晶体光学总结

晶体光学课程总结

说明：黑体加粗加下划线的重点掌握，

概念：

自然光、偏振光、可见光、折射率、均质体、非均质体、双折射率、常光、非常光、一轴晶、二轴晶、光率体、光学主轴、光轴、主轴面、光轴面、光性方位；颜色、多色性、吸收性、突起、闪突起、边缘、贝克线、糙面；消光位、消光类型、消光角、延性符号、补色法则、消色、干涉色、干涉色级序、干涉色色序、干涉图、闪图、光轴角、光性符号。

方法：

解理夹角的测定；多色性和吸收性公式的测定；突起等级的确定；光率体椭园半径方向和名称的测定；干涉色级序的测定；消光角（C∧Ng）的测定；延性符号的测定；光性符号的测定；目估光轴角。

内容:

第一章晶体光学基础

• 1 光——横波折射和反射

• 2 光在晶体中传播的特点

•均质体：各向同性

•非均质体：各向异性-双折射（率）-光轴（一，二）

• 3 光率体——一个假想的立体模型（N—光波振动方向）：均质体；一轴晶；二轴晶

•特点：形态；主轴（主折射率、最大双折射率）：主轴面；园切面；光轴面；Bxa；Bxo；

正光性（+）；负光性（-）；光轴角（2V）

切面类型：3种（一轴晶：垂直C、平行C、斜交C），

5种（二轴晶：垂直Bxa、垂直OA、平行Ap、斜交、垂直Bxo）

• 4 光性方位——（结晶轴—主轴）

•斜方晶系

•单斜晶系

•三斜晶系

第二章偏光显微镜

• 1 类型：

• 2 结构、功能及维护：

• 3 准焦、调节及校正：

•物镜中心校正：移动薄片、调半径距离

•偏光方向确定：

•PP//横丝（与黑云母解理缝平行）

•AA PP（视域黑暗）

第三章单偏光镜下晶体光学性质

1 形态、解理（缝）

•切面的组合；解理的等级、组数、夹角

• 2 颜色、多色性、吸收性

•选择吸收；方向性-色调、浓度

• 3 突起、闪突起

•突起等级（正极高、正高、正中、正低、负高、负低）；边缘、贝克线、糙面；•闪突起-方向性变化

•第四章正交偏光镜下晶体光学性质

•装置：PP+AA

• 1 消光

•现象：黑暗-消光位、永久（园切面）、四次（其余所有切面）

• 2 干涉

•现象：明亮

•干涉色：R=2N（λ/2）弱、R=（2N+1）（λ/2）强

•干涉色色谱表：级序特征、用途

• 3 补色器及补色法则

•补色器：云母：λ/4 一级白；高干涉色

•石膏：λ一级红；低于二级黄

•石英楔：一至三级；测干涉色级序

•补色法则：45º位、两片重叠

•R总-增：同名R=R1+R2

•减：异名R=|R1–R2|

•R < R1、R>R1或< R1 R=0

•< R2 < R2 >R2 R1=R2

•R比R1、R2都低高于其一消色

• 4 主要光学性质的测定与观察

•椭园半径名称（轴名）的测定

•要点：消光位—45º位—R（增、减）

•干涉色级序的测定要点：消色位

•最大双折射率值的测定要点：最高干涉色

•

•消光类型的确定要点：光性方位

•消光角及延性符号的测定

•要点：CΛNg；Np′Λ（010）

•双晶类型的观察

第五章锥光镜下晶体光学性质

•装置：PP+AA+聚光镜+高倍物镜+勃氏镜

• 1 一轴晶干涉图

•

•特征应用

•⊥C 黑十字+色环（不动）定切面（No），测光性

•

•//C 模糊黑十字；对称干涉色（Ne、No；测光性）

yC 不完整（黑十字+色环）定切面（No、Ne′），测光性

• 2 二轴晶干涉图

•特征应用

•⊥ Bxa 黑十字+∞形色环（动）定切面（），测光性，测2V

•⊥ OA 是⊥ Bxa图象的一半定切面（Nm ），测光性测2V

•y 是⊥ OA图象的一部分定切面（），测光性

•//Ap 粗大模糊黑十字；对称干涉色（定Bxa、Bxo；测光性）⊥ Bxo 模糊黑十字；对称干涉色少

第六章透明矿物系统鉴定程序

•区分：均质体、非均质体。

•观测：单、正、锥光镜下晶体光学性质

• 2 选择切面

•⊥C、//C

•⊥ OA、//AP

第七章主要造岩矿物鉴定一暗色矿物

•橄榄石类：贵橄榄石（1）

•辉石类：

•斜方：紫苏辉石（2）

•单斜：普通辉石（2）

•角闪石类：普通角闪石 3

•（透闪石）（5）

•云母类：黑云母（3）

•金云母（16）

•白云母（15）

•浅色矿物

•长石类：

•斜长石：（2）

•碱性长石：

•（透长石）（14）

•正长石（17）

•微斜长石（13）

•条纹长石（13）

•石英（3）（13）（15）

•方解石（6）（16）