能量色散型X射线荧光光谱仪 EDX-720型岛津
能量色散型X射线荧光光谱仪EDX-720操作指导书
操作流程 E 关机
1 结束
显示界面
图 16 2 5
3 4
操作说明
43、如果需要测试其它样品，重 复步骤 18~42。
44、所有测试完毕后，关闭除了 “EDX-主程序”外的所有窗口。 点击“EDX-主程序”窗口上的“维 护”，出现如图 4 窗口。点击“仪 器设置…”按钮，出现如图 2 窗 口。点击“启动/关闭”按钮，关 闭 X 光管。
B 保存测试图
选择测试曲 线
开始测试 测试完毕 制定标准
C
图8
图9 图 10 图 11
试规范》。
22、摆放好测试样品后，点击工 具列上的“ ”符号，出现 “Still Image Display”窗口。 此步骤是为了把现在的测试 样品的摆放情况用图片的形 式保存下来。
23、点击“Save As…”，为图片 命名，把图片保存在合适的地 方。
15、点击“开始”进行校正。校 正过程大约需要 10 分钟。
16、校正完毕后，关闭“仪器校 正”窗口，关闭“Maintenance （维护）”窗口。
17、此时回到“EDX-主程序”窗 口。
18、把需要测试的样品摆放在测 试孔上。可以放进专用测试容 器里的就放进测试容器里。不 可以放进去的尽量以与正面 成垂直的方式摆放。样品的具 体要求请参考《EDX-720 型荧 光光谱仪测试规范》。
35、点击“分析情报…”按钮， 出现如图 35 所示窗口。
36、点击“Layer1”，再点击“元 素信息…”按钮，出现如图 36 所 示窗口。
图 33
E 图 34
操作流程 E
设置 FP 定量 工作组参数
F
显示界面 图 35 图 36 图 37
操作说明
37、按照下表中的要求设置好各 项参数，设置好后点击“应用” 按钮。
便携式能量色散型x光荧光光谱仪(ED—XRF)
（ ３ ）ＨＲＤ Ｌ由于 电极系 结构 和工作模 式 与普通
［ ５ ］ 张庚骥 ， 汪涵 明．普通 电阻率测井 的数值模 式 匹配解 法 ＿ Ｊ ］ ．石油 大学 学报 ：自然科 学 版 ，１ ９ ９ ６ ，２ ０ （ ２ ） ：
２３ — ２９ ．
种 仪器测 井 曲线 的 幅度 差 异较 小 ， 对 该 地层 范 围均 有较 好 的适应 性 ， 且 ＨＲＤ Ｌ仪 器能够 发 挥纵 向高分
辨 率 的优 势 。
（ ５ ）在 Ｒ ／ Ｒ ＜１ ０的低 电阻 率地 层 ， ＨＲ ＤＬ受
极 系探测深度表征方法 ［ Ｊ ］ ．测井 技术 ，２ ０ １ ０ ，３ ５ （ 增
Ｓ ｒ 、 Ｔｈ 、 Ｕ、 Ｙ、 Ｚ ｎ和 Ｚ ｆ等示踪元 素。该公 司还开发 了相应 的转换方法将便携 式 Ｅ Ｄ － Ｘ Ｒ Ｆ的元 素测量数据转换 成岩石
样 品的 矿 物 组 分 ， 转 换 后 的数 据 与 实 验 室全 尺 寸 岩 心 Ｘ光 衍 射 仪 （ Ｘ Ｒ Ｄ： Ｘ － Ｒａ ｙＤ ｉ ｆ ｆ ｒ ａ ｃ ｔ ｉ ｏ ｎ ） 测量 结果具有较好 的对 比 性 。 沙 特 阿 莫 科 公 司 与 哈 里 伯 顿 公 司合 作 开展 了便 携 式 Ｅ Ｄ － Ｘ Ｒ Ｆ 的现 场 应 用 试 验 ， 并 将 相 同样 品 的 试 验 结 果 与 先 进 的 实 验 室能 量 色 散 型 Ｘ 光 荧 光 光 谱 仪 （ Ｅ Ｄ － Ｘ Ｒ Ｆ ） 和 波长 色 散 型 Ｘ 光 荧 光光 谱 仪 （ ＷＤ Ｘ Ｆ Ｒ： Ｗａ ｖ ｅ － ｌ ｅ ｎ ｇ ｔ ｈ Ｄｉ ｓ ｐ ｅ ｒ ｓ ｉ ｖ ｅ Ｘ －
［ ２ ］ 朱军 ，冯琳伟 ．高分辨率双 侧 向测井 响应数值模 拟分
岛津 岛津X射线荧光光谱仪
岛津多道同时型X射线荧光光谱仪
FACTORY LAB
MXF-2400
岛津同时型X射线荧光光谱仪部分用户
宝山钢铁公司技术部 鞍山钢铁公司 太原钢铁公司 中铝贵州分公司 中铝广西分公司 中铝山东铝业公司 中铝洛阳铜业公司 株洲冶炼厂 韶关冶炼厂 河南豫光金铅有限公司 冀东水泥有限公司 MXF-2300 MXF-2400 MXF-2300 MXF-2400 MXF-2400 MXF-2400 MXF-2100 MXF-2400 MXF-2400 MXF-2400 MXF-2400
