晶体管测试仪使用说明
MT-105 晶体管耐压测试仪使用说明书
MT-105晶体管耐压测试仪使用说明书深圳鹏达电子科技有限公司一、简介MT-105晶体管耐压测试仪可测试各种晶体二极管、瞬态二极管、三极管、可控硅、场效应管的正向、反向击穿电压耐压值；能测试稳压二极管的稳压值。
仪表为便携式设计，体积小、重量轻、自动量程、功能强、操作均采用无锁按键和遥控操作、上位机软件操作并可以保存测试数据（MT-105通信版），使用方便可靠，实用性强，适用于从事电子技术的实验人员、调试人员、维修人员、采购人员、销售人员及无线电爱好者。
还适用于电子电器产品生产厂家作为各类电子元器件批量检测之用。
二、面板功能介绍①：仪器电源开关，使用时请把开关打开，不使用请把开关关闭，避免电池耗电。
②：HV高压测试键，把被测试的器件引脚放进对应的测试槽后，按下测试键。
③：测试高压工作指示灯，按下测试键测试时，此指示灯会亮，表示高压工作中。
④：测试槽的1脚（黄色标记）HV-（GND地）⑤：测试槽的2脚（黄色标记）N型管的控制信号LG⑥: 测试槽的2脚（红色标记）P型管的控制信号HG⑦：测试槽的3脚（红色标记）HV+（高压输出HV）⑧: 充电指示灯，充电中此LED等亮，等充满电此指示灯灭，充电自动控制⑨：USB接口，充电与通信接口，可以接在电脑USB接口上，可以边通信边充电 ⑩: 仪器的显示屏，采用1602，LCD屏，显示清楚美观省电耐用三、使用操作说明打开开关，仪器屏幕显示官方网站和型号名称：“ MT-105 HV Tester”显示3秒后进入测试画面（没有任何测试操作）显示：“Bat:4424mv MT-105 HV Tester”。
按键操作：把待测试的元件放入对应的引脚后，按下测试键进行测试遥控操作：把待测试的元件放入对应的引脚后，按下遥控器播放键，可以进行测试遥控器只有2个按键有用，一个是高压测试键，另外一个是返回清屏键软件上位机操作可以测试和保存测试数据四、主要经典（重要项目）测试方法1、二极管测试方法，有两种VB R和U F电压，如下图1和图2所示图1 图22、三极管NPN的测试方法，有BVces和BVcer的反向击穿电压（耐压）测试，如下图3和图4所示图3 图43、三极管PNP的测试方法，有BVces和BVcer的反向击穿电压（耐压）测试，如下图5和图6所示图5 图64、N沟道的M O S管的测试方法，有BVdss和BVdsr的反向击穿电压（耐压）测试，如下图7和图8所示图7图85、P沟道的M O S管的测试方法，有BVdss和BVdsr的反向击穿电压（耐压）测试，如下图9和图10所示图9图105、可控硅的单、双向的测试方法，V RR M的反向击穿电压（耐压）测试，如下图11和图12所示图11 图12五、多种测试类型管的不同接法1、NPN管的8种击穿电压接法：以下是NPN三极管的8种测试电压的接法，BVceo、BVc b o、BVe b o、BV b eo、BVcer、BVces、BVce x、的击穿电压测试方法：（1）、BVceo：晶体管反向击穿电压；基极开路,集电极－发射极反向击穿电压接法：NPN管基极B开路（悬空），集电极C接测试槽3，发射极E接测试槽1，这时测试的就是反向击穿电压。
JL294-3晶体管测试仪
测试方法：1、测试操作步骤：（本说明以JL294型仪表为例）①开机；按下K1键使仪表工作②置K2键（PNP与NPN功能转换键）与被测管极性相符位置，将被测管与测试插座可靠连接。
③测试：按下需测试功能对应的按键，读出被测数。
注意：测试时K3～K12之间不准同时按下二个键！④关机；按K1，切断仪表电源。
2、各种三极管测试方法及图示：图中K2置NPN位置，测试PNP三极管时将K2（JL295型为K1）键置PNP位置，管脚接法与图一样。
①为了保证测试的准确性，建议使用外接6V 3A直流稳压电源。
②将三极管管脚按图示插入测试插座。
③仪表K3、K4档用于测试三极管VBR（耐压值），测试电压分别为0～1999V和0～199.9V；按下相应档位的开关，仪表分别显示被测三极管的VCEO、VCBO、VEBO 及VCE、VBC、VBE的耐压值。
④仪表K5、K6、K7三档用于测试三极管VCE（sat）（共发射极饱和压降）。
Ic电流分别为2000mA、300mA、10mA；Ib电流分别为200mA、30mA、1mA；测试时应根据三极管的功率大小按下相应档位的开关，表头显示相对电流下三极管的压降值。
提示：对同一型号的三极管，在相同电流档下测试，饱和压降值越小越好。
提示：小功率三极管不要用大电流档进行测试。
⑤仪表K8、K9、K10三档用于测试三极管hFE（共发射极直流放大系数）。
Ib电流分别为10mA、1mA、0.01mA；通过逐档测试可以观察三极管的放大线性，测得hFE值最大的一档应视为被测管最有效的工作状态。
提示：测试时应根据被测三极管的功率大小，先测试小电流档、再测试中电流档、后测试大电流档（要防止测试电流过大而损坏小功率管），表头分别显示不同工作电流下的直流放大系数。
注1：如果测试电流增大，被测三极管的放大系数不变或增大则说明被测管能在大电流的工作条件下使用；相反，如果随着测试电流的增大而被测三极管的放大系数减小，则说明被测管不能在大电流的工作条件下使用；如果表头显示的测试值不断变动，则说明该三极管不能承受该档的工作电流。
多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料
多功能晶体管测试仪使用说明V2.01120150301 1、功能介绍1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、电感等，可测电容ESR(非在线测量)等功能。
1.2、简易信号发生器(方波)：最高4MHz, 频率可调非连续输出，如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。
单键调整输出稍麻烦一点，但可满足一般性使用。
输出信号电压：4.5V 串680欧电阻。
本功能状态下不自动关机，也不能手动关机，1.3、A频率计：0-3.8Mhz，输入信号电压2.5-5V.，分辨率1Hz。
可定制为7.6MHz高分辨率模式，0.1hz-130Khz 分辨率0.001hz, 100hz以下1-10秒，在测频状态下单击，屏幕上显示“Hi”，切换为高分辨率模式，超过130Khz自动切回正常模式。
