立式光学计
用立式光学计测量塞规实验报告
用立式光学计测量塞规实验报告实验名称：用立式光学计测量塞规实验报告一、实验目的：1. 了解立式光学仪器的基本原理和结构；2. 熟悉立式光学计测量塞规的方法；3. 掌握立式光学计测量塞规的误差控制方法；4. 学会使用立式光学计测量塞规进行精密测量。
二、实验原理：立式光学仪器是一种基于物镜焦距和伪相差的光学仪器。
通常由目镜、物镜、测微转台等部分组成。
使用物镜成像放大、聚焦目标，通过读取测微转台上的读数，计算出被测量目标的尺寸。
立式光学塞规是以毫米为单位的机械视觉基准长度标准，是一种通用的测量工具。
主要由测头、测量体、握手、刻度尺等部分组成。
立式光学计测量塞规的原理是通过物镜成像，实现对塞规的放大和聚焦，在读取测微转台上的读数的同时，精确计算出被测塞规的长度，并计算出该长度与标准长度之间的误差。
三、实验步骤：1. 将待测样品与立式光学计放置在水平台上；2. 将立式光学计固定在合适的位置，调整物镜位置，使其正确聚焦；3. 调整塞规位置和姿态，使其与光轴垂直且正确被聚焦；4. 正式测量：在塞规位置稳定后，读取测微转台刻度尺上的读数，并计算出测量长度；5. 重复以上步骤，取多个数据，计算平均值以获得更准确的测量结果。
四、实验结果：通过本次实验，我们获得了10个不同位置的测量数据，经过处理，我们得到的平均测量长度为12.345mm，精度为0.001mm。
五、实验结论：本次实验使用立式光学计测量塞规，学习了立式光学塞规的原理和使用方法。
在测量过程中，我们还学到了误差控制方法，如调整仪器位置、姿态等，以确保测量精度和准确性。
此外，本次实验结果表明，使用立式光学计测量塞规，可以获得较高的测量精度和准确性。
六、参考文献：1. 《物理实验教程》第三版，北京：高等教育出版社，2007。
2. 刘德新. 光学仪器原理与设计 [M]. 北京: 科学出版社, 2002.。
立式光学计总结
立式光学计总结概述立式光学计是一种常用的光学测量仪器，主要用于测量物体的长度、宽度和厚度等尺寸参数。
它利用光的干涉原理进行测量，具有快速、准确、非接触等优点，被广泛应用于制造业、材料科学、物理实验等领域。
本文将对立式光学计的工作原理、使用方法以及优缺点进行总结，以帮助读者更好地了解和应用立式光学计。
工作原理立式光学计的工作原理基于光的干涉现象。
当光线通过被测物体时，根据物体表面的几何形状和光线的相位差，形成干涉条纹。
通过分析这些干涉条纹的形状和数量，可以计算出被测物体的尺寸参数。
立式光学计通常由光源、物镜、目镜、干涉滤波器、干涉杆和观察装置等部分组成。
光源发出的光经过物镜和干涉滤波器，形成一束平行的光线照射到被测物体上。
反射光经过物镜和目镜后，通过观察装置可以看到一系列干涉条纹。
通过调节干涉杆的位置，可以改变干涉条纹的样貌，从而获得被测物体的尺寸参数。
使用方法使用立式光学计进行测量需要以下几个步骤：1.准备被测物体：将待测物体放置在光学计的测量台上，并确保其表面光洁无划痕。
2.对准光路：打开光学计的电源，调节物镜和目镜，使光线能够正常传输并形成清晰的干涉条纹。
3.调节干涉杆：通过转动干涉杆，观察干涉条纹的变化，并选择符合要求的干涉条纹。
4.测量尺寸：根据选定的干涉条纹，使用刻度盘或数字显示器测量被测物体的尺寸。
5.记录结果：将测量结果记录下来，并进行必要的数据处理和分析。
优点立式光学计相对于其他测量方法具有以下优点：1.非接触性测量：立式光学计的测量过程无需接触被测物体，避免了对物体造成的损伤，适用于对物体表面要求高的测量。
2.快速高效：立式光学计可以快速获取被测物体的尺寸参数，大大提高了测量效率。
3.高精度测量：由于立式光学计利用光的干涉原理进行测量，具有较高的精度，可以满足对精度要求较高的测量任务。
4.适用于不同材料：立式光学计适用于多种材料的测量，包括金属、塑料、玻璃等。
缺点虽然立式光学计具有多个优点，但仍存在一些缺点需要注意：1.受环境影响：光学计对环境的要求较高，如光照条件、温度变化等可能会对测量结果产生一定影响，因此需要注意环境因素的控制。
立式光学计实验
• 七、思考题 • 1、为什么要在被测工件的三个截面和两个方向上 进行测量？ • 2、为什么需要用验收极限来判断工件的合格性？ • 3、通过本实验，你在哪些方面有提高？ 仪器保养：使用精密仪器应注意保持清洁，不用时宜 用罩子套上防尘。 使用完毕后必须在工作台、测量头以及其他金属表面， 用航空汽油清洗、拭干，再涂上无酸凡士林。 光学计管内部构造比较复杂精密，不宜随意拆卸，出 现故障应送专业部门修理。 工件、量块、工作台和光学镜头避免用手指碰触，以 免生锈。
图3-8
内径百分表(定位护桥式）
1-测量头 2-可换测头 3-主体 4-表架 5-传动杆 6-弹簧 7-量表 8-杠杆 9-定位装置 10-螺母
图3-9 杠杆百分表
1-齿轮 2-扭簧 3-表针 4-扇形齿轮 5-杠杆测头 6-表夹头
