最新实验五逻辑门电路测试

逻辑门电路实验报告

逻辑门电路实验报告一、实验目的二、实验器材三、实验原理1.逻辑门简介2.逻辑门的基本运算四、实验步骤1.电路搭建2.电路测试五、实验结果分析六、实验结论一、实验目的本次逻辑门电路实验的主要目的是让学生了解逻辑门的基本概念和运算规则，掌握逻辑门电路的搭建方法和测试技巧，提高学生对数字电路设计与分析的认识和能力。

二、实验器材1.数字万用表；2.集成电路板；3.集成电路芯片：74LS00、74LS02、74LS04；4.导线等。

三、实验原理1.逻辑门简介逻辑门是指具有特定功能的数字电子元件，根据输入信号的不同，输出相应的信号。

常见的逻辑门有与门（AND）、或门（OR）、非门（NOT）等。

在数字电路中，通过将多个逻辑门组合起来可以构成各种复杂功能的数字系统。

2.逻辑门的基本运算与门：当两个输入信号都为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。

或门：当两个输入信号都为低电平时，输出为低电平；否则输出为高电平。

非门：当输入信号为高电平时，输出为低电平；当输入信号为低电平时，输出为高电平。

四、实验步骤1.电路搭建首先，将74LS00芯片插入集成电路板中，并将芯片引脚与集成电路板上的相应接口连接。

然后，按照图示连接导线，搭建出与门和或门的电路。

最后，将74LS02和74LS04芯片分别插入集成电路板中，并连接相应的引脚和接口。

2.电路测试在搭建好的逻辑门电路中分别输入不同的高低信号，并通过数字万用表检测输出结果是否符合逻辑门运算规则。

同时，还可以通过观察LED灯的亮灭情况来判断逻辑门运算是否正确。

五、实验结果分析通过本次实验，我们成功地搭建出了与门、或门、非门等逻辑门电路，并对其进行了测试。

在测试过程中，我们发现只有当输入信号符合逻辑运算规则时，才能得到正确的输出结果。

此外，在搭建复杂数字系统时，我们还需要注意各个逻辑门之间的输入输出关系，以确保整个系统的正确性。

六、实验结论本次逻辑门电路实验让我们更深入地了解了逻辑门的基本概念和运算规则，掌握了逻辑门电路的搭建方法和测试技巧。

逻辑门测试实训报告

一、实验目的1. 熟悉并掌握逻辑门的基本原理和逻辑功能。

2. 学习逻辑门电路的测试方法和技巧。

3. 提高动手能力和问题解决能力。

二、实验原理逻辑门是数字电路的基本组成单元，主要有与门、或门、非门、异或门等。

逻辑门电路的输出信号与输入信号之间存在一定的逻辑关系，通过测试可以验证逻辑门的正确性。

三、实验仪器与设备1. 逻辑门实验板2. 电源3. 测试笔4. 电平指示灯5. 逻辑分析仪（可选）四、实验内容1. 与门测试（1）连接电路：将电源连接到与门实验板上，确保电源电压为5V。

（2）测试方法：将测试笔分别连接到与门的输入端，观察输出端电平变化。

（3）测试结果：当两个输入端同时为高电平时，输出端为高电平；否则，输出端为低电平。

2. 或门测试（1）连接电路：与与门测试相同。

（2）测试方法：将测试笔分别连接到或门的输入端，观察输出端电平变化。

（3）测试结果：当至少一个输入端为高电平时，输出端为高电平；否则，输出端为低电平。

3. 非门测试（1）连接电路：与与门测试相同。

（2）测试方法：将测试笔连接到非门的输入端，观察输出端电平变化。

（3）测试结果：当输入端为高电平时，输出端为低电平；当输入端为低电平时，输出端为高电平。

4. 异或门测试（1）连接电路：与与门测试相同。

（2）测试方法：将测试笔分别连接到异或门的输入端，观察输出端电平变化。

（3）测试结果：当两个输入端电平相同时，输出端为低电平；当两个输入端电平不同时，输出端为高电平。

5. 组合逻辑电路测试（1）连接电路：根据设计要求，将逻辑门电路连接到实验板上。

（2）测试方法：根据输入信号，观察输出端电平变化。

（3）测试结果：验证组合逻辑电路的正确性。

五、实验结果与分析1. 与门、或门、非门、异或门的测试结果与理论相符，说明实验电路连接正确，逻辑门功能正常。

2. 组合逻辑电路的测试结果与设计要求相符，说明组合逻辑电路正确。

六、实验心得与体会1. 通过本次实验，加深了对逻辑门原理和逻辑功能的理解。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告实验目的：1、理解门电路逻辑功能的基本知识和实现方法；2、掌握门电路逻辑功能测试实验的方法和步骤；3、培养实验操作能力和实验数据处理能力。