已校准过B高精度频率计，16Hz-100Mhz.，输入信号电压2.5-5V，分辨率16Hz。
高分辨率模式，2hz-2.1Mhz 分辨率0.02hz, 1.6K以下1-10秒，在100M状态下单击，切换为高分辨率模式，屏幕上显示“Hi”，超过2.1M自动切回正常模式。
已校准过C高精度频率计，1024Hz-2.4Ghz.，输入信号电压30mV，分辨率1024Hz。
可用于对讲机发射频率测试。
高分辨率模式，102hz-137Mhz 分辨率1hz, 100K以下1-10秒，在2.4G状态下单击，切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”，超过137M自动切回正常模式。
由于易受干扰500K 以下不能很好测量。
非完全测试,2.4G没条件测试，500MHz测试ok。
已校准过,2.4G 灵敏度高，有时不接输入信号也会有输出，易受到干扰。
信号输入线宜用屏蔽线。
可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号，并且双击切换档位，显示2.4G 或100M ABC为三选一功能1.4、可在线ESR: 测量时接入 1 3 口， 0.01-20欧，分辨率为0.01欧姆，且同时测量容量;精度不高但用来判断电容的好坏是没问题的。
操作规范(HZ4832晶体管测试仪)
操作规范(HZ4832晶体管测试仪)深圳市博劲恒科技有限公司□一阶□二阶■三阶文件编码版本版次页码页次制定部门制定日期BJH-BP8-1品质部2019-9-3晶体管测试仪操作指引□保密■重要□传阅目一、目的(Purpose)二、范围(Scope)录（directory）三、注意事项（Attention）四、使用方法（Usemethod）五、测试实例说明(TestCaseSpecification)修订日期2019.9.3版次修订内容B首次发行制定彭礼审核核准日期深圳市博劲恒科技有限公司□一阶□二阶■三阶文件编码版本版次页码页次制定部门制定日期BJH-BP8-2品质部2019-9-3晶体管测试仪操作指引□保密■重要□传阅一、目的为使晶体管检测仪有一定的操作方法，标准与步骤依循。
二、范围适用于：HZ4832。
三、注意事项1.在测量三极管的输出特性时，阶梯电流就不能太小，否则，不能显示出三极管的输出特性。
阶梯电流更不能过大，这样容易损坏管子，应根据实际测量三极管的参数来确定其大小。
2.“集电极功耗电阻”的选用当测量晶体管的正向特性时，选用低阻档；当测量反向特性时，选用高阻档。
集电极功耗电阻过小时，集电极电流就过大；若集电极功耗电阻过大，就达不到应该有的功耗。
3.仪器工作电压超过36V，注意用电安全。
4.在使用过程中一定要先确定待测元件的特性参数，以免损坏元件和实验仪器。
5.在显示调节聚焦和辉度时以屏幕显示适中为佳，过焦过亮会缩短示波管寿命。
6.元件测试过程中切勿用手接触裸露带电部位，以免造成数据失真和人身安全。
7.元件测试参照测试实例调节相应参数。
四、操作步骤与方法如下1.仪器使用前准备工作1.1确认输入电源电压并可靠接通仪器，确认仪器电源开关未被拉出，确认测试台和转换座可靠连接在实验仪上。
1.2开机预热2-3分钟，调整显示屏聚焦和辉度，以显示适中为佳。
1.3对应测试元件选择合适的转换座接入测试台。
2.使用仪器测试2.1按元件极性接入相应的测试台或转换座，调整仪器，以特性曲线正确显示在屏幕中央为准。
晶体管VGT、IGT、IH参数测试仪操作规程
（含浙江华晶整流器有限公司）
管理程序
编号：HJ/JC-002
发行日期：2008.4.1
版本次号：A
修改次号：0
第1页，共1页
项目
晶体管VGT、IGT、IH参数测试仪操作规程
一、本仪器是晶闸管VGT、IGT、IH三项参数的专用测试设备。适用于各种晶闸管的测试，操作者必须熟悉本机使用说明书，严格按照说明书的要求进行操作。
二、操作步骤：
1.按下“电源”开关按钮红色电源指示灯亮，数码管显示为“000”(若不为“000”请按一下复位开关按钮使本机进入0址)表示电源接通。
2.将被测试器件接在“A、K、G”接线端子上。
3.选择“IGI+”、“IGI-”、“IGIII-”、触发象限功能键或“IH”维持电流功能键。测试普通、快速晶闸管选择“IG I+”，测试KS双向晶闸管分别选择“IGI+”、“IGI-”、“IGIII-”，测试维持电流选择“IH”。
4.按动“复位”键：如仪器处于触发参数待测状态，电流、电压显示表回零。如仪器处于维持电流待测状态，电流显示表显示“450”mA左右的某一数值。
5.按动“测试”键：测触发参数时，电流表显示的数字由小到大变化，测维持电流时，电流表显示数字由大到小变化，测完自动停止。测试过程中“测试”键内指示灯亮，测完后指示灯自动熄灭。(注：测维持电流时，电压表显示的数值无意义。整个测试过程在2秒内完成)。
6.更换被测器件后，按3、5条操作即可。
注：对同一器件进行多次重复测试，测试过程由于被测试器件发热，参数会有所变Байду номын сангаас，测试中应注意。
编制：
审核：
批准：
晶体管测试仪使用方法
晶体管测试仪使用方法
晶体管测试仪是一种用于测试晶体管性能和功能的设备。
以下是晶体管测试仪的使用方法：
1. 准备工作：
- 确保晶体管测试仪的电源已接通并处于工作状态。
- 将待测试的晶体管正确插入测试仪的测试座，并确保与测试仪的接口连接牢固。
2. 设置测试参数：
- 通过测试仪的控制面板或操作界面，设置需要测试的参数，如电压、电流、频率等。
这些参数根据测试需求和晶体管规格进行设置。
3. 进行测试：
- 将测试仪的测试电源接通，并调整到适当的电压、电流或频率值。
- 开始测试时，观察测试仪的显示屏或指示灯，确保测试仪正常工作。
- 确保测试过程中晶体管没有异常现象，如短路、过载等。
如果发现异常，及时停止测试并检查故障原因。
4. 结果分析：
- 将测试仪测量得到的数据记录下来，包括电压、电流、频率等。
- 根据测试结果进行分析，判断晶体管的性能和功能是否符合要求。
常见的
测试项目包括开关特性、放大特性、输入输出特性等。
5. 维护保养：
- 测试完成后，及时关闭测试仪的电源，并进行清洁和保养。
如清除灰尘、调整测试座位等，以确保下次测试的准确性和可靠性。
- 定期检查测试仪的各个部件和连接线，确保其正常工作和连接牢固。