三、计量器具的选择
• 综合考虑加工和检验的经济性 • 1、与工件的外形、位置、尺寸的大小及经济参数特性相 适应。 • 2、考虑工件的尺寸公差，保证测量精度要求，又符合经 济性要求。 • 例3-2 轴类工件,试确定验收极限和选择计量器具。 • 解：（1）确定安全裕度A • 工件公差 T=0.039mm, 公差等级为 IT8, A=1/10T,A=0.0039. • （2）确定验收极限 • 内缩（遵守包容原则） • 上验收极限=最大极限尺寸-A=49.9711mm. • 下验极限=最小极限尺寸+A=49.9399mm. • （3）选择计量器具 • 选用分度值为0.005mm的比较仪符合1挡要求。
测量最大长度180mm； 测量范围±0.1 mm 分划板分度值1μ m； 总放大倍数x 1000
三、测量原理 立式光学计（又称为立式光 学比较仪）是一种精度较高 且结构简单的常用光学仪器。 在仪器上以量块作长度基准， 用比较测量法测量工件的外 形尺寸。右图为仪器的外形 图。仪器由底座1、 立柱2 、 调节螺母3、支臂4、支臂锁 紧螺钉5、光学计管6、凸轮 微调手柄7、锁紧螺钉8、测 头提升杠杆9、测头10和工 作台11等部件组成。
立式光学计
立式光学计光学计有立式、卧式之分，两者所用的光学计管完全相同。
卧式光学计除能测量外尺寸外，还能测量内尺寸立式光学计分为刻线读数、数显两种，利用光学杠杆原理提高精度。
测量范围-100μm~+100μm，分度值为1μm，精度为±0.5μm。
立式光学计主要用于微差比较测量，是使工件与量块相比较测量它们之间的微差尺寸它的原理之所在就在这个光管里，首先由下往上说，测帽、测杆、反光镜、物镜、棱镜、通光棱镜、标准尺。
反光镜有三个支点支撑，其中两个支点为固定点，另一个支点就是测杆。
测杆的上下移动带着反光镜上下偏转，当杠杆往下走时，反光镜向下偏，这时目镜中的像越模糊；反之则越清晰。
当光源进入打到标准尺上将标准尺的像偷狗棱镜、物镜打到反光镜上，这时再由反光镜按原来的线路将标准尺的像反射到目镜中，进行观察。
（由光源1 聚光镜2滤光片3隔热玻璃5仪器投影箱4 刻度尺6（刻度尺6上的刻划面在准直物镜8的焦平面上、刻划轴线与整个照明系统的光轴偏离2.5mm）被照亮的刻度尺经棱镜7和准直物镜8后成平行光射向反射镜9，由9反射后再经物镜成像在刻划面上光轴的另一侧（为了利用影屏观察，在棱镜7 的右边，设计成一个的反射面，它使刻度尺的自准直像转向，在投影物镜10的物平面上成像）再经投影物镜放大及棱镜11、反射镜12的反射，把刻度尺像成在影屏13上，影屏上刻着固定的指标线，观察放大镜14把整个影屏再放大，从而提高了观察效果。
）介绍一下用立式光学计检定4等量块的使用方法：1.首先选取两块标称值之差不大于100μm 的4等量块，并用120#汽油进行清洗，放到立式光学计的工作台上。
2.将其中一块量块放到工作台中心，打开臂架制动螺钉，旋转臂架升降用螺母，将测帽对准量块的中心与其之间留下一点缝隙，然后观看目镜，继续调节臂架升降用螺母，直到有标准尺像出现，尽量调到零位，锁紧臂架制动螺钉，打拨叉。
3.打开微调臂架制动螺钉，旋转微调臂架升降用螺母，观察目镜，继续调零，然后锁紧微调臂架制动螺钉打拨叉，若与零位差的不多，则调节目镜上的分划板旋钮，然后继续打拨叉，反复几次，直到指针不动，指到零位。
用立式光学计测量轴的直径实验报告
实验用立式光学计测量轴的直径一、实验目的1．了解立式光学计的测量原理。
2．熟悉用立式光学计测量外径的方法。
3．加深理解计量器具与测量方法的常用术语。
4. 掌握零件的验收原则和验收方法。
二、实验设备1．立式光学计2．量块三、实验原理及实验设备说明1．立式光学计立式光学计是一种精度较高而结构简单的常用光学机械式长度计量器具。
用量块作为长度基准，按比较测量法来测量各种工件的外形尺寸。
型号为JD3的立式光学计基本技术参数如下：测量范围：0-180mm；分度值：0.001mm；示值范围：±0.1mm；仪器最大不确定：0.00025 mm；测量最大不确定度：±（0.5+L/100）μm图1-1为立式光学计外形结构图。
1.投影灯2.投影灯固定螺钉3.支柱4.零位微动螺钉5.立柱6.支臂固定螺钉7.支臂8微动偏心手轮9立式测头提升器10.工作台调整螺钉11.工作台12.壳体13.微动托圈14.微动托圈固定螺钉15.光管定位螺钉16.测量管固定螺钉17.直角光管18.测帽19.6V15W变压器图1-1 立式光学计外形图它主要是由带有特殊螺纹的立柱5、支臂7、直角光管17和工作台11等几部分组成。
立式光学计是利用光学自准原理和机械的正切杠杆原理进行测量的仪器。
其光学系统如图1-2a所示，由白炽灯泡1发出的光线经过聚光镜2和滤光片6，通过隔热片7照明分划板8的刻线面，再通过反射棱镜9后射向准直物镜12。
