无机材料测试技术思考与练习题答案
无机材料测试技术试题
无机材料测试技术试题1-5解答一、名词解释1.光电子及光电效应:光电子及光电效应:X X 射线与物质作用,具有足够的能量的X 射线光子也能激发掉原子K 层的电子,外层电子跃迁填补,多余的能量辐射出来,被X 射线激发出来的电子称为光电子。
所辐射X 射线称为荧光X 射线,这个过程称为光电效应。
2.特征X 射线:特征X 射线:特征X 射线和可见光中的单色光相似,所以也称为单色X 射线。
3.连续X 射线:连续X 射线谱具有连续波长,它和可见光的白光相似,故也称为白色X 射线。
4.电子透镜:透射电子显微镜是以波长极短的电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高分辨率,高放大倍数的电子学仪器5.热重分析:热重分析就是在程序控制温度下,测量物质的质量与温度关系的一种技术。
6.衍射角:2d (hkl)sinθ=nλ在X 衍射仪中,我们以2θ为衍射角,就是因为2θ为X 射线射线发生衍射后改变发生衍射后改变方向的角度7.差热分析:差热分析差热分析:差热分析( DTA)( DTA)( DTA)是是在程序控制下,测量物质和参比物之间的温度差与温度关系的一种技术。
8.X 射线的强度:指垂直于X 射线传播方向的单位面积上的单位时间内通过的光子数目的能量总和。
9.静电透镜:能使电子波折射聚焦的具有旋转对称等电位曲面簇的电极装置叫做静电透镜。
10.背散射电子:入射电子被样品原子散射回来的部分;它包括弹性散射和非弹性散射部分;背散射电子的作用深度大,产额大小取决于样品原子种类和样品形状11.二次电子:在入射电子束电子束作用下被作用下被轰击出来并离开样品表面的核外电子叫做二次电子。
12.磁透镜:能使电子波聚焦的具有旋转对称非均匀的磁极装置13.热分析:热分析是在程序控制温度下,测量物质的物理性质随温度变化的一类技术。
14.粉晶照相法(德拜法):采用粉末状多晶体样品并使用德拜照相机记录衍射花样的方法,即为粉品德拜照相法,也可称为粉末多晶照相法15.相干散射:相干散射:X X 射线被物质散射时,如果散射波的波长和频率与入射波相同,这些新的散射波之间可以发生干涉作用,故把这种散射称为相干散射。
材料测试技术课后题答案
大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比,在哪两方面有其优越性?答:①提高X射线强度:②缩短了试验时间2、何为特征X射线谱?特征X射线的波长与(管电压)、(管电流)无关,只与(阳极材料)有关。
答:由若干条特定波长的谱线构成。
当管电压超过一定的数值(激发电压V激)时产生。
不同元素的阳极材料发出不同波长的X射线。
因此叫特征X射线。
什么是Ka射线?在X射线衍射仪中使用的是什么类型的X射线?答:L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线,称之为Ka射线。
Ka射线的强度大约是K 6射线强度的5倍,因此,在实验中均采用Ka射线。
Ka谱线又可分为Kal和Ka 2, K a 1的强度是K a 2强度的2倍,且Kal和Ka 2射•线的波长非常接近,仅相差0.004A左右,通常无法分辨,因此,一般用Ka来表示。
但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。
AI是面心立方点阵,点阵常数a=4.049A,试求(111)和(200)晶面的面间距。
计算公式为:dhkl=a (h2+k2+l2)-l/2答:dlll=4.049/(12+12+12)-l/2=2.338A:d200=4.049/(22)-l/2=2.0245A说说不相干散射对于衍射分析是否有利?为什么?答:有利。
不相干散射线由于波长各不相同,因此不会互相干涉形成衍射,所以它们散布于各个方向,强度一般很低,它们在衍射工作中只形成连续的背景。
不相干散射的强度随sin 0/'的增大而增强,而且原子序数越小的物质,其不相干散射愈大,造成对衍射分析工作的不利影响。
6、在X射线衍射分析中,为何要选用滤波片滤掉KB射线?说说滤波片材料的选取原则。
实验中,分别用Cu靶和M。
靶,若请你选滤波片,分别选什么材料?答:(1)许多X射线工作都要求应用单色X射线,由于Ka谱线的强度高,因此当要用单色X 射线时,一般总是选用Ka谱线。
但从X射线管发出的X射线中,当有Ka线时,必定伴有KB 谱线及连续光谱,这对衍射工作是不利的,必须设法除去或减弱之,通常使用滤波片来达到这一目的。
智慧树知到《无机材料科学基础(上)》章节测试答案
智慧树知到《无机材料科学基础(上)》章节测试答案绪论1、人类历史上第一种人工合成品()。
水泥玻璃陶器合金答案: 陶器2、人类使用材料的历史经历了哪些时代()?石器时代青铜器时代铁器时代水泥时代E:钢铁时代F:硅时代G:新材料时代答案: 石器时代,青铜器时代,铁器时代,水泥时代,钢铁时代,硅时代,新材料时代3、材料的四个基本要素()。
组织结构材料性能合成与制备使用效能答案: 组织结构,材料性能,合成与制备,使用效能4、新型材料是()的一类新兴产业。
知识密集劳动力密集技术密集资金密集答案: 知识密集,技术密集,资金密集5、组成材料科学与工程的四要素的核心是()。
组织结构材料性能合成与制备使用效能答案: 组织结构6、组成材料科学与工程的四要素中()是研究工作的落脚点。
组织结构材料性能合成与制备使用效能答案: 材料性能7、无机材料科学基础是一门()课程。
