可靠度测试常规实验项目及条件
汽车电子可靠性测试及相关标准
电子设备可靠性测试标准1、ISO国际标准化组织中，ISO/TC22/SC3 负责汽车电气和电子技术领域的标准化工作。
汽车电子产品的应用环境包括电磁环境、电气环境、气候环境、机械环境、化学环境等。
目前ISO 制订的汽车电子标准环境条件和试验标准主要包含如下方面：ISO16750-1：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：总则ISO16750-2：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：供电环境ISO16750-3：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：机械环境ISO16750-4：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：气候环境ISO16750-5：道路车辆-电子电气产品的环境条件和试验：化学环境ISO20653 汽车电子设备防护外物、水、接触的等级ISO21848 道路车辆-供电电压42V 的电气和电子装备电源环境国内目前汽车电子产品的环境试验标准主要还是按照产品的技术条件来规定。
全国汽车标准化技术委员会（SAC/TC114）正在参照ISO 标准制订相应的国家和行业标准。
ISO 的标准在欧美车系的车厂中得到了广泛采用，而日系车厂的要求相对ISO 标准来说偏离较大。
为了确保达到标准的限值，各汽车车厂的内控的环境条件标准一般比ISO 的要求要苛刻。
2、AEC 系列标准上个世纪九十年代，克莱斯勒、福特和通用汽车为建立一套通用的零件资质及质量系统标准而设立了汽车电子委员会(AEC)，AEC 建立了质量控制的标准。
AEC-Q-100 芯片应力测试的认证规范是AEC 的第一个标准。
AEC-Q-100 于1994 年首次发表，由于符合AEC 规范的零部件均可被上述三家车厂同时采用，促进了零部件制造商交换其产品特性数据的意愿，并推动了汽车零件通用性的实施，使得AEC 标准逐渐成为汽车电子零部件的通用测试规范。
经过10 多年的发展，AEC-Q-100 已经成为汽车电子系统的通用标准。
在AEC-Q-100 之后又陆续制定了针对离散组件的AEC-Q-101 和针对被动组件的AEC-Q-200 等规范，以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004 等指导性原则。
可靠性实验表单
实验原因：验证新机型首次出货手机可靠性的进行质量评估。
实验结果：
原因分析：
□合格
□不合格
实验员：
分析人：
结果判定： 审核：
可靠性实验报告
机型
批次
颜色
样本数
物料名称
实验项目
高温（操作） 贮存
实验时间
完成Байду номын сангаас间
实验前
外观：合格 功能：合格
实验条件及要求： 1.将待测手机（开机状态）放入+55℃的环境中2H,然后在此环境中测试其所有功能,包括呼叫，接打电 话,发送，接收短信等。 2、测试前要保证测试样机常规射频性能符合标准要求，机械性能、电气性能正常。 3、从常温25℃以1℃/min的速率升温到70℃，保持关机状态24小时 4、在测试周期过后，温度从70℃以1℃/min的速率降温到常温25度，恢复两个小时后再进行一次常规射 频测试 实验标准：试验后在常温下产品指标、功能和机械性能全部正常。 电池允许有不影响用户使用的轻微膨胀。 产品的外观无裂纹、起泡、油漆脱落等异常；
联想项目可靠性测试标准
联想项目可靠性测试标准
No Test Item
1静止水滴角测试2动摩擦系数测试3耐橡皮擦测试4耐钢丝绒测试5耐酒精测试
Test Condition Sample Q'ty Test Requirement 测试条件：
水滴角测试仪DSA20
2.5uL的纯水水滴，在待测玻璃的表面；
测试水滴角度, 测试中间和边缘5个点
3pcs>115
测试条件：
摩擦系数测试仪，200g 砝码下粘上测试玻璃，
测试摩擦纸张粘在水平传输带上，
实验速度100mm/min, 测试长度35mm
测试膜层动摩擦系数
3pcs《0.03
测试条件：
耐摩擦测试机，在美国SANFORD75215橡皮擦条上施加1000g 压力，
摩擦距离20mm，摩擦速度50次/分钟，
在触摸屏中央摩擦2000次后测量水滴角。
3pcs>100°
测试条件：
耐摩擦测试机，美制0000#级钢丝绒，施加1000g 压力，
