实验五逻辑门电路测试
集成逻辑门电路逻辑功能的测试实验报告
集成逻辑门电路逻辑功能的测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入了解和测试常见集成逻辑门电路的逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等。
通过实际操作和测量，掌握逻辑门电路的工作原理和特性，提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。
二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门是实现基本逻辑运算的电子电路，常见的基本逻辑运算有与、或、非等。
与门的逻辑功能是当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门的逻辑功能是只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门的逻辑功能是输出与输入相反。
2、集成逻辑门电路的特点集成逻辑门电路是将多个逻辑门集成在一个芯片上，具有体积小、可靠性高、性能稳定等优点。
常见的集成逻辑门电路有 TTL 系列（如74LS00、74LS08 等）和 CMOS 系列（如 CD4011、CD4071 等）。
3、逻辑门电路的逻辑表达式和真值表逻辑表达式是用逻辑运算符表示逻辑门输入与输出之间关系的数学表达式，真值表则是列出所有可能的输入组合及其对应的输出值。
通过分析逻辑表达式和真值表，可以清晰地了解逻辑门电路的逻辑功能。
三、实验设备和器材1、数字电路实验箱2、集成逻辑门芯片（74LS00、74LS08、74LS04、74LS10、74LS20、74LS86 等）3、示波器4、直流电源5、导线若干四、实验步骤1、熟悉实验设备和芯片引脚功能首先，仔细观察数字电路实验箱的布局和功能，了解电源开关、插孔、指示灯等的位置和作用。
然后，查看集成逻辑门芯片的引脚图，确定输入引脚、输出引脚和电源引脚。
2、搭建测试电路根据不同逻辑门电路的逻辑功能，在实验箱上使用导线连接芯片引脚和电源、地，构建相应的测试电路。
例如，测试与门 74LS08 时，将两个输入引脚分别连接到两个开关，输出引脚连接到一个指示灯。
3、输入信号并观察输出通过操作开关改变输入信号的电平（高电平或低电平），观察指示灯的亮灭情况，记录输入和输出的逻辑状态。
逻辑门电路实训报告
一、实验目的1. 理解并掌握逻辑门电路的基本原理和功能；2. 熟悉TTL集成逻辑门电路的使用方法和特点；3. 学会使用逻辑门电路构建简单的组合逻辑电路；4. 提高动手能力和分析问题、解决问题的能力。
二、实验环境1. 实验设备：数字电路实验箱、万用表、74LS00四2输入与非门、74LS283四2输入或非门、74LS864四2输入异或门、74LS125三态输出的四总线缓冲器、TDS-4数字系统综合实验平台；2. 实验软件：Multisim8。
三、实验内容1. 逻辑门电路功能测试（1）测试与非门、或非门和异或门的输入与输出之间的逻辑关系；（2）测试与门、或门、非门、或非门、异或门、同或门等基本逻辑门电路的逻辑功能；（3）测试三态输出的四总线缓冲器。
2. 组合逻辑电路设计（1）设计一个简单的组合逻辑电路，实现以下功能：A'B' + AB；（2）设计一个简单的组合逻辑电路，实现以下功能：A+B；（3）设计一个简单的组合逻辑电路，实现以下功能：A'B' + A'B + AB。
3. 仿真验证（1）使用Multisim8软件对设计的组合逻辑电路进行仿真，验证其功能是否正确；（2）对实验过程中出现的错误进行分析和修改，确保电路功能正确。
四、实验步骤1. 连接实验箱，检查电路连接是否正确；2. 使用万用表测试电路的输入、输出电压，验证电路是否正常工作；3. 使用TDS-4数字系统综合实验平台进行逻辑门电路功能测试；4. 设计组合逻辑电路，并在实验箱上搭建电路；5. 使用Multisim8软件对设计的组合逻辑电路进行仿真，验证其功能是否正确；6. 分析实验过程中出现的问题，并进行修改；7. 完成实验报告。
五、实验结果与分析1. 逻辑门电路功能测试（1）与非门、或非门和异或门的输入与输出之间的逻辑关系符合逻辑门电路的基本原理；（2）基本逻辑门电路的逻辑功能测试结果与理论分析一致；（3）三态输出的四总线缓冲器功能正常。
逻辑门测试实训报告
一、实验目的1. 熟悉并掌握逻辑门的基本原理和逻辑功能。
2. 学习逻辑门电路的测试方法和技巧。
3. 提高动手能力和问题解决能力。
二、实验原理逻辑门是数字电路的基本组成单元，主要有与门、或门、非门、异或门等。
逻辑门电路的输出信号与输入信号之间存在一定的逻辑关系，通过测试可以验证逻辑门的正确性。
三、实验仪器与设备1. 逻辑门实验板2. 电源3. 测试笔4. 电平指示灯5. 逻辑分析仪（可选）四、实验内容1. 与门测试（1）连接电路：将电源连接到与门实验板上，确保电源电压为5V。
（2）测试方法：将测试笔分别连接到与门的输入端，观察输出端电平变化。
（3）测试结果：当两个输入端同时为高电平时，输出端为高电平；否则，输出端为低电平。
2. 或门测试（1）连接电路：与与门测试相同。
（2）测试方法：将测试笔分别连接到或门的输入端，观察输出端电平变化。
