偏光片检验标准
偏光片检验标准范文
偏光片检验标准范文偏光片是一种特殊的光学元件，通过对光的偏振进行调整，能够实现对光的选择透过与否，具有广泛的应用领域，如眼镜、显示器、摄影等。
为了保证偏光片的质量，需要进行严格的检验，并制定相应的标准。
以下是偏光片检验的标准及相关内容。
一、外观检验外观检验是对偏光片的外观质量进行评估，包括外观缺陷、凹凸、色差等方面。
对于外观缺陷的评估，常见的判断标准有：1.每平方毫米不超过1个明显的黑点、白点或其他异物；2.同一边缘线上不应出现2个以上的明显缺陷，如割伤、压痕等；3.其他影响使用效果的外观缺陷均不得存在。
二、光学性能检验光学性能检验是对偏光片的透过率、偏振度、色彩性能等进行测量和评估。
常见的光学性能要求包括：1.透过率：偏光片的透过率是指在特定波长范围内光线透过偏光片的程度。
常见的透过率要求如下：A.全通透光范围内透过率不低于99%；B.特定波长处透过率不低于90%。
2.偏振度：偏光片的偏振度是指偏光片能够过滤掉非偏振光的能力，常用以描述光的直线偏振程度。
常见的偏振度要求如下：A.偏振度不低于99.5%；B.偏振方向一致，不应有死区或大的色差。
3.色彩性能：偏光片对透过光的色彩值有一定的要求，以确保透过偏光片后色彩的准确呈现。
常见的色彩性能要求如下：A.通过测试标准色光后，均匀性不低于2级；B.不应有明显的色差或色偏；C.其他特殊要求根据实际使用需求确定。
三、耐久性检验耐久性检验是对偏光片在长期使用、摩擦、高温等环境下的性能进行评估。
常见的耐久性要求包括：1.抗摩擦性能：偏光片需要具有一定的抗摩擦性能，以保证在使用过程中不易产生划痕或损伤。
通常要求偏光片不易出现划伤或表面损伤。
2.耐高温性能：偏光片需要具有一定的耐高温性能，以保证在高温环境下正常工作。
一般要求偏光片在一定的温度范围内具有稳定的光学性能。
3.耐候性能：偏光片需要具有一定的耐候性能，以保证在不同气候条件下正常工作。
通常要求偏光片不易受到紫外线、潮湿等因素影响。
偏光片性能指标
片的耐久 性技术指 标包括耐 高温、耐 湿热、耐 低温和耐 冷热冲击 四项技术 指标，其 中最重要 的是耐湿 热性能指 标的高低 。耐高温 是指偏光 片在恒定 烘烤温度 下的耐温 工作条 件，目前 根据偏光 片的技术 等级，通 常分为通 用型：工 作温度为 70℃× 500HR；
偏光片的 粘接特性 技术指标 主要指偏 光片压敏 胶的各项 特性，一 般包括： 压敏胶与 玻璃基板 之间的剥 离力、压 敏胶与剥 离膜之间 的剥离力 、偏光片 保护膜与 偏光片之 间的剥离 力以及压 敏胶的粘 接耐久性 。压敏胶 与玻璃基 板之间的 剥离力也 称粘合剂 的粘接强 度，这是
【LCD偏 光片的基 本性能指 标主要有 哪些？】 √ 问题 已经解 决，多谢 您的浏览主要有哪 些？
上传附件 问题补充 提高悬赏 无满意答 案 我来回答 提问者： 匿名 最佳答案 光学性能 、耐久性 性、粘接 特性、外 观性能和 其他特殊 性能几个 方面的基 本技术指 标要求。
偏光片的 光学性能 包括：偏 光度、透 过率和色 调三项主 要性能指 标，其它 还包括防 紫外线性 能以及半 透过型偏 光片半透 膜的透过 率、全反 射率和漫 反射率指 标。在一 般LCD产 品的使用 中，要求 偏光度和 透过率性 能指标越 高越好。 偏光度和 透过率越 高，LCD 显示器件
片的外观 性能技术 指标主要 是指偏光 片产品的 表面平整 度和外观 欠点的个 数，这些 技术指标 主要影响 偏光片产 品在贴片 时的利用 率。这些 技术指标 在偏光片 行业通常 都有着较 为一致的 技术规 定，一般 为每张偏 光片产品 （500× 1000㎜） 15个以下 不大于
回答者： 美丽的传 说-研 究生 五 级 201010-16 23:08:24
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偏光片来料检验及物料承认报告
□ 不合格
小批量使用 □ 特采 □ 暂存 □ 替代原物料 □ 再次验证 □ 寻找新材料 □ 退供应商 □ 其它
检/加工使用
研发总监）签字：
日期：
第2页
□ 小批量使用 □ 特采 □ 暂存 □ 替代原物料 □ 再次验证 □ 分检/加工使用 □ 寻找新材料 □ 退供应商 □ 其它
最终确认 （研发总监）签字： 日期：
第2页
来料检验及物料承认报告
阶段
新材料验证; □ 其它
检验人
判定
判定
良现象) 判定
判定
第1页
判定
□ 合格
□ 不合格结果测Fra bibliotek者项目经理
□ 合格
二、来料检验（验证）项目 1、尺寸检验： 上偏光片 长度（mm） 宽度（mm） 厚度（mm） 类型 下偏光片 长度（mm） 宽度（mm） 厚度（mm） 类型 2、外观检验：(每片产品上允许1类在规格标准内不良现象) 项目 伤痕 粒形异物 线型异物 气泡 凹凸点 标准(不合格) W>0.05mm D>0.20mm W>0.05mm D>0.30mm D>0.30mm 样品1 样品2 样品3 样品4 样品5 图纸尺寸 样品1 样品2 样品3 样品4 样品5 图纸尺寸 样品1 样品2 样品3 样品4 样品5