摩擦距离20mm，摩擦速度50次/分钟，
在触摸屏中央摩擦2000次后测量水滴角。
3pcs>100°
测试条件：
耐摩擦测试机，美国SANFORD75215橡皮擦条蘸99.5%无水酒精，
橡皮擦上施加1000g 压力，
摩擦距离20mm，摩擦速度50次/分钟，
在触摸屏中央摩擦2000次后测量水滴角。
3pcs>100°。
可靠性测试相关规范
LED可靠性测试相关规范
目的
建立实验室可靠性测试的标准与规范，完善产品测试标准，提高产品质量。
适用范围
本标准适用于模组类、柔性灯带类以及直条灯类成品可靠性测试。
内容
测试项目
成品可靠性测试包含但不限于以下项目，在提交测试过程中根据实际情况在测试单中注明需要执行的测试项目。
注1、劣变系数 k
注2、上表样品数量中的“5pcs/<”的意思是指该项测试模组类产品需要5pcs；灯带类产品需要；其它的如铝条灯/直条灯等不得超过即可。
LED可靠性测试相关规范
判定标准
研发各阶段对应测试项目（推荐）。
手机按键可靠性试验
1、汗液成份：用1.00±0.01g尿素(Pro分析
特性), 5.00±0.01g氯化钠(PA 特性)和
1.14 ±0.02g或940±20的DL-乳酸(>88%,
PA特性)混合在一个1000毫升的大口杯里，
再添加900毫升最新鲜的蒸馏水并搅动直到
所有溶剂溶解。校正pH值测试仪将测试电极
2
耐手汗测 试
首次 /3个 月
10/ 5
点按0-1级接收； 0 2、试验后颜色发黄及变色，参
考色差DE＞8.5。
QUVA箱
露(50℃)，常温下冷却2小时再进行判定。
2
手机按键可靠性试验
4
浸染试验 （针对表 面UV转印 产品）
用PEN（(MonAminamepen,BLACK)在实验面用 适当的力长度约为10mm长划5处→50℃95%条 件1hr放置→常温放置1小时→然后把酒精粘 在抹布擦10回(往返5回)，再检查样品。
10
高温高湿
在温度（55±2℃），湿度95%RH条件下，存 放72小时后，样品在正常大气条件下（25℃ ±5℃，65±10%RH）恢复12小时，进行外观 检验，并测试油漆的附着力。
首次 /每3 月
10/ 2
1、附着力≥4B为合格；
0
2、产品表面无变色，裂痕、剥 落、起泡、腐蚀按0-1级接收； 3、拉拔力：5N力持续拉拔1分钟
9
在温度（60℃±2℃）条件下，存放72小
高温贮存
时，试验结束后，样品在正常大气条件下 （25℃±5℃）恢复1～2小时，进行外观检
验，并测试油漆的附着力。
首次 /每3 月
10/ 2
1、附着力≥4B为合格； 2、产品表面无变色，裂痕、剥 0 落、起泡、腐蚀按0-1级接收； 高温箱 3、拉拔力：5N力持续拉拔1分钟 无脱落为合格。
国标2423
1.0可靠度试验目的振动试验概述冲击试验概述落下试验概述2.0 试验项目与试验条件2.1 试验程序振动轴向辨别测试件摆放安置加速规正确填贴固定方式振动试验条件冲击试验条件落下方式及顺序要求落下试验条件试验完成检查项目试验报告3.0 试验环境要求二级实验室环境要求ISO/IEC 17025(1999)一般测试实验室环境要求CNS1.可靠度试验目的近年来由于工业之高度发展，技术不断更新，各种产品系统结构日益复杂且更形精密，一系统往往由数千个零组件所组成，要是在使用中突然坏了一个零件，轻则导致系统功能不能尽善尽美的发挥，重则造成整个系统丧失功能，产生不可预期的后果。
因此产品必须经得起各种环境的考验，并要保证产品于正式生产后能安全可靠且经久耐用的在客户手中使用，就必须在研究发展期间将可靠度设计于产品质量中，所以试验的工作是不可少的，试验是评估系统可靠度的一种方法，也是最重要的一个阶段，利用过程中的各项数据及现象来评估可靠度相较于纸上谈兵式的理论推导要准确许多，左证资料越多，对所估计的可靠度信心也就越大，但不作试验或没有试验到某些程度以上的试验，并不代表产品系统不可靠，而是根本不知道产品可靠度的程度。
1.1 振动试验概述振动测试的目的，在于实验室中作一连串可控制的振动仿真，测试产品在寿命周期中，是否能承受运送或使用的振动环境的考验，也能确定产品设计及功能的要求标准。
振动测试的精义在于确认产品的可靠度及提前将不良品在出厂前筛检出来，并评估其不良品的失效分析以其成为一个高水平、高可靠度的产品。
举凡货物、商品在送达客户途中，都必须经过不同的搬运过程才会送达用户手中。
在此过程中将有不同状态之振动产生，造成产品不同程度的损坏。
对于产品有任何的损坏都不是厂商及客户所愿意乐见，然而运送过程所发生的振动却是难以避免的。