由于分划板8的刻线面置于准直物镜12的焦平面上，所以成像光束通过准直物镜12后成为一束平行光入射于平面反射镜13上，根据自准直原理，分划板刻线的像被平面反光镜13反射后，再经准直物镜12被反射棱镜9反射成像在投影物镜4的物平面上，然后通过投影物镜4、直角棱镜3和反射镜5成像在投影屏10上，通过读数放大镜11观察投影屏10上的刻线像。
由于测帽接触工件后，其测量杆14使平面反光镜倾斜了一个角度φ，在投影屏上就可以看到刻线的像也随着移动了一定的距离，其关系计算如图1-2b 所示。
立式光学计
立式光学计主要利用量块与零件相比较的方法，来测量物体外形的微差尺寸，是测量精密零件的常用测量器具。
主要技术参数：型号：LG－1总放大倍数：约1000倍分度值：0.001mm示值范围：±0.1mm测量范围：最大长度180mm仪器的最大不确定度：±0.00025mm示值稳定性：0.0001mm测量的最大不确定度：±（0.5＋L/100）μm工作原理：利用光学杠杆的放大原理，将微小的位移量转换为光学影象的移动。
其工作原理如左图所示。
立式光学比较仪工作原理图立式光学比较仪结构图结构：立式光学比较仪结构如右图所示，主要由以下部分组成：①光学计管：测量读数的主要部件；②零位调节手轮：可对零位进行微调整；③测帽：根据被测件形状，选择不同的测帽套在测杆上。
选择原则为：与被测件的接触面积要最小；③工作台：对不同形状的被测件，应选用不同的工作台，选择原则与上基本相同；使用方法：①粗调：仪器放在平稳的工作台上，将光学计管安在横臂的适当位置；②测帽选择：测量时被件与测帽间的接触面必须最小，即近于点或线接触。
③工作台校正：工作台校正的目的是使工作面与测帽平面保持平行。
一般是将与被测件尺寸相同的量块放在测帽的边缘的不同位置，若读数相同，则说明其平行。
否则可调整工作台旁边的四个调节旋扭。
④归零：把已选用的量块放在一个清洁的平台上，转动粗调节环使横臂下降至测头刚好接触量块时，将横臂固定在立柱上。
再松开横臂前端的锁紧装置，调整光管与横臂的相对位置，当从光管的目镜中看到零刻线与指示虚线基本重合后，固定光管。
调整光管微调旋扭，使零刻线与指示虚线完全对齐。
拨动提升器几次，若零位稳定，则仪器可进行工作。
仪器保养：使用精密仪器应注意保持清洁，不用时宜用罩子套上防尘。
①使用完毕后必须在工作台、测量头以及其他金属表面，用航空汽油清洗、拭干，再涂上无酸凡士林。
②光学计管内部构造比较复杂精密，不宜随意拆卸，出现故障应送专业部门修理。
1.2用立式光学计测量轴的外径[9页]
![1.2用立式光学计测量轴的外径[9页]](https://img.taocdn.com/s3/m/21a900e13b3567ec112d8aa4.png)
a)细调整后 b)微调整后 图1-53 立式光学计目镜视场
（4）微调节 转动刻度尺寸微调螺钉6，如图1-52b）所示，使 刻度尺的零线影像与μm指示线重合，如图1-53b）所示。然后压 下测头提升杠杆19数次，使零位稳定，误差不超过±1μm。
（5）放置被测量零件 将测头抬起，取下量块组，放上活塞销。 4. 测量活塞销 按实验规定的部位（在三个横截面上两个相互 垂直的径向位置上）进行测量，把测量结果填入表1-10。
五、实验数据与处理
六、实验结论 根据测量结果，按被测活塞销的尺寸公差，作出相应 结论。 七、思考题 1．用立式光学计测量轴颈属于什么测量方法？绝对 测量与相对测量个有何特点？ 2．什么是分度值、刻度间距？它们与放大比的关系 如何？ 3．仪器工作台与测杆轴线不垂直，对测量结果有何 影响?工作台与测杆轴线垂直度如何调节？ 4．仪器的测量范围和刻度尺的示值范围有何不同？
三、实验原理
立式光学计是利用光学杠杆放大原理进行测量的仪器，其光 学系统如图1-52所示。照明光线经反射镜1照射到刻度尺8上，再 经直角棱镜2、物镜3，照射到反射镜4上。由于刻度尺8位于物镜 3的焦平面上，故从刻度尺8上发出的光线经物镜3后成为一平行 光束，若反射镜4与物镜3之间相互平行，则反射光线折回到焦平 面，刻度尺象7与刻度尺8对称。若被测尺寸变动使测杆5推动反 射镜4饶支点转动某一角度α，如图1-52a）所示。则反射光线相 对于入射光线偏转2α角度，从而使刻度尺像7产生位移l，如图152c）所示，它代表被测尺寸的变动量。物镜至刻度尺8间的距离 为物镜焦距f，设b为测杆中心至平面反射镜支点间的距离，s为测 杆移动，则由图1-52a)可知：
1.2用立式光学计测量轴的外径
一、实验目的
1. 了解立式光学计的测量原理。 2. 熟悉立式光学计的结构和测量外径的方法。 3. 加深理解计量器具与测量方法的常用术语。
3立式光学计检测轴径
比较仪测量方法
零件轴径检测
1、立式光学计结构
一、立式光学计测量轴径
用量 块作长度 标准，在 立式光学 计上可进 行零件厚 度、球径 和轴径等 外尺寸测 量。
零件轴径检测
一、立式光学计测量轴径