专业方向专业基础课公共通识答案: 专业基础课8、按照材料的组成,可将材料分为()。
有机高分子材料金属材料无机非金属材料复合材料答案: 有机高分子材料,金属材料,无机非金属材料,复合材料9、按照材料来源可将材料分为()。
功能材料结构材料天然材料人工材料答案: 天然材料,人工材料10、材料是人类社会、用来制造构件、器件的物质()。
可接受的、可容易的、有用的可接受的、可经济的、有用的可接受的、可经济的、功能的常见的、可经济的、有用的答案: 可接受的、可经济的、有用的第一章1、离子键通过()成键?静电偶极吸引力共用电子对电子共有化价电子转移答案: 价电子转移2、共价键的特点()?方向性饱和性键合强键合弱答案: 方向性,饱和性,键合强3、氢键无方向性。
对错答案: 错4、描述电子状态需要那些参数()。
主量子数角量子数磁量子数自旋量子数答案: 主量子数,角量子数,磁量子数,自旋量子数5、下列是共价键晶体的有。
金刚石石墨NaCl晶体铜答案: 金刚石6、n=2的L电子层最多可容纳多少个电子()。
无机材料测试技术习题库
无机材料测试技术习题库第一章X射线物理学基础一、名词解释1、特征X射线2、连续X射线3、吸收限(λk)4、光电效应5、俄歇电子6、质量吸收系数7、相干散射8、非相干散射9、荧光X射线10、X射线强度11、AES二、填空1、产生X射线的基本条件、、。
2、X射线的强度是指内通过垂直于X射线方向的单位面积上的。
3、探测X射线的工具是:。
4、影响X射线强度的因素是:。
5、检测X射线的方法主要有:。
6、X射线谱是的关系。
7、吸收限的应用主要是、、。
8、当X射线的或吸收体的愈大时X射线愈容易被吸收。
9、一束X射线通过物质时,它的能量可分为三部分:、和。
10、X射线与物质相互作,产生两种散射现象,即和。
11、物质对X射线的吸收主要是由引起的。
三、判断1、入射X射线光子与外层电子或自由电子碰撞时产生相干散射。
2、由X射线产生X射线的过程叫做光电效应。
3、X射线与物质作用,有足够能量的X射线光子激发原子K层的电子,外层电子跃迁填补,多余的能量使L2、L3、M、N等层的电子逸出,这个过程叫做光电效应。
4、由X射线产生X射线的过程叫俄歇效应。
5、连续谱中,随V增大,短波极限值增大。
6、当X射线的波长愈短,或者穿过原子序数愈小的物质时,其吸收就愈大。
7、具有短波极限值的X射线强度最大。
8、具有短波极限值的X射线能量最大。
9、X射线成分分析的理论基础是同种原子发出相同波长的连续X射线。
10、当高速电子的能量全部转换为X射线光子的能量时产生λ0,此时强度最大,能量最高。
11、当高速电子的能量全部转换为X射线光子的能量时产生λ0,此时强度最大。
四、简答及计算:1、什么是莫赛莱定律,莫赛莱定律的物理意义是什么?2、简述特征X射线产生的机理。
3、简述衍射定性物相鉴定的程序。
4、X射线定量分析的基础是什么?5、X射线物相分析有哪些特点?6、试计算空气对CrKα辐射的质量吸收系数和线吸收系数。
假定空气中含有80%(重量)的氮和20%(重量)的氧,空气密度ρ=0.0013g/cm3。
材料分析报告测试技术习题及问题详解
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L 层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和 X 射线。
2. X 射线与物质相互作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。
3. 经过厚度为H 的物质后,X 射线的强度为 。
4. X 射线的本质既是 也是 ,具有 性。
5. 短波长的X 射线称 ,常用于 ;长波长的X 射线称 ,常用于 。
习题1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射;(2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射;(3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
无机材料分析测试技术(国防工业出版社,黄新民) 课后题整理
第一章 X 射线物理学基础1、X 射线的强度X 射线的强度是指垂直X 射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。
常用的单位是J/cm 2.s 。
X 射线的强度I 是由光子能量hv 和它的数目n 两个因素决定的,即I=nhv 。
在连续谱中,强度最大值不在短波限处,而是位于1.5λ0附近。
连续谱中,每条曲线下的面积表示各种波长X 射线的强度总和,也就是阳极靶发射出的X 射线的总能量。
I 连与管电压、管电流、阳极靶的原子序数存在如下关系:Z 为阳极靶的原子序数,U 为管电压(千伏), i 为管电流(毫安), K=(1.1~1.5)×10-9。
2、特征X 射线特征X 射线谱由一定波长的若干X 射线叠加在连续X 射线谱上构成,它和单色的可见光相似,具有一定的波长,故称单色X 射线。
每种元素只能发出一定波长的单色X 射线,它是元素的标志,故也称为标识X 射线。
