嵌入式测试方案及高速测试技术
IDDQ测试原理及方法
电流测试1 电流测试简介功能测试是基于逻辑电平的故障检测，逻辑电平值通过测量原始输出的电压来确定，因此功能测试实际上是电压测试。
电压测试对于检测固定型故障特别是双极型工艺中的固定型故障是有效的，但对于检测CMOS 工艺中的其他类型故障则显得有些不足，而这些故障类型在CMOS 电路测试中是常见的对于较大电路，电压测试由于测试图形的生成相当复杂且较长，因而电流测试方法被提出来电流测试的测试集相当短，这种测试方式对于固定型故障也有效。
CMOS 电路具有低功耗的优点，静态条件下由泄漏电流引起的功耗可以忽略，仅表示，Q 代表静态在转换期间电路从电源消耗较大的电流。
电源电压用VDD（quiescent) ，则IDDQ 可用来表示MOS电路静态时从电源获取的电流，对此电流的测试称为IDDQ 测试，这是一种应用前景广泛的测试。
IDDQ 测试概念的提出时间并不很长，但自半导体器件问世以来，基于电流的测量一直是测试元器件的一种方法，这种方法即所谓的IDDQ 测试，用在常见的短接故障检测中。
自从Wanlsaa 于1961 年提出CMOS 概念, 1968 年RCA 制造出第一块CMOS IC 和1974 年制造出第一块MOS 微处理器以来，科研人员一直研究CMOS 电路的测试，而静态电流测试则作为一项主要的参数测量1975 年Nelson 提出了IDDQ 测试的概念和报告，1981 年M.W Levi 首次发表了关于VLSI CMOS 的测试论文，这就是IDDQ 测试研究的开端。
其后，IDDQ 测试用来检测分析各种DM0S 缺陷，包括桥接故障和固定型故障1988 年W.Maly 首次发表了关于电流测试的论文, Levi, Malaiya, C.Crapuchettes, M.Patyra , A .Welbers 和S.Roy 等也率先进行了片内电流测试的研究开发工作，这些研究奠定了IDDQ 测试的基础、1981 年Philips semiconductor 开始在SRAM 产品测试中采用片内IDDQ 检测单元，其后许多公司把片内IDDQ 检测单元用在ASIC产品中，但早期的IDDQ 测试基本上只为政府、军工资助的部门或项目所应用。
基于TEmb和V模型的嵌入式软件测试方案
境 和开发 平 台等 。 通用 元素是 所有 结构化 测试过 程 的基础 ．而结 构化 测试包 含 四个通用 元素 ：
集成 测试
１ 生命 周 期 （ ｉ ｃｃｅ 它定 义必 须进 行 哪些 活 ． Ｌｆ ｙｌ） ｅ
动 以及 按照 什么顺 序来 执行 。 ２ 技术 （ ｅｈ ｉｕ ） ． Ｔ ｃ ｎｑ ｅ 它解 决 的是 如何 做 的 问题 ， 通 过制 定 出标 准化方 法来 执行特 定 的活动 。
‘ 一
图 １ ｒ ｍｂ 方 法 概 览 ｅ
的 ，而在 实际开 发工作 中 ，每个 阶段都 是彼此 交互
的 ， 没有严 格 的区分 。 而
需求分 析
入式 系统 ．根据 所完
成 的功 能不 同 ， 而采 取 的相 对应 的具体 测试 工具 ， 环
型 和最 终产 品 ） 遵 循 一个 完 整 的 Ｖ 型开 发 周 期 ． 都
包 括设 计 、 发 和 测 试 活动 。在 设 计 、 开 开发 和测 试
活 动 的 任何 一 个 环 节 ，都要 考 虑 以上 四个 通 用 元 素 。即嵌 入式 软 件 开发 测试 过 程 ， 乎都 采 用此 模 几 型 ． 本 文 利 用 Ｔ ｍｂ方 法 的 思 想 ． Ｖ模 型 的各 故 Ｅ 从 个 阶段 提 取 通用 元 素 ．但 是 传 统 的 Ｖ模 型在 集 开
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谚
＝ ：＝ ｌ 兰 ：
特 定方 法
２ ７２ ０１ ０
．
测试 是 存 在 于整 个 软件 开 发 的过 程 中 的 ． Ｖ模 型 中
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Ⅱ 》
专用 的测试 方法
的 各个 开 发 测 试 阶 段 都 是 以 独立 的方 式体 现 出来
巧妙测试嵌入式USB2.0主机接口信号质量-基础电子
巧妙测试嵌入式USB2.0主机接口信号质量-基础电子摘要: 本文主要讨论了某款嵌入式产品中USB2.0主机接口的眼图测试。
通过一个测试展开了对USB2.0测试机理的探讨，对后续的嵌入式产品USB2.0主机测试有一定的参考意义。
在高速串行技术如此广泛应用的今天，简单易用的USB堪称是PC平台上成功的I/O技术，普及率几乎100％。
而且随着终端用户对于高速USB设备应用需求的不断增加，越来越多的嵌入式通信类终端产品开始增加了USB2.0主机接口的设计以满足客户的应用需求。
