表面生长动力学过程

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晶体生长动力学过程中的表面扩散机制研究

晶体生长动力学过程中的表面扩散机制研究

晶体生长动力学过程中的表面扩散机制研究晶体生长是一种自然界中普遍存在的现象,对于材料科学和领域来说具有重要意义。

在晶体生长的过程中,表面扩散起着至关重要的作用。

表面扩散机制的研究对于理解晶体生长动力学过程中的原子迁移和晶体质量的提高具有重大意义。

本文将重点探讨晶体生长动力学过程中的表面扩散机制以及其在材料科学领域的应用。

晶体生长过程中的表面扩散是指原子和分子在晶体表面附近的迁移行为。

晶体生长前期的快速生长阶段,主要受到物理因素的影响,而晶体生长后期的缓慢生长阶段,主要受到化学因素的影响。

表面扩散机制是指晶体表面吸附的原子或分子通过不同的迁移方式在晶体表面扩散,从而导致晶体生长的过程。

晶体中的表面扩散机制有几种类型,包括体心立方的(FCC)和密堆垛的(HCP)层面扩散,以及堆积扩散和孤立扩散。

这些扩散机制在晶体的生长过程中起着不同的作用。

FCC和HCP层面扩散是指原子或分子在晶体表面的不同层面之间的扩散。

堆积扩散是指原子或分子在晶体表面上的不同位置之间的迁移,而孤立扩散是指原子或分子在晶体表面上的孤立点之间的迁移。

表面扩散机制的研究对于晶体的生长速率和质量有着重要的影响。

在晶体生长的过程中,表面扩散的速率决定了晶体的生长速率。

通过研究和理解表面扩散机制,可以提高晶体生长的速率和质量,从而制备出优质的晶体材料。

因此,表面扩散机制的研究具有重大的科学意义和应用价值。

在材料科学领域,表面扩散机制的研究已经取得了一定的进展。

通过使用X射线衍射、原子力显微镜等现代表征技术,可以观察到晶体表面的原子迁移行为,并进一步研究表面扩散机制。

同时,借助计算方法,可以模拟晶体生长动力学过程中的表面扩散机制,进一步深入理解晶体生长的原理和规律。

未来,随着材料科学技术的不断进步,对于晶体生长动力学过程中的表面扩散机制的研究将会取得更加深入的认识。

通过进一步研究表面扩散机制,可以实现材料科学领域的突破,开发出更加高效和优质的晶体材料。

细胞生长动力学模型的建立与优化

细胞生长动力学模型的建立与优化

细胞生长动力学模型的建立与优化细胞是构成生物体的基本单元,而细胞的生长和分裂对于生物体的发育和生长至关重要。

细胞生长动力学模型是描述细胞生长和分裂过程的数学模型。

该模型可以用来研究细胞生长与分裂的机制及规律,优化细胞生长条件,提高细胞生产的效率,对于生物学、医学及工业化生产等领域都有广泛的应用。

一、细胞生长的动力学过程细胞生长是一个复杂的生物过程,包括物质摄取、代谢、合成和分泌等多个方面。

细胞生长可以被分解成生长速率(Growth rate)和生长时间(Growth time)两个基本参数。

生长速率是指在一个单位时间内细胞增加的质量或体积。

生长速率可以由下列方程式描述:dX/dt = kX其中X是细胞质量或体积,k是生长速率常数。

该方程式表示,细胞生长速率与细胞质量成正比,即所谓的双曲线增长规律。

生长时间是指从一个状态到下一个状态所需的时间。

细胞生长时间取决于环境因素和物种差异。

在一个固定的环境中,一个细胞的生长时间可以用下列公式描述:tg = ln(Y/X)/k其中X是细胞开始增长的质量或体积,Y是细胞达到的最终质量或体积,k是生长速率常数。

二、细胞生长动力学模型的建立在不同的实验条件下,细胞的生长和分裂形式各异,因此建立正确的细胞生长动力学模型是十分重要的。

1. 常用的细胞生长动力学模型常用的细胞生长动力学模型有两种:单项式模型和双项式模型。

单项式模型单项式模型假设细胞生长速率dX/dt与细胞的当前体积X成正比,其可以用下列公式描述:dX/dt = μX其中μ是生长速率常数。

单项式模型适用于细胞在进入对数生长期后的情况。

在对数生长期中,细胞的催化系统处于稳定状态,即生长速率与细胞生长的体积成正比。

双项式模型双项式模型假设细胞的生长速率dX/dt与细胞当前体积X和其达到的最终体积Xm-x之间存在一种限制关系,其可以用下列公式描述:dX/dt = μ*(Xm − X)/Xm其中Xm是细胞的最终体积,μ是生长速率常数。

MBE

MBE

比较MBE、MOVPE与CBE的生长机理
MBE:III族元素以原子或分子束形式射向衬 底,吸附→晶化(脱附) MOVPE:MO在气流中和衬底表面两处进行热分 解的过程,在气流中分解生成的III族原子通 过边界层扩散到达衬底表面 CBE:MO只在衬底表面热分解,不存在边界 层,
原子层外延(Atomic layer epitaxy)、 分子层外延MLE
GaAs源, 衬底温度在775k~800k时,按Ga:As=1:10 射Ga,As可得到Ga:AS为1:1的GaAs,As2的粘附 系数为0.1~0.15 As源 没有Ga束入射时, As4的粘附系数为0, 有Ga束入射时, As4的粘附系数增大 450K以下时,As4不分解 450k以上时, As4能发生分解而生成As
MBE设备
真空系统、生长系统、监控系统 生长系统:进样室、预处理室(衬底存储室)、生长室 监控系统: 四极质谱仪:真空度检测,监测残余气体和分子束流的 成分 电离计:测量分子束流量 电子衍射仪:观察晶体表面结构以及生长表面光洁平整 度 俄歇谱仪:检测表面成分、化学计量比和表面沾污等
生长过程与生长原原理
第七章作业
1.解释:MOVPE、MBE、CBE、ALE、二步外延 法、双气流MOVPE 2.依据相图, LPE生长GaAs时说明如何从A点 开始外延生长。 3.为什么从70年代初就对GaN开展了研究工作 但一直进展缓慢? 4.在生长III-V族化合物时指出MBE、MOVPE和 CBE法使用的III族源及各自的生长机理。
组成化合物的两种元素源(气或束流)分别 引入生长室,交替在衬底上沉积。每交替 (引入)一次就在衬底上外延生长一个单分 子层,外延生长的速度取决于组元在衬底上 交替吸附所需时间 实际生长中可采用脉冲输送源的方式 ALE是一种生长“模式”,它没有自己“专用”设 备,VPE、MBE、CBE设备均可进行ALE生长