实验原理：门电路是逻辑电路的基础，其逻辑功能有常用的与门、或门、非门等。

门电路具有输入端和输出端，输入端接受信号，输出端输出运算结果。

门电路由电子器件组成，一般常用的是晶体管。

门电路的测试方法主要是通过检测输入和输出的电平状态，以及关键节点其它信号状态变化。

可以通过观察电压电流示波图、结合实测数据进行逻辑功能的验证。

实验器材和连接图：1、集成电路芯片：7400 门电路。

2、直流电源。

3、万用表。

4、示波器。

5、面包板、电缆、电阻等辅助器材。

实验步骤：1、按照连接图搭建门电路实验线路；2、开启直流电源，测试电路各个节点的电压、电流值，并记录数据；3、输入不同的高低电平信号，观察输出端的电平状态变化；4、观察电压电流示波图，验证门电路的逻辑功能；5、根据实测数据，分析电路中可能出现的故障原因和处理办法。

实验结果：在本次门电路测试实验中，我们按照实验步骤搭建好了门电路实验线路，开启直流电源，测试了电路各节点的电压、电流值，并记录了数据。

在输入不同的高低电平信号时，观察输出端的电平状态变化，发现门电路具有良好的逻辑功能。

通过观察电压电流示波图，验证了门电路的逻辑功能。

在实验中，我们还发现电路中可能存在的故障原因和处理办法。

实验结论：本次门电路测试实验，通过搭建门电路实验线路、开启直流电源、测试电路各节点的电压、电流值、记录数据，验证了门电路的逻辑功能。

本次实验对我们加深了对门电路逻辑功能和测试实验的认识和理解，提高了我们的实验操作能力和实验数据处理能力。

实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用

实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用1．实验目的(1)掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法；(2)掌握TTL器件的使用规则；(3)熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法；2．实验设备与器件1)5V直流电源，2)逻辑电平开关，3)0-1指示器，4)直流数字电压表，5)直流毫安表，6)直流微安表，7)74LS20×2，8)WS30—1k、10k电位器各一，9)200Ω电阻器(0.5 )一个。

3．实验原理门电路是组成数字电路的最基本的单元，包括与非门、与门、或门、或非门、与或非门、异或门、集成电极开路与非门和三态门等。

最常用的集成门电路有TTL和CMOS两大类。

TTL为晶体管—晶体管逻辑的简称，广泛的应用于中小规模电路，功耗较大。

本实验采用4输入双与非门74LS20，即在一块芯片内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑表达式为Y=ABCD，逻辑符号及引脚排列如图5-1(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压V CC只允许在+5V土10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a)逻辑符号(b)引脚排列图5-1 74LS20逻辑符号及引脚排列(1)与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

)(2)TTL与非门的主要参数描述与非门的输入电压Ui、输出电压Uo关系可以用电压传输特性Uo＝f(Ui)表示，如图5-2(a)。

从电压传输特性曲线上可以读出门电路的一些重要参数，如输出高电平U OH，输出低电平U OL，开门电平U ON，关门电平U OFF等参数。

实际的门电路U OH和U OL并不是恒定值，由于产品的分散性，每个门之间都有差异。

在TTL电路中，常常规定高电平的标准值为3V，低电平的标准值为0.2V。

实验5组合逻辑电路的设计

实验5 组合逻辑电路的设计学生使用指导书实验项目名称：组合逻辑电路的设计实验学时：2实验要求：必做实验类型：设计型大纲要求：通过实验，掌握使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路的一般方法；通过实验，验证设计正确性。

一、实验目的掌握组合逻辑电路的设计与测试方法二、实验原理1、组合逻辑电路设计流程使用中、小规模集成电路来设计组合电路是最常见的逻辑电路。

设计组合电路的一般步骤如图5.1所示。

根据设计任务的要求建立输入、输出变量，并列出真值表。

然后用逻辑代数或卡诺图化简法求出简化的逻辑表达式。

并按实际选用逻辑门的类型修改逻辑表达式。

根据简化后的逻辑表达式，画出逻辑图，用标准器件构成逻辑电路。

最后，用实验来验证设计的正确性。

2、组合逻辑电路设计举例要求：使用“与非”门设计一个表决电路。

当四个输入端中有三个或四个为“1”时，输出端才为“1”。

设计步骤：根据题意列出真值表，如表5.1所示，再填入表决器卡诺图中，如表5.2所示。

B 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1 0 0 1 1C 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1Z 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 1 1 1DA00 01 11 10BC0001 111 1 1 110 1由卡诺图化简，得出逻辑表达式，并演化成“与非”的形式如下：Z＝ABC＋BCD＋ACD＋ABD根据逻辑表达式画出用“与非门”构成的逻辑电路如图5.2所示。