成熟的应用技术由PC平台转向嵌入式平台的已经成为一种趋势。
为了满足USB2.0一致性应用的需求，所有的USB2.0设计都必须满足USB IF发布的USB2.0物理层一致性测试要求。
相对于比较成熟的PC平台USB2.0 主机测试技术而言，基于通信类终端的嵌入式USB2.0 主机的测试面临更多的挑战。
特别是进行二次开发的应用厂商而言，如何满足USB2.0物理层一致性测试要求，很大程度上需要原厂在测试模式以及测试封包方面提供更多的支持。
但应用需求的多样化导致了许多设计架构脱离了原厂的测试状态机控制范畴，问题接踵而来。
嵌入式USB2.0主机测试具体过程本文中的USB控制主机采用某大型通讯类方案提供商的IAD 解决方案，片内集成一个USB2.0控制器，然后通过一个USB HUB中继对外提供２个高速主机接口。
所选用的测试设备如表1所示。
表1：嵌入式USB 2.0主机测试所采用的测试设备测试中出现的问题本次测试将主要验证产品上两个USB高速主机接口的眼图。
对于USB2.0物理层的眼图测试，USB IF在USB2.0 SPEC中有着明确的眼图，模板定义如图2所示。
F1: DUT_USB2.0功能框图F2: 传输信号波形模版关于USB高速主机眼图测试的测试方法，USB IF在USB2.0 SPEC中也有清晰的定义，USB2.0主机控制器必须支持规定的测试模式。
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混 合信号 示波器是 在普通 示波器
品， 从家庭 中使用 的 电子时钟 、 数控 电
熨 斗、 温控 咖啡壶 ， 以及 ＭＰ ３播 放器 、
线 ，对 于嵌 入式系统 和混 合信号 调试 上 增加 了 １ ６条逻 辑通道 ， 有的操作 所
方面 也有很 多 的解 决方 案，包括对 于 和 示波器 基本类似 。混 合信 号示 波器 复杂 系统调 试 的逻 辑分 析仪 ，以及 带 之 所 以能够成 为嵌入式 调试 的首 选工 有示波 器模 块 的逻 辑分析 仪 。此外 泰 具 ， 因为其操 作和设置 简单， 能指标 性
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试多条总线 是远远 不够 的。 针对这样 的 用起来， 帮助工程师快速地检索波形。
世 界 电 子 元 器 件 ２ ０７１ ｇｅ ｅ ０ ．１ ｃ．ｃｃｎｃ ｎ ．ｏｒ
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另外 ，Ｍ Ｏ４ ０ Ｓ ０ ０系列里标配了 １ ６通道 电路 设计 中面 临的 问题 ，由于信 号布
最小毛刺脉冲宽度可 以做到 １ ｎ 。 ． ｓ ５ 大部 分的测试需求 ； 此外 ， 由于 工程师 率， 对示 波器熟 悉， 比较 相信示 波器 的测 此 外泰 克还 提供 了模拟和 数字通道 间 量结果 。
还会包含 嵌入 式 Ｃ Ｕ调 试，电源调 试 Ｐ
也 日益 成为一 个重要 因素 ，很 多便携
嵌入式软件测试工具
高性能嵌入式软件测试工具—— CodeTEST作为全球第一台专为嵌入式系统软件测试而设计的工具套件，CodeTEST为追踪嵌入式应用程序，分析软件性能，测试软件的覆盖率以及存储器的动态分配等提供了一个实时在线的高效解决方案。
CodeTEST同时还是一个可共享的网络工具，它将给整个开发和测试团队带来高品质的测试手段。
CodeTEST能同时测试出软件的性能，代码覆盖率以及存储器动态分配，捕获函数的每一次运行，无论是在检测一个局部的软件模块还是整个软件系统测试，工程师只须简单地将CodeTEST的仿真探头(probe)连接到目标系统的处理器、总线或接头上，预处理待测的源程序，启动CodeTEST，运行测试处理软件，测试结果即可在测试进行过程中或在测试结束后随时翻阅。
CodeTEST可同时监视整个应用程序，避免了选择程序的哪部分来进行观测以及如何配置相应工具对各部分进行测试时而带来的麻烦，即便是在程序超出高速缓存(cache)或被动态再分配时，CodeTEST仍能生成可靠的追踪及测试结果。
CodeTEST采用了专利--插桩技术为嵌入式开发者设计了高性能的测试工具 CodeTEST系列产品包括三种嵌入式软件测试和分析工具：a. CodeTEST Nativeb. CodeTESTSoftware-In-Circuitc. CodeTEST Hardware-In-Circuit。
其中每一种工具代表了嵌入式系统开发的每一个周期的不同开发阶段CodeTEST系统软件包括以下四个模块:a) 性能分析（Performance）：CodeTEST 能够同时对多达128000个函数进行非采样性测试，精确计算出每个函数或任务（基于RTOS 下）的执行时间或间隔，并能够列出其最大和最小的执行时间。