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Œ³‘f
图象 分析
ˆÊ ’u ，在此位置上进行 ’è —Ê ・ 掕検暘愅丅
对巜掕区域中摿掕尦慺的X射线嫮搙 或娷検进行考察丅可以测定多种元素。
微区分析系统结构 [取得专利]
独自开发的特殊形状的滑动式視野限制准直管， 利用ｒ方向滑动与样品旋转控制的θ旋转，可 以在30mm直径内的任意位置进行分析。
采用真空度稳定器（专利）
•岛津专利设计， 保持光学室真空度 稳定 •提高检测重复性 ，特别是Al、Si、 C、B等轻元素的分 析精度
重元素的高灵敏度分析
彻底摒弃串级检测器！
高灵敏度分析
• 重元素(22Ti~92U): 1 4KW的高效率; 2 高性能SC检测器, 大尺寸LiF晶体 (Ti、As、Sn等元素的灵敏度比较传统 型提高二倍以上) 3 滤光片技术 (岛津特有的滤光片FP法)
标准基本参数法应用 - 匹配功能（种类判定）
4种匹配功能
决定不同的种类 未知样品与参考样品值比较决定是否是相同的种类 分级样品的种类
存储多种类元素的参考值和允许差以识别未知样品
决定样品的类型
存储多种类元素的含量范围以识别未知样品
岛津能量射线型荧光光谱仪说明书
岛津能量射散型荧光光谱仪EDX-700/800操作说明书(1/2)请在使用本仪器前仔细阅读本手册请保证该手册处于易于取得处，以便需要时可以及时参考（注：本翻译所用操作软件升级后的图形，可能与英文版说明书中图形有所不同，请注意）岛津制作所表面半导体事业部前言非常感谢您购买岛津能量射散荧光光谱仪。
这是一台使用X射线分析方法的能量射散荧光光谱仪。
通过使用EDX-700，你可以实现对非破坏样品的固体，粉末和液体样品从元素（11Na）到（92U）快速准确的定性和定量分析。
通过使用EDX-700，你可以实现对非破坏样品的固体，粉末和液体样品从元素（6C）到（92U）快速准确的定性和定量分析。
这台仪器提供了多种技术：真空技术，高压技术，精确处理技术和微机技术等等。
请阅读本手册来实现精确与快速的分析。
保证书非常感谢您购买岛津EDX-700光谱仪。
岛津公司对您购买的仪器有如下的保证。
1.保修期1）除了X光管以外的所有部件从接收到仪器后的12个月或仪器装船后的18个月。
2）X光管从接收到仪器后的6个月或仪器装船后的12个月。
2.保修在保修期内的任何故障，岛津都负责，并且在维修和更换零部件时不收费。
3.保修不包括以下条款维修不包括由以下原因所引起的故障。
1）误用。
2）除岛津公司和岛津授权的公司修理或更改。
3）由别的产品引起的故障。
4）在恶劣的环境下使用，使其遭受到高温，潮湿，腐蚀性气体，爆炸性气体，或震动。
5）火灾，地震或其它自然灾害。
6）在安装结束后，移动或运输该仪器。
7）消耗品或相当于消耗品的部件。
敬告用户（1）本手册的拷贝权属于岛津公司。
因此，在没有岛津公司的允许下，这个手册的任何部分不得翻印或拷贝。
（2）在没有预先的通知时，本手册的内容服从于改变。
（3）这本手册在编写的时候十分小心。
即使在本手册发现了疏忽，它也不可能立刻得到改正。
（4）岛津对不使用本手册产生的后果不负责任。
（5）岛津对不使用产品产生的后果不负责任。
能量色散型X射线荧光分析仪(元素光谱分析仪)设备操作说明书
設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析文件編號設備型號EDX-720 廠商版本A2一﹑功能鍵說明主機﹕用于放置待測物計算機﹕用于控制周邊設備。
打印機﹕用于列印相關數據二﹑操作說明1.機器連接﹕將主機電源線插入穩壓器110V輸出端﹔將穩壓器輸出線插入UPS輸入端充電﹔將計算機電源線插入UPS輸出端﹔將打印機電源線插入主機輸出110V端﹔列印機﹑主機﹑鍵盤﹑鼠標與主機相連既可。