3、性能测试：（标准参考供应商规格书测试） 项目 透过率 偏光度 配向轴角度 雾度 表面硬度 离型膜剥离力 保护膜剥离力 粘着力 判定 研发工程师 处理意见 样品工程师 □ 合格 □ 不合格 判定人 500g(≥3h) 标准（合格） 样品1 样品2 样品3 样品4 样品5
三、光电性能测试： 色系 标准 x= 白色 y= L= x= 红色 y= L= x= 绿色 y= L= x= 蓝色 y= L= 综合判定 处理意见 四、可靠性测试 检验项目 高温高湿试验 冷热冲击试验 高温储存 低温储存 可靠性测试结 果 五、总体评价结果： 建议处理事项 特殊处理方式 原因说明 □ 合格 总体评价检验 结论及处理意 见 样品签署意见 □ 试用 □ 不合格 □ 合格 □ 不合格 测试数量 测试条件 描述 □ 合格 □ 不合格 测试人 样品1 样品2 样品3 样品4 样品5
通用检验规范标准
一、检验目的：为确保成品符合顾客要求，防止不合格品出货。
为成品试做、验证和量产提供检验依据。
二、适用机种模组及模组以下背光三、检验条件3.1、检验环境：温度（20~25℃），湿度（55±10%RH）；3.2、检验照度：3.3、画质检验视距：外观检验：看清不良距离为准。
3.4、检验视角：正看正视角：垂直90°侧看侧视角：水平方向±45°（及上下），垂直方向±45°（及左右）；3.5、检验工具：点线规、ND filter、塞规、游标卡尺、千分尺等工具；3.6、检验&判定方法：点、线、面不良检验和判断3.7、项目定义：D=大小W=线经（宽度）L=长度N=个数a、单一点不良：大于1/2 sub-pixel计为一个点不良；b、两连点不良=一对点=两个点，如下图：c、亮点：在暗黑画面、灰画面能看到发光的点不良（包括异物、CF不良）；d、暗点：在白画面、R\G\B、灰画面可见黑暗的点不良（不包括异物）；e、点状不良：f、线状不良：g 、显示区域分为9等分，中间区域为A区（及5区），其它区域为B区。
四、LCM点灯画面：编号显示画面主要检验内容检查方法11、RGB色不均；2、黑点总数；3、CF不良；4、cell 异物；5、线缺陷等不良。
6、点、线，画异等。
1、在红、绿、蓝画面下，用肉眼辨认其黑点欠陷的个数．2、在红、绿、蓝画面下，用肉眼可以辨认的２连续、３连续以上的点欠陷组数.3、肉眼辨认发光异物大小和个数(用放大镜加以确认之)2 34全黑画面1、线缺陷，干扰线；2、亮点（微辉点、CF不良）；3、偏光片不良、污迹、条纹；4、cell漏光、色斑(偏光片偏光度)，液晶分布不均（PushMura）用点线规和滤光片(根据不同客户和等级的要求选择不同种类的滤光片)判定其等级5全白255全白画面+敲击1、黑点、异物，白点；2、暗线、弱线、干扰线；3、暗影，漏光；4、白块、污等。
偏光片知识讲座 第五讲 偏光片的性能和检验
最 终 外 观 检 查 都 是 采 用 人 工 目视 检 查 ， 因此 在 偏 光
片 产 品 批 量 生 产 过 程 中 ， 观 欠 点 的 分 布 会 有 一 定 外
的离 散 分 布 ， 此 ， 个 偏 光 片 生 产 企 业 都 是 采 用 对 各
一
定 的 内控 规 格 与 交 货 规 格 的 差 值 来 保 证 交 货 质
量 标 准 。但 应 该 注 意 ， 由于 １ ０ ｍ 已经 是 接 近 人 ５
通 常 分 为 通 用 型 ： 作 温 度 为 ７ ℃ Ｘ５ ０ Ｒ； 耐 工 Ｏ ０ Ｈ 中
久型 ： 工作 温度 为 ８ ℃ Ｘ５ ０ ０ ０ ＨＲ： 耐 久 型 ： 高 工作 温 度 在 ９ ｏ ０ Ｈ 以上 这 三个 等 级 。 耐 湿 热技 术 指 ０Ｃ Ｘ５ ０
ａ ｈｅ ｔ ｃｈ ｎｄ ｔ ｅ ｎｏｌ ｙ ｄｅｖ ｏｐｍ ｅｎｔａ ａｒ ｅ ｔ ｔ ｏｌ ｉｅｒ ｔｈａ ｅ ａ ｃｏｍ ｍ ｏｎ ｄｉｅ ｔｓ ｓｅ ｏｇ ｅｌ ｎｄ ｍ ｋ ｔｓ ａ ｅ ｏｆｐ ａｒ ｚ ．Ｉ ｖ ｒ ｃ ｅｎ
ｆ ｒ ｅ ｒ ｃ ｕｔ ｏｌｒ ｅ ｄ ｓ ｒ ｎ ｅ ｅ ａｕ ｒ ｏａ ｉｅ ｓ ａ ｃ ｏ ｋ ｒ． ｏ ｗ ｅ ｒ ｉ ｉ ｐ ａ ｉ ｒｎ ｕ ｔｙａ ｄａｒ ｆ ｒ ｌｅｆ ｌｒ ｒ ｅ ｅ ｒ ｈｗ ｒ ｅ ｓ ｎ ｓｎ ｚ ｉ ｖ ｏ ｐ ｚ ｒ Ｋｅ ｗｏ ｄ ： ｏａ ｉｅ ； ｏａ ｉａ ｉｎｏ ｔ ｓ ｐ ｉｃｐｅ； ａ ｕ ａ ｔ ｒ ； ｘ ｍ ｉａ ｉ ｙ ｒ ｓ ｐ ｌｒ ｒ ｐ ｌｒ ｔ ｐ ｉ ； ｒ ｉｌ ｍ ｎ ｆ ｃ ｕ ｅ ｅ ａ ｎ ｔ ｚ ｚ ｎ ｈ ｎＳ ｎ ｙ ｏ Ｏｐｏ Ｉｃｒｎｃ ．Ｌｄ， ｈ ｎ ｈ ｎＧｕ ｎ ｄ ｎ １ １ ６ Ｃｈｎ ； Ｓ ｅ ｚ ｅ ｕ ｎ ｐ ｌ ｔｅｅｔ ｉ Ｃｏ， ｔ．Ｓ ｅ ｚ ｅ ａ ｇ ｏ ｇ５ ， ｉ ｏ ｓ ８０ ａ
偏光显微镜校准方法
偏光显微镜校准方法偏光显微镜是一种常用的显微镜，用于观察有机晶体、岩石、金属材料等样品的光学性质。
为了保证显微镜的准确性和可靠性，需要进行校准。
本文将介绍偏光显微镜的校准方法。
一、偏光显微镜校准前的准备工作在开始校准之前，需要进行以下准备工作：1. 清洁显微镜：使用干净的棉布或纸巾擦拭显微镜的镜片和光源，确保无尘和污物。
2. 检查偏光片：检查偏光片是否完好无损，无划痕或污渍。
3. 准备标准样品：根据实际需要选择合适的标准样品，如石英片或石英标准样品。
二、偏光显微镜校准步骤1. 调节偏光片：将偏光片插入显微镜光路中，通过旋转偏光片的角度，观察样品的光强变化。