对于每两个函数或任务之间的调用也能够计数，从而确认出其中失败的调用和调用次数。
CodeTEST的性能分析功能也能够为嵌入式应用程序的优化提供依据，使软件工程师可以有针对性地优化某些关键性的函数或模块，以及改善整个软件的总体性能。
力科推出UART、RS232和LIN触发和解码功能扩大嵌入式测试解决方案
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大多 数嵌入式 系统包 括各种 各样 的不 同外 设 ，微控 制器 和这
些 外设之 间正确通信至 关重要 。为帮助设 计和调试这些 通信 线路 ，
Ｗａ ｅ ｕ ｎｒＸ 和 Ｗａｅ ｕｆｒＸｓ混合信号 示波器为各种协议提供 ｖ Ｒ ｎ ｅ ｉ ｖＳ ｒ ｅ 了串行数据触发和解码解决方案 。 ＵＡ Ｔ和 Ｒ ２ ２ Ｒ Ｓ ３ 解决 方案可 以同时触发 和解码 Ｒ ２ ２ 号和 Ｓ３ 信
（ 科 公 司 供稿 ） 力
安捷伦设计验证部总经理 ＪｙＡ ｅ ａｄ ｒ 出 ：“ ａ ｌｘ ｎｅ 指 工程师需要拥 有能够 应对今天复杂设计挑战 的工 具。新的 Ａｇｌｎ ５ ０ ｉ ｔ ０ ０系列示波 ｅ 器 以深存储器 、高 分辨 率显示 系统和 优异 的波形捕 获率 满足 工程 师 的需 要 。不 仅帮 助工程 师在 产品交 付客 户前找到 设计 瑕疵 ，同 时也提高了 自身的生产能 力。 ” 安捷 伦 网络 和数 字 解 决 方 案事 业 部 副总 裁 兼 总 经理 Ｄａ ｉ ｖｄ Ｃ ｕｃｉ 说 ：“ ｈ ｒｈｌ ｌ 这一通 用便携式 示波器市场段 在过去 ８年中很少看 到技术 创新 。安捷 伦在最 近几 年示波 器上 的创新使 它成 为这 一领 域 连续 ６年增 长最 Ｉ 央的示波器厂商 ［ 资料来源 ：Ｐｉ Ｄａ ］ ｒ ｍｅ ｔ 。Ａｇ— ａ ｉ ｌｎ ０ ０系列为庞大的市场提供科技创新 ，这也 为安 捷伦 创造了广 ｅｔ ０ ５ 阔的发 展空问 。 ” 为更便于客户使用 ，Ａ ｉ ｎ ０ ０系列 示波器也集成了全套外 ｇｌ ｔ ０ ｅ ５ 围接 口，而且这些接 口都是标准配置 ，包括 前后面板 的 Ｕ Ｂ端 口 、 Ｓ
一
深度 ，２６ ５ 级辉度的高清 晰显 示和极具竞 争力的价格为全球 示波器
嵌入式系统软件测试及测试案例开发
嵌入式系统软件测试及测试案例开发测试是传统软件开发的最后一步。
整个软件开发过程，需要收集要求、进行高层次的设计、详细设计、创建代码、进行部分单元测试，然后集成，最后才开始最终测试。
最佳的开发实践应包含代码检查这个步骤。
然而代码检查一般只能找出70%的系统错误，因此完美的测试环节绝对必不可少。
测试就像个复式记帐系统，可以确保将缺陷扼杀在最终推出的产品之前。
在所有其它的工程实践中，测试都被视为基本环节。
比如，在美国，每一座联邦政府出资修建的桥都必须经过大量的风洞测试。
而在软件领域，测试并没有很受重视。
尽管测试是所有工程实践准则的关键部分，但编写测试程序却感觉是在浪费时间。
好在嵌入式系统设计界内的许多领域已经将测试作为其工作的核心部分，他们认识到将这个关键步骤放在项目末期极不明智，因而主张同步地编写测试程序和应用程序。
嵌入式系统软件测试在诸多方面都与应用软件测试一样。
不过，应用测试与嵌入式系统测试之间还是存在一些重要差异。
嵌入式开发人员一般会用到基于硬件的测试工具，而这类工具通常不会用于应用开发过程中。
此外，嵌入式系统一般都有些独一无二的特性，这些特性应该在测试计划中得以体现。
本文将介绍测试和测试案例开发的基础知识，并指出整个嵌入式系统测试工作的特有细节。
何时测试以及如何测试从图1可以看出，在可行的条件下，测试应尽早展开。
一般来讲，最早的测试是由最初的开发人员进行的模块或单元测试。
遗憾的是，开发人员大多对如何建构一整套测试例程以进行测试所知不足。
由于精心设计的测试例程通常直到集成测试时才能使用，因此许多在单元测试过程中就能找出的缺陷直到集成测试时才会被发现。
比如，硅谷的一家大型网络设备厂商为找出其软件集成问题的关键原因，进行了一项研究。
这家厂商发现，在项目集成阶段找出的缺陷中，有70%是由在集成之前从没被执行过的程序所产生的。
图1：改正问题的成本。
单元测试：开发人员在单独进行模块级测试时一般是编写存根代码（stub code）取代余下的系统软硬件。
嵌入式软件测试技术与方法
摘
要 ：随着 电子信 息技 术的 不 断发展 ，嵌 入 式 系统 得 到 广 泛 的应 用 ，硬 件 的规 格 和 复 杂度 不
断提 高，软件代码 日益复杂，系统的高可靠性要求给软件测试 工作 带来 了挑 战。针对此特点本