核准審核製作日期UPS﹕斷電后提供穩定的電源給計算機﹐避免計算機資料丟失。
穩壓器﹕用于提供110V電源給主機并提供給UPS充電。
設備型號EDX-720 廠商版本A22.開機﹕2.1確認連線無誤后﹐將穩壓器電源開關撥向“ON”狀況﹐且穩壓器指針指在110V時﹐既可按下圖步驟開啟設備。
2.3.按下計算機桌面上的“EDX Sofrware”圖標﹐計算機即出現下圖對話框。
2.4.按下上圖中的“維護”圖標﹐計算機彈出如下畫面。
點擊下圖“儀器初始化”圖標﹐可以聽到快門和瀘光片動作聲音。
校正正常“儀器狀態欄”均顯示OK﹐表示校正成功。
核准審核製作日期設備型號EDX-720 廠商版本A22.5.按下上圖中的“儀器設置”圖標﹐計算機顯示儀器設置對話框如下畫面﹕按下下圖儀器設置對話框中的“執行啟動”圖標。
即對X光管進行預熱﹐此時需等待30分鐘。
以確保儀器工作于穩定狀態﹐否則測量值誤差大。
2.6.X光管預熱30分鐘后將樣品“A750”放入主機X光管窗口處﹐如下圖﹕2.7.點擊下圖“儀器校正”圖標﹐計算機顯示“儀器校正”對話框。
按下儀器校正對話框的“開始”圖標﹐儀器進行能量校正并顯示校正中﹐請稍等……核准審核製作日期設備型號EDX-720 廠商版本A22.8. 校正完成后﹐在“分析組別”內選擇定性/定量easy組別測試A750﹐以判定校正是否成功。
若測試結果中AL>85%﹐且測出了Sn﹑CU﹑說明儀器校正OK。
已可以測待測物。
EDX720仪器实验报告
实验报告EDX全称Energy Dispersive X-Ray Spectrometer，属于X射线荧光分析仪（XRF)的一种。
此仪器配置新型滤光片，Pb、Cd等的灵敏度比以往机型提高2倍，无需前处理，非破坏性，快速分析（1~5分钟）；可准确的定性分析，元素测定范围宽：11Na~92U；精确的定量分析，根据不同元素，可精确到：1.9PPM~3.7PPM;配备全自动开关的大样品室，适应固体、液体、粉体、光盘、薄膜等各种类型样品的检测。
实验名称EDX720仪器测样品实验样品内存卡芯片仪器介绍能量色散x荧光光谱仪EDX720以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足RoHS的成分检测的需要，人性化的设计，使测试工作更加轻松完成性能特点可自动切换准直器和滤光片专业RoHS检测内置信噪比增强器，可有效提高仪器信号处理能力25倍以上智能RoHS软件，专业开发，与仪器相得益彰任意多个可选择的分析和识别模型多变量非线性回收程序技术指标测量元素：从硫到铀等75 种元素元素含量分析范围：1ppm-99.99% RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限最高达1ppm 测量时间：60-300s 能量分辨率：150±5eV 管压：5-50 kV 管流：50-1000μA 温度范围：15-30℃电源：交流220V±5V （建议配置交流净化稳压电源）重量：60kg 自动选择滤光片多种准直器自动自由切换电制冷硅针半导体检测器加强金属元素感度分析器三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序任意多个可选择的分析和识别模型一次可同时分析24 个元素标准配置信噪比增强器自动切换准直器和滤光片，分别针对不同样品独特的光路增强系统，方便用户更好地观察样品测量RoHS，电镀镀层，全元素分析，一机多用电制冷硅针半导体检测器，摒弃液氮制冷特别开发测量软件，操作界面十分友好内置高清晰摄像头，方便用户随时检测样品精准的移动平台，更精确方便地调节样品位置高贵时尚的外型，带给您全新的视觉冲击样品腔尺寸：605mm×395mm×100mm 应用领域电子电器行业，电镀行业、各种材质，塑胶，木头，玻璃等等物质中的有害元素检测电镀行业检测。
EDX操作维护保养规程
