用万用表测试可控硅
万用表检查判断可控硅的好坏及极性方法
万用表检查判断可控硅的好坏及极性方法可控硅极性和好坏可以用指针万用表或数字万用表进行推断，下面电工学习网我分别介绍这两种万用表在可控硅极性和好坏测量过程中的使用方法。
1、使用指针万用表检查可控硅极性和好坏方法依据PN结原理，可控硅三个极之间的电阻值，可用欧姆挡“R×10”或“R×100”挡测量来判别好坏。
可控硅的掌握极G与阴极K之间是一个PN结，在正常状况下，它的正向电阻在几十欧到几百欧之间，一般反向电阻比正向电阻要大。
有时测得掌握极反向电阻较小，不肯定说明掌握极特性差，主要应看其是否符合PN结的特点。
2、使用数字万用表检查可控硅极性和好坏方法推断可控硅的电极数字万用表拨至二极管挡，红表笔接某一电极，黑表笔分别接触另外两个电极。
假如其中有一次显示电压为零点几伏，则此时红表笔接的是掌握极G，黑表笔接的是阴极K，余下的则是阳极A。
假如两次都显示溢出，说明红表笔接的不是掌握极，需更换电极重测。
测试可控硅的触发力量数字万用表拨至PNP挡，此时hFE插口上的两个E孔带正电，C孔带负电，电压为2.8V。
可控硅的三个电极各用一根导线引出，阳极A、阴极K引线分别插人E孔和C孔，掌握极G悬空。
此时可控硅关断，阳极电流为零，将显示000。
把掌握极G插人另一个E孔。
显示值将从000开头快速增加，直到显示溢出符号后，马上又变成000，然后再次从000变到溢出，这样周而复始。
采纳此法可确定可控硅的触发是否牢靠。
但这样的测试由于电流较大，应尽量缩短测试时间。
必要时也可在可控硅的阳极上串一只几百欧的爱护电阻。
假如使用NPN挡，可控硅阳极A应接C孔，阴极K接E孔，以保证所加的是正向电压。
检查触发力量时，掌握极不要插人B孔，因B 孔的电压较低，可控硅无法导通。
万用表如何判断可控硅好与坏
一、怎样判断可控硅的好坏普通二极管的检测（包括检波二极管、整流二极管、阻尼二极管、开关二极管、续流二极管）是由一个PN结构成的半导体器件，具有单向导电特性。
通过用万用表检测其正、反向电阻值，可以判别出二极管的电极，还可估测出二极管是否损坏。
1．极性的判别将万用表置于R×100档或R×1k档，两表笔分别接二极管的两个电极，测出一个结果后，对调两表笔，再测出一个结果。
两次测量的结果中，有一次测量出的阻值较大（为反向电阻），一次测量出的阻值较小（为正向电阻）。
在阻值较小的一次测量中，黑表笔接的是二极管的正极，红表笔接的是二极管的负极。
2．单负导电性能的检测及好坏的判断通常，锗材料二极管的正向电阻值为1kΩ左右，反向电阻值为300左右。
硅材料二极管的电阻值为5 kΩ左右，反向电阻值为∞（无穷大）。
正向电阻越小越好，反向电阻越大越好。
正、反向电阻值相差越悬殊，说明二极管的单向导电特性越好。
若测得二极管的正、反向电阻值均接近0或阻值较小，则说明该二极管内部已击穿短路或漏电损坏。
若测得二极管的正、反向电阻值均为无穷大，则说明该二极管已开路损坏。
3．反向击穿电压的检测二极管反向击穿电压（耐压值）可以用晶体管直流参数测试表测量。
其方法是：测量二极管时，应将测试表的“NPN/PNP”选择键设置为NPN状态，再将被测二极管的正极接测试表的“C”插孔内，负极插入测试表的“e”插孔，然后按下“V”键，测试表即可指示出二极管的反向击穿电压值。
也可用兆欧表和万用表来测量二极管的反向击穿电压、测量时被测二极管的负极与兆欧表的正极相接，将二极管的正极与兆欧表的负极相连，同时用万用表（置于合适的直流电压档）监测二极管两端的电压。
如图4-71所示，摇动兆欧表手柄（应由慢逐渐加快），待二极管两端电压稳定而不再上升时，此电压值即是二极管的反向击穿电压。
4.中、小功率三极管的检测A 已知型号和管脚排列的三极管，可按下述方法来判断其性能好坏(a) 测量极间电阻。
可控硅的测试方法
可控硅的测试方法标准化管理处编码[BBX968T-XBB8968-NNJ668-MM9N]
可控硅的测试方法
双向可控硅的极性判断方法：T1（A1）为第一阳极，T2（A2）为第二阳极，G为控制极。
测试结果为：T2与其他2个脚均不导通，通常T2极和可控硅背部的散热片是导通的，其余的两个引脚则为T1极与G极，用指针万用表的R×1或R×10档测量这两个引脚；在正反测量阻值较小的那次中，红表笔接的为可控硅G极，黑表笔接的为T1极。