Ti-Al-V系钛合金钝化行为及其影响因素的实验研究

Ti-Al-V系钛合金钝化行为及其影响因素的实验研究

02
材料与方法
实验材料
Ti-6Al-4V钛合金:这是一种常用的钛合金,具有优良的强度和耐蚀性,常用于航空、医疗等领域。
HNO3、HF、H2SO4等化学试剂:这些试剂用于制备钝化液和进行钝化处理。
实验方法
钝化处理
将试样浸泡在钝化液中,通过 控制时间和温度等因素来研究 钝化行为。
微观结构分析
利用XRD、SEM等手段研究 钛合金的相组成和表面形貌。
详细描述
适量添加锆、锡等元素可以细化晶粒、改善耐蚀 性,从而对ti-al-v系钛合金的钝化行为产生积极 影响。
热处理对ti-al-v系钛合金钝化行为的影响
总结词
详细描述
总结词
详细描述
热处理对ti-al-v系钛合金的钝化 行为具有重要影响。
适当的热处理可以改善ti-al-v系 钛合金的微观组织结构、提高耐 蚀性,从而对钝化行为产生积极 影响;而过度的热处理则可能导 致耐蚀性降低。
02
不同合金元素的影响
03
钝化膜层稳定性
对比不同合金元素(如Al、V、Ti等) 对Ti-Al-V系钛合金钝化行为的影响, 发现V元素对钝化效果具有重要贡献 。
通过对比不同时间间隔下Ti-Al-V系钛 合金的表面形貌和成分变化,发现钝 化膜层具有良好的稳定性和耐蚀性。
06
结论与展望
研究结论
总结词
通过本次实验研究,我们得出以下结论
Ti-Al-V系钛合金作为 一种典型的钛合金, 具有优异的综合性能 ,如高强度、良好的 低温韧性等,因此备 受关注。
然而,Ti-Al-V系钛合 金在服役过程中易发 生腐蚀,对其使用寿 命产生重要影响。
钝化是一种有效的腐 蚀防护方法,通过在 金属表面形成一层致 密的氧化膜,阻止腐 蚀介质与金属基体的 接触,从而减缓腐蚀 速率。

生长动力学

生长动力学

生长动力学
生长动力学是一门关于动态研究人类、动物和植物生长发育的科学,着重研究生长发育的动态变化过程以及影响生长发育的内部因素和外部因素。

中国传统之“养生”的研究与生长动力学密切相关,应用养生思想可以更完善的指导发展生长发育中的动态变化。

生长动力学涉及到多种研究领域,其中最主要的四个方面:1、生理生长,即研究由水、土壤、植物饲料和动物饲料等物质供给的生长。

2、生物学生长,即研究基因、激素和神经机制等生物学机制对生长的影响。

3、社会生长,即研究社会结构、文化习俗等外部因素的影响。

4、心理生长,即研究个体社会发展、情感维度等心理因素的影响。

以物质提供为基础的生理生长,是其他三个方面的基础和前提,但它们之间相互关联、相互作用、影响生长发育,才能真正构成一个完整的生长动力学体系。

生长动力学认为,动态改变会导致发育的延后,这也是现代人在日常生活中会发现的常见现象。

比如,儿童出生缺少一定的营养元素,会直接影响他们的身高发育,也就是这种缺乏导致成长发育改变了原来的生长动力学体系。

另外,心理社会因素对生长发育影响也极大,比如孩子受到家庭压力和社会压力,会使发育缓慢。

因此,生长动力学体系中心理因素的作用也不可忽视,家长一定要多体谅孩子,在他们身体和心理发育的过程中,少施加压力,给予多的鼓励。

生长动力学的研究是一个复杂的概念,开展这一领域的研究,不
仅是对于生物学、医学科学的深入研究,对社会的认识和理解也有很大的提高。

通过更深入的研究、理解和应用生长动力学,可以更好地指导人们如何健康的生长,无论是儿童生长还是女性成长,都可以有助于更健康、更有力的生活。

生长动力学

生长动力学

α = N s / N0
s 0
α 0s = exp(−W k / kT )
估计在过饱和蒸汽压下一直台阶 在光滑界面是运动的速率V∞ x0:台阶上扭折间的间距 xs:界面上吸附分子的定向迁移 若xs >> x0 凡是到达台阶的分子都将立即到达扭折
界面与蒸汽平衡 单位时间从界面给定座位上脱附的分子数 =单位时间由汽相来到界面给定座位上的蒸汽分子数 =该座位被占有几率α × 脱附频率(1 / τ )
1 ∴ t ' ≈ S / V∞ ≈ IS 在二维核的寿命内, 界面生长一层(其 高度为h) ∴生长速率为R ≈ h / t '
1 由t ' ≈ S / V∞ ≈ ,可得 IS S = (V∞ / I )1/ 3 t ' = V∞
−2 / 3
⋅ I −1/ 3
→ R = hV∞2 / 3 ⋅ I 1/ 3 = A(∆g ) 2 / 3 exp(− B / ∆g )
实验研究手段 晶体生长界面的直接观察:光学显微镜、相衬显微镜、 激光全息干涉术 缺点:或分辨率低、或对实验条件要求太高,难于对 生长界面进行原子级、分子级结构的观察
原子力显微镜:分辨率高、可在大气环境下工作 精确地实时观察生长界面的原子、分子级分辨图象,了 解生长过程和生长机理
§1
邻位面生长-台阶动力学
s 0
s
假定: • 随着饱和比α=p / p0的增加,吸附到给定座位上的
s 分子数按比例增加,为 α ⋅ α 0 / τ s
所有吸附于距台阶xs内的分子,在脱附前都能到达台阶 ⇒ 单位时间内到达长度为a的台阶上的分子数为 xs a s 2(α ⋅ α 0 / τ s ) ⋅ 2 a:晶格参数 a xs a s • 脱附离开台阶的分子数不变 ⇒ 2(α 0 / τ s ) ⋅ 2 a