文介 绍 了如 何在 嵌入 式软件 的 生命 周 期 内对嵌入 式软件 进行 全 面测试 的技 术与 方法 。 关键 词 ：软 件测 试 ；嵌 人式 软件 ；覆盖 分 析 ；内存泄露
０ 引 言
随着电子信息技术的不断发展， 嵌入式 系统在 航空 航 天 、 工业 控 制 、 医疗 器 械 、 通讯设备、 汽车、 智 能家 电等领域 得到 广 泛 的应 用 ， 硬 件 系 统 的规 模 和 复杂度不断提高， 软件代码 日 益复杂 ， 系统一旦失效 会 给人 们 的生产 和生 活造 成 很 大 的损 失 ， 甚 至 威 胁
相对于传统软件除了功能、 性能 ， 可靠性是嵌入式软
件测 试必须 考 虑 的 问题 。相 似 的功 能 要求 、 相 似 的 软硬 件 ， 在 不 同的运行 环境下 ， 会有 不 同的可靠 性设 计要 求 。例 如 ， 定位系统 ， 用在 载 人 航天 对 接 上 ， 如 果 出错不仅 会导 致对 接 的失 败 ， 甚 至会 威胁 航 天 员
到人 的 生命 安 全 。因 此 为 了保 障 系 统 正 常稳 定 运
时候 需要 投入 大量 的精 力 ， 有 时甚 至在 市 场上 很 难 找 到适应 的测 试工 具 ， 这 种情 况 下 就需 要 自己进 行
工具 开发 。针 对这 样 的情 况 ， 在 进 行测 试 的 时候 要
合理 安排 测试 环境 ， 一 定 要在 开 发 环境 下 进行 充 分 的测 试后 ， 再 移 植 到 目标 环 境 下 进行 最 终 的 确 认 。
《嵌入式软件测试》课件
嵌入式软件测试的重要性
确保功能正确性
通过测试验证嵌入式软件是否满足设计要求 和用户需求。
提高软件质量
及时发现并修复缺陷，降低软件故障风险。
保障安全性和可靠性
防止因软件故障导致的硬件损坏或安全事故 。
嵌入式软件测试的挑战与解决方案
轻量级测试工具
适用于资源受限环境，如静态 代码分析工具。
灰盒测试
介于白盒和黑盒之间，关注输 入/输出和内部结构。
测试工具
回归测试可以使用各种自动化测试工 具和框架，如TestNG、JUnit等。
03
嵌入式软件测试工具
静态代码分析工具
总结词
通过分析源代码或编译后的目标代码，找出潜在的编码错误、风格问题和安全 漏洞。
详细描述
静态代码分析工具在代码编写阶段就能发现潜在问题，有助于提高代码质量和 减少运行时错误。常见的静态代码分析工具包括Cppcheck、SonarQube等。
测试方法
白盒测试、黑盒测试、灰盒测试等。
测试工具
针对不同开发环境和编程语言，有各种单 元测试框架和工具，如JUnit、TestNG、 CxxTest等。
集成测试
总结词
对嵌入式软件中多个模块或功 能进行集成后的测试
详细描述
集成测试是在单元测试的基础 上，将多个模块或功能进行集 成，检查它们之间的协调性和 整体性能。
测试方法
集成测试可以采用自底向上或 自顶向下的方式进行，确保模 块之间的接口正确、数据传输 无误。
测试工具
集成测试可以使用各种自动化 测试工具和框架，如TestLink、
Jira等。
系统测试
总结词
对整个嵌入式软件系统进行全面的测试
详细描述
工业自动化中的嵌入式软件开发与应用技术
嵌入式系统具有高度的专业化和针对 性，通常具有实时性、可靠性和低功 耗等特点。
嵌入式系统的重要性
提高生产效率
嵌入式系统能够自动化地控制生产过程， 减少人工干预，提高生产效率。
提升产品质量
通过精确的控制和监测，嵌入式系统能够 提高产品的质量和一致性。
创新应用
嵌入式系统在医疗、交通、航空航天等领 域的应用，推动了这些领域的创新发展。
嵌入式系统的开源与商业化发展
开源技术为嵌入式系统开发提供了丰富的软件资源和开发工具，降低了开发成本和门槛，促进了技术 的快速迭代和创新。
商业化发展使得嵌入式系统更加注重用户体验和产品化，推动了技术的普及和应用，加速了市场的竞争 和发展。
开源与商业化发展的结合将有助于形成良性发展的生态系统，促进嵌入式系统的可持续发展和创新。
嵌入式数据库技术
嵌入式数据库技术是用于存储和管理数据的重要工具，它可以在嵌入式系统中提供 高效、可靠的数据存储和管理功能。
常见的嵌入式数据库有SQLite、Berkeley DB等，它们具有轻量级、高效、可靠和 安全等特点。
嵌入式数据库的选择需要考虑数据存储需求、系统资源限制和性能要求等因素。
嵌入式网络技术
时监控和预警系统等。
数据安全问题
总结词
数据安全是嵌入式系统在工业自动化中面临的另一个重要挑战，涉及到敏感信息的保护和防止恶意攻 击。
详细描述
工业自动化中的嵌入式系统通常涉及到大量的敏感数据，如生产过程数据、设备状态数据、控制算法 等。这些数据如果被非法获取或篡改，可能会造成重大损失。因此，需要采取一系列安全措施，如数 据加密、访问控制、防火墙等，以确保数据的安全性和完整性。