若一味地提高包装成本，必将带来不必要之浪费，反之脆弱的包装却造成产品的高成本，丧失其市场竞争力。
1.2 冲击试验概述冲击试验主要以仿真装备及组件在使用与运输过程中，可能遭遇的冲击效应为主，并透过冲击波于瞬间瞬时能量交换，分析产品承受外界冲击环境之能力，试验之目的在于了解其机械结构弱点及特定功能之退化情形，属于破坏性实验的一种,有助于了解产品的结构强度及外观抗冲击、跌落等特性,若另实施产品破坏性试验，更能有效预估产品的可靠度及监控生产线产品制造的一致性。
PCBA可靠性实验条件及步骤
PCBA可靠性实验条件及步骤PCBA（Printed Circuit Board Assembly）可靠性实验是为了评估电子产品的质量和性能，确保其能够在正常工作条件下稳定运行。
下面是PCBA可靠性实验的条件和步骤：实验条件：1.温度条件：根据产品使用环境，可以选择常温（25℃）、高温（通常为55℃或70℃）或低温（通常为-20℃或-40℃）。
一般实验需要在温度梯度下进行，例如从常温逐渐升温到高温，或者从常温逐渐降温到低温。
温度条件的选择应根据产品的实际需求进行。
2.湿度条件：根据产品使用环境，可以选择相对湿度为30%~60%或90%。
湿度条件可以用来测试电子产品在潮湿环境下的性能和可靠性。
3.电压条件：根据产品的电源要求，可以选择正常工作电压、过电压或欠电压等不同电压条件。
电压条件可以用来测试电子产品在不同电压下的工作情况和可靠性。
实验步骤：1.要求制定出可靠性实验方案，包括实验条件、实验样品数量、实验时间等。
2.首先对样品进行预处理，包括为样品安装必要的外壳、模拟实际使用环境等。
3.将样品放置于实验室设备中，然后根据实验方案进行控制参数的设定，例如温度、湿度和电压等条件。
4.根据实验方案，进行可靠性测试，例如在不同温度下长时间工作、在高温湿度环境下进行加速老化测试等。
5.根据实验结果对样品进行评估和分析，比对实验前后样品的性能差异，从而评估样品的可靠性。
6.根据实验结果，可以对产品进行改进和优化，以提高产品的可靠性。
如果实验结果符合要求，可以进一步进行批量生产。
需要注意的是，PCBA可靠性实验的步骤和条件可能会根据不同产品的特点和需求而有所变化。
因此，在实施实验之前，必须根据实际情况制定出适合的实验方案，并根据实际情况进行调整和优化。
此外，实验过程中需要严格按照实验指导和操作规程进行，确保实验的准确性和可靠性。
产品可靠性实验标准
产品可靠性实验标准1 范围本标准规定了、可靠性实验的相关标准、实验条件、测试方法和判定标准。
本标准适用于本公司生产的、的可靠性实验，其它同系列产品可以参考使用。
2 环境条件：2.1 正常环境条件使用温度：5～40℃使用湿度：30%～80% RH贮存温度：-10～60℃贮存湿度：10%～90% RH周围环境无强的电磁场2.2 电源条件使用笔内自带的电源或配送的电池。
2.3 实验室测试环境室温：20～30℃；相对湿度：30%～75%RH3、测试项目3.1低温存储（一）实验目的检测产品在低温环境下存储是否正常。
（二）测试条件测试温度：-20℃±2℃持续时间: 48H样机数量：5PCS（三）程序1)在室温下检测产品外观、电气和机械性能正常；2)产品在低温条件下存储 48H；3)产品在室温下恢复 2H 后检测产品外观、电气和机械性能正常。
(四)判断标准1)产品外观、电气和机械性能正常；2)外观无异常，无变形，无脱落，无裂纹，无变色等异常；3)功能:能正确识别产品3.2 低温操作（通电放置）(一)实验目的检测产品在低温环境下正常通电工作的状态是否正常。
(二) 实验条件测试温度：-10℃±2℃持续时间：48H样机数量：5PCS(三) 程序1)在室温下检测产品外观、电气和机械性能正常；2)产品在低温放置条件下测试 48H；3) 产品在常温中恢复 2H 后检测产品外观、电气和机械性能正常。
(四)判断标准1)产品外观、电气和机械性能正常；2)外观无异常，无变形，无脱落，无裂纹，无变色等异常；3)功能:能正确识别产品。
3.3 高温存储(一)实验目的检测产品在高温环境下存储是否正常。
(二) 实验条件测试温度：70℃±2℃持续时间：48H样机数量：5PCS(三) 程序1)在室温下检测产品外观、电气和机械性能正常；2)产品组在高温条件下存储 48H；3)产品在室温下恢复 2H 后检产品外观、电气和机械性能正常。
可靠度实验项目测试方法及判定标准-050422
