用数字万用表测可控硅的好坏
如何用数字万用表测量单向或双向可控硅的好坏
如何用数字万用表测量单向或双向可控硅的好坏可控硅分单向可控硅、双向可控硅。
单向可控硅有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。
双向可控硅有第一阳极A1（T1），第二阳极A2（T2）、控制极G三个引出脚。
单向可控硅的检测：万用表选电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑表笔的引脚为控制极G，红表笔的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
双向可控硅的检测：用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。
确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。
将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大。
再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。
随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。
互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。
同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右。
随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右。
符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
双向可控硅好坏检测方法
双向可控硅好坏检测方法双向可控硅是在普通可控硅的基础上发展而成的，它不仅能代替两只反极性并联的可控硅，而且仅需一个触发电路，是比较理想的交流开关器件。
其英文名称TRIAC即三端双向交流开关之意。
1.双向可控硅的检测方法一：测量极间电阻法。
将万用表置于皮R×1k档，如果测得T2－T1、T2－G之间的正反向电阻接近∞，而万用表置于R×10档测得T1－G之间的正反向电阻在几十欧姆时，就说明双向可控硅是好的，可以使用；反之，若测得T2－T1，、T2－G之间的正反向电阻较小甚或等于零．而Tl－G之间的正反向电阻很小或接近于零时．就说明双向可控硅的性能变坏或击穿损坏。
不能使用；如果测得T1－G之间的正反向电阻很大(接近∞)时，说明控制极G与主电极T1之间内部接触不良或开路损坏，也不能使用。
方法二：检查触发导通能力。
万用表置于R×10档：①如图,1(a)所示，用黑表笔接主电极T2，红表笔接T1，即给T2加正向电压，再用短路线将G与T1(或T2)短接一下后离开，如果表头指针发生了较大偏转并停留在一固定位置，说明双向可控硅中的一部分(其中一个单向可控硅)是好的，如图1(b)所示，改黑表笔接主电极T1，红表笔接T2，即给T1加正向电压，再用短路线将G与T1(或T2)短接一下后离开，如果结果同上，也证明双向可控硅中的另一部分(其中的一个单向可控硅是好的。
测试到止说明双向可控硅整个都是好的，即在两个方向(在不同极性的触发电压证）均能触发导通。
图1判断双向可控硅的触发导通能力方法三：检查触发导通能力。
如图2所示．取一只10uF左右的电解电容器，将万用表置于R×10k档(V电压)，对电解电容器充电3~5s后用来代替图1中的短路线，即利用电容器上所充的电压作为触发信号，然后再将万用表置于R×10档，照图2(b)连接好后进行测试。
测试时，电容C的极性可任意连接，同样是碰触一下后离开，观察表头指针偏转情况，如果测试结果与“方法二’相同，就证明双向可控硅是好的。
(整理)用万用表检测双向可控硅
用万用表检测双向可控硅双向可控硅是一种使用较广泛的硅晶体闸流管。
利用双向可控硅可以实现交流无触点控制，具有无火花、动作快、寿命长、可靠性高等优点，较多的使用在电机调速、调光、调温、调压及各种电器过载自动保护电路中。
双向可控硅由五层半导体材料、三个电极构成，三个电极分别为第一阳极（又称主电极）T1、第二阳极（又称主端子）T2和门极G，其特点是触发后可双向导通。
目前双向可控硅的型号、规格繁多，其外型及引脚排列随生产厂家的不同而不同，一般情况下不易直接判断出其管脚及好坏，我们可用万用表对双向可控硅进行简单检测。
一、二、电极的确定首先，把万用表置于R×10Ω档，测双向可控硅能相互导通的两个电极，这两个电极对第三个电极都不导通，则第三个电极为第一阳极T1。
其次，把万用表置于R×1Ω档，测余下两个电极的正反向电阻，取其中电阻小的一次，黑表笔所接的是第二阳极T2，红表笔所接的是门极G。
三、触发性能的检测双向可控硅有四种触发方式，即T1+G+、T1+G-、T1-G+、T1-G-，其中T1-G+触发方式灵敏度较低，所需门极触发功率较大，实际使用时只选其余三种组合。