图5.2 表决电路逻辑图线路连接如下：实验线路选择2片74ls10（U1使用了全部的三个门，也可以每片使用2个门，避免连线拥塞）；一片74LS20A、B、C、D四个输入引脚连接4个开关量输出开关（K3~K0）；输出接LED指示。

实验验证逻辑功能：按上图接线，输入端A、B、C、D接至逻辑开关输出插口，输出端Z接逻辑电平显示输入插口，按真值表（自拟）要求，逐次改变输入变量，测量相应的输出值，验证逻辑功能，与表5.2进行比较，验证所设计的逻辑电路是否符合要求。

门电路逻辑功能及测试实验报告

一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法，包括输入信号的选择、输出信号的观测等。

3. 通过实验加深对数字电路原理的理解，提高动手实践能力。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。

常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。

本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门（AND）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。

2. 或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平。

3. 非门（NOT）：将输入信号的逻辑值取反，即高电平变为低电平，低电平变为高电平。

4. 与非门（NAND）：与门输出信号取反，即当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。

5. 或非门（NOR）：或门输出信号取反，即当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。

6. 异或门（XOR）：当输入信号不同时，输出信号为高电平；当输入信号相同时，输出信号为低电平。

三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00（2输入端四与非门）4. 74LS32（2输入端四或门）5. 74LS20（4输入端双与非门）6. 74LS86（2输入端四异或门）7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试（1）将74LS00芯片插入实验箱，按照电路图连接好与门电路。

（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。

2. 或门测试（1）将74LS32芯片插入实验箱，按照电路图连接好或门电路。

（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。

（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。

3. 非门测试（1）将74LS04芯片插入实验箱，按照电路图连接好非门电路。

实验五集成逻辑电路的连接和驱动

实验五集成逻辑电路的连接和驱动在计算机科学中，逻辑电路是一种关键的组件，它们可以执行各种基本和复杂的运算。

在现代电子系统中，逻辑电路通常嵌入在单个芯片上，使用半导体面积的迅速增长提供了越来越大的集成电路能力。

集成逻辑电路是一种在单个电路中整合多个小电路的技术，因此可以节省宝贵的时间和空间，并提高系统的性能。

集成逻辑电路的连接和驱动是一个非常重要的话题。

它涉及到许多关键的技术和标准，需要设计师具有深厚的知识和技能。

下面将介绍一些基本的集成逻辑电路连接和驱动技术。

1.逻辑门电路连接在集成逻辑电路中，逻辑门电路是最常用的组件之一。

逻辑门可以执行诸如逻辑与（AND）、逻辑或（OR）、逻辑非（NOT）和逻辑异或（XOR）等基本运算。

当需要执行更复杂的运算时，可以将多个逻辑门电路连接在一起。

如图1所示，这是一个简单的AND逻辑门电路。

当输入A和B同时为高（1）时，输出C将会是高（1）。

图1：AND逻辑门电路在连接逻辑门电路时，需要注意以下几点：1.1 信号线宽度在连接逻辑门电路时，需要确保信号线的宽度足够大，以便传输电流的负载。

因此，必须仔细计算和选择信号线的宽度，以确保电流的正常流动。

1.2 电源电压在连接逻辑门电路时，需要确保每个逻辑门电路的电源电压都正确连接。

如果电源电压为高，那么逻辑门电路将会执行相应的逻辑运算。

如果电源电压为低，那么逻辑门电路将不执行任何操作。

1.3 信号延迟在连接逻辑门电路时，需要考虑信号延迟问题。

因为每个逻辑门电路都有一定的延迟时间，当信号传输到下一个电路时，可能会受到一定的延迟。

因此，在设计连接逻辑门电路时，必须考虑信号延迟问题，以确保系统的稳定性和准确性。

除了连接逻辑门电路之外，还需要考虑如何驱动逻辑门电路。

通常，将逻辑电路与微控制器或数字信号处理器连接以进行诱导。

在这种情况下，需要注意以下几点：逻辑门电路通常使用高电平表示逻辑状态1，低电平表示逻辑状态0。

因此，在连接逻辑门电路时，需要确保输入和输出信号的电平正确。

逻辑门电路实验报告

一、实验目的1. 理解和掌握基本逻辑门电路的工作原理；2. 学习使用逻辑门电路构建简单的数字电路；3. 熟悉TTL逻辑门电路的特点和参数；4. 培养动手能力和实验操作技能。

