剥落等现象。
2．胶带法：用3M胶带紧牢地粘贴在欲试验样品表面，垂直90度，迅速撕开胶带，观察胶带上有载剥落金属皮膜。
如目视无法观察清楚，可使用10倍显微镜观察。
3．结果判定：a)不可有掉落金属粉末及被胶带粘起之现象。
b)不可有金属镀层剥落之现象。
c)在底材未被折断下，折弯后不可有严重龟裂及起皮之现象。
d)不可有起泡之现象e)在底材未被折断下，不可有裸露出下层金属之现象。
三．可焊性1．可焊性为镀锡的基本功能与目的，如果有焊接后工序要求的，焊接不良是不可接受的。
2．焊锡试验的基本方法：1)直接浸锡法：根据图纸规定，直接将焊锡的部分浸上求求的助焊剂，浸入235度的锡炉中，5秒钟后应缓缓以约25MM/S速度取出。
取出后，冷却至常温时用10倍显微镜观察判定：吃锡面积应大于95%以上，吃锡部位应平滑光洁，无拒焊，脱焊，针孔等现象即判合格。
测厚仪原理
1, 测厚仪的原理射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：I=Ir*EXP（-UX）,Tr为初始射线强度，I为穿过物体后的射线强度，U为衰减系数，X为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。
一般而言密度越大的材料其U值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
测厚仪主要类型激光测厚仪：是利用激光的反射原理，根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度，是一种非接触式的动态测量仪器。
它可直接输出数字信号与工业计算机相连接，并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
X射线测厚仪：利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
超声波测厚仪：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。
凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
适合测量金属（如钢、铸铁、铝、铜等）、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。
X射线测厚仪：适用生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。
x射线荧光光谱仪 测镀层厚度
x射线荧光光谱仪测镀层厚度摘要：1.X 射线荧光光谱仪的概念与原理2.X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度中的应用3.X 射线荧光光谱仪的优势与局限性4.结论正文：一、X 射线荧光光谱仪的概念与原理X 射线荧光光谱仪（X-ray Fluorescence Spectrometer，简称：XRF 光谱仪）是一种非破坏性的物质测量方法，可以用于检测样品中的元素组成和含量。
它利用高能量X 射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X 射线进行分析。
当材料暴露在短波长X 光或伽马射线中，其组成原子可能发生电离，随后回补过程会释放出多余的能量，这些能量以光子形式释放。
X 射线荧光光谱仪通过分析样品中不同元素产生的特征荧光X 射线波长（或能量）和强度，可以获得样品中的元素组成与含量信息，达到定性定量分析的目的。
二、X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度中的应用X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有广泛应用。
在测镀层厚度时，X 射线荧光光谱仪可以分析从轻元素的钠（Z11）到铀（Z92）等各个元素。
测镀层厚度的方法主要有两种：直接法和间接法。
直接法是将X 射线照射到待测镀层上，通过测量产生的特征X 射线的强度来确定镀层厚度。
间接法则是通过测量镀层中的元素含量，结合该元素在镀层中的分布规律，推算出镀层厚度。
三、X 射线荧光光谱仪的优势与局限性X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有许多优势，例如：测量速度快、非破坏性、精度高、范围广等。
然而，它也存在一些局限性，例如：对于轻元素的测量精度较低、受到样品形状和尺寸的限制、需要对不同样品进行校准等。
四、结论总的来说，X 射线荧光光谱仪在测镀层厚度方面具有很大的优势，为工业生产和科研领域提供了一种高效、准确的检测手段。
德国菲希尔XULM-XYM方案书