而T1+G+、T1-G-触发形式的可靠性较高，较常使用，检测触发性能时可只检测这两种形式。
用万用表检测双向可控硅的触发性能，可按下列步骤进行：把万用表置于R×1Ω档，先检查T1+G+形式的触发能力。
用万用表黑表棒与T1极接触，红表棒与T2极接触，万用表指针应停在无穷大处。
保持黑表棒与T1极接触、红表棒与T2极接触，用万用表黑表棒同时接触门极，则指针应有较大幅度的偏转；再松开黑表棒与门极的接触，指针读数不变，说明T1+G+触发性能良好。
然后检查T1-G-形式的触发能力：黑表棒与T2极接触，红表棒与T1极接触，万用表指针应停在无穷大处。
保持黑表棒与T2极接触、红表棒与T1极接触，用红表棒接触门极，指针应有较大幅度的偏转，再松开红表棒与门极的接触，指针读数不变，说明T1-G-触发性能良好。
如何判断可控硅模块的好坏？
如何判断可控硅模块的好坏？可控硅又称晶闸管（晶体闸流管），是一种常用的功率型半导体器件，其最主要的功能是功率控制。
可控硅可分为单向可控硅、双向可控硅、可关断可控硅等。
可控硅的特点是具有可控的单向导电性，以小电流控制大电流，以低电压控制高电压。
可控硅可以用万用表进行检测。
一、检测单向可控硅单向可控硅是PNPN四层结构，形成3个PN结，具有3个外电极：阳极A、阴极K、控制极G。
单向可控硅的引脚如下图所示。
检测时，万用表置于“Rx10Ω”档，黑表笔（表内电池正极）接单向可控硅的控制极G，红表笔（表内电池负极）接单向可控硅的阴极K，这时测量的是单向可控硅PN结的正向电阻，应有较小的阻值。
如下图所示。
对调两表笔后，测其反向电阻，应比正向电阻明显大一些。
万用表黑表笔仍接单向可控硅控制极G，红表笔改接单向可控硅的阳极A，阻值应为无穷大，如下图所示。
对调两表笔后，再测，阻值仍应为无穷大。
这是因为G、A间为两个PN结反向串联，正常情况下其正、反向阻值均为无穷大。
二、检测单向晶闸管导通特性万用表置于Rx1Ω档，黑表笔接单向可控硅阳极A，红表笔接单向可控硅阴极K，表针应指示为无穷大。
这是用金属导体将控制极G与阳极A短接一下（短接后马上断开），表针应向右偏并保持在十几欧姆位置，如下图所示，否则说明单向可控硅已损坏。
三、检测双向可控硅双向可控硅是一种交流型功率控制器件。
双向可控硅的3个引脚分别是控制极G，主电极T1和主电极T2，如下图所示。
由于双向可控硅的两个主电极是对称的，因此使用中可以任意互换。
检测时，万用表置于Rx1Ω档，先用两表笔测量双向可控硅的控制极G与主电极T1之间的正、反向电阻，均应为较小阻值。
如下图所示。
再用万用表两表笔测量双向可控硅的控制极G与主电极T2之间的正、反向电阻，均应为无穷大，如下图所示。
四、检测双向可控硅的导通特性万用表置于Rx1Ω档，黑表笔接双向可控硅主电极T1，红表笔接主电极T2，表针指示应为无穷大，这是将控制极G与主电极T2短接一下，表针应向右偏转并保持在十几欧姆位置，如下图所示。
用万用表测试可控硅
用万用表测试可控硅小功率可控硅，由于所需的触发电流较小，故可以只用万用表来测试。
一、单向可控硅的测试１．极性的判别用万用表的Ｒ×１００欧姆档，分别测量各管脚间的正反向电阻。
如果测得其中两管脚的电阻较大（约为８０ＫΩ），而对换表笔再测这两个管脚的电阻值又较小（约为２ＫΩ），这时，黑表笔所接的一极为控制极Ｇ，红表笔所接的一极为阴极Ｋ，余者为阳极Ａ。
２．质量的判别用万用表的Ｒ×１０欧姆档，黑表笔接Ａ极，红表笔接Ｋ极。
用黑表笔在保持和Ａ极相接的情况下和Ｇ极接触，这样就给Ｇ极加上一触发电压。
这时由万用表可以看到，可控硅的阻值明显变小，说明可控硅可能由于触发而处于通态。
仍保持黑表笔和Ａ极相接，断开和Ｇ极的接触，如果可控硅仍处于通态，则说明可控硅是好的，否则，一般是可控硅损坏。
二、可控硅的测试由于双向可控硅相当于两个单向可控硅的反极性并联而成，又Ｇ极靠近Ｔ１极，由于工艺方面的原因，Ｇ极和Ｔ１极间的正向电阻都很小，一般为１００Ω左右。
另外，双向可控硅具有四种触发状态，只要满足任何一种触发状态，双向可控硅便可触发导通。
极性的判别：用万用表的Ｒ×１Ｋ或Ｒ×１００欧姆档，分别测量各管脚间的正反向电阻，如果测得其中两管脚的电阻很小（约为１００Ω左右），即为Ｔ１极和Ｇ极，余者为Ｔ２极。
Ｔ１极和Ｇ极的区分：任选其中一极为Ｔ１，将万用表调至Ｒ×１欧姆档，不用分表笔的正负，分别将两表笔接至Ｔ２极和Ｔ１极（假设）。
用和Ｔ２相接的表笔在保持和Ｔ２相接的情况下，和Ｇ（假设）相接。
这时会看到可控硅阻值明显变小，说明双向可控硅可能因触发而导通，再大保持该表笔和Ｔ２相接的情况下和Ｇ极（假设）断开，如果双向可控硅仍处于通态，则对换两表笔，重复上述步骤，如果仍能使可控硅处于通态，则假设是正确的。
否则假设是错误的。
这样就应该对换假设的两极再重复上述的步骤。
用数字万用表怎样判断可控硅好坏？
用数字万用表怎样判断可控硅好坏？1、使用数字万用表检查可控硅数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。