（3）测试结果：当至少一个输入端为高电平时，输出端为高电平；否则，输出端为低电平。
3. 非门测试（1）连接电路：与与门测试相同。
（2）测试方法：将测试笔连接到非门的输入端，观察输出端电平变化。
（3）测试结果：当输入端为高电平时，输出端为低电平；当输入端为低电平时，输出端为高电平。
4. 异或门测试（1）连接电路：与与门测试相同。
（2）测试方法：将测试笔分别连接到异或门的输入端，观察输出端电平变化。
（3）测试结果：当两个输入端电平相同时，输出端为低电平；当两个输入端电平不同时，输出端为高电平。
5. 组合逻辑电路测试（1）连接电路：根据设计要求，将逻辑门电路连接到实验板上。
（2）测试方法：根据输入信号，观察输出端电平变化。
（3）测试结果：验证组合逻辑电路的正确性。
五、实验结果与分析1. 与门、或门、非门、异或门的测试结果与理论相符，说明实验电路连接正确，逻辑门功能正常。
2. 组合逻辑电路的测试结果与设计要求相符，说明组合逻辑电路正确。
六、实验心得与体会1. 通过本次实验，加深了对逻辑门原理和逻辑功能的理解。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的与要求熟悉门电路逻辑功能，并掌握常用的逻辑电路功能测试方法。
熟悉RXS-1B数字电路实验箱。
二、方法、步骤1. 实验仪器及材料1) RXS-1B数字电路实验箱 2) 万用表 3) 器件74LS00 四2输入与非门1片 74LS86 四2输入异或门1片2. 预习要求1) 阅读数字电子技术实验指南，懂得数字电子技术实验要求和实验方法。
2) 复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
3) 熟悉所用集成电路的外引线排列图，了解各引出脚的功能。
4) 学习RXB-1B数字电路实验箱使用方法。
3. 说明用以实现基本逻辑关系的电子电路通称为门电路。
常用的门电路在逻辑功能上有非门、与门、或门、与非门、或非门、与或非门、异或门等几种。
非逻辑关系：Y=A 与逻辑关系：Y=AB 或逻辑关系：Y=AB 与非逻辑关系：Y=AB 或非逻辑关系：Y=AB 与或非逻辑关系：Y=ABCD 异或逻辑关系：Y=AB三、实验过程及内容任务一：异或门逻辑功能测试集成电路74LS86是一片四2输入异或门电路，逻辑关系式为1Y=1A⊕1B，2Y=2A⊕2B，3Y=3A⊕3B，4Y=4A⊕4B，其外引线排列图如图1.3.1所示。
它的1、2、4、5、9、10、12、13号引脚为输入端1A、1B、2A、2B、3A、3B、4A、4B，3、6、8、11号引脚为输出端1Y、2Y、3Y、4Y，7号引脚为地，14号引脚为电源+5V。
（1）将一片四2输入异或门芯片74LS86插入RXB-1B数字电路实验箱的任意14引脚的IC空插座中。
（2）按图1.3.2接线测试其逻辑功能。
芯片74LS86的输入端1、2、4、5号引脚分别接至数字电路实验箱的任意4个电平开关的插孔，输出端3、6、8分别接至数字电路实验箱的电平显示器的任意3个发光二极管的插孔。
14号引脚+5V接至数字电路实验箱的+5V电源的'“+5V”插孔，7号引脚接至数字电路实验箱的+5V电源的“⊥”插孔。
TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试
实验五TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试一、实验目的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法2、掌握TTL器件的使用规则3、进一步熟悉数字电路实验装置的结构，基本功能和使用方法二、实验原理本实验采用四输入双与非门74LS20，即在一块集成块内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑框图、符号及引脚排列如图2－1(a)、(b)、(c)所示。
(b)（a） (c)图2－1 74LS20逻辑框图、逻辑符号及引脚排列1、与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平（即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
）其逻辑表达式为 Y＝2、TTL与非门的主要参数(1)低电平输出电源电流ICCL 和高电平输出电源电流ICCH与非门处于不同的工作状态，电源提供的电流是不同的。
ICCL是指所有输入端悬空，输出端空载时，电源提供器件的电流。
ICCH是指输出端空截，每个门各有一个以上的输入端接地，其余输入端悬空，电源提供给器件的电流。
通常ICCL＞I CCH ，它们的大小标志着器件静态功耗的大小。
器件的最大功耗为P CCL ＝V CC I CCL 。
手册中提供的电源电流和功耗值是指整个器件总的电源电流和总的功耗。
I CCL 和I CCH 测试电路如图2－2(a)、(b)所示。
[注意]：TTL 电路对电源电压要求较严，电源电压V CC 只允许在＋5V ±10％的范围内工作，超过5.5V 将损坏器件；低于4.5V 器件的逻辑功能将不正常。