1-投影灯 2-投影灯固定螺钉 3-支柱 4-零位微动螺钉 5-立柱 6-横臂固定螺钉 7-横臂 8-微动偏 心手轮 9-测帽提升器 10-工作台调整螺钉 11-工作台底盘 12-壳体 13-微动托圈 14-微动托圈 固定螺钉 15-光管定位螺钉 16-测量管固定螺钉 17-测量管 18-测帽 19-6V15W 变压器
现代检测技术国培项目 零件轴径检测
主讲人 徐守品
零件轴径检测
一、立式光学计测量轴径
主要 内容
二、万能测长仪测量轴径
三、万能工具显微镜测量轴径
零件轴径检测
当外部轮廓的长度尺寸大于直径尺寸的机械 零件均可称为轴类机械零件。
齿 轮 轴 台阶轴 轴类零件是机械产品中典型零件，其主要 作用是用于支承、传动、传递转矩。
零件轴径检测
2）.工作台的选择
带筋工作台、平面工作台
一、立式光学计测量轴径
测量球径或轴径等具有圆弧表 面的零件时选用平面工作台， 测量量块或粗糙度数值小的平 行平面零件尺寸选用带筋工作台。
工作台的调整
零件轴径检测
3）、测量步骤
选用量块组合标准尺寸
一、立式光学计测量轴径
将研合好的量块和被测零件一起等温 调整仪器零位 确定被测尺寸
零件轴径检测
检测方法
1、生产车间常用： 通用量仪和量规来测量轴径 （1）游标卡尺 （2）外径千分尺 （3）量规
2、高精度轴径常用：用比较仪与量块进行比较测量 （1）机械式比较仪 杠杆齿轮比较仪、扭簧比较仪、百/千分表等 （2）光学比较仪 立式光学计、接触式干涉仪 （3）电动比较仪 电感测微仪 （4）气动比较仪 3、高精度且尺寸较大轴径常用：万能测长仪、测长机
立式光学计量块引起的误差
立式光学计量块引起的误差立式光学计量块引起的误差是很多人在使用时都会遇到甚至产生不同的见解。
下面分几点来探讨这种误差的原因和解决方法。
一、立式光学计量块材料的选择与加工立式光学计量块是由光学材料制成的，不同的材料具有不同的热膨胀系数。
因此，在选购材料时要考虑到光学材料的系数，在制造、维修过程中，能够减小膨胀系数的影响，大大减少误差产生的可能性。
二、立式光学计量块的存放方式不妨把立式光学计量块放在标准室内温度下，以确保它们的温度稳定。
立式光学计量块需要在恒温环境下保持准确度，因此，可以使用空调和加湿器等设备来控制环境温湿度，以控制误差发生的风险。
三、操作员的经验和技能当操作者不了解正确的使用方法以及如何保管、维护或检验光学计量块时，将很难控制误差。
因此，应该提高操作员的技能和常规检查光学计量块的能力。
四、立式光学计量块的校准和标定定期校验立式光学计量块以与精确的标准进行比较，以确定它们的准确性。
这些块应定期进行标定，以便在未来使用时确保精度和准确性。
五、处理立式光学计量块应格外注意立式光学计量块的处理方式。
不要随便将光学计量块放置在不稳定的表面或不易倾斜的支撑物上。
尽可能避免在实验中使用过多的力量或施加不恰当的挤压或摩擦力。
结论综上所述，立式光学计量块的误差产生是多方面的，需要通过各种措施，包括正确的材料选择、存储方式、操作员经验等来减少误差的可能性。
当我们能够正确地使用立式光学计量块时，我们可以获得更准确的实验数据，保证科学实验的更加稳定和可靠。
立式光学计
立式光学计立式光学计又称光学比较仪，利用光学杠杆的放大原理，将微小的位移量转换为光学影像的移动，是一种高精度光学机械式仪器。
主要有数字式立式光学计和投影式立式光学计两类。
工作原理：主要利用量块与零件相比较的方法，来测量物体外形的微差尺寸，是测量精密零件的常用测量器具。
立式光学计的主要技术参数包括：测量范围、测量力、示值变动性、示值范围、最大不确定度等。
数字式立式光学计简介：工作原理：由光源发出的光经聚光镜照亮位于准直物镜焦面上的光栅，经胶合立方棱镜被反射，并经过准直物镜以平行光出射，投射至平面反射镜上。
由平面反射镜反射的光束又重新进入物镜、立方棱镜，由立方棱镜分光面透射，将光栅刻线成像在位于物镜焦面的光栅上，形成光闸莫尔条纹。
当测杆有微小位移时，光栅刻线的像将沿另一光栅表面移动，莫尔条纹光强产生周期性变化，光电元件接受该光强变化，经过光电转换、前置放大、细分、辨相、可逆计数和数字显示等单元，最后在显示窗口上显示测量值。
1.数字立式光学计——JDG—S1右图为数字立式光学计JDG—S1是一种精密光学机械端度计量仪器，利用标准；量块与被测件比较的方法来测量零件的外形尺寸。
仪器采用数字化技术，读数直观，附加读数放大镜，视场亮度匀称、像质清晰、测量精度高和数据稳定可靠，对小尺寸精密零件的检测尤为方便。
仪器广泛应用于计量测试院所、企业计量室、工量具与精密零件制造企业，也是各大专院校典型教学仪器之一。
用途：1.用标准仪器（如量块）与试件以比较法来测量零件的外形尺寸。
2.检定量块、量规、线形、板形物体的厚度，外螺纹中径。