找到两个亮度最强的位置，使其正交。
2. 校准旋转偏振器：将旋转偏振器旋转到0度位置，即透光方向与样品平行。
然后，观察样品的光强变化，调节旋转偏振器的角度，使光强最小。
3. 校准偏振载物台：将标准样品放置在偏振载物台上，并旋转偏振载物台，观察样品的光强变化。
调节偏振载物台的角度，使光强最小。
4. 校准目镜：调节目镜焦距，使得目镜中的目标清晰可见。
5. 校准物镜：选择合适的物镜，将其插入物镜孔中。
调节物镜的焦距和聚光调节，使得样品显微图像清晰可见。
6. 校准光源：调节光源的亮度和方向，使得样品的照明均匀而稳定。
三、校准结果的检验和调整完成校准后，需要进行结果的检验和调整，以确保偏光显微镜的准确性和可靠性。
1. 观察标准样品：使用标准样品观察显微图像，检查图像的清晰度和准确性。
如有需要，可以进行聚光调节和焦距调整。
2. 检查偏振载物台：使用偏振载物台观察样品，观察样品的光强变化。
如果光强不均匀或光强过低，可以调整偏振载物台的角度和位置。
3. 检查物镜和目镜：使用不同倍数的物镜和目镜观察样品，检查图像的清晰度和准确性。
如有需要，可以调整物镜和目镜的焦距和聚光调节。
4. 检查光源：观察样品的照明情况，检查光源的亮度和方向是否合适。
如有需要，可以调整光源的亮度和方向。
LCD、POL基础知识及检验方法
LCD/POL 物料特性和检验方法1. 偏光片结构以及特性 a) 偏光片的基本结构 偏光片是一种由多层高分子 材料复合而成的具有产生偏振光 功能的光学薄膜，按其在液晶屏 的使用位置不同，大体上可分为 面片（又称透过片）和底片两种 （又称反射片） ，右图是典型 TN 型偏光片的面片结构示意图： PVA 膜（偏光层） ：是由 PVA（聚乙烯醇）薄膜经染色拉伸后制成，该 层是偏光片的主要部分，也称偏光原膜，该膜将非偏极光（一般光线）过滤 成偏极光。
偏光层决定了偏光片的偏光性能、透过率，同时也是影响偏光片 色调和光学耐久性的主要部分。
偏光层的基本加工工艺按染色方法可分为染 料系和碘系两大系列，按拉伸工艺可分为干法拉伸和湿法拉伸两大系列，改 变其材料和加工工艺可实现对偏光度、透过率、色调和光学耐久性的调整。
偏光膜 PVA 作为一种使用延伸方法制成的产品， 具有以下一些独特的特 性： 光线选择性：选择通过偏振方向与延伸方向一致的光线通过； 温度、湿度敏感性：吸潮或加温后，被拉伸的成线性的分子链将会自动 还原回团状的分子链，失去光线选择性。
脆弱性：很容易在外力的作用下失去光线选择性。
TAC 层：由 PVA 膜制成的偏光层易吸水、褪色而丧失偏光性能，因此 需要在其两边用一层光学均匀性和透明性良好的 TAC（三醋酸纤维素酯）膜 来隔绝水分和空气，保护偏光层。
采用具有紫外隔离（UV CUT）和防眩 （Anti-Glare）功能的 TAC 膜可制成防紫外型偏光片和防眩型偏光片。
感压胶（adhesive） ：可分为反射膜侧粘着剂和剥离膜侧粘着剂。
反射 膜侧粘着剂的作用是将反射膜牢固地粘合在 TAC 膜上，其工艺要求不允许 有再剥离性。
剥离膜侧粘着剂是一层压敏胶，它决定了偏光片的粘着性能及 贴片加工性能，其性能优劣是 LCD 偏光片使用者最为关心的问题之一。
离型膜（separate film） ：为单侧涂布硅涂层的 PET（对苯二甲酸乙二 醇酯）膜，主要起保护压敏胶层的作用，同时其剥离力的大小对 LCD 贴片 时的作业性有一定影响。
偏光片抗uv等级标准评定标准
偏光片抗uv等级标准评定标准
偏光片是一种特殊的光学镜片，它具有抵抗紫外线（UV）辐射
的能力。
在评定偏光片抗UV等级的标准中，通常会涉及以下几个方面：
1. 紫外线透过率，评定偏光片抗UV等级的标准之一是紫外线
透过率。
这个标准规定了偏光片在不同波长的紫外线辐射下的透过
率限制，以确保偏光片能够有效地阻挡紫外线的侵害。
2. 紫外线阻挡能力，评定偏光片抗UV等级的标准还会考虑偏
光片的紫外线阻挡能力。
这包括对不同波长紫外线的阻挡效果以及
在不同光照条件下的阻挡性能测试。
3. 耐久性能，除了对紫外线阻挡能力的评定外，标准还会考虑
偏光片在长时间使用后的耐久性能。
这包括对偏光片材料在紫外线
照射下的老化情况进行评估，以确保偏光片的抗UV性能能够持久稳定。
4. 国际标准，在全球范围内，偏光片抗UV等级的评定标准通
常会参考国际上的相关标准，如欧洲标准（EN）、美国标准（ANSI）
等，以确保偏光片的抗UV性能符合国际通用标准。
总的来说，评定偏光片抗UV等级的标准涉及到透过率、阻挡能力、耐久性能以及国际标准等多个方面的考量，以确保偏光片能够有效地保护眼睛免受紫外线辐射的伤害。
偏光片检验标准
1.0 目的建立适用于偏光片（P/L）进料检验的作业方法与检验标准，使检验员作业规范化和标准一致化，以验证所进物料的符合性，确保对不合格品的流入进行有效控制并为评鉴供应商提供依据。
2.0 范围本检验标准仅适于仙宇电子有限公司所使用的偏光片（P/L）的进料检验3.0 职责品质部IQC负责依据该标准对偏光片（P/L）进行进料检验。
4.0 缺陷等级a 致命（严重）缺陷（CRI）：会给使用或维修、维护带来危险；功能性缺陷或违反相关的法律法规包括标准；客户不能接受或存在客户重大投诉或处罚的；若使用后会对最终产品造成致命性的损坏或若使用会造成批量产品的不良等。