请注意，以上是一般的晶体管测试仪使用方法，不同型号和品牌的测试仪可能会有一些细微的差异。
在使用前请仔细阅读测试仪的说明书，并遵循厂家提供的操作指南。
JY-3晶体管测试仪技术说明书
JY-3晶体管测试仪技术说明书杭州精源电子仪器有限公司JY-3晶体管测试仪技术说明书1.系统简介本测试仪具有对半导体器件常温测试，高温热测(不需要外加烘箱)，热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。
晶体管热敏参数的快速筛选技术，是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到最高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数V BE、I CEO（或I CBO）和h FE ,及其在加功率前后的变化量、变化率△V BE、I CEOH和△h FE％，并以此为失效判据参量，淘汰超标的晶体管，达到剔除早期失效器件，改善产品批的质量和可靠性的目的，同时，所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。
该快速筛选方法不仅能替代直流满功率老炼，快速剔除有潜在缺陷的器件，而且更加科学合理，并已列为行业标准SJ／T10415—93及国军标GJB128A—97。
本测试仪不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛，而且可作常规直流参数测试仪器使用，具有足够的测试量程和精度，只要调用被测器件的型号，就能进入快速连续检测。
当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的瞬间，具有自动保护能力。
2.主要功能2.1可取代直流满功率老炼，每只器件整个老炼筛选过程（含测试）只需5秒左右。
2.2 能测试筛选PNP、NPN大、中、小功率三极管。
中文菜单式界面，操作简便。
2.3能一次性自动测试、筛选V BE、V BC、h FE1、h FE2、I CEO、I CBO、I EBO、V（BR）CEO、V、V（BR）EBO、V CES、V BES的常温、高温值及常温与高温值变化量或变化率。
（BRCBO并能任意选测全部或部分参数；若只选测常温参数，每只器件只需1秒多。
h FE1、h FE2可以自动分10档。
2.4 可任意设定器件型号、测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意修改、调用。
晶体管图示仪YB4810说明书
半导体器件物理实验指导书一、实验设备介绍1、概述YB4810型晶体管特性图示仪是一种用阴极射线示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器，尤其能在不损坏器件的情况下，测量其极限参数，如击穿电压、饱和压降等。
2、主要技术指标2.1 Y轴偏转系数集电极电流范围为10μA/div~0.5A/div，分15档，误差不超过±5%；二极管反向漏电流0.2μA/div~5μA/div，分5档，2μA/div、5μA/div误差不超过±5%，1μA/div误差不超过±7%，0.5μA/div误差不超过±10%，0.2μA/div误差不超过±20%；外接输入为0.1V/div误差不超过±5%。
2.2 X轴偏转系数集电极电压范围为0.1V/div~50V/div，分9档，误差不超过±5%；基极电压范围为0.1V/div~5V/div，分6档，误差不超过±5%；外接输入为0.05V/div误差不超过±7%。
2.3 阶梯信号阶梯电流范围为0.1μA/级~50mA/级，分18档；1μA/级~50mA/级，误差不超过±5%，0.1μA/级误差不超过±7%；阶梯电压范围为0.05V/级~1V/级，分5档，误差不超过±5%；串联电阻10Ω、10KΩ、0.1MΩ，分3档，误差不超过±10%；每簇级数4~10级连续可调。
2.4 集电极扫描电源、高压二极管测试电源功耗限制电阻0.5MΩ，分11档，误差不超过±10%。
2.5 其它校正信号为0.5Vp-p误差不超过±2%（频率为市电频率），1Vp-p误差不超过±2%（频率为市电频率）；示波管15SJ110Y14内（UK=1.5Kv，UA4=+1.5kV）；电源电压为（220±10%）V；电源频率为（50±5%）Hz；视在功率在非测试状态约50W；满功率测试状态约80W。
晶体管特性测试仪的使用
⑦峰值电压范围。通过集电极变压器的不同输出电压的选择而分为5V(5A)、50V(1A)、500V(0.1A)、3000V(2mA)4挡,在测试半导体器件时,应由低挡改换到高挡,在换挡时必须将“峰值电压%”调到0,再慢慢增加,否则易击穿被测管。
(2)Y轴部分
①电流/度开关。它是一种具有25挡、4种偏转作用的开关,是测量二极管反向漏电流及三极管集电极电流的量程开关。集电极电流共20挡(10μA/div～0.5A/div);二极管漏电流共5挡(0.2～5μA/div)。当开关置于“基极电流或基极源电压”位置时,可使屏幕Y轴代表基极电流或电压;当开关置于“外接”时,Y轴系统处于外接收状态,外接是由后面板插座直接输入到Y轴放大器,经放大后取得其偏转值。
下面介绍晶体管特性测试仪的应用举例。
(1)二极管正向特性的测量:下面以硅整流二极管1N4007为例,说明二极管正向特性曲线的测量方法。
测量时,将屏幕上的光点移至左下角,测试仪面板上的有关开关、按钮置于如下位置:
峰值电压范围:0～5V
极性பைடு நூலகம்正(+)
功耗电阻:2.5Ω
X轴:集电极电压0.1V/div
(2)三极管的测量:下面以NPN型三极管9011为例,说明三极管的ICVCE特性曲线的测量方法。测量时,将屏幕上的光点移至左下角,测试仪面板上的有关开关、按钮置于如下位置:峰值电压范围:0～20V,极性为正
功耗电阻:250Ω
X轴:集电极电压1V/div
Y轴:集电极电流1mA/div
阶梯信号:重复,极性为正
②Y轴移位。它可使被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动。
(3)X轴部分
晶体管图示仪使用方法