(a) (b) (c) (d)图2－2 TTL 与非门静态参数测试电路图(2)低电平输入电流I iL 和高电平输入电流I iH 。
I iL 是指被测输入端接地，其余输入端悬空，输出端空载时，由被测输入端流出的电流值。
在多级门电路中，I iL 相当于前级门输出低电平时，后级向前级门灌入的电流，因此它关系到前级门的灌电流负载能力，即直接影响前级门电路带负载的个数，因此希望I iL 小些。
门电路逻辑功能及测试实验报告总结
门电路逻辑功能及测试实验报告总结
门电路是数字电路中最基本的逻辑电路之一，其主要功能是实现逻辑运算。
本次实验旨在探究门电路的逻辑功能及测试方法。
实验一：与门电路
与门电路是一种逻辑电路，其输出信号仅在所有输入信号均为高电平时才为高电平。
实验中，我们使用了CD4081芯片，通过连接输入端和输出端，观察输出信号的变化，验证了与门电路的逻辑功能。
实验二：或门电路
或门电路是一种逻辑电路，其输出信号在任意一个输入信号为高电平时即为高电平。
实验中，我们使用了CD4071芯片，通过连接输入端和输出端，观察输出信号的变化，验证了或门电路的逻辑功能。
实验三：非门电路
非门电路是一种逻辑电路，其输出信号与输入信号相反。
实验中，我们使用了CD4069芯片，通过连接输入端和输出端，观察输出信号的变化，验证了非门电路的逻辑功能。
实验四：与非门电路
与非门电路是一种逻辑电路，其输出信号仅在所有输入信号均为高电平时才为低电平。
实验中，我们使用了CD4081芯片，通过连接输入端和输出端，观察输出信号的变化，验证了与非门电路的逻辑功能。
实验五：或非门电路
或非门电路是一种逻辑电路，其输出信号在任意一个输入信号为高电平时即为低电平。
实验中，我们使用了CD4071芯片，通过连接输入端和输出端，观察输出信号的变化，验证了或非门电路的逻辑功能。
通过以上实验，我们深入了解了门电路的逻辑功能及测试方法。
在实验中，我们使用了数字电路实验箱和相应的芯片，通过连接输入端和输出端，观察输出信号的变化，验证了门电路的逻辑功能。
这些实验不仅加深了我们对门电路的理解，也提高了我们的实验技能。
基本门电路的逻辑功能测试实验报告
基本门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过对基本门电路进行逻辑功能测试，掌握基本门电路的逻辑功能及其工作原理。
二、实验器材1.数字电路实验箱2.直流稳压电源3.数字万用表三、实验原理基本门电路是数字电路中最基本的逻辑元件，包括与门、或门、非门等。
它们分别对应着布尔代数中的“与”、“或”、“非”运算。
在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。
四、实验步骤1.连接与门电路：将两个输入端分别连接到数字电路实验箱上的两个开关上，将输出端连接到数字万用表上。
2.打开第一个开关，记录输出结果。
3.关闭第一个开关，打开第二个开关，记录输出结果。
4.打开两个开关，记录输出结果。
5.重复以上步骤，连接或门和非门电路进行测试。
五、实验结果及分析1.与门电路测试：当两个输入都为高电平时（即两个开关都打开），输出为高电平；当有一个或两个输入为低电平时（即有一个或两个开关关闭），输出为低电平。
这符合与运算的规律。
2.或门电路测试：当两个输入都为低电平时（即两个开关都关闭），输出为低电平；当有一个或两个输入为高电平时（即有一个或两个开关打开），输出为高电平。
这符合或运算的规律。
3.非门电路测试：当输入为高电平时（即开关打开），输出为低电平；当输入为低电平时（即开关关闭），输出为高电平。
这符合非运算的规律。
六、实验结论通过对基本门电路进行逻辑功能测试，我们掌握了与门、或门、非门的逻辑功能及其工作原理。
在数字电路中，这些基本门可以组合成更复杂的逻辑运算，如异或、同或等。
掌握了基本门的工作原理之后，我们可以更好地理解和设计数字电路。
七、实验注意事项1.在连接实验箱之前，确认所有器材已经通电并处于正常工作状态。
2.在进行实验前，检查所有连接是否正确，并确保没有短路情况发生。
3.在进行实验过程中，注意安全操作，避免触碰到带电部分。
实验五 集成逻辑门电路的功能测试与应用
实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用1．实验目的(1)掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法；(2)掌握TTL器件的使用规则；(3)熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法；2．实验设备与器件1)5V直流电源，2)逻辑电平开关，3)0-1指示器，4)直流数字电压表，5)直流毫安表，6)直流微安表，7)74LS20×2，8)WS30—1k、10k电位器各一，9)200Ω电阻器(0.5 )一个。
3．实验原理门电路是组成数字电路的最基本的单元，包括与非门、与门、或门、或非门、与或非门、异或门、集成电极开路与非门和三态门等。
最常用的集成门电路有TTL和CMOS两大类。
TTL为晶体管—晶体管逻辑的简称，广泛的应用于中小规模电路，功耗较大。