如果其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是控制极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。
假如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是控制极，需更换电极重测。
测试可控硅的触发能力数字万用 PNP挡，此时 hFE 插口上的两个带负电，电压为2.8V。
可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K 引线分别插人E 孔，控制极G悬空。
此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示 000。
把控制极插人另一个E孔。
显示值将从000 开始迅速增加，直到显示溢出符号后，立即又变成 000，然后再次从 000 变到溢出，这样周而复始。
采用此法可确定可控硅的触发是否可靠。
但这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。
必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的保护电阻。
如果使用 NPN 挡，可控硅阳极A 应接C 孔，阴极K 孔，以保证所加的是正向电压。
一、可控硅：可控硅(Silicon Controlled Rectifier) 简称SCR，是一种大功率电器元件，也称晶闸管。
它具有体积小、效率高、寿命长等优点。
在自动控制系统中，可作为大功率驱动器件，实现用小功率控件控制大功率设备。
它在交直流电机调速系统、调功系统及随动系统中得到了广泛的应用。
可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种。
双向可控硅也叫三端双向可控硅，简称TRIAC。
双向可控硅在结构上相当于两个单向可控硅反向连接，这种可控硅具有双向导通功能。
其通断状态由控制极G决定。
在控制极G上加正脉冲(或负脉冲)可使其正向(或反向)导通。
这种装置的优点是控制电路简单，没有反向耐压问题，因此特别适合做交流无触点开关使用。
二、测量方法：鉴别可控硅三个极的方法很简单，根据P-N结的原理，只要用万用表测量一下三个极之间的电阻值就可以。
阳极与阴极之间的正向和反向电阻在几百千欧以上，阳极和控制极之间的正向和反向电阻在几百千欧以上（它们之间有两个P-N结，而且方向相反，因此阳极和控制极正反向都不通） [1] 。
可控硅万用表测量方法
可控硅万用表测量方法
一。
可控硅这玩意儿，在电路里可重要啦！要想搞清楚它好不好使，万用表就派上大用场了。
1.1 先来说说测量阳极和阴极之间的正反向电阻。
这一步就像给可控硅来个“全身检查”。
把万用表调到电阻档，红表笔接阳极，黑表笔接阴极。
正常情况下，正向电阻应该比较小，反向电阻那得是大大的。
要是正反电阻都很小或者都很大，那这可控硅多半是有问题咯。
1.2 接下来测控制极和阴极之间的电阻。
还是电阻档，这时候红表笔接控制极，黑表笔接阴极。
一般来说，电阻值应该在几十到几百欧姆之间。
要是电阻值特别小或者特别大，那可能就有毛病啦。
二。
测量完电阻，咱们再看看怎么测导通情况。
2.1 把万用表打到导通档，先短接一下表笔，让表归零。
然后红表笔接阳极，黑表笔接阴极，这时候可控硅应该是不通的。
2.2 接下来，用一根导线把阳极和控制极短接一下。
这时候如果万用表响了，那就说明可控硅导通啦，是好的。
2.3 还有一招，就是给可控硅加上正向电压，然后用万用表测量电压。
如果电压正常，那可控硅也没啥问题。
三。
最后再啰嗦几句。
3.1 测量的时候，手可别抖，要稳稳地拿着表笔，不然测出来的数据可不准。
3.2 要是对测量结果拿不准，多测几次，千万别嫌麻烦。
测量可控硅得细心、耐心，这样才能把问题找出来，让电路顺顺利利地工作。
记住这些方法，以后碰到可控硅的测量，就不会抓瞎啦！。
用数字万用表测可控硅的好坏
用数字万用表测可控硅的好坏、单向可控硅的引脚区分对可控硅的引脚区分，有的可从外形封装加以判别，如外壳就为阳极，阴极引线比控制极引线长。
从外形无法判断的可控硅，可用万用表R X100或R X1K挡，测量可控硅任意两管脚间的正反向电阻，当万用表指示低阻值（几百欧至几千欧的范围）时，黑表笔所接的是控制极G,红表笔所接的是阴极C,余下的一只管脚为阳极A。
二、单向可控硅的性能检测可控硅质量好坏的判别可以从四个方面进行。
第一是三个PN 结应完好；第二是当阴极与阳极间电压反向连接时能够阻断，不导通；第三是当控制极开路时，阳极与阴极间的电压正向连接时也不导通；第四是给控制极加上正向电流，给阴极与阳极加正向电压时，可控硅应当导通，把控制极电流去掉，仍处于导通状态。
用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。
具体方法是：用R X k或R X0k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。