审核/日期----- 版次A/O批准/日期QT2晶体管图示仪使用方法页次1/4QT2晶体管图示仪使用方法一、晶体管图示仪测试范围：三极管/二极管/场效应管/可控硅等。
二、使用方法：1、先将图示仪电源开关打开，十分钟后便可开始检测。
a、反向击穿电压的检测：Vcbo 集电极/基极间电压（发射极开路）Vebo 发射极/基极间电压（集电极开路）Vceo 集电极/发射极间电压（基极开路）Vcer 集电极/发射极间电压（基极与发射极间电阻连接）Vces 集电极/发射极间电压（基极与发射极间短路）2、根据被测三极管的极性选择NPN/PNP 。
被测的BCE各极按照上表所示进行连接（开路可直接悬空）3、Y偏转放大器的电流/度（集电极电流）开关至于较小挡，无特殊要求一般置于100/uA度挡级。
4、X偏转放大器的电压/度U0根设定合适的挡。
5、无特殊要求将集电极功耗电阻至于10K~100K之间的任意挡级。
6、集电极电压至于合适的档级（根据被测管的参数而定），峰值电压初始为0 ，测试时按顺时针方向适当的加大。
7、读出数值并记录、比较，要求所测值必须大于晶体管额定值。
审核/日期------ 版次A/O批准/日期QT2晶体管图示仪使用方法页次2/4QT2晶体管图示仪使用方法b、V CE----I C特性测试:(集、射极电压/集电极电流)1、根据集电极、基极的极性选择开关置于NPN/PNP，并将开关置于常态。
如基极需要反相时可置于“倒置”。
2、按照被测管的管脚CBE的排列对应插入测试盒中。
3、查看被测管的参数，将Y电流/度置于I C合适的档级，X电压/度置于U C合适档级。
4、选择A/B测试盒,并将开关置于所要测试的一边。
5、调整光标的位置，使其停在左下方（NPN）或右上方（PNP）的零点开始。
6、选择合适的阶梯幅度/级开关置于电流/级的某一挡（一般至于较小挡级，再逐渐加大致要求值）。
7、选择合适的集电极功耗电阻，电阻值的确定可根据负载线的要求或保护被测管的要求选择。
晶体管测试仪使用方法
晶体管测试仪使用方法晶体管测试仪是一种用于检测和测试晶体管性能的仪器。
晶体管测试仪可以帮助我们了解晶体管的工作状态和参数，从而判断其是否正常工作，以及是否符合设计要求。
下面是晶体管测试仪的使用方法的详细介绍。
首先，使用晶体管测试仪之前，我们需要准备好所需的设备和材料。
除了晶体管测试仪本身外，还需要晶体管样品和连接晶体管的测试电路。
同时还需要一些测试引线和测试探头。
在使用晶体管测试仪之前，我们需要确保仪器和测试电路的电源已经连接好，并检查各个连接口和电源线是否牢固。
接下来，我们可以按照以下步骤来使用晶体管测试仪。
第一步是将待测的晶体管样品插入晶体管测试仪的测试插槽中。
在插入之前，需要先检查晶体管的引脚是否正确对应测试插槽的引脚。
插入晶体管后，要确保其引脚与测试插槽的引脚有良好的接触。
接下来，我们可以选择所需的测试模式和测量范围。
晶体管测试仪通常具有多种测试模式和测量范围可供选择，以适应不同类型和参数的晶体管。
通过仪器面板上的旋钮或按钮，我们可以选择所需的测试模式和测量范围，并通过仪器上的显示屏来查看测试结果。
在选择测试模式和测量范围之后，我们需要根据具体的测试要求和参数设置一些测试条件。
例如，我们可以设置测试的输入电压或电流的大小，以及测试的频率范围等。
这些测试条件可以通过仪器上的按钮或旋钮进行设置。
接下来，我们可以启动晶体管测试仪，并进行测试。
在测试过程中，我们需要仔细观察仪器上显示的测试结果，并记录下来。
同时，我们还可以通过仪器上的其他功能和参数来了解晶体管的更多信息，如输出功率、增益、频响等。
最后，在测试完成后，我们需要通过仪器上的按钮或旋钮来停止测试，并将测试结果进行保存和记录。
同时，还需要将晶体管从测试插槽中取出，并确保其他连接线和测试电路的电源已经关闭。
总结一下，晶体管测试仪是一种用于检测和测试晶体管性能的仪器。
在使用晶体管测试仪之前，我们需要准备好所需的设备和材料，并确保仪器和测试电路的电源已经连接好。
多功能晶体管测试仪使用说明12864LCV2.011资料
多功能晶体管测试仪使用说明V2.01120150301 1、功能介绍1.1、晶体管测试仪可以完全自动识别及测量三极管、场效应管、IGBT、二极管、双二极管、电阻、双电阻、电容、电感等，可测电容ESR(非在线测量)等功能。
1.2、简易信号发生器(方波)：最高4MHz, 频率可调非连续输出，如4M、2M、1M、.... 100K ... 1KHz等。
单键调整输出稍麻烦一点，但可满足一般性使用。
输出信号电压：4.5V 串680欧电阻。
本功能状态下不自动关机，也不能手动关机，1.3、A频率计：0-3.8Mhz，输入信号电压2.5-5V.，分辨率1Hz。
可定制为7.6MHz高分辨率模式，0.1hz-130Khz 分辨率0.001hz, 100hz以下1-10秒，在测频状态下单击，屏幕上显示“Hi”，切换为高分辨率模式，超过130Khz自动切回正常模式。
已校准过B高精度频率计，16Hz-100Mhz.，输入信号电压2.5-5V，分辨率16Hz。
高分辨率模式，2hz-2.1Mhz 分辨率0.02hz, 1.6K以下1-10秒，在100M状态下单击，切换为高分辨率模式，屏幕上显示“Hi”，超过2.1M自动切回正常模式。
已校准过C高精度频率计，1024Hz-2.4Ghz.，输入信号电压30mV，分辨率1024Hz。
可用于对讲机发射频率测试。
高分辨率模式，102hz-137Mhz 分辨率1hz, 100K以下1-10秒，在2.4G状态下单击，切换为高分辨率模式,屏幕上显示“Hi”，超过137M自动切回正常模式。
由于易受干扰500K 以下不能很好测量。
非完全测试,2.4G没条件测试，500MHz测试ok。
已校准过,2.4G 灵敏度高，有时不接输入信号也会有输出，易受到干扰。
信号输入线宜用屏蔽线。
可自己DIY加个双掷开关切换 2.4G和100M 两档输入信号，并且双击切换档位，显示2.4G 或100M ABC为三选一功能1.4、可在线ESR: 测量时接入 1 3 口， 0.01-20欧，分辨率为0.01欧姆，且同时测量容量;精度不高但用来判断电容的好坏是没问题的。
晶体管测试仪使用说明
晶体管测试仪使用说明一、准备工作1.将晶体管测试仪放置在平稳的台面上，并插入电源插头。
2.确保晶体管测试仪的电源开关处于关闭状态。
二、连接测试电路1.将待测晶体管正确插入测试仪的晶体管插座中，确保引脚与插座相对应。