二、实验环境1. 实验器材：数字电路实验箱、万用表、74LS00四2输入与非门、74LS283四2输入或非门、74LS864四2输入异或门、74LS125三态输出的四总线缓冲器、TDS-4数字系统综合实验平台；2. 实验软件：Multisim8。

三、实验原理逻辑门电路是数字电路的基础，它具有两个或多个输入端和一个输出端，根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。

常见的逻辑门电路包括与门、或门、非门、异或门等。

TTL（Transistor-Transistor Logic）逻辑门电路采用双极型晶体管作为开关元件，具有工作速度快、输出幅度大、种类多、不易损坏等特点。

四、实验内容1. 与门电路实验（1）按图连接好电路，将开关分别掷向高低电平，组合出状态（0,0）、（1,0）、（0,1）、（1,1），通过电压表的示数，观察与门的输出状况，验证表中与门的功能。

（2）利用Multisim画出以74LS11为测试器件的与门逻辑功能仿真图，按表1-1要求用开关改变输入端A、B、C的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态。

2. 或门电路实验（1）按图连接好电路，将开关分别掷向高低电平，组合出状态（0,0）、（1,0）、（0,1）、（1,1），通过电压表的示数，观察或门的输出状况，验证表中或门的功能。

（2）利用Multisim画出以74LS32为测试器件的或门逻辑功能仿真图，按表1-2要求用开关改变输入端A、B的状态，借助指示灯观测各相应输出端F的状态。

3. 非门电路实验（1）按图连接好电路，将开关分别掷向高低电平，组合出状态（0）、（1），通过电压表的示数，观察非门的输出状况，验证表中非门的功能。

（2）利用Multisim画出以74LS04为测试器件的非门逻辑功能仿真图，按表1-3要求用开关改变输入端A的状态，借助指示灯观测相应输出端F的状态。

门电路测量实验报告

1. 熟悉门电路的基本原理和逻辑功能。

2. 掌握使用数字电路实验箱和示波器进行门电路测量实验的方法。

3. 通过实验验证门电路的逻辑功能，并分析实验数据。

二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，根据其逻辑功能的不同，可分为与门、或门、非门、异或门等。

本实验主要测量以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门：当两个输入信号同时为高电平时，输出信号才为高电平。

2. 或门：当至少一个输入信号为高电平时，输出信号才为高电平。

3. 非门：将输入信号取反，输出信号与输入信号相反。

4. 异或门：当两个输入信号不同时，输出信号为高电平。

三、实验仪器与器材1. 数字电路实验箱2. 示波器3. 逻辑电平开关4. 接线板5. 输入信号发生器6. 输出信号显示器四、实验步骤1. 将数字电路实验箱连接好，确保电源正常。

2. 根据实验要求，将逻辑电平开关设置为不同的状态。

3. 使用示波器观察输入信号和输出信号的波形。

4. 记录输入信号和输出信号的变化情况，分析门电路的逻辑功能。

五、实验内容（1）将输入信号A和B设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。

（2）将输入信号A和B设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。

2. 或门实验：（1）将输入信号A和B设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。

（2）将输入信号A和B设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。

3. 非门实验：（1）将输入信号A设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。

（2）将输入信号A设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。

4. 异或门实验：（1）将输入信号A和B设置为高电平，观察输出信号Y的波形，应为低电平。

（2）将输入信号A和B设置为低电平，观察输出信号Y的波形，应为高电平。

六、实验结果与分析1. 通过实验验证了与门、或门、非门和异或门的基本逻辑功能。

2. 实验结果表明，输入信号和输出信号的波形符合预期，说明实验箱和示波器工作正常。

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告实验名称：逻辑门电路功能测试实验目的：通过对基本逻辑门电路的功能测试，了解逻辑门的功能特点和使用方法。

