自动光学检测仪

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BQ-WI-QA-02 AOI操作规范

BQ-WI-QA-02 AOI操作规范

1.0目的及范围:规范AOI测试(Automatic Optical Inspection)自动光学检测仪,提高产品的保证能力,降低生产成本,提高生产效率。

2.0 相关文件:IMPRESS Q AOI PC 中文操作手册3.0 主要职责:操作员:负责机器的操作,日常点检及点检记录表的填写,基板的接收和转序,问题板的修理和异常问题的及时反馈。

领班:负责日常生产进度的安排,异常问题的处理和反馈,协助测试员修理问题板以及监督员工要按工序内的要求操作。

工程师:负责工序内的生产管理,维护本工序的体系运作,并负责与各部门的沟通和协调,解决工序内的异常问题,确保工序能达成公司的产能、品质等方面的要求,带动工序全体员工共同进步发展。

维修部:负责机器的修理和保养。

4.0 设备、工具:IMPRESS Q 系列自动光学检测机、VRS检修机、资料处理工作站、手术刀、放大镜、烧线机等5.0 内容:5.1 流程图:5.2操作流程:5.2.1打开机器总电源开关和显示器电源开关,数秒钟后用钥匙开机,机器将自动进行一系列的自身检测,如:AXES 、U/D TABLE 、 OPTICAL HEAD 、MEASURING SYS 、MEMORY TABLES 、EIC 等,机器自检通过后进行下一步操作。

5.2.2创建料号:在主菜单(MAIN.MENU )下选取1键(PROG )/6键(PANEL )/回车(ENTER )后,分别输入JOB :产品编号,LAYER :测试面所在层序(如L3、CS ),STAGE :测试面的物理材质(如COPPER 、DRILL 等)。

5.2.3编辑测试参数:5.2.3.1PROGRAM 的参数设置:在PROG 状态下选择2键(EDIT ),而后分别对1键(GENERAL )、2键(LINES )、3键(HOLES )、4键(MASKL )、9 键(OPIONS )等相关参数进行设定。

5.2.3.2GENERAL 中界面如下:备注:1、可以用ENTER 键或方向键移动光标。

光学瓦斯检测仪的使用步骤

光学瓦斯检测仪的使用步骤

光学瓦斯检测仪的使用步骤
嘿,光学瓦斯检测仪这玩意儿,用起来可得小心仔细呢。

先说说准备工作吧。

拿到光学瓦斯检测仪,得先检查检查它是不是完好无损。

看看那些零件有没有松动啥的,要是有问题,那可不行哦。

然后呢,把药品准备好,那些能吸收瓦斯的药品可不能少。

接着,把仪器擦干净,弄得干干净净的,这样用起来才顺手嘛。

开始使用的时候呢,先把仪器拿到要检测的地方。

打开盖子,让空气进去一会儿,这就像让仪器先喘口气。

然后呢,调整好目镜,让自己能看得清楚。

就跟戴眼镜似的,得调到合适的度数。

接着,观察干涉条纹,看看是不是清晰。

要是不清晰,那就得再调一调。

检测瓦斯的时候,把进气口对准要检测的地方,让瓦斯慢慢进去。

看着干涉条纹的变化,心里默默算着瓦斯的浓度。

可别着急,得仔细看清楚喽。

要是瓦斯浓度高了,那可不得了,得赶紧采取措施。

用完仪器后,得把它收拾好。

把盖子盖上,擦干净,放回到原来的地方。

可不能乱丢乱放,不然下次用的时候就找
不到啦。

我给你讲个事儿哈。

有个工人,他用光学瓦斯检测仪的时候,一开始没检查好仪器,结果到了地方发现干涉条纹不清晰,急得他满头大汗。

后来他赶紧调整,才把问题解决了。

还有一次,另一个工人用完仪器后没收拾好,下次要用的时候找了半天都没找到,耽误了不少时间。

所以啊,用光学瓦斯检测仪一定要认真仔细,按照步骤来,这样才能保证检测的准确性,也能让仪器用得更久。

AOI光学检测仪作业指导书

AOI光学检测仪作业指导书

修订号 版本号A 1.目的:规范员工操作, 确保产品质量.
2.适用范围:AOI光学检测仪“开机、放板、配IP地址”工序
3.使用工具: 有绳防静电手环
4.使用物料: 无
5.作业流程: 5.1 开机:将机器右边的红色旋钮(总电源开关)指向右
方,如图①;将机器下方的系统开关打上,如图②;此 时机器自动运行Windows系统;
5.2 放板:根据待测机板的宽度,松开放板区托架两边的旋 钮,如图③,放入机板并调整托架使机板刚好能左右移 动,然后扭紧旋钮;松开托架上的板夹旋钮左右移动使 板夹远离位于板边的MARK点,如图④;此时放板完成,如 图⑤,机板能顺利地拿出、放入,但不能过于松动;
5.3 双击系统桌面 图标,进入配置摄像头IP地址程 序,如图⑥,在弹出的窗口中点击“检测设备”按钮, 如图⑦,检测出摄像头的名称“DH-SV2001…”,如图 ⑧,单击选择摄像头“DH-SV2001…”后,右边“自动 配置IP地址”按钮被点亮,如图⑨,单击“自动配置 IP地址”按钮完成配置IP地址工序。