3、光电效应当入射光量子的能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能(即该层电子激发态能量)时,此光量子就很容易被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,称光电子,原子则处于相应的激发态,这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。
光电效应使被照物质处于激发态,这一激发态和由入射电子所引起的激发态完全相同,也要通过电子跃迁向较低能态转化,同时辐射被照物质的特征X 射线谱。
由入射X 射线所激发出来的特征X 射线称荧光X 射线(二次特征X 射线)。
利用荧光X 射线进行成分分析-X 射线荧光光谱分析(Z>20)使K 层电子变成自由电子需要的能量是ωK ,亦即可引起激发态的入射光量子能量必须达到此值。
()2连0=KiZU d I I =⎰∞λλλK K K K eU hch ===ωλν从X 射线激发光电效应的角度,称λK 为激发限;从X 射线被物质吸收的角度,称λK 为吸收限。
产生光电效应条件:X 射线波长必须小于吸收限λK 。
无机非金属材料专业《无机材料测试技术》试卷及答案
学年第二学期《无机材料测试技术》考试试卷A一、填空题(共25分,每空1分)1、第一个发现X射线的科学家是伦琴教授,第一个进行X射线衍射实验的科学家是爱迪生。
2、莫塞来定律反映了材料产生的线谱频率与其原子序数的关系。
3、同一元素的入Kα1、入Kα2、入Kβ的相对大小依次为___β<α1<α2________;能量从小到大的顺序是__反过来________。
(注:用不等式标出)。
4、X射线分析技术的方法有:粉末法,;劳厄法、转晶法、四园衍射法、等倾魏森堡。
5、扫描电子显微镜的电子成像主要有二次电子像和背散射电子像。
6、。
7、XRD、TEM、SEM、DTA、透射电镜、扫描电镜、差热分析法。
8和电磁透镜。
9、电子探针X射线显微分析中常用X射线谱仪有波长色散谱和能量色散谱。
波普分析元素范围为4Be~92U,分辨率为5eV能谱分析范围为11Na~92U,分辨率为145~155eV..10、测角仪在采集衍射图时,如果试样表面转到与入射线成30°角,则计数管与入射线所成角度为120°;能产生衍射的晶面,与试样的自由表面呈关系。
二、名词解释(共15分,每小题3分)1、K系辐射:如果原子最内层的K层一个电子被激发掉,而由邻近的L层的电子跃入填补,则辐射Kα;由M层电子跃入填补K层则辐射Kβ;由Kα,β,γ......共同形成的为K系辐射2、洛伦兹因数:表示掠射角对衍射强度的影响。
等于1/Sin²θCosθ.3、热重分析:TG,是指在程序控制温度下测量待测样品的质量与温度变化关系的一种热分析技术,用来研究材料的热稳定性和组份。
4、景深和焦深:把透镜物平面允许的轴向偏差定义为透镜的景深。
把透镜像平面允许的轴向偏差定义为透镜的焦深。
5、激发电压:在特征X射线中,当X射线管电压加大到某一临界值V时,高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K层电子激发出来,这个电压叫做激发电压。
三、问答题与计算题(共40分,每题8分)1、如何选用滤波片材料和X射线管?实验中选择X射线管的原则是为避免或减少产生荧光辐射。
材料分析测试技术思考题及答案
第一章 X射线的性质1、X射线的本质――电磁波、高能粒子、物质2、X射线谱――管电压、电流对谱的影响、短波限的意义等连续谱短波限只与管电压有关,当固定管电压,增加管电流或改变靶时短波限不变。
随管电压增高,连续谱各波长的强度都相应增高,各曲线对应的最大值和短波限都向短波方向移动。
特征x射线:改变管电压、管电流,这些谱线只改变强度而峰的位置对应的波长不变,即波长只与靶材的原子序数有关,与电压无关。
3、高能电子与物质相互作用可产生哪两种X射线?产生的机理?连续X射线:当高速运动的电子(带电粒子)与原子核内电场作用而减速时会产生电磁辐射,这种辐射所产生的X射线波长是连续的,故称之为~特征(标识)X射线:由原子内层电子跃迁所产生的X射线叫做特征X射线。
4、两类散射的性质相干散射:与原子相互作用后光子的能量(波长)不变,而只是改变了方向。
非相干散射:与原子相互作用后光子的能量一部分传递给了原子,这样入射光的能量改变了,方向亦改变了,它们不会相互干涉。
称之为非相干散射。
5、吸收与吸收系数及基本计算6、二次特征辐射(X射线荧光)、饿歇效应产生的机理与条件二次特征辐射(X射线荧光):由X射线所激发出的二次特征X射线叫X射线荧光。
俄歇电子:俄歇电子的产生过程是当原子内层的一个电子被电离后,处于激发态的电子将产生跃迁,多余的能量以无辐射的形式传给另一层的电子,并将它激发出来。
这种效应称为俄歇效应。
7、选靶的意义与作用:不产生样品的k系荧光,试样对入射x射线的吸收也最小。
第二章 X射线的方向1、晶体的定义、空间点阵的构建、七大晶系尤其是立方晶系的点阵几种类型原子或原子团在三维空间周期排列所构成的固体为晶体将相邻结点按一定的规则用线连接起来便构成了与晶体中原子的排布完全相同的骨架这叫做空间点阵七大晶系:立方、正方、斜方、菱方、六方、单斜、三斜。
立方晶系点阵类型:简单、面心、体心立方2、晶向指数、晶面指数(密勒指数)定义、表示方法,在空间点阵中的互对应晶向指数:从该晶列通过轴失坐标原点的直线上任取一格点,把格点指数化为互质整数称为晶向指数,表示为[h,k,l].晶面指数:是晶体的常数之一,是晶面在3个结晶轴上的截距系数的倒数比,当化为最简单的整数比后,所得出的3个整数称之为该晶面的密勒指数,表示为(h,k,l)。