b 主要缺陷（MAJ）：性能不能达到预期的目标，但不至于引起危险或不安全现象；导致最终产品使用性能或功能下降；客户很难接受或存在客户抱怨风险的。
c 一般（次要）缺陷（MIN）：不满足规定的要求但不会引起客户抱怨及影响产品使用功能的；客户难于接受但通过沟通能使客户接受的；\5.0 验收之标准(一次正常抽样方案)：采用正常检验一次抽样，参考：MIL-STD-105ECRI：AQL=0 主要缺陷（MA）：AQL=0.4 次要缺陷（MI）：AQL=1.06：检验标准与检验方法检验项目缺点类别检验方法、判定标准检验工具包装MA 密封包装，整洁、无破损；最小包装均需贴有标签，标签内容应包括物料编号、产品名称、规格型号、数量、生产日期/批号、订单号、有效期以及环保标识等符合质量保证协议的要求目视标签MA 写错、不清晰不接受目视数量MA 至少抽检一个最小包装，数量不符不接受目视规格/材质MA 与BOM、图纸、样品不符不接受目视尺寸MA 与图纸尺寸公差不符不接受目镜、卡尺外观保护膜/离型膜MI试撕5pcs不易离型或易离型不接受目视菲淋卡外表面脏污、异物等圆状物ф>5mm不接受外表面脏污、异物等线状物L>10mm、W>0.1mm不接受破损、翘起不接受，折/压痕不伤及偏光片可接受外表面刮花ф>5mm不接受或参照样品圆状物凹凸点（上片）MIф=（长径+短径）/2 允许缺陷个数目视菲淋卡ф≤0.1mm 不限0.1mm<ф≤0.15mm 2个，但间距需大于10mm0.15mm<ф≤0.2mm 1个Φ＞0.2mm不允许圆状物凹凸点（下片）MIф≤0.1mm不限目视菲淋卡0.1mm<Ф≤0.3mm 2个，但间距需大于10mm0.3mm<Ф≤0.5mm 1个Ф＞0.5mm 不允许若上下片共用时，则按上偏光片检验标准进行线状物长（L）宽（W）允许缺陷个数目视菲淋卡L≤2mm W ≤0.02mm 不多于3个，但间距需大于10mmL≤2mm0.02mm < W ≤0.03mm2个，但间距需大于10mmL≤2mm0.03mm < W ≤0.05mm1条L>2 W >0.05mm 0气泡MI 不允许目视折/压痕MI 不允许胶残留MI 冲切边缘胶残留不影响组装或产品品质可接受脱胶MI 边缘0.5mm内允许有轻微脱胶，其它位置脱胶不允许条纹MI 成品时可见不接受或参照样品标记MA 位置、颜色错误不接受；与成品配合反白不接受目视、测试架色彩效果MA 与样板比对有差异不接受目视平整度* MI 不大于5mm 平台、卡尺可靠性CRI 按照《可靠性试验规范》，/粘性MA 粘性要适中（每次来料粘性与样品粘性作对比）/注：边缘距离≤0.5mm范围内的外观缺陷不计。
偏光片外观缺陷检测技术分析
偏光片外观缺陷检测技术分析李建红摘㊀要：偏光片作为液晶面板的重要组成部分，其外观缺陷直接影响到液晶面板的质量㊂现阶段，偏光片的外观缺陷主要依靠人工检测方法，主观性强，检测效率低㊂目前，广泛应用的ＡＯＩ（ＡｕｔｏｍａｔｉｃｏｐｔｉｃａｌＩｎｓｐｅｃｔｉｏｎ）偏光片在线检测系统已不能满足检测精度的要求㊂因此，研究高精度㊁快速的离线自动检测技术对相关产业的发展具有重要意义㊂在此基础上，文章对偏光片外观缺陷检测技术进行了分析，对促进偏光片外观缺陷检测技术的发展具有积极的作用㊂关键词：偏光片；检测方法；检测精度；检测技术一㊁引言偏光片是ＴＦＴ－ＬＣＤ显示器的重要组成部分㊂此外，偏光片还广泛应用于偏光眼镜㊁偏光显微镜㊁偏光摄影㊁红外偏光片㊁紫外偏光片等产品中㊂偏光片理论产生于欧美，其产业化始于日本㊂由于偏光片的研发需要大量前期投入，属于材料化工行业的技术密集型产业，因此，偏光片的进入门槛非常高㊂现阶段，偏光片行业被日本㊁韩国和 台湾 地区垄断㊂目前，世界上有超过１５家主要偏光片公司，拥有约１８１条生产线，主要分布在韩国㊁日本和 台湾 地区㊂日本的ＮｉｔｔｏＤｅｎｋｏ和ＵｌｅａｄＣｈｅｍｉｃａｌ㊁韩国的ＬＧＣｈｅｍ和 台湾 地区的ＬｉｔｅＯｐｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃｓ在日本企业中的份额超过５０％㊂尽管全球经济疲软，偏光片仍保持６％的年增长率㊂据市场预测，２０１６年全球偏光片市场规模将达到１４０亿美元㊂经过近１０年的发展，偏光片行业已经成熟㊂在全球经济危机的影响下，垄断国家和地区的行业人才也在流动，重要技术也向外界扩散㊂只要抓住历史机遇，我国的偏光片产业将迎来一个历史性的发展机遇期㊂二㊁偏光片外观缺陷（一）异物虽然偏光器生产车间的清洁度可以达到１００万，任何进入车间的人员都必须穿干净的衣服，但人员难免会粘在外面的灰尘等异物上，设备和生产环节出现的异物也是不可避免的㊂根据偏光片的位置，将异物分为ＳＰＶ异物㊁基底异物和黏附异物㊂其中，ＳＰＶ异物是一个附着在保护膜上的异物㊂检查员可以用肉眼认出，保护膜最终会被撕下，所以这个异物不重要㊂ＰＶＡ膜与ＴＡＣ膜在粘接过程中，环境中杂质是基体异物引起的㊂胶合过程中，偏光片上的异物引起粘着异物㊂这些缺陷需要消除㊂（二）气泡这种缺陷的发生与日常生活中手机膜产生气泡的原理相似㊂在粘贴多层偏光片膜的过程中，由于膜张力和叠片辊的不良操作而产生气泡缺陷㊂另外一种可能性是，压敏胶的不均匀使用会导致某些位置出现凹坑和气泡缺陷㊂（三）折痕从偏光片的生产到液晶模组的安装，任何一个阶段，在搬运㊁存放和取用过程中的不适当的力都会造成这种缺陷㊂折痕是一个严重的缺陷，一般需要报废㊂（四）划伤基本上，它是被异物划伤的，在大多数情况下，它是被保护膜划伤的㊂这种划痕不会影响偏光片的最终使用㊂很少，它会刮伤ＴＡＣ膜并导致其报废㊂（五）压痕在研究中，大部分压痕是由外来粒子挤压偏光片引起的㊂根据压入深度的不同，也可分为ＳＰＶ压痕和膏体压痕㊂由于ＳＰＶ压痕相对较小，并且由于偏光片材料的弹性，它通常会自动恢复㊂膏体压痕深度大，即使有一定程度的恢复，也会造成无法使用的缺陷㊂（六）残胶偏光片出现在键合过程中㊂如果出现在保护膜上，对后续使用没有影响，但如果是ＴＡＣ层，则是不能使用的缺陷㊂三㊁缺陷检测难点通过对目前主流偏光片缺陷自动检测设备的研究，发现人工检测和自动检测的误检率都比较高㊂原因是存在一些相对 