将黑表笔接T2极，红表笔接T1极，此时万用表指针应该不发生偏转，阻值为无穷大，再用短接线将T2极与G极瞬间短接，这样做的目的是给G极加上正向触发电压，T1(A1)、T2(A2)两极之间阻值由无穷大变为导通，随后断开T2极与G极之间的短接线，万用表指针仍然停留在原来偏转位置，即撤掉可控硅的触发电压后，可控硅仍然维持导通。
然后互换表笔接线，红表笔接T2极，黑表笔接T1极，同样的读数为无穷大，此时将T2极与G极瞬间短接，T1极与T2极之间的阻值将一样会维持导通，（除非T1与T2断开）
单向可控硅的三个引脚分别是阳极（A）、阴极（K）和控制极（G）
用指针式万用表电阻档R×1或R×10档，找出正反电阻有差别的两极，这时候测得电阻阻值读数较小的那次中，黑表笔接的为该单向可控硅的控制极（G）极，红表笔接的为阴极（K）极，另外的一个脚即为阳极（A）极。
（如果三个脚之间的电阻值都很小，几乎接近0欧姆，那么这只管子已击穿损坏），如果阳极（A）接黑表笔，阴极（K）接红表笔，万用表指针产生偏转的话，同样的这只管子已损坏。
可控硅万用表测量方法
可控硅万用表测量方法
一。
可控硅这玩意儿，在电路里可重要啦！要想搞清楚它好不好使，万用表就派上大用场了。
1.1 先来说说测量阳极和阴极之间的正反向电阻。
这一步就像给可控硅来个“全身检查”。
把万用表调到电阻档，红表笔接阳极，黑表笔接阴极。
正常情况下，正向电阻应该比较小，反向电阻那得是大大的。
要是正反电阻都很小或者都很大，那这可控硅多半是有问题咯。
1.2 接下来测控制极和阴极之间的电阻。
还是电阻档，这时候红表笔接控制极，黑表笔接阴极。
一般来说，电阻值应该在几十到几百欧姆之间。
要是电阻值特别小或者特别大，那可能就有毛病啦。
二。
测量完电阻，咱们再看看怎么测导通情况。
2.1 把万用表打到导通档，先短接一下表笔，让表归零。
然后红表笔接阳极，黑表笔接阴极，这时候可控硅应该是不通的。
2.2 接下来，用一根导线把阳极和控制极短接一下。
这时候如果万用表响了，那就说明可控硅导通啦，是好的。
2.3 还有一招，就是给可控硅加上正向电压，然后用万用表测量电压。
如果电压正常，那可控硅也没啥问题。
三。
最后再啰嗦几句。
3.1 测量的时候，手可别抖，要稳稳地拿着表笔，不然测出来的数据可不准。
3.2 要是对测量结果拿不准，多测几次，千万别嫌麻烦。
测量可控硅得细心、耐心，这样才能把问题找出来，让电路顺顺利利地工作。
记住这些方法，以后碰到可控硅的测量，就不会抓瞎啦！。
用万用表测试可控硅mcr100-6
用万用表测试mcr100-6可控硅
判断其好坏
用万用表R×1k档测量普通晶体管阳极A与阴极K之间的正、反
向电阻，正常时均应为无穷大（∞）若测得A、K之间的正、反向
电阻值为零或阻值较小，则说明晶闸管内部击穿短路或漏电。
测量门极G与阴极K之间的正、反向电阻值，正常时应有类似
二极管的正、反向电阻值（实际测量结果较普通二极管的正、反向
电阻值小一些），即正向电阻值较小（小于2 kΩ），反向电阻值较大
（大于80 kΩ）。
若两次测量的电阻值均很大或均很小，则说明该晶
闸管G、K极之间开路或短路。
若正、反电阻值均相等或接近，则
说明该晶闸管已失效，其G、K极间PN结已失去单向导电作用。
测量阳极A与门极G之间的正、反向电阻，正常时两个阻值均
应为几百千欧姆（kΩ）或无穷大，若出现正、反向电阻值不一样（有类似二极管的单向导电），则是G、A极之间反向串联的两个PN结中的一个已击穿短路。
触发能力检测
对于小功率（工作电流为5A以下）的普通晶闸管，可用万用表R×1档测量。
测量时黑表笔接阳极A，红表笔接阴极K，此时表针不动，显示阻值为无穷大（∞）。
用镊子或导线将晶闸管的阳极A与门极短路（见图），相当于给G极加上正向触发电压，此时若电阻值为几欧姆至几十欧姆（具体阻值根据晶闸管的型号不同会有所差异），则表明晶闸管因正向触发而导通。
再断开A极与G极的连接（A、K极上的表笔不动，只将G极的触发电压断掉），若表针示值仍保持在几欧姆至几十欧姆的位置不动，则说明此晶闸管的触发性能良好。
用数字万用表测可控硅的好坏
用数字万用表测可控硅的好坏、单向可控硅的引脚区分对可控硅的引脚区分，有的可从外形封装加以判别，如外壳就为阳极，阴极引线比控制极引线长。
从外形无法判断的可控硅，可用万用表R X100或R X1K挡，测量可控硅任意两管脚间的正反向电阻，当万用表指示低阻值（几百欧至几千欧的范围）时，黑表笔所接的是控制极G,红表笔所接的是阴极C,余下的一只管脚为阳极A。
二、单向可控硅的性能检测可控硅质量好坏的判别可以从四个方面进行。
