第二章 光学曝光技术课件(2)分析

东南大学 · 南京 MEMS 教育部重点实验室
厚胶曝光技术
超大规模集成电路加工追求的是光学曝光的极限分辨率，而微 系统或微机电系统追求的是光学曝光的另一个极端——超厚胶 曝光。
干涉光学曝光技术原理示意图
(3) 灰度曝光技术
灰度曝光技术——制造准三维浮雕结构的光学曝光技术，可以产生曲面的光刻胶剖 面。传统掩膜板只有透光区和不透光区，而灰度掩膜板的透光率则是以灰度等级来 表示的。一般实现灰度掩膜板有下列几种方法：改变透光点的大小；改变透光点的 数目；将灰度区划分为许多单元。 注意： （1）单纯按剖面高度分布函数来确定灰度掩模并不能得到预想的光刻胶剖面，还 必须考虑各种成像的非线性因素，对掩模的灰度加以校正。 （2）并非所有的光刻胶都可以用于灰度曝光。光刻胶要具有较大的黏度；光刻胶 要具有比较低的对比度；光刻胶的抗蚀比尽量与衬底材料接近。
定性的评价。
Ⅱ:比较显影后的光刻胶图形—对某一种光刻胶比较曝光剂量和散焦对图形关键尺寸 CD的影响。
（1） 驻波效应；
（2） CD随散焦量和曝光剂量的变化。
第二章 光学曝光技术
光学曝光的工艺过程 光学曝光的方式和原理 光刻胶的特性 光学掩膜的设计与制造 短波长曝光技术 大数值孔径与浸没式曝光技术 光学曝光分辨率增强技术 光学曝光的计算机模拟技术 其它光学曝光技术 厚胶曝光技术 LIGA技术
PROLITH（ KLA-Tencor）
SIGMA-C （ SOLID-C ）
SAMPLE（Berkeley）
曝光质量比较
① 模拟的目的是找出最佳的工艺条件和曝光条件，找出最佳的掩模设计方案。 光学曝光质量的比较的标准—Ⅰ：比较光学像;Ⅱ:比较显影后的光刻胶图形。 Ⅰ：比较光学像—光学像的比较主要是比较像分布的对比度和焦深。比较光学像可 排除光刻胶及具体工艺条件的影响，直接对光学系统和掩模系统进行评价。是一种
第二章 光学曝光技术
光学曝光的工艺过程 光学曝光的方式和原理 光刻胶的特性 光学掩膜的设计与制造 短波长曝光技术 大数值孔径与浸没式曝光技术 光学曝ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ分辨率增强技术 光学曝光的计算机模拟技术 其它光学曝光技术 厚胶曝光技术 LIGA技术
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最大的优点就是降低了掩模的成本。由 于采用了无掩模光刻工具，可以根据所 需制造芯片结构的变化而做出相应的改 变，不需针对每一种芯片专门制造一套 掩模。 总体生产率仍较低，光束校正确认、套 准误差控制、光束的选择、分辨力的延 展性以及光束调节器等
(2)干涉曝光技术
投影式曝光适用于大规模生产，但由于其设备过于昂贵，并不 适用于科学研究，故开发了一系列的低成本曝光技术，同样可 以获得100nm以下的曝光能力。
干涉光学曝光技术——又叫作“全 息曝光”。 实现干涉光学曝光技术的关键是要 获得具有较好的空间和时间相干性 的相干光，为了实现这一目的，通 常需要特制的相位光栅调制来获得 干涉光分布。 干涉光学曝光技术的优点：设备简 单；不需要光学掩模。 缺点：只能形成二维平面周期分布 的线条图形。 提高曝光分辨率的方法：调整曝光 光刻胶的曝光阈值；采用浸没式曝 光。
① 部分相干光成像理论——对于大数值孔径的光学曝光系统，需考 虑光波的矢量 效应，通过求解三维完全电磁方程的方法来计算曝。有些软件以标量衍射理论 计算投影式曝光的光强分布。 ② 以Dill方程计算光刻胶的曝光过程，以Dill模型或Mack模型来计算光刻胶的显影 过程。 光 刻 过 程 及 其 模 拟 模 型
(4) EUV（极端远紫外光）光刻技术
EUV是目前距实用话最近的一种深亚微米的光刻技术。 他仍然采用前面提到的分步投影光刻系统，只是改变光源的 波长，即采用波长更短的远紫外线。采用的EUV进行光刻的 主要难点是很难找到合适的制作掩膜版的材料和光学系统。
EUV光刻技术
EUV极端远紫外光所处的位置 上图中，我们可以明确看到EUV极端远紫外光在光谱中的位置， 这是一种波长极短的光刻技术，其曝光波长大约为13.5nm。按 照目前理论上认为的波长与蚀刻精度关系，EUV技术能够蚀刻 出5nm以下工艺的晶体管。
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(1) 光学无掩模光刻
无掩膜光刻技术的两大研究方向为光学无掩模光刻（Optical Maskless Lithography）和带电粒子无掩膜光刻（Charged Particle Maskless Lithography）。
光学无掩膜技术是从传统的光学光刻机 构造发展而来的，最大的不同是掩膜版 被一排光调制器（DMD，Digital Micromirror Device，数字微镜阵列）取代， 通过实时控制制作出需要的图形。
虽然业界一再强调EUV的技术,我们有理由相信，EUV （极端远紫外光刻）将是未来纳米级光刻技术的主流工艺， 而一直沉默不语的Intel是否已经使用了这种技术呢？
Intel巨资开发的Intel’s Micro Exposure Tool（MET）
IMEC开发的EUV alpha demonstration tool
台积电公司订购ASML公司极紫外光 刻系统Twinscan NXE3100
Intel应用EUV技术获得的一些实验结果
第二章 光学曝光技术
光学曝光的工艺过程 光学曝光的方式和原理 光刻胶的特性 光学掩膜的设计与制造 短波长曝光技术 大数值孔径与浸没式曝光技术 光学曝光分辨率增强技术 光学曝光的计算机模拟技术 其它光学曝光技术 厚胶曝光技术 LIGA技术
光刻工艺模拟的作用
最大限度提高半导体制造商 对现有曝光机的利用率，实 现对光刻工艺战略的快速定 义并认证，从而缩短进入市 场的时间； 缩短量产化进程 ，对光刻结 果提供可靠的预测能够对光 刻过程，结构设计及掩模进 行校正； 提高生产率和增加收益 ，减 少暇疵提高，缩小IC设计与
成品之间的差距。
光刻工艺模拟技术简介