轴类UT探伤工艺卡

轴类UT探伤工艺卡

试件名称：轴材料类型：锻件检测技术：纵波垂直入射法检测时机：圆钢抽检＋精车后100％UT 检测灵敏度：￠2

检测标准：QW/GSZA/ZQ2-2009(锻件部分) 探头规格：P2.5 ￠20

耦合剂：机油最大扫查速度：≦150mm/s 探头覆盖率：≧15％轴分类：B类，销轴，从动车轮轴等承载剪切应力轴类。

D类，传动轴，输出轴，输入轴，联轴器，主动车轮

轴等承载弯扭应力轴类。

分区：B类自外圆起向内1/3R(半径)的区域为Ⅰ区,其余为Ⅱ区。

D类自外圆起向内到1/2R（半径）之区域为Ⅰ区，其余

为Ⅱ区。

扫查方式：以外圈直线扫查加沿机加工走刀弧线扫查，Ⅰ区发现缺陷可选用小直径单晶直探头进行定位定量扫查；以端面扫

查为辅，端面网络扫查加沿机加工走刀弧形扫查。长/径≦

3mm，外圈与端面同为主扫查面。6mm≧长径﹥3mm，外圈

为主扫查面，端面为扫查面。长径﹥6mm，外圈为主探方向，

端面视情况一般可不扫查。

标记与记录：Ⅰ区发现可记录缺陷必须定量定位精确标记，以便后道工序清除或避让。

（1）单个缺陷记录：

（a）记录Ⅰ区当量直径超过￠1mm，单个缺陷的波幅和位置

（b）记录Ⅰ区当量直径超过￠2mm，单个缺陷的波幅和位置

（2）记录密集缺陷中最大当量缺陷的位置和缺陷分布，密集区面积以50mm×50mm的方块作为最小量度单位，其边界由6db法决定。

(a)记录Ⅰ区当量0.8mm﹤￠≦1mm的密集缺陷

(b)记录Ⅱ区当量1mm﹤￠≦2mm的密集缺陷。

（3）底波降低量记录。

验收要求：

B类：Ⅰ区结果符合下列所有条件者为合格

（1）单个缺陷当量≦4mm;

（2）密集缺陷当量≦1mm

（3）密集缺陷面积≦4％

Ⅱ区符合下列所有条件者为合格

（1）密集缺陷面积≦4％

（2）密集缺陷当量≦2mm

（3）BG/BF≦12dB

（4）单个缺陷当量(D≦100mm) ≦4mm

（100mm≦D≦300mm）≦6mm

(D﹥300mm)≦8mm

D类：Ⅰ区结果符合下列所有条件者为合格

（1）单个缺陷当量≦2mm；

（2）密集缺陷当量≦1mm；

（3）密集缺陷面积≦2％

（4）不存在线状缺陷。

Ⅱ区符合下列所有条件者为合格

（1）密集缺陷面积≦2％（间隔≧120mm）

（2）密集缺陷当量≦1mm

(3)BG/BF﹤6dB

(4)单个缺陷当量(D≦100mm) ≦4mm

(100mm﹤D≦300mm) ≦6mm

(D﹥300mm) ≦8mm