半导体材料第5章硅外延生长课后答案

半导体材料第5章硅外延生长课后答案

第五章硅外延生长1、解释名词:①*自掺杂:外延生长时由衬底、基座和系统等带来的杂质进入到外延层中的非人为控制的掺杂称为自掺杂。

②外扩散:在外延生长中,由于是在高温条件下进行的,衬底中的杂质会扩散进入外延层致使外延层和衬底之间界面处的杂质浓度梯度变平的现象。

③外延夹层:外延层和衬底界面附近出现的高阻层或反形层。

④双掺杂技术:在外延生长或扩散时,同时引入两种杂质。

因为原子半径不同而产生的应变正好相反。

当两种杂质原子掺入比例适当时,可以使应力互相得到补偿,减少或避免发生晶格畸变,从而消除失配位错的产生。

这种方法叫作双掺杂技术。

⑤SOS技术:在蓝宝石或者尖晶石衬底上外延生长硅。

⑥SOI技术:把器件制作在绝缘衬底上生长的硅单晶层上。

(当器件尺寸缩小到亚微米范围以内时,常规结构就不适应了,导致了SOI结构的发展)⑦SIMOX:氧注入隔离,通过氧离子注入到硅片,再经高温退火过程消除注入缺陷而成。

⑧SDB&BE:直接键合与背面腐蚀技术。

将两片硅片通过表面的S i O2层键合在一起,再把背面用腐蚀等方法减薄来获得SOI结构。

⑨ELTRAN:外延层转移,在多孔硅表面上可生长平整的外延层,并能以合理的速率将多孔硅区域彻底刻蚀掉,该技术保留了外延层所具有的原子平整性,在晶体形成过程中也不产生颗粒堆积或凹坑,因此具有比其它SOI技术更为优越的性能。

⑩Smart-Cut:利用H+注入Si片中形成气泡层,将注氢片与另一片支撑片键合,经适当的热处理,使注氢片从气泡层完整剥离形成SOI结构。

2、*(简述)详述影响硅外延生长速率的因素。

答:①S i CL4浓度:生长速率随浓度的增加增大并达到一个最大值,以后由于腐蚀作用增大,生长速率反而降低。

②*温度:当温度较低时,生长速率随温度升高而呈指数变化,在较高温度区,生长速率随温度变化比较平缓,并且晶体完整性比较好。

③气流速度:在反应物浓度和生长温度一定时,生长速率与总氢气流速平方根成比例关系,但到极限时不在增加。

微生物生长动力学

微生物生长动力学

微生物生长动力学是一门研究微生物在生长过程中所体现出的一系列动力学规律的科学。

在微生物学、计量生物学、生物工程学等领域里,是一个重要的研究方向。

它旨在研究微生物生长的基本规律,探索生长的影响因素,并利用动力学分析方法来研究微生物代谢过程以及生物过程中涉及到的动态刺激现象,从而为微生物学乃至整个生命科学领域的发展做出贡献。

1、生长曲线微生物生长过程的基本特征是膨胀和增长。

微生物在生长过程中可以展现出一条生长曲线,它分为四个时期:滞后生长期、指数生长期、稳定生长期和衰退期。

这些阶段反映了微生物在生长过程中所表现出的不同的生长速度和不同的生长状态。

滞后生长期是指细胞处于调节状态,进入最佳生长状态之前的一段时间。

由于此期间微生物细胞发生代谢变化,准备进入生长期,因此生长速度很小,甚至没有生长现象。

指数生长期是微生物生长曲线上的一个非常重要的时期。

在此时期,微生物细胞以指数方式增长,这是由于细胞的分裂是以几何倍数递增的。

微生物处于此期时,细胞代谢活跃,细胞的增殖速度很快,营养消耗较多,因此这个时期是微生物数量迅速增加的时期。

稳定生长期是细胞增长速度达到最快的时期。

在这个时期,细胞老化开始出现,营养物质的摄取速度和代谢速率相等,因此,微生物的数量也变化较缓慢。

衰退期是指微生物的繁殖速率已经放缓,不再持续繁殖的过程。

一些细胞开始老化和死亡,营养物质的摄取速度变慢,生长速度也开始下降。

2、研究方法在中,主要使用到的研究方法包括监测微生物数量的方法、生长率和生长动力学常数的监测方法、细胞出芽周期和微生物生长率的测定方法等多种方法。

不同的方法可以用来研究微生物的不同生长方式和生长性质,从而研究微生物数量在不同环境下的变化。

监测微生物数量的方法主要包括菌落计数法、电子计数法和生物显微镜法等。

其中菌落计数法是一种最直接、最简单的方法,可以用于快速确定微生物数量。

另外,电子计数法可以通过电子显微镜或其他相关设备对微生物进行快速计数,适用于微生物密度较低的场合。

生长动力学

生长动力学

生长动力学生长动力学是一门涉及植物生长及发育过程中主要动力机制的研究领域,由生理学、种质资源学、分子生物学以及生物信息学等多学科交叉综合而成。

近年来,随着基因的深入研究和生物技术的迅速发展,以生长动力学为中心的研究内容及领域日益扩展,植物生长调控机理表征能力的提高也为植物生长的计算模型研究提供了基础。

植物生长动力学研究主要关注调控植物生长的内在机制,以及影响植物基因表达的各种环境因子和内在因子,包括环境因子,如光照、氧气、温度、水分、营养物质,以及内在因子,如植物种属、种质、发育阶段等。