元器件方案德国F I S C H E R X U L M X Y M X-射线测厚仪方案书一、公司介绍：成立1953年是世界上专业生产涂镀层测厚仪最早的厂家之一,其电镀膜厚仪占世界80%市场,今天FISCHER仪器代表精确,精密,高品质的仪器,已成为镀层厚度测量和材料测试仪器领域公认的领导者,全球已有12个FISCHER的子公司和32个在不同国家的代表处活跃于全球，南通菲希尔测试仪器有限公司厦门办事处属于FISCHER集团在中国厦门,香港,上海,东莞,北京的五个办事处其中之一。
菲希尔厦门办事处致力于为福建本地客户提供更有力的售后服务保障。
二、端子连接器的行业运用在电子连接技术中存在大量制造触点的技术。
最终，通过这些技术，可以优化相应应用中的重要参数，如电子接触电阻或机械强度,焊接性能等。
为实现这些目标，通常在触点材料母体金属上电镀上一种或多种金属镀层。
这些镀层的厚度是触点性能的一个重要参数。
在生产金属触点时，在电镀过程中又不可能镀太厚导致企业成本增加,又不可以镀太薄导致质量下降引起客户投诉,测量涂镀层厚度是工艺控制和质量控制的核心内容。
日益增高的贵金属价格,无非是对企业的成本一个大的挑战,为了提高产品质量和降低企业成本,走品牌化战略, 选择一款高精度、高品质的X-RAY测厚仪,检测镀层厚度就显的十分有必要。
三、样品测试报告1、Sn(锡)/Ni(镍)/CuZnSnPb 插针HELMUT FISCHER GmbHIndustriestrasse 2171069 SindelfingenFischerscope XRAY XULM XYmProduct: 6 / Sn/Ni/CuZnSnPb Dir.: Fischer Block: 1 Application: 7 / Sn/Ni/CuZnSnPbn= 1 Sn 1 = 3.39 μｍ Ni 2 = 1.67 μｍn= 2 Sn 1 = 3.30 μｍ Ni 2 = 1.85 μｍn= 3 Sn 1 = 3.64 μｍ Ni 2 = 1.90 μｍn= 4 Sn 1 = 3.53 μｍ Ni 2 = 1.67 μｍn= 5 Sn 1 = 3.40 μｍ Ni 2 = 1.46 μｍMean 3.452 μｍ 1.712 μｍStandard deviation 0.133μｍ 0.174 μｍC.O.V. (%) 3.85 10.15Range 0.339μｍ 0.438 μｍNumber of readings 5 5Min. reading 3.30μｍ 1.46 μｍMax. reading 3.64μｍ 1.90 μｍMeasuring time 30 secOperator:Date: 2011/6/9 Time:12:38:172、Au(金)/Ni(镍)/CuSn 连接件UT FISCHER GmbHIndustriestrasse 2171069 SindelfingenFischerscope XRAY XULM XYmProduct: 5 / Au/Ni/CuSn Dir.: Fischer Block: 1 Application: 6 / Au/Ni/CuSnn= 1 Au 1 = 0.198 μｍ Ni 2 = 1.85 μｍn= 2 Au 1 = 0.166 μｍ Ni 2 = 1.87 μｍn= 3 Au 1 = 0.217 μｍ Ni 2 = 1.77 μｍn= 4 Au 1 = 0.223 μｍ Ni 2 = 1.78 μｍn= 5 Au 1 = 0.207 μｍ Ni 2 = 1.79 μｍn= 6 Au 1 = 0.208 μｍ Ni 2 = 1.77 μｍMean 0.203 μｍ 1.804 μｍStandard deviation 0.020μｍ 0.046 μｍC.O.V. (%) 9.97 2.55 Range 0.057μｍ 0.106 μｍNumber of readings 6 6 Min. reading 0.166μｍ 1.77 μｍMax. reading 0.223μｍ 1.87 μｍMeasuring time 50 secOperator:报告分析: 第二个样品很明显电镀厂少镀了金,和实际要求的1UM相差悬殊,如果数量很多一年下来所浪费的成本,可以再买一台X-射线测厚仪。
X射线透射法测量膜厚(精)
46
物理实验
第28卷
ln I 0-I r =-( d + D sin . (2
据测量结果,做出ln
I 0-I r sin
曲线如图3所示.由图3可知d + D =0. 38622,另外A l和SiO 2的吸收系数的测量结果分别为=8. 739 103cm -1, =3. 771cm -1. D =0. 902mm ,得到d =52. 7nm ,与实验前用干涉法测量得到的结果基本吻合
图1装置示意图
图2是测量原理图.设衬底厚度为D,膜厚为d,膜材吸收系数为,衬底吸收系数为,则有
I ( =I 0exp -sin +sin ,
即
ln I 0=-( d + D sin
.