特殊 的缺陷㊂这些特殊缺陷很容易漏掉，如气泡㊁压痕㊁残胶等㊂这些缺陷有三个共同的特点：轻微（面积小，深度浅），无异物，图像缺陷在均匀光照下不可见㊂该项目组将上述三种缺陷命名为 透明缺陷 ㊂这些缺陷不仅在均匀光下是看不见的，有些甚至在显微镜下放大也看不见㊂高品质㊁低成本的偏光片产品是各厂家追求的一致目标，也是公司的核心竞争力㊂高质量可以通过提高偏光片的成品率来实现，同时也可以最大限度地降低客户投诉率㊂采用智能㊁高效㊁准确的机器视觉检测系统，可以扭转人工检测的困境，从而提高生产效率，降低用工成本㊂因此，研制一套能够有效处理偏光片所有缺陷的系统，对整个行业的发展具有重要意义㊂根据偏光片生产的实际情况，得出结论：如果能够解决偏光片缺陷中最小㊁最难检测的透明缺陷，那么其他所有缺陷都可以用同样的方法检测出来㊂因此，文章将研究一种新的有效的透明缺陷检测方法㊂基于结构光视觉的偏光片透明性检测方法的研究是工业检测领域的前沿课题，具有重要的研究价值㊂只有从根本上解决上述关键问题，偏振光外观缺陷检测领域才能走向成熟㊂四㊁偏光片外观缺陷检测技术（一）机器视觉检测机器视觉是一门利用计算机模拟人类视觉和神经处理系统的交叉学科㊂用于解决工业生产和实际生活中的测量㊁检测㊁自动识别等问题㊂机器视觉系统由光源㊁摄像机㊁图像传输装置㊁计算机控制中心㊁机械执行模块等组成㊂机器视觉系统的工作原理：摄像机采集图像信息，通过采集卡传输到计算机控制中心㊂计算机对转换成数字模式的图像进行处理，最后控制相应的机械执行部件对被处理对象执行下一步动作㊂（二）在线检测机器视觉以其精度高㊁速度快㊁重复性好等优点在工业产品检测领域得到了广泛的应用㊂在偏光片检测领域，一些公司已经开发了基于机器视觉的自动光学检测系统㊂国内外已开发出许多偏光片自动检测技术设备，如德国的塞恩克博士，意大利㊁深圳等地的多家公司㊂其中，一台国产深圳奥工程公司生产的小系统可以用机器代替１０个人，这是因为ＡＯ的高效率㊂同时，本系统配备了高分辨率ＣＣＤ摄像机，对一些明显的㊁容易发现的缺陷具有较高的检测成功率㊂ＡＯ工程系统将发出报警信号，通知生产线调整检测到的缺陷㊂（三）偏光片外观缺陷离线检测对于偏光片中的凹坑（或凸起）缺陷，使用条纹光源反射照明系统，其可以使收集的条纹图像中的缺陷位置变形，从而获得缺陷信息，如图１所示㊂为了消除难以处理的背景条纹，文章采用调整图像距离的方法得到条纹相对模糊的变形㊀㊀㊀（下转第１５０页）（二）加强对会计核算的监督加强企业会计内部控制，是推动企业长远发展的必要手段㊂通过完善会计内部控制体系，有利于强化企业对财务会计工作的重视程度，节约企业的经营成本，提高企业的资金利用率㊂可协调企业的生产活动，使其高速运行，获得更多的经济效益，从而提高会计核算水平，保障会计信息质量㊂所以，在进行企业会计核算内部监督的同时，也应当充分发挥外部监督的作用㊂企业会计核算也应当在政府相关部门的监督下进行㊂通过这样的方式可以从内部以及外部方面对企业会计核算进行全面的监督，保障该项工作在科学的基础上能够顺利进行㊂（三）加强对企业会计内部控制人员专业素养的提升对企业会计内部控制人员的专业素养进行提升是极为必要的㊂企业应当积极组织对员工进行培训，进而使员工实现职业素养的提升㊂进入２１世纪以来，人类进入了信息化时代，信息技术已经融入了人们生活的方方面面，企业内部会计控制的发展也势必离不开信息技术㊂故而企业应当在员工职业素养的培训过程中加强对员工信息技能的培养㊂通过这样的方式，员工能够更加迅速适应时代发展的变化，更好地满足时代对其提出的要求，进而推动企业的向前发展㊂五㊁结语企业为了在激烈的市场竞争中保持足够的竞争力，正在紧随时代的发展潮流积极进行改革，企业会计内部控制的改革就是其中的一项重要内容㊂我国的企业会计内部控制建设已经取得了一定的成效，但也仍旧存在一些问题，故而在日后的工作推进过程中应当不断加强对企业会计内部控制的重视程度㊂应当日益完善企业会计内部控制体系，加强对会计核算的监督，同时，还应当加强对员工职业素养的提升㊂只有这样，企业才能够保持长久的竞争力，不断提升经济效益，进而实现企业战略目标㊂参考文献：［１］杨健．探讨会计电算化对内部控制的影响［Ｊ］．会计师，２０１８（１５）．［２］王贺．会计电算化条件下加强内部控制探讨［Ｊ］．中国农业会计，２０１１（５）．［３］王玲霞，王怡．高校会计电算化管理的内部控制［Ｊ］．审计与理财，２０１１（６）．［４］孙雪艳．会计电算化内部控制存在的问题及对策探讨［Ｊ］．中国乡镇企业会计，２０１１（８）．［５］廖毅珍．内部控制视角下企业会计工作存在的问题及措施分析［Ｊ］．财讯，２０１９，３３（２３）：３３－３４．［６］彭叶．浅谈中小企业会计内部控制的问题及其措施分析［Ｊ］．