嵌入式网络技术是实现设备间 通信和远程控制的关键技术， 它包括有线和无线通信协议栈 、网络接口卡等。
嵌入式软件测试技术研究
嵌入式软件测试技术研究摘要：随着嵌入式软件结构的日益复杂，嵌入式软件的测试也越来越重要。
在对嵌入式软件的特点以及嵌入式软件测试环境和策略分析的基础上，对嵌入式软件基本测试方法进行了研究。
关键词：嵌入式软件；软件测试技术；静态测试；动态测试0引言随着信息技术的不断发展，与硬件发展日益稳定相比，软件故障却日益突出，因此软件测试的重要性已经越来越被人们所重视。
嵌入式软件有着开发工具昂贵、内存较小、实时性要求较高、CPU种类繁多、I/O通道较少等特点，为此，嵌入式软件的测试也与一般PC 应用软件的测试有很大的差异。
1嵌入式软件测试概述1.1嵌入式软件特点分析嵌入式软件测试的主要目的在于验证软件的可靠性，与通常的PC应用软件相比，嵌入式软件的测试有如下几个特点：①嵌入式软件是针对在特定硬件环境下开发的，其运行和测试也需要依据特定的硬件环境；②实施性要求较高，除了要求有正确的输出结果以外，还需要考虑是否能够在规定的时间内得到运行结果。
1.2嵌入式软件测试环境分析一般采用交叉开发环境来搭建嵌入式软件的测试环境。
例如单元测试、集成测试等可以在PC机上完成的测试，通常都在PC机上进行测试，从而可以避免硬件环境的影响，提高测试效率。
在后期的集成测试中，需要在具体的嵌入式软件硬件环境中，搭建交叉测试环境来完成嵌入式软件的测试。
交叉测试环境的搭建需要注意以下几个方面的内容：（1）主机与目标机之间的通信问题。
可以通过以太网或者串口进行主机与目标机之间的物理连接，主机与目标机之间的数据格式可以预先进行定义。
（2）主机对目标机的测试控制。
主要包括主机如何向目标机发送测试用例，如何跟踪目标机的测试，查看是否正常进行。
（3）目标机测试结果的反馈。
通常运行嵌入式系统的目标机没有视频显示等便利的测试结果输出端口，因此目标机上的异常、错误信息和正常响应信息等测试结果都需要返回到主机上进行显示和输出。
在嵌入式软件测试环境的搭建过程中，需要测试嵌入式系统与已建设备是否协调，硬件设备电气特征是否正常，以及主机与目标机之间的物理信道是否通畅等，从而保证测试结果不受到嵌入式软件以外其它因素的影响。
《电子测量技术》课程标准(电子信息技术专业)
《电子测量技术》课程标准课程名称：电子测量技术 Electronic Measurement Technology课程性质：专业选修学分：2.5总学时：45，理论学时：36，实验(上机)学时：9适用专业：电子信息技术先修课程：模拟电子技术、数字电子技术、信号与系统、微机原理一、教学目的与要求《电子测量技术》是电子信息、自动控制、测量仪器等专业的通用技术基础课程。
包括电子测量的基本原理、测量误差分析和实际应用，主要电子仪器的工作原理，性能指标，电参数的测试方法，该领域的最新发展等。
电子测量技术综合应用了电子、计算机、通信、控制等技术。
通过本课程的学习，培养学生具有电子测量技术和仪器方面的基础知识和应用能力；通过本课程的学习，可开拓学生思路，培养综合应用知识能力和实践能力；培养学生严肃认真，求实求真的科学作风，为后续课程的学习和从事研发工作打下基础。
二、教学内容与学时分配三、各章节主要知识点与教学要求第1章序论第一节测量的基本概念一、测量的定义二、测量的意义三、测量技术第二节计量的基本概念一、计量二、单位和单位制三、计量标准四、测量标准的传递第三节电子测量技术的内容，特点和方法一、电子测量二、电子测量的内容和特点三、电子测量的一般方法第四节电子测量的基本技术一、电子测量的变换技术二、电子测量的放大技术三、电子测量的比较技术四、电子测量的处理技术五、电子测量的显示技术第五节本课程的任务重点：测量的基本概念、基本要素；单位和单位制，基准和标准，量值的传递准则。
难点：量值的传递准则教学要求：理解测量的基本概念、基本要素，测量误差的基本概念和计算方法。
理解计量的基本概念，单位和单位制，基准和标准，量值的传递准则。
理解测量的基本原理，信息获取原理和量值比较原理。
理解电子测量的实现原理：变换、比较、处理、显示技术。
第2章测量误差理论与数据处理第一节测量误差的基本概念一、有关误差的基本概念二、测量误差的基本表示方法第二节测量误差的来源与分类一、测量误差的来源二、测量误差的分类第三节测量误差的分析与处理一、随机误差的分析与处理二、系统误差的判断及消除方法三、粗大误差的分析与处理第四节测量误差的合成与分配一、测量误差的合成二、测量测量不确定度及其合成三、误差分配及最佳测量方案第五节测量数据处理一、有效数字处理二、测量结果的处理三、最小二乘法与回归分析重点：测量误差的分类估计和处理，系统误差和粗大误差的判断及处理，不确定度的评定方法。
一种基于V模型的嵌入式软件测试方案