电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。
如果测得的阻值很低，或近于无穷大，说明可控硅已经击穿短路或已经开路，此可控硅不能使用了用RX1k或R X IOk挡测阳极与控制极之间的电阻，正反向测量阻值均应几百千欧以上,若电阻值很小表明可控硅击穿短路。
用R X1k 或R X1OO 挡，测控制极和阴极之间的PN 结的正反向电阻在几千欧左右，如出现正向阻值接近于零值或为无穷大，表明控制极与阴极之间的PN 结已经损坏。
反向阻值应很大，但不能为无穷大。
正常情况是反向阻值明显大于正向阻值。
万用表选电阻R X1 挡，将黑表笔接阳极，红表笔仍接阴极，此时万用表指针应不动。
红表笔接阴极不动，黑表笔在不脱开阳极的同时用表笔尖去瞬间短接控制极，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为1O 欧姆左右。
如阳极接黑表笔，阴极接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
四、可控硅的使用注意事项选用可控硅的额定电压时，应参考实际工作条件下的峰值电压的大小，并留出一定的余量。
可控硅好坏简易判断方法
可控硅好坏简易判断方法可控硅是一种具有开关功能的半导体器件，广泛应用于电子电路中。
它的好坏直接影响到电路的性能和稳定性。
那么，如何判断可控硅的好坏呢？本文将介绍一些简易的判断方法。
我们可以通过外观来初步判断可控硅的好坏。
正常的可控硅外观应该无明显的损坏、变形或烧焦现象。
若外观存在明显的损坏，如裂缝、破损等，很可能已经失效，需要更换。
可以使用万用表来测试可控硅的导通性。
首先，将万用表的测试笔分别连接到可控硅的控制极和主极上，然后将测试笔的选择档位调到电阻档位。
如果万用表显示的电阻值为无穷大，即开路状态，那么可控硅很可能已经损坏。
而如果显示的电阻值接近于零，即短路状态，也说明可控硅存在问题。
可以通过观察可控硅的发热情况来初步判断其好坏。
正常工作的可控硅在通电过程中会有一定的发热现象，但不应过热。
如果可控硅在工作过程中过热，可能是由于负载过大、环境温度过高或可控硅本身存在问题等原因。
这时需要进行进一步检查和调试。
可以通过可控硅的正常工作状态来判断其好坏。
可控硅在正常工作时应能够准确地控制电路的导通与断开。
可以通过输入控制信号来观察可控硅的工作情况。
如果可控硅无法正常地开启或关闭，或者控制信号无法准确地控制可控硅的导通与断开，很可能是可控硅出现了问题。
可以使用专业的测试设备来进一步判断可控硅的好坏。
例如，使用特定的测试仪器可以对可控硅进行静态和动态特性测试，来检测其各项参数是否符合规格要求。
这种方法需要一定的专业知识和设备，适用于对可控硅的详细评估和性能分析。
通过外观检查、导通性测试、发热情况观察、工作状态检查以及专业测试等方法，我们可以初步判断可控硅的好坏。
当然，对于一些特殊场合和要求更高的应用，可能需要更加专业的检测手段和设备，以确保可控硅的性能和可靠性。
因此，在实际应用中，我们应根据具体情况选择合适的方法和工具来判断可控硅的好坏，以保证电路的正常运行和稳定性。
万用表测量可控硅的方法
万用表测量可控硅的方法可控硅分单向可控硅和双向可控硅两种，都是三个电极。
单向可控硅有阴极（K）、阳极（A）、控制极（G）。
双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成。
即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连，其引出端称T2极，其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连，其引出端称T2极，剩下则为控制极（G）。
1、单、双向可控硅的判别：先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K 或G、A极（对单向可控硅）也可能是T2、T1或T2、G极（对双向可控硅）。
若其中有一次测量指示为几十至几百欧，则必为单向可控硅。
且红笔所接为K极，黑笔接的为G极，剩下即为A极。
若正、反向测批示均为几十至几百欧，则必为双向可控硅。
再将旋钮拨至R×1或R×10挡复测，其中必有一次阻值稍大，则稍大的一次红笔接的为G极，黑笔所接为T1极，余下是T2极。
2、性能的差别：将旋钮拨至R×1挡，对于1~6A单向可控硅，红笔接K极，黑笔同时接通G、A极，在保持黑笔不脱离A极状态下断开G极，指针应指示几十欧至一百欧，此时可控硅已被触发，且触发电压低（或触发电流小）。
然后瞬时断开A极再接通，指针应退回∞位置，则表明可控硅良好。
对于1~6A双向可控硅，红笔接T1极，黑笔同时接G、T2极，在保证黑笔不脱离T2极的前提下断开G极，指针应指示为几十至一百多欧（视可控硅电流大小、厂家不同而异）。
然后将两笔对调，重复上述步骤测一次，指针指示还要比上一次稍大十几至几十欧，则表明可控硅良好，且触发电压（或电流）小。
