天津大学数字集成电路考点
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第一章 导线
1. 集成电路的导线已经形成复杂的几何形体,引起电容、电阻和电感等寄生参数
效应。
• 会使传播延时增加,性能下降
• 会影响功率和能耗的分布
• 会引起额外的噪声来源,影响电路的可靠性
2. 树结构的RC 网络
• 该电路只有一个输入点(s)
• 所有的电容都在某个节点与地之间
• 该电路不包括任何电阻回路(形成树结构)
路径电阻:从源节点s 到任何节点i 之间存在唯一的电阻路径,其总电阻称为路径电阻ii R 。
1([()])i
ii j j j R R R path s i ==⇒∈→∑
共享路径电阻表示从个节点到i 及k 两个节点的路径中共享部分的总电阻ik R 。
1([()()])i
ik j j j R R R path s i path s k ==⇒∈→⋂→∑
艾尔默(Elmore)延时:
1N
Di i ik k C R τ==∑
无分支RC 链,即梯形链的艾尔默延时:用路径电阻替换共享路径电阻 1N
DN i ii i C R τ==∑
3. 导线RC 延时模型
理想导线:没有任何附加参数或寄生元件的简单连线。导线一端的变化会立刻传递到另一端;导线是一个等势区。
集总式RC 模型:导线的电阻部分很小,并且开关频率在低至中间范围;把分布的电容集总为单个电容。RC τ=
分布式RC 模型:导线寄生参数沿导线长度分布;导线寄生参数沿导线长度分布。222
DN RC rcL τ== T 模型和π 模型的艾尔默延时计算。
T2,T3,Pi3模型的延时
第二章CMOS反相器1.CMOS静态特性
1)输出摆幅等于电源电压即高电平为VDD,低电平为GND,
噪声容限大;
2)逻辑电平与器件尺寸无关,所以晶体管可以采用最小尺寸,
属于无比例逻辑;
3)稳态时输出与VDD或者GND之间总存在一条有限的电阻通
路;
4)输入阻抗很高,理论上,单个反相器可以驱动无数个门;
5)稳态时候,电源和地之间没有直接的通路,没有电流存在
(忽略漏电流),即该门电路不消耗任何静态功耗。
2.VTC,参数
开关阈值
M
V : 定义为
in out
V V
=的点(PMOS和NMOS都处
于饱和区)。
1
DD
M
rV
V
r
=
+
,开关阈值取决于r,它是PMOS与NMOS
的相对驱动强度比。
M
V相对与器件尺寸比值不敏感。增大Wp和
Wn使
M
V分别移向VDD和GND。
噪声容限:已知
IH
V和
IL
V是1
out
in
dV
dV
=-时的点,噪声容限H
NM和
L
NM定义为
H DD IH
NM V V
=-,
L IL
NM V GND
=-。
器件参数对VTC的影响:
1)工艺的不确定引起开关阈值的平移,好PMOS差NMOS右移,
好NMOS差PMOS左移。
2)降低电源电压,工作在亚阈值。
3. CMOS 反相器动态特性
栅漏电容12gd C :引起瞬态响应的输出过冲。
负载电容L C :由内部扩散电容1db C 2db C 、互连线电容w C 和扇出电容3g C 4g C 三部分组成。
反相器的延时分析:如何减小传播延时
'30.690.594(/)(/2)
L DD L DD pHL DSTn n n DSATn DD Tn DSATn C V C V t I W L k V V V V ==-- 1) 减小L C :细致的版图设计
2) 增加晶体管宽长比/W L :容易引起扩散电容增加(自载效
应)
3) 提高VDD ,牺牲能量的损耗来换取性能的提高。
反相器尺寸选择:
0(1)ext p p iref
C t t SC =+ 0int 0.69p eq t R C =
反相器的本征延时与门的尺寸无关;无负载时,增加门的尺寸不能减少延时;有负载时,S 很大时反相器延时趋于本征延时时,增大尺寸便不会有什么改善。
第三章 静态CMOS 组合逻辑
1. 基本的电路结构
上拉网络PUN 和下拉网络PDN :PDN 由NMOS 构成;PUN 由
PMOS 构成。因为NMOS 产生“强0”而PMOS 器件产生“强1” NMOS 串联相当于“与”逻辑,PMOS 串联相当于“或”逻辑;NMOS 并联相当于“或”逻辑,PMOS 并联相当于“与”逻辑。
NAND :两个PMOS 并连,与两个NMOS 串连互补;
NOR :两个PMOS 串连,与两个NMOS 并连互补;
OR :NOR 后接INVERTER
2. 复合门设计
关于扇入:传播延时在最坏的情况下与扇入数的平方成正比
大扇入时的设计技巧:
1) 调整晶体管尺寸;只有当负载以扇出电容为主时,才有
效果。逐级加大晶体管尺寸:距输出越近,晶体管尺寸
越小。
2) 重新排晶体管的顺序,使关键路径靠近输出端。