实验器材：逻辑门 IC 芯片、电路板、电源、数字万用表。

实验原理：逻辑门电路是由数个基本逻辑门组合而成的，其功能由每个基本逻辑门的特性决定。

在实现不同功能时，需要使用不同类型的逻辑门，并通过不同的电路组合实现。

实验步骤：1. 将逻辑门 IC 芯片插入电路板中，并连接电源。

2. 针对不同的逻辑门，根据其真值表，按照连接方法将线路连接。

3. 利用数字万用表对逻辑门电路进行测试，检测其输出信号是否符合逻辑门的真值表。

4. 可通过改变输入信号的方式，观察逻辑门的输出信号变化。

实验结果：针对不同类型的逻辑门进行连接和测试，实验结果如下：1. 与门（AND）电路测试结果符合真值表，只有所有输入都为 1 时，输出信号才为 1。

2. 或门（OR）电路测试结果符合真值表，只要有一个输入信号为1，输出信号即为 1。

3. 非门（NOT）电路测试结果符合真值表，将输入信号取反输出。

4. 与非门（NAND）电路测试结果符合真值表，只要有一个输入信号为 0，输出信号即为 0。

5. 或非门（NOR）电路测试结果符合真值表，只有所有输入都为0 时，输出信号才为 1。

6. 异或门（XOR）电路测试结果符合真值表，只有输入信号不相同时，输出信号才为 1。

实验结论：通过逻辑门电路功能测试，可以了解不同类型的逻辑门的特点和功能，并根据需要进行组合，实现不同的功能。

逻辑门电路在计算机和电子设备中广泛应用，是数字电路设计的基础。

门电路逻辑功能及测试实验报告

门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的本次实验旨在深入理解门电路的逻辑功能，并通过实际测试掌握其工作特性和应用。

具体目标包括：1、熟悉与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本门电路的逻辑表达式和真值表。

2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。

3、培养实验操作能力、数据分析能力和逻辑思维能力。

二、实验原理1、门电路的基本概念门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与门、或门、非门等。

与门的逻辑功能是只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门则是输入与输出相反。

2、逻辑表达式和真值表与门：Y ＝ A·B或门：Y ＝ A ＋ B非门：Y ＝ A'与非门：Y ＝（A·B)＇或非门：Y ＝（A ＋ B)＇异或门：Y ＝ A ⊕ B通过真值表可以清晰地看到输入与输出之间的对应关系。

3、实验仪器数字电路实验箱、示波器、数字万用表、逻辑电平测试笔等。

三、实验内容与步骤1、与门逻辑功能测试（1）在实验箱上选取与门芯片（如 74LS08），按照芯片引脚图正确连接电路。

（2）将两个输入分别接逻辑电平开关，输出接逻辑电平指示灯。

（3）改变输入电平的组合（00、01、10、11），观察并记录输出电平的状态。

2、或门逻辑功能测试（1）选取或门芯片（如 74LS32），按照引脚图连接电路。

（2）同样将输入接逻辑电平开关，输出接指示灯，改变输入电平组合进行测试并记录。

3、非门逻辑功能测试（1）使用非门芯片（如 74LS04）进行连接。

（2）输入接电平开关，输出接指示灯，测试并记录。

4、与非门逻辑功能测试（1）选择与非门芯片（如 74LS00）进行电路连接。

（2）设置输入电平，观察并记录输出。

5、或非门逻辑功能测试（1）采用或非门芯片（如 74LS02）搭建电路。

（2）改变输入电平，记录输出结果。

6、异或门逻辑功能测试（1）找到异或门芯片（如 74LS86）并连接电路。

实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用

实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用1．实验目的(1)掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法；(2)掌握TTL器件的使用规则；(3)熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法；2．实验设备与器件1)5V直流电源，2)逻辑电平开关，3)0-1指示器，4)直流数字电压表，5)直流毫安表，6)直流微安表，7)74LS20×2，8)WS30—1k、10k电位器各一，9)200Ω电阻器(0.5 )一个。

3．实验原理门电路是组成数字电路的最基本的单元，包括与非门、与门、或门、或非门、与或非门、异或门、集成电极开路与非门和三态门等。

最常用的集成门电路有TTL和CMOS两大类。

TTL为晶体管—晶体管逻辑的简称，广泛的应用于中小规模电路，功耗较大。

本实验采用4输入双与非门74LS20，即在一块芯片内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。

其逻辑表达式为Y=ABCD，逻辑符号及引脚排列如图5-1(a)、(b)所示。

[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压V CC只允许在+5V土10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。

(a)逻辑符号(b)引脚排列图5-1 74LS20逻辑符号及引脚排列(1)与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“0”得“1”，全“1”得“0”。