(1
图2测量原理图
测量时,令扫过一定角度,作ln
I 0 sin
曲线,可以得到d + D的值,和都是常量(可以对不同的材料预先测好,测膜厚时直接查表,但本文将通过实验结果给出Al和SiO 2的吸收系数和,而用游标卡尺可以直接准确测量D.这样就很容易得到d值.
以上讨论假定了I与I 0都是单次测量,实际上在扫描过程中可以进行数十次测量,这样可以
进一步有效降低实验误差.估计测量周期在40s左右已经可以达到比较高的测量精度了.除了测量精度高之外,由于不涉及光的干涉,所以此方法不像干涉法那样存在厚度周期,可以测量任意厚度的膜厚.整个测量过程操作十分简单,设备相对较易获得,实验条件要求不高.唯一缺点就是要获得较高精度的膜厚测量值,测量时间要相对较长,估计在1课时内能完成.
综上所述, X射线透射法在测量范围和测量精度上都从一定程度上超越了之前测量膜厚的方法,且简易的操作和较容易获得的实验条件使其, 45
x射线荧光光谱镀层厚度测试
x射线荧光光谱镀层厚度测试
X射线荧光光谱（XRF）是一种用于确定物质中元素种类和含量的分析技术。
在材料科学和表面工程中，X射线荧光光谱常被用于测量金属和非金属材料的成分和镀层厚度。
X射线荧光光谱镀层厚度测试的基本原理是利用X射线激发样品中的原子，使它们发出荧光，这些荧光光谱包含了关于样品成分的信息。
通过测量荧光光谱的强度和能量，可以确定镀层中各元素的含量，从而计算出镀层的厚度。
进行X射线荧光光谱镀层厚度测试时，通常需要使用专业的X射线荧光光谱仪，该仪器能够产生高能X射线并测量样品发出的荧光光谱。
测试过程中，样品通常需要放置在仪器的样品台上，并调整适当的角度以获得最佳的测量结果。
最后总结一下，X射线荧光光谱镀层厚度测试是指利用X射线荧光光谱技术测量金属或非金属材料表面镀层的厚度。
该测试通过测量样品中元素的荧光光谱来确定镀层的成分和厚度，提供了一种无损、快速、准确的测量方法。
X 射线荧光光谱在材料科学、表面工程、质量保证和质量控制等领域具有广泛的应用。
测厚仪
测厚仪求助编辑百科名片??OU1600超声波测厚仪测厚仪（thickness gauge ）是用来测量物体厚度的仪表。
在工业生产中常用来连续测量产品的厚度（如钢板、钢带、纸张等）。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有电容式厚度计等。
而利用微波和激光技术制成厚度计，目前还处在研制、试验阶段。
目录科技名词定义分类：测厚仪X射线测厚仪涂层测厚仪激光测厚仪1. 测量原理：2. 设备特点3. 技术参数纸张测厚仪性能特点及参数1. 技术指标：非接触式纸张测厚仪涂镀层测厚仪分类：1. 磁性测厚仪2. 涡流测厚仪3. 涡流测量原理如何选购测厚仪测厚仪使用主意事项各类测厚仪参考标准磁性涂镀层测厚仪MC-2000A科技名词定义分类：测厚仪X射线测厚仪涂层测厚仪激光测厚仪1. 测量原理：2. 设备特点3. 技术参数纸张测厚仪性能特点及参数1. 技术指标：非接触式纸张测厚仪* 涂镀层测厚仪分类：1. 磁性测厚仪2. 涡流测厚仪3. 涡流测量原理* 如何选购测厚仪* 测厚仪使用主意事项* 各类测厚仪参考标准* 磁性涂镀层测厚仪MC-2000A展开编辑本段科技名词定义中文名称：测厚仪英文名称：thickness gauge编辑本段分类：X射线测厚仪纸张测厚仪薄膜测厚仪涂层测厚仪在线测厚仪超声测厚仪压力测厚仪白光干涉测厚仪电解式测厚仪机械接触式测厚仪X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
它以PLC和工业计算机为核心，采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统，达到要求的轧制厚度。