(精品word)无机材料分析测试技术(国防工业出版社,黄新民)课后题整理
第一章 X 射线物理学基础1、X 射线的强度X 射线的强度是指垂直X 射线传播方向的单位面积上在单位时间内所通过的光子数目的能量总和。
常用的单位是J/cm 2。
s 。
X 射线的强度I 是由光子能量hv 和它的数目n 两个因素决定的,即I=nhv 。
在连续谱中,强度最大值不在短波限处,而是位于1。
5λ0附近。
连续谱中,每条曲线下的面积表示各种波长X 射线的强度总和,也就是阳极靶发射出的X 射线的总能量。
I 连与管电压、管电流、阳极靶的原子序数存在如下关系:Z 为阳极靶的原子序数,U 为管电压(千伏), i 为管电流(毫安), K=(1.1~1。
5)×10—9。
2、特征X 射线特征X 射线谱由一定波长的若干X 射线叠加在连续X 射线谱上构成,它和单色的可见光相似,具有一定的波长,故称单色X 射线。
每种元素只能发出一定波长的单色X 射线,它是元素的标志,故也称为标识X 射线。
3、光电效应当入射光量子的能量等于或略大于吸收体原子某壳层电子的结合能(即该层电子激发态能量)时,此光量子就很容易被电子吸收,获得能量的电子从内层溢出,成为自由电子,称光电子,原子则处于相应的激发态,这种原子被入射辐射电离的现象即光电效应。
光电效应使被照物质处于激发态,这一激发态和由入射电子所引起的激发态完全相同,也要通过电子跃迁向较低能态转化,同时辐射被照物质的特征X 射线谱。
由入射X 射线所激发出来的特征X 射线称荧光X 射线(二次特征X 射线)。
利用荧光X 射线进行成分分析-X 射线荧光光谱分析(Z 〉20)使K 层电子变成自由电子需要的能量是ωK,亦即可引起激发态的入射光量子能量必须达到此值。
从X 射线激发光电效应的角度,称λK从X 射线被物质吸收的角度,称λK 为吸收限。
产生光电效应条件:X 射线波长必须小于吸收限λK 。
()2连0=KiZU d I I =⎰∞λλλKK KK eU hch ===ωλν4、俄歇效应原子中一个K 层电子被入射光量子击出后,L 层一个电子跃入K 层填补空位,此时多余的能量不以辐射X 光量子的方式放出,而是另一个L 层电子获得能量跃出吸收体,这样一个K 层空位被两个L 层空位代替的过程称俄歇效应,跃出的L 层电子称俄歇电子。
材料分析测试技术习题及答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X射线管电压超过临界电压就可以产生X射线和X射线。
2. X射线与物质相互作用可以产生、、、、、、、。
3. 经过厚度为H的物质后,X射线的强度为。
4. X射线的本质既是也是,具有性。
5. 短波长的X射线称,常用于;长波长的X射线称,常用于。
习题1.X射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2.分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。
3.什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4.X射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5.产生X射线需具备什么条件?6.Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7.计算当管电压为50 kv时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
无机材料测试方法习题解答
《材料测试方法》习题及习题解答盐城工学院材料工程学院第一部分X-射线衍射物相分析1-1 计算0.071nm(MoKα)和0.154nm(CuKα)的X-射线的振动频率和能量。
ν=c/λ=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1E=hν=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 Jν=c/λ=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1E=hν=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J1-2 计算当管电压为50kV时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能.c=3*108m/s, E=eV=1.602*10-19*50*103=8.01*10-15 Jλ=1.24/50=0.0248 nm E=8.01*10-15 J(全部转化为光子的能量)1-3 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;不可能用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;可能用CuKβX射线激发CuLα荧光辐射;不可能1-4 计算空气对CuKα的质量吸收系数和线吸收系数(假定空气中只有质量数为80%的氮、质量分数20%的氧,空气的密度为1.29*10-3g/cm3)。