一种基于V模型的嵌入式软件测试方案摘要：本文提出了一种基于V模型的嵌入式软件测试方案。
该方案将测试分为两个阶段，即需求验证阶段和软件验证阶段，并结合软件开发的不同阶段进行测试。
同时，使用不同的测试手段，如黑盒测试、白盒测试和灰盒测试等，对软件进行全面测试，以提高软件的可靠性和稳定性。
通过实际测试结果证明，该测试方案可以有效地提高软件质量，减少错误的出现。
关键词：V模型，嵌入式软件，需求验证，软件验证，黑盒测试，白盒测试，灰盒测试正文：一、引言嵌入式软件已经广泛应用于各种领域，其质量和可靠性对系统的稳定性和安全性至关重要。
因此，测试嵌入式软件成为了非常重要的工作。
本文基于V模型提出了一种嵌入式软件测试方案，旨在提高软件质量和可靠性。
二、V模型V模型是一种软件开发过程模型，它以需求分析为起点，将软件开发和测试相结合并呈V字形，如图1所示。
V模型强调测试的重要性，通过将需求验证阶段和软件验证阶段结合起来，确保软件的稳定性和可靠性。
三、嵌入式软件测试方案本方案基于V模型，将测试分为需求验证阶段和软件验证阶段，并在不同的软件开发阶段中进行测试，使用不同的测试手段。
具体内容如下：1. 需求验证阶段在需求分析阶段，我们应该明确软件的需求及其功能和性能要求。
在需求验证阶段，我们首先进行黑盒测试和灰盒测试。
黑盒测试是指在不考虑软件内部实现的情况下，对软件接口进行测试。
灰盒测试是指在考虑软件的部分实现细节的情况下，对软件的一些内部状态和过程进行测试。
这样可以确保软件的功能符合需求，并且可以减少软件设计的错误。
2. 软件验证阶段在软件开发阶段，我们将测试分为静态测试和动态测试两个阶段。
静态测试是指在不运行软件的情况下，对源代码和文档等进行测试。
动态测试是指在运行软件的情况下，对程序进行测试。
在开发初期，我们应该进行白盒测试，这是一种基于软件内部结构和逻辑的测试手段。
在开发后期，我们应该进行黑盒测试，这是一种对软件接口的测试方法。
一种基于V模型的嵌入式软件测试方案
一种基于V模型的嵌入式软件测试方案摘要：随着嵌入式系统的普及和应用领域的不断扩大，嵌入式软件测试变得越来越重要。
本文通过对嵌入式软件开发和V模型的分析，提出了一种基于V模型的嵌入式软件测试方案。
该方案沿着V模型的顶部从需求分析一直到系统测试，形成了完整的测试流程，旨在帮助开发人员在确保软件质量的同时加快产品上市的速度。
关键词：嵌入式软件、测试、V模型1.引言作为现代电子技术的重要组成部分，嵌入式系统在生产和生活的各个领域都有广泛的应用。
随着嵌入式软件功能的不断增强和需求的多样化，软件测试越来越成为确保嵌入式系统质量和稳定性的重要手段。
本文通过对嵌入式软件测试的分析，提出了一种基于V模型的嵌入式软件测试方案，以期为嵌入式软件测试提供参考。
2.嵌入式软件的开发嵌入式软件的开发是一个复杂的过程。
首先，开发人员需要根据用户需求和设备的功能去设计和实现软件系统。
其次，需要进行软件单元测试、集成测试、功能测试等一系列测试环节才能确保软件系统的质量和稳定性。
因此，为了降低嵌入式软件开发的风险和提高软件质量，需要使用一种有效的测试方法来测试软件系统。
3.V模型的概述V模型，又称为联邦模型，是软件开发过程中一个重要的模型。
该模型以V字形表示整个软件开发过程及其对应测试过程。
顶部是需求分析阶段，接着是系统设计、详细设计和开发，最后是测试阶段。
V模型中每个分支对应着软件开发过程中的一个阶段。
由于它具有清晰的阶段性、强制性的测试环节以及持续的需求可追踪性，因此，被广泛地应用于软件开发过程中。
4.基于V模型的嵌入式软件测试流程嵌入式软件测试过程需要综合考虑系统测试、功能测试和性能测试等各种环节。
而基于V模型的嵌入式软件测试流程就是沿着V模型的顶部从需求分析一直到系统测试，形成了完整的测试流程。
4.1 需求阶段需求阶段是嵌入式软件测试的第一个阶段。
在该阶段中，开发人员需要收集和整理用户的需求，分析软件的功能需求，并将用户需求转换为软件设计规范。
嵌入式软件可靠性设计规范方案
嵌入式软件可靠性设计规范方案引言：嵌入式软件是嵌入在设备中的特定用途软件，其可靠性对设备的正确运行和用户的安全至关重要。
为了确保嵌入式软件的可靠性，需要设计一套规范方案，本文将从软件需求、架构设计、编码实现和测试验证等方面进行详细讨论。
一、软件需求规范1.明确定义软件的功能和性能需求，包括输入、输出、算法、响应时间等。
2.定义软件的安全要求，确保系统在可能的风险下能正确响应和保证用户的安全。
3.制定软件的兼容性要求，确保软件与硬件的适配性以及其他相关软件的兼容性。
4.设定软件的可靠性指标，明确软件的容错、可恢复性和可靠性要求。
二、架构设计规范1.使用模块化设计方法，将软件拆分为功能独立的模块，每个模块负责实现一个特定的功能。