本实验采用4输入双与非门74LS20，即在一块芯片内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑表达式为Y=ABCD，逻辑符号及引脚排列如图5-1(a)、(b)所示。
[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压V CC只允许在+5V土10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a)逻辑符号(b)引脚排列图5-1 74LS20逻辑符号及引脚排列(1)与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
)(2)TTL与非门的主要参数描述与非门的输入电压Ui、输出电压Uo关系可以用电压传输特性Uo＝f(Ui)表示，如图5-2(a)。
从电压传输特性曲线上可以读出门电路的一些重要参数，如输出高电平U OH，输出低电平U OL，开门电平U ON，关门电平U OFF等参数。
实际的门电路U OH和U OL并不是恒定值，由于产品的分散性，每个门之间都有差异。
在TTL电路中，常常规定高电平的标准值为3V，低电平的标准值为0.2V。
集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告
集成逻辑门电路的逻辑功能测试实验报告一、实验目的1、熟悉集成逻辑门电路的逻辑功能和特点。
2、掌握集成逻辑门电路逻辑功能的测试方法。
3、学会使用数字电路实验箱和逻辑测试仪器。
二、实验原理1、逻辑门电路逻辑门电路是数字电路中最基本的单元，它实现了基本的逻辑运算，如与、或、非、与非、或非、异或等。
常见的集成逻辑门电路有74LS00（四 2 输入与非门）、74LS04（六反相器）、74LS08（四 2 输入与门）、74LS32（四 2 输入或门）等。
2、逻辑功能测试方法通过给逻辑门电路的输入端施加不同的逻辑电平（高电平“1”或低电平“0”），然后使用逻辑测试仪器（如逻辑笔、逻辑分析仪等）测量输出端的逻辑电平，从而确定逻辑门电路的逻辑功能。
三、实验设备1、数字电路实验箱2、集成电路芯片：74LS00、74LS04、74LS08、74LS32 等3、逻辑测试仪器：逻辑笔、示波器4、直流电源5、连接导线若干四、实验内容及步骤（一）测试 74LS00 四 2 输入与非门的逻辑功能1、将 74LS00 芯片插入实验箱的集成电路插座中。
2、按照芯片引脚图，使用连接导线将芯片的电源引脚（Vcc 和GND）分别连接到实验箱的＋5V 电源和地。
3、选择其中一个与非门，将两个输入端分别连接到实验箱的逻辑电平输出端，通过调节逻辑电平输出端的开关，分别设置输入端为“00”、“01”、“10”、“11”四种组合。
4、使用逻辑笔测量输出端的逻辑电平，并将结果记录在表 1 中。
｜输入 A ｜输入 B ｜输出 Y ｜｜｜｜｜｜ 0 ｜ 0 ｜ 1 ｜｜ 0 ｜ 1 ｜ 1 ｜｜ 1 ｜ 0 ｜ 1 ｜｜ 1 ｜ 1 ｜ 0 ｜（二）测试 74LS04 六反相器的逻辑功能1、插入 74LS04 芯片，连接电源。
2、选择其中一个反相器，将输入端连接到逻辑电平输出端，设置输入为“0”和“1”，使用逻辑笔测量输出端的逻辑电平，记录在表 2 中。
验证逻辑门电路的逻辑功能实验报告
验证逻辑门电路的逻辑功能实验报告一、引言逻辑门电路是数字电路中的基本组成部分，它们能够对输入信号进行逻辑运算，并输出相应的逻辑结果。
为了验证逻辑门电路的逻辑功能是否正确，我们进行了一系列的实验。
本实验报告将详细介绍实验的目的、原理、实验步骤、实验结果及分析，并对实验进行总结与展望。
二、实验目的本实验的主要目的是验证逻辑门电路的逻辑功能是否符合设计要求。
具体而言，我们将通过实验验证以下几种逻辑门电路的逻辑功能：与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门、与或非门。
通过实验，我们可以进一步了解逻辑门电路的工作原理，并验证其逻辑功能是否正确。
三、实验原理逻辑门电路是由晶体管或其他逻辑元件组成的电路，它能够对输入信号进行逻辑运算，并输出相应的逻辑结果。
不同类型的逻辑门电路具有不同的逻辑功能，下面简要介绍各种逻辑门电路的原理：1. 与门（AND Gate）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号为高电平；否则输出信号为低电平。
2. 或门（OR Gate）：当任一输入信号为高电平时，输出信号为高电平；只有当所有输入信号都为低电平时，输出信号才为低电平。
3. 非门（NOT Gate）：输出信号与输入信号相反。
4. 与非门（NAND Gate）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平；否则输出信号为高电平。
5. 或非门（NOR Gate）：当任一输入信号为高电平时，输出信号为低电平；只有当所有输入信号都为低电平时，输出信号才为高电平。
6. 异或门（XOR Gate）：当输入信号中的奇数个为高电平时，输出信号为高电平；当输入信号中的偶数个为高电平时，输出信号为低电平。
7. 与或非门（XNOR Gate）：当输入信号中的奇数个为高电平时，输出信号为低电平；当输入信号中的偶数个为高电平时，输出信号为高电平。
