JMP-培训与主要应用

85
80
Avg=80.67
75 3 6 9 12 15 18 21 24 27 30
LCL=75.09
Sample Note: Sigma used for limits based o n range.
R o f D1
25 20 UCL=20.46
Range of D1
15 10 5 0 -5 3 6 9 12 15 18 21 24 27 30 Sample LCL=0.00 Avg=9.67
Quantiles
100.0% 99.5% 97.5% 90.0% 75.0% 50.0% 25.0% 10.0% 2.5% 0.5% 0.0% maximum 57.900 57.900 57.900 51.100 quartile 47.400 median 42.600 quartile 37.700 32.980 29.200 29.200 minimum 29.200
One way ANOVA
数据STACK
方差分析：
One way ANOVA
数据STACK
方差分析：
One way ANOVA
O ne wa y An a ly si s o f St ac k B y ID
14 13 12 11 10 9 8 7 6 5 4 3 30g/l ID new make up
M ea ns f or
Level 30g/l new make up
On ew ay
Number 30 30
An ov a
Mean 6.6445 10.5549 Std Error 0.25900 0.25900 Lower 95% 6.126 10.036 Upper 95% 7.163 11.073
X Ba r of D1
90 UCL=86.26
Mean of D1
85
A B C
80
C B A
Avg=80.67
75
3
6
9
12
15 Sample
18
Note: Sigm a used for limits b ased on range.
根据SPC规定 21 24 27 判定过程是否 受控。
LCL=75.09 30
Specificat ion Lower Spec Limit Upper Spec Limit Spec Targe t Value 30 50 40 Portion Below LSL Above USL Total Outs ide % Actual 2.7027 18.9189 21.6216
Percent
柏拉图：
P ar et o P lo t
Weight: qu antiry(p) 100 99.60 99.69 99.77 99.86 99.93 98.99 99.34 98.65 98.25 97.41 96.54 95.07 93.39 89.75 85.84 81.72 77.37 71.78 64.84 53.91 50 42.85 100
t T es t
30g/l-new m ake Assuming eq ual Difference Std Err Dif Upper CL Di f Lower CL Di f Confidence up variances -3.9104 t Ratio 0.3663 DF -3.1772 Prob > |t| -4.6436 Prob > t 0.95 Prob < t
-10.676 58 <.0001 1.0000 <.0001
-5 -4 -3 -2 -1
0
1
2
3
4
5
A na ly si s o f Va ri a nc e
Source ID Error C. Total DF 1 58 59 Sum of Squa res 229.36842 116.72019 346.08861 Mean Square F Ratio 229.368 113.9766 2.012 Prob > F <.0001
R o f D1
25 20 UCL=20.46
Range of D1
15 10 5 0 -5 3 6 9 12 15 Sample 18 21 24 27 30 LCL=0.00 Avg=9.67
方差分析：
One way ANOVA
选择stack 输入数据 数据STACK
Stack OK
方差分析：
Cpk计算
C ap ab il i ty A na ly s is
Specificat ion Lower Spec Limit Upper Spec Limit Spec Targe t Value 30 50 40 Portion Below LSL Above USL Total Outs ide % Actual 2.7027 18.9189 21.6216
数据STACK
Std Error u ses a pooled estimat e of error variance
Thank You!
控制图：
右键单击此 处：
Variables Control Chart XBar of D1
90 UCL=86.26
Mean of D1
85 A B C 80 C B A
Avg=80.67
75
LCL=75.09 3 6 9 12 15 Sample 18 21 24 27 30
Note: Sigma used for limits based on range.
数据导入：
从EXCEL表 格中COPY 即可。
常用工具：
JMP应用一：柱状图和饼图。 JMP应用二：柏拉图。 JMP应用三：直方图，计算Cpk。 JMP应用四：控制图。 JMP应用五：Analysis of variance
柱状图和饼图：
柏拉图：
P ar et o P lo t
Weight: qu antiry(p) 100 99.60 99.69 99.77 99.86 99.93 100 98.99 99.34 98.65 98.25 97.41 96.54 95.07 93.39 89.75 85.84 81.72 77.37 75 71.78 64.84 53.91 50 42.85 50
JMP TRAINING
JMP 软件简介：
• JMP是由SAS公司开发的统计分析软件。 • SAS公司是一家提供软件和服务的公司， 总部设于美国北卡罗莱纳州。 • 目前JMP的最新版本是：７.１。我司现 用的版本是5.1。
JMP功能简介:
• JMP可以提供一个图形界面来显示与分 析数据，它具备以下功能： • 在数据表单上可以查看、编辑、输入与 处理数据; • 强大而图形化的统计技术数据分析功能 • 表单的排序和合并; • 快捷的数据分组与统计计算功能; • 质量提升技术如过程能力等; • 分析结果输出.