2.定义明确的模块接口，确保模块之间的数据传递和信息交换正确可靠。
3.设计预防和处理异常的机制，如输入校验和错误处理，确保系统在异常情况下仍能正常运行和恢复。
4.进行合理的资源管理，包括内存、处理器、外部设备等，确保系统资源的高效利用和稳定性。
三、编码实现规范1.使用结构化的编程方法，遵循良好的编码习惯，如良好的变量命名、代码缩进等。
2.采用清晰易读的代码风格，注释详细，增加代码的可读性和可维护性。
3.进行严格的代码审查，发现和纠正潜在的错误和缺陷。
4.使用合适的算法和数据结构，确保软件的效率和正确性。
四、测试验证规范1.设计全面的测试用例，覆盖软件的各个功能和边界条件。
2.进行单元测试，验证各个模块的正确性和可靠性。
3.进行集成测试，确保各个模块协同工作的正确性和稳定性。
4.进行系统测试，测试整个系统的功能、性能和可靠性。
五、软件配置管理规范1.确定软件的版本控制策略，如使用版本号管理和追踪软件的版本变更。
2.建立有效的配置管理系统，确保软件配置的可控性和可追溯性。
3.设定软件发布和部署策略，确保软件的正确发布和部署。
六、软件维护规范1.定期审查和更新软件的文档，包括需求文档、设计文档和测试文档等。
嵌入式系统测试确保系统的高可靠性和稳定性
嵌入式系统测试确保系统的高可靠性和稳定性嵌入式系统是一种特殊的计算机系统，它被嵌入到其他设备中，用于控制和执行特定的功能。
这些系统广泛应用于各个领域，包括汽车、医疗设备、航空航天等，因此其高可靠性和稳定性变得至关重要。
为了确保嵌入式系统达到预期的功能和性能，测试变得不可或缺。
本文将探讨嵌入式系统测试的重要性以及应该采用的测试方法。
一、嵌入式系统测试的重要性嵌入式系统广泛应用于许多关键领域，其系统的高可靠性和稳定性直接影响到人们的生命财产安全以及工作效率。
在汽车行业，嵌入式系统负责控制车辆的各个部分，如发动机、刹车系统等。
如果系统出现故障，将会对驾驶员和乘客的安全造成严重威胁。
在医疗设备领域，嵌入式系统用于监测和控制患者的生命体征，一旦系统不可靠，将可能导致误诊或延误病情的发展。
因此，嵌入式系统测试成为确保系统功能正常运行的重要手段。
二、嵌入式系统测试的方法1. 静态测试静态测试主要基于源代码和设计文档进行分析，通过代码审查和文档检查等方式，发现潜在的错误和设计缺陷。
源代码的可读性和规范性对于系统的可靠性至关重要。
此外，对系统的接口和交互进行仔细审查也能够提前发现潜在的问题。
2. 单元测试单元测试是针对嵌入式系统中的各个模块进行的测试，目的是验证每个模块的功能是否按照设计要求正常工作。
单元测试通常由开发人员编写和执行，采用各种测试技术，如黑盒测试和白盒测试。
通过单元测试，可以有效地发现和修复模块级别的错误，确保系统的可靠性和稳定性。
3. 集成测试在单元测试之后，需要进行集成测试，以验证各个模块之间的接口和交互是否正常。
集成测试是通过将模块逐步结合成为整个系统，并进行功能和性能的测试。
通过集成测试，可以发现模块之间的兼容性问题以及系统整体的一致性和稳定性。
4. 验收测试验收测试是在系统开发完成之后进行的测试，旨在验证系统是否满足用户的需求和预期功能。
这种测试通常由用户或客户参与，并重点关注系统是否符合规格说明书中的要求。
嵌入式软件测试的基本方法
嵌入式软件测试的基本方法一、引言随着数字化时代的到来，大量系统架构复杂、功能日益强大的嵌入式系统正不断进入市场，应用也日趋复杂，这对嵌人式软件的开发技术和测试技术提出了更高的要求。
嵌人式系统的复杂性和集成度越来越高，其中的软件部分也开始在整个嵌入式系统中占有越来越多的比例，并经常实现硬件的功能。
嵌入式系统的专用程度较高，所以对其可靠性的要求也比较高，为了保证系统的稳定性，避免由于其可能出现的失效而导致灾难性的后果，要求对嵌人式系统，包括嵌入式软件进行严格的测试、确认和验证。
基于嵌入式软件自身的特点，如实时性（Real-timing），内存不丰富，I/O通道少，开发工具昂贵，并且与硬件紧密相关，CPU种类繁多，其缺陷不像PC软件的缺陷容易修补等等。
传统的软件测试理论不能直接用于嵌入式软件测试，因此，研究嵌入式软件的测试方法和策略，对于提高和改善嵌入式软件的质量有重要意义。
二、嵌入式软件测试的基本方法嵌入式系统是以应用为中心，以计算机技术为基础，软件硬件可剪裁，适应应用系统对功能、可靠性、成本、体积及功耗严格要求的专用计算机系统。
嵌入式系统的软硬件功能界限模糊，测试比PC系统软件测试要困难得多，嵌入式软件系统测试具有如下特点：（1）测试软件功能依赖不需编码的硬件功能，快速定位软硬件错误困难；（2）强壮性测试、可知性测试很难编码实现；（3）交叉测试平台的测试用例、测试结果上载困难；（4）基于消息系统测试的复杂性，包括线程、任务、子系统之间的交互，并发、容错和对时间的要求；（5）性能测试、确定性能瓶颈困难；（6）实施测试自动化技术困难。