2.连接测试电路。
根据待测晶体管的类型和测试要求，将测试仪的输入和输出端子连接到电路中。
可以通过连接线将测试仪的输入端子与输入信号源连接，将输出端子与负载电阻连接。
三、调整测试仪参数1.打开晶体管测试仪的电源开关，待测试仪开始运行。
2.调整测试仪的工作模式。
根据待测晶体管的类型和测试要求，设定测试仪的工作模式，例如共射、共基或共集模式。
3.调整输入信号源的频率和幅值。
根据测试要求，设定输入信号源的频率和幅值。
可以通过测试仪上的旋钮或按钮进行调节。
四、进行测试1.运行测试仪，开始测试。
根据测试仪的提示或指示灯，逐步进行测试。
2.测试参数的测量。
根据测试仪的操作说明，逐个测量待测晶体管的参数，例如电流放大倍数、输出阻抗和截止频率等。
可以使用测试仪上的按钮或旋钮进行参数测量，并观察测试仪的显示屏或指示灯。
五、结束测试1.结束测试。
根据测试要求，停止输入信号源的工作，并将测试仪的电源开关关闭。
2.拔出待测晶体管。
轻轻拔出待测晶体管，注意不要损坏晶体管或测试仪的插座。
3.关闭电源。
将晶体管测试仪的电源开关关闭，并拔出电源插头，以确保安全和省电。
六、注意事项1.在进行测试之前，确保待测晶体管和测试电路没有电流，并断开电源。
2.在测试时，可以参考晶体管的参数手册，并根据其引脚配置和测试要求进行正确连接和调整。
3.在进行高频测试时，尽量减少测试线的长度，以减少信号衰减和干扰。
4.在使用过程中，注意安全，避免触摸高压或高温区域。
5.使用完毕后，及时清理晶体管测试仪上的灰尘和杂物，并妥善保管，以确保下次使用时的正常运行。
AT-201晶体管测试仪操作说明书
AT-201晶体管测试仪操作说明书一、主要用途：本测试仪性能稳定，能自动读出准确数据，使用方便，适用于电子爱好者、电子开发者、设计者、与电子维修者必需小仪器。
它可测各种二极管，三极管，可控硅，MOS场效应管；能判断器件类型，引脚的极性，输出HFE，阀电压，场效应管的结电容，附加条件可测电容和电阻等。
特别适合晶体管配对和混杂表贴元件识别。
二、操作说明：1. 测试面板上说明如下图①：TEST 测试按键；②：LED 测试指示灯；③④⑤：测试槽分别1、2、3对应显示屏上显示123脚；⑥：OUT TESTER测试输入接口以颜色黄、绿、红三色对应123脚；⑦：LED充电指示灯⑧：USB标准mini USB充电接口⑨：LCD测试结果显示屏⑩：POWER SW 内置电源总开关2．使用时先将POWER SW开关置于“ON”状态。
3. 将被待测试器件放入测试槽后，启动测试键“TEST”键后显示屏上会显示出对应的数据等待10S后自动关机。
4. 要测试大的器件，可以用外接线与“OUT”孔连接，测试线另一头与器件的引脚连接，并按“TEST”键测试。
5. 测试贴片晶体器件时，就要用到贴片匹配器与本机的测试槽连接并按“TEST”键6. 使用完后（不使用时）应把“POWER SW”开关置于“OFF”状态，不使用时防止内部电池耗电。
本机有自动关机功能, 自动关机时的工作电流只有20nA，可以突7. 如本机使用电量不足，LCD屏幕上会显示“Battery Low！”，这时就要用迷你USB线进行充电，充电时将“POWER”开关置于“OFF”状态，USB接口上方的指示灯会亮，表示充电中…一般充电5-8小时就可以使用。
用USB充电器或电脑的USB接口都能进行充电。
8. 注意事项（1）、测量电容时，必须将电容的电放干净方可接到测试仪上测量，带电的电容容易将测试仪的芯片击毁。
不能将带电的器件进行测试，防止内部芯片被击坏。
（2）、本仪器如长时间不使用，应将POWER SW开关置于“OFF”状态，至少半个月充一次电，以免电池变质、流液、损坏机件。
晶体管图示仪使用方法
根据晶体管交流输入电阻的定义
可以从输入特性曲线上估算出被测晶体管的输入电阻 rbe 。具体方法是：根据静态工作点的参数，在图示仪的曲线上确定静态工作点 Q 的位置，求出曲线在该点的斜率，（如图 1.2.6 所示）即 可 求 得 被 测 晶 体管在 Q 点处的 rbe 。
的大小，就反映了图示仪上所显示的输出特性曲线的疏密程度。
(6)“零电压”、“零电流”开关
此开关是对被测晶体管基极状态进行设置的开关。当测量管子的击穿电压和穿透电流时，都需要使被测管的基极处于开路状态。这时可以将该开关设置在“零电流”挡(只有开路时，才能保证电流为零)。当测量晶体管的击穿电流时，需要使被测管的基、射极短路，这时可以通过将该开关设置在“零电压”挡来实现。
根据所显示的正向特性曲线，可测试出被测二极管在某一电压ＶF下的正向电流Ｉ F ，正向直流电阻ＲF 和正向交流电阻 rF 等常用参数。
正向电流 ＩF ：如图1.2 .7 所示，对于不同的正向电压ＶF ，可从曲线上测出相应的正向电流ＩF 。
正向直流电阻 Ｒ F：ＶF 和 ＩF 的比值即为相应工作点处的正向直流电阻 ＲF 。
(3)“峰值电压范围”开关和“峰值电压％”旋钮
“峰值电压范围’’是5个挡位的按键开关。“峰值电压％”是连续可调的旋钮。它们的共同作用是用来控制“集电极扫描电压”的大小。不管“峰值电压范围”置于哪一挡，都必须在开始时将“峰值电压％”置于0位，然后逐渐小心地增大到一定值。否则容易损坏被测管。一个管子测试完毕后，“峰值电压％”旋钮应回调至零。
下面以 NPN 型三极管为例，说明具体的测试方法：
(3) 测量晶体管共射输出特性曲线及有关参数
将被测的晶体管 (如 3DG6 ) 插入测试台。将屏幕的光点调到屏幕的左下角。根据第 ( 2 ) 部分“主要旋钮的作用及选择”中的原则，将各旋钮置于适当的位置，即可在图示仪的屏幕上显示出如图 1.2.5 所示的晶体管输出特性曲线。根据输出特性曲线，可测试出晶体管的输出电阻 rce、电流放大倍数 β以及穿透电流ＩCEO。
JY-3晶体管测试仪技术说明书
JY-3晶体管测试仪技术说明书杭州精源电子仪器有限公司JY-3晶体管测试仪技术说明书1.系统简介本测试仪具有对半导体器件常温测试，高温热测(不需要外加烘箱)，热敏参数的快速筛选取代直流满功率老炼三大功能，并可任意选用及组合使用。