植物生长动力学涉及植物生长机理的系统研究,主要研究内容包括植物生长及发育的分子基础、生理机制、生态机制及表型部分。

目前,植物生长动力学的研究主要集中在植物生理、植物分子生物学与种质资源学,利用现代分子生物技术深入研究调控植物生长的机制,以及表型形成的分子机制。

植物生长动力学研究依据理论解析和实验证明,认为基因变异是植物发育过程中最重要的决定性力量。

植物基因组可发生差异序列变异、基因组结构变异和基因表达变异,基因变异促使植物发展新的结构、表现不同的表现,从而培育出优良的新种型,因此植物的种质改良是植物生长动力学研究的重要内容。

植物生长动力学研究还包括研究环境因素对植物生长发育的影响。

环境因素是外来因素,如光照、氧气、温度、水分、营养物质占据了植物生长发育过程中重要地位,产生了巨大的影响。

植物经历不同的环境条件,响应不同的发育环境,会产生适应性变化,从而使植物种群能够适应不同环境的变化,这是植物群体的演化的重要特征之一。

此外,植物生长动力学的另一重要内容是对植物及其微环境的模拟和计算。

近年来,随着计算机技术的发展,有关植物生长发育的计算模型越来越多。

这些模型可以模拟植物及其微环境的复杂过程,从而获得植物生长发育的结果及其应用前景。

综上所述,生长动力学是一门涉及植物生长及发育过程中主要动力机制的研究领域,可让我们深入研究调控植物生长的机制,以及表型形成的分子机制,为植物的种质改良提供基础,有助于我们更好地理解环境因素对植物生长发育的影响,并为植物生长发育相关计算模型研究及其应用前景奠定基础。

生长动力学

生长动力学

生长动力学
我们所接触的一切事物都是有生命的,而生命最重要的特性就是生长。

而生长动力学是研究生命生长力学的一种学科,它最初由维克多勒拉夫古德(Victor Ladislav Good)在20世纪初提出。

生长动力学是一种多学科交叉研究,它研究生物体的形态生成、演化和发育等重要方面,以及它们如何经历空间和时间分布的演化过程。

它既涉及物理学和生物学,又涉及计算机科学,涉及多种理论,如系统力学和熵统计学等。

生长力学的研究旨在绘制生物体的动态演化过程,探索多种生长类型,以及生物体如何根据不同的环境条件来重新组织自己、产生新的表型以及不同的行为。

生长动力学的研究为我们了解生物体的生长和演化提供了重要的见解,也为我们对自然界物质过程有一个更准确的认识带来了可能性。

生长力学可以分为生长和发育动力学两个领域,两者都涉及力学过程。

生长是指生物体维持其形态和大小的能力。

发育是指生物体在发育过程中形态变化的能力。

生长动力学研究了生物体如何受到内在和外在因素的影响,并作出相应的反应。

其中,内在因素主要包括基因、蛋白质及其互作关系,这些因素会影响生物体的增长和发育速度以及形态结构。

外在因素指的是生物体处于环境条件下的影响,包括温度、光照、水分、营养物质等,会对生物体的表型产生显著作用。

生长动力学的研究对植物、动物及其他生物体的繁殖和衰老有
着重大的意义。

它可以帮助我们了解基因如何控制生物体的表型,以及有害的环境因子如何影响生物体的发育和表型等。

因此,生长动力学是一门重要的学科,为我们更好地理解生命提供了重要的指导。

表面界面粗化生长动力学标度性质的理论研究共3篇

表面界面粗化生长动力学标度性质的理论研究共3篇

表面界面粗化生长动力学标度性质的理论研究共3篇表面界面粗化生长动力学标度性质的理论研究1表面界面粗化生长动力学标度性质的理论研究随着科学技术的不断进步,纳米材料的制备越来越引起人们的关注。