Capacitance (Cp):以 HP4278A / HP4263B 進行測量抽樣數量(sample size): 10Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard): 材質(Dielectrics)規格(Specification)測試條件(Testing Condition)NPO Within the specified tolerance1.0±0.2Vrms,1MHz ±10%C:±0.25pF, D:±0.5pF, J:±5%, K:±10%(當Cp>1000pF, 1KHz ±10%)at 25℃X7R/X5R Within the specified tolerance 1.0±0.2Vrms,1KHz ±10%J:±5%, K:±10%, M:±20%at 25℃,24 hrs after annealing Y5VWithin the specified tolerance Cp≦10μF: 1.0±0.2Vrms,1KHz ±10%M:±20%; Z:-20% ~ +80%Cp >10μF: 1.0±0.2Vrms,120Hz±20% (HP4263B)at 25℃,24 hrs after annealingDF值測試方法(test method):Dissipation Factor (DF):以 HP4278A 進行測量抽樣數量(sample size): 10Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard): 材質(Dielectrics)規格(Specification)測試條件(Testing Condition)NPO Cp<30pF, Q≧400+20*Cp; Cp≧30pF, Q≧1000 (Q=1/DF) 1.0±0.2Vrms,1MHz ±10% at 25℃ (Cp>1000pF,1KHz ±10%)X7R/X5R 額定電壓(Rated voltage) ≧50V, DF≦2.5% (Tanδ≦0.025)1.0±0.2Vrms,1KHz ±10%,at 25℃額定電壓(Rated voltage) = 25V, 16V, DF≦3.5% (Tanδ≦0.035)at 25℃,24 hrs after annealing額定電壓(Rated voltage) = 10V, DF≦5.0% (Tanδ≦0.05)額定電壓(Rated voltage)= 6.3V,0402 C<0.22uF ; DF ≦5.0%(Tan δ≦0.05) ; C ≧0.22uF DF ≦8.0%(Tan δ≦0.08)0603 C<2.2uF ; DF ≦5.0%(Tan δ≦0.05) ; C ≧2.2uF DF ≦8.0%(Tan δ≦0.08)0805 C<4.7uF ; DF ≦5.0%(Tan δ≦0.05) ; C ≧4.7uF DF ≦8.0%(Tan δ≦0.08)1206 C<10uF ; DF ≦5.0%(Tan δ≦0.05) ; C ≧10uF DF ≦8.0%(Tan δ≦0.08)Y5V 額定電壓(Rated voltage) ≧50V, DF≦5.0% (Tanδ≦0.05)Cp≦10μF: 1.0±0.2Vrms,1KHz ±10%額定電壓(Rated voltage) =25V, DF≦7.0% (Tanδ≦0.07)Cp >10μF: 1.0±0.2Vrms,120Hz±20% (HP4263B)額定電壓(Rated voltage) = 16V, DF≦9.0% (Tanδ≦0.09)at 25℃,24 hrs after annealing額定電壓(Rated voltage) = 10V, DF≦12.5% (Tanδ≦0.125)額定電壓(Rated voltage) = 6.3V, DF≦15.0% (Tanδ≦0.15)A1-22IR測試方法(test method):Insulation Resistance (IR):以 HP4339B 進行測量抽樣數量(sample size): 10Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard): 材質(Dielectrics)規格(Specification)測試條件(Testing Condition)NPO IR≧10GΩ or R * C≧500MΩ-uFRated voltage for 