6. 注意事項: 6.1 旋纽不能扭太紧,避免损坏; 6.2 作业过程中须配戴有绳防静电手环。

编 制 审 核 批 准 生效日期 AOI光学检测仪作业指导书 三級文件 文件编号:
共 4 页 第 1 页
0修改日期
开机
关机开关①②③托架左
右④⑤MARK 点

⑧⑨⑥。

光学瓦斯检测仪的使用方法

光学瓦斯检测仪的使用方法

(2)
硅 胶
失效:粉白色
2.对各部分进行气密检查
检查吸气球。
放开进气孔,用手 捏扁吸气球,放开吸气 球马上膨胀说明正常。
一手捏扁吸气球,一手压住橡皮管,看吸气球是否膨胀 或者复圆。 取下进气孔皮管, 然后捏扁吸气球,再堵 住进气孔,看吸气球是 否膨胀。
(3)检上护盖
二、进行测定
1.瓦斯含量的测定
(1)把瓦斯入口的橡皮管伸入测定地点;
(2)然后慢慢握压 吸气球五六次,使待测 气体进入瓦斯室;
(3)由目镜观察, 读出干涉条纹在分划板 上移动的概数;
(4)转动测微手轮, 按下测微照明电路的按 钮,读出刻度盘上的读 数。
度;
(1)首先测出瓦斯浓
01
收管,再测出瓦斯和CO2 混合气体的浓度;
(2)然后去掉CO2吸
01
去瓦斯浓度,再乘0.955 的校正系数,即为要测定 的CO2浓度。
(3)混合气体浓度减
01
2.二氧化碳含量的测定
在新鲜风流中清洗气室:用手按捏
01
气球(5-10次);
02
5、清洗气室
电源短路
(1)正常情况
分别先后按下光 源电门和微读数电门 ,若光源灯泡和微读 数灯泡亮则正常。
(2)故障情况
①断路
②连电
③短路
4.检查干涉条纹是否清晰
按按钮
目镜观察
装电池
判断是否清晰
调整视度
6.干涉条纹的零位调整
使刻度盘零位 与指标线重合
第二步:
按下按钮
转动 粗动 手轮
把干涉条纹中最黑 的一条或两条黑线 中的任一条与活划 板上的零位对准, 并记住所对的线
光学瓦斯检测仪的使用方法 先锋煤矿通风科 二0一一年十二月

光学检测仪编程说明书

光学检测仪编程说明书

一、建立新程序:打开电脑,进入测量软件1、选择File——New——progscope(在C盘里面的一个文件夹)——New1.aoi或者defaultnew.aoi——Open——指定程序保存位置和程序名——open2、把投影移到下面的顶尖上,把扫描轮廓的起点放在顶尖上,点击Start开始扫描轮廓,把你想要的地方都扫描出来以后,按Esc退出,切记一定要及时退出,不然投影仪一直会移到顶端,产生报警。

二、各项指令的意义和运用1.外径(diameter):选择此指令,选择要检测的外径的一边,再复选指令,弹出参数设置对话框,设置尺寸、公差,点接受2.距离(distance):选择此指令,首先选择一条边(端面),再选择另一条边(端面),然后复选此指令,弹出参数设置对话框,设置尺寸、公差,点接受3.角度(Angle):选择此指令,先选夹角的其中一条边,再选择夹角的另一条边,然后复选此指令,弹出参数设置对话框,设置尺寸、公差,点接受4.交点与面的距离(Distance intersection):选择此指令,先选择组成交点的两条线的一条,再选择另一条,最后选择一个面,复选此指令,弹出参数设置对话框,设置尺寸、公差,点接受(注意:一定要先选择交点,再选面)5.两交点的距离(Distance intersections):选择此指令,先选择组成第一个交点的一条边,再选择组成第一个交点的另一条边;然后选择组成第二个交点的第一条边,再选择组成第二个交点的第二条边;最后复选此指令,弹出参数设置对话框,设置尺寸、公差,点接受6.半径或圆弧(Radius):选择此指令,选择一条圆弧,调整圆弧的范围,再复选此指令,弹出参数设置对话框,设置尺寸、公差,点接受7.形状跳动(Form):选择此指令,选择一个外圆或你所需检测项目的相关的特性,再复选此指令,弹出参数设置对话框,选择检测项目,设置尺寸、公差,点接受(常用的径跳在下拉菜单中选择Run out)注:选择一个特性后跳出来的一个捕捉的面积,依据实际情况常需要调整捕捉面积;有时捕捉的内容太小,捕捉面积会跳在附近的地方,需手工调整到我们需捕捉的内容;选择时,应时刻关注屏幕上面的提示。