)(2)TTL与非门的主要参数描述与非门的输入电压Ui、输出电压Uo关系可以用电压传输特性Uo＝f(Ui)表示，如图5-2(a)。

从电压传输特性曲线上可以读出门电路的一些重要参数，如输出高电平U OH，输出低电平U OL，开门电平U ON，关门电平U OFF等参数。

实际的门电路U OH和U OL并不是恒定值，由于产品的分散性，每个门之间都有差异。

在TTL电路中，常常规定高电平的标准值为3V，低电平的标准值为0.2V。

门电路逻辑功能测试实验报告

门电路逻辑功能测试实验报告
门电路是数字电路中的基本组成部分，用于控制信号的传输和处理。

门电路逻辑功能测试实验旨在验证门电路的逻辑功能是否符合设计要求，通过观察输入信号和输出信号的变化，确定门电路的工作状态。

在门电路逻辑功能测试实验中，我们通常会使用数字信号发生器作为输入信号的源，将不同的数字信号输入到门电路中，然后通过示波器或数字多用表来观察输出信号的变化。

通过对比输入信号和输出信号的逻辑关系，我们可以判断门电路的工作是否正常。

在进行门电路逻辑功能测试实验时，首先需要准备好实验所需的设备和元件，包括数字信号发生器、示波器、数字多用表等。

然后按照实验步骤逐步操作，将输入信号连接到门电路的输入端，观察输出信号的变化。

如果输出信号符合门电路的逻辑功能，则说明门电路正常工作；反之，则需要进一步检查和调试。

在实际的门电路逻辑功能测试实验中，我们可以选择不同类型的门电路进行测试，如与门、或门、非门等。

通过对不同类型门电路的测试，可以更好地理解门电路的逻辑功能和工作原理，为后续的数字电路设计和故障排除提供参考。

总的来说，门电路逻辑功能测试实验是数字电路实验中的重要环节，通过实际操作和观察，可以加深对门电路的理解，提高实验能力和
工程实践能力。

希望通过本次实验，同学们能够掌握门电路的逻辑功能测试方法，为今后的学习和研究打下坚实的基础。

门电路的测试实验报告

门电路的测试实验报告实验名称：门电路测试实验实验目的：通过测试门电路，掌握其实际使用情况；了解门电路在电子电路中的应用。

实验原理：门电路由门电路开关、输入端和输出端等组成。

门电路输入端具有输入信号，当输入信号符合门电路规定的逻辑条件时，门电路产生输出信号。

门电路将输入信号的多种逻辑关系作为输出信号进行逻辑判断，实现复杂的逻辑运算。

门电路广泛应用于数字电路系统中的控制、存储和处理等部分。

实验器材：数字逻辑实验箱（Logic Box）、双倍增益数字逻辑触发器74LS73、数码钳形测试仪。

实验步骤：1.将门电路开关接入数字逻辑实验箱。

2.将门电路输入端和输出端分别引出。

3.将数码钳形测试仪设为“门电路测试模式”。

4.将数码钳形测试仪依次接入门电路输入端，观察输出端的信号变化。

5.测试门电路的不同逻辑功能，如与门、或门等。

6.记录测试结果。

实验结果：在测试中发现，门电路能够根据输入输出不同的逻辑关系，输出相应的逻辑运算结果。

比如在与门测试中，当A和B两个输入信号都为1时，输出端才会输出1，否则输出0。

此外，在或门测试中，只需要输入的两个信号中有一个为1，输出端即输出1，否则输出0。

通过测试，我们了解到门电路的基本功能和逻辑运算，掌握了门电路在数字电路系统中的应用。

实验结论：门电路是数字电路系统中的重要组成部分，能够进行逻辑运算，实现多种不同逻辑功能。

在实际使用中，门电路的测试是非常必要的，只有对其实际使用情况进行了解和掌握，才能够更好地应用于数字电路系统中，为人们所用。

实验建议：门电路测试应在数字电路实验箱等专业设备上进行，以确保实验的准确性和安全性。

建议在实验前，对门电路的组成和逻辑功能进行充分了解。

实验过程中，需要记录实验数据，以便后续分析。

以上是本次门电路测试实验报告，望采纳。

实验五逻辑门电路测试

实验五逻辑门电路测试实验五逻辑门电路使用与组合电路功能测试一、实验目的1、了解电子实验箱的功能，熟悉实验箱的使用；2、了解集成电路的型号标识，熟悉引脚排列规则，掌握使用集成电路的注意事项；3、学习集成逻辑门电路的测试方法，测试组合逻辑电路的逻辑功能；二、实验所需元器件1、四2输入与非门74HC20 X 12、二4输入与非门74HC00 X 1三、实验内容与步骤1、与非门逻辑功能测试选用双4输入与非门74HC20集成块一块，按如下电路图和所标引脚接线测试。

按表1-1给出逻辑组合输入，写出各自对应的逻辑状态，并写出实验结论。

表1-1 74HC20 4输入与非门测试表输入端输出端输入端输出端A B C D Y(逻辑) A B C D Y(逻辑)0 0 0 0 0 1 0 10 0 1 0 1 0 0 10 0 1 1 1 1 1 00 1 0 0 1 1 1 12、组合逻辑电路的功能测试用74HC00和74HC20集成电路，按如下逻辑电路图在实验箱上接线，将输入、输出的逻辑关系填入表1-2中。