若保持接通A极或T2极时断开G极，指针立即退回∞位置，则说明可控硅触发电流太大或损坏。
可按图2方法进一步测量，对于单向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K灯仍不息灭，否则说明可控硅损坏。
对于双向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K，灯应不息灭。
然后将电池反接，重复上述步骤，均应是同一结果，才说明是好的。
怎样用万用表测量可控硅的好坏
怎样用万用表测量可控硅的好坏单向可控硅和双向可控硅两种，都是三个电极。
单向可控硅有阴极（K）、阳极（A）、控制极（G）。
双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成。
即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连，其引出端称T2极，其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连，其引出端称T2极，剩下则为控制极（G）。
1、可控硅测量方法_单、双向可控硅的判别：先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A 极（对单向可控硅）也可能是T2、T1或T2、G极（对双向可控硅）。
若其中有一次测量指示为几十至几百欧，则必为单向可控硅。
且红笔所接为K极，黑笔接的为G极，剩下即为A极。
若正、反向测批示均为几十至几百欧，则必为双向可控硅。
再将旋钮拨至R×1或R×10挡复测，其中必有一次阻值稍大，则稍大的一次红笔接的为G极，黑笔所接为T1极，余下是T2极。
2、可控硅测量方法_性能的差别：将旋钮拨至R×1挡，对于1~6A单向可控硅，红笔接K极，黑笔同时接通G、A极，在保持黑笔不脱离A极状态下断开G极，指针应指示几十欧至一百欧，此时可控硅已被触发，且触发电压低（或触发电流小）。
瞬时断开A极再接通，指针应退回∞位置，则表明可控硅良好。
对于1~6A双向可控硅，红笔接T1极，黑笔同时接G、T2极，在保证黑笔不脱离T2极的前提下断开G极，指针应指示为几十至一百多欧（视可控硅电流大小、厂家不同而异）。
然后将两笔对调，重复上述步骤测一次，指针指示还要比上一次稍大十几至几十欧，则表明可控硅良好，且触发电压（或电流）小。
若保持接通A极或T2极时断开G极，指针立即退回∞位置，则说明可控硅触发电流太大或损坏。
可按图2方法进一步测量，对于单向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K灯仍不熄灭，否则说明可控硅损坏。
对于双向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K，灯应不熄灭。
然后将电池反接，重复上述步骤，均应是同一结果，才说明是好的。
如何测量可控硅的好坏
其他回答
一、若为单向可控硅：1、用万用表的两只表笔分别连接可控硅的任意两脚，当交换前后均无指示的情况下，稍微扭动与第三只管脚相邻的表笔，使其与第三脚有轻微的接触后迅速断离，若此时连接的两脚间有指示，断定此可控硅可用；若仍保持断路状态，可断定此可控硅报废。2、若不论连接任何两脚，都处于导通状态也可断定报废。二、若为双向可控硅：1、进行一、1、步骤后，交换一下表笔，重复触碰第三只管脚，按一、1、作出判断。2、同一、2、。3、双·1···向可控硅一般双向同时损坏，偶有单向损坏者，但已不能用在双向开关电路中了。
2. 双向可控硅的检测。
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大。再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右。随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右。符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
如何用万用表测试单向可控硅
如何用万用表测试单向可控硅万用表是电工常用的仪器之一，它可以用来测试各种电路元件的电压、电流、电阻等参数。
其中，测试单向可控硅（也被称为二极管可控硅）的方法是非常重要的，因为单向可控硅是一种重要的电子器件，广泛应用于电力、电子、通信等领域。
本文将介绍如何使用万用表来测试单向可控硅。
首先，我们需要了解单向可控硅的基本结构和工作原理。
单向可控硅由一个p-n结和一个门极组成。
当输入电压超过一定阈值时，单向可控硅会处于导通状态；当输入电压低于阈值时，单向可控硅处于截止状态。
因此，我们可以使用万用表的二极管测试功能来测试单向可控硅。
下面是使用万用表测试单向可控硅的步骤：步骤一：准备工作1. 关闭待测电路的电源，确保安全。
2. 从电路中拆下单向可控硅。
步骤二：选择测试模式1. 打开万用表，选择二极管测试模式。