光学瓦斯检测仪使用方法

光学瓦斯检测仪使用方法

光学瓦斯检测仪使用方法光学瓦斯检测仪是一种用于检测空气中有害气体浓度的仪器,它可以广泛应用于煤矿、化工、石油、天然气、冶金等行业。

正确的使用方法对于确保检测仪的准确性和可靠性至关重要。

下面将详细介绍光学瓦斯检测仪的使用方法。

1. 准备工作。

在使用光学瓦斯检测仪之前,首先需要进行一些准备工作。

确保检测仪的电池电量充足,传感器处于正常状态,检测仪外壳干净无污染。

同时,根据需要选择合适的检测通道和检测范围。

2. 启动检测仪。

按下检测仪的开关按钮,待检测仪启动完成后,进行自检和校准。

在自检和校准完成后,检测仪将会显示当前的环境气体浓度值。

3. 定位和安装。

将检测仪放置在需要检测的区域,确保检测仪的传感器能够充分暴露在空气中。

在安装过程中,避免检测仪受到外界干扰,以免影响检测结果的准确性。

4. 数据采集。

检测仪在工作过程中会不断采集环境中的气体浓度数据,并实时显示在屏幕上。

在数据采集的过程中,可以通过检测仪上的按钮进行菜单操作,查看历史数据、设置报警阈值等。

5. 报警处理。

当检测仪监测到环境中有害气体浓度超过设定的报警阈值时,将会发出声音和光信号报警。

此时,需要立即采取相应的安全措施,避免发生事故。

6. 结束检测。

当检测工作完成后,按下检测仪的关闭按钮,待检测仪完全关闭后,进行数据存储和处理。

同时,对检测仪进行清洁和维护,以确保下次使用时的准确性和可靠性。

通过以上步骤的正确操作,可以保证光学瓦斯检测仪的准确性和可靠性,为工作场所的安全生产提供有效的保障。

在使用过程中,还需根据实际情况进行合理的维护和保养,延长检测仪的使用寿命,确保其长期稳定地发挥作用。

车载触控屏自动光学检测(AOI)技术规范

车载触控屏自动光学检测(AOI)技术规范

车载触控屏自动光学检测(AOI)技术规范1范围本标准规定了车载触摸屏自动光学检测(AOI)设备的结构形式,技术要求,检验方法,能力检验规则,使用说明书,编程说明书,维修说明书等内容。

本标准适用于车载触摸屏常见外观缺陷的AOI设备组成、检测项目及检测规则定义。

2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。

凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。

GB 5226.1 机械电气安全机械电气设备第1部分:通用技术条件GB/T 9969 工业产品使用说明书总GB/T 13306 标牌GB/T 13384 机电产品包装通用技术条件GB/T6587 电子测量仪器通用规范GB 4793 测量、控制和实验室用电气设备的安全要求GB/T 18268 测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求GB/T 17626 电磁兼容试验和测量技术抗扰度试验总论3术语和定义GB/T6587界定的以及下列术语和定义适用于本文件。

3.1AOI 自动光学检测 Automated Optical Inspection采用光学系统实现自动检测的检测仪器3.2系统 system为达到预定检测目的组合而成的一组互联仪器,它包括检测用的镜头组和计算机或处理器。

3.3外观检查 appearance inspection检测系统具有对常见的外观缺陷进行的检验3.4缺陷 defect单位产品不符合产品标准、工艺要求即构成缺陷3.5不合格品 non-conforming item有一个或一个以上检测项目缺陷为不合格品。

4目的及系统边界4.1目的车载触摸屏AOI设备用于车载触摸屏的生产过程中的缺陷检测,以达到质量控制的目的。

4.2系统边界车载触摸屏AOI设备,由入料工位、出料工位、设备操控工位、成像系统、计算及显示系统组成。

光学瓦检仪及实操

光学瓦检仪及实操

潞安职业技术学院毕业论文论文题目:光学瓦检仪及实操所属系别煤矿开采系专业班级12级矿井通风与安全姓名刘志杰学号 2012081021指导教师马啸雪撰写日期 2013 年 10月光学甲烷检测仪,是一种应用光干涉原理,测量甲烷、二氧化碳浓度的便携式仪器。

主要用于存在易燃、易爆可燃性气体混合物的工作环境中测量甲烷浓度。

及时、准确的掌握甲烷浓度是防止甲烷爆炸的有效手段。

本文通过光学瓦检仪的构造、工作原理以及井下实操的分析,提出一套井下瓦斯检测的方法,为煤矿持续安全生产提出一定的理论依据。

关键词:光学甲烷检测仪;构造;实操;1引言 (4)2光学甲烷检测仪的特点及构造 (4)2.1光学甲烷检测仪的功能和特点 (4)2.2光学甲烷检测仪的构造 (4)3光学甲烷检测仪的工作原理 (5)4光学甲烷检测仪的使用 (5)4.1使用光学甲烷检测仪前的准备工作 (5)4.2光学甲烷检测仪测定瓦斯浓度 (6)4.3光学甲烷检测仪的常见故障及排除方法 (7)5光学甲烷检测仪的实际操作 (7)5.1采煤工作面进风巷瓦斯检查管理 (7)5.2采煤工作面瓦斯检查管理 (7)5.3采煤工作面上隅角瓦斯检查管理 (8)6总论 (8)参考文献 (8)致谢 (9)1引言煤矿中含有大量的易燃、易爆气体,发生事故后会造成巨大的经济损失,甚至危及矿工的生命。