根据以上原理，我们可以通过实验来验证逻辑门电路的逻辑功能是否正确。
四、实验步骤1. 准备实验所需的逻辑门电路芯片、电源、示波器等实验设备。
门电路逻辑功能及测试实验报告
一、实验目的1. 熟悉门电路的基本逻辑功能，包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
2. 掌握门电路逻辑功能的测试方法，包括输入信号的选择、输出信号的观测等。
3. 通过实验加深对数字电路原理的理解，提高动手实践能力。
二、实验原理门电路是数字电路的基本单元，它根据输入信号的逻辑关系产生相应的输出信号。
常见的门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等。
本实验主要测试以下几种门电路的逻辑功能：1. 与门（AND）：当所有输入信号都为高电平时，输出信号才为高电平。
2. 或门（OR）：当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号就为高电平。
3. 非门（NOT）：将输入信号的逻辑值取反，即高电平变为低电平，低电平变为高电平。
4. 与非门（NAND）：与门输出信号取反，即当所有输入信号都为高电平时，输出信号为低电平。
5. 或非门（NOR）：或门输出信号取反，即当至少有一个输入信号为高电平时，输出信号为低电平。
6. 异或门（XOR）：当输入信号不同时，输出信号为高电平；当输入信号相同时，输出信号为低电平。
三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. 万用表3. 74LS00（2输入端四与非门）4. 74LS32（2输入端四或门）5. 74LS20（4输入端双与非门）6. 74LS86（2输入端四异或门）7. 示波器四、实验内容与步骤1. 与门测试（1）将74LS00芯片插入实验箱，按照电路图连接好与门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合与门逻辑功能。
2. 或门测试（1）将74LS32芯片插入实验箱，按照电路图连接好或门电路。
（2）使用万用表测量输入端A和B以及输出端F的电压。
（3）分别将A和B端设置为高电平和低电平，观察F端的输出电压是否符合或门逻辑功能。
3. 非门测试（1）将74LS04芯片插入实验箱，按照电路图连接好非门电路。
逻辑门参数测试实验报告
一、实验目的1. 掌握TTL和CMOS逻辑门的基本参数测试方法。
2. 理解并验证逻辑门的关键参数，如输入高电平电压（VIL）、输入低电平电压（VIH）、输出高电平电压（VOH）、输出低电平电压（VOL）等。
3. 通过实验，加深对数字电路中逻辑门工作原理的理解。
二、实验原理逻辑门是数字电路的基本组件，其参数直接影响电路的性能。
本实验主要测试TTL 和CMOS逻辑门的静态参数，包括输入电压、输出电压、电流等。
通过这些参数，可以评估逻辑门的逻辑功能、驱动能力和电源消耗。
三、实验器材1. TTL逻辑门芯片（如74LS00、74LS04）2. CMOS逻辑门芯片（如CD4011、CD4081）3. 万用表4. 电阻5. 导线6. 逻辑门测试电路板四、实验步骤1. TTL逻辑门参数测试- 将TTL逻辑门芯片插入测试电路板，连接好电源和地线。
- 使用万用表测量输入电压和输出电压，记录数据。
- 通过改变输入电压，观察输出电压的变化，绘制电压传输特性曲线。
- 测量输出电流，验证逻辑门的驱动能力。
2. CMOS逻辑门参数测试- 将CMOS逻辑门芯片插入测试电路板，连接好电源和地线。
- 使用万用表测量输入电压和输出电压，记录数据。
- 通过改变输入电压，观察输出电压的变化，绘制电压传输特性曲线。
- 测量输出电流，验证逻辑门的驱动能力。
五、实验结果与分析1. TTL逻辑门参数测试结果| 参数 | 测量值（V） || ---- | ---------- || VIL | 0.8 || VIH | 2.0 || VOL | 0.4 || VOH | 4.8 |通过实验，验证了TTL逻辑门的输入高电平电压为2.0V，输入低电平电压为0.8V，输出高电平电压为4.8V，输出低电平电压为0.4V。
2. CMOS逻辑门参数测试结果| 参数 | 测量值（V） || ---- | ---------- || VIL | 1.5 || VIH | 3.5 || VOL | 0.1 || VOH | 5.0 |通过实验，验证了CMOS逻辑门的输入高电平电压为3.5V，输入低电平电压为1.5V，输出高电平电压为5.0V，输出低电平电压为0.1V。
门电路逻辑功能及测试实验
门电路逻辑功能及测试实验一、实验目的1、熟悉门电路逻辑功能。
2、熟悉数字电路箱及示波器使用方法。
二、实验原理门电路是开关电路的一种，它具有一个或多个输入端，只有一个输出端，当一个或多个输入端有信号时其输出才有信号。
门电路在满足一定条件时，按一定规律输出信号，起着开关作用。
基本门电路采用与门、或门、非门三种，也可将其组合而构成其它门，如与非门、或非门等。
图4-1为与非门电路原理图，其基本功能是：在输入信号全为高电平时输出才为低电平。
输出与输入的逻辑关系为：Y=ABCD平均传输延迟时间tpd是衡量门电路开关速度的参数。