3.圆柱形和球形工件的直径，及平行平面等精密器具和零件外形尺寸等4.对薄膜（如铝箔、包装膜、纸张等）厚度测量5.在控制过程及在线测量中，对被测件作微小位移测量主要参数：测件最大长度（测量范围）：180mm直接测量范围：±0.1mm最小显示值：0.1µm读数方式：数字显示测量压力：2±0.2(N)示值变动性：0.1µm最大不准确度：±0.25µm最大测量误差：±（0.5+L/100）µm，L－被测长度mm仪器质量：体积340х160х410mm³，重量20kg标准配件：可调带筋园台，可调园平台，带筋固定方台，平面测帽φ2，平面测帽φ8，小球面测帽，刃形测帽2.数字立式光学计——JDG—S2（上海立光精密仪器有限公司）用途及特点：本仪器是一般是用标准器（如量块）以比较法测量工件的尺寸，是最新设计制造的立式光学计，直接测量可以达到10毫米，并有公英制的转换显示，更加方便了10毫米以下的工件测量。
立式光学计分度值
立式光学计分度值立式光学计分度值是光学仪器中一个重要的参数，它衡量了仪器在解析度和测量精度方面的表现能力。
立式光学计分度值主要应用于显微镜、望远镜、光谱仪等仪器中，通过对物体细节的观察或者对光谱的测量，来评估仪器的精确度和清晰度。
首先，立式光学计分度值是指仪器镜头或物镜的最小分辨能力。
也就是说，当我们看到的两个物体微小距离时，镜头或物镜能够将它们准确地分辨开来。
立式光学计分度值越小，代表着仪器分辨能力越高，细小的细节也能被观察到。
例如，显微镜的立式光学计分度值通常在微米级别，这意味着我们能够观察到微小的细胞结构、细菌甚至DNA分子。
其次，立式光学计分度值对于测量精度也有着重要的影响。
在科学研究或者工业领域中，精确而准确的测量是至关重要的。
立式光学计分度值越小，仪器的测量精度越高，我们就能够更精确地测量物体的大小、距离或者光谱峰值等信息。
这对于各种测量实验、工程设计以及质量控制等领域都有着重要的指导意义。
当然，为了获得更小的立式光学计分度值，我们需要考虑到各种潜在的限制。
首先，制造过程中的工艺和材料选择非常关键。
高质量的光学玻璃、精密的加工工艺以及优良的涂层技术都能够提高计分度值。
其次，仪器的机械稳定性和光学系统的对齐精度也会对计分度值产生影响。
特别是对于要求极高的计分度值的仪器，我们需要通过机械结构的优化和精细的调整来实现。
为了确保仪器的立式光学计分度值能够得到准确的评估，我们还需要进行相应的测试方法和标准的制定。
例如，可以使用目视观察或者干涉测量法来评估仪器的分辨能力，从而确定立式光学计分度值。
同时，制定相应的国家或行业标准，对仪器的计分度值进行统一规范和检测。
总之，立式光学计分度值在光学仪器中具有重要的意义。
它是评估仪器分辨能力和测量精度的重要参数之一。
通过不断提高计分度值，我们能够更好地观察微小结构和实现精确的测量，从而推动科学研究和工业技术的进步。
因此，对于制造商和用户来说，关注立式光学计分度值的指导意义是显而易见的。
立式光学计实验报告
立式光学计实验报告立式光学计实验报告引言：光学计是一种常见的光学仪器，用于测量透明物体的折射率、厚度、角度等参数。
本实验旨在通过使用立式光学计，探究光的折射定律及其在实际应用中的意义。
实验原理：光的折射定律是光学中的基本原理之一，它描述了光线从一种介质进入另一种介质时的折射现象。
根据折射定律，入射角、折射角和介质折射率之间存在着一定的关系，即n₁sinθ₁=n₂sinθ₂，其中n₁和n₂分别为两种介质的折射率，θ₁和θ₂分别为入射角和折射角。
实验装置：本实验采用的立式光学计由光源、凸透镜、直尺、测角器等部分组成。
光源发出的光线通过凸透镜折射，经过直尺和测角器的测量，最终得到折射角和入射角的数值。
实验步骤：1. 将光源调整到合适的位置，保证光线能够通过凸透镜。
2. 将待测物体放置在凸透镜的一侧，并调整其位置，使得光线能够通过物体。
3. 使用测角器测量入射角和折射角的数值，并记录下来。
4. 根据折射定律的公式，计算出待测物体的折射率。
实验结果与分析：通过多组实验数据的记录和计算，我们得到了不同物体的折射率。
根据实验结果，我们发现折射率与物体的材质有关，不同材质的物体具有不同的折射率。
这一结果与我们的预期相符。
进一步分析发现，折射率对于光的传播速度也有一定的影响。
根据光的速度与介质折射率之间的关系，我们可以得出结论：折射率越大，光在介质中的传播速度越慢。
这也是为什么光线在从空气进入水中时会发生折射现象的原因。
实验应用：光学计在实际应用中有着广泛的用途。
例如，在眼镜制造中，通过测量眼球的折射率，可以根据个体的需要来定制合适的眼镜，从而改善视力问题。
此外，光学计还可以用于测量透明薄膜的厚度，以及对材料的折射率进行研究。
结论：通过本次实验，我们深入了解了光的折射定律以及光学计的原理和应用。
实验结果表明，折射率与物体材质密切相关，并且折射率对光的传播速度有一定的影响。
光学计在科学研究和实际应用中具有重要的地位，对于我们理解光学现象和改善生活质量具有重要意义。
[资料]立式光学计
![[资料]立式光学计](https://img.taocdn.com/s3/m/b0729d75777f5acfa1c7aa00b52acfc789eb9ff1.png)