随着煤矿开采技术手段的不断延伸,安全上的隐患也越来越多,瓦斯事故在煤矿中所占的比例越来越高。

因此不把瓦斯事故控制住,就不能实现煤矿安全生产状况的稳定好转,也就无法保障煤炭工业的持续健康发展。

所以,对煤矿中的瓦斯气体进行快速、准确的检测尤为重要。

本文通过对瓦检仪的构造、工作原理以及井下实操的分析,为煤矿持续、安全生产提供一定的理论依据。

2光学甲烷检测仪的特点及构造2.1光学甲烷检测仪的功能和特点光学甲烷检测仪是用来测定甲烷浓度,也可测定其他气体(如二氧化碳等)浓度的一种仪器。

按其测量甲烷浓度的范围,分为0~10%(精度0.01%)和0~100%(精度0.1%)两种。

AOI培训讲义

AOI培训讲义

苏州工业园区职业技术学院电子工程系
原理:
AOI设备是基于光学成像原理及图像识别技术对PCB进 行的检测的设备。 成像原理:
•1
•漫反射
•2 •3
•高 角 度 入 射 •低 角 度 入 射
•4
•PCB
表现在图像上,漫反射表面为接近原色的图像区域;发生镜面反射的表面,倾 斜角度比较大的表面(如焊锡、引脚、激光丝印等)为蓝色图像区域,倾斜角 度比较小的表面(如未刷焊锡的焊盘、MARK点等)为红色图像区域。
苏州工业园区职业技术学院电子工程系
原理:
AOI设备是基于光学成像原理及图像识别技术对PCB进 行的检测的设备。 图像采集原理 :
苏州工业园区职业技术学院电子工程系
原理:
AOI设备是基于光学成像原理及图像识别技术对PCB进 行的检测的设备。 图像识别原理 :
目前最常用的图像识别算法为灰度相关算法,通过计算归一化的灰度相关( normalized greyscale correlation)来量化检测图像和标准图像之间的相似程度 。灰度相关的取值介于0 和1之间,1代表图像完全相同,0代表图像完全不同。
一般通过设定一个临界相关值(如0.65)来判断检测图像是否发生变化。
苏州工业园区职业技术学院电子工程系
优点 :
•1)检查和纠正PCB缺陷。 •2)能尽早发现重复性错误。 •3) 为工艺技术人员提供SPC资料。 •4)能适应PCB组装密度进一步提高的要求。 •5)测试程序的生成十分迅速。 •6)能跟上SMT生产线的生产节拍。 •7)检测的可靠性较高。
自动光学检测AOI
苏州工业园区职业技术学院电子工程系
要点
• • • • • • • • • 概述 作用 应用 原理 优缺点 组成 基本概念与术语 软件介绍 程序制作