2. 选择适当的测量范围。
根据单向可控硅的额定电流和电压来确定。
步骤三：测试单向可控硅1. 将万用表的测试引线连接到单向可控硅的两个引脚上。
2. 将红色正引线连接到单向可控硅的阳极（标有"+"）引脚上。
3. 将黑色负引线连接到单向可控硅的阴极（标有"-"）引脚上。
步骤四：读取测试结果1. 根据万用表的显示，可以得到单向可控硅的导通电压和漏电流。
2. 如果测试结果显示导通电压在正常范围内，且漏电流非常小或为零，则单向可控硅正常。
3. 如果测试结果显示导通电压异常或漏电流较大，说明单向可控硅可能损坏或不正常。
需要注意的是，测试单向可控硅时，应该注意以下事项以确保测试的准确性和安全性：1. 确保测试时电路处于断开状态，避免对万用表和单向可控硅造成损坏。
2. 根据单向可控硅的额定电流和电压选择正确的测试范围，避免过载损坏万用表。
3. 在测试过程中，应避免直接接触单向可控硅的金属部分，以防触电。
总结：本文介绍了如何使用万用表测试单向可控硅的方法及各项注意事项。
通过正确的操作和测试，可以准确地检测单向可控硅的导通电压和漏电流，判断其是否正常工作。
可控硅好坏如何测量
一、可控硅的特性可控硅分单向可控硅、双向可控硅;单向可控硅有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚;双向可控硅有第一阳极A1T1,第二阳极A2T2、控制极G三个引出脚;只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压,同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时,方可被触发导通;此时A、K间呈低阻导通状态,阳极A与阴极K间压降约1V;单向可控硅导通后,控制器G即使失去触发电压,只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压,单向可控硅继续处于低阻导通状态;只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K间电压极性发生改变交流过零时,单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态;单向可控硅一旦截止,即使阳极A和阴极K间又重新加上正向电压,仍需在控制极G和阴极K间有重新加上正向触发电压方可导通;单向可控硅的导通与截止状态相当于开关的闭合与断开状态,用它可制成无触点开关;双向可控硅第一阳极A1与第二阳极A2间,无论所加电压极性是正向还是反向,只要控制极G和第一阳极A1间加有正负极性不同的触发电压,就可触发导通呈低阻状态;此时A1、A2间压降也约为1V;双向可控硅一旦导通,即使失去触发电压,也能继续保持导通状态;只有当第一阳极A1、第二阳极A2电流减小,小于维持电流或A1、A2间当电压极性改变且没有触发电压时,双向可控硅才截断,此时只有重新加触发电压方可导通;二、可控硅的管脚判别晶闸管管脚的判别可用下述方法：先用万用表R1K挡测量三脚之间的阻值,阻值小的两脚分别为控制极和阴极,所剩的一脚为阳极;再将万用表置于R10K挡,用手指捏住阳极和另一脚,且不让两脚接触,黑表笔接阳极,红表笔接剩下的一脚,如表针向右摆动,说明红表笔所接为阴极,不摆动则为控制极;三、单向可控硅的检测万用表选电阻R1Ω挡,用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚,此时黑表笔的引脚为控制极G,红表笔的引脚为阴极K,另一空脚为阳极A;此时将黑表笔接已判断了的阳极A,红表笔仍接阴极K;此时万用表指针应不动;用短线瞬间短接阳极A和控制极G,此时万用表电阻挡指针应向右偏转,阻值读数为10欧姆左右;如阳极A接黑表笔,阴极K接红表笔时,万用表指针发生偏转,说明该单向可控硅已击穿损坏;四、双向可控硅的检测用万用表电阻R1Ω挡,用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻,结果其中两组读数为无穷大;若一组为数十欧姆时,该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G,另一空脚即为第二阳极A2;确定A1、G极后,再仔细测量A1、G极间正、反向电阻,读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1,红表笔所接引脚为控制极G;将黑表笔接已确定的第二阳极A2,红表笔接第一阳极A1,此时万用表指针不应发生偏转,阻值为无穷大;再用短接线将A2、G极瞬间短接,给G极加上正向触发电压,A2、A1间阻值约10欧姆左右;随后断开A2、G间短接线,万用表读数应保持10欧姆左右;互换红、黑表笔接线,红表笔接第二阳极A2,黑表笔接第一阳极A1;同样万用表指针应不发生偏转,阻值为无穷大;用短接线将A2、G极间再次瞬间短接,给G极加上负的触发电压,A1、A2间的阻值也是10欧姆左右;随后断开A2、G极间短接线,万用表读数应不变,保持在10欧姆左右;符合以上规律,说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确;检测较大功率可控硅时,需要在万用表黑笔中串接一节干电池,以提高触发电压;。
