结合抖动测试方法
SDH设备抖动测试
SDH设备抖动测试佚名【摘要】Transmission equipment has undergone several generations of updates, and it has been gradually completed the transition from analog devices to the PDH and SDH equipment. There are many advantage of SDH equipment that PDH equipment can not match, but it also has some defects, such as jitter induced by pointer adjustment. The jitter of the transmission equipment is very important for the quality of communication, for this reason, through theoretical analysis, combined with the actual test, the jitter measurements in transmission equipment engineering acceptance are discussed in detail.% 传输设备经历了几代更新，已逐步完成了模拟设备到PDH设备和SDH设备的过渡。
SDH有许多PDH 设备所不能比拟的优点，但也存在一些缺陷，比如指针调整引起的抖动。
由于传输设备的抖动对通信质量至关重要，文中通过理论分析，结合实际测试，对传输设备工程验收中抖动指标的测量进行了详细的论述。
【期刊名称】《物联网技术》【年(卷),期】2013(000)007【总页数】4页(P57-59,61)【关键词】SDH数字设备;相位噪声;抖动测量;通信【正文语种】中文【中图分类】TP212通信技术的迅猛发展，使得网络的核心部分发生了巨大的变化，越来越多的数字传输设备逐渐取代了原有的模拟设备。
丢包延迟抖动测试方法
丢包延迟抖动测试方法一、引言丢包延迟抖动测试是网络性能测试中常用的一种方法。
通过测试网络的丢包率、延迟和抖动情况，可以评估网络的稳定性和性能。
本文将介绍丢包延迟抖动测试的方法和步骤，以帮助读者更好地了解和应用这一测试方法。
二、丢包测试丢包是指在网络传输过程中丢失的数据包。
丢包率是衡量网络稳定性的重要指标之一。
为了测试网络的丢包率，可以使用ping命令。
在命令行中输入“ping IP地址”，系统会向目标地址发送数据包，并等待目标地址返回响应。
通过统计发送和接收的数据包数量，可以计算出丢包率。
在进行丢包测试时，需要注意以下几点：1. 测试时应选择合适的目标地址，可以选择与本地网络相连的服务器或路由器。
2. 测试时应选择合适的数据包大小，一般来说，较小的数据包更容易丢失，较大的数据包更能反映网络的真实情况。
3. 测试时应选择合适的测试时间，通常建议测试时间不少于1分钟，以获取更准确的丢包率。
三、延迟测试延迟是指数据包从发送端到接收端所需的时间。
延迟测试可以通过ping命令或专业的网络测试工具来进行。
在ping命令中，可以通过“ping -n 次数IP地址”来指定测试次数，系统会向目标地址发送数据包，并记录下每个数据包的往返时间。
通过统计这些时间，可以计算出平均延迟。
在进行延迟测试时，需要注意以下几点：1. 测试时应选择合适的目标地址，可以选择与本地网络相连的服务器或路由器。
2. 测试时应选择合适的测试次数，通常建议测试次数不少于100次，以获取更准确的延迟值。
3. 测试时应选择合适的时间段，避免网络繁忙时进行测试，以保证测试结果的准确性。
四、抖动测试抖动是指网络延迟的变化波动。
抖动测试可以通过专业的网络测试工具来进行。
这些工具可以记录下每个数据包的往返时间，并计算出延迟的变化范围。
通常，抖动较小的网络延迟更稳定，抖动较大的网络延迟更不稳定。
在进行抖动测试时，需要注意以下几点：1. 测试时应选择合适的目标地址，可以选择与本地网络相连的服务器或路由器。
如何通过实时示波器进行抖动测试和分析
器配合 TDSJIT3 抖动分析软件进行抖动测试和分析。图 1 是 TDSJIT3 实时抖动测试结果。
图 1 TDSJIT3 进行高速数据的抖动测试和抖动分解
3. 抖动测试
抖动可以描述为相邻脉冲边沿、甚至非相邻脉冲边沿周期或相位的定时变化。这些指标适 合检定长期和短期的时钟和数据稳定性。通过更加深入地分析抖动指标，利用抖动测试结果， 预测复杂系统的数据传输性能。
测量误差可能会高达50 ps峰值，RMS结果将受到类似的影响，因为时基误差是确定的。在 这种情况下，我们看到在测量时间更长时，常数0.3所决定的短期抖动效应变得不如时基校准和 稳定性对长时间结果的影响明显。在泰克示波器中，采用一种独有硬件技术保证更高的时间测 试精度，称为实时内差模式，它作用在示波器采集前端，通过sinx/x内差算法在ADC的样点间插 入样点，并且可以调节插入的样点数目，最小样点间隔为500fs。
检验JNF的方法之一是测量没有噪声的、完美定时的信号。尽管完美信号非常少见，但适
ZhangKai, Tektronix China
当良好的信号源是存在的，可以用来表征抖动本底噪声。一般用于这一测试的常用仪器是具有 低相位噪声的高精度RF发生器。
泰克示波器使用时间间隔误差(TIE)来测量JNF。TIE是最优方法，因为它测试出信号中的任 何相位误差，而不管误差具有高频特点还是低频特点，是单次事件误差还是累积误差。此外， 在实时示波器中，TIE方法可以将计算得到的完美时钟作为参考时钟源。
对于数字示波器而言，典型的抖动测试方法主要有 2 种： 1) 采用数字存储示波器的等效采样模式或直接使用采样示波器，通过直方图统计测量累计定