光学瓦斯检测仪的使用方法

光学瓦斯检测仪的使用方法

光学瓦斯检测仪的使用方法
光学瓦斯检测仪是一种用于检测空气中有害瓦斯的仪器。

以下是使用光学瓦斯检测仪的基本步骤:
1. 准备工作:确保光学瓦斯检测仪已经充电或已安装好电池,并确保其正常工作。

2. 开机:按下仪器上的电源按钮,等待设备启动。

3. 校准:在使用光学瓦斯检测仪之前,应进行校准。

校准过程会根据仪器的类型和硬件设置而有所不同,因此请根据仪器的使用说明进行操作。

4. 测量:将光学瓦斯检测仪靠近待测点,确保仪器的气体传感器暴露在待测空气中。

观察仪器上的显示屏,它将会显示当前检测到的气体浓度或警告信息。

5. 维护和保养:使用完毕后,确保将光学瓦斯检测仪妥善保管,清洁仪器外壳,并按照使用说明进行日常保养,例如定期更换传感器等。

请注意,具体的使用方法可能因光学瓦斯检测仪的品牌和型号而有所不同,因此在使用之前最好先阅读仪器的使用说明书,并遵循其操作指南。

此外,在使用光学瓦斯检测仪时,务必遵循相关的安全操作规程,并密切关注检测仪上的警告信
息。

提高AOI自动光学检测仪检测准确性技术途径

提高AOI自动光学检测仪检测准确性技术途径

矿产资源开发利用方案编写内容要求及审查大纲
矿产资源开发利用方案编写内容要求及《矿产资源开发利用方案》审查大纲一、概述
㈠矿区位置、隶属关系和企业性质。

如为改扩建矿山, 应说明矿山现状、
特点及存在的主要问题。

㈡编制依据
(1简述项目前期工作进展情况及与有关方面对项目的意向性协议情况。

(2 列出开发利用方案编制所依据的主要基础性资料的名称。

如经储量管理部门认定的矿区地质勘探报告、选矿试验报告、加工利用试验报告、工程地质初评资料、矿区水文资料和供水资料等。

对改、扩建矿山应有生产实际资料, 如矿山总平面现状图、矿床开拓系统图、采场现状图和主要采选设备清单等。

二、矿产品需求现状和预测
㈠该矿产在国内需求情况和市场供应情况
1、矿产品现状及加工利用趋向。

2、国内近、远期的需求量及主要销向预测。

㈡产品价格分析
1、国内矿产品价格现状。

2、矿产品价格稳定性及变化趋势。

三、矿产资源概况
㈠矿区总体概况
1、矿区总体规划情况。

2、矿区矿产资源概况。

3、该设计与矿区总体开发的关系。

㈡该设计项目的资源概况
1、矿床地质及构造特征。

2、矿床开采技术条件及水文地质条件。

AOI光学检测仪培训教材

AOI光学检测仪培训教材

培训计划表11月21日:编程第一部分到第三部分11月22日:前三部分考核11月23日:程序编写及考核11月24日:学习调试及考核11月25日:菜单项讲解11月26日:软件安装、注意事项与特殊问题讲解11月29日:完整程序考核11月29日以后:视情况而定当天培训的内容当天必须考核通过才能下班,如果未能完成计划加班都必须完成,以免影响第二天的计划。

11月22日考核内容:每人必须在10分钟之内完成程序的前三部11月23日考核内容:对于两种不同的编程方法以及所有元件画框11月24日考核内容:用一种方法完成程序调试11月25日考核内容:抽查菜单项内容11月26日考核内容:对于特殊问题如何处理11月29日考核内容:单个程序独立完成,每人每天必须完整地完成两个程序地制作。

前言AOI全名称为全自动光学检测设备,他的主要作用是代替人工查找PCB的各种外观缺陷,能够起到高效、准确、省时、节约成本等作用。

神州视觉科技阿立得品牌AOI是国内首家从事AOI研发、生产、销售及售后服务为一体的综合性AOI制造产家,产品已遍及全国各个省市自治区,远销欧美、日本、中东以及澳大利亚,神州视觉科技阿立得品牌AOI的基本原理是:在光学原理的基础上,采用统计建模原理,通过图像比对,排除OK图样,剔选出错误图片。

从而达到检测错误的能力。

我们在镜头图下所看到的图像就是通过光学原理呈现出来的特征,红光是从上往下照,所以表面光滑能够垂直反射光线的铜铂就显示红色,蓝色从侧面照,反射焊点的光,所以蓝色为焊点图像,绿光为补偿光。

当我们选取一些特征点做标准后,就需要对这些标准进行分析他的像素分布以及变化规律,这就用到了统计学原理,通过对大量的OK图片加以统计,对图片中三种光亮度以及分布范围分析,建立起一套数据库信息模型,每一个标准框都是一个模型,通过这个模型来比对待测图像,如果待测图片与标准图差异很大,大于设定的允许误差范围值,电脑则自动剔出为NG。