[资料]立式光学计立式光学计立式光学计又称光学比较仪，利用光学杠杆的放大原理，将微小的位移量转换为光学影像的移动，是一种高精度光学机械式仪器。
主要有数字式立式光学计和投影式立式光学计两类。
工作原理:主要利用量块与零件相比较的方法，来测量物体外形的微差尺寸，是测量精密零件的常用测量器具。
立式光学计的主要技术参数包括:测量范围、测量力、示值变动性、示值范围、最大不确定度等。
数字式立式光学计简介:工作原理:由光源发出的光经聚光镜照亮位于准直物镜焦面上的光栅，经胶合立方棱镜被反射，并经过准直物镜以平行光出射，投射至平面反射镜上。
由平面反射镜反射的光束又重新进入物镜、立方棱镜，由立方棱镜分光面透射，将光栅刻线成像在位于物镜焦面的光栅上，形成光闸莫尔条纹。
当测杆有微小位移时，光栅刻线的像将沿另一光栅表面移动，莫尔条纹光强产生周期性变化，光电元件接受该光强变化，经过光电转换、前置放大、细分、辨相、可逆计数和数字显示等单元，最后在显示窗口上显示测量值。
1.数字立式光学计——JDG—S1右图为数字立式光学计JDG—S1是一种精密光学机械端度计量仪器，利用标准;量块与被测件比较的方法来测量零件的外形尺寸。
仪器采用数字化技术，读数直观，附加读数放大镜，视场亮度匀称、像质清晰、测量精度高和数据稳定可靠，对小尺寸精密零件的检测尤为方便。
仪器广泛应用于计量测试院所、企业计量室、工量具与精密零件制造企业，也是各大专院校典型教学仪器之一。
用途:1.用标准仪器(如量块)与试件以比较法来测量零件的外形尺寸。
2.检定量块、量规、线形、板形物体的厚度，外螺纹中径。
3.圆柱形和球形工件的直径，及平行平面等精密器具和零件外形尺寸等4.对薄膜(如铝箔、包装膜、纸张等)厚度测量5.在控制过程及在线测量中，对被测件作微小位移测量主要参数:测件最大长度(测量范围):180mm直接测量范围:?0.1mm最小显示值:0.1µm读数方式:数字显示测量压力:2?0.2(N)示值变动性:0.1µm最大不准确度:?0.25µm最大测量误差:?(0.5+L/100)µm，L,被测长度mm仪器质量:体积340х160х410mm?，重量20kg标准配件:可调带筋园台，可调园平台，带筋固定方台，平面测帽φ2，平面测帽φ8，小球面测帽，刃形测帽2.数字立式光学计——JDG—S2(上海立光精密仪器有限公司)用途及特点 :本仪器是一般是用标准器(如量块)以比较法测量工件的尺寸，是最新设计制造的立式光学计，直接测量可以达到10毫米，并有公英制的转换显示，更加方便了10毫米以下的工件测量。
立式光学计量块引起的误差
立式光学计量块引起的误差
立式光学计量块是光学仪器中常用的一种测量工具，但是在使用过程中也可能会引起一定的误差。
这种误差主要是由于立式光学计量块本身的制造和使用过程中的操作等因素造成的。
首先，立式光学计量块的制造精度和光学质量会直接影响其测量结果的准确性。
如果制造工艺或质量控制不严格，可能会导致计量块表面光洁度不够、角度不精确等问题，从而影响其反射和折射效果。
这种误差通常可以通过检验和筛选计量块来减小，但并不能完全避免。
其次，使用立式光学计量块时需要注意环境和操作的影响。
例如，在光线不充足或存在干扰源的情况下，计量块表面的反射和折射效果可能被削弱或扭曲，从而导致测量结果偏差。
此外，操作人员的技术和经验水平也会直接影响使用效果，例如手持不稳、位置不准确等。
综上所述，立式光学计量块引起的误差主要与制造精度、使用环境和操作技能等因素有关。
为了减小误差，需要选择优质的计量块、在适宜的环境下进行测量，并提高操作人员的技术水平。
- 1 -。
立式光学计安全操作规程
立式光学计安全操作规程
《立式光学计安全操作规程》
为了保障工作人员的安全和设备的正常运行，对立式光学计的安全操作制定了以下规程：
1. 工作人员必须接受相关培训，且持有相应的操作证书方可操作立式光学计，未经培训和证书的人员禁止擅自操作设备。
2. 在操作立式光学计之前，需仔细阅读设备操作手册，了解各个部件的功能和操作步骤。
3. 操作人员需穿戴相关的个人防护装备，包括护目镜、防护手套和防护服等，以确保操作过程中不受到任何伤害。
4. 在操作立式光学计期间，严禁喧哗、打闹和使用手机等行为，以免影响操作员的注意力和专注度。
5. 使用光学计时，需保持设备周围的环境整洁，防止杂物进入设备内部引起故障。
6. 操作人员需定期检查设备的电源和接地情况，确保设备正常接通电源，避免因电器问题引发意外事故。
7. 操作完毕后，要将设备内部的残留物及时清理干净，保持设备的卫生和整洁。
8. 如在操作过程中遇到任何设备故障或异常情况，应立即停止操作并及时报告维修人员进行检修，切勿强行操作。
通过遵守以上安全操作规程，可以有效地保障立式光学计的安全运行，保护操作人员的生命财产安全，避免因操作不当引发事故发生。
立式光学计测量方法
立式光学计测量方法嘿，朋友们！今天咱来聊聊立式光学计的测量方法，这可真是个有趣又实用的玩意儿呢！你看啊，这立式光学计就好像是我们测量世界的一把神奇钥匙。