第一是三个PN 结应完好；第二是当阴极与阳极间电压反向连接时能够阻断，不导通；第三是当控制极开路时，阳极与阴极间的电压正向连接时也不导通；第四是给控制极加上正向电流，给阴极与阳极加正向电压时，可控硅应当导通，把控制极电流去掉，仍处于导通状态。
用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。
具体方法是：用R X k或R X0k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。
电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。
如果测得的阻值很低，或近于无穷大，说明可控硅已经击穿短路或已经开路，此可控硅不能使用了用RX1k或R X IOk挡测阳极与控制极之间的电阻，正反向测量阻值均应几百千欧以上,若电阻值很小表明可控硅击穿短路。
用R X1k 或R X1OO 挡，测控制极和阴极之间的PN 结的正反向电阻在几千欧左右，如出现正向阻值接近于零值或为无穷大，表明控制极与阴极之间的PN 结已经损坏。
反向阻值应很大，但不能为无穷大。
正常情况是反向阻值明显大于正向阻值。
万用表选电阻R X1 挡，将黑表笔接阳极，红表笔仍接阴极，此时万用表指针应不动。
红表笔接阴极不动，黑表笔在不脱开阳极的同时用表笔尖去瞬间短接控制极，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为1O 欧姆左右。
如阳极接黑表笔，阴极接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
四、可控硅的使用注意事项选用可控硅的额定电压时，应参考实际工作条件下的峰值电压的大小，并留出一定的余量。
用数字万用表测可控硅的好坏
用数字万用表测可控硅的好坏、单向可控硅的引脚区分对可控硅的引脚区分，有的可从外形封装加以判别，如外壳就为阳极，阴极引线比控制极引线长。
从外形无法判断的可控硅，可用万用表R X100或R X1K挡，测量可控硅任意两管脚间的正反向电阻，当万用表指示低阻值（几百欧至几千欧的范围）时，黑表笔所接的是控制极G,红表笔所接的是阴极C,余下的一只管脚为阳极A。
二、单向可控硅的性能检测可控硅质量好坏的判别可以从四个方面进行。
第一是三个PN 结应完好；第二是当阴极与阳极间电压反向连接时能够阻断，不导通；第三是当控制极开路时，阳极与阴极间的电压正向连接时也不导通；第四是给控制极加上正向电流，给阴极与阳极加正向电压时，可控硅应当导通，把控制极电流去掉，仍处于导通状态。
用万用表的欧姆挡测量可控硅的极间电阻，就可对前三个方面的好坏进行判断。
具体方法是：用R X k或R X0k挡测阴极与阳极之间的正反向电阻（控制极不接电压），此两个阻值均应很大。
电阻值越大，表明正反向漏电电流愈小。
如果测得的阻值很低，或近于无穷大，说明可控硅已经击穿短路或已经开路，此可控硅不能使用了用RX1k或R X IOk挡测阳极与控制极之间的电阻，正反向测量阻值均应几百千欧以上,若电阻值很小表明可控硅击穿短路。
用R X1k 或R X1OO 挡，测控制极和阴极之间的PN 结的正反向电阻在几千欧左右，如出现正向阻值接近于零值或为无穷大，表明控制极与阴极之间的PN 结已经损坏。
反向阻值应很大，但不能为无穷大。
正常情况是反向阻值明显大于正向阻值。
万用表选电阻R X1 挡，将黑表笔接阳极，红表笔仍接阴极，此时万用表指针应不动。
红表笔接阴极不动，黑表笔在不脱开阳极的同时用表笔尖去瞬间短接控制极，此时万用表电阻挡指针应向右偏转，阻值读数为1O 欧姆左右。
如阳极接黑表笔，阴极接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
四、可控硅的使用注意事项选用可控硅的额定电压时，应参考实际工作条件下的峰值电压的大小，并留出一定的余量。
可控硅测量方法
可控硅测量方法一、可控硅的基本概念及工作原理可控硅（SCR）是一种半导体器件，也称为晶闸管。
它由四个PN结组成，具有三个电极：阳极、阴极和门极。
在正向偏置下，只有一个PN 结被击穿，形成通道；而在反向偏置下，所有PN结都被截止。
当给门极施加一个正脉冲信号时，通道就会打开，在阳极和阴极之间形成一个电流通路。
二、可控硅测量方法1. 静态特性测量静态特性是指在固定的电压和温度条件下，测量SCR的电流-电压关系曲线。
这种测试需要使用直流电源和数字万用表等仪器。