晶体管热敏参数的快速筛选技术，是采用在短时间内(一般为数秒)对晶体管施加超稳态额定功率的办法，使晶体管的结温迅速接近或达到最高允许结温TjM，通过快速检测晶体管热敏参数V BE、I CEO（或I CBO）和h FE ,及其在加功率前后的变化量、变化率△V BE、I CEOH和△h FE％，并以此为失效判据参量，淘汰超标的晶体管，达到剔除早期失效器件，改善产品批的质量和可靠性的目的，同时，所施加的超稳态额定功率模拟了被试管实际使用时可能出现的浪涌电压、电流等应力，以考核被试管承受冲击的能力。
该快速筛选方法不仅能替代直流满功率老炼，快速剔除有潜在缺陷的器件，而且更加科学合理，并已列为行业标准SJ／T10415—93及国军标GJB128A—97。
本测试仪不但能按规定进行晶体管热敏参数的快筛，而且可作常规直流参数测试仪器使用，具有足够的测试量程和精度，只要调用被测器件的型号，就能进入快速连续检测。
当被测器件由于穿通、二次击穿和热击穿的瞬间，具有自动保护能力。
2.主要功能2.1可取代直流满功率老炼，每只器件整个老炼筛选过程（含测试）只需5秒左右。
2.2 能测试筛选PNP、NPN大、中、小功率三极管。
中文菜单式界面，操作简便。
2.3能一次性自动测试、筛选V BE、V BC、h FE1、h FE2、I CEO、I CBO、I EBO、V（BR）CEO、V、V（BR）EBO、V CES、V BES的常温、高温值及常温与高温值变化量或变化率。
（BRCBO并能任意选测全部或部分参数；若只选测常温参数，每只器件只需1秒多。
h FE1、h FE2可以自动分10档。
2.4 可任意设定器件型号、测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意修改、调用。
晶体管测试仪使用说明
晶体管测试仪使用说明输入电压：直流6.8V-12V工作电流30mA左右，输入7.5V直流电压时实测●晶体管测试仪控制测试仪由一个旋转编码器开关控制，旋转编码器开关一共可以有4种操作，短按、长按、左旋、右旋。
在关机状态下短按一次，就能打开电源，开始测试。
在一次测试完成后，如果没有检测到器件。
长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单，进入功能菜单后，左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择，要进入某一个功能项，则短按一次开关。
当需要从某个功能里退出时，则长按开关。
●测试器件测试仪一共有3个测试点，TP1、TP2、TP3。
这三个测试点在测试座里的分布如下：在测试座的右边是贴片元件的测试位置，上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3测试只有2个引脚的元件时，引脚不分测试顺序，2个引脚任意选择2个测试点，3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中，不分顺序。
经过测试后，测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点，并显示在屏幕上。
测试只有2个脚的元件时，如果使用的是TP1和TP3两个测试点，则测试完成后自动进入连续测试模式，这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件，不用再按开关。
如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试，则只测试一次。
要再一次测试则按一次开关。
测试电容器前，先给电容器放电，再插入测试座测量，否则有可能损坏测试仪的单片机。
●校准测试仪校准是用于消除自身元器件的误差，使得最后的测试结果更加精确。
校准分为快速校准和全功能校准。
快速校准的操作方法：用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接，然后按下测试按钮，同时注意观察屏幕。
屏幕颜色会变成黑底白字，在出现提示信息”Selftest mode..? ”后，按一下测试按钮，就进入到快速校准过程；如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后，2秒钟内没有按键，则进行一次正常的测试过程，最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。
晶体管特性测试仪的使用
晶体管特性测试仪的使用晶体管特性测试仪的使用典型的晶体管特性测试仪面板上的开关、旋钮按功能可划分为6个部分,即示波管及显示电路、集电极电源、Y轴部分、X轴部分、校正及转换部分、阶梯信号部分。
现将各部分的主要开关及旋钮的作用说明如下(以HZ4832型晶体管特性测试仪为参考)。
(1)电源及示波管控制部分:这一部分的使用与示波器完全相同,不做过多介绍。
(2)Y轴部分①电流/度开关。
它是一种具有25挡、4种偏转作用的开关,是测量二极管反向漏电流及三极管集电极电流的量程开关。
集电极电流共20挡(10μA/div～0.5A/div);二极管漏电流共5挡(0.2～5μA/div)。
当开关置于“基极电流或基极源电压”位置时,可使屏幕Y轴代表基极电流或电压;当开关置于“外接”时,Y轴系统处于外接收状态,外接是由后面板插座直接输入到Y轴放大器,经放大后取得其偏转值。
②Y轴移位。
它可使被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动。
(3)X轴部分①电压/度开关。
它是一种具有22挡、4种偏转作用的开关,是集电极电压及基极电压的量程开关。
集电极电压共12挡(0.05～50V/div)。
当开关置于“基极电流或基极源电压”位置时,可使屏幕X 轴代表基极电流或电压;当开关置于“外接”时,X轴系统处于外接收状态,外接是由后面板Q9插座直接输入到X轴放大器,经放大后取得其偏转值。
②X轴移位。
可以使被测信号或集电极扫描线在X轴方向移动。
(4)阶梯信号部分①级/簇。
它是用来调节阶梯信号的级数,能在1～10级内任意选择。
②调零。
未测试前,应首先调整阶梯信号起始级为零电位。
当荧光屏上可观察到基极阶梯信号后将零电压按钮置于“零电压”,观察光点或光迹在荧光屏上的位置,然后将其复位,调节“阶梯调零”电位器,使阶梯信号起始级与“零电压”时的位置重合,这样阶梯信号的“零电位”被正确校正。
③串联电阻开关。
当阶梯选择开关置于电压/级的位置时,串联电阻与半导体器件的输入回路串联,用于改变阶梯信号与被测管输入端之间所串接的电阻的大小。