主要应用行业：有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工.纸张测厚仪：适用于4mm以下的各种薄膜、纸张、纸板以及其他片状材料厚度的测量。
薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
x射线镀层测厚仪操作方法
X射线镀层测厚仪操作方法
X射线镀层测厚仪操作方法如下：
1.接通电源，按下X射线测厚仪的开关按钮、照明灯开关，同时打
开电脑，进入测厚软件，进行连线。
2.确定联机后进入“光谱”子程序进行至少30分钟的不间断测量（预
热测量为空打）。
3.预热完毕后，对需要使用的程式进行基准测量。
选择菜单“产品
程式—测量调校标准片”进入调校标准。
4.放入“Ag片”对仪器进行初始化，初始化完成后，取出样品，完
成测试。
5.在显示器屏幕中用鼠标控制仪器台面微调，准确对准测试位置。
6.点击SART测试。
7.测试过程中X射线指示灯亮红，此时严禁打开仪器前盖。
8.测试时间10秒主窗口及数据表中显示测试产品厚度。
9.X射线指示灯熄灭，打开仪器前盖，台面自动伸出。
10.取出样品，完成测试。
以上步骤仅供参考，具体操作可能因仪器型号和设置而有所不同。
镀层测厚仪原理
镀层测厚仪原理
镀层测厚仪是一种用于测量金属、非金属或合金的薄膜或涂层厚度的仪器。
该仪器基于射线透射原理进行测量，主要包括以下原理：
1. 射线透射原理：镀层测厚仪利用射线（如X射线或γ射线）通过被测物体，并根据射线透射的强度来测量镀层的厚度。
射线通过镀层和基底材料时会发生不同程度的衰减，通过测量透射射线的强度变化来推算出镀层的厚度。
2. 衬底材料的吸收常数：不同的金属或合金在特定射线下，其吸收射线的能力是各不相同的。
镀层测厚仪通过测量射线透射的强度变化，结合不同材料的吸收常数，可以确定镀层的厚度。
3. 标准曲线法：镀层测厚仪通常需要先制备一系列标准样品，这些样品具有已知厚度的镀层。
通过测量这些样品的射线透射强度，并建立标准曲线，可以根据待测样品的射线透射强度确定其镀层的厚度。
4. 反射率法：镀层测厚仪也可以通过测量射线的反射率来推算镀层的厚度。
镀层的厚度与射线的反射率之间存在一定的关系，通过测量反射射线的强度变化并结合已知的反射率-厚度曲线，可以确定镀层的厚度。
综上所述，镀层测厚仪利用射线透射原理、吸收常数、标准曲线法以及反射率法来测量镀层的厚度，为表面涂层的质量控制提供了有效的手段。
x射线测镀层厚度原理
x射线测镀层厚度原理
X射线测量镀层厚度的原理基于X射线的特性和材料吸收X射线的能力有关。
X 射线是一种高能电磁辐射，能够穿透固体材料。
当X射线照射到材料上时，一部分X射线会被材料吸收，另一部分会透射穿过材料。
镀层厚度测量中使用的X 射线是非常高能的射线，能够穿透较厚的材料。
当X射线照射到镀层上时，一部分X射线会被镀层吸收，而另一部分会透射穿过镀层和基材。
测量镀层厚度的主要方式是通过测量透射X射线的强度来推断镀层厚度。
根据X射线的特性，透射X射线的强度与穿过材料的路径长度和材料的吸收能力有关。
厚度较小的镀层，透射X射线的强度较大，而厚度较大的镀层，透射X射线的强度较小。
通过将测量数据与已知厚度的标准样品进行比对，可以建立一个测量结果与镀层厚度之间的关系，从而确定未知镀层的厚度。
需要注意的是，X射线测量镀层厚度的方法在实际应用中需要考虑到材料的组成和密度等因素，以及X射线的能量和探测器的灵敏度等参数。
电镀检验
电镀产品品质检验规范和方法电镀端子的检验是电镀完成后不可缺少的工作，只有检验合格的产品才能交给下一工序使用。
通常使用的检验项目为：膜厚（thickness）,附着力（adhesion）,可焊性（solderability）,外观（appearance）,包装（package）.盐雾实验（salt spray test）等,对于图纸有特别要求的产品，有孔隙率测试（30U”）金使用硝酸蒸气法，镀钯镍产品（使用凝胶电解法）或其它环境测试。