首先将SCR 放入测试夹具中，并连接到直流电源上。
然后逐步增加阳极到阴极的电压，并记录相应的电流值。
最后将数据绘制成I-V曲线图。
2. 动态特性测量动态特性是指在变化的负载条件下，测量SCR的响应速度和稳定性。
这种测试需要使用脉冲发生器和示波器等仪器。
首先将SCR放入测试夹具中，并连接到脉冲发生器和示波器上。
然后在脉冲发生器中设置一个正脉冲信号，测量SCR的响应时间和保持电流。
最后将数据绘制成响应时间和保持电流的曲线图。
3. 热特性测量热特性是指在不同温度条件下，测量SCR的电流-电压关系曲线。
这种测试需要使用恒流源和数字万用表等仪器。
首先将SCR放入测试夹具中，并连接到恒流源和数字万用表上。
然后逐步增加阳极到阴极的电压，并记录相应的电流值。
最后将数据绘制成I-V曲线图。
4. 参数测量参数测量是指在实际应用中，测量SCR的关键参数，如触发电压、保持电流、耐压能力等。
这种测试需要使用特定的测试仪器和设备，例如触发电路测试仪、保持电流测试仪、耐压试验仪等。
三、可控硅测量方法注意事项1. 测试环境要求：可控硅测试需要在恒定的温度和湿度条件下进行，以确保测试结果准确可靠。
2. 测试前准备：在进行任何类型的可控硅测量之前，必须先检查测试设备和测试夹具是否正常工作，并确保测试仪器的精度和准确性。
3. 测试过程中的注意事项：在进行可控硅测量时，应特别注意防止静电干扰和过电流等问题。
单向可控硅检测方法
单向可控硅检测方法嘿，咱今儿个就来聊聊单向可控硅检测方法。
这单向可控硅啊，就像是电路里的一个小精灵，要是它出了啥问题，那可就麻烦啦！检测单向可控硅，首先咱得有个万用表吧。
把万用表打到电阻档，就可以开始和这个小精灵打交道啦。
先用表笔去测它的阳极和阴极，这时候电阻应该是无穷大。
你想想看，要是电阻不大，那岂不是乱套啦！就好像门没关好，啥都能随便进进出出一样。
然后呢，再用表笔去触碰控制极和阴极。
嘿，这时候你会发现电阻一下子变小了。
哇塞，这就像是打开了一道神奇的门，让电流可以顺畅地通过啦。
不过，这还没完呢！接下来咱还得检测它的触发能力。
把单向可控硅接入电路中，给阳极加上正向电压，再给控制极一个合适的触发信号。
要是这时候单向可控硅能正常导通，那就说明它的触发能力没问题呀。
你说这单向可控硅检测是不是挺有意思的？就跟咱平时检查东西一样，得仔细，得认真。
要是稍微马虎一点，说不定就放过了一个小毛病，那以后可就有大麻烦啦！咱再想想啊，要是没有这些检测方法，那电器出了问题都不知道咋回事，那不就抓瞎啦？所以说啊，学会这些检测方法，就像是有了一把万能钥匙，能打开电路故障的大门呢！检测单向可控硅，就像是医生给病人看病一样。
医生得通过各种检查来判断病人的病情，咱也得通过这些方法来判断单向可控硅是不是健康的呀。
你说是不是这个理儿？而且哦，这检测的时候可不能着急，得一步一步慢慢来。
就像走楼梯一样，得一阶一阶地走，不然可容易摔跟头呢！咱生活中好多电器都离不开单向可控硅呢，电视、电脑、空调……要是它出了问题，那这些电器可就没法好好工作啦。
所以啊，学会检测它，那可真是太重要啦！你可别小看这些检测方法，虽然看起来简单，但是作用可大着呢！就像一把小小的钥匙，能打开大大的锁一样。
好啦，关于单向可控硅检测方法就说到这儿啦。
希望大家都能掌握这些方法，让咱的电器都能好好工作，给咱的生活带来便利呀！。
单向晶闸管的检测方法
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单向晶闸管是一种半导体器件，也被称为可控硅，它可以用于控制电流的导通和截止。
以下是单向晶闸管的常见检测方法：
1. 外观检查：首先，检查单向晶闸管的外观是否有明显的损坏或烧焦的痕迹。
检查引脚是否有松动或脱落的情况。
2. 万用表测量：使用万用表可以对单向晶闸管进行基本的电气测量。
将万用表调至电阻档，测量晶闸管的阳极和阴极之间的电阻值。
正常情况下，正向电阻值较小，反向电阻值较大。
如果电阻值异常或无穷大，则可能表明晶闸管损坏。
3. 触发测试：为了进一步确认单向晶闸管的功能是否正常，可以进行触发测试。
将晶闸管的阳极连接到电源正极，阴极连接到电源负极，然后将触发极通过一个电阻连接到正极。
在正常情况下，当触发极上施加一个正向电压时，晶闸管应该导通，电流可以通过；当触发极上的电压消失时，晶闸管应该截止，电流停止通过。
可以使用示波器观察触发极和阳极之间的电压波形来确认触发信号是否正常。