而在纳米材料制备中,表面粗化生长现象是一种重要的现象。

因此,对表面界面粗化生长动力学标度性质进行理论研究显得尤为重要。

表面界面粗化生长动力学标度性质是纳米材料制备中重要的物理学问题之一。

其研究对象包括于形貌演化相关的自组织表面模式、相分离、自聚集及纳米生长。

对于表面粗化生长现象的研究,可以提高我们对相关纳米材料的制备和应用的认识,同时也可以帮助我们更好地控制纳米材料制备的过程。

在表面界面粗化生长动力学标度性质的研究中,有一个非常重要的概念就是标度理论。

标度理论是指某些物理现象在不同尺度下的共性特征。

在研究表面界面粗化生长的过程中,标度理论的运用可以帮助我们更好地了解不同体系的标度行为,从而得出更加精确的结论。

除了标度理论的运用之外,表面界面粗化生长动力学标度性质的研究还需要掌握一定的实验技术。

通过实验可以获得大量的数据,从而进一步分析并得出结论。

同时,实验数据还可以用来验证理论的正确性和可靠性。

研究表面界面粗化生长动力学标度性质的过程中,还需要考虑许多其他因素,比如材料的物理性质、化学性质等等。

这些因素可以通过理论模型来进行考虑,并进一步准确地预测表面界面粗化生长的动力学标度性质。

在表面界面粗化生长动力学标度性质的研究中,我们还需要掌握一些关键技术,比如原子力显微镜、扫描电子显微镜等等。

这些技术可以帮助我们更加精确地观察和记录材料在表面界面粗化生长过程中的动态变化情况,从而得出更加精确的结论。

总之,表面界面粗化生长动力学标度性质的理论研究是纳米材料制备的一个重要研究领域。

通过研究表面界面粗化生长过程中不同体系的标度行为,我们可以更好地了解表面界面粗化生长的动力学标度性质,并进一步实现纳米材料的精准制备。

这对于推动纳米科技的发展,具有非常重要的意义表面界面粗化生长动力学标度性质的研究对纳米材料制备具有重要意义。

薄膜生长机理

薄膜生长机理
03
例如,在还原气氛下,氧化物薄膜可能被还原为金属或金属氧化物; 在氧化气氛下,金属薄膜可能被氧化为金属氧化物。
04
气氛的均匀性和稳定性也会影响薄膜的均匀性和质量。
基片的影响
基片对薄膜生长的影响主要体 现在基片的表面结构和化学性
质上。
基片的表面结构对薄膜的附着 力、均匀性和致密性有重要影
响。
基片的化学性质可以与薄膜材 料发生相互作用,影响薄膜的 生长过程和结构。
的化学组成和结构。
化学气相沉积
通过化学反应将气态的化学物质转 化为固态薄膜,涉及复杂的化学反 应和相变过程。
氧化还原反应
在沉积过程中可能发生氧化还原反 应,影响薄膜的化学组成和电子结 构。
薄膜生长的动力学过程
相变动力学
薄膜生长过程中涉及的相变过程, 如气态到液态、液态到固态等, 需要遵循一定的相变动力学规律。
03
薄膜在生长过程中可能会发生相变,形成不同相的组成,从而
影响其整体性能。
薄膜的化学成分
01
化学成分对性能的 影响
薄膜的化学成分决定了其物理、 化学和机械性能,如电导率、光 学性能和耐腐蚀性等。
02
03
元素组成与比例
化学稳定性
薄膜中各元素的组成与比例对其 性能具有重要影响,如掺杂元素 可以提高薄膜的性能。
例如,基片表面的氧化物、杂 质等可能会影响薄膜的生长过 程和结构。
04 薄膜性能与表征
薄膜的晶体结构
晶体结构对性能的影响
01
薄膜的晶体结构决定了其物理、化学和机械性能,如硬度、韧
性和导电性等。
晶体取向与生长机制
02
薄膜的晶体取向与生长机制密切相关,不同的晶体取向会导致

第十一章 薄膜生长的成核长大热力学与动力学

第十一章 薄膜生长的成核长大热力学与动力学

8
-8UAB -10 UAA
-4UAB -12UAA
-9UAB -33UAA -16UAB-64UAA -25UAB-105UAA
UAA>2UAB
UAA>1.5UAB UAA>1.33UAB UAA>1.25UAB
18 -18UAB -27UAA 32 -32UAB -52UAA 50 -50UAB -85UAA
G ( L h / ) L ( i s ) 4 Lh
2 2
多变量函数极值:
2 Lh G L 2 L( i s ) 4h 0 2 G L 4 L 0 h
72 -72UAB -127UAA -36UAB-156UAA
98 -98UAB -176UAA -49UAB-217UAA
UAA>1.24UAB
UAA>1.2UAB
8个原子时,单层和双层核能量降低: U1=-8UAB-10UAA 若 U2=-4UAB-12UAA
U1 > U2,则双层核更稳定,即UAA > 2UAB
162 2 / 2 4 /
2 2 2
衬底缺陷上成核: Ghet (V / 2)
成核功:
Gc f ( , )(16 / 3) /
2 3
2
2
1 sin( ) cos ( ) cos f ( , ) 2 4sin
m
Gc 4u (u AA u AB ) /
2 AA
2
n
三、薄膜生长的三种模式
成核的热力学因素与动力学因素 有足够时间迁移 热力学因素
温度足够高时,按热力学规律

RHEED应用

RHEED应用
不同生长阶段作用mbe生长中在mbe生长过程中可观察到rheed的强度振荡现象振荡周期反应出生长一层所需的时间可计算生长速率振荡振幅随外延层的增长衰减可反映生长的程mbe生长后观察生长层表面的结构与平整度观察生长层表面的结构与平整度rheedrheed在在mbembe中作用中作用衍射图样生成衍射图样生成rheedrheed在在mbembe中作用中作用衍射图样生成衍射图样生成rheedrheed在在mbembe中作用中作用举例说明
RHEED的优缺点分析
优点:
1. 入射束和衍射强度大,不易受外界干扰,荧光屏不需加高压样品正 面有较大空间,有利于与分子束外延配合进行原位监测; 2.采用高能电子,可做成高亮度和细聚焦束,所得谱线有较高亮度和锐 度,可进行精确测量,从而得到有关结构信息,RHEED方法精确度在数 量级上是LEED的一千倍; 3.LEED只能作二维(表面)分析,而RHEED不仅可作二维,也可作三维分 析,可通过改变掠射角从而改变电子束穿透深度,以获得沿深度方向的 信息; 4.要测定沿倒易杆强度变化,LEED只能以改变电压来实现,这将给强度 分析带来困难,而RHEED是用转动样品直接测得; 5.RHEED不仅限于作表面结构分析,也可用于观察表面形貌和缺陷。
RHEED在MBE中作用:举例
2.生长速率与强度振荡的关系
从图中可以看出,生长率增 大后,振荡减弱,说明需增 加生长温度。
RHEED在MBE中作用:举例
3.入射角度与强度振荡的关系
由图可以看出: 1.衍射强ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ与入射角度有很 大的关系; 2.θ =1.9°时振荡特性最佳; 3. θ较大时,振荡不明显。
s:衍射条纹间距;
b =1/b *
:入射电子束的波长;
b = L /s