一膜厚：1．膜厚为电镀检测基本项目，使用基本工具为萤光膜厚仪（X-RAY），其原理是使用X 射线照射镀层，收集镀层返回的能量光谱，鉴别镀层厚度及成分。
2．使用X-RAY注意事项：1）每次开机需做波谱校准2）每月要做十字线校准3）每星期应至少做一次金镍标定4）测量时应根据产品所使用的钢材选用测试档案5）对于新产品没有建测试档案，应建立测试档案3．测试档案的意义：例：Au-Ni-Cu(100-221 sn 4%@0.2 cfp Au-Ni-Cu----------测试在铜基材上镀镍打底再镀金的厚度。
（100-221 sn 4%-------AMP铜材编号含锡4%的铜材）4.檢查周期：每批；5.測試數量：n>5pcs二．附着力：附着力检测为电镀基本检测项目，附着力不良为电镀最常见不良现象之一，检测方法有两种：1．折弯法：先用与所需检测端子相同厚度的铜片垫于需折弯处，用平口钳将样品弯曲至180度，用显微镜观察弯曲面是否有镀层起皮，剥落等现象。
2．胶带法：用3M胶带紧牢地粘贴在欲试验样品表面，垂直90度，迅速撕开胶带，观察胶带上有载剥落金属皮膜。
如目视无法观察清楚，可使用10倍显微镜观察。
3 ．胶带法：用锋利小刀在表面上切割 1mm * 1mm 的格子，横纵数的格数不少于 5 格，划痕深度应深及底层。
然后再用 3M 600# 胶纸贴在格子上，用垂直于格子表面的方向快速拉起胶带 , 经附着力测试后 , 电镀层脱落面积 <5%4．胶带法：將3M胶带粘贴在刀切100格（每小格為1mm * 1mm）的电镀层表面，用橡皮擦在其上面來回磨擦，使其完全密贴后，以45度方向迅速撕开，镀层需无脫落現象。
X射线荧光镀层测厚仪校准记录及不确定度计算
0.7834 2.369
厚度标准片的实际值 Actual value of thickness standard sheet
Hi /μｍ
0.795
2.37
标准差 standard deviation
S/μｍ
0.0097548 0.040923
示值误差不确定度分量 The uncertainty component of the value error
相对测量重复性
示值稳定性
相对示值误差 结果
5.3%
5.3%
1.2%
1.7%
1.0%
1.8%
-1.5% -0.04%
符合
符合
公式
校准证书给出
U_1
示值稳定
Au(0.795 )
Ni(2.37)
性数据
1 0.783 2.369
2 0.786 2.383
3 0.781 2.383
4 0.779 2.382
U5 /μｍ
合成标准不确定度 Synthetic standard uncertainty
Uc/μｍ (K=2)
0.02067Leabharlann 0.06162 0.003 0.0058
0.021121 0.063236
相对扩展不确定度 Relative expansion uncertainty
Urel (K=2)
5 0.787 2.411
MAX
0.787 2.411
MIN
0.779 2.369
U4
=
Hi
∗ U95r K
Urel
=
k
∗ Uc Hi
U3/μｍ
镀金X射线膜厚检测法(标准版)
镀金X射线膜厚检测法（标准版）
镀金X射线膜厚检测法是一种非破坏性检测方法，通过测量镀金层在X射线照射下的吸收和散射特性，来确定镀金层的厚度。
这种方法具有快速、准确、无损等优点，广泛应用于金属镀层厚度的检测。
以下是镀金X射线膜厚检测法的标准操作步骤：
1. 准备样品：首先从待测镀金部件上取一小块镀金样品，确保样品表面干净、无尘。
2. 安装仪器：将X射线源、检测器和样品放置在检测仪器的适当位置。
3. 设定参数：根据待测样品的厚度和密度，设置X射线的照射参数，如射线种类、照射时间、照射距离等。