4. 负载测试：最后，可以将单向晶闸管连接到一个适当的负载上，如电阻或灯泡，进行负载测试。
在正常情况下，当晶闸管导通时，负载应该正常工作；当晶闸管截止时，负载应该停止工作。
需要注意的是，在进行检测时，要确保遵循安全操作规程，并使用适当的测试仪器和工具。
如果对单向晶闸管的检测结果存在疑问或不确定，建议咨询专业的电子工程师或技术人员进行进一步的分析和诊断。
可控硅好坏简易判断方法
可控硅好坏简易判断方法可控硅是一种具有开关功能的半导体器件，广泛应用于电子电路中。
它的好坏直接影响到电路的性能和稳定性。
那么，如何判断可控硅的好坏呢？本文将介绍一些简易的判断方法。
我们可以通过外观来初步判断可控硅的好坏。
正常的可控硅外观应该无明显的损坏、变形或烧焦现象。
若外观存在明显的损坏，如裂缝、破损等，很可能已经失效，需要更换。
可以使用万用表来测试可控硅的导通性。
首先，将万用表的测试笔分别连接到可控硅的控制极和主极上，然后将测试笔的选择档位调到电阻档位。
如果万用表显示的电阻值为无穷大，即开路状态，那么可控硅很可能已经损坏。
而如果显示的电阻值接近于零，即短路状态，也说明可控硅存在问题。
可以通过观察可控硅的发热情况来初步判断其好坏。
正常工作的可控硅在通电过程中会有一定的发热现象，但不应过热。
如果可控硅在工作过程中过热，可能是由于负载过大、环境温度过高或可控硅本身存在问题等原因。
这时需要进行进一步检查和调试。
可以通过可控硅的正常工作状态来判断其好坏。
可控硅在正常工作时应能够准确地控制电路的导通与断开。
可以通过输入控制信号来观察可控硅的工作情况。
如果可控硅无法正常地开启或关闭，或者控制信号无法准确地控制可控硅的导通与断开，很可能是可控硅出现了问题。
可以使用专业的测试设备来进一步判断可控硅的好坏。
例如，使用特定的测试仪器可以对可控硅进行静态和动态特性测试，来检测其各项参数是否符合规格要求。
这种方法需要一定的专业知识和设备，适用于对可控硅的详细评估和性能分析。
通过外观检查、导通性测试、发热情况观察、工作状态检查以及专业测试等方法，我们可以初步判断可控硅的好坏。
当然，对于一些特殊场合和要求更高的应用，可能需要更加专业的检测手段和设备，以确保可控硅的性能和可靠性。
因此，在实际应用中，我们应根据具体情况选择合适的方法和工具来判断可控硅的好坏，以保证电路的正常运行和稳定性。
用万用表测量可控硅
怎样用万用表测量可控硅的各电极1.单向可控硅的检测万用表选用电阻R×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻直至找出读数为数十欧姆的一对引脚，此时黑笔接的引脚为控制极G，红笔接的引脚为阴极K，另一空脚为阳极A。
此时将黑表笔接已判断了的阳极A，红表笔仍接阴极K。
此时万用表指针应不动。
用短接线瞬间短接阳极A和控制极G，此时万用表指针应向右偏转，阻值读数为10欧姆左右。
如阳极A接黑表笔，阴极K接红表笔时，万用表指针发生偏转，说明该单向可控硅已击穿损坏。
2.双向可控硅的检测用万用表电阻R×1档，用红黑两表笔分别测任意两引脚正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。
若一组为数十欧姆时，该组红黑表笔所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。
确定A、G极后，再仔细测量A1、G极间正反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。
将黑表笔接已确定了的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约为10欧姆左右。
随后断开A2、G极短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。
互换红黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。
同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。
用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负向的触发电压，A1、A2间阻值也是10欧姆左右。
随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持10欧姆左右。