60±5secs ,at 25℃Whichever is smallerX7R/X5R/Y5V IR≧10GΩ or R * C≧100MΩ-uFWhichever is smallerA1-33耐電壓測試測試方法(test method):(BDV)Breakdown voltage test以 300v/sec 速度增加電壓至晶片breakdown, ≧200V以上測試,需在絕緣油和空氣中量測by increment rate 300v/sec until chip breakdown,high voltage chips equal or greater than 200V inspect in air and in oil.抽樣數量(sample size):15Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard):X - (額定電壓倍數 * σ) > 標準值 ( X - (Times of rated voltage*σ)>control spec)規格 額定電壓倍數 管制標準值 (Rated Voltage)(Times of Rated Voltage)(control spec.)38V 60V 96V 150V 300V 400V 600V 750V 1200V 2000V 3000V A1-44等價直列抵抗測試方法(test method):ESR(Rs)X7R/X5R 以 HP4287A 用頻率100MHz 進行ESR(Rs)測量抽樣數量(sample size):5Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 僅對X7R/X5R材質每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard): 測量ESR(Rs)值 ≦ 管制值(max)電容值(Capacitance)管制值(max)Cp < 1000 pF (102)ESR(Rs) ≦1.5Ω1000pF(102) ≦ Cp < 2200pF(222) ESR(Rs) ≦500mΩ2200pF(222) ≦ Cp < 10000pF (103) ESR(Rs) ≦350mΩ10000pF(103) ≦ Cp < 100000pF(104) ESR(Rs) ≦200mΩCp≧100000pF (104) ESR(Rs) ≦150mΩA2-15焊錫性壽命測試測試方法如下(test method):Solderability life test將此批晶片放入置具中，將晶片蒸煮4hrs後，待晶片自然風乾後，進行焊錫性測試焊爐溫度(solder temperature):230±5℃浸泡時間(dipping time): 2±1sec試驗完觀察爬錫面積( test finish shall be check visual)抽樣數量(sample size):32 Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard):材質(Dielectrics)NPO Y5V X7R/X5R 焊錫性(Solderability )爬錫面積皆(coverage of terminal electrode)≧95%A2-26高溫焊錫性壽命測試測試方法如下(test method):High temp. solderability life test將此批晶片放入140±5℃烘箱中，烘烤15+1/-0 hrs後取出，待晶片回常溫後，進行焊錫性測試Put capacitor in the oven at 140±5℃ and for 15+1/-0 hours, Following the capacitor latter testing shall be stored at standard atmosphericconditions for cold down of the normal atmospheric temp. , check the coverage of terminal electrode after solder dipping. test finish shall be check visual.