时抖动。等效采样的缺点是无法消除示波器自身的触发抖动对测试结果的影响，并且由于 它采用的是多次触发，多次采集，累计显示的工作方式，对于电路设计和调试而言受到较 多的限制，无法进行深层的抖动分析。另一个限制是该方法抖动测试参数有限，例如不能 测试周期间抖动。 2) 3) 更为流行的方法是采用数字存储示波器的实时捕获模式，单次触发，连续采集大量数据， 配合相应的抖动测试软件进行抖动测试。当通过实时采集模式时，由于示波器工作在单次 触发模式，连续实时采集所有信号，所以它不受仪器多次触发带来的触发抖动影响。并且 它可以通过复杂的抖动分析和抖动分解得到每一个抖动分量，帮助设计和测试人员分析抖 动产生的原因，甚至通过抖动分解估算系统的误码率。例如，在美国国家信息标准委员会 (INCITS)下属的 T11.2 组织在有关抖动和信号完整性方法论(MJSQ)中，推荐泰克实时示波
示波器抖动的完美测量 示波器如何操作
示波器抖动的完美测量示波器如何操作对抖动完美测量的一半工作量都在于如何设置示波器。
我们的目标是捕获并显示出信号在系统环境下的真实情况。
由于每个试验室都有实时示波器，有必要知道如何去操作它对抖动完美测量的一半工作量都在于如何设置示波器。
我们的目标是捕获并显示出信号在系统环境下的真实情况。
由于每个试验室都有实时示波器，有必要知道如何去操作它们。
抖动测量对环境特别敏感，所以要想方法针对各种抖动优化测试环境。
首先要选取具备合适带宽的设备。
假如带宽太窄，测试得边沿速率就会很低。
低的沿速率会将幅度噪声更多的转化为时域错误。
但是，假如带块太大，也只会加添测试中的热噪声和散粒噪声从而提高噪底。
在NRZ码流来讲，一个阅历规定就是选取带宽为码率的1.8倍。
是信号最高基频的两倍；实际上，捕获过程中的模拟信号整形和数据变换会留有余量，因此示波器真正需要的采样速率是最高基频的2.5到3倍。
所以，示波器的带宽采样速率比大约为1到3.对于减小ADC量化误差来讲增大仪器的纵向解析度很紧要。
调整电压/刻度旋钮直到图形正好进入屏幕的垂直范围。
过度就会使ADC变化饱和，不满就会减低SNR.测量TIE抖动时时基设置也很紧要，由于这项设置相当于可调的高通滤波器。
时基会设置捕获时的最小TIE频率（示波器带宽决议最高抖动频率）。
同样，确定测试数据码型中包含有正确的频谱成分范围，并且只含有实数频谱成分。
当接受PRBS码型时，码型长度要充分长保证捕获到低频重量，同时又不能超过仪器的存储范围。
始终削减触发与第一个采样点间的延时。
信号被触发后，定时的不确定与时基等待采样数据的长短成正比。
削减延时降低了这种不确定性，因此减低了被测抖动值。
避开示波器均化波形，选择sin（x）/x在数据点间插值，并使用大幅度的快速触发。
最后，在知道实际系统接收器门限电平的情况下将触发电平设置与其一致，否则，设置为波形值的一半。
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Jitter_数字信号抖动的测试
f 此图是频谱图，从图上
可以很容易的分析出抖 动的频率分布情况，从 而帮助找到抖动的根 源，去除抖动，指导电 路调试。
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浴盆曲线分析
f 水平轴显示 BER Eye
Opening，垂直轴为累 积的bit数
f 此图显示误码率及累积
次数的曲线图，从图上 可以很容易的分析出 BER必须使用很 长存储深度捕获数据， 才能发现数据的变化规 律
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周期趋势统计分析
f 水平轴显示每一个测量
点，垂直轴为测量的数 值
f 右上方显示光标值
f 此图可呈现每一个周期
的抖动偏移量，从而了 解此时钟信号的周期趋 势
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抖动滤波（Jitter3 V2新功能）
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滤波器模型
可以根据需要设置滤波器模型的 参数，对时间趋势图或周期趋势图 进行低通滤波，带通滤波，高通滤 波分析不同频段的抖动趋势。
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抖动滤波应用：用5MHz的截止频率进行低通滤波
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抖动滤波应用： 用35K的截止频率进行低通滤波
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抖动频谱统计分析-追溯抖动根源
f 水平轴显示抖动频率，
垂直轴为每一个频率点 抖动幅度
直方图(Histogram)统计分析 时间趋势(Time Trend)统计分析 周期趋势(Cycle Trend)统计分析 抖动频谱(Spectrum)统计分析 浴盆曲线(BathTub)统计分析
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测量参数
f TDS7000系列示波器配合
TDSJit3应用软件
f 测量参数包括: – 时钟(10项) – 数据(4项) – 时钟－数据(3项) – 通用(8项) 共 4类25项参数 f 一次可同时测量任意6项参
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抖动测量与分析
抖动的测量与分析一、时钟抖动时钟是广泛用于计算机、通讯、消费电子产品的元器件，包括晶体振荡器和锁相环，主要用于系统收发数据的同步和锁存。
如果时钟信号到达接收端时抖动较大，可能出现：并行总线中数据信号的建立和保持时间余量不够、串行信号接收端误码率高、系统不稳定等现象，因此时钟抖动的测量与分析非常重要。