N2对CuKα的质量吸收系数=8.51O2对CuKα的质量吸收系数=12.7空气的对CuKα的质量吸收系数=0.8*8.51+12.7*0.2=9.34 cm2/g空气的对CuKα的线吸收系数μ1=9.34*1.29*10-3 g/cm3=1.204*10-2g.cm-11-5 为使CuKα线的强度衰减50%,需要多厚的Ni滤波片?(Ni的密度为8.9 g/cm3 )由I=I0exp(-μ1x)μ1=49.3,ρ=8.90g/cm30.5=exp(-49.3*8.90x)=exp(-438.77x)x=0.00158cm1-6 试计算Cu的K系激发电压。
《材料分析测试技术》试卷(答案) (1)
《材料分析测试技术》试卷(答案)一、填空题:(20分,每空一分)1. X射线管主要由阳极、阴极、和窗口构成。
2. X射线透过物质时产生的物理效应有:散射、光电效应、透射X射线、和热。
3. 德拜照相法中的底片安装方法有:正装、反装和偏装三种。
4. X射线物相分析方法分:定性分析和定量分析两种;测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于其中的定量分析方法。
5. 透射电子显微镜的分辨率主要受衍射效应和像差两因素影响。
6. 今天复型技术主要应用于萃取复型来揭取第二相微小颗粒进行分析。
7. 电子探针包括波谱仪和能谱仪成分分析仪器。
8. 扫描电子显微镜常用的信号是二次电子和背散射电子。
二、选择题:(8分,每题一分)1. X射线衍射方法中最常用的方法是( b )。
a.劳厄法;b.粉末多晶法;c.周转晶体法。
2. 已知X光管是铜靶,应选择的滤波片材料是(b)。
a.Co ;b. Ni ;c. Fe。
3. X射线物相定性分析方法中有三种索引,如果已知物质名时可以采用(c )。
a.哈氏无机数值索引;b. 芬克无机数值索引;c. 戴维无机字母索引。
4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是(b)。
a.第二聚光镜光阑;b. 物镜光阑;c. 选区光阑。
5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是( b )。
a.球差;b. 像散;c. 色差。
6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是(a)。
a.高阶劳厄斑点;b. 超结构斑点;c. 二次衍射斑点。
7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析1nm厚表层成分的信号是(b)。
a.背散射电子;b.俄歇电子;c. 特征X射线。
8. 中心暗场像的成像操作方法是(c)。
a.以物镜光栏套住透射斑;b.以物镜光栏套住衍射斑;c.将衍射斑移至中心并以物镜光栏套住透射斑。
三、问答题:(24分,每题8分)1.X射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么?答:X射线衍射仪法中样品是块状粉末样品,首先要求粉末粒度要大小适中,在1um-5um之间;其次粉末不能有应力和织构;最后是样品有一个最佳厚度(t =2.分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些?它有哪些功能?在材料科学中有什么应用?答:透射电子显微镜的主要组成部分是:照明系统,成像系统和观察记录系统。
材料分析测试技术_部分课后答案
材料分析测试技术_部分课后答案衍射仪9-1、电⼦波有何特征?与可见光有何异同?答:·电⼦波特征:电⼦波属于物质波。
电⼦波的波长取决于电⼦运动的速度和质量,=h mvλ若电⼦速度较低,则它的质量和静⽌质量相似;若电⼦速度具有极⾼,则必须经过相对论校正。
·电⼦波和光波异同:不同:不能通过玻璃透镜会聚成像。
但是轴对称的⾮均匀电场和磁场则可以让电⼦束折射,从⽽产⽣电⼦束的会聚与发散,达到成像的⽬的。
电⼦波的波长较短,其波长取决于电⼦运动的速度和质量,电⼦波的波长要⽐可见光⼩5个数量级。
另外,可见光为电磁波。
相同:电⼦波与可见光都具有波粒⼆象性。
9-2、分析电磁透镜对电⼦波的聚焦原理,说明电磁透镜的结构对聚焦能⼒的影响。
聚焦原理:电⼦在磁场中运动,当电⼦运动⽅向与磁感应强度⽅向不平⾏时,将产⽣⼀个与运动⽅向垂直的⼒(洛仑兹⼒)使电⼦运动⽅向发⽣偏转。
在⼀个电磁线圈中,当电⼦沿线圈轴线运动时,电⼦运动⽅向与磁感应强度⽅向⼀致,电⼦不受⼒,以直线运动通过线圈;当电⼦运动偏离轴线时,电⼦受磁场⼒的作⽤,运动⽅向发⽣偏转,最后会聚在轴线上的⼀点。
电⼦运动的轨迹是⼀个圆锥螺旋曲线。
右图短线圈磁场中的电⼦运动显⽰了电磁透镜聚焦成像的基本原理:结构的影响:1)增加极靴后的磁线圈内的磁场强度可以有效地集中在狭缝周围⼏毫⽶的范围内;2)电磁透镜中为了增强磁感应强度,通常将线圈置于⼀个由软磁材料(纯铁或低碳钢)制成的具有内环形间隙的壳⼦⾥,此时线圈的磁⼒线都集中在壳内,磁感应强度得以加强。
狭缝的间隙越⼩,磁场强度越强,对电⼦的折射能⼒越⼤。
3)改变激磁电流可以⽅便地改变电磁透镜的焦距9--3、电磁透镜的像差是怎样产⽣的,如何消除和减少像差?像差有⼏何像差(球差、像散等)和⾊差球差是由于电磁透镜的中⼼区域和边沿区域对电⼦的会聚能⼒不同⽽造成的;为了减少由于球差的存在⽽引起的散焦斑,可以通过减⼩球差系数和缩⼩成像时的孔径半⾓来实现像散是由透镜磁场的⾮旋转对称⽽引起的;透镜磁场不对称,可能是由于极靴内孔不圆、上下极靴的轴线错位、制作极靴的材料材质不均匀以及极靴孔周围局部污染等原因导致的。