当代会计，２０２０，２８（４）：１１５－１１６．作者简介：刘秀玲，呼和浩特惠则恒投资（集团）有限责任公司㊂（上接第１４８页）图像，然后采用固定阈值的方法对图像进行二值化，采用形态学处理得到缺陷㊂在处理凹坑（凸点）缺陷时，文章采用有针对性的反射光源照明方法获得理想的缺陷图像，处理算法简单快速㊂图１㊀条纹反射光照明（四）结构光检测结构光缺陷检测是在结构光测量的基础上发展起来的㊂利用机器视觉理解三维物体的计算领域，他认为所有空间物体都是由点㊁线㊁面组成的，三维图像的坐标可以通过二维图像获得㊂解决了三维曲面物体的重建和描述问题，文中所用的结构光测量系统基本保留至今㊂结构光测量原理如图２所示㊂图２㊀结构光测量原理根据光源投影的类型，结构光分为：点结构光㊁线结构光和面结构光㊂这三种光源在物体表面缺陷检测中也得到了广泛的应用㊂线结构光用于检测焊缝㊂在在线光源的照射下可以检测到异常部位，采集到的图片会发生严重变形㊂然后利用简单的图像处理算法对缺陷进行分析㊂与线结构光的单一线性光源不同，表面结构光源可分为重复图案传输法和编码图像传输法㊂虽然它存在计算复杂和结构光图像匹配的问题，但由于表面光源不需要像线结构光那样进行扫描，因此测量速度比线结构光大大加快㊂因此，表面结构光检测得到了广泛的应用㊂五㊁结语文章通过偏光片外观缺陷进行了概括性的分析，通过其中的缺陷检测难点归总，在此分析了偏光片外观缺陷检测技术，展示出各个检测技术的优缺点以及工作原理，希望能给偏光片外观缺陷检测技术一定的补充作用㊂参考文献：［１］黄广俊，邓元龙．融合改进ＬＢＰ和ＳＶＭ的偏光片外观缺陷检测与分类［Ｊ］．计算机工程与应用，２０１９，ｖ．５６；Ｎｏ．９６５（２２）：２５７－２６１．［２］石鹏飞．基于深度学习的偏光片检测技术研究［Ｊ］．机械管理开发，２０１９，ｖ．３４；Ｎｏ．１９３（５）：１６８－１６９，１７８．作者简介：李建红，南京汉旗新材料股份有限公司㊂。
偏光片的基本性能指标
偏光片的基本性能指标LCD偏光片的基本性能指标主要有：光学性能、耐久性性、粘接特性、外观性能和其他特殊性能几个方面的基本技术指标要求。
偏光片的光学性能包括：偏光度、透过率和色调三项主要性能指标，其它还包括防紫外线性能以及半透过型偏光片半透膜的透过率、全反射率和漫反射率指标。
在一般LCD产品的使用中，要求偏光度和透过率性能指标越高越好。
偏光度和透过率越高，LCD显示器件的显示效率就越高，相对能耗就小。
但对常规碘染色的偏光片产品而言，偏光度和透过率是一对矛盾，偏光度越高，透过率就会越低，而且还要受到色调的约束，因此一般普通型的偏光片产品的偏光度都在90%—99%之间，透过率在41%—44%之间。
广东福地日合偏光器件有限公司生产的“福地”牌偏光片通用型PLN产品的偏光度为97%以上、透过率为43%，而中耐久、高对比型PMN产品的偏光度在99.9%以上、透过率为42%以上。
色调指标主要为满足人们的视觉习惯，同时要求偏光片产品的色调偏差要小，以保证LCD最终产品外观色调的一致性，这主要由偏光片产品的色度坐标参数L、a、b值和它们的控制公差范围来标识，一般其控制公差的范围越小越好。
偏光片的耐久性技术指标包括耐高温、耐湿热、耐低温和耐冷热冲击四项技术指标，其中最重要的是耐湿热性能指标的高低。
耐高温是指偏光片在恒定烘烤温度下的耐温工作条件，目前根据偏光片的技术等级，通常分为通用型：工作温度为70℃×500HR；中耐久型：工作温度为80℃×500HR；高耐久型：工作温度在90℃×500H以上这三个等级。
耐湿热技术指标是指偏光片在恒温恒湿条件下的耐湿热工作性能，它也通常分为三个技术等级，既通用型：湿热工作条件为40℃×90%RH×500HR；中耐久型：湿热工作条件为60℃×90%RH×500HR；高耐久型：湿热工作条件为：70℃×95%RH×500HR以上。
偏光片检验标准
偏光片检验标准1.0 目的建立适用于偏光片（P/L）进料检验的作业方法与检验标准，使检验员作业规范化和标准一致化，以验证所进物料的符合性，确保对不合格品的流入进行有效控制并为评鉴供应商提供依据。
2.0 范围本检验标准仅适于仙宇电子有限公司所使用的偏光片（P/L）的进料检验3.0 职责品质部IQC负责依据该标准对偏光片（P/L）进行进料检验。
4.0 缺陷等级a 致命（严重）缺陷（CRI）：会给使用或维修、维护带来危险；功能性缺陷或违反相关的法律法规包括标准；客户不能接受或存在客户重大投诉或处罚的；若使用后会对最终产品造成致命性的损坏或若使用会造成批量产品的不良等。
b 主要缺陷（MAJ）：性能不能达到预期的目标，但不至于引起危险或不安全现象；导致最终产品使用性能或功能下降；客户很难接受或存在客户抱怨风险的。
c 一般（次要）缺陷（MIN）：不满足规定的要求但不会引起客户抱怨及影响产品使用功能的；客户难于接受但通过沟通能使客户接受的；\5.0 验收之标准(一次正常抽样方案)：采用正常检验一次抽样，参考：MIL-STD-105ECRI：AQL=0 主要缺陷（MA）：AQL=0.4 次要缺陷（MI）：AQL=1.06：检验标准与检验方法6．0贴片要求：偏光片位置偏光片的型号和角度要参照生产通知单或BOM表。
张贴位置和尺寸要附合图纸要求，边缘修理成锯齿状不允许；偏光片方向错误，上下片贴反不允许1）偏光片张贴要附合图纸要求，不允许超出玻璃边缘。