4. 检测：开启X射线源，对样品进行照射。
同时，通过检测器测量并记录X射线在样品上的吸收和散射强度。
5. 数据处理：对检测到的数据进行处理，计算出镀金层的厚度。
常用的计算方法有：吸收法、散射法、对比法等。
6. 结果分析：将计算得到的镀金层厚度与实际值进行对比，分析检测结果的准确性。
需要注意的是，镀金X射线膜厚检测法对操作人员的技术水平要求较高，同时需要使用专业的检测设备。
在实际应用中，应根据待测样品的具体情况，选择合适的检测方法和设备。
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X射线电镀膜厚仪
产品介绍
X射线电镀膜厚仪是专业测试金属电镀膜厚的仪器，主要针对镀金，镀银，镀锌，镀锡，镀铜，镀镍，镀钯，镀铑等镀层厚度，天瑞仪器thick800a采用上照式，满足不同规格样品的测试，同时移动样品平台可以满足不同点样品测试，实现了智能化操作，作为X射线电镀膜厚仪生产厂家，产品质量、售后服务、价格占有一定优势。
标准配置
开放式样品腔。
精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机
性能特点
鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护
满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点，重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐
技术指标
型号：Thick 800A
产品名称：X射线电镀膜厚仪
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
应用领域
X射线电镀膜厚仪以其快速、精确、无损的特点而广泛应用在电子电器、精密五金、汽车配件、卫浴、电镀加工、制冷设备、首饰等企业，得到了客户的广泛应用和认可。
厂家介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是专业生产光谱、色谱、质谱等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售一体型企业。
2011年1月25日，天瑞仪器在深圳创业板块上市。
股票代码为300165。
分析仪器行业的第一家也是目前唯一一家上市公司，公司现有员工1100人，包括研发部、技术部、生产部、国内业务部及海外市场部、品管部、计划部、采购部、仓管部、人力资源部、财务部、及董秘处和行政部等部门，且公司规模日益壮大。
公司拥有国际一流的X荧光分析技术领域的专家队伍，具有雄厚的资金势力、顶尖的技术水平、一流服务标准和先进的管理模式。
同时，公司与国内外相关领域的专业研究院所和企业保持着密切的合作关系，实时追踪国际X荧光分析领域最前沿的理论和技术。
目前公司已被授予“国家优秀民营科技企业”、“江苏省高新技术企业”、“苏州市分析仪器工程技术研究中心”、“江苏省昆山市企业技术中心”、“江苏省昆山市产品质量监督检验所RoHS检测二室”等称号。
公司的X荧光检测技术具有快速、精确、无损的特点。
X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，如：电子电器（RoHS检测）、珠宝首饰（贵金属及镀层检测）、玩具安全（EN71-3）、建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。
公司严把质量关，技术精益求精，服务及时周到，是用户信得过的朋友。
产品不仅在中国市场上畅销并已远销印度、韩国、泰国、孟加拉、巴基斯坦、印度尼西亚、伊朗、越南、新加坡、马来西亚、阿联酋、土耳其、苏丹、美国、英国、德国、法国、俄罗斯、加拿大、澳大利亚、意大利、埃及、南非、叙利亚等多个国家。