如此达到检测错误的能力。

光学甲烷检测仪使用方法

光学甲烷检测仪使用方法

光学甲烷检测仪是一种用于检测空气中甲烷浓度的设备,通常基于红外线吸收原理进行测量。

以下是一般光学甲烷检测仪的使用方法:
1.准备工作:
●确保检测仪已经安装好电池或连接了电源,并处于正常工作状态。

●检查传感器是否干净和完好无损,及时清洁或更换需要维护的部件。

2.打开设备:
●打开检测仪的电源开关,等待设备初始化和自检完成。

3.校准(可选):
●如果需要,根据设备说明书进行校准操作。

校准通常涉及使用标准气体或校准气体
进行零点和满量程的校准。

4.测量环境准备:
●将检测仪放置在待测环境中,确保周围没有明显的干扰物、烟雾或其他气味。

●避免阳光直接照射到检测仪上,以免影响测量结果。

5.测量操作:
●根据设备说明书,选择合适的测量模式(如即时测量或连续监测)。

●按下开始/测量按钮,等待一段时间以确保仪器采集到足够的数据进行测量。

6.结果读取:
●检测仪通常会在显示屏上直接显示甲烷浓度值。

注意单位和精度,确保正确解读测
量结果。

7.储存和记录(可选):
●可以将测量结果记录在设备内部的存储器中,或使用外部设备连接进行数据传输和
保存。

8.关闭设备:
●测量完成后,按下停止/关闭按钮,将检测仪关机。

需要注意的是,具体的操作步骤可能会因不同型号的光学甲烷检测仪而有所差异,请参考设备的用户手册或厂家提供的操作指南以获取准确的使用方法。

此外,为了确保测量准确性和设备的长期可靠性,还应遵循设备的维护要求,并定期进行校准和维护。

光学瓦斯检测仪的使用方法

光学瓦斯检测仪的使用方法

光学瓦斯检测仪的使用方法光学瓦斯检测仪是一种能够检测环境中有害气体浓度的专业设备,常用于工业、建筑和危险物品处理等领域。

下面将详细介绍光学瓦斯检测仪的使用方法。

步骤一:准备工作使用光学瓦斯检测仪之前,首先需要进行准备工作。

包括检查仪器是否完好无损,是否有电量,是否需要更换或校准传感器,以及检查是否有相应的使用说明和操作手册。

步骤二:了解仪器在使用光学瓦斯检测仪之前,需要对该仪器的性能和功能进行了解。

包括可以检测的气体种类、测量范围、检测原理、仪器的使用限制和注意事项等。

并熟悉仪器的按键操作、显示屏上的信息以及仪器报警系统。

步骤三:选择检测场地在使用光学瓦斯检测仪之前,需要选择一个合适的检测场地。

这个场地通常是可能存在有害气体的区域,如工业生产设施、污水处理厂、管道、仓库等。

在选择场地时,应考虑气体的产生源、可能存在的气体浓度以及气体的密集程度。

步骤四:仪器携带和准备工作根据选择的检测场地,选择合适的仪器携带方式。

通常,光学瓦斯检测仪可以使用便携式佩戴,也可以安装在固定位置上。

选择携带方式后,需要将仪器打开,并检测仪器的电量是否足够。

如电量不足应及时充电或更换电池。

同时,还需要将仪器和相关附件(如电源适配器、传感器等)准备好。

步骤五:设置检测参数在开始进行检测之前,需要对仪器进行一些参数的设置。

这些参数通常包括检测的气体种类、测量范围、预设报警阈值等。

在设置这些参数之前,需要查看仪器的使用说明,根据实际需求进行设置。

步骤六:进行检测将光学瓦斯检测仪放置在所选检测场地,或佩戴在身上。

仪器开始工作后,会自动采集和分析环境中的气体浓度数据。

仪器的显示屏通常会显示当前检测到的气体浓度值,也会显示预设的报警阈值和声光警告信号。

步骤七:分析和处理数据在检测过程中,仪器会持续采集并记录环境中的气体浓度数据。

这些数据通常可以通过仪器的数据接口或无线通信功能传输给计算机或移动设备,进行进一步的分析和处理。

通过分析数据,可以判断是否存在有害气体超标的情况,及时采取相应的措施。

索尼推出用于印制线路板的自动光学检测仪

索尼推出用于印制线路板的自动光学检测仪

光机电信息D 日亚化学成功开发420mW 蓝色激光二极管日本日亚化学工业公司已成功开发出目前功率最大的用于BD 与HD DVD 刻录设备的蓝色激光二极管(BLD ,Blue LaserDio de )。

该功率可实现双层12倍速(BD 的最高水平,HD DVD 则是8倍速)以及4层(BD )2倍速的刻录。

目前该公司现有的产品为320mW ,此次通过改良激光控制芯片便于提高输出功率。

420mW 的BLD 的阈值电流为35mA ,阈值电压为3.7V 。

机箱温度为80℃下,已经确认可满功率工作1000h ,由此推算达到了10000h 的使用寿命。

不过,新型BLD 的量产计划并没有确定。

日亚表示,从市场的需求来看,现在还不需要如此高功率的BLD ,未来将会根据市场需求的趋势来确定量产时间。

(No.38)美科学家用红外线移动芯片上的微粒美国科学家发明了一种利用光在微型芯片上捕获并移动微小粒子的方法,可能会帮助制造出微型生物传感器和其它精密的纳米仪器。

这种技术被称为“光镊”,是一种经过超精确对焦的光束。

由于光束中的单个光子在撞击粒子时能产生微小的作用力,科学家们将“光镊”技术应用于透明介质中,让光在介质中通过时钳住微小型粒子。

多年以来,“光镊”技术一直被用于研究和操控微小生物结构,乃至单个原子。

美国麻省理工学院的研究人员现在拓展了“光镊”的使用前景。

生物工程学与机械工程学教授马特兰和戴维阿普尔亚德最新尝试了红外线。

与可见光不同的是,红外线不会被硅元素反射,而硅正是制造微型芯片的材料。

这意味着所使用的红外线“光镊”可以对芯片表面进行实际操作。

为证明技术的可行性,这2位研究员用16个活着的大肠杆菌细胞在一块芯片上摆出了“M IT ”(麻省理工学院的英文简称)的字样。

马特兰预测说,通过对“光镊”系统的应用,人们可以把高精度传感器(如疾病检测器)塞进非常狭小的空间内,也可以把以硅为原料的电子产品连接到活体组织和其他“生物界面”上。

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用在多层板的内外层或高密度双面板表面质量的检查。

但是在其它方面的应用也比较多,特别是对高密度互连结构(HDI)微通孔和表面的检查。

而且还应用在IC封装和装配中的印制板的检查。

AOI很有效地应用诸多方面,为提高印制板的表面质量,发挥了重要的作用。

一.底片的检查自动光学系统的设计是根据底片检查工艺特性,采用透射的模式即将需要检查的底片放置在玻璃桌台上,而不采用抽真空台面,而是通过玻璃桌面的下的光束透过玻璃进行对底片的扫描来检查底片相应位置上的缺陷。