1、时钟抖动的分类时钟抖动通常分为时间间隔误差（Time Interval Error，简称TIE），周期抖动（Period Jitter）和相邻周期抖动（cycle to cycle jitter）三种抖动。
TIE又称为phase jitter，是信号在电平转换时，其边沿与理想时间位置的偏移量。
理想时间位置可以从待测试时钟中恢复，或来自于其他参考时钟。
Period Jitter是多个周期内对时钟周期的变化进行统计与测量的结果。
Cycle to cycle jitter是时钟相邻周期的周期差值进行统计与测量的结果。
2、时钟抖动的测量对于每一种时钟抖动进行统计和测量，可以得到其抖动的峰峰值和RMS值（有效值），峰峰值是所有样本中的抖动的最大值减去最小值，而RMS值是所有样本统计后的标准偏差。
3种时钟抖动可以调用示波器的抖动包中的TIE、Period和Cycle to cycle函数进行测试。
3、时钟抖动的应用范围在三种时钟抖动中，在不同的应用范围需要重点测量与分析某类时钟抖动。
TIE抖动是最常用的抖动指标，在很多芯片的数据手册上通常都规定了时钟TIE抖动的要求。
对于串行收发器的参考时钟，通常测量其TIE抖动。
在并行总线系统中，通常重点关注Period Jitter和Cycle to cycle jitter。
4、时钟抖动的分析在时钟抖动测量时，可以在三个域分析抖动，即在时域分析抖动追踪（jitter track/trend）、在频域观察抖动的频谱、在统计域分析抖动的直方图。
二、串行数据抖动1、数据抖动的分类和来源业界通常把串行数据的抖动分解为：在力科SDA系列示波器中使用了‘normalized Q-scale method’（简称NQ-Scale方法）来求解Tj。
抖动产生及测试
抖动产生及测试一、信号完整性测试手段抖动测试、波形测试、眼图测试，是三种常用的信号完整性测试。
1.抖动测试：抖动测试现在越来越受到重视，因为专用的抖动测试仪器，比如TIA(时间间隔分析仪)、SIA3000，价格非常昂贵，使用得比较少。
使用得最多是示波器加上软件处理，如TEK 的TDSJIT3 软件。
通过软件处理，分离出各个分量，比如RJ 和DJ，以及DJ 中的各个分量。
对于这种测试，选择的示波器，长存储和高速采样是必要条件，比如2M 以上的存储器，20GSa/s 的采样速率。
不过目前抖动测试，各个公司的解决方案得到结果还有相当差异，还没有哪个是权威或者行业标准。
2.波形测试首先是要求主机和探头一起组成的带宽要足够。
基本上测试系统的带宽是测试信号带宽的3 倍以上就可以了。
实际使用中，有一些工程师随便找一些探头就去测试，甚至是A 公司的探头插到B 公司的示波器去，这种测试很难得到准确的结果。
波形测试是信号完整性测试中最常用的手段，一般是使用示波器进行，主要测试波形幅度、边沿和毛刺等，通过测试波形的参数，可以看出幅度、边沿时间等是否满足器件接口电平的要求，有没有存在信号毛刺等。
由于示波器是极为通用的仪器，几乎所有的硬件工程师都会使用，但并不表示大家都使用得好。
波形测试也要遵循一些要求，才能够得到准确的信号。
其次要注重细节。
比如测试点通常选择放在接收器件的管脚，如果条件限制放不到上面去的，比如BGA封装的器件，可以放到最靠近管脚的PCB 走线上或者过孔上面。
距离接收器件管脚过远，因为信号反射，可能会导致测试结果和实际信号差异比较大;探头的地线尽量选择短地线等。
最后，需要注意一下匹配。
这个主要是针对使用同轴电缆去测试的情况，同轴直接接到示波器上去，负载通常是50 欧姆，并且是直流耦合，而对于某些电路，需要直流偏置，直接将测试系统接入时会影响电路工作状态，从而测试不到正常的波形。
3.眼图测试眼图测试是常用的测试手段，特别是对于有规范要求的接口，比如E1/T1、USB、10/100BASE-T，还有光接口等。
抖动测试原理范文
抖动测试原理范文抖动测试是指通过在特定环境下对设备进行震动、振动等物理力的作用下的稳定性和可靠性进行测试的一种方法。
它旨在验证设备在实际使用过程中是否能够正常工作以及抵抗振动和震动的能力。
抖动测试的原理主要基于以下几个方面：1.场景模拟：抖动测试需要根据设备实际使用环境的振动和震动情况进行模拟。
通过对各种振动源进行分析和实测，选择合适的振动频率、振动幅度和振动形式，以模拟设备在真实使用中所遇到的各种振动环境。
2.负载检测：抖动测试需要考虑设备在振动状态下所承受的负载情况。
通过在设备上施加一定的力或负载，连同振动作用在设备身上产生动力学效应，以模拟设备在振动状态下的实际工作负载。
3.频率和振幅控制：抖动测试需要对振动频率和振幅进行精确控制。
频率是指振动的重复次数，通常以赫兹（Hz）为单位表示，而振幅则指振动的最大位移，通常以米（m）为单位表示。
通过控制振动平台或振动系统的运行参数，可以精确控制设备所受到的振动频率和振幅。
4.数据采集与分析：在抖动测试中，需要对设备在振动状态下的各种参数进行数据采集和分析。
通过加速度传感器、应变计等测量仪器，可以记录设备在不同振动频率和振幅下的响应。
然后通过数据分析工具对采集到的数据进行处理和分析，得出设备在振动状态下的工作性能及其可靠性。
5.故障模式和评估：抖动测试主要用于验证设备在振动状态下的可靠性和稳定性。
通过不断调整振动频率和振幅来测试设备的抗振能力，进而观察设备是否出现性能下降、失效或故障等情况。
同时，对设备进行故障模式和评估，可以帮助发现潜在的问题和改进设备设计。
抖动测试通过模拟设备在实际使用中所遇到的振动环境，对设备的性能及可靠性进行验证。
通过合理的场景模拟、负载检测、频率和振幅控制、数据采集与分析以及故障模式和评估等步骤，可以全面评估设备在振动状态下的工作能力和可靠性，从而为设备的设计、生产和使用提供科学依据。
抖动测试在许多领域都有广泛的应用，例如汽车、航空航天、电子产品等。