焊爐溫度(solder temperature):230±5℃浸泡時間(dipping time): 2±1sec試驗完觀察爬錫面積( test finish shall be check visual)抽樣數量(sample size):32 Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard):材質(Dielectrics)NPO Y5V X7R/X5R 焊錫性(Solderability )爬錫面積皆(coverage of terminal electrode)≧95%3倍1000V 3倍3倍2000V 3000V 3倍500V 100V 4倍4倍6.3V 16V 4倍4倍10V 4倍50V 25V 200V 4倍4倍Break strength test如圖示方法以0.2±0.1mm/sec 的速度下壓測量晶片至 break 時所需力量Apply force as shown(0.2±0.1mm/sec speed) and record the force figure while the capacitor is broke.抽樣數量(sample size):15Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard): X -3σ > 晶片厚度 vs. 應力標準值(chip's std. force)圖示：規格(Type)B型(Type)C型(Type)D型(Type)H型(Type)04020.4kg 06031kg 08051kg 2.0kg 12061kg 2.0kg 3.5kg 1210 2.0kg 3.5kg 1812 2.0kg 3.5kg2220 3.5kgA3-28抗曲繞測試測試方法(test method):Bending test1將晶片焊接於測試板(如圖 1)(Resistance to flexure of substrate)solder the capacitor onto the PCB as shown in diagram (1)Related STD.:2擺放如圖2JIS C 6429placed the PCB onto the fixture as shown in diagram (2)(Rev.A2-031229)3以0.2±0.1mm/sec 的速度下壓測試板中央位置至測試深度 在每一位置停留5sec以上，才可進行測試Cp Apply force to the center of the PCB at a speed of 0.2±0.1mm/sec and duration time of each test depth is 5 seconds at least. After then, measure Cp.4試驗深度:由 0,1,2,3…至 5mm,每下壓1mm測試1次Cp ,直至破壞 ,Max 到5mm,判定用 1mm 為基準Test depth of PCB from 0,1,2…5mm , end Fail (Max 5mm ; test Cp value each 1mm) ; decide standard 1mm 5測量晶片之電性measure the capacitance value,the measurement shall be made with the board in the position.抽樣數量(sample size): 15Pcs/Lot抽樣頻率(sample size): 每批穩定抽樣皆測試判定標準(decide standard):材質(Dielectrics)NPO X7R/X5RY5V電容變化: -5%≦ △Cp ≦ +5% or -12.5%≦ △Cp ≦ +12.5% -30%≦ △Cp ≦ +30%cap.change -0.5pF< △Cp < +0.5pFwhichever is largerB19壽命測試試驗條件如下(test method):Life test試驗溫度(test temperature): NPO / X7R = 125±3℃, Y5V / X5R = 85±3℃Related STD.:試驗電壓(test voltage): 6.3/ 10/ 16/ 25/ 50/ 100/ 200/ 500/ 1000V 以2倍額定電壓測試 ; 2000V 以1倍額定電壓測試 ; 3000V以 2000V電壓測試。
塑胶壳料类可靠性试验标准-20150603