符合以上规律，说明被测双向可控硅管未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅管，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
怎样用万用表测量可控硅的好坏
怎样用万用表测量可控硅的好坏单向可控硅和双向可控硅两种，都是三个电极。
单向可控硅有阴极（K）、阳极（A）、控制极（G）。
双向可控硅等效于两只单项可控硅反向并联而成。
即其中一只单向硅阳极与另一只阴极相边连，其引出端称T2极，其中一只单向硅阴极与另一只阳极相连，其引出端称T2极，剩下则为控制极（G）。
1、可控硅测量方法_单、双向可控硅的判别：先任测两个极，若正、反测指针均不动（R×1挡），可能是A、K或G、A 极（对单向可控硅）也可能是T2、T1或T2、G极（对双向可控硅）。
若其中有一次测量指示为几十至几百欧，则必为单向可控硅。
且红笔所接为K极，黑笔接的为G极，剩下即为A极。
若正、反向测批示均为几十至几百欧，则必为双向可控硅。
再将旋钮拨至R×1或R×10挡复测，其中必有一次阻值稍大，则稍大的一次红笔接的为G极，黑笔所接为T1极，余下是T2极。
2、可控硅测量方法_性能的差别：将旋钮拨至R×1挡，对于1~6A单向可控硅，红笔接K极，黑笔同时接通G、A极，在保持黑笔不脱离A极状态下断开G极，指针应指示几十欧至一百欧，此时可控硅已被触发，且触发电压低（或触发电流小）。
瞬时断开A极再接通，指针应退回∞位置，则表明可控硅良好。
对于1~6A双向可控硅，红笔接T1极，黑笔同时接G、T2极，在保证黑笔不脱离T2极的前提下断开G极，指针应指示为几十至一百多欧（视可控硅电流大小、厂家不同而异）。
然后将两笔对调，重复上述步骤测一次，指针指示还要比上一次稍大十几至几十欧，则表明可控硅良好，且触发电压（或电流）小。
若保持接通A极或T2极时断开G极，指针立即退回∞位置，则说明可控硅触发电流太大或损坏。
可按图2方法进一步测量，对于单向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K灯仍不熄灭，否则说明可控硅损坏。
对于双向可控硅，闭合开关K，灯应发亮，断开K，灯应不熄灭。
然后将电池反接，重复上述步骤，均应是同一结果，才说明是好的。
如何测量可控硅的好坏
其他回答
一、若为单向可控硅：1、用万用表的两只表笔分别连接可控硅的任意两脚，当交换前后均无指示的情况下，稍微扭动与第三只管脚相邻的表笔，使其与第三脚有轻微的接触后迅速断离，若此时连接的两脚间有指示，断定此可控硅可用；若仍保持断路状态，可断定此可控硅报废。2、若不论连接任何两脚，都处于导通状态也可断定报废。二、若为双向可控硅：1、进行一、1、步骤后，交换一下表笔，重复触碰第三只管脚，按一、1、作出判断。2、同一、2、。3、双·1···向可控硅一般双向同时损坏，偶有单向损坏者，但已不能用在双向开关电路中了。
2. 双向可控硅的检测。
用万用表电阻R*1Ω挡，用红、黑两表笔分别测任意两引脚间正反向电阻，结果其中两组读数为无穷大。若一组为数十欧姆时，该组红、黑表所接的两引脚为第一阳极A1和控制极G，另一空脚即为第二阳极A2。确定A1、G极后，再仔细测量A1、G极间正、反向电阻，读数相对较小的那次测量的黑表笔所接的引脚为第一阳极A1，红表笔所接引脚为控制极G。将黑表笔接已确定的第二阳极A2，红表笔接第一阳极A1，此时万用表指针不应发生偏转，阻值为无穷大。再用短接线将A2、G极瞬间短接，给G极加上正向触发电压，A2、A1间阻值约10欧姆左右。随后断开A2、G间短接线，万用表读数应保持10欧姆左右。互换红、黑表笔接线，红表笔接第二阳极A2，黑表笔接第一阳极A1。同样万用表指针应不发生偏转，阻值为无穷大。用短接线将A2、G极间再次瞬间短接，给G极加上负的触发电压，A1、A2间的阻值也是10欧姆左右。随后断开A2、G极间短接线，万用表读数应不变，保持在10欧姆左右。符合以上规律，说明被测双向可控硅未损坏且三个引脚极性判断正确。
检测较大功率可控硅时，需要在万用表黑笔中串接一节1.5V干电池，以提高触发电压。
如何用万用表测试单向可控硅
如何用万用表测试单向可控硅万用表是电工常用的仪器之一，它可以用来测试各种电路元件的电压、电流、电阻等参数。
其中，测试单向可控硅（也被称为二极管可控硅）的方法是非常重要的，因为单向可控硅是一种重要的电子器件，广泛应用于电力、电子、通信等领域。