数字万用表测二极管、三极管、可控硅、光耦
数字万用表测二极管、三极管、可控硅、光耦数字万用表测二极管、三极管、可控硅、光耦数字万用表的使用已很普及了，但在常见的电工技术方面的书中，半导体的测量方法多是使用指针万用表，很少介绍使用数字万用表的。
数字万用表和指针万用表测量半导体的方法是不同的。
一、二极管数字万用表二极管档开路电压约为2.8V，红表笔接正，黑表笔接负，测量时提供电流约为1mA，显示值为二极管正向压降近似值，单位是mV或V。
硅二极管正向导通压降约为0.3~0.8V。
锗二极管锗正向导通压降约为0.1~0.3V。
并且功率大一些的二极管正向压降要小一些。
如果测量值小于0.1V，说明二极管击穿，此时正反向都导通。
如果正反向均开路说明二极管PN节开路。
对于发光二极管，正向测量时二极管发光，管压降约1.7V左右。
二、三极管三极管有两个PN节，发射节（be）和集电节（bc），按测量二极管的方法测量即可。
在实际测量时，每两个管脚间都要测正反向压降，共要测6次，其中有4次显示开路，只有两次显示压降值，否则三极管是坏的或是特殊三极管（如带阻三极管、达林顿三极管等，可通过型号与普通三极管区分开来）。
在两次有数值的测量中，如果黑表笔或红表笔接同一极，则该极是基极，测量值较小的是集电节，较大的是发射节，因为已判断出基极，对应可以判断出集电极和发射极。
同时可以判断：如果黑表笔接同一极，则三极管是PNP型，如果红表笔接同一极，则三极管是NPN型；压降为0.6V左右的是硅管，压降为0.2V左右的是锗管。
三、可控硅：可控硅阳极与阴极及控制极是开路的，据此可以确定阳极管脚和判断可控硅是否击穿。
可控硅控制极和阴极间也是PN节，但是大功率可控硅控制极和阴极间有一个保护电阻，测量时显示值为电阻上的压降。
四、光耦光耦的一侧是发光二极管，测量时压降约1V左右，另外一侧是三极管，有的只引出c、e，测量正反向均截止，如果三个脚都引出，测量特性同上面三极管（多为NPN管）。
当用一个万用表使二极管正向导通，此时用另外一块万用表测三极管c对e导通压降约为0.15V；断开接二极管的万用表，三极管c对e截止，说明该光耦是好的。
可控硅的检测方法
可控硅的检测方法
可控硅（或称为双向可控硅、双向晶闸管）是一种电子元件，用于控制交流电流的流动。
为了确保可控硅的正常工作和可靠性，常需要进行以下几种常用的检测方法：
1. 静态电压检测：使用数字万用表或示波器测量可控硅上的正向和反向电压，以确保其在正常工作范围内。
正向电压通常应小于可控硅的额定电压。
2. 静态电流检测：使用数字电流表或示波器检测可控硅的正向和反向电流，以确保其在正常工作范围内。
正向电流应小于可控硅的额定电流。
3. 触发电流检测：通过施加一个正向触发电流来测试可控硅是否能正常触发。
触发电流应小于可控硅的额定触发电流。
4. 动态特性检测：使用示波器观察可控硅在不同触发角和负载条件下的电压和电流波形，以确定其动态响应和工作状态。
5. 温度测试：通过红外测温仪或接触式温度计测量可控硅的温度，以确保其不会过热并影响性能。
这些检测方法可以帮助判断可控硅的工作状态和健康程度，以便于及时进行维修或更换。
然而，在进行任何检测之前，应确保在实验室、车间或其他适当的环境
条件下进行，以避免可能的危险或损坏。
如何测量可控硅模块好坏
如何测量可控硅模块的好坏双向可控硅是在普通可控硅的基础上发展而成的，它不仅能代替两只反极性并联的可控硅，而且仅需一个触发电路，是比较理想的交流开关器件。
其英文名称TRIAC即三端双向交流开关之意。
1.双向可控硅的检测方法一：测量极间电阻法。
将万用表置于皮R×1k档，如果测得T2－T1、T2－G之间的正反向电阻接近∞，而万用表置于R×10档测得T1－G之间的正反向电阻在几十欧姆时，就说明双向可控硅是好的，可以使用；反之，若测得T2－T1，、T2－G之间的正反向电阻较小甚或等于零．而Tl－G之间的正反向电阻很小或接近于零时．就说明双向可控硅的性能变坏或击穿损坏。
不能使用；如果测得T1－G之间的正反向电阻很大(接近∞)时，说明控制极G与主电极T1之间内部接触不良或开路损坏，也不能使用。
方法二：检查触发导通能力。
万用表置于R×10档：①如图,1(a)所示，用黑表笔接主电极T2，红表笔接T1，即给T2加正向电压，再用短路线将G与T1(或T2)短接一下后离开，如果表头指针发生了较大偏转并停留在一固定位置，说明双向可控硅中的一部分(其中一个单向可控硅)是好的，如图1(b)所示，改黑表笔接主电极T1，红表笔接T2，即给T1加正向电压，再用短路线将G与T1(或T2)短接一下后离开，如果结果同上，也证明双向可控硅中的另一部分(其中的一个单向可控硅是好的。
测试到止说明双向可控硅整个都是好的，即在两个方向(在不同极性的触发电压证）均能触发导通。
图1判断双向可控硅的触发导通能力方法三：检查触发导通能力。