深圳为宝创发科技有限公司Shenzhen V A POW T echnology Co., Ltd.企业标准塑胶壳料类可靠性测试标准2019-5发行 2019-6实施深圳为宝创发科技有限公司发行修订历史记录可靠性试验项目及要求:1.环境加速测试1.1 高温/低温存储测试要求：75℃/-40℃环境条件下存储24H判定标准：外观、附着力、结构强度性能正常1.2恒温恒湿试验测试要求：在温度（55±2℃）条件下，相对湿度95%+2%/-3%条件下存放96小时，试验结束后，样品在正常大气条件下（20℃±5℃）恢复1小时，进行功能外观检验及附着力测试。
判定标准：外观及功能应能满足试验前检验要求、无镀层脱落、起泡、掉键等现象1.3冷热冲击试验测试要求：将产品放入实验箱后，在75±2℃的温度条件下，稳定持续温度时间0.5小时，在-40±3℃的温度条件下，稳定持续温度时间0.5小时，，温度转换时间不大于5分钟，循环次数：24次（1小时/次），试验结束后，样品在正常大气条件下（20℃±5℃）恢复1小时，进行功能外观检验及附着力测试。
判定标准：油漆层和电镀层表面应无裂纹、脱落、起泡、变色等到不良现象，功能测试能满足试验前要求。
1.4盐雾试验测试要求：盐雾浓度为5％的NaCl溶液，在35℃条件连续喷雾24小时，然后移出进行16小时晾干。
（产品有孔的位置不能接触到夹具，避免凝露后的盐水通过孔流入产品内部）判定标准: 试验后机壳喷油和镀层无腐蚀现象，表面喷油和镀层无变色或脱落为合格。
2.性能测试2.1 RCA耐磨试验测试要求：采用RCA耐磨仪,175gf作用于产品平整表面，连续式磨擦300圈,每50圈检查一次镀层表面.至200圈时,每10圈检查镀层表面。
试验条件：温度25℃±5℃，湿度40%-75%RH，纸带储存温度35±3℃、湿度40%±5%RH。
MID可靠性测试项目标准
单机包装跌落测试 单机包装六面70CM跌落，机器彩盒正常 整箱跌落测试 按每箱重量不同做不同高度的一角三棱六面跌落测试，角位处允许有褶皱，开机检 验无异常
关机裸机重度跌落 关机状态底面距离地毯地面（7寸为70CM，8寸以上50CM）跌落3次，功能/结构无损 坏，外观可以损坏 测试
26
开机裸机重度跌落 开机状态四个侧面距离水泥地面（7寸为40CM，8寸以上30CM）跌落各1次，功能/结 构无损坏，外观可以损坏（电池无松动脱落 ） 测试
2台
8
2台
9
裸机震动测试
5台
10
开机裸机轻度跌落 开机播放视屏状态背面距桌面（垫上橡胶皮）8CM跌落各100次，功能/结构（电池 无松动脱落 ）等无损坏，机器播放视屏正常 测试 关机裸机轻度跌落 关机状态正/背面距离桌面（垫上橡胶皮）10CM轻度跌落100次，开机后功能/结构 无损坏 测试 USB座/耳机座/电源 孔/HDMI座/TF卡插 接插件连续插拔5000次（SIM卡和TF卡座为1000次）功能结构无异常 拔测试
5台
29
3G马达测试
3台
30
酒精摩擦
200个循环连续磨擦试验，以40～60次/分钟的速度 ,20 mm左右的行程；施加在 被测样品上的压力为500克；酒精度≥99%
2台
31
壳体铅笔硬度
对于喷漆表面的硬度标准2H（三菱牌）用1kg的载荷； 在样品表面从不同的方向不同的位置划出3~5cm长的线条3~5条 对于Lens表面的硬度标准为3H（三菱牌）用1kg的载荷； 用3M600号胶带牢牢粘住被测区域，1分钟后，用手抓住胶带一端，在与被测样 品垂直方向（90° ）迅速扯下胶带，在同一被测位置重复粘揭2次
2台
11
QE可靠性试验
环境箱
类别 试验项目
试验目的
条件要求
试验设备
附着力
环境气 候
耐脏污 镜片吊重
喷涂附着力测试
百格刀或刀片刻出100个1 平方毫米的方格，用3M898 号胶带纸用力粘贴在方格 面，1分钟迅速以90度撕脱
3次
百格刀，3M898
验证手机外观面耐脏污能力
外壳均匀涂抹黄泥，放置 4H
无
测试镜片双面胶的粘接性能
SIM卡插拔 手势传感
试验目的
条件要求
验证T卡座的结构可靠性、软件识别 T卡稳定性和手机对T卡的兼容性
以10－15次/min的速 度反复1000次，每插 拔50次需开机对TF卡
进行读写功能测试
试验设备
无
验证高、低温环境下连续长时间播 放视频文件对整机可靠性的影响
高温老化40℃3天→低 温老化-5℃3天为1个 循环，正常测试2个循
测试手机显示屏和摄像头、 灰尘试验8H+恢复6H+温度冲击 沙尘试验机、冷热冲
光感区域的防尘性能
24H+恢复6H+灰尘试验8H
击试验机
验证手机的防水性能
转盘速度为10（转速为1min， 正、反顺时针各1圈），滴水量 为3mm/min，滴水高度≤20cm，