能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX-720型）操作维护保养规程1 技术参数1.1主要技术参数1.1.1 测定范围11Na —92U1.1.2 X射线管 Rh靶1.1.3 电压 5-50KV（每步进1KV可调）1.1.4 电流 1-1000μA1.1.5 照射面积Ф1、3、5、10mm4种准直器自动变换1.1.6 1次滤光片 MoNi、Al、Ti、Ag、Mo5种自动变换1.1.7 检测器液氮制冷Si（Li）半导体检测器1.1.8 检测器能量分辨率 142.62eV1.2仪器原理试样中被测元素的原子受到高能辐射激发而引起外层电子的跃迁，同时发射出具有一定能量的X 射线，利用具有一定能量分辨率的X 射线探测器探测试样中被测元素所发出的各种能量特征X 射线，根据探测器输出信号的能量大小和强度来对被测元素进行定性和定量分析。
2 适用范围本规程适用于公司的能量色散型X射线荧光光谱仪的操作、维护和保养规则。
3 操作步骤3.1开机3.1.1使用前应首先检查能量色散型X射线荧光光谱仪（EDX-720型，以下简称EDX）内的液态氮容量，避免开机前或运行中液氮耗尽情况的出现；如果液氮是耗尽后补加，需要等待30分钟，使仪器的检测器充分冷却后进行下一步操作。
3.1.2接通外电源，迅速上推变压器电源开关，听到“咔嗒”一声变压器开始正常工作；然后开EDX电源。
仪器控制面板显示“POWER”、“SHUTTER CLOSE”和“LIQUID MODE”绿灯亮。
3.1.3 开启计算机，进入“EDX Software”主程序，关闭“分析”页面，打开“维护”, 再点击“初始化仪器”,待机器进行自身的初始化的所有项目均显示OK后，才可以启动X-ray。
3.1.4启动X-ray 点击“维护”中的“仪器设置”, 在预设置状态条件下，点击“执行启动”按钮。
仪器控制面板显示“POWER”、“SHUTTER CLOSE”和“REDAY”绿灯亮，“X-RAY”黄灯亮。
能量色散X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅,汞
能量色散 X射线荧光光谱法测定贵金属首饰中的铅 ,汞摘要：应用能量色散x荧光光谱法分析，采用基本参数法，较好地解决了样品的大小、光洁度、形状和成分等对检测结果的影响，检测仪的高性能较好地解决了黄金饰品纯度在环境和测量条件有较大改变时对检测结果的影响，并具有较好的精密度和准确度。
在能量色散X射线荧光光谱仪上对金首饰和铂首饰的空白标样进行检测，得出铅和汞的检出限。
本文阐述了用X射线荧光光谱法进行金首饰合金中铅、镉元素的检测。
同等条件下,对各种金合金样品进行铅、镉含量的分析测试,获得检测值。
结合仪器检出限,评估检测值的校正系数,给出判定结果,最后,本文对方法实验中的影响因素进行了讨论。
关键词能量色散X荧光光谱法；金首饰；铂首饰；铅；汞0 引言x射线荧光EDXRF光谱仪，采用si-PIN探测器并具有高稳定性、高精度、高分辨率、同时分析和基于Windows2000/XP的强大分析软件功能,建立起基本参数法数学校正模型，利用该方法对基体元素的吸收增强效应进行校正，同时由于在其浓度归一化的过程中能够消去测量面积和探测立体角项,因此具有校正样品测量面积和形状影响的能力。
通过标准样品实验验证和不同黄金饰品验证以及不同检测仪器和方法的比对，证明该方法对检测黄金饰品纯度具有较好的精密度和准确度。
本方法采用能量色散X射线荧光光谱仪测定贵金属饰品中铬、镉、汞、铅、镍元素的含量。
此方法所用的仪器能率低，对人体伤害小，且样品无需过多预处理，检测快速、准确且满足GB28480-2012中定量筛选的要求。
1 方法原理当原子受到X射线光子(原级X射线)或其他微观粒子的激发，使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层的电子跃迁到内层电子空位，并同时放射出次级X射线光子，此即X射线荧光。
较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差。
测量特征X射线能量及其强度，即可对样品进行定性和定量分析。