2）偏光片必须完全覆盖AA区，并与环氧框重合1/2以上（图纸有特别要求的除外）。
7.0贴片后外观检验标准偏光片表面明显刺/压伤检查标准按清晰点缺陷处理；边缘脱胶，气泡，褶皱，等不良不允许进入LCD边缘环氧框的1/2，无法描述的不良现象如：钝物压伤，水波纹等须由品质工程师定极限样板判断；半透、双透产品偏光片必须完全覆盖环氧框，不允许出现现象C（图纸有特别要求的除外）7.0注意事项：7．1 必须有对应的图纸、承认书、样品，且每次检验均认真核对。
LCM产品检验标准及检验方法
LCM产品检验标准及检验方法1. LCM产品的检验标准：（1）检验条件：①环境条件定为（常温）20~25℃，（常温下）65%±5%RH（湿度）。
②检验照明工具为20W荧光灯，距工作台面（产品）上方50cm，目视距离30cm以上的条件下目视检查。
（2）检验标准：检验主要以批次抽样检验，抽样标准以GB2828-93为依据。
2．LCM检验中常用术语：（1）黑点、黑线①加电时显示深色斑点及深色线状斑点，液晶驱动电压变化时并不产生大的变化。
②加电时显深色的线状斑点，液晶驱动电压变化时产生大的变化。
（2）白点①加电时显示浅色的斑点，液晶驱动电压变化时不产生大的变化。
②加电时显示浅色的斑点，液晶驱动电压变化时产生大的变化。
（3）白线①加电时显示浅色的线状斑点，液晶驱动电压变化时并不产生大的变化。
②加电时显示浅色的线状斑点，液晶驱动电压变化时并产生大的变化。
（4）蓝点加电时显示很深颜色的斑点，液晶驱动变化时产生大的变化。
（5）纵线（竖线）缺陷加电时，纵向（一般为短轴）线不亮、浅显。
（6）横线缺陷加电时，横向（一般为长轴）线不亮、浅显。
（7）十字线缺陷加电时，横向与纵向线交叉点不亮。
3．检验范围：（1）一般外观检查：①LCM所有的外形尺寸（各器件）。
②LCM的LCD的偏光片外观、屏的颜色均匀度。
偏光片的外观包括：划伤、压痕、气泡和污物。
③焊剂、焊点的漏焊、虚焊、焊料不足、桥接、溢出（料多）。
④LCM外壳的外观，电镀漆是否均匀，有否划伤、脱漆。
⑤元器件间引线的均匀度，有否划伤。
⑥PCB板上阻焊膜有否脱落（有尺寸限制），线路铜箔有否划伤。
⑦螺钉紧固、壳脚紧固程度。
（2）通电显示检查：①输入电压、工作频率、消耗电流、LCD的对比度及响应速度。
②通电时（按标准输入电压）其视角范围、显示图形有否上述缺陷及图形错位。
4．LCM抽样环境试验：在LCM出厂之前还要抽样进行各种环境试验，项目包括：①高温加电，高温（40℃，60℃）放置试验。
偏光片测试报告
1
1 2 2 1 1 1
系统
VisionPro
Win7 x64
Max-u
1
1
偏光片检测方案
目录
项目背景
方案设计
检测结果
硬件清单
项目背景
通过视觉系统采集图像，对偏光片进行以下内容检测 字体颜色混淆 产品尺寸在600mm*450mm 斑点尺寸：0.2mm*0.3mm 折痕与气泡检测 标识有无 标识的方向、字符比对、缺陷（无法识别）
参数 2592*1944 60（mm）*40（mm） 200mm 800mm±10mm 0.05mm/pixel
硬件清单
种类
描述
数量
相机
镜头 光源 光源延长线 光源控制器 通讯线缆 电源线缆
CAM-CIC-5000-17-G
HF35SA-1 OPT-FLK224174 5M OPT-DPA6024-2 CGE-CBL-FLEX-H-5M COG-IO-CBL-06P-10M
说明
1.测试时使用的是500万像素的标准速度的黑白相机，在平行背光源背景下和平行 同轴光源时，所获取的图像特征比较明显，软件处理单个检测项目时间50ms。 2.实际生产中建议用下配方的方式选择当前需要的模型程序。
系统参数
项目 相机分辨率 视野 光源工作距离 WD 测量精度
检测标识与记号的安装方式
相机
偏光片
1100mm 200mm
平行背 光源
拍照效果
记号有无检测
拍照效果
记号有无检测
检测折痕与气泡的安装方式
相机
平行背 光源
200mm
偏光片检测标准
偏光片检测标准(2007/08/01 08:27)点图进入相册点图进入相册点图进入相册1 范围本标准规定了偏光片的外观要求、检验方法。
本标准适用于在液晶显示器件中偏光片的购入检验。
2 规格外形尺寸参见产品图纸。
3 底色要求3.1 贴片试验：每批抽取5 片进行贴片试验，贴片后观察LCD 底色，详见实物封样（IQC 留样品），5 片中有1 片不一致则判为不合格。
3.2 吸收轴核对：使用标准片旋转90°,核对吸收轴角度。
4 检验方法4.1 尺寸：测量图纸中带“*”号的尺寸，测试结果在公差范围内为合格4.2 外观检验检查下表中各外观项目， AQL：0.65* 以上AQL 取值标准均依据《零缺陷抽样方案表》所有项目中1 片超出规格,即判为不合格,4.4 检验条件检验用照明光源为日光形荧光灯或白荧光灯，发光强度为600 lx。
检验环境条件：温度 15℃～35℃湿度 45﹪～75﹪压力 86～106kpa目检时检验者的眼睛离样本为25cm。
并在与样品表面正视基础上，上下翻转60°夹角的情况下进行检验。
（见下示意图），每片样本检验时间最多5 秒。
1 范围本标准规定了偏光片的外观要求、检验方法。
本标准适用于在液晶显示器件中偏光片的购入检验。
2 规格外形尺寸参见产品图纸。
3 底色要求3.1 贴片试验：每批抽取5 片进行贴片试验，贴片后观察LCD 底色，详见实物封样（IQC 留样品），5 片中有1 片不一致则判为不合格。