细胞分化和生长的动力学模型

细胞分化和生长的动力学模型

细胞分化和生长的动力学模型细胞是生命的基本单位,而细胞分化和生长是生命进程中最基本、最重要的过程之一。

在这个过程中,细胞通过分化和分裂不断增殖、分化、成熟,并最终形成不同的组织和器官。

如何理解细胞分化和生长的动力学模型,成为了现代生命科学领域中一个非常重要的研究课题。

细胞分化和生长的动力学模型主要涉及细胞周期和信号传导两个方面的内容。

在细胞周期方面,主要研究细胞的生长、DNA复制和细胞分裂等过程。

在信号传导方面,则涉及到许多生化反应,如细胞通信、细胞表达、蛋白质合成和分解等等。

细胞周期是细胞分化和生长的一个重要动力学过程。

它包括四个不同的阶段:G1期、S期、G2期和M期。

在G1期,细胞准备好了进行DNAm复制。

在S期,细胞开始进行DNAm复制。

在G2期,细胞开始合成蛋白质和其他生化物质,以便在细胞分裂时使用。

在M期,细胞分裂成两个较小的细胞,使每个细胞的DNA复制完整。

这四个阶段都受到许多内部和外部因素的调节,如细胞周期蛋白激酶、DNA损伤、激素、生长因子、环境因素等等。

另一方面,信号传导机制也是细胞分化和生长过程中一个极其重要的方面。

细胞内的信号分为许多不同的类型,如受体信号、细胞内信号和激素信号等。

这些信号通过分子相互作用和活化一些细胞核酸,如DNA、RNA和蛋白质,最终调节细胞节律、细胞增殖和细胞生长等事物。

在细胞分化和生长的动力学模型中,有许多的数学模型被开发来描述和控制这些过程。

这些模型往往是非常复杂和严格的数学方程,涉及到许多变量和参数。

其中一个最重要的数学模型是“代数模型”,它主要用来解释细胞周期中的重要动力学过程。

代数模型通过定义不同的状态变量和变量之间的可能的转移规律,来描述细胞周期中关键的生化反应过程。

另一个同样重要的数学模型是“偏微分方程模型”。

这种模型能够非常精确地描述细胞生长和分化过程中的各种变化和调节机制。

偏微分方程模型通过将微量反应、偏微分方程和微分方程的概念结合起来,来解释和计算细胞变化和分裂过程中的各种物理和生物效应。

硅工艺第2章 氧化习题参考答案

硅工艺第2章 氧化习题参考答案
13
2 x0 x0 t +τ = + B B/ A 2 x12 x1 x2 x2 + −1 = + 0.17 0.26 0.17 1.04
x2 = x1 + 0.157
x1 = 1.2489um x2 = 1.4059um
t = 12.7182h
14
5. 在硅片中刻蚀出 在硅片中刻蚀出1um宽的槽,槽的侧面都是( 110)平面。 宽的槽,槽的侧面都是( 宽的槽 )平面。 进行斜角注入,对侧墙掺杂N 所以线性速率增加到4倍 进行斜角注入,对侧墙掺杂 +,所以线性速率增加到 倍。 然后将结构在1100℃下的水汽中氧化。在氧化过程中什么 中氧化。 然后将结构在 ℃下的水汽中氧化 时候槽被SiO2填满?假设氧化系数比近似为 [(111:110:100)=(1.68:1.2:1.0)].
t( 20 atm ) = t / 20 = 0.1544(h)
8
3. 局部氧化是一种广泛用来提供 芯片中器件之间横向隔离 局部氧化是一种广泛用来提供IC芯片中器件之间横向隔离 的工艺。在某些情况下,希望得到隔离具有比标准 LOCOS提供的更为平坦的表面,所以在氧化工序前使用 提供的更为平坦的表面, 提供的更为平坦的表面 了硅刻蚀工艺,如图所示。对左边所示的结构, 了硅刻蚀工艺,如图所示。对左边所示的结构,在氧化前 刻去0.5um厚的硅, 在1000℃H2O气氛中硅片必须氧化多 厚的硅, 刻去 厚的硅 ℃ 气氛中硅片必须氧化多 长时间以便提供右图所示的等平面氧化硅? 长时间以便提供右图所示的等平面氧化硅?
A = 0 . 6678 µ m
xi + Axi 0.2 × 0.2 0.2 τ≡ = + = 1.0004h ≈ 1h B 0.1735 0.2598 在N+区

kpz方程

kpz方程

kpz方程
KPZ方程是由Kardar、Parisi和Zhang在1986年提出的表征自然界中表面生长动力学的非线性偏微分方程。

KPZ方程具有普适性,可以用于描述不同尺度下的表面生长行为,并且可以应用于多个物理系统中,例如生物组织的增长、金属晶体的生长等领域。

KPZ方程的表达式为:
∂h/∂t = v(∇h)² + λ∇²h + η
其中h(x,t)表示表面高度,t表示时间,x表示空间坐标,v是一个正常数,λ是一个负常数,η是高斯白噪声。

该方程的物理解释是表面生长的随机漫步过程和非线性扩散过程的竞争作用。

KPZ方程目前仍然成为数学和物理学领域的研究热点,它的研究对于人们深入理解表面生长机制、材料科学和生物学等领域都具有重要意义。

CZ法的基本原理

CZ法的基本原理

CZ法的基本原理CZ法的基本原理,多晶体硅料经加热熔化,待温度合适后,经过将籽晶浸入、熔接、引晶、放肩、转肩、等径、收尾等步骤,完成一根单晶锭的拉制。

炉内的传热、传质、流体力学、化学反应等过程都直接影响到单晶的生长与生长成的单晶的质量,拉晶过程中可直接控制的参数有温度场、籽晶的晶向、坩埚和生长成的单晶的旋转与升降速率,炉内保护气体的种类、流向、流速、压力等。