如图2所示．取一只10uF左右的电解电容器，将万用表置于R×10k档(V电压)，对电解电容器充电3~5s后用来代替图1中的短路线，即利用电容器上所充的电压作为触发信号，然后再将万用表置于R×10档，照图2(b)连接好后进行测试。
测试时，电容C的极性可任意连接，同样是碰触一下后离开，观察表头指针偏转情况，如果测试结果与“方法二’相同，就证明双向可控硅是好的。
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用数字万用表测可控硅的好坏
一、单向可控硅的引脚区分
对可控硅的引脚区分，有的可从外形封装加以判别，如外壳就为阳极，阴极引线比控制极引线长。
从外形无法判断的可控硅，可用万用表R×100或R×1K挡，测量可控硅任意两管脚间的正反向电阻，当万用表指示低阻值（几百欧至几千欧的范围）时，黑表笔所接的是控制极G，红表笔所接的是阴极C，余下的一只管脚为阳极A。
二、单向可控硅的性能检测
可控硅质量好坏的判别可以从四个方面进行。
第一是三个PN结应完好；第二是当阴极与阳极间电压反向连接时能够阻断，不导通；第三是当控制极开路时，阳极与阴极间的电压正向连接时也不导通；第四是给控制极加上正向电流，给阴极与阳极加正向电压时，可控硅应当导通，把控制极电流去掉，仍处于导通状态。
用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。
具体方法是：用R×1k或R×10k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。
电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。
如果测得的阻值很低，或近于无穷大，说明可控硅已经击穿短路或已经开路，此可控硅不能使用了。
用R×1k或R×10k挡测阳极与控制极之间的电阻，正反向测量阻值均应几百千欧以上,若电阻值很小表明可控硅击穿短路。
用R×1k或R×100挡，测控制极和阴极之间的PN结的正反向电阻在几千欧左右，如出现正向阻值接近于零值或为无穷大，表明控制极与阴极之间的PN结已经损坏。
反向阻值应很大，但不能为无穷大。
正常情况是反向阻值明显大于正向阻值。
万用表选电阻R×1挡，将黑表笔接阳极，红表笔仍接阴极，此时万用表指针应不动。
红表笔接阴极不动，黑表笔在不脱开阳极的同时用表笔尖去瞬间短接控制极，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极接黑表笔，阴极接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
四、可控硅的使用注意事项
选用可控硅的额定电压时，应参考实际工作条件下的峰值电压的大小，并留出一定的余量。
1、选用可控硅的额定电流时，除了考虑通过元件的平均电流外，还应注意正常工作时导通角的大小、散热通风条件等因素。
在工作中还应注意管壳温度不超过相应电流下的允许值。
2、使用可控硅之前，应该用万用表检查可控硅是否良好。
发现有短路或断路现象时，应立即更换。
3、严禁用兆欧表（即摇表）检查元件的绝缘情况。
4、电流为5A以上的可控硅要装散热器，并且保证所规定的冷却条件。
为保证散热器与可控硅管心接触良好，它们之间应涂上一薄层有机硅油或硅脂，以帮于良好的散热。
5、按规定对主电路中的可控硅采用过压及过流保护装置。
6、要防止可控硅控制极的正向过载和反向击穿。
用数字万用表测量可控硅的好坏(KP型号 300A 1600V）
2010-6-22 00:19 提问者：limenghou
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你好，能否告诉我，如何用数字万用表测量可控硅的好坏，我的这个元件是 KP型号 300A 1600V，网上都基本上没有说清楚，我有急用，谢谢了，还有他们所说的用电池灯泡来测量的具体方式是什么（比如用好大电池，多少伏，用多少伏的灯泡。
）谢谢了
啊。
开关可以控制灯泡就表明可控硅可用。
1:数字万用表只能测试小功率的可控硅.因为数字万用表提供的电流太小. 2:一个12V左右DC电源;一个相应的12V,10~20W灯泡.
3:电源(+) --- 可控硅(+) --- 可控硅(-) --- 灯泡 --- 电源(-);接好线.
4:短路一下可控硅(+)到可控硅触发极,灯泡会保持点亮状态.这个可控硅是好的. 5:灯泡保持点亮状态下:测可控硅两端的电压值,是可控硅节压降,越低越好.断一下电源线.再接上,灯泡就不亮了,除非再按(4:)的方法触发一下.
6:注意,测可控硅有一个维持电流,小于它时可控硅会自动关断,因此灯泡功率别太小.
7:数字万用表只能测试小功率的可控硅;同样道理用欧姆档,
红笔 --- 可控硅(+) --- 可控硅(-) --- 黑笔 ;把红笔与可控硅触发极短路一下;可控硅会导通,电阻变小.
8:数字万用表提供的电流小,如果达不到可控硅维持电流,它会自动关断,这并不表示可控硅是坏的.要注意。