使用这种方法对底片进行表面质量的检查,为更加清晰的将印制板表面缺陷呈现出来,对该系统的放大装置作了很大的改进,达到了既是印制板表面的很小的缺陷都能检查出来。

当在印制板生产过程中使用该系统时,就能将印制板面的5µm和5µm以下的缺陷检查出来,并且能够适当的区别错误的真假,就是采用高级的识别系统大大的减少故障缺陷的发生。

在反射模式将白色的纸放置在光具(底片)之下,介于光具透明和不透明范围之间,以提高其对比度。

经过交替的变换达到或接近所使用的标准的AOI系统。

这种方法不是通用的的,更多的倾向是由于微小的划伤,才会出现假的缺陷报告。

另外,容易产生错误的是由于光具表面银粒子无光泽,再通过AOI的反射模式,特别是焦点不是在光具银乳胶膜上,就很容易出现假的读出。

而表面无光泽的粒子致使真空度下降。

这些粒子是甲基丙烯酸树脂,直径大约7微米,它能够使光发出散光。

如果AOI是开始并记录应该发现的缺陷,唯一的其缺陷的尺寸应比10微米要大,这样用它来检查就能解决所存在的质量问题,而且还有可能解决对精细导线(S/L=30/50微米)的检查。

对于有阻抗要求的导线宽度公差控制不会比±5-10微米变化更大是可能的。

而AOI的灵敏度不会记录这样的线宽变化。

检查光具(即底片)通常应该在清洁的、黄光室内进行,不建议到AOI作业区进行检查,应此区域清洁度不够。

因此,实际上AOI机不是检查内层或外层的光具膜的机器。

.AOI实际上也可以检验玻璃底版的图像质量,即玻璃上镀铬膜。

这些底版通常制作和检验是通过转包公司再送交PWB制造厂的。

典型的要求就是底版上的缺陷的尺寸在5微米或更大些。

许多使用玻璃底版的用户也使用检查玻璃的工具进行检查,以延长使用的寿命。

但使用玻璃底版也很贵。

玻璃底版至少要曝光百次以上,最典型的次数为200-500次,就必须使用AOI对玻璃底版图像进行质量检查,还可以通过曝光试验,如底版的图像好就可以接着使用,或者进行修整。

二.覆盖有光敏抗蚀剂的板在进行显影前的潜像质量的检查这一步最基本的想法就是在湿处理前,对板的图像与孔对准度进行检查,及早发现如有质量缺陷就很容易得到解决。

但是,检查的这种类型膜层的潜像不是广泛地,这是因为板膜层的颜色均匀而且差别很大,特别在对已曝光和非曝光范围的膜层,即使用特殊过滤器也是较难发现质量问题,其察觉率是较低的。

三.在铜的表面检查显影后的图像质量在印制板的铜的表面检查显影后的图形使用的更为普遍。

对显影后的图形检查,主要侧重点检查的是图形的对准程度和质量缺陷,同时也可以通过对显影图形的检查,也可以及时发现光具(底片)图像是否有缺陷或其它如灰尘、划伤或沾污,或曝光机存在的其它问题。

使用AOI对表面图形的检查,就是利用图形介于光敏抗蚀膜的颜色反射能力低和铜颜色反射能力高的差别进行检查。

因为抗蚀剂层的颜色发暗,因此两者比较容易好对比。

在多数的情况下,所使用的抗蚀剂的颜色是兰色的或带兰色-绿色颜色关型,那一种类型的颜色差别更大,需经过曝光后的图像所形成的那种颜色更为强烈,其检查的效果就比较理想。