Moments
Mean Std Dev Std Err Mean upper 95% Mea n lower 95% Mea n N 42.789189 6.6908222 1.0999644 45.02002 40.558358 37
1，导入数据 2，选择图表
3，生成图表 3，STACK 功能
直方图：
规格上下限 和目标值
Ov er al l ,
S ig ma = 6. 69 0 82
Capability CP CPK CPM CPL CPU Index Lower CI Upper CI 0.498 0.384 0.613 0.359 0.224 0.495 0.460 0.362 0.558 0.637 0.454 0.817 0.359 0.222 0.493 Percent PPM 2.7973 27973.225 14.0580 140580.1 16.8553 168553.33
O ne wa y An o va S um ma ry o f F it
Rsquare 0.662745 Adj Rsquare 0.65693 Root Mean S quare Error 1.418597 Mean of Res ponse 8.5997 Observation s (or Sum Wgts) 60
-3s LSL 20 30
Mean Target 40 USL 50
+3s
60
Portion Below LSL Above USL Total Outs ide
控制图：
V ar ia bl es
Co nt ro l C ha rt
X Ba r of D 1
90 UCL=86.26
Mean of D1
P 值很重要，当P值 大于0.05时，在统计 学上我们认为两者 没有显著性差异， 当P值小于0.05时， 统计学上认为有显 著性差异；结合本 例，因为P值小于 0.0001，所以我们认 为两者有显著性差 异，即棕化药水30 克/L的CU 含量对 WB 影响很大。
Stack
Q ua nt il es
Level 30g/l new make up Minimum 3.282 8.458 10% 4.0274 8.9172 25% 5.68975 9.3815 Median 6.883 10.521 75% 7.62625 11.3925 90% 8.7601 12.4044 Maximum 9.454 13.024
75
25
25
0
0
1，导入数据 2，选择图表
3，导入相应位置
绝缘层 缺陷超标 切片分析 资料设计错误 电镀折板 Ｅ／Ｔ 渗镀 翘曲度 漏镀 偏位 玻纤 电镀铜厚超标 蚀刻不净 残铜 夹膜 图形折板 退膜折板 板面金属 掉线路 折板 漏镍 棕化不良
defect
4，生成图表，适当编辑
Cum Percent
JMP操作界面:
关于JMP基本介绍请参阅JMP自带的帮助文件。
JMP基本操作：
பைடு நூலகம்操作界面
JMP基本操作：
操作界面
定义数据列名称与类型：
• 双击列上部或选择col/col info • Continuous 定义可连续的数值型数据， 如铜厚、介质层厚度等。 • Ordinal 定义有顺序的数值型或字符型 数据，如lot no。 • Nominal 定义分类（分级）的数值型或 字符型数据，如缺陷名称。
-3s LSL 20 30
Mean Target 40 USL 50
+3s
60
Portion Below LSL Above USL Total Outs ide
1，右键选择
2，输入目标值 3，算出CPK
直方图：
多组数据同时分析
直方图：
正态分布拟 合曲线
样本数量 正态分布函 数
直方图：
C ap ab il i ty A na ly s is
R of D1
25 20
Range of D 1
UCL=20.46
15 10 5 0 -5 3 6 9 12 15 Sample 18 21 24 27 30 LCL=0.00 Avg=9.67
控制图分区：A，B，C区
控制图：
Cpk
Select: capability
CPK
输入目标值
控制图：
控制图：
75
75
单个缺陷占总缺 陷的百分比。
50
25
25
0
0
绝缘层 缺陷超标 切片分析 资料设计错误 电镀折板 Ｅ／Ｔ 渗镀 翘曲度 漏镀 偏位 玻纤 电镀铜厚超标 蚀刻不净 残铜 夹膜 图形折板 退膜折板 板面金属 掉线路 折板 漏镍 棕化不良
defect
Cum Percent
Percent
直方图：
25 30 35 40 45 50 55 60
Ov er al l ,
S ig ma = 6. 69 0 82
Capability CP CPK CPM CPL CPU Index Lower CI Upper CI 0.498 0.384 0.613 0.359 0.224 0.495 0.460 0.362 0.558 0.637 0.454 0.817 0.359 0.222 0.493 Percent PPM 2.7973 27973.225 14.0580 140580.1 16.8553 168553.33