本文将介绍如何使用万用表来测试单向可控硅。
首先，我们需要了解单向可控硅的基本结构和工作原理。
单向可控硅由一个p-n结和一个门极组成。
当输入电压超过一定阈值时，单向可控硅会处于导通状态；当输入电压低于阈值时，单向可控硅处于截止状态。
因此，我们可以使用万用表的二极管测试功能来测试单向可控硅。
下面是使用万用表测试单向可控硅的步骤：步骤一：准备工作1. 关闭待测电路的电源，确保安全。
2. 从电路中拆下单向可控硅。
步骤二：选择测试模式1. 打开万用表，选择二极管测试模式。
2. 选择适当的测量范围。
根据单向可控硅的额定电流和电压来确定。
步骤三：测试单向可控硅1. 将万用表的测试引线连接到单向可控硅的两个引脚上。
2. 将红色正引线连接到单向可控硅的阳极（标有"+"）引脚上。
3. 将黑色负引线连接到单向可控硅的阴极（标有"-"）引脚上。
步骤四：读取测试结果1. 根据万用表的显示，可以得到单向可控硅的导通电压和漏电流。
2. 如果测试结果显示导通电压在正常范围内，且漏电流非常小或为零，则单向可控硅正常。
3. 如果测试结果显示导通电压异常或漏电流较大，说明单向可控硅可能损坏或不正常。
需要注意的是，测试单向可控硅时，应该注意以下事项以确保测试的准确性和安全性：1. 确保测试时电路处于断开状态，避免对万用表和单向可控硅造成损坏。
2. 根据单向可控硅的额定电流和电压选择正确的测试范围，避免过载损坏万用表。
3. 在测试过程中，应避免直接接触单向可控硅的金属部分，以防触电。
总结：本文介绍了如何使用万用表测试单向可控硅的方法及各项注意事项。
通过正确的操作和测试，可以准确地检测单向可控硅的导通电压和漏电流，判断其是否正常工作。
数字万用表测二极管、三极管、可控硅、光耦
数字万用表测二极管、三极管、可控硅、光耦数字万用表测二极管、三极管、可控硅、光耦数字万用表的使用已很普及了，但在常见的电工技术方面的书中，半导体的测量方法多是使用指针万用表，很少介绍使用数字万用表的。
数字万用表和指针万用表测量半导体的方法是不同的。
一、二极管数字万用表二极管档开路电压约为2.8V，红表笔接正，黑表笔接负，测量时提供电流约为1mA，显示值为二极管正向压降近似值，单位是mV或V。
硅二极管正向导通压降约为0.3~0.8V。
锗二极管锗正向导通压降约为0.1~0.3V。
并且功率大一些的二极管正向压降要小一些。
如果测量值小于0.1V，说明二极管击穿，此时正反向都导通。
如果正反向均开路说明二极管PN节开路。
对于发光二极管，正向测量时二极管发光，管压降约1.7V左右。
二、三极管三极管有两个PN节，发射节（be）和集电节（bc），按测量二极管的方法测量即可。
在实际测量时，每两个管脚间都要测正反向压降，共要测6次，其中有4次显示开路，只有两次显示压降值，否则三极管是坏的或是特殊三极管（如带阻三极管、达林顿三极管等，可通过型号与普通三极管区分开来）。
在两次有数值的测量中，如果黑表笔或红表笔接同一极，则该极是基极，测量值较小的是集电节，较大的是发射节，因为已判断出基极，对应可以判断出集电极和发射极。
同时可以判断：如果黑表笔接同一极，则三极管是PNP型，如果红表笔接同一极，则三极管是NPN型；压降为0.6V左右的是硅管，压降为0.2V左右的是锗管。
三、可控硅：可控硅阳极与阴极及控制极是开路的，据此可以确定阳极管脚和判断可控硅是否击穿。
可控硅控制极和阴极间也是PN节，但是大功率可控硅控制极和阴极间有一个保护电阻，测量时显示值为电阻上的压降。
四、光耦光耦的一侧是发光二极管，测量时压降约1V左右，另外一侧是三极管，有的只引出c、e，测量正反向均截止，如果三个脚都引出，测量特性同上面三极管（多为NPN管）。
当用一个万用表使二极管正向导通，此时用另外一块万用表测三极管c对e导通压降约为0.15V；断开接二极管的万用表，三极管c对e截止，说明该光耦是好的。
可控硅的检测方法
可控硅的检测方法
可控硅（或称为双向可控硅、双向晶闸管）是一种电子元件，用于控制交流电流的流动。
为了确保可控硅的正常工作和可靠性，常需要进行以下几种常用的检测方法：
1. 静态电压检测：使用数字万用表或示波器测量可控硅上的正向和反向电压，以确保其在正常工作范围内。
正向电压通常应小于可控硅的额定电压。
2. 静态电流检测：使用数字电流表或示波器检测可控硅的正向和反向电流，以确保其在正常工作范围内。
正向电流应小于可控硅的额定电流。
3. 触发电流检测：通过施加一个正向触发电流来测试可控硅是否能正常触发。