它是指输出波形边沿的0.5Vm点相对于输入波形对应边沿的0.5Vm点的时间延迟。
如图4-2所示，门电路的导通延迟时间为tpdL，截止延迟时间为tpdH，则平均传输延迟时间为：1。
tpd=(tpdL+tpdH)2图4-3为异或门电路原理图，其基本功能是:当两个输入端相异(即一个为‘0’，另一个为‘1’)时，输出为‘1’；当两个输入端相同时，输出为‘0’。
即: 。
Y=A B=AB+AB图4-1与非门电路原理图 4-2门电路导通延迟时间与截止延迟时间图4-3异或门电路原理图三、实验仪器及材料1、双踪示波器2、器件74LS00 二输入端四与非门 2片74LS20 四输入端双与非门 1片74LS86 二输入端四异或门 1片74LS04 六反相器 1片四、预习要求1、复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。
2、熟悉所用集成电路的引脚位置及各引脚用途。
3、了解双踪示波器使用方法。
五、实验内容及步骤实验前按实验箱的使用说明先检查实验箱电源是否正常。
然后选择实验用的集成电路。
按自已设计的实验接线图连线，特别注意Vcc及地线不能接错。
线接好后经实验指导教师检查无误后方可通电实验。
实验中改动接线须先断开电源，接好线后再通电实验。
1、测试门电路逻辑功能（1）选用双四输入与非门74LS20一只，插入实验板上的IC插座，按图4-1接线，输入端A、B、C、D分别接K1～K4（电平开关输出插口），输出端接电平显示发光二极管（L1～L16任意一个）。
门电路逻辑功能与测试实验报告
门电路逻辑功能与测试实验报告门电路逻辑功能与测试实验报告一、实验目的本实验旨在通过学习和实践，掌握基本门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等）的逻辑功能及实际应用，并通过对门电路的测试，加深对数字逻辑电路的理解。
二、实验器材1.实验箱或面包板2.电源适配器3.逻辑门电路芯片（如74LS83A）4.连接线若干5.万用表6.实验程序（可选）三、实验原理门电路是数字逻辑电路的基本组成部分，可分为基本门电路和复合门电路。
基本门电路包括与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门等，它们分别具有相应的逻辑功能。
例如，与门只会在所有输入均为高电平时输出高电平，否则输出低电平；或门则只需一个输入为高电平就会输出高电平，等等。
通过这些基本门电路的不同组合，可以实现复杂的逻辑功能。
本次实验将以74LS83A四路与非门电路为例，进行门电路的逻辑功能与测试。
74LS83A是一种TTL（Transistor-Transistor Logic）型四路与非门电路，其特点为功耗低、速度快、体积小等。
四个独立的与非门具有相同的输入和输出端，可单独控制。
当A、B、C和D任一输入端为0时，输出Y为1；只有当所有输入端都为1时，输出Y才为0。
四、实验步骤1.准备器材并检查完好。
2.根据实验原理，连接电源、输入和输出端口，保证电源极性正确。
3.使用万用表检查各输入端口电平状态，并记录。
4.逐个改变输入端口的状态，观察输出端口的电平变化，并记录。
5.分析实验数据，了解74LS83A四路与非门电路的逻辑功能。
6.断电，结束实验。
五、实验数据分析与结论通过对74LS83A四路与非门电路的测试，我们验证了其逻辑功能。
在输入端口状态改变时，输出端口电平变化符合与非门的逻辑功能。
当任一输入端口为0时，输出端口为1；只有当所有输入端口都为1时，输出端口才为0。
这表明该门电路功能正常，可以用于实际应用中。
通过本次实验，我们深入了解了基本门电路的逻辑功能和实际应用，并学会了如何使用万用表进行电路测试。
门电路逻辑功能及测试实验报告
门电路逻辑功能及测试实验报告一、实验目的本次实验旨在深入理解门电路的逻辑功能，并通过实际测试掌握其工作特性和应用。
具体目标包括：1、熟悉与门、或门、非门、与非门、或非门和异或门等基本门电路的逻辑表达式和真值表。
2、学会使用实验仪器对门电路进行逻辑功能测试。
3、培养实验操作能力、数据分析能力和逻辑思维能力。
二、实验原理1、门电路的基本概念门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与门、或门、非门等。
与门的逻辑功能是只有当所有输入都为高电平时，输出才为高电平；或门只要有一个输入为高电平，输出就为高电平；非门则是输入与输出相反。
2、逻辑表达式和真值表与门：Y ＝ A·B或门：Y ＝ A ＋ B非门：Y ＝ A'与非门：Y ＝（A·B)＇或非门：Y ＝（A ＋ B)＇异或门：Y ＝ A ⊕ B通过真值表可以清晰地看到输入与输出之间的对应关系。
3、实验仪器数字电路实验箱、示波器、数字万用表、逻辑电平测试笔等。
三、实验内容与步骤1、与门逻辑功能测试（1）在实验箱上选取与门芯片（如 74LS08），按照芯片引脚图正确连接电路。
（2）将两个输入分别接逻辑电平开关，输出接逻辑电平指示灯。
（3）改变输入电平的组合（00、01、10、11），观察并记录输出电平的状态。
2、或门逻辑功能测试（1）选取或门芯片（如 74LS32），按照引脚图连接电路。
（2）同样将输入接逻辑电平开关，输出接指示灯，改变输入电平组合进行测试并记录。