2 实验方法2.1 仪器与条件仪器：日本岛津EDX-720X射线荧光光谱仪；条件：温度20℃±5℃；相对湿度20%RH~80%RH；电源50~60Hz。
五金类ROHS检验规范
設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析設備型號EDX-720 廠商島津
文件編號版次A0
一．檢測設備﹕
圖1(EDX-720)
二．樣品檢測步驟﹕
步驟1：IQC從廠商每批送貨產品中取樣。
步驟2：將待測樣品放入樣品倉﹐測試部位置于主機X光管窗口處。
步驟3：調試直准器使樣品置于10mm測試范圍內。
步驟4：打開測試軟件，並點擊“分析”圖標。
步驟5：根據所測材料選擇合適的測試模式﹕定性—定量或定量，選擇﹕銅合金快速分析。
核准審核制作日期
設備名稱能量色散型X射线荧光分析仪設備功能金屬/塑料元素分析
設備型號EDX-720 廠商島津
文件編號版次A0
步驟6：選擇好分析組后﹐點擊確認﹐計算機彈出“樣品名稱”對話框﹐輸入樣品名稱﹑操作者等。
然后。
按“開始”健。
機器開始測試。
步驟7：測試完成后﹐樣品室上蓋自動開啟﹐計算機自動彈出測試結果，並自動保存如下圖。
步驟8：IQC 依測試結果，記錄於《QC檢驗結果報告表內》。
核准審核制作日期。
EDX-LE 能量色散X荧光光谱仪操作规范
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总页数 7
会 签 记 录 会签单位 ■体系办 □营业部 □物流部 □工程部 □制造部 ■品控部 □生技部 □财务部 □人力资源部 会签姓名 会签意见
核准
审核
制定
泓淋科技集团 HONG LIN
能量色散 X-ray荧光光谱仪 操作规范
文件编号: HLCL3-T00001 版本/次: 页 次: 日 期: A/0 3 OF 7 0
7.9EDX导轨加润滑油时间：理论半年/1次.（具体加油时间以操作员听到有噪音为 基准）. 7.10《ED-XRF判定标准》为参照《各客户环境管理物质管控标准》制作，并以此 作为ED-XRF筛选测试的判定标准. 7.11针对EDX测试验证项目内容的修订，在变更前需进行评估，待评估通过并修订 文件后方可进行更改，现场需依文件执行操作。
七、注意事项及故障排除： 7.1每天早上8点,须用A750标样对仪器进行校正,并将检查结果记录于《ED-XRF作业前检查记录表》. 7.2开机/每周/维修/异常确认时，需用7元素标样对仪器校正，并将 记录登记在《ED-XRF标样点检表》. 7.3每周一需对有卤/无卤拆解工具进行点检，并将记录登记在《拆解工具检测记录表》. 7.4当放置样品测试时,确认样品位置是否放置正确： ①微小物品需要放置在专用容器中 ②物品放置方法尽可能与十字线的竖线平行 ③物品居中.必要时用桌面“CCD”帮助观察. 7.5测量液体前先放置10分钟,确认液体对有机薄膜不破坏且薄膜没有老化再放入仪器内. 7.6校正机器拿取标样时,拇指与食指触摸标样的侧面,如标样有脏或有异物附着需用酒精 清洗后再使用.
岛津EDX720与EDX-GP、EDX-LE的比较
1. 扩展性差。腔体 为非真空设计 （检测范围为 ，没有 13Al-92U） 多样品转盘接 口；
价 格
USD 4.8 万 （标准配 置） ； RMB 36 万（标准配
USD 7.2 万（标准 配置） ； RMB 58 万（标准
USD 5.6 万（标准配 置） ； RMB 46 万（标准配 置， 4%关税和 17% 含 增值税） ； 交货期（现货交易） ；
缺 点
1. 腔 体 为 非 真 空 设计 （检测范围 为 13Al-92U） ， 没有多样 品转 盘接口；
1． 软件只是专业 化软件，不人 性化； 2． 样品仓自动开 合，但机械升 降装置故障率 高； 3． 没有内置变压 器和稳压器， 使客户多了采 购外设的成 本，也容易产 生接错线导致 仪器损坏的事 故发生；