CZ法生长的具体工艺过程包括装料与熔料、熔接、细颈、放肩、转肩、等径生长和收尾这样几个阶段。

1.装料、熔料装料、熔料阶段是CZ生长过程的第一个阶段,这一阶段看起来似乎很简单,但是这一阶段操作正确与否往往关系到生长过程的成败。

大多数造成重大损失的事故(如坩埚破裂)都发生在或起源于这一•阶段。

2.籽晶与熔硅的熔接当硅料全部熔化后,调整加热功率以控制熔体的温度。

一般情况下,有两个传感器分别监测熔体表面和加热器保温罩石墨圆筒的温度,在热场和拉晶工艺改变不大的情况下,上一炉的温度读数可作为参考来设定引晶温度。

按工艺要求调整气体的流量、压力、坩埚位置、晶转、埚转。

硅料全部熔化后熔体必须有一定的稳定时间达到熔体温度和熔体的流动的稳定。

装料量越大,则所需时间越长。

待熔体稳定后,降下籽晶至离液面3~5mm距离,使粒晶预热,以减少籽经与熔硅的温度差,从而减少籽晶与熔硅接触时在籽晶中产生的热应力。

预热后,下降籽晶至熔体的表面,让它们充分接触,这一过程称为熔接。

在熔接过程中要注意观察所发生的现象来判断熔硅表面的温度是否合适,在合适的温度下,熔接后在界面处会逐渐产生由固液气三相交接处的弯月面所导致的光环(通常称为“光圈”),并逐渐由光环的一部分变成完整的圆形光环,温度过高会使籽晶熔断,温度过低,将不会出现弯月面光环,甚至长出多晶。