抖动测试-UI
第六部分抖动测试6、1 抖动特性一、抖动的概念在理想情况下，数字信号在时间域上的位置是确定的，即在预定的时间位置上将会出现数字脉冲（1或0）。
然而由于种种非理想的因素会导致数字信号偏离它的理想时间位置。
我们将数字信号的特定时刻（例如最佳抽样时刻）相对其理想时间位置的短时间偏离称为定时抖动，简称抖动。
这里所谓短时间偏离是指变化频率高于10Hz的相位变化，而将低于10Hz的相位变化称为漂移。
事实上，两者的区分不仅在相位变化的频率不同，而且在产生机理、特性和对网络的影响方面也不尽相同。
定时抖动对网络的性能损伤表现在下面几个方面：*对数字编码的模拟信号，解码后数字流的随机相位抖动使恢复后的样值具有不规则的相位，从而造成输出模拟信号的失真，形成所谓抖动噪声，影响业务信号质量，特别是图像信号质量。
*在再生器中，定时的不规则性使有效判决点偏离接收眼图的中心，从而降低了再生器的信噪比余度，直至发生误码。
＊对于需要缓存器和相位比较器的数字设备，过大的抖动会造成缓存器的溢出或取空，从而导致不可控滑动损伤。
二、抖动机理1、PDH与SDH共有的抖动源（1）、随机性抖动源* 各类噪声源* 定时滤波器失谐* 完全不相关的图案抖动（2）、系统性抖动源* 码间干扰* 有限脉宽作用* 限幅器的门限漂移* 激光器的图案效应2、SDH设备特有的抖动机理（1）、指针调整抖动SDH设备的支路信号的同步机理采用所谓的指针调整，即利用指针值的增减调整来补偿低速支路信号的相位变化和频率变化，由于指针调整是按字节为单位进行的，调整时将带来很大的相位跃变。
带有这些相位跃变的数字信号通过带限电路时将会产生很长的相位过滤过程。
处于正常同步工作的SDH网中的指针调整主要是由于同步分配过程中的随机噪声引起的，因而由之引起的相位跃变的出现时刻是不规律的，整个相位调整的时间可能很长。
因此，指针调整与网同步的结合将在SDH/PDH边界产生很低频率的抖动或漂移，这种抖动称为指针调整抖动。
抖动相关测试说明及设置
目录第一章仪表使用简介——ANT-20E (3)1.1 ANT-20E SDH测试仪简介 (3)1.2 ANT-20E前面板功能介绍 (3)1.2.1 前面板介绍 (3)1.2.2 ANT-20E 顶部的接口端子图 (5)1.3 ANT-20E的基本操作 (8)1.3.1 启动 (8)1.3.2 测试时间设置 (10)1.3.3 测试功能模块设置 (11)1.3.4 收发激光器设置 (12)1.3.5 Signal Structure(信号配置) (14)1.3.6 测量开始和终止 (15)1.3.7 结果保存 (16)第二章测试指导书 (18)2.1 光输入口允许频偏 (18)2.1.1 概念 (18)2.1.2 测试方法 (18)2.2 光口的输出抖动 (20)2.2.1 概念 (20)2.2.2 测试方法 (22)2.3 输入口的抖动容限 (23)2.3.1 概念 (23)2.3.2 测试方法 (24)2.4 设备的抖动传函 (26)2.4.1 概念 (26)2.4.2 测试方法 (27)2.5 误码测试 (29)2.5.1 概念 (29)2.5.2 测试方法 (29)2.6 映射抖动 (31)2.6.1 概念 (31)2.6.2 测试方法 (32)2.7 结合抖动 (33)2.7.1 概念 (33)2.7.2测试配置图 (35)第一章仪表使用简介——ANT-20E1.1 ANT-20E SDH测试仪简介ANT-20E是德国WG公司生产的SDH测试仪，是基于计算机操作系统下的软仪表。
ANT-20使用WIN32作操作系统，ANT-20E和ANT-20SE使用WIN95作操作系统，ANT-20SE增加了触摸屏的功能，面板的中间专门有用于触摸屏的触摸笔。
打开电源后，首先运行视窗操作系统，因ANT-20E SDH测试仪的可执行文件是放在操作系统的启动项中，操作系统完成初始化后，自动运行ANT-20E SDH测试仪的可执行文件。
抖动测试和分析
抖动和噪声信号损伤
24 2005/10
V0.90
80SJNB –高级抖动, 噪声和BER分析软件
更加全面 Î 更加精确地分析BER
更加精确的眼图轮廓和BER估算
抖动分离
误码率 (BER)
噪声分离
= 无界 = 有界
随机抖动 (RJ)
总抖动 (TJ)
确定性抖动 (DJ)
总噪声 (TN)
随机噪声 (RN)
周期 f 稳定时间测量
17 2005/10
V0.90
内容提要
f 抖动分类 f 不同抖动类别使用的不同测试工具
– 工具#1: DSO – 工具#2: RTSA – 工具#3: 采样示波器
f 详细介绍：80SJNB采样示波器分析软件
– 噪声情况 – 结果 – 串行分析技术突破 – 80SJNB的工作方式 总结，问答
V0.90
80SJNB高级抖动, 噪声和BER分析软件
̶ 为TDS/CSA8000系列采样示波器提供的全面的串行数据信号损伤检定软件
5 ≤200 fs rms的固有抖动 5 超低本底噪声 (较BERT或DSO示波器具有采样优势) 5 垂直分辨率高 5 同时支持电接口和光接口应用 5 1 Gbps - 60 Gbps
26 2005/10
V0.90
80SJNB高级抖动, 噪声和BER分析软件
触发, 捕获, 分析 – 频率
V0.90
RTSA – 实时频谱分析仪
时间间隔误差
周期间
周期
¾ 移动通信中复杂调制中的抖动 ¾ 时钟, PLL及其动态性能 ¾ 频段越窄，时间窗口越深(几秒)，可以捕获数据越多 ¾ 支持传统频谱分析仪 ‘视频’ (如相位抖动) ¾ 频域触发
抖动测量的三种方法
抖动测量三种有效方法只要测试数据通信IC或测试电信网络，就需要测试抖动。
抖动是应该呈现的数字信号沿与实际存在沿之间的差。
时钟抖动可导致电和光数据流中的偏差位，引起误码。
测量时钟抖动和数据信号就可揭示误码源。
测量和分析抖动可借助三种仪器：误码率(BER)测试仪，抖动分析仪和示波器(数字示波器和取样示波器)。