通过AOI的滤色系统就可以将兰色转换成黑色,提高与铜表面颜色的对比程度。

通常在AOI系统内装有“旋转式滤色器”的颜色转换装置,进行适当的选择对图形进行优化处理,以提高对比度。

近来利用先进的计算机系统,使AOI系统的改进,从而获得比较高的图像对比程度。

特别是该系统过滤器的选择,将更清晰的标定轮廓保存在文件中,并更大的改善了检查底片到检测错误以避免发生错误的能力。

四.检查导体电路图形(蚀刻后)的质量将抗蚀膜层退除后,检查导体铜电路图形最广泛的是使用AOI。

在这方面的应用是非常普遍的,要获得图像的清晰度的提高,完全决定于过滤器的适当选择,使铜导体表面呈现出不同的变换。

最多的情况,AOI系统检查蚀刻后的导线宽度,这就很容易涉及到多层板内层的导体表面形态和导线边壁的形态的类似的显现,这种形态决定于蚀刻的工艺或微蚀刻的工艺特性。

特别是经过电镀的导体线路的经过蚀刻后形态。

同样对多层板的外层的导体线路蚀刻时,更需要进行选择和调整,以确保导线蚀刻后的形态达到平衡。

特别经过混合加工的表面,即涂OSP和镀金,用自动检查系统就显得困难。

虽然如此,但该系统装备有人工智能,通过适当的应用调节规则,它能自动地检测电路和板面范围的缺陷。

这就大大的减少检查时错误,改善了系统检测判断错误的能力。

五.钻孔(机械方法)后的质量检查机械钻孔后的是能够进行检查,要实行检查的步骤,就必须确定需要检查的部位,同时还要考虑成本。

要使用该系统检查,需要在低成本的情况下,化很少的费用完善“检查孔”的工具。

印制板就有可能运用它作为检查孔质量的工具。

然而, 在某些情况下,它可能从经济的角度考虑,就有可能适用标准的AOI机作为检查孔质量的任务。

虽然如此,这种应用法并不很普遍,因为所使用的钻孔机具有高可靠性,当钻孔过程中发生质量问题时会自动发出警报,如果出现钻头损坏或断裂,会自动进行更换。

孔的检查是可能的,但必须熟练掌握检查规定程序,或应该作为例行工作对全部板进行检查。

当然对全部板的钻孔质量的检查是有充分的理由,但是很复杂,有的板很贵,板很厚(16层)和孔小及通孔的高纵横比率,而且用户没有修理费用,即没有焊接规则。

该任务就检验钻孔过程有无错误,并认可通孔是清洁的,但也不是过分要求,只要AOI系统输送的光能通过(即光是能够在通孔中传输的)。

镀层增宽和孔内有碎片对于低纵横比率的孔的缺陷是很容易检查出来。

然而,适当的识别在高纵横比率孔内剩余的碎片、堵孔或部分堵孔或电镀结瘤等缺陷不是不重要,对于高纵横比率的孔检查时需要从两面进行,如检查时发现反常,需要检查两次以上。

六.检查微孔质量孔金属化前激光钻孔后,或金属化孔后微孔是可以检查的。

孔金属化后经过AOI检查,所获取的信息证实孔内镀层覆盖的完整性,而不是金属与焊盘的结合状态。

如果首道工序要求进行蚀刻,激光钻孔前进行铜导体进行敷形掩膜,于是在钻孔前需要对敷形掩膜附加检查步骤。

检查钻孔后的环氧钻污,就是根据图形暗(非反射)环形的工艺特性采用反射的模式进行检查。

反射的中心目标是带有铜的焊盘,即微孔的底部。

而墨暗的凹处是介质材料本身的边壁而不是金属化镀层,俯视到是外层发光的范围内表面是铜。

这个例子假定钻孔前所制作的的内层面是覆盖的是铜,但是不总是这种情况的。

唯一能观察到的就是当激光钻孔的直径要比敷形膜制作的孔直径要小的时。

因此,高密度互连结构的印制板的敷形孔的直径很小时,是无法观察到的。

在这种情况下,AOI荧光机是能够对微孔底部盘的薄的透明缺陷检查出来。

孔金属化前主要检查铜焊盘的清洁程度和孔的位置、焊盘的位置。

微孔的检查最理想的是适合AOI系统检测,因为激光(不是白色光)钻的孔,能够独立的检查铜和介质材料,这因为利用铜的反射和介质的荧光图形获得通道。

微孔金属化后检查是通过另外信息达到检测孔壁金属化表面覆盖状态,则且设定孔壁的角度进行检查。

七.非传统微孔加工表面质量检查这些加工程序的制作工艺是不连续的,而且是“并行的”加工过程,即在并行模式形成单层,最后工序就是通过压制合在一起。

这样加工的做出势,就是加工的用的时间短,减少加工步骤,但要知道层的质量好坏,就必须在层压前进行检查。

经过加工的金属表面经过微蚀所看到的是不同的,有原有的铜或电镀铜.在Z轴互连结构应该是铜或银膏(在ALIVH 或B²it等积层工艺用的方法即导电膏),或铜表面经过腐蚀液的冲击和金属层经过处理的双面(ALIVH)目的以改善粘结强度,但用反射模式的AOI机检查更为困难。

八.集成电路(IC)的封装和装配质量的检查AOI机用于检查晶片(全晶片)的质量水平。

IC-水平的检查因为很小,其工艺特性要求需用专用设备。

经过比较它有可能比采用AOI机检查在价格上需10倍费用,可以在印制线路板上通常是能够发现的。

为适应IC封装的需要,通常所采用底层的结构是小的多层,制作每一层都是很精细的导线电路。

如标准的多层,在制造过程中会发生变化,要进行有效的控制,就必须对重点工序的产品质进行检查。

这就要求所使用的AOI系统要具有很高的分辩率。

另外, 这些IC的底层材料有多层的或单层的的最后检验,实际是采用自动可视检验(AVI)机进行的,主要是检测连接导线的焊盘和倒装芯片用的盘。

装配操作期间的板的检查,是实行标准程序进行的。

并且要求AOI系统有能力检验数组焊膏的(模版印刷后)在板面的状态、焊接和组成分九.其它AOI系统具有专门检验挠性板和经过辊压的形成的薄膜以及检验高密度的陶瓷和薄膜(TF)封装的产品。

在应用上,只要被检测的材料少许具有对比性表面特性的介质或具有随着时间的延长变化特性,如褐色或黑色氧化膜、锡铅合金以及被沾污的表面,采用具有荧光模式的AOI就能提供检测的技术。

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