3.2 吸收轴核对：使用标准片旋转90°,核对吸收轴角度。
4 检验方法4.1 尺寸：测量图纸中带“*”号的尺寸，测试结果在公差范围内为合格4.2 外观检验检查下表中各外观项目， AQL：0.65* 以上AQL 取值标准均依据《零缺陷抽样方案表》所有项目中1 片超出规格,即判为不合格,4.4 检验条件检验用照明光源为日光形荧光灯或白荧光灯，发光强度为600 lx。
检验环境条件：温度 15℃～35℃湿度 45﹪～75﹪压力 86～106kpa目检时检验者的眼睛离样本为25cm。
STN黑白屏检验标准
≦0.1mm 0.1 mm<Φ≦0.15mm 0.15mm <Φ
针孔凸凹
L
(长+宽)/2≦0.2mm
允收1个
(长+宽)/2≦0.25mm
允收
WL +
直径为1cm的范围内不得超过2个 拒收（以可接收样片为准）
直径为1cm的范围内不得超过2个 拒收（以可接收样片为准） 拒收（以可接收样片为准） 拒收（以可接收样片为准）
小于1/8边长且未触及 小于1/8边长或未触及 小于1/4PIN长 PIN PIN宽的1/4 边沿小于等于0.5mm 小于等于3mm 边沿小于等于0.5mm
边沿小于等于0.5mm
Y
D
区 端子 电极
X
长≦1.0mm，宽≦0.3mm 允收一处
长≦1.0mm 宽≦1/4PIN长 深≦1/2玻璃厚度 允收
长≦1/8边长宽≦1/4PIN长 深≦玻璃厚度 允收
未产生口漏或入可视区允收
银点内露
银点内凸框胶内
不进入可视区允收
通电层不洁 PIN端子 偏光片不洁 PIN端子不洁 及LCD表面脏
A B a b
目视不能有油污或有异物
30cm目视不可见
30cm目视不可见
30cm目视不可见
30cm目视不可见
偏光片贴歪
未凸出玻璃边且覆盖到框线2/3 （特殊情况参照规格书图纸）
允许个数 Φ（mm） A区 1cm直径内不允许超 偏光片刺伤 过2个 （未穿透） （A区为可视区，B 区为非可视区） ≦0.1 <0.15 <0.20 <0.25 不计 1 0 0 B区 不计 不计 1 0 ≦0.1 <0.15 <0.20 <0.25 Φ（mm） A区 不计 2 0 0
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1.0 目的
建立适用于偏光片（P/L）进料检验的作业方法与检验标准，使检验员作业规范化和标准一致化，以验证所进物料的符合性，确保对不合格品的流入进行有效控制并为评鉴供应商提供依据。
2.0 范围
本检验标准仅适于仙宇电子有限公司所使用的偏光片（P/L）的进料检验
3.0 职责
品质部IQC负责依据该标准对偏光片（P/L）进行进料检验。
4.0 缺陷等级
a 致命（严重）缺陷（CRI）：
会给使用或维修、维护带来危险；
功能性缺陷或违反相关的法律法规包括标准；
客户不能接受或存在客户重大投诉或处罚的；
若使用后会对最终产品造成致命性的损坏或若使用会造成批量产品的不良等。
b 主要缺陷（MAJ）：
性能不能达到预期的目标，但不至于引起危险或不安全现象；
导致最终产品使用性能或功能下降；
客户很难接受或存在客户抱怨风险的。
c 一般（次要）缺陷（MIN）：
不满足规定的要求但不会引起客户抱怨及影响产品使用功能的；
客户难于接受但通过沟通能使客户接受的；\
5.0 验收之标准(一次正常抽样方案)：
采用正常检验一次抽样，参考：MIL-STD-105E
CRI：AQL=0 主要缺陷（MA）：AQL=0.4 次要缺陷（MI）：AQL=1.0
6：检验标准与检验方法
执行部门：品质部生效日期：2013-03-1 页码/总页：第3 页共5 页
粘性MA 粘性要适中（每次来料粘性与样品粘性作对比）/ 注：边缘距离≤0.5mm范围内的外观缺陷不计。
6．0贴片要求：
偏光片位置
偏光片的型号和角度要参照生产通知单或BOM表。
张贴位置和尺寸要附合图纸要求，
边缘修理成锯齿状不允许；
偏光片方向错误，上下片贴反不允许
1）偏光片张贴要附合图纸要求，不允许超出玻璃边缘。
2）偏光片必须完全覆盖AA区，并与环氧框重合1/2以上（图纸有特别要求的除外）。
7.0贴片后外观检验标准
圆状物
凹凸点
偏光片气
泡（上片）MI
ф=（长径+短径）/2 允许缺陷个数
目视
菲淋卡ф≤0.1mm 不限
0.1mm<ф≤0.15mm 2个，但间距需大于10mm
0.15mm<ф≤0.2mm 1个
Φ＞0.2mm不允许
偏光片表面明显刺/压伤检查标准按清晰点缺陷处理；
边缘脱胶，气泡，褶皱，等不良不允许进入LCD边缘环氧框的1/2，无法描述的不良现象如：钝物压伤，水波纹等须由品质工程师定极限样板判断；
半透、双透产品偏光片必须完全覆盖环氧框，不允许出现现象C（图纸有特别要求的除外）7.0注意事项：
7．1 必须有对应的图纸、承认书、样品，且每次检验均认真核对。
7．2试撕3-5PCS，看偏光片角度与图纸否一致。
7．3 所有的检验动作都必须戴防静电指套。
7．4 检验条件为：裸视1.0以上，视距200-300mm，外界环境照度600LUX以上
7．5 用反射光检查外观缺陷的顺序为：先检查边缘，再以Z型方式由上往下，逐一扫描检查（每一行的扫描范围不可超过100mm）。
7．6 检验时发现的不良需标识清楚。
6.0 相关文件
无
***完***。