材料分析测试技术习题及答案
第一章一、选择题1.用来进行晶体结构分析的X射线学分支是()A.X射线透射学;B.X射线衍射学;C.X射线光谱学;D.其它2. M层电子回迁到K层后,多余的能量放出的特征X射线称()A.Kα;B. Kβ;C. Kγ;D. Lα。
3. 当X射线发生装置是Cu靶,滤波片应选()A.Cu;B. Fe;C. Ni;D. Mo。
4. 当电子把所有能量都转换为X射线时,该X射线波长称()A.短波限λ0;B. 激发限λk;C. 吸收限;D. 特征X射线5.当X射线将某物质原子的K层电子打出去后,L层电子回迁K层,多余能量将另一个L层电子打出核外,这整个过程将产生()(多选题)A.光电子;B. 二次荧光;C. 俄歇电子;D. (A+C)二、正误题1. 随X射线管的电压升高,λ0和λk都随之减小。
()2. 激发限与吸收限是一回事,只是从不同角度看问题。
()3. 经滤波后的X射线是相对的单色光。
()4. 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外,原子处于激发状态。
()5. 选择滤波片只要根据吸收曲线选择材料,而不需要考虑厚度。
()三、填空题1. 当X 射线管电压超过临界电压就可以产生 X 射线和 X 射线。
2. X 射线与物质相互作用可以产生 、 、 、 、 、 、 、 。
3. 经过厚度为H 的物质后,X 射线的强度为 。
4. X 射线的本质既是 也是 ,具有 性。
5. 短波长的X 射线称 ,常用于 ;长波长的X 射线称 ,常用于 。
习题1. X 射线学有几个分支?每个分支的研究对象是什么?2. 分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么? (1)用CuK αX 射线激发CuK α荧光辐射; (2)用CuK βX 射线激发CuK α荧光辐射; (3)用CuK αX 射线激发CuL α荧光辐射。
3. 什么叫“相干散射”、“非相干散射”、“荧光辐射”、“吸收限”、“俄歇效应”、“发射谱”、“吸收谱”?4. X 射线的本质是什么?它与可见光、紫外线等电磁波的主要区别何在?用哪些物理量描述它?5. 产生X 射线需具备什么条件?6. Ⅹ射线具有波粒二象性,其微粒性和波动性分别表现在哪些现象中?7. 计算当管电压为50 kv 时,电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连续谱的短波限和光子的最大动能。
无机材料专业综合实验思考题
实验一泥浆性能实验1影响泥浆性能的因素有哪些?答:泥浆的含水量、稀释剂的种类及数量,粘土矿物组成,介质的PH、§-电位,温度的影响。
2碳酸钠和六偏磷酸纳两种电解质稀释作用的比较。
答:六偏磷酸纳的稀释效果较好。
在同等浓度情况下,加入碳酸钠的泥浆的绝对粘度比加入六偏磷酸纳的泥浆大得多,因为对于碱金属的盐,阴离子对稀释作用也有影响,主要决定于粘土和稀释剂反应的溶度积,溶解度越小,稀释越完全。
六偏磷酸纳的阴离子在水中聚合,形成的聚合阴离子能使§-电位更高,使得泥浆得到更充分的胶溶。
实验二泥料可塑性测定 1影响可塑性的因素有哪些答:粘土颗粒间的吸力、粘土颗粒间水膜的厚度,粘土的矿物组成、含水量,粘土中腐蚀质的含量,介面表面张力,泥料陈腐,添加塑化剂、泥浆真空处理等。
3可塑性指标法和可塑性指数法有何区别?答:可塑性指标法通过研究试样在受力过程中应力与应变之间的关系来确定泥料的可塑性,选用圆柱体试样。
可塑性指数法即测定泥料对形状变化的抵抗力,适用于球形试样。
实验三陶瓷干压成型与烧结实验1用于干压成型的陶瓷粉料为何要造粒?答:加入成型剂后的陶瓷粉料须经过造粒工序,使粉料具有良好的流动性,以保证充填模具的速度和均匀性。
2陶瓷干压成型的压力是否越大越好?答:一般情况下,成型压力越大,所得培体的密度、强度也越高,但高技术陶瓷粉料可塑性差、硬度大,成型压力过大会造成气体排出困难,胚体密度降低,胚体容易开裂,并会拉伤甚至压裂模具,所以陶瓷成型压力一般控制在50~100Mpa范围内。
3烧成温度与烧结温度有何区别?如何确定烧成温度?答:烧成温度是指陶瓷胚体少城市获得最优性能是的相应温度,烧结温度是指将陶瓷胚体烧至气孔率最小,密度最大,最致密时的温度。
由于胚体性能随温度的变化是一个渐变的过程,所以烧成温度实际上是一个允许的温度范围,从胚体技术性能开始达到要求指标是的对应温度为下限温度,配体结构和性能开始劣化时的温度为上限温度,这个温度范围通常根据试样的收缩率、相对密度、气孔率或吸水率的变化曲线来确定。
新型无机材料思考题答案
1、材料的分类及特点分类:按材料的发展过程来分,可分为传统材料和新型材料特点:传统材料:需求量大,生产规模大,但环境污染严重新型材料:建立在新思路、新概念、新工艺、新检测技术的基础上,以材料的优异性能、高品质、高稳定性参与竞争,属高新技术的一部分;投资强度高,更新换代快,风险性大,知识和技术密集程度高增补信息:般将材料分为传统材料与新型材料两大类。
传统材料:是指那些已经成熟且在工业中已批量生产并大量应用的材料,如钢铁、水泥、塑料等。
这类材料由于用量大、产值高、涉及面广泛,又是很多支柱产业的基础,所以又称为基础材料。
新型材料(或称为先进材料):是指那些正在发展,且具有优异性能和应用前景的一类材料。
从原子结合键类型,或者说从物理化学属性来分,可分为金属材料、无机非金属材料、有机高分子材料和不同类型材料组成的复合材料。