1． 软件为智能化软 1. GP 和 LE 的软件加 入了智能化软件， 件+专业化软件， 一键式操作 2． 样品仓为气压杆 式，故障率低； 3． 内置了变压器和 稳压器，避免了 客户接错线导致 的仪器过压的问 题； 4． 主体部件采用了 和 EDX-720 一样 的部件（X 光管， 滤光片，准直器， 检测器） ，保证了 和 EDX-720 一致 的测试稳定性和 准确性； 完全的一键式操 作， 对电子企业非 常有用。 同时保留 了专业化软件， 无 论操作人员是新 手还是专业的， 都 可以完全应对； 2. 虽然 GP 和 LE 省略 了真空腔体设计， 但测试范围已经 足够满足现在 RoHS 和无卤素的 测试要求， 包括以 后 RoHS 的扩展元 素追加测试对电 子行业的测试应 用没有任何影响； 3. GP 和 LE 是在 720 面世后根据广大 的用户反馈的意 见重新精心设计 的产品，改正了 720 所固有的缺点 而保留了 720 的 测试方面的优点， 完全可以应对现 在和未来的测试 要求； 4. LE 是针对电子行 业 RoHS 和无卤素 分析所推出的一 款改良型仪器， 针 对性更强， 测试效 果更好； 5. 在 测 试 效 果 相 当 的情况下，LE 更 具有性价比；
各国光谱仪器品牌对比
XRF品牌1.美国Xenemetrix（能量色散）美国Xenemetrix在过去30年内一直是能量色散X射线荧光光谱分析方面的领先创新者，而X-Calibur更是Xenemetrix 多年经验与专业知识的顶峰设计，该仪器占地面积少、性能优越。
强大的50kV，50瓦特的X-Calibur能量色散X射线荧光光谱仪装在单机柜中并用于在工作台上运行。
Xenemetrix的强大nEXt软件平台提供有全定性、半定量以及定量分析能力。
这一软件平台是所有的Xenemetrix产品通用的。
2.荷兰帕纳科（panalytical)（能量色散&波长色散）荷兰帕纳科公司(PANalytical B.V.)前身是飞利浦公司分析仪器部。
于2002年9月18日根据英国思百吉集团（Spectris plc）与荷兰飞利浦电子集团之间的飞利浦分析仪器业务转让协议而成为思百吉集团旗下的专业分析仪器公司。
自上个世纪四十年代公司推出了世界上第一台X射线分析仪器，现已成为全球最大的X射线分析仪器生产厂家。
半个多世纪以来，公司一直领导着全球X射线分析仪器技术的发展，为其贡献了大量的创新与发明。
为分析工作者提供整体解决方案是我们的工作目标。
分享技术，共同推动X射线分析仪器技术的发展是我们一如既往的宗旨。
精工电子纳米科技，其前身为精工电子科学仪器事业部，主要生产Axios,Magix FAST,Venus 200,Cubix XRF, PW2830 XRF wafer Analyzer,Epsilon,minipal,semyos等。
3.日本精工（能量色散）分析·测量仪器设备等。
为适应公司业务需要，科学仪器事业部于2003年12月1日从精工电子独立，正式成立了精工电子纳米科技。
4.美国AmptekAmptek是一家成立于1977年的高科技公司，致力于设计并制造核检测仪表，在该领域处于世界领先水平。
公司产品广泛用于人造卫星、X射线与伽玛射线的探测、实验室、分析仪以及工业上的便携式检测仪器。
能量色散x射线荧光光谱仪能量分辨率
能量色散x射线荧光光谱仪（EDXRF）是一种常用于分析材料成分的仪器。
其能量分辨率是衡量其性能优劣的重要指标之一。
下面我们将从以下几个方面来详细介绍EDXRF的能量分辨率。
一、能量分辨率的定义能量分辨率是用来描述仪器在测量样品时能够分辨出能量差异的能力。
在EDXRF中，能量分辨率通常指的是在接收x射线信号时，系统能够准确测量出相邻两个能量峰之间的能量差异程度。
能量分辨率越高，表示仪器能够更准确地分辨出样品中不同元素的成分，提高了分析的精度和可靠性。
二、影响能量分辨率的因素1. 探测器性能：EDXRF仪器中常用于探测x射线的探测器有Si-PIN探测器和硅漂移探测器等，探测器的能量分辨率直接影响了整个系统的性能。
探测器本身的能量分辨率越高，整个系统测量的能量分辨率也会相应提高。