DF4810晶体管测试仪操作说明书
XXXXXXXXXX 有限公司
工作说明书
文件编号：XX-XX-XX 版次：2.0
制定日期：XX-XX-XX 页次：- 6 -
档案名称：DF4810 晶体管测试仪操作规程
三、
操作规范
1． 开机预热 15 分钟，调节辉度、聚焦及辅助聚焦，使光点清晰。 2． 将峰值电压旋钮调至零，峰值电压范围、极性、功耗电阻等开关置于测试所需位置。 3． 对 X、Y 轴放大器进行 10 度校准。 4． 调节阶梯调零。 5． 选择需要的基极阶梯信号，将极性、串联电阻置于合适挡位，调节级/簇旋钮，使阶梯信号为 10 级/簇，阶 梯信号置重复位置。 6． 插上被测晶体管，缓慢地增大峰值电压，荧光屏上即有曲线显示。
四、
注意事项
1. 对被测管的主要直流参数应有一个大概的了解和估计，特别要了解被测管的集电极最大允许耗散功率 PCM、 最大允许电流 ICM 和击穿电压 BVEBO、BVCBO 。 2. 选择好扫描和阶梯信号的极性，以适应不同管型和测试项目的需要。 3. 根据所测参数或被测管允许的集电极电压，选择合适的扫描电压范围。一般情况下，应先将峰值电压调至零， 更改扫描电压范围时， 也应先将峰值电压调至零。 选择一定的功耗电阻， 测试反向特性时， 功耗电阻要选大一些， 同时将 X、Y 偏转开关置于合适挡位。测试时扫描电压应从零逐步调节到需要值。 4. 对被测管进行必要的估算，以选择合适的阶梯电流或阶梯电压，一般宜先小一点，再根据需要逐步加大。测 试时不应超过被测管的集电极最大允许功耗。 5. 在进行 ICM 的测试时，一般采用单簇为宜，以免损坏被测管。 6. 在进行 IC 或 ICM 的测试中，应根据集电极电压的实际情况选择，不应超过本仪器规定的最大电流 7. 进行高压测试时，应特别注意安全，电压应从零逐步调节到需要值。观察完毕，应及时将峰值电压调到零。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
晶体管测试仪使用说明输入电压：直流6.8V-12V工作电流30mA左右，输入7.5V直流电压时实测●晶体管测试仪控制测试仪由一个旋转编码器开关控制，旋转编码器开关一共可以有4种操作，短按、长按、左旋、右旋。
在关机状态下短按一次，就能打开电源，开始测试。
在一次测试完成后，如果没有检测到器件。
长按开关或者左右旋转开关可以进入功能菜单，进入功能菜单后，左旋或者右旋开关可以在菜单项上下选择，要进入某一个功能项，则短按一次开关。
当需要从某个功能里退出时，则长按开关。
●测试器件测试仪一共有3个测试点，TP1、TP2、TP3。
这三个测试点在测试座里的分布如下：在测试座的右边是贴片元件的测试位置，上面分别有数字1,2,3,各代表TP1、TP2、TP3测试只有2个引脚的元件时，引脚不分测试顺序，2个引脚任意选择2个测试点，3个脚的器件引脚分别放到三个测试点中，不分顺序。
经过测试后，测试仪自动识别出元件的引脚名称、所在的测试点，并显示在屏幕上。
测试只有2个脚的元件时，如果使用的是TP1和TP3两个测试点，则测试完成后自动进入连续测试模式，这样可以连续的同步测量TP1和TP3上的元件，不用再按开关。
如果使用的是“TP1和TP2”或者“TP2和TP3”测试，则只测试一次。
要再一次测试则按一次开关。
测试电容器前，先给电容器放电，再插入测试座测量，否则有可能损坏测试仪的单片机。
●校准测试仪校准是用于消除自身元器件的误差，使得最后的测试结果更加精确。
校准分为快速校准和全功能校准。
快速校准的操作方法：用导线将三个测试点TP1、TP2、TP3短接，然后按下测试按钮，同时注意观察屏幕。
屏幕颜色会变成黑底白字，在出现提示信息”Selftest mode..? ”后，按一下测试按钮，就进入到快速校准过程；如果在出现提示信息“Selftest mode..?”后，2秒钟内没有按键，则进行一次正常的测试过程，最后显示出短接TP1、TP2、TP3三个测试点导线的电阻值。
进入快速校准过程后，屏幕上会出现一些数据，不用管他。
等待直到屏幕上出现闪烁的字符串“isolate Probes!”后，去掉短接TP1、TP2、TP3的导线。
直到屏幕出现字符串“Test End”后，快速校准完成。
首次校准时，使用全功能校准方式。
全功能校准需要从功能菜单里进入，还需要另外准备一个220nf的电容器。
全功能校准执行更加全面的校准过程，会花费更长的时间。
进入功能菜单后，旋转测试按钮来到菜单项“Selftest”,然后按下测试按钮就进入全功能校准过程，屏幕上首先冒出闪烁的字符串“short Probes!”, 这时和快速校准一样，用导线把三个测试点短接，等待校准过程进行，在屏幕冒出闪烁的字符串“isolate Probes!”时，去掉短接在三个测试点的导线，继续等待校准过程进行，在屏幕冒出字符串“1-||-3 > 100nf”时，把准备好的220nf电容器安装在测试点TP1和TP3上。
等待直到屏幕提示“Test End”,全功能校准过程完成。
●功能菜单Switch off关机。
Transistor晶体管测试，也即是开机后的默认功能。
Frequency测量频率。
长按测试按钮可以退出频率测量功能。
频率测量范围从1Hz到1MHz以上，当被测频率低于25KHz时，显示周期。
f-Generator方波发生器，有多档方波频率可选，左旋或右旋测试按钮切换不同的方波频率，长按测试按钮退出方波发生器。
10-bit PWM脉冲信号发生器，左旋或右旋测试按钮调节脉冲的占空比，从1% - 99%。
长按测试按钮退出脉冲信号发生器。
C+ESR@TP1:3电容在线测量功能，可以从TP1和TP3引出两根导线，对2uF-50mF 电容器在线测量其电容值和ESR，注意测试前被测电容需完全放电，如果是在线测量，电容所在的电路需完全断电后才能进行。
1- - 3电阻连续测量方式，不断测试安装在TP1和TP3上的电阻值，电感值。
被测电阻小于2100欧姆时才会测量其电感，电感测量范围从0.01mH-20H .长按测试按钮退出。
1-||-3电容连续测量方式，不断测试安装在TP1和TP3上的电容值，对小容量的电容器，只有用这种测试方式才能测得其电容值。
对大于90nF的电容器测量其等效串联电阻值(ESR),ESR的分辨率0.01Ω。