金属材料的结合键主要是金属键,无机非金属材料的结合键主要是共价键或离子键,而高分子材料的结合键主要是共价键、分子键、氢键。
按材料用途或者性能要求的特点来分,又可分为结构材料和功能材料两大类。
2、新型材料的定义及特点新型材料是指新出现的或正在发展中的,具有传统材料所不具备的优异性能和特殊功能的材料;或采用新技术(工艺,装备),使传统材料性能有明显提高或产生新功能的材料;一般认为满足高技术产业发展需要的一些关键材料也属于新型材料的范畴。
特点:高附加值、低碳环保、功能性强(比如导电导热率高、比强度比模量高等)等等。
3、临界条件下新型材料制备特征临界技术包括:低温技术,超低温技术,冷冻干燥,超高压技术,元件工作速度的高速化技术,超纯、超净、超精细加工技术,超临界萃取技术,强磁场技术。
材料在普通条件下难以实现所需性能,为了达到特定要求,研究了各种临界技术,开发临界条件下新型材料。
该技术开发的新型材料往往具备一些特定性能,比如超导、超纯等等。
4、论材料科学中的矛盾运动材料在人类物质生活巾的重要性早已为人们所熟知。
无机材料测试技术思考与练习题答案
1、X 射线产生的基本条件是什么?X 射线的性质有哪些?答:X 射线产生的基本条件:(1) 产生自由电子(2) 使电子做定向高速运动(3) 在其运动的路径上设置一个障碍物,使电子突然减速。
X 射线的性质:X 射线肉眼看不见,可使物质发出可见的荧光,使照相底片感光,使气体电离。
X 射线沿直线传播,经过电场或磁场不发生偏转,具有很强的穿透能力,可被吸收强度衰减,杀伤生物细胞。
2、连续X 射线谱及特征X 射线谱的产生机理是什么?答:连续X 射线谱的产生机理:当高速电子流轰击阳极表面时,电子运动突然受到阻止,产生极大的负加速度,一个带有负电荷的电子在受到这样一种加速度时,电子周围的电磁场将发生急剧的变化,必然要产生一个电磁波,该电磁波具有一定的波长。
而数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X 射线谱。
特征X 射线谱的产生机理:当X 射线管电压加大到某一临界值Vk 时,高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K 层电子给激发出来。
于是低能级上出现空位,原子系统能力升高,处于不稳定的激发状态,随后高能级电子跃迁到K 层空位,使原子系统能量降低重新趋于稳定。
在这个过程中,原子系统内电子从高能级向低能级的这种跃迁,多余的能量将以光子的形式辐射出特征X 射线。
3、以表1.1中的元素为例,说明X 射线K 系波长随靶材原子序数的变化规律,并加以解释?()Z-σ,靶材原子序数越大,X 射线K 系波长越小。
靶材的原子序数越大,对于同一谱系,所需激发电压越高,k kc h=eV λ,X 射线K 系波长越小。
4、什么是X 射线强度、X 射线相对强度、X 射线绝对强度?答:X 射线强度是指垂直于X 射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。
5、为什么X 射线管的窗口要用Be 做,而防护X 光时要用Pb 板? 答:m -t 0I =I e μρ,Be 吸收系数和密度比较小,强度透过的比较大;而Pb 吸收系数和密度比较大,强度透过的比较小。
无机材料测试技术课后练习题
思考与练习题1.X射线产生的基本条件是什么?X射线的性质有哪些?2.连续X射线谱及特征X射线谱的产生机理是什么?3.以表1.1中的元素为例,说明X射线K系波长随靶材原子序数的变化规律,并加以解释。
4.X射线强度、X射线相对强度、X射线绝对强度的定义。
5.为什么X射线管的窗口要用Be做,而防护X光时要用Pb板?6.解释X射线的光电效应、俄歇效应与吸收限;吸收限的应用有哪些?7.说明为什么对于同一材料其λk<λkβ<λk α。
8.一元素的特征射线能否激发出同元素同系的荧光辐射,例如能否用CuKα激发出CuKα荧光辐射,或能否用CuKβ激发出CuKα荧光辐射?为什么?9.试计算当管电压为50kV时,X射线管中电子在撞击靶面时的速度与动能、以及对所发射的连续谱的短波限和辐射光子的最大能量是多少?10.计算0.071nm(MoKα)和0.154 nm(CuKα)的X射线的振动频率和能量。
11.欲用Mo靶X射线管激发Cu的荧光X射线辐射,所需施加的最低管电压是多少?激发出的荧光辐射的波长是多少?12.为使CuKα的强度衰减1/2,需要多厚的Ni滤波片?13.试计算将Cu辐射中的I kα/ I kβ从7.5提高到600的Ni滤片厚度(Ni对CuKβ的质量吸收系数μm=350cm2/g)。
14.计算空气对CrKα的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为1.29×10-3 g /cm3)。
15.X射线实验室中用于防护的铅屏,其厚度通常至少为1mm。
试计算这种铅屏对于CuKα、MoKα和60KV工作条件下从管中发射的最短波长辐射的透射因数(I/Io)各为多少?16.用倒易点阵概念推导立方晶系面间距公式。
17.利用倒易点阵概念计算立方晶系(110)和(111)面之间的夹角。
18.布拉格方程式中各符号的物理意义是什么?该公式有哪些应用?19.为什么说劳厄方程和布拉格方程实质上是一样的?20.一束X射线照射在一个晶面上,除“镜面反射”方向上可获得反射线外,在其他方向上有无反射线?为什么?与可见光的镜面反射有何异同?为什么?21.α-Fe属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm。
