溶凝胶法制备硼硅玻璃
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p e ai r c se n p ia r p ris o h l r n e t ae r p rng p o e s sa d o tc lp o ete ft e f mswe e i v s g t d.1 e u t h we ha e i i he r s ls s o d t tt h a dto mo n fPEG o l fe t ̄a s t n e o e f s Th xma r n mitn e o h s d i n a u to i c u d afc n mit c f t l . a h i m e ma i lta s ta c f t e e im s a he e e lrr t o fl si c iv d wh n t e mo a a i fPEG o I h o t EOS i O 0.Ad iin o S5 /5 d to fPEG 0 0 c n ma e t e 1 0 a k h lwe tr fe t c r u d 5 0n 。whc t h s t e wa e e gh o e h g a o a ra a e o s e ca e ao n 5 m l n ih mac e v ln t ft ihe ts lrirdin e. h h
Pr pa a i n o tr fe tv l so r sl a e e r to fAn i e c i e Fi n Bo o i c t l m i
Gl s y S l・ g lM e h d a s b o — e t o -
Z E G Y 。 H N Q , O i L u pn , O e g — hn H N e C E i S NGL , IH i— ig H U F n ze
显微 照片 , 薄膜的 厚度为 10n 0 m。从 图中可看 出 :E P G相 对分子 量 的变化 对 SO i 颗 粒大 小 产生影 响 。薄膜
表 面有 一 定 的起 伏 , 示 孔 隙 结 构 的存 在 。当 添 加 P G K后 , 面 产 生 2 m 的 SO 显 E 1 表 0n i 颗 粒 ; 当添 加 而
本 文 以正硅酸 乙酯 、 乙二醇为 主要原料 , 聚 用酸催化 法在硼 硅酸盐玻璃 上制备 SO 减 反射 薄膜 , i 着重研
究 了聚乙二醇 的用量 和相对 分子量对 二氧化 硅薄膜光 学性能 的影响 。
1 实 验
1 1 溶胶的制 备 . 实验用正硅 酸 乙酯 ( E S 、 水 乙醇 、 T O )无 盐酸 、 聚乙二醇 ( E 均为 化学 纯 , 乙二醇 的相对 分子 量分 别 P G) 聚
1 2 基片 的准 备 .
将硼硅酸盐 玻璃基 片 G 1 (0ml 2 i × l,宜兴 银 星分 析实 验器 件 厂 ) G 7 7 n× 5ml 2mn l 用洗 洁精 和 去离子 水
冲洗若干次 , 后用无水 乙醇浸 泡后 , 最 用镜头 纸擦 干表面液 滴 , 放置在 5  ̄ 0C的干燥箱 内备用 。
收稿 日期 :08—0 20 9—2 4 作者简介 : 郑晔( 94 一 ) 男 , 18 , 上海人 , 硕士研究生, 主要从事无机薄膜 的研究。
第3 7卷 第 2期
玻 璃与搪 瓷
・ 7・
视 引。通过在 热 处 理 过 程 中 烧 除 高 分 子 聚 合 物 , 表 面 形 成 SO 使 i :孔 隙 结 构 , 高 了 光 的 透 过 性 提 能 -,- ] 6731 。近年来 随着对太 阳能利 用 的广泛 需求 , 硼硅酸盐 玻璃上研 制减反射 薄膜 势在必行 。 1 4 在
2 结 果 与讨 论
2 1 薄膜 的表 面形貌 .
图1 为添加 P G K后制得的 S E1 i 薄膜[ P G / ( E S 5/ 0 的表面光学显微镜图片 , 2 O (E ) n T O )= 0 5 ] 图 为该 薄膜的扫描显微镜照片。从图中可以看出: 薄膜表面非常平整 , 颗粒分布均匀 , 没有明显 的开裂现象。在本 实验 中, 将制备 好 的薄膜 在 5  ̄ 0C的干燥箱 内干燥 1 , h 能够控制水 分 的蒸发 速率 , 释溶胶相 向凝胶相 转变过 缓 程 中产 生 的应力 。 同时 , 慢升 温 能够 防止 薄膜 因高 分子 分解 而 造成 的对 原 有结 构 的破 坏 , 缓 得到平 整 的薄
( eatet fn r ncMa rl, at hn n e i f c neadTcnlg , h ga 20 3 , hn ) D pr n o ai m o I g t i s E s C i U i r t o i c eh o y S a hi 0 2 7 C ia ea a v sy S e n o n
第3 7卷 第 2期
20 0 9年 4 月
玻 璃 与搪 瓷
GI S A S& ENAMEL
Vo .3 . 1 7 No 2 Ap . 0 r 2 09
溶胶 一凝胶 法 制备 硼 硅 酸盐 玻 璃 上减 反 射 薄 膜
郑 晔 , 陈 奇, 宋 鹂, 李会平 , 侯凤珍
20 3 ) Leabharlann Baidu2 7
图 3 a 添加 P G K的 S 2 () E1 i 薄膜表面的 A M 图 O F
图 3 b 添加 P G K的 s0 薄膜表 面的 A M 图 () E6 i2 F
图 3 a 和图 3 b 分别为添加了 P G K和 P G K的 S : () () E1 E6 i 薄膜 [ ( E )n T O ) 5/0 的原子力 O nP G / (E S = 05]