2. 探测器冷却系统：探测器在测量过程中会产生一定的热量，如果没有有效的冷却系统来控制探测器温度，会影响探测器的性能，从而影响整个系统的能量分辨率。
3. 信号处理电子学：EDXRF系统中的信号处理电子学部分对于提高能量分辨率也起着至关重要的作用。
优质的信号处理电子学可以有效减小系统本身的噪音，提高信号的稳定性和准确性。
1. 选择优质的探测器：在购物EDXRF仪器时，应选择具有高能量分辨率的探测器，如硅漂移探测器。
2. 合理设计冷却系统：在安装EDXRF仪器时，应合理设计并严格控制探测器的冷却系统，确保探测器的温度稳定在合适的范围内。
3. 优化信号处理电子学：在仪器的使用过程中，可以对信号处理电子学进行适当的优化和调整，以确保信号的稳定和准确。
四、高能量分辨率的意义EDXRF仪器的能量分辨率是衡量其性能优劣的一个重要指标。
具有高能量分辨率的EDXRF仪器能够更准确地分辨出样品中不同元素的成分，提高分析的精度和可靠性。
特别是对于一些在样品中含量较低的元素，高能量分辨率的仪器往往能够得到更为准确的分析结果。
能量色散x射线荧光光谱仪的能量分辨率是影响其分析性能的重要因素之一。
EDX720(中文)-1
Pb EDX-700HS2 EDX-720
Cd EDX-700HS2 EDX-720
EDX-720の特長 の
硬件方面（ ）～两硬件组合使用使检测灵敏度大大提高～ ）～两硬件 检测灵敏度大大提高 硬件方面（3）～两硬件组合使用使检测灵敏度大大提高～ 与过去机型检测灵敏度的比较 去机型检测灵敏度的比较 检测灵敏度的比
岛津最新能量色散型X射线荧光分析 线荧光分析 装置登场 装置登场
EDXEDX-720介绍
分析计测事业部 分析计测事 计测
X线/表面ビジネスユニット课 ビジネスユニット课 表面ビジネスユニット
能量色散型X 线荧光分析装置的特 能量色散型X射线荧光分析装置的特长 光分析装置的特长 无需前 非破坏･ 无需前处理,非破坏･迅速分析 分～5分） 非破坏 迅速分析(1分 分 定的元素范围 的全部元素 测定的元素范围广（ 从Na～U的全部元素） ～ 的全部元素） 定的浓度范围 测定的浓度范围广（ 从数 ppm～100 ％） ～ 可定性分析 行无标样简 标样简易分析 可进行无标样简易分析 可用标样对 标样对被 可用标样对被测物进行精密定量分析 近年来被广泛应用的膜厚测定法 近年来被广泛应用的膜厚测定法 可在大气环境下进 可在大气环境下进行测定 全元素同 可对全元素同时进行测定 外型小巧,电压为 Ｖ电源 电压为100Ｖ 外型小巧 电压为
No.
岛津 X 射线萤光分析仪 (XRF) 规格说明
1.
偵測器型式
Si(Li)檢測器
2. 3.
解析度 最小分析尺寸
150eV 或更低 1mm 1.铅（Pb）2.9 ppm 2.镉（Cd）:2.5 ppm PVC & PE 3.汞（Hg）:4.2 ppm 4.铬（Cr）:10.9 ppm 5.溴（Br）:1.2 ppm 鋁合金 1.铅（Pb）:3.3 ppm 2.镉（Cd）:2.2 ppm 1.铅（Pb）:35.5 ppm C PVC (1) 他牌在 PE 与 PV 低浓度检测有害物 质具有意义，而在 高浓度或成分不单 一物质中做检测时 数据仅供参考！例 Cu、 如在金属比如： Al 中侦测有害物质 ”。 ND” 能力为”ND (2) 在未说明侦测物质 的基材与成分而給 出做浓度侦测极限 的數據是不可信 無鉛焊錫 铅（pb）:24.8 ppm 的，毫无实际意义！ 因為不同基材的檢 出下限是不同的。 无卤素 氯（Cl）:23ppm 完全应对无卤检测要求
直接激发 新式 X-ray tube / 平行光输出 X-ray Rh 靶材 对应不同的輕、重元素要选择不同的 电压来激发。(針對不同的元素使用不
4.
輸出管電壓
5KV-50 KV,可做 1KV 多段任意選擇
同的電壓和電流來突顯被測物的有害 元素的實際含量) 。
5.
輸出管電流
共 6 种) Al(P〜Cr,Zr〜Nd) Ti(Cr〜Zn,Pm〜Re)
6.