选用哪种仪器取决于应用，即电或光、数据通信以及位率。
因为抖动是误码的主要原因，所以，首先需要测量的是BER。
若网络、网络元件、子系统或IC的BER超过可接受的限制，则必须找到误差源。
大多数工程技术人员希望用仪器组合来跟踪抖动问题，先用BER测试仪、然后用抖动分析仪或示波器来隔离误差源。
BER测试仪制造商需要测量其产品的BER，以保证产品符合电信标准。
当需要表征数据通信元件和系统时，BER测试对于测试高速串行数据通信设备也是主要的。
BER测试仪发送一个称之为伪随机位序列(PRBS)的预定义数据流到被测系统或器件。
然后，取样接收数据流中的每一位，并对照所希望的PRBS图形检查输入位。
因此，BER 测试仪可以进行严格的BER测量，有些是抖动分析仪或示波器不可能做到的。
尽管BER测试仪可进行精确的BER测量，但是，对于10-12BER(每1012位为1位误差)精度的网络或器件测试需数小时。
为了把测试时间从数小时缩短为几分钟，BER测试仪采用“BERT scan”技术，此技术用统计技术来预测BER。
可以编程BER测试仪在位时间(称之为“单位间隔”或“UI”)的任何点取样输入位。
“澡盆”曲线表示BER是取样位置的函数。
若BER测试仪检测位周期(0.5UI)中心的位，则抖动引起位误差的概率是小的。
若BER测试仪检测位于靠近眼相交点上的位，则将增大获得抖动引起位误差的似然性。
抖动分析仪BER测试仪不能提供有关抖动持性或抖动源的足够信息。
抖动分析仪(往往称之为定时时间分析仪或信号完整性分析仪)可以测量任何时钟信号的抖动，并提供故障诊断抖动的信息。
抖动测试方法
抖动测试方法
在2.5G设备开局时，经常需要测试设备的抖动指标。
一个信号由于系统的时钟、芯片的门限等的影响，因此引起了输出数据的前后移动，当前后移抖动的频率大于10HZ时，我们就认为，这一种现象是一种抖动，抖动不能很大，否则会对下游站产生很不利的影响。
抖动指标包括有：光口输入抖动容限、电口输入抖动容限、光口输出抖动、电口输出抖动、结合抖动、映射抖动。
具体测试方法如下：
光口输入抖动容限：
如上图连接，电口环回。
配置线路到支路业务，在SDH分析仪上设置该业务所用时隙，进行测试。
电口输入抖动容限：
如上图连接，光发电收。
配置线路到支路业务，在SDH分析仪上设置该业务所用时隙，进行测试。
光口输出抖动：
如上图连接，电口环回。
配置线路到支路业务，在SDH分析仪上设置该业务所用时隙，进行测试。
电口输出抖动：
如上图连接，光口环回。
配置线路到支路业务，在SDH分析仪上设置该业务所用时隙，进行测试。
映射抖动、结合抖动：
如上图连接，电发光收。
配置线路到支路业务，在SDH分析仪上设置该业务所用时隙，进行测试。
网络维护技能(传输专业)岗位认证题库
网络维护技能（传输专业）岗位认证题库一、填空题1.导致指针调整最根本的原因是时钟不同步。
按上报指针调整的功能模块位置来分，可分为AU指针调整和 TU指针调整。
2.当连续5帧以上收不到正确的A1、A2字节，产生帧失步告警OOF ；若OOF持续了3ms则设备产生帧丢失告警LOF 告警。
3.SDH信号最基本的同步传输模块是 STM-N ，其速率为： 8000 （帧/秒）× 9 （行/帧）× 270 （字节/行）× 8 （比特/字节）＝ 155520 kbit/s4.提供给设备的BIT外时钟源有： HDB3码即 Bit数字信号和 HZ码即模拟信号两种时钟源，如果要求系统的时钟源提供S1字节时一般采用的时钟源为 HDB3码。
5.SDH设备运行环境：环境温度＋5~+40℃相对湿度≤85% 电源电压–48或+24V ±15% 。
6.波分系统常见的引起误码产生原因有：光功率异常、信噪比问题、单板故障及性能劣化、非线性问题、色散问题、光反射、外界因素等。
7.目前，DWDM系统中常用的三种波分复用器是耦合型、介质薄模型、AWG型，其中对温度敏感的器件是 AWG 型。
8.信噪比是DWDM系统受限的一个重要因素，而噪声的根源是在于系统中大量应用的 EDFA 放大器。
9.最适合于DWDM系统使用的光纤是 G.655光纤，因为该光纤的色散系数较小，衰耗系数与其他类型的光纤相差无几，而且能够有效抑制四波混频效应。
10.为给光信号提供较高的频率精度和稳定度，ITU-T G.692建议中规定了DWDM系统的绝对参考频率为 193.1 THz。
11.STM-N的帧频为8000帧/秒，信号帧中每字节的比特速率是 64K bit/s。
12.如果在下行信号流中检测到有MS-AIS告警，则通过开销 K2 字节回送MS-RDI 告警给对端。
13.复用段SD保护倒换的两个条件是B2_SD和B2_OVER，这两个告警的误码门限缺省分别是10-6 、10-3 。
双线阵相机抖动测量方案设计
双线阵相机抖动测量方案设计双线阵相机抖动测量方案设计根据双线阵相机抖动测量方案设计的步骤如下：1. 确定测量目标：首先需要明确要测量的物体或系统的抖动情况。
例如，可以选择一个机械系统或摄像机等设备进行抖动测量。
2. 确定双线阵相机的配置：选择合适的双线阵相机进行抖动测量。
双线阵相机的优点是能够同时获取两个方向的图像信息，从而实现对物体抖动的测量。
3. 安装双线阵相机：将双线阵相机固定在合适的位置上，以确保其能够完整观测到要测量的物体或系统。
4. 设置相机参数：根据测量需求，对双线阵相机进行参数设置。
主要包括曝光时间、帧率、像素大小等。
这些参数设置应根据具体的抖动情况来调整，以保证测量的准确性和精度。
5. 数据采集与处理：使用双线阵相机对物体或系统进行图像采集。
在采集过程中，相机会同时获取两个方向的图像信息，并生成一组图像序列。
6. 提取双线阵图像信息：通过对图像序列进行处理，可以提取出双线阵图像的信息。
这可以通过对每个像素的变化进行分析来实现。
例如，可以计算每个像素在两个方向上的亮度差异，并将其用于后续的抖动测量。