测试2.5min； 测试顺序为上、下、左、右，共 测试四个，每个面2.5min，共测
播放时长为30S
测试输出到耳机的音频信号指标是否满 拷入MP3测试资源，配
足要求
套电池（电压4.0V以上）
测试金属件对手机信号的影响 测试手机指南针是否准确
主叫/被叫各10通，且各 接通5通，每次通话约
30s
方位角精度，每隔45°角 与机械指南针对比角度
信赖度测试项目
项次 实验项目 实验条件 参照标准测试条件 标准 状态
机构性测试
目前标准 测试频率: 20~60 Hz， 模式：Sine wave 位移: 1 mm 测试 X、Y、Z 各 20 min 测试频率: 20~60 Hz，正弦波， 振 幅:1mm，X,Y及Z三轴每个轴向各测20 包装振动试验 分钟。测试前后功能测试，外观比对(针 对PCBA，FPC产品）包材可以重复使用 (模拟运输、搬运） 。
单体冲击试验
参照 NB测试
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（模拟元器件和设备 时间：每次冲击时间4ms,三个方向每向 在使用中和运输期间 各3次 可能经受到的非重复 测试前后功能测试，外观比对 性冲击） 测试方向：6个方向 测试次数：如果数量多可以每个方向测试3次,例如 2 个Sample时 候，3个正交轴各3次. 加速度/时间： a. 500G/1ms（集成电路） ; b. 100G/6ms（查表，推荐） 目前标准 温度–40℃、30min,再85℃、30min，以此为一个周期 连续测试24周期 测试前后功能测试、外观比对（针对PCBA，FPC产品） 1. 高温： 85 ℃ 2. 低温：-40 ℃ 3. 湿度: Off 4. 时间：1 小时（没有规定时选用） –40℃、30min,再85℃、30min，以此为 5. 循环数：20~40 cycles (1cycle 时间60min) 中间回常温进行功能测试 一个周期 连续测试24周期 实验后再增加切片和推拉力测试，对Component 进行5个方向的 测试前后功能测试、外观比对（针对 PCBA，FPC产品） 推拉力测试。 Crystal:3M胶带胶带沾住上盖后上拉,不能出现脱落现象 Connentor/Sensor/DSP etc. 组件Pin脚不可以出现锡裂 1. 2. 3. 4. 5. 高温： 85 ℃ 低温：-40 ℃ 湿度: Off 时间：3 小时（没有规定时选用） 循环数：5 cycles
可靠性测试介绍及要求
可靠性测试介绍及相关要求制作：何卫红日期：2020-06-301 可靠性测试概念2 可靠性测试目的3 可靠性测试分类4 可靠性测试作业流程5 可靠性测试相关要求6 可靠性测试设备1，可靠性测试概念可靠性测试又可叫可靠性试验，是指通过试验测定和验证产品的可靠性。
研究在有限的样本、时间和使用费用下，找出产品薄弱环节。
可靠性试验是为了解、评价、分析和提高产品的可靠性而进行的各种试验的总称。
中文名：可靠性试验英文名： Reliability Test目的：可靠性鉴定等内容：环境、寿命试验等应用：产品开发、质量控制等2，可靠性测试目的(1) 在研制阶段使产品达到预定的可靠性指标。
为了使产品能达到预定的可靠性指标，在研制阶段需要对样品进行可靠性试验，以便找出产品在原材料、结构、工艺、环境适应性等方面所存在的问题，而加以改进。
（2）在产品研制定型时进行可靠性鉴定。
新产品研制定型时，要根据产品标准进行鉴定试验，以便全面考核产品是否达到规定的可靠性指标。
（3）在生产过程中控制产品的质量。
为了稳定的生产产品，有时需要对每个产品都要按产品技术条件规定的项目进行可靠性试验。
此外还需要逐批或按一定期限进行可靠性抽样试验。
通过对产品的可靠性试验可以了解产品质量的稳定程度。
若因原材料质量较差或工艺流程失控等原因造成产品质量下降，在产品的可靠性试验中就能反映出来，从而可及时采取纠正措施使产品质量恢复正常。
2，可靠性测试目的(4) 对产品进行筛选以提高整批产品的可靠性水平。
合理的筛选可以将各种原因造成的早期失效的产品剔除掉，从而提高整批产品的可靠性水平。
（5）研究产品的失效机理。
通过产品的可靠性试验（包括模拟试验和现场使用试验）可以了解产品在不同环境及不同应力条件下的失效模式与失效规律。
通过对失效产品的分析可以找出引起产品失效的内在原因（即失效机理）及产品的薄弱环节，从而可以采取相应的措施来提高产品的可靠性水平。
3，可靠性测试分类可靠性测试按项目可分为条件测试、常规测试、光色度测试、耐化学化妆品测试和特殊测试。