已获得三个世界第一的成绩：销售量同行业中全球第一、产品品种同行业中全球第一、核心专利技术同行业中全球第一。
售后服务
售后服务片区（划分）、客服热线和技术引导与维护。
服务片区划分已经完全覆盖全国主要省市，主要根据客户的分布和公司业务区域的划分，把中国大陆划分12个工作区域，包括：广州、佛山、湖北片区，厦门片区，珠海、中山、云贵川片区，山东片区，苏州、安徽、上海片区，北京、天津、河南、河北片区，惠州、汕头、福建片区，深圳、东莞片区，浙江
片区、山西、陕西西北片区，青海片区、东北三省片区。
另外，除中国大陆以外片区香港、台湾及海外片区。
公司通过电话等远程维护、上门服务、返厂维修以及对客户使用人员的技术培训来实现技术的应到和维护。
天瑞仪器作为X射线电镀膜厚仪生产厂家，分析仪器上市公司，产品质量、售后服务、价格都具有绝对的优势。
工作原理
若一个电子由轨道游离，则其他能阶的电子会自然的跳至他的位置，以达到稳定的状态，此种不同能阶转换的过程可释放出能量，即X-射线。
因为各元素的每一个原子的能阶均不同，所以每一元素轨道间的能阶差也不同相同。
下述可描述X-射线荧光的特性：若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K 轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K 辐射。
不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M 轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。
若X-射线荧光是一个电子跳入L 的空轨域，此种辐射称为L辐射。
同样的L 辐射可划分为Lα 辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ 辐射，此是由N 轨道之电子跳入L 轨道中。
由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。
原子的特性由原子序来决定，亦即质子的数目或轨道中电子的数目，即如图所示特定的X-射线能量与原子序间的关系。
K辐射较L辐射能量高很多，而不同的原子序也会造成不同的能量差。
特定的X-射线可由比例计数器来侦测。
当辐射撞击在比例器后，即转换为近几年的脉波。
电路输出脉冲高度与能量撞击大小成正比。
由特殊物质所发出的X-射线可由其后的鉴别电路记录。
使用X-射线荧光原理测厚，将被测物置于仪器中，使待测部位受到X-射线的照射。
此时，特定X-射线将由镀膜、素材及任何中间层膜产生，而检测系统将其转换为成比例的电信号，且由仪器记录下来，测量X-射线的强度可得到镀膜的厚度。
部分产品
x-ray膜厚仪，镀金镀银测厚仪，ROHS检测仪（EDX1800\EDX1800B)，直读光谱仪，ROHS 检测设备，手持式合金分析仪，气相质谱仪，液相质谱仪，原子荧光光谱仪，电感耦合等离子发射光谱仪，手持式光谱仪，等离子体质谱仪，镀层膜厚测试仪，便携式不锈钢材质检测仪，合金材质光谱检测仪，便携式X荧光能谱仪，X荧光镀层测厚仪，X荧光光谱仪，不锈钢合金分析仪，ROHS六项检测仪，X射线荧光测厚仪，X荧光测厚仪，ROHS仪器，气质联用仪，液质联用仪，ROHS卤素检测仪，便携式水质重金属检测仪，x荧光光谱分析仪，手持式xrf合金分析仪，手持式光谱分析仪，x射线荧光测厚仪，气相色谱质谱联用仪，液相质谱联用仪，便携式合金分析仪，ROHS测试仪，x-ray镀层测厚仪，环保ROHS检测仪，ROHS荧光光谱仪，手持式金属检测仪，手持式水质重金属分析仪，镀层检测仪，手持
式金属材料分析仪，手持式光谱仪，X射线金属镀层测厚仪，X射线电镀膜厚仪等仪器。