并写出A、B与Y、Z之间的逻辑关系表达式。

表1-2 逻辑真值表输入输出A B Y Z0 00 11 01 1四、实验报告内容1. 实验目的2. 实验用元器件3. 实验内容：每个实验的标题，内容简述，具体的实验步骤，包括逻辑电路图，在电路图上标明接线时的集成块和引脚号，作为实验接线图，如是设计性实验则写明设计过程，实验结果用真值表、状态图或文字叙述，对实验结果的正确性作出判断，必要时加以说明。

4．实验心得。

逻辑门电路实验报告

逻辑门电路实验报告逻辑门电路实验报告引言逻辑门电路是数字电路中的基础组成部分，它们通过接收输入信号并产生输出信号来实现逻辑运算。

在本次实验中，我们将探索不同类型的逻辑门电路，并通过实验验证其功能和性能。

实验一：与门电路与门电路是最简单的逻辑门之一，其输出信号仅在所有输入信号均为1时为1，否则为0。

我们首先搭建了一个与门电路，并通过给定的输入信号进行测试。

实验结果表明，当输入信号为1和1时，输出信号为1；而当输入信号为1和0、0和1、0和0时，输出信号均为0。

这验证了与门电路的逻辑运算规则。

实验二：或门电路或门电路是另一种常见的逻辑门，其输出信号仅在至少有一个输入信号为1时为1，否则为0。

我们接着搭建了一个或门电路，并进行了相应的测试。

实验结果表明，当输入信号为1和1时，输出信号为1；而当输入信号为1和0、0和1、0和0时，输出信号均为0。

这再次验证了或门电路的逻辑运算规则。

实验三：非门电路非门电路是最简单的逻辑门之一，其输出信号与输入信号相反。

我们接下来搭建了一个非门电路，并进行了测试。

实验结果表明，当输入信号为1时，输出信号为0；而当输入信号为0时，输出信号为1。

这进一步验证了非门电路的逻辑运算规则。

实验四：异或门电路异或门电路是一种特殊的逻辑门，其输出信号仅在输入信号不同时为1，否则为0。

我们继续搭建了一个异或门电路，并进行了测试。

实验结果表明，当输入信号为1和0、0和1时，输出信号为1；而当输入信号为1和1、0和0时，输出信号均为0。

这验证了异或门电路的逻辑运算规则。

实验五：与非门电路与非门电路是结合了与门和非门的功能的电路，其输出信号与与门电路的输出信号相反。

我们最后搭建了一个与非门电路，并进行了测试。

实验结果表明，当输入信号为1和1时，输出信号为0；而当输入信号为1和0、0和1、0和0时，输出信号均为1。

这验证了与非门电路的逻辑运算规则。

结论通过本次实验，我们成功搭建并测试了不同类型的逻辑门电路，包括与门、或门、非门、异或门和与非门。

门电路测试实验报告

一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能。

2. 掌握门电路的测试方法及步骤。

3. 培养实际操作能力和严谨的实验态度。

二、实验原理门电路是数字电路的基本组成单元，根据逻辑功能的不同，可以分为与门、或门、非门、异或门等。

本实验主要测试常用逻辑门电路的功能，通过观察输入和输出之间的关系，验证门电路的逻辑功能。

三、实验仪器与器材1. 数字电子技术实验箱2. 示波器3. 逻辑笔4. 电源5. 逻辑门电路芯片（如74LS00、74LS02、74LS04等）6. 逻辑门电路测试电路板四、实验内容及步骤1. 与门测试（1）将实验箱上的电源打开，将74LS00芯片插入实验箱的IC空插座中。