7. 抖动测量算法：根据提取的双线阵图像信息，设计合适的抖动测量算法。
这个算法应能够根据像素的亮度差异来计算出物体或系统的抖动幅度和方向。
常见的算法包括相关分析和位移估计等。
8. 抖动测量结果的分析与评估：根据抖动测量算法的计算结果，对物体或系统的抖动情况进行分析与评估。
可以根据需求，将测量结果进行图像化展示，以便更直观地理解和比较不同条件下的抖动情况。
9. 结果的优化与改进：根据分析与评估的结果，对抖动测量方案进行优化与改进。
这可以包括调整相机参数的设置、改进抖动测量算法或采用其他更适合的相机设备等。
10. 实验验证与验证结果分析：通过实验验证抖动测量方案的有效性和准确性。
对实验结果进行分析，评估测量方案的优劣，并根据需要对方案进行进一步的优化和改进。
总结：以上是根据双线阵相机抖动测量方案设计的一般步骤。
抖动测量三种方法
抖动测量三种方法
京湘
【期刊名称】《电子产品世界》
【年(卷),期】2003(000)08A
【摘要】只要测试数据通信IC或测试电信网络，就需要测试抖动。
抖动是应该呈现的数字信号沿与实际存在沿之间的差。
时钟抖动可导致电和光数据流中的偏差位，引起误码。
测量时钟抖动和数据信号就可揭示误码源。
【总页数】3页(P75-76,88)
【作者】京湘
【作者单位】无
【正文语种】中文
【中图分类】TM935.4
【相关文献】
1.抖动测量三种方法 [J], 京湘
2.浴缸抖动-黄金抖动测量? [J], Guy Foster
3.无线测量网络时延抖动快速收敛的测量 [J], 王雪飞
4.时间抖动测量与时间测量同样重要时间抖动的测量仪 [J], 李华
5.三种方法测量白内障患者前房深度的比较及其影响因素 [J], 吴怡;唐少华;杨光;
李青楠;王文婷;鲁巍
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抖动对比测试
抖动对比测试---深圳40G 集中验证总结之三1、 测试目的针对STM256/OTU3，客户侧模块遍历，线路侧模块遍历的情况，测量不同光模块在同一电板上的输出抖动、输入抖动容限及抖动传函，了解不同光模块对单板抖动特性的影响并对各种光模块的性能加以比较。
图1 模块组合图2、 测试方法（1） 首先选择两块性能较好的单板，客户测安装eGtran 模块；（2） 线路测安装需要测试的线路测模块Opnext ，安装好单板后上电调试，调整两单板的业务为STM256，单板线路侧自环，通过客户侧接仪表分别测试两单板的输出抖动和输入抖动容限；（3） 调整单板业务为OTU3，其它条件不变，分别测量两单板输出抖动和输入抖动容限； （4） 客户测模块不变，按照（2）、（3）步骤分别测量两单板线路侧模块为YOKOGAWA和Minteral 时，两种业务下的输出抖动和输入抖动容限；（5） 客户侧换成Finisar 模块，重复（2）～（4）步骤，测量三种线路侧模块下单板的输出抖动和输入抖动容限。
3、 测试结果以及分析客户侧模块线路侧模块另外，各种模块组合后测量的单板的抖动传函在各测试点都＜-50dB，表中从略。
3.1 同一客户侧模块情况下，不同线路侧模块对应的单板抖动性能对比（a）（b）图1 客户测模块为eGtran时，不同线路侧模块对应的输出抖动注：图中序号为1和2的点分别对应单板1在STM256和OTU3业务测量值，序号为3和4的点分别对应单板2在STM256和OTU3业务测量值，以下同。
结论：由以上四个图可以发现，由三种线路测模块Opnext、YOKOGAW A、Minteral和相同的客户侧模块安装在同一电板时，其单板抖动性能相近相同，它们对单板抖动性能影响较小。
3.2 同一线路侧模块情况下，不同客户侧侧模块对应的单板抖动性能对比（e）（f）图3 线路侧模块为Opnext时，不同客户侧模块对应的输出抖动对比结论：由上图可以得到，对于同样的线路侧模块，安装Finisar模块的单板B1抖动比安装eGtran模块的单板大；对于单板1，eGtran模块的B2抖动比Finisar模块大，而对于单板2，Finisa模块的B2抖动比eGtran模块大，并且与所传输的业务无关。
一种结合抖动自动测试方法及系统[发明专利]
![一种结合抖动自动测试方法及系统[发明专利]](https://img.taocdn.com/s3/m/372a0f9e31b765ce04081427.png)
专利名称：一种结合抖动自动测试方法及系统专利类型：发明专利
发明人：张俊岭,边英杰,张立骞
申请号：CN03103277.X
申请日：20030128
公开号：CN1521487A
公开日：
20040818
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：一种同步数字体系(SDH)设备的结合抖动自动测试方法，控制设备将用户选择的各种测试参数下发到SDH分析仪，并对SDH分析仪进行相应的设置；SDH分析仪在控制设备的控制下，依次选择在不同的指针序列、抖动滤波器或伪随机比特序列比特率的不同频偏下对被测设备进行测试，并响应控制设备的查询命令，将测试数据返回给控制设备；控制设备根据SDH分析仪返回的测试数据，生成并保存测试结果。
还可由控制设备控制端口选择板对多路输出端口自动进行选择，依次对各输出端口进行测试。
本发明不但降低了测试的人工消耗，而且还可实现多路准同步数字体系信号的自动选择，节省了测试时间，提高了测试效率。
申请人：华为技术有限公司
地址：518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
国籍：CN
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ANT-20E结合抖动测试方法(仅供内部使用)拟制：日期：审核：日期：yyyy/mm/dd 审核：日期：yyyy/mm/dd 批准：日期：yyyy/mm/dd华为技术有限公司版权所有不得复制目录1 结合抖动的定义和指标描述 (3)1 E1信号结合抖动测试方法和步骤 (4)2 E3信号结合抖动测试方法和步骤 (11)3 E4信号结合抖动测试方法和步骤 (16)结合抖动的定义和指标描述SDH设备的结合抖动是支路映射和指针调整结合作用，在设备解复用侧的PDH支路输出口所产生的抖动。