3、非门逻辑功能测试（1）使用非门芯片（如 74LS04）进行连接。
（2）输入接电平开关，输出接指示灯，测试并记录。
4、与非门逻辑功能测试（1）选择与非门芯片（如 74LS00）进行电路连接。
（2）设置输入电平，观察并记录输出。
5、或非门逻辑功能测试（1）采用或非门芯片（如 74LS02）搭建电路。
（2）改变输入电平，记录输出结果。
6、异或门逻辑功能测试（1）找到异或门芯片（如 74LS86）并连接电路。
门电路逻辑功能及测试实验原理
门电路逻辑功能及测试实验原理门电路是电子数字电路的基本组成单元，用于实现逻辑功能的运算。
常见的门电路包括与门、或门、非门、异或门等。
每种门电路都有其特定的逻辑功能和运算规则。
1. 与门（AND Gate）：具有两个输入端和一个输出端，当且仅当两个输入信号同时为高电平时，输出才为高电平；否则输出为低电平。
2. 或门（OR Gate）：具有两个输入端和一个输出端，当且仅当两个输入信号中至少一个为高电平时，输出才为高电平；否则输出为低电平。
3. 非门（NOT Gate）：具有一个输入端和一个输出端，当输入信号为高电平时，输出为低电平；当输入信号为低电平时，输出为高电平。
4. 异或门（XOR Gate）：具有两个输入端和一个输出端，当两个输入信号中只有一个为高电平时，输出为高电平；否则输出为低电平。
测试实验原理：测试门电路的逻辑功能通常采用真值表或实验仪器进行验证。
真值表是列出输入和输出的所有可能组合，并对照门电路的逻辑规则得到输出结果。
实验仪器例如示波器、信号源等，用于输入不同的信号给门电路，并观察输出信号的变化。
以与门为例，测试实验可以按照以下步骤进行：1. 设置输入信号：将输入信号线连接到适当的电压源，可以选择高电平和低电平来模拟逻辑运算。
2. 观察输出信号：将输出信号线连接到示波器或其他观测设备，观察输出信号的变化。
根据与门的逻辑规则，当且仅当输入信号同时为高电平时，输出信号才应为高电平。
3. 验证真值表：将输入信号按照真值表中的组合依次设置，观察输出信号是否与真值表中的结果一致。
如果一致，说明门电路的逻辑功能正常。
通过以上步骤，可以验证门电路的逻辑功能是否正确，并对其进行测试实验。
同样的原理和步骤也适用于其他类型的门电路。
实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用
实验五集成逻辑门电路的功能测试与应用1．实验目的(1)掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法；(2)掌握TTL器件的使用规则；(3)熟悉数字电路实验箱的结构，基本功能和使用方法；2．实验设备与器件1)5V直流电源，2)逻辑电平开关，3)0-1指示器，4)直流数字电压表，5)直流毫安表，6)直流微安表，7)74LS20×2，8)WS30—1k、10k电位器各一，9)200Ω电阻器(0.5 )一个。
3．实验原理门电路是组成数字电路的最基本的单元，包括与非门、与门、或门、或非门、与或非门、异或门、集成电极开路与非门和三态门等。
最常用的集成门电路有TTL和CMOS两大类。
TTL为晶体管—晶体管逻辑的简称，广泛的应用于中小规模电路，功耗较大。
本实验采用4输入双与非门74LS20，即在一块芯片内含有两个互相独立的与非门，每个与非门有四个输入端。
其逻辑表达式为Y=ABCD，逻辑符号及引脚排列如图5-1(a)、(b)所示。
[注意]：TTL电路对电源电压要求较严，电源电压V CC只允许在+5V土10％的范围内工作，超过5.5V将损坏器件；低于4.5V器件的逻辑功能将不正常。
(a)逻辑符号(b)引脚排列图5-1 74LS20逻辑符号及引脚排列(1)与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能是：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平(即有“0”得“1”，全“1”得“0”。
)(2)TTL与非门的主要参数描述与非门的输入电压Ui、输出电压Uo关系可以用电压传输特性Uo＝f(Ui)表示，如图5-2(a)。
从电压传输特性曲线上可以读出门电路的一些重要参数，如输出高电平U OH，输出低电平U OL，开门电平U ON，关门电平U OFF等参数。
实际的门电路U OH和U OL并不是恒定值，由于产品的分散性，每个门之间都有差异。
在TTL电路中，常常规定高电平的标准值为3V，低电平的标准值为0.2V。
逻辑门电路功能测试实验报告
逻辑门电路功能测试实验报告一、实验目的本次实验的主要目的是深入理解和掌握常见逻辑门电路（与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门和同或门）的逻辑功能，并通过实际测试和验证，提高对数字逻辑电路的分析和设计能力。
二、实验原理1、逻辑门电路的基本概念逻辑门电路是实现基本逻辑运算的电子电路，包括与、或、非、与非、或非、异或和同或等。
每种逻辑门都有其特定的逻辑表达式和真值表。
2、逻辑门的符号和表达式与门：符号为“＆”，表达式为 Y ＝ A·B （A 和 B 均为输入，Y 为输出），只有当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 才为 1。