熟练的操作人员,能根据弯月面光环的宽度及明亮程度来判断熔体的温度是否合适。

3.引细颈虽然籽晶都是采用无位错硅单晶制备的[16~19],但是当籽晶插入熔体时,由于受到籽晶与熔硅的温度差所造成的热应力和表面张力的作用会产生位错。

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表面能的增加
dr
γΩ rc = = ΔE s Δμ
r < rc ,晶核不稳定, 可分解 r > rc ,晶核稳定, 不分解
7
γ
rc
总的能量变化 放出的能量
半径
在过饱和情况下,园盘状的临界 晶核的激活能与半径的函数关系
当 r = rc的时候: 能量的变化为
γ 2Ω Δ E c = πa Δμ
成核的激活能 成核功
考虑从气相 园盘形凝固相(固、液)能量的变化,包括 凝固过程中放出的能量和增加的表面能: 单位体积放出的能量
ΔE r a Δ E s
2
2
表面能的增加
单位面积 表面能
6
= 2π ra γ − π r a
Δμ
每原子放出的能量 每原子占有体积
两个能量共同作用,使得总能量可增加或降低 定义晶核临界半径rc, 当 r = rc的时候: 能量 dΔ E =0 变化
25
在异质衬底上,成核与键能的相对大小有关 以四方柱体成核为例:
L h
L = ma , h = na, N = m ⋅ m ⋅ n, a ⇒ 原子间距
2 2
B
2
ΔE = − NΔu + m a (γ A + γ AB − γ B ) + 4mna γ A
可以用原子之间的相互作用来表示这几个能量:
γ A = u AA / 2a 2 γ B = uBB / 2a 2
ϕ=900 750 600 450
θ一定,ϕ 越小,f(θ,ϕ)越小,ΔEC小
24
4 ) 成核的原子模型 原子的组合具有不同的组态,能量不同 讨论rc很小,几个原子的情况 考虑最近邻相互作用 原子数 组态 成键数 2 直线 1 uAA 3 直线 2 3 (能量低) 三角 4 6 四面体 5 9 双四面体 27 11 双四面体 每个面加一个原子 33 13 四面体组合 36 密排 (3,7,3) 42 团簇(20面体) 能量最低组态、成键方式,容易成核,(成核与晶体结构有关)
Δγ = γ A + γ AB − γ B = 0
⇒ hc → 0 : 一个原子层,a = hc , 二维成核
Δμ + 2π ra γ A Δ E = −πr a ⋅ Ω 2 由 rc ⇒ Δ E c = πγ A Ω a / Δ μ
2
回到前面的圆盘形状的均匀成核问题
22
3) 衬底缺陷上的成核 平坦表面不易成核,而缺陷、位错线、杂质、空位集合 γA 体、晶粒间界、台阶等处最易成核。 考虑晶粒间界:三叉点 受力平衡:γ A cos θ + γ AB = γ B 系统临界能量:
第三章 表面生长动力学过程
主要内容
气体分子与固体表面相互作用的一般模式 成核长大热力学过程 薄膜生长模式 薄膜成核与生长的原子理论(动力学过程) 非平衡下的生长表面
2
3.1 气体分子与固体表面相互作用的一般模式
1. 气体分子直接入射并反射 2. 处于激发态 3. 退激 4. 表面扩散(跃过势垒) 5. 解束缚,脱附 2 6. 化学吸附激发态 1 7. 退激 8. 跃过势垒 3 A 5
3
球形
32 γ 3 ΔEc = ⋅Ω2 Δμ 2
16 3 2 ΔE c = πγ Ω / Δμ 2 3
六面体的成核能量比球形几乎大一倍,由此可见,体相中 成核更趋向于球形面而不是多面体。 近球形多面体,包络面是一些表面能较小的面,这时可能 比球形更容易成核。
16
2) 衬底上的非均匀成核 A材料在B衬底上:A/B γA A)球冠形成核 表面张力平衡关系:
p ⎛ γΩ ⎞ = exp ⎜ ⎟ p0 ⎝ rkT ⎠
2。每原子放出的能量:
9
p Δ μ = kT ln( ) p0
考虑刚才的圆盘状成核 圆盘状成核刚好是临界尺寸,有半径r = rc 与平坦表面相比,多出 侧面表面能: r p0 A (1) a
E s = 2 π r ⋅ a ⋅ γ | r = rc
球冠
γ A cos θ + γ AB = γ B
2
γB
球冠表面积:
γ AB
r
θ hA
B 衬底
球冠底面积: = 球冠体积:
A = 2π r (1 − cos θ )
2
π r Sin θ
2
V = π r 3 ( 2 − 3 cos θ + cos 3 θ ) / 3 湿润角为θ的原子团形状 1 2 = π h ( r − h ) h = r (1 − cos θ ) 示意图 3 能量的变化: π 3 Δμ 3 Δ E = − r ( 2 − 3 cos θ + cos θ ) ⋅ + 2π r 2 (1 − cos θ ) ⋅ γ A
p
γ 1 dE s 1 2 π a γ dr Δp = = = | r = rc s dr dr r 2 π ra
由于压力提高,圆盘中每个原子能量增加,ΔpΩ =
γ
rc
Ω
= Δμ
原子能量的增加,使得圆盘中所有原子比平坦表面中的原子容 易升华,脱附能相对减小,脱附原子数目增加:
Jc
'
⎛ Δ G des − Δ μ ⎞ ⎛ Δμ ⎞ = N 0ν 0 exp ⎜ − ⎟ = J c exp ⎜ ⎟ kT ⎝ kT ⎠ ⎠ ⎝
表面蒸汽压随着半径的增加而降低,小原子团的表面蒸汽压 大于大原子团。
⎛ p ⎞ Δ μ = kT ln ⎜ ⎜ p ⎟ ⎟ ⎝ 0⎠
ΔE
12
由饱和度,可以知道每个原 子从气相到固相能量变化。
Δμ = Ω
单位体积能量变化
过饱和度与成核的关系:
p ⎛ γΩ ⎞ = exp ⎜ ⎟ p0 ⎝ rkT ⎠
⎛ ΔEc ⎞ 成核速率 ∝ exp − ⎜ ⎟ ⎝ kT ⎠
能量 变化 Δ E c
表面能的增加
rc
总的能量变化 放出的能量
半径
在过饱和情况下,园盘状的临界 晶核的激活能与半径的函数关系
8
在能量变化的极值点处,对应晶核的临界尺寸
dΔ E 且: =0 dr
由于晶核半径改变dr造成的表面能的增加 = 放出的能量。 从这个极值点可以得到: 1。吉布斯-汤姆逊方程(圆盘状成核)
2
令体积不变:
Δγ h / 2r = (γ A + γ AB − γ B ) / 2γ A = 2γ A
2ΩΔ γ hc = Δμ 4Ω γ A 2rc = Δμ Ω2 2 ΔE c = 4πΔγ ⋅ γ A ⋅ Δμ 2
21
圆柱体激活能 比四方体低
对以上圆柱体成核如果A/B同质外延:A=B
γ A = γ B , γ AB = 0
6 4 7 B 化学吸附 8
吸附物质与衬底原子之 物理吸附 间的作用力为范得瓦尔 吸附物质与衬底原子结 斯力,吸附能很低。 合,形成离子键、共价 键或金属键,吸附能大。
3
3.2 成核长大热力学过程
结合 成核: 原子 原子 原子团(晶核)
几个原子结合原子形成原子团 降低系统的能量
均匀成核
Homogeneous,无外界附 着体,自行成核:体相 Heterogeneous nucleation,必须有外 界附着体的成核:衬底 缺陷上的成核
非均匀成核
4
1.均匀成核与非均匀成核
1)体相中的均匀成核模型---考虑同质外延生长:A/A 先讨论薄膜生长的一般条件 增原子, 吸附原子
单位时间碰 撞到表面上 的原子数:
1 J 0 = nυ 4
吸附原子浓度
− Δ G des kT
脱附原子数:J c 当
= N 0ν 0 e
脱附激活能
J 0 = J c 达到平衡
脱附原子数的增加使圆盘表面的蒸气压 p 增加
11
平坦表面(准)平衡时
Jc = J0
有表面蒸气压 p0
且在一定温度下,J 正比于气压: J
'
= P / 2πmkT
吉布斯-汤 姆逊方程
Jc p ⎛ γΩ ⎞ ⎛ Δμ ⎞ = = exp ⎜ ⎟ >1 ⎟ = exp ⎜ p0 J0 ⎝ rkT ⎠ ⎝ kT ⎠
dΔE = 0 得到关系式: dL
dΔE =0 dL
dΔE =0 dh
2 ΩΔ γ hc = Δμ 4Ω γ A Lc = Δμ
Δγ << 2γ A ⇒ hc << Lc
Ω2 2 Δ E c = 16 γ A Δ γ ⋅ Δμ 2
20
C) 圆柱体成核:高h,直径 2r
ΔE = −
πr 2 h
Ω
Δμ + πr (γ A + γ AB − γ B ) + 2πr ⋅ h ⋅ γ A
过饱和度越小, 越难成核 过饱和度越大,rc 越小, Δ Ec 越小, 越易成核 ——自发成核
能量 变化
p / p0 → 1
半径
p > 1 p0
在过饱和情况下,园盘状的临界 晶核的激活能与半径的函数关系
13
表面台阶的形成-在薄膜生长尤其是外延生长中很重要 原子团的成核形成台阶-前面的圆盘状成核 体内位错在表面的露头形成台阶 台阶密度很小,台阶之间的距离比较大,可达毫米量级 电子级材料,体位错密度:1~1000/cm2 高质量的Si单晶位错密度<1/cm2 晶体的错切割形成台阶 对于一个很小的错切割角,表面将形成由许多具有 一定周期间距的台阶组成的阶梯状延展面。 例如:错切割角为θ,台阶高度为h,台阶间距
薄膜生长时,处于非平衡状态, 0 J 但,对于生长速率很慢的外延过程
5
> Jc
这时P/P0>1 (p-p0)/p0—过饱和度
准平衡近似,近似认为
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