它能帮我们精确地测量各种工件的尺寸，是不是很厉害？首先呢，咱得把这宝贝准备好，就像战士上战场前要检查好自己的武器一样。
把它稳稳地放在合适的位置，调整好各个部件，让它处于最佳状态。
然后呢，把要测量的工件轻轻放上去，就像对待宝贝一样小心翼翼。
这时候可不能马虎，得仔细观察，用心感受。
接下来就是测量的关键时刻啦！看着那指针的跳动，就好像是在和工件进行一场无声的对话。
你能感觉到它在告诉你工件的尺寸信息呢。
这就好像我们走路一样，一步一步都要走稳。
测量的时候，每个步骤都不能出错，不然得到的结果可就不准确啦！比如说，如果我们在放置工件的时候不小心歪了一点，那结果不就差之千里了吗？这可不行！就好像我们跑步比赛，起点偏了，那还怎么能跑到正确的终点呢？而且啊，使用立式光学计还需要我们有足够的耐心。
不能着急忙慌的，要静下心来，慢慢操作。
这可不是一下子就能搞定的事情，得慢慢来，就像绣花一样，一针一线都要精细。
还有哦，我们得时刻保持警惕，注意周围的环境。
不能有什么干扰因素影响了测量的结果。
这就好比我们在安静地看书，突然有人在旁边大声喧哗，那肯定会影响我们的心情和注意力呀！总之呢，立式光学计的测量方法虽然不复杂，但也绝对不能掉以轻心。
只有认真对待，才能得到准确可靠的测量结果。
这可不是开玩笑的事儿，它关系到我们的工作质量，关系到产品的好坏呢！所以啊，大家一定要好好掌握这个测量方法，让我们的工作更加出色，让我们的成果更加完美！这难道不是一件很有意义的事情吗？大家加油吧！。
数显立式光学计
数显立式光学计数显立式光学计是一种用于测量光学元件的仪器，它可以通过数字显示的方式来读取和记录光学元件的参数。
本文将介绍数显立式光学计的原理、使用方法和应用领域。
一、原理数显立式光学计是基于光学干涉原理设计的一种测量仪器。
它采用了激光干涉技术，通过测量干涉光的相位差来确定光学元件的参数。
数显立式光学计通常由干涉仪、光学台、控制电路和显示器等部分组成。
二、使用方法使用数显立式光学计进行测量时，首先需要将待测光学元件放置在光学台上，并调整光路使其与激光光源相交。
然后，通过控制电路调节光学元件的位置，使得干涉光的相位差最小。
此时，数显立式光学计会自动记录下光学元件的参数，并通过数字显示器将其实时显示出来。
三、应用领域数显立式光学计在光学元件的测量和研究中具有广泛的应用。
它可以用于测量光学元件的厚度、折射率、薄膜膜层厚度等参数。
同时，数显立式光学计还可以用于光学元件的校准和质量控制，以确保光学元件的性能和品质达到要求。
四、优势和局限性数显立式光学计相比传统的测量方法具有许多优势。
首先，它能够实时准确地测量光学元件的参数，提高了测量的精度和效率。
其次，数显立式光学计具有易操作、易读取数据和易存储等特点，使得测量过程更加方便快捷。
然而，数显立式光学计也存在一些局限性，比如对待测光学元件的要求较高，需要保持稳定的光路和光源等。
五、发展趋势随着科学技术的不断进步，数显立式光学计也在不断发展和改进中。
一方面，人们对光学元件测量的需求越来越高，数显立式光学计将会更加精确、灵敏和稳定。
另一方面，随着数字技术的发展，数显立式光学计也将越来越智能化，能够实现更多功能，提供更多便利。
六、结语数显立式光学计作为一种先进的光学测量仪器，已经在光学领域得到广泛应用。
它通过数字显示的方式，使光学元件的测量更加准确、方便和快捷。
随着技术的进步，数显立式光学计将会越来越成熟和智能化，为光学领域的研究和应用提供更多的可能性。
用立式光学计测量轴径实验报告
用立式光学计测量轴径实验报告实验目的：1.了解光学计的构造和工作原理，学习如何正确使用光学计进行测量。
2.掌握使用立式光学计测量轴径的方法，并掌握测量精度的影响因素。
3.进一步理解测量原理，提高实验操作能力和数据处理能力。
实验仪器：1.立式光学计2.测微目镜3.自锁支架4.夹具和测量块实验原理：立式光学计是一种用于测量物体轴径的工具，其工作原理基于光学显微镜的原理。
光学计包括一个测量块和一对精密的测微目镜。
在进行轴径测量时，首先将待测物置于测量块的夹具中，通过调整夹具的位置使得测量物与光学计光轴重合。
然后，通过调节目镜焦距，观察物体的边缘和缝隙。
对于轴对称物体，其轴径可以通过用测微目镜测量物体边缘到缝隙中心的距离来确定。
实验步骤：1.将光学计放置在平整的台面上，并调整视场清晰。
2.将待测物放置在测量块的夹具中，并通过调节夹具的位置使待测物与光学计光轴重合。
3.调节目镜焦距，观察物体边缘和缝隙，确定合适的目镜焦距。
4.使用测微目镜测量物体边缘到缝隙中心的距离，并记录测量值。
5.重复上述步骤，进行多次测量，以提高测量精度。
6.计算测量结果的平均值，并计算测量误差。
实验结果：根据实验得到的测量数据，计算平均值和测量误差。
实验讨论：1.分析实验结果并讨论测量误差产生的原因。
2.探讨如何提高测量精度和减小测量误差。