大量统计资料表明，软件测试的工作量往往占软件开发总工作量的40%以上，在极端情况，测试那种关系人的生命安全的重要的行业中的嵌入式软件所花费的成本，可能相当于软件工程其他开发步骤总成本的三倍到五倍。
在嵌入式软件测试中，既要考虑软件本身，还要考虑软件同硬件平台和操作系统的集成，同时还有条件苛刻的时间约束和实时要求，以及其他合性能相关的要求。
嵌入式存储器测试
／ 输入／ 出 ）针脚 提供 的直接 存 输 嵌入 式存储 器￣ ＤＲ Ｉ ＡＭ 、Ｓ Ｉ ＲＡＭ及Ｆ ａ ｈ ｌ ｓ 存储 法 ，通过Ｉ０ （
器 ，可满足不 同的应用需要 。市场对于 更高容 储 器 存取 或 通过 内置处 理 器产 生 和 验证 一 系
量应 用的持续需求 将增大芯 片中嵌入式 存储 器 列 的 读和 写操 作 。然而 ，随着 嵌 入式 存储 器 占据 的面积 比例 ，如 图１ 示 。此外 ，由于器 的尺 寸和 数 据速 率 的增 加 ，这 种 测 试技 术 的 所
件 的复杂性提 高且 几何尺寸变 得更小 ，嵌入式 效 率 已经 变 得低 下 ，并 且 仅能 提 供 低水 平 的
Ｍ ＢＩ ＳＴ 早 在设 计 阶 段 开 发 的
ＭＢ Ｓ （ Ｉ Ｔ 存储器Ｂ Ｓ Ｉ Ｔ）电 路 。对 于嵌入式 存储器 而言 ，ＭＢ Ｓ ＩＴ
路 ，适 用于 测 试 大存 储 阵 是 一种 可 用的 低成 本测 试方 案 。对 设 列 。工 作 时 它 可生 成 内部 计 人 员来说 ，要 测 试具 有较 快数 据速 图 形 ，因此 能够 忽 略 具 备 率 和较 高存 储容 量 的器 件 ，需要 开发 极 多 向量 存储 器 的 要 求 。
器 件 成 本 。对 于 嵌 入 式 存 Ｓ ＯＣ成品率 的技 术之一就 是执行ＢＩ Ｒ Ｓ
储 器 而言 ，ＭＢＩ Ｔ Ｓ 提供 了
一
（ 内置 自修 复 ）。
通过 阻止 访 问那 些 无效 存储 器 单
圈４存储器成 品率 的提 高
种 更 实 际 和 更 节 约 成本
OC—48、OC—192芯片和系统设计师面临挑战
OC—48、OC—192芯片和系统设计师面临挑战PatriciaDesautels;承慧;等
【期刊名称】《电子产品世界》
【年(卷),期】2002(000)07B
【总页数】4页(P36-39)
【作者】PatriciaDesautels;承慧;等
【作者单位】FutureTHINK协会;FutureTHINK协会
【正文语种】中文
【中图分类】TN915.04
【相关文献】
1.嵌入式内存测试方案及高速测试技术--SOC(系统芯片)测试趋势及挑战 [J],
2.嵌入式内存测试方案及高速测试技术—SOC（系统芯片）测试趋势及挑战 [J],
3.OC-48、OC-192芯片和系统设计师面临挑战 [J], Patricia Desautels;Karl Kachigan
4.卓联模拟时钟芯片优于OC-192光学线路卡性能要求 [J],
5.基于系统芯片SOC的NOC通信组网技术应用研究 [J], 王娜;尹向东;杨振南;张彬
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嵌入式测试方案及高速测试技术
前言
目前，在许多应用领域，例如处理器、移动电话、调制解调器等产品，SOC技术已经成为主要的研究方向。
这类SOC芯片整合了数字逻辑电路、模拟电路、内存模块以及知识产权（IP）核，甚至将微处理器、外围接口、通信模块皆能包括于一芯片中。
SOC芯片的应用，对于提升系统性能、减少系统能耗、降低系统的电磁干扰、提高系统的集成度都有很大的帮助，顺应了产品轻薄短小的趋势。
安捷伦公司推出的93000 SOC测试系统，完全满足业界需求，对于高速数字电路、嵌入式内存、混合信号测试都提出了有效的解决方案。
嵌入式内存测试嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分，因此其测试以及分析的方法也就相当重要。
93000 SOC测试系统在内存的测试上，无须额外的硬件，可直接将高速数字测试通道，作为内存测试之用，以达到全速测试的目的，同时在运行中切换逻辑与内存测试，能有效提高产率，并进一步作冗余分析和修补。
嵌入式内存测试
嵌入式内存是SOC芯片不可或缺的组成部分，因此其测试以及分析的方法也就相当重要。
93000 SOC测试系统在内存的测试上，无须额外的硬件，可直接将高速数字测试通道，作为内存测试之用，以达到全速测试的目的，同时在运行中切换逻辑与内存测试，能有效提高产率，并进一步作冗余分析和修补。
内存测试与除错
首先，在93000提供的APG（算法图码发生器）软件中，我们可以描述出。