Absr c : ta t TEOS a d PEG t i e e trl t e mo .wt n wih d f r n ea i 1 v .we e u e s rw trast r p r i ge r s d a a mae l o p e a e sn l i ly ra t e e f e S O2 fl s n boo i c t ls y o a e n r f e v i m o r sl ae g a s b s l— g l meh d i l i i i e t o . e ea in h p b t e r lt s i s ewe n o
Ke r s: n ie e tv l ;b r slc t ls y wo d a trf cie f m l i o o iia eg a s;s l—g l r n mi a c o e ;ta s t n e t
0 引 言
为 了提高光通 过光 学部件 的透过 率 和降低 表 面 反射 , 反射 薄膜 ( 透 膜 ) 减 增 在许 多 领域 得 到 了应 用 , 如
( 东 理 工 大 学无 机 材 料 系 , 海 华 上
摘要 : 以正硅 酸 乙酯( E S 、 同相对分 子量 的聚 乙二醇 ( E 为 主要原料 , 用溶胶 一凝胶 法 T O )不 P G) 采
在硼硅 酸 盐玻 璃板 上制备 单层 SO 减 反射 薄膜 , 究 了制备 工 艺对薄膜 光 学性 能 的影 响。结 果 i 研
P G K时 , E6 表面产 生 3 m 的 SO 颗粒 。这些 差别会 对薄膜 的透过 率和反 射率有 一定 的影 响。 0n i: 22 聚 乙二醇 对薄膜 光 学性能 的影响 . 大部 分的太 阳能辐射 都是集 中在 10~ 0 m波长 范围之 间 , 中 5 %的能量 集 中在可见 光 区 ,3 7 400n 其 0 4%
图 1 添 加 P G K的 SO 薄 膜 表 面 的光 学 照 片 ( o E1 i: 2o×)
图 2 添 加 P G K 的 SO E1 i 薄膜 表 面 的 S M 图 E
・
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玻 璃 与搪 瓷
20 0 9年 4月
膜 , 免 了因膜 层表 面状态 变差而 造成 的散射 问题 。 避
外可见分 光光度计 ( p c u lb4, 光科技 ) 试薄膜 的透过率 , 定波长 为 30n 至 80n S et m a 5 棱 r 测 设 0 m 0 m。使用紫外
可见分光光 度计 (ay0 , ai ) 试薄膜 的反射率 , cr 0 V r n 测 5 a 设定波 长为 40n 0 l 80r n至 0 m。 i
在加热炉 中以 1【 mi = n的升温速率 加热至 4 0C 热处理 3 i。 a/ 0 o下 0 mn
14 薄膜 的表 征 .
使用 Li 光学显微镜 20 ez t 0 倍下观察薄膜表面均匀性。使用扫描 电子显微镜 (S 66L , E L 观 JM一 30 V J O )
察表面结构 和形 态 。使用 原子力 显微镜 ( aocp m, ec) N nSoe V eo 观察 表面微 观形 貌和测 量 薄膜厚 度 。使 用 紫
阴极射线管( R ) 、 C T … 橱窗玻璃 、 J高能激光器 、 J太阳能吸收器 - 以及其它应用_ 。通常 , 4 8 J 人们有很多
方法 来制备 减反射 薄膜 , 如化学 气相 沉积 ( V 、 控 溅 射 ¨。自组 装 合成 ¨ 溶 胶 一凝 胶 法 -] C D) 磁 。、 ¨、 7以及 其 它方法 ¨ 。其 中 , 胶 一 胶法有 许多优 良的特性 , 溶 凝 如薄 膜各 相 同性 、 面涂 膜 、 分 可控 以及 可 应用 于 双 成 各 种不规 则 的表 面等 。因此 , 胶 一 胶法 常用来 在各种 基体表 面制备 不 同性 能 的功能膜 ] 溶 凝 。 溶胶 中添 加有 机 聚 合 物 在 普 通 硅 酸 盐 玻 璃 和 各 种 光 学 晶体 上 制 备 减 反 射 薄 膜 的 方 法 日益 得 到 重
表明: E P G的添加 量可 以 改变 薄膜 的透 过率 , P G T O 当 E / E S的摩 尔比 为 5 / 0时能达 到最大值 。 05
P G K能将反射 率最 小值 调 整到 50n E 1 5 m,从而对 应于最 高 的太 阳辐射 波长 。
关键 词 : 反射膜 ; 减 硼硅 酸盐玻 璃 ; 溶胶 一凝胶 ; 透过 率 中图分类号 :Q 7 .3 T 1 17 4 文献标识 码 : A 文章 编号 :0 0—2 7 ( 0 9 0 0 0 0 10 8 1 2 0 ) 2— 0 6— 4
为 1 0 、 0 、 0 0200400和 600 分别 表示为 P G K P G K、E 4 0 0 ( E 1 、E 2 P G K和 P G K , E 6 ) 水为 去离子水 。以正硅 酸乙 酯、 乙醇 和水 为原料 , 以盐酸为催 化剂 , 尔 比 T O 按摩 E S:H O:H 1 tH=1:2:004:2 2 C :EO .0 4的比例 充 分搅拌 l h进行 预水解 。不 同相对 分子量 的聚 乙二醇 随后 以一定 的添 加量分别加 入溶 胶 中 , P G与 T O 使 E ES 摩 尔量之 比 / P G)n T O ) t ' E / ( E S 分别 为 3/0 4/05 /06/0和 7/0 并继 续搅 拌 15h后静 置 1天 , ( 07 、06 、0 5 、04 03 , . 等待拉膜 。
13 薄膜 的制 备 .
在 2℃的清洁环境下用提拉法对基片进行涂膜( 5 涂膜时粘度为 0 1ca・ ) 提拉速度保持在 5c / . P s , m
mn 静置在溶液 中 05mn后 以同样 的提拉 速度取 出基片 。制备 的薄膜 先在 5 o 的干燥箱 内干燥 1 , i, . i O【 = h随后