或门：符号为“｜”，表达式为 Y ＝ A ＋ B ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 1。
非门：符号为“～”，表达式为 Y ＝～A ，输入为 1 时输出为 0，输入为 0 时输出为 1。
与非门：符号为“NAND”，表达式为 Y ＝～（A·B) ，当 A 和 B 都为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。
或非门：符号为“NOR”，表达式为 Y ＝～（A ＋ B) ，当 A 或 B 至少有一个为 1 时，输出 Y 为 0，否则为 1。
异或门：符号为“⊕”，表达式为 Y ＝ A ⊕ B ，当 A 和 B 不同时，输出 Y 为 1，否则为 0。
同或门：符号为“⊙”，表达式为 Y ＝ A ⊙ B ，当 A 和 B 相同时，输出 Y 为 1，否则为 0。
3、真值表真值表是列出逻辑门电路所有可能输入组合及其对应的输出值的表格，是分析和理解逻辑门电路功能的重要工具。
三、实验设备与器材1、数字逻辑实验箱2、集成电路芯片：74LS08（与门）、74LS32（或门）、74LS04（非门）、74LS00（与非门）、74LS02（或非门）、74LS86（异或门）、74LS266（同或门）3、导线若干4、直流电源四、实验步骤1、熟悉实验箱和芯片引脚功能首先，仔细观察数字逻辑实验箱的布局和各插孔的功能，了解如何连接电路。
门电路的测试实习报告
一、实习目的本次门电路测试实习旨在通过实际操作，加深对数字电路中基本逻辑门电路（如与非门、异或门等）逻辑功能及工作原理的理解。
通过搭建实验电路，测试不同输入组合下的输出结果，验证门电路的逻辑功能，并学会使用测试仪器，提高动手能力和分析问题解决问题的能力。
二、实习器材1. 双四输入与非门芯片 74LS20 一块2. 二输入四异或门芯片 74LS86 三块3. 信号发生器4. 示波器5. 逻辑分析仪6. 万用表7. 焊接工具8. 电路板9. 电线三、实验内容1. 非门电路测试（1）搭建非门电路：使用74LS20芯片，将输入端A和B连接到信号发生器，输出端连接到示波器。
（2）测试逻辑功能：改变信号发生器的输出，观察示波器上的波形，记录不同输入组合下的输出结果。
（3）分析结果：根据非门的逻辑功能，分析实验结果，验证非门的逻辑功能。
2. 与非门电路测试（1）搭建与非门电路：使用74LS20芯片，将输入端A和B连接到信号发生器，输出端连接到示波器。
（2）测试逻辑功能：改变信号发生器的输出，观察示波器上的波形，记录不同输入组合下的输出结果。
（3）分析结果：根据与非门的逻辑功能，分析实验结果，验证与非门的逻辑功能。
3. 异或门电路测试（1）搭建异或门电路：使用74LS86芯片，将输入端A和B连接到信号发生器，输出端连接到示波器。
（2）测试逻辑功能：改变信号发生器的输出，观察示波器上的波形，记录不同输入组合下的输出结果。
（3）分析结果：根据异或门的逻辑功能，分析实验结果，验证异或门的逻辑功能。
4. 组合逻辑电路测试（1）搭建组合逻辑电路：根据题目要求，使用与非门、异或门等基本逻辑门搭建组合逻辑电路。
（2）测试逻辑功能：使用信号发生器输入不同的信号，观察示波器上的波形，记录不同输入组合下的输出结果。
（3）分析结果：根据组合逻辑电路的设计要求，分析实验结果，验证电路的逻辑功能。
四、实习总结1. 通过本次实习，我对数字电路中基本逻辑门电路的逻辑功能及工作原理有了更深入的理解。
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实验五逻辑门电路使用与组合电路功能测试
一、实验目的
1、了解电子实验箱的功能，熟悉实验箱的使用；
2、了解集成电路的型号标识，熟悉引脚排列规则，掌握使用集成电路的注意事项；
3、学习集成逻辑门电路的测试方法，测试组合逻辑电路的逻辑功能；
二、实验所需元器件
1、四2输入与非门74HC20 X 1
2、二4输入与非门74HC00 X 1
三、实验内容与步骤
1、与非门逻辑功能测试
选用双4输入与非门74HC20集成块一块，按如下电路图和所标引脚接线测试。
按表1-1给出逻辑组合输入，写出各自对应的逻辑状态，并写出实验结论。
表1-1 74HC20 4输入与非门测试表
输入端输出端输入端输出端
A B C D Y(逻辑) A B C D Y(逻辑)
0 0 0 0 0 1 0 1
0 0 1 0 1 0 0 1
0 0 1 1 1 1 1 0
0 1 0 0 1 1 1 1
2、组合逻辑电路的功能测试
用74HC00和74HC20集成电路，按如下逻辑电路图在实验箱上接线，将输入、输出的逻辑关系填入表1-2中。
并写出A、B与Y、Z之间的逻辑关系表达式。
表1-2 逻辑真值表
输入输出
A B Y Z
0 0
0 1
1 0
1 1
四、实验报告内容
1. 实验目的
2. 实验用元器件
3. 实验内容：
每个实验的标题，内容简述，具体的实验步骤，包括逻辑电路图，在电路图上标明接线时的集成块和引脚号，作为实验接线图，如是设计性实验则写明设计过程，实验结果用真值表、状态图或文字叙述，对实验结果的正确性作出判断，必要时加以说明。
4．实验心得。