触发电流应小于可控硅的额定触发电流。
4. 动态特性检测：使用示波器观察可控硅在不同触发角和负载条件下的电压和电流波形，以确定其动态响应和工作状态。
5. 温度测试：通过红外测温仪或接触式温度计测量可控硅的温度，以确保其不会过热并影响性能。
这些检测方法可以帮助判断可控硅的工作状态和健康程度，以便于及时进行维修或更换。
然而，在进行任何检测之前，应确保在实验室、车间或其他适当的环境
条件下进行，以避免可能的危险或损坏。
用万用表检测双向可控硅
用万用表检测双向可控硅双向可控硅是一种使用较广泛的硅晶体闸流管。
利用双向可控硅可以实现交流无触点控制，具有无火花、动作快、寿命长、可靠性高等优点，较多的使用在电机调速、调光、调温、调压及各种电器过载自动保护电路中。
双向可控硅由五层半导体材料、三个电极构成，三个电极分别为第一阳极（又称主电极）T1、第二阳极（又称主端子）T2和门极G，其特点是触发后可双向导通。
目前双向可控硅的型号、规格繁多，其外型及引脚排列随生产厂家的不同而不同，一般情况下不易直接判断出其管脚及好坏，我们可用万用表对双向可控硅进行简单检测。
一、电极的确定首先，把万用表置于R×10Ω档，测双向可控硅能相互导通的两个电极，这两个电极对第三个电极都不导通，则第三个电极为第一阳极T1。
其次，把万用表置于R×1Ω档，测余下两个电极的正反向电阻，取其中电阻小的一次，黑表笔所接的是第二阳极T2，红表笔所接的是门极G。
二、触发性能的检测双向可控硅有四种触发方式，即T1+G+、T1+G-、T1-G+、T1-G-，其中T1-G+触发方式灵敏度较低，所需门极触发功率较大，实际使用时只选其余三种组合。
而T1+G+、T1-G-触发形式的可靠性较高，较常使用，检测触发性能时可只检测这两种形式。
用万用表检测双向可控硅的触发性能，可按下列步骤进行：把万用表置于R×1Ω档，先检查T1+G+形式的触发能力。
用万用表黑表棒与T1极接触，红表棒与T2极接触，万用表指针应停在无穷大处。
保持黑表棒与T1极接触、红表棒与T2极接触，用万用表黑表棒同时接触门极，则指针应有较大幅度的偏转；再松开黑表棒与门极的接触，指针读数不变，说明T1+G+触发性能良好。
然后检查T1-G-形式的触发能力：黑表棒与T2极接触，红表棒与T1极接触，万用表指针应停在无穷大处。
保持黑表棒与T2极接触、红表棒与T1极接触，用红表棒接触门极，指针应有较大幅度的偏转，再松开红表棒与门极的接触，指针读数不变，说明T1-G-触发性能良好。
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用万用表测试可控硅
小功率可控硅，由于所需的触发电流较小，故可以只用万用表来测试。
一、单向可控硅的测试
１．极性的判别
用万用表的Ｒ×１００欧姆档，分别测量各管脚间的正反向电阻。
如果测得其中两管脚的电阻较大（约为８０ＫΩ），而对换表笔再测这两个管脚的电阻值又较小（约为２ＫΩ），这时，黑表笔所接的一极为控制极Ｇ，红表笔所接的一极为阴极Ｋ，余者为阳极Ａ。
２．质量的判别
用万用表的Ｒ×１０欧姆档，黑表笔接Ａ极，红表笔接Ｋ极。
用黑表笔在保持和Ａ极相接的情况下和Ｇ极接触，这样就给Ｇ极加上一触发电压。
这时由万用表可以看到，可控硅的阻值明显变小，说明可控硅可能由于触发而处于通态。
仍保持黑表笔和Ａ极相接，断开和Ｇ极的接触，如果可控硅仍处于通态，则说明可控硅是好的，否则，一般是可控硅损坏。
二、可控硅的测试
由于双向可控硅相当于两个单向可控硅的反极性并联而成，又Ｇ极靠近Ｔ１极，由于工艺方面的原因，Ｇ极和Ｔ１极间的正向电阻都很小，一般为１００Ω左右。
另外，双向可控硅具有四种触发状态，只要满足任何一种触发状态，双向可控硅便可触发导通。
极性的判别：
用万用表的Ｒ×１Ｋ或Ｒ×１００欧姆档，分别测量各管脚间的正反向电阻，如果测得其中两管脚的电阻很小（约为１００Ω左右），即为Ｔ１极和Ｇ极，余者为Ｔ２极。
Ｔ１极和Ｇ极的区分：
任选其中一极为Ｔ１，将万用表调至Ｒ×１欧姆档，不用分表笔的正负，分别将两表笔接至Ｔ２极和Ｔ１极（假设）。
用和Ｔ２相接的表笔在保持和Ｔ２相接的情况下，和Ｇ（假设）相接。
这时会看到可控硅阻值明显变小，说明双向可控硅可能因触发而导通，再大保持该表笔和Ｔ２相接的情况下和Ｇ极（假设）断开，如果双向可控硅仍处于通态，则对换两表笔，重复上述步骤，如果仍能使可控硅处于通态，则假设是正确的。
否则假设是错误的。
这样就应该对换假设的两极再重复上述的步骤。