5000pF以上的电容器显示其充电后电压下降速率。
SelfTest全功能校准功能。
Voltage直流电压测量，最高可测50V。
被测电压要从“测电压”接口上输入(切勿将被测电压从其他接口如“频率输出”接口上输入,会损坏单片机)。
要退出该功能，则左右快速旋转编码器。
FrontColor设置前景色，即字符的颜色，左旋或右旋测试按钮可以改变对应的颜色分量值，短按测试按钮选择要改变的红、绿、蓝三基色，16位颜色编码使用的是RGB(565)格式，分别对应红色最高等于31，绿色最高等于63，蓝色最高等于31。
设置完成后长按测试按钮则保存并退出。
注意不要把前景色和背景色设置成同一个颜色，那样会什么都看不见，如果发生这种情况，则关机，然后执行一次快速校准，进入快速校准的方法见前面描述，屏幕颜色会变成黑底白字。
快速校准完成后马上修改屏幕颜色。
BackColor和设置前景色方法相同，只是这是修改的是背景色。
Show date显示测试仪内部数据，从中可以观察测试仪的测试功能。
IR_Decoder红外遥控器解码功能，该功能需要借助一个1838一体化红外接收头(脉冲型)，进入该功能后，观察显示屏上的提示第二行会显示字符串““1=DOUT 2=GND 3=VCC”,字符串的意思表示测试仪上的3个测试点和红外接收头的连接关系，必须严格按照指示进行连接。
测试座上只能空着或者正确装入一个红外接收头，不能放入其他元件，更不能用导线短接测试点。
以避免发生不可预知的故障。
下图为示例红外接收头的安装方向。
TP1连接红外接收头的DOUT脚，TP2接GND，TP3接VCC。
红外遥控器解码功能支持两种红外遥控编码格式。
格式一格式二以上两种格式大致相同，区别在于引导码的长度。
格式一为9MS，格式二为4.5MS。
红外遥控器解码功能分别使用uPD6121 表示格式一，TC9012表示格式二。
操作说明红外遥控器解码功能只能从功能菜单进入，进入红外遥控器解码功能前，测试座上和方波输出接线端上都不能有任何元件。
进入红外遥控器解码功能，待显示屏出现“standing by...”字符串后，把一体化红外接收头装入测试座并锁紧。
然后就可以把遥控器对准红外接收头发射。
如果能识别出该遥控器使用的编码。
第三行会显示一串”>>>>>>>>>>>”字符，表示一次解码成功，第四行显示该该遥控器使用的编码格式。
第五行显示的是用户码的第一个字节（user code1），第六行显示用户码的第二个字节（user code2）。
第七行显示数据码(data)和数据反码(~data)，最后一行是整合显示32bit。
红外解码功能所有数值都是以16进制格式表示。
红外解码功能只支持单键模式，不支持连续模式。
测试这个功能时，发现用来测试的几个电视机遥控器都是使用的TC9012,小型Mp3遥控器使用的是uPD6121,空调的遥控器则不能识别 :-()。
由于条件限制，无法做更多的测试。
要从该功能退出时，先去掉测试座上的接收头，然后长按旋转编码器开关就可以退出。
IR_Encoder红外遥控编码功能，该功能需要用到一个红外线发光二极管。
测试仪可以控制该红外线发光二极管，从而实现一个红外遥控器的功能。
由于测试仪最多只能提供6mA左右的驱动电流，控制距离不能和正常的红外线遥控器相比。
在对准红外接收头发射的情况下，大概在2米以内。
红外遥控编码支持两种格式，与前面介绍的红外遥控器解码格式相同。
也是用 uPD6121 表示格式一，TC9012表示格式二。
操作说明红外遥控编码功能只能从功能菜单进入，进入红外遥控编码功能前，测试座上和方波输出接线端上都不能有任何元件。
进入红外遥控编码功能后，将一个红外线发光二极管连接在方波输出接线端子上，红外线发光二极管的负极接接地，正极接输出。
可以使用导线延长红外线发光二极管的正负极，以方便操作。
红外线发光二极管的长脚为正，短脚为负。
显示屏最左边一列是一个”>”符号，指出当前正在设置的参数。
短按测试按钮可以使”>”在各个设置项之间切换。
其中第二行”protocol”设置要使用的编码格式。
左右旋转测试按钮可以在“uPD6121”和“TC9012”之间切换。
第三、四行“user code1”和“user code2”设置用户码的第1、2字节，左旋测试按钮可以1为单位减小，右旋测试按钮可以 1为单位增加。
第五行设置数据码(data)，左旋测试按钮可以1为单位减小，右旋测试按钮可以 1为单位增加。
数据反码通过数据码自动计算，不能进行手动设置。
在设置用户码和数据码的值时，除了可以左右旋转测试按钮以1为单位改变其数值外，还可以0x10为单位增大，操作方法是长按测试按钮，但长按的时间又不能过长，如果过长的话，就从这个功能退出了。
这个度刚开始不好把握。
第六行为发射控制”emit:”，把“>”符号位移动这一行时，左右旋转测试按钮就可以按上面设置的数据发射红外线了。
转动测试开关时，可以看见一个”->”符号快速的闪烁一下。
表示发射了一次数据。
操作举例：要用红外线编码功能控制某个电器，先要知道控制这个电器的遥控器编码格式。
所以第一步是要使用红外解码功能读取遥控器上某个按钮的编码值。
比如电视机是个三星的液晶电视，按一下遥控器的音量减按钮，解码得到的值为TC9012user code1=07user code2=07data=0B ~data=F4All 32bit=F40B0707记录上面的数据，然后在红外编码功能中，分别设置protocol：TC9012user code1=07user code2=07data=0B ~data=F4再把“>”符号移动到emit:>emit:连接在晶体管测试仪方波输出接线端上的红外线发光二极管对准电视机的红外线接收头所在的位置，转动测试按钮启动一次发射，就可以控制电视机减小音量了。
要从该功能退出时，先去掉连接在测试仪上的红外线发光二极管，然后长按测试按钮就可以退出注意：晶体管测试仪只支持TC9012和uPD6121两种编码格式。
数值都是用16进制表示DS18B20DS18B20是一个温度传感器，使用单总线通讯方式传递数据，具有和三极管相同的封装(TO-92),下图是DS18B20的引脚分布。
进入DS18B20测试功能后，显示屏第二行显示测试座和DS18B20的连接关系，“1=GND 2=DQ 3=VDD”，表示TP1接DS18B20的GND，TP2接DS18B20的DQ，TP3接DS18B20的VDD。