（2）按照测试电路板上的连接图，连接与门电路的输入端和输出端。

（3）使用逻辑笔测量输入端A和B的电平，记录输入和输出之间的关系。

（4）根据输入和输出之间的关系，验证与门电路的逻辑功能。

2. 或门测试（1）按照与门测试步骤，将74LS02芯片插入实验箱的IC空插座中。

（2）按照测试电路板上的连接图，连接或门电路的输入端和输出端。

（3）使用逻辑笔测量输入端A和B的电平，记录输入和输出之间的关系。

（4）根据输入和输出之间的关系，验证或门电路的逻辑功能。

3. 非门测试（1）按照与门测试步骤，将74LS04芯片插入实验箱的IC空插座中。

（2）按照测试电路板上的连接图，连接非门电路的输入端和输出端。

（3）使用逻辑笔测量输入端A的电平，记录输入和输出之间的关系。

（4）根据输入和输出之间的关系，验证非门电路的逻辑功能。

4. 异或门测试（1）按照与门测试步骤，将74LS86芯片插入实验箱的IC空插座中。

（2）按照测试电路板上的连接图，连接异或门电路的输入端和输出端。

（3）使用逻辑笔测量输入端A和B的电平，记录输入和输出之间的关系。

（4）根据输入和输出之间的关系，验证异或门电路的逻辑功能。

五、实验结果与分析1. 与门测试结果：当A和B都为高电平时，输出为高电平；否则，输出为低电平。

逻辑门电路功能测试实验报告

逻辑门电路功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解和掌握常见逻辑门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门和同或门）的逻辑功能，并通过实际测试和验证，提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。

二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与、或、非、与非、或非、异或和同或等。

每种逻辑门都有其特定的逻辑表达式和真值表。

2、逻辑门的符号和表达式与门：符号为“＆”，表达式为 Y ＝ A·B （A 和 B 均为输入，Y 为输出），只有当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 才为 1。

或门：符号为“｜”，表达式为 Y ＝ A ＋ B ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 1。

非门：符号为“～”，表达式为 Y ＝～A ，输入为 1 时输出为 0，输入为 0 时输出为 1。

与非门：符号为“NAND”，表达式为 Y ＝～（A·B) ，当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。

或非门：符号为“NOR”，表达式为 Y ＝～（A ＋ B) ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。

异或门：符号为“⊕”，表达式为 Y ＝ A ⊕ B ，当 A 和 B 不同时，输出 Y 为 1，否则为 0。

同或门：符号为“⊙”，表达式为 Y ＝ A ⊙ B ，当 A 和 B 相同时，输出 Y 为 1，否则为 0。

3、真值表真值表是列出逻辑门电路所有可能输入组合及其对应的输出值的表格，是分析和理解逻辑门电路功能的重要工具。

三、实验设备与器材1、数字逻辑实验箱2、集成电路芯片：74LS08（与门）、74LS32（或门）、74LS04（非门）、74LS00（与非门）、74LS02（或非门）、74LS86（异或门）、74LS266（同或门）3、导线若干4、直流电源四、实验步骤1、熟悉实验箱和芯片引脚功能首先，仔细观察数字逻辑实验箱的布局和各插孔的功能，了解如何连接电路。

逻辑门电路功能测试

实验二集成逻辑门电路功能测试及其连接和驱动[实验目的]1、熟悉数字电路实验箱中各种装置，如逻辑开关、发光二极管信号灯、集成电路插座、专用迭插导线。

2、测试与非门、或非门、非门、与或非门电路的逻辑功能。

3、掌握集成逻辑门电路相互连接时应遵守的规则和实际连接方法。

[实验原理]1、集成逻辑门电路本实验中所用集成门电路有与非门(集成块型号为74LS00，内含4个二输入端与非门)、或非门(集成块型号为74LS02，内含4个二输入端或非门)、非门(集成块型号为74LS04，内含6个非门)、与或非门(集成块型号为74LS54，内含1个十输入端的与或非门)。

(a)与非门 (b)或非门 (c)非门 (d)与或非门图4-2-1 逻辑功能符号图2、门电路的逻辑函数式：与非门：Y=AB ———(二输入端) 或非门：Y=A+B ————(二输入端) 非门：Y=A ——与或非门：Y=AB+CD ———————(四输入端) 3、TTL 门电路输入输出电路性质当输入端为高电平时，输入电流是反向二极管的漏电流，电流极小。

其方向是从外部流入输入端。

当输入端处于低电平时，电流由电源V CC 经内部电路流出输入端，电流较大，当与上一级电路衔接时，将决定上级电路应具的负载能力。

高电平输出电压在负载不大时为3.5V 左右。

低电平输出时，允许后级电路灌入电流，随着灌入电流的增加，输出低电平将升高，一般LS 系列TTL 电路允许灌入8mA 电流，即可吸收后级20个LS 系列标准门的灌入电流。

最大允许低电平输出电压为0.4V 。

4、CMOS 电路输入输出电路性质一般CC 系列的输入阻抗可高达1010Ω，输入电容在5pF 以下，输入高电平通常要求在3.5V 以上，输入低电平通常为1.5V 以下。

因CMOS 电路的输出结构具有对称性，故对高低电平具有相同的输出能力，负载能力较小，仅可驱动少量的CMOS 电路。

当输出端负载很轻时，输出高电平将十分接近电源电压；输出低电平时将十分接近地电位。

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