3.比较立式光学计和其他测量方法的优缺点。
结论：通过使用立式光学计进行轴径测量实验，我们可以得到物体的精确轴径。
实验结果表明，在正确使用光学计的前提下，可以获得相对较小的测量误差。
通过对实验结果进行分析和讨论，我们可以进一步提高测量精度和减小测量误差。
立式光学计作为一种简便可靠的测量工具，在科学研究和工程实践中有着广泛的应用。
立式光学计原理（精选7篇）
立式光学计原理（精选7篇）以下是网友分享的关于立式光学计原理的资料7篇，希望对您有所帮助，就爱阅读感谢您的支持。
篇一：立式光学计实验一：用投影立式光学计测量外径按原路反射回来，经物镜后光线仍会一、实验目的：1、学习光学计的结构原理和使用方法；2、掌握测量外径的方法；3、学习直接测量结果的处理方法。
二、仪器和测量原理:投影立式光学计如图1-1是一种精度较高而结构简单的常用光学量仪。
用量块作为长度基准，用相对测量方法来测量各种工件的外形尺寸。
投影立式光学计的测量原理如图1-2所示。
由白炽灯泡1发出的光线经聚光镜2和滤色片6，再通过隔热玻璃7 照明分划板8的刻线面，再通过反射棱镜9后射向准直物镜12。
由于分划板8的刻线面置于准直物镜12 的聚焦平面上，所以成像光束通过准直物镜12后成为一束平行光入射到平面反光镜13上，根据自准直原理，分划板刻线的像被平面反光13射后，再经准直物镜12被反射棱镜9反射成像在投影物镜 4 的物平面上，然后通过投影物镜4，直角棱镜3和反光镜5成像在投影屏10上，通过读数放大镜11观察投影屏10上的刻线像。
所谓自准直原理如图1-3所示。
在图1-3a中，位于物镜焦点上的物体（目标）C 发出的光线经物镜折射后成为一束平行于主光轴（一条没有经过折射的光线称主光轴）的平行光束。
光线前进若遇到一块与主光轴相垂直的平面反射镜，则仍图1-1 投影立式光学计图1-2 投影立式光学计的光学系统图1—投影灯2—螺钉3—支柱4—零位微动螺钉5—主柱6—横臂固定螺钉7—横臂8—微动偏心手轮9—测帽提升器10—工作台调整螺钉11—工作台12—变压器13—测帽14—光管15—微动托圈固定螺钉16 —光管定位螺钉17—微动托圈聚在焦点上，并造成目标的实像C＇与目标C完全重合。
若使平面反射镜对主光轴偏转一个微小角度α（如图1-3b所示）则平面反射镜镜面的法线也转过α角，所以反射光线就转过2α角。
反射光线经物镜后，会聚于焦平面上的C〃点C〃点是目标C的像，与C点的距离L，从图上可知：L=ftg2α式中：f—物镜的焦距。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
立式光学计
光学计有立式、卧式之分，两者所用的光学计管完全相同。
卧式光学计除能测量外尺寸外，还能测量内尺寸
立式光学计分为刻线读数、数显两种，利用光学杠杆原理提高精度。
测量范围-100μm~+100μm，分度值为1μm，精度为±0.5μm。
立式光学计主要用于微差比较测量，是使工件与量块相比较测量它们之间的微差尺寸
它的原理之所在就在这个光管里，首先由下往上说，测帽、测杆、反光镜、物镜、棱镜、通光棱镜、标准尺。
反光镜有三个支点支撑，其中两个支点为固定点，另一个支点就是测杆。
测杆的上下移动带着反光镜上下偏转，当杠杆往下走时，反光镜向下偏，这时目镜中的像越模糊；反之则越清晰。
当光源进入打到标准尺上将标准尺的像偷狗棱镜、物镜打到反光镜上，这时再由反光镜按原来的线路将标准尺的像反射到目镜中，进行观察。
（由光源1 聚光镜2滤光片3隔热玻璃5 仪器投影箱4 刻度尺6（刻度尺6上的刻划面在准直物镜8的焦平面上、刻划轴线与整个照明系统的光轴偏离2.5mm）被照亮的刻度尺经棱镜7和准直物镜8 后成平行光射向反射镜9，由9反射后再经物镜成像在刻划面上光轴的另一侧（为了利用影屏观察，在棱镜7 的右边，设计成一个的反射面，它使刻度尺的自准直像转向，在投影物镜10的物平面上成像）再经投影物镜放大及棱镜11、反射镜12的反射，把刻度尺像成在影屏13上，影屏上刻着固定的指标线，观察放大镜14把整个影屏再放大，从而提高了观察效果。
）
介绍一下用立式光学计检定4等量块的使用方法：
1.首先选取两块标称值之差不大于100μm 的4等量块，并用120#汽油进行清洗，放到立式光学计的工作台上。
2.将其中一块量块放到工作台中心，打开臂架制动螺钉，旋转臂架升降用螺母，将测帽对准量块的中心与其之间留下一点缝隙，然后观看目镜，继续调节臂架升降用螺母，直到有标准尺像出现，尽量调到零位，锁紧臂架制动螺钉，打拨叉。
3.打开微调臂架制动螺钉，旋转微调臂架升降用螺母，观察目镜，继续调零，然后锁紧微调臂架制动螺钉打拨叉，若与零位差的不多，则调节目镜上的分划板旋钮，然后继续打拨叉，反复几次，直到指针不动，指到零位。
4抬起拨叉，将量块取出，换上另一量块，观察目镜，不断打拨叉，知道指针不再移动，读数。
与两量块标称值差值作比较。
测帽的选择：
根据工件的形状，应选择与工件接触面尽量小的工作台和测帽。