在ITU-T规范的四种特定指针调整序列下的结合抖动指标见下表。
测试用指针序列a、b、c、d分别定义如下：a－极性相反的单指针；b－规则指针加一个双指针；c－漏掉一个指针的规则单指针；d－极性相反的双指针。
下面以2M信号为例，解释各个指针序列的定义：a指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T1时间后将指针值减一即为521，再相隔T1时间后将指针值在加一即为522，就这样循环往复就形成了指针序列a。
b指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T3的时间将指针值加一。
就这样按照四个T2加一个T3为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列b。
c指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T2时间后将指针值加一即为523，再相隔T2时间后将指针值加一即为524，如此循环4次后再隔T2的时间指针值不变。
就这样按照五个T2为一个循环周期，循环往复就形成了指针序列c。
d指针序列：比如说目前的指针值为522相隔T3时间后将指针值加一即为523，再相隔T1时间后将指针值减一即为522，再相隔一个T3时间后将指针值加一即为521，再相隔一个T1时间后将指针值加一即为522。
就这样以两个T1加T3为周期，循环往复就形成了指针序列d。
1E1信号结合抖动测试方法和步骤1、按下图接好电路和仪表。
图12、选择“Instruments”下拉式菜单，在此菜单中选择“Add&Remove...”选项，见图2。
图2点击此项会进入“Add&Remove Instruments”窗口，在“Instruments available”框中所提供的选项中选择“Signal Structure”，“O.172 Jitter Generator/Analyzer”，“PDH Generator/Analyzer”，“Point Generator”几项,逐一按“Add”键添加到“Instruments used”框中。
见图3。
图33、利用网管将被测试系统进行配置，把业务配在被测试的端口。
将SDH分析仪设置为相应的接口速率（以测试E1的结合抖动为例）；在桌面上打开“Signal Structure”窗口，选择“Edit”菜单，选择“Signal Structure...”选项，会进入“Edit Signal Structure - TX”窗口，选择合适的信号结构。
见图4。
图4再点击此窗口中的“RX”按钮，进入“Edit Signal Structure - RX”窗口，选择合适的信号结构。
见图5。
图5仪表时钟设置为自由振荡，设备跟踪仪表时钟，观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕，待系统稳定几分钟后开始测试。
4、选择3种指针调整测试序列之一，同时按PDH支路输出口速率等级，并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1，T2，T3；〔这里ANT20E并没有直接给出这3种指针，所以只能自己将各种指针结合起来组成这3种指针。
具体方法如下：（1）a指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Second”，在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项，在“n”的选项中选择“1”，“T1/s”中设置为“10.00”，在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/s”为“20.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图6。
图6（2）b指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项，在“n”的选项中选择“4”，“T2/ms”中设置为“750.00”。
在“Add〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T3/ms”为“2.00”。
在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/ms”为“3750.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图7。
图7：（3）c指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项，在“n”的选项中选择“4”，“T2/ms”中设置为“750.00”。
在“Cancel〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T5/ms”为4倍T2的值为“3000.00”。
在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/ms”为“60000.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图8。
图85、SDH分析仪在PDH支路输出口连续进行不少于120秒的测试，读出抖动峰峰值的最大值；打开“O.172 Jitter Generator/Analyzer”窗口即可读出抖动的峰峰值。