濾光器 (Primary Filter)
Zr(Tc〜Ba) Mo（Pd〜Ba) Ni(Zn～Mo,Re～U)
岛津EDX-720能量色散型X射线荧光分析仪操作步骤指南
第1步：按顺序开启EDX-700HS 电源开关，启动电脑主机开关， 电脑显示屏按扭 ，出现“EDX-Software ”画面（如左图）， 关闭“分析”菜单。
第2步：单击“维护”图标， 单击“初始化仪器”（对仪器进行初始化）,等待数分钟，图示2中所有项目显示OK ， 进行下一步操作。
第3步：单击“仪器设置”， 单击右下角“执行设置”图标， 查看EDX-700HS设备“X-RAY ”灯已亮，等待30分钟进行下一步操作。
第4步：单击“仪器校正”， ①在“能量/半峰宽FWHM 校正”框中点击“是”，放置A750标样 ，单击“开始”，设备进行标样校正。
第5步：单击“分析”窗口， 单击分析组“分析组别”， 选择点击“定性半定量”项目， 选择“SUS ”， 单击“确认”，输入样品名称，单击“确认”，单击“开始”。
测试完成后，结果如果在下记范围内（Fe ：68~72％,Cr:17~19%,Ni:7~9%）则可以进入下一个步骤，否则必须进行步骤四。
第6步：放置好样品后，单击“分二析”窗口， 单击 “分析组别”， 选择“定量”或“定性半定量”项目， 选择“某某”组别， 单击“确认”，输入样品名称，单击“确认”，单击“开始”。
第7步：测试完成后，放置好下一个样品， 方法同上 第8步：数据查找：单击“数据” 在“数据”栏目中选择相对应的“定量”或“定性半定量”， 查找已测量样品的数据。
第9步：关机顺序：首先关闭X-RAY 光管, 点击“维护”菜单，①在“仪器设置”栏中点击“Off”， ②单击“执行启动/关闭”， 等待完成后关闭窗口。
再按顺序将电脑主机 、显示屏、 打印机电源关上等待10分钟关闭EDX-700HS 电源。
岛津EDX-720能量色散型X 射线荧光分析仪操作步骤指南注意事项：1. 检查仪器液氮容器内是否有液氮，液氮温度-196℃，加入液氮时要小心轻拿轻放，以防止液氮飞溅到皮肤上而被冻伤。
2. 注意EDX-720主机的电源为100V,其它相关设 备为 220V 。
EDX-720
1.3）RoHS元素的检测：
Pb、Hg、Cd三种元素的测试：
1）Pb、Hg、Cd一般使用ICP、XRF进行检测； 2）ICP、XRF检测仪共同点是：a.都是发射光谱仪；b.都是 用来检测元素的； 3） ICP、XRF检测仪不同点如下：
仪器 精度 操作要求 样品 检测速度 检测（限）范围
ICP
XRF
200K左右。因此，如果测试Br含量为100K有必要送实
验室确认。 4）总Br中含有多种Br化合物，总Br超标并不代表PBB和 PBDE超标。
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1.4）附：RoHS元素检测方法及参照标准
物质分类 可能含有的材料 确认的方法 参照标准 样品处理标准： EN1122：2001 分析方法： ISO 3856-4：1984； ISO 11885：1996
以 硫 元 素 为 例
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8）EDX怎样检测出各元素及其含量？
Kα
+
K
-
-
-
K
L
Kβ
M
N
L M
PbKα=80Kev FeKα=7Kev CuKα=8.04Kev PbKβ= PbLα=10.55Kev PbLβ=12.61Kev Lβ Lα
精确
复杂、பைடு நூலகம்业
液态样品
固态样品
慢
快
2PPM 一般为10PPM左右， 有些元素可精确到 3~4PPM
相对较差 简单、要求低
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X射线荧光光谱法检测银首饰合金中的铅含量
X射线荧光光谱法检测银首饰合金中的铅含量黄国芳;金俊;吴奕阳;许雅【摘要】This paper introduces the determination of lead(Pb) in silver alloy by XRF(X-ray fluorescence spectrometry).Using the blank materials of different types of silver alloy, we obtain LOD(the limit of detection) of Pb separately by WDXRF and EDXRF. Under the same conditions, we test the samples and get the contents of Pb. Combined with the LOD, estimating the uncertainty of the results, we make the determination of Pb. Compared with the results of ICP method, XRF method is proved available. On the end of this paper, the factors that may influence the result are discussed.%阐述应用X射线荧光光谱法（XRF法）检测银首饰合金中的铅元素。
针对不同纯度银合金的工作标样，分别利用波长色散X荧光光谱仪和能量色散X荧光光谱仪对银合金空白工作标样进行实验，从而获得铅元素的检出限。
在同等条件下，对各种银合金样品进行铅含量的分析测试以获得检测值。
结合仪器检出限，评估检测值的校正系数，给出判定结果，与ICP法验证实验分析判定结果进行比较，证明XRF方法可行。
分析讨论可能影响检测的因素。