6、在SDH分析仪发送侧加一定的频偏，通常选取±5ppm，±10ppm，±15ppm……重复上一步骤，将得到不同频偏的一组抖动数据；在这组数据中在某个特定的频偏下，抖动会较大，进一步在特定频偏附近以较小的频偏步阶例如1ppm，重复上一步骤，留意找到最大的结合抖动。
记录数据；打开“PDH Generator/Analyzer”窗口，在“TX”选项中的“Offset”选项可以调整发送的频偏值。
2E3信号结合抖动测试方法和步骤1、测试系统连接图见图1。
2、仪表业务配置参见图9和图10。
仪表时钟设置为自由振荡，设备跟踪仪表时钟，观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕，待系统稳定几分钟后开始测试。
图9图103、选择4种指针调整测试序列之一，同时按PDH支路输出口速率等级，并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1，T2，T3；具体方法如下：（1）a指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Second”，在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项，在“n”的选项中选择“1”，“T1/s”中设置为“10.00”，在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/s”为“20.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图11。
图11（2）b指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项，在“n”的选项中选择“4”，“T2/ms”中设置为“34.00”。
在“Add〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T3/ms”为“0.50”。
在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/ms”为“170.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图12。
图12：（3）c指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC”选项，在“n”的选项中选择“4”，“T2/ms”中设置为“34.00”。
在“Cancel〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T5/ms”为4倍T2的值为“136.00”。
在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/ms”为“2720.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图13。
图13（4）d指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“TU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项，在“n”的选项中选择“2”，“T1/ms”中选择“10000.00”，“T2/ms”中设置为“0.50”。
在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/ms”为“20001.00”。
按下“TU on”按钮即把指针加入到信号中；见图14。
图144、SDH分析仪在PDH支路输出口连续进行不少于120秒的测试，读出抖动峰峰值的最大值；打开“O.172 Jitter Generator/Analyzer”窗口即可读出抖动的峰峰值。
5、在SDH分析仪发送侧加一定的频偏，通常选取±5ppm，±10ppm，±15ppm……重复上一步骤，将得到不同频偏的一组抖动数据；在这组数据中在某个特定的频偏下，抖动会较大，进一步在特定频偏附近以较小的频偏步阶例如1ppm，重复上一步骤，留意找到最大的结合抖动。
记录数据；打开“PDH Generator/Analyzer”窗口，在“TX”选项中的“Offset”选项可以调整发送的频偏值。
3E4信号结合抖动测试方法和步骤1、测试系统连接图见图1。
2、仪表业务配置参见图15和图16。
仪表时钟设置为自由振荡，设备跟踪仪表时钟，观察SDH分析仪告警和误码情况〔应无任何误码和告警〕，待系统稳定几分钟后开始测试。
图15图163、选择4种指针调整测试序列之一，同时按PDH支路输出口速率等级，并依照指标定义的规定设置指针序列参数T1，T2，T3；具体方法如下：（1）a指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Second”，在此窗口下的“AU Pointer”选项中选择“INC/DEC”选项，在“n”的选项中选择“1”，“T1/s”中设置为“10.00”，在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/s”为“20.00”。
按下“AU on”按钮即把指针加入到信号中；见图17。
图17（2）b指针序列：先打开“Point Generator”设置窗口，在“Unit”下拉菜单中选择“Millisecond”在此窗口下的“AU Pointer”选项中选择“INC”选项，在“n”的选项中选择“4”，“T2/ms”中设置为“34.00”。
在“Add〔INC，DEC〕”中打“√”设置“T3/ms”为“0.50”。
在“Mode”的选项中选择“Cont”，设置“T4/ms”为“170.00”。