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1、 X 射线产生的基本条件是什么X 射线的性质有哪些答:X 射线产生的基本条件:(1) 产生自由电子(2) 使电子做定向高速运动(3) 在其运动的路径上设置一个障碍物,使电子突然减速。
X 射线的性质:X 射线肉眼看不见,可使物质发出可见的荧光,使照相底片感光,使气体电离。
X 射线沿直线传播,经过电场或磁场不发生偏转,具有很强的穿透能力,可被吸收强度衰减,杀伤生物细胞。
2、连续X 射线谱及特征X 射线谱的产生机理是什么答:连续X 射线谱的产生机理:当高速电子流轰击阳极表面时,电子运动突然受到阻止,产生极大的负加速度,一个带有负电荷的电子在受到这样一种加速度时,电子周围的电磁场将发生急剧的变化,必然要产生一个电磁波,该电磁波具有一定的波长。
而数量极大的电子流射到阳极靶上时,由于到达靶面上的时间和被减速的情况各不相同,因此产生的电磁波将具有连续的各种波长,形成连续X 射线谱。
特征X 射线谱的产生机理:当X 射线管电压加大到某一临界值Vk 时,高速运动的电子动能足以将阳极物质原子的K 层电子给激发出来。
于是低能级上出现空位,原子系统能力升高,处于不稳定的激发状态,随后高能级电子跃迁到K 层空位,使原子系统能量降低重新趋于稳定。
在这个过程中,原子系统内电子从高能级向低能级的这种跃迁,多余的能量将以光子的形式辐射出特征X 射线。
3、以表中的元素为例,说明X 射线K 系波长随靶材原子序数的变化规律,并加以解释()Z-σ,靶材原子序数越大,X 射线K 系波长越小。
靶材的原子序数越大,对于同一谱系,所需激发电压越高,k kc h=eV λ,X 射线K 系波长越小。
4、什么是X 射线强度、X 射线相对强度、X 射线绝对强度答:X 射线强度是指垂直于X 射线传播方向的单位面积上在单位时间内通过的光子数目的能量总和。
5、为什么X 射线管的窗口要用Be 做,而防护X 光时要用Pb 板 答:m -t 0I =I e μρ,Be 吸收系数和密度比较小,强度透过的比较大;而Pb 吸收系数和密度比较大,强度透过的比较小。
因此X 射线管的窗口要用Be 做,而防护X 光时要用Pb 板。
6、解释X 射线的光电效应、俄歇效应与吸收限,吸收限的应用有哪些答:光电效应:X 射线与物质作用,具有足够能量的X 射线光子激发掉原子K 层的电子,外层电子跃迁填补,多余能量辐射出来,被X 射线光子激发出来的电子称为光电子,所辐射的X 射线称为荧光X 射线,这个过程称为光电效应。
俄歇效应:原子在X 射线光子的作用下失掉一个K 层电子,它所处状态为K 激发态,当一个L 2层电子填充这个空位后,就会有数值等于E L2-E k 的能量释放出来,当这个能量E L2-E k >E L ,它就有可能使L 2、L 3、M 、N 等层的电子逸出,产生相应的电子空位,而这被K α荧光X 射线激发出的电子称为俄歇电子,这个过程称为俄歇效应。
7、说明为什么对于同一材料其λk <λkβ<λkα。
答:导致光电效应的X 光子能量=将物质K 电子移到原子引力范围以外所需作的功 k k h =W v ;k αL k k L k L h =E -E =W -W =h -h v v v ;k βM k k M k M h =E -E =W -W =h -h v v v k βh =v k M h -h v v <k h v又L k E -E <M k E -E 故k αh v <k βh v 所以k αh v <k βh v <k h vc =λv 所以λk <λkβ<λkα 8、一元素的特征射线能否激发出同元素同系的荧光辐射,例如,能否用Cu k α激发出Cu k α荧光辐射,或能否用Cu kβ激发出Cu kα荧光辐射 或能否用Cu kα X 射线激发Cu Lα荧光辐射为什么答:根据能量关系,M 、K 层之间的能量差大于L 、K 成之间的能量差,K 、L 层之间的能量差大于M 、L 层能量差。
由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差,所以kβ的能量大于kα的能量,kα 能量大于Lα的能量。
因此在不考虑能量损失的情况下:(1) Cu kα 能激发Cu kα 荧光辐射;(能量相同)(2) Cu kβ能激发Cu kα 荧光辐射;(kβ> kα)(3) Cu kα能激发Cu Lα 荧光辐射;(kα>Lα)9、试计算当管电压为50kV 时,X 射线管中电子在撞击靶面时的速度与动能,以及对所发射的连续谱的短波限和辐射光子的最大能量是多少解:已知条件:U=50kv ;电子静止质量m 0=×10-31kg ;光速c=×108m/s ;电子电量e=×10-19C ;普朗克常数h=×10-34Js电子从阴极飞出到达靶获得的总动能E=eU=×10-19C×50kv=×10-18kJ由于E=m 0v 02/2,所以电子与靶碰撞时的速度为v 0=(2E/m 0)1/2=×106m/s连续谱的短波限λ0的大小仅取决于加速电压λ0()=12400/v(伏) =辐射出来的光子的最大动能为E 0=h 0=hc/λ0=×10-15J10、计算(MoKα)和(CuKα)的X 射线的振动频率和能量。
解:对于某物质X 射线的振动频率λγC=;能量W=h γ•其中:C 为X 射线的速度 ⨯108s;λ为物质的波长;h 为普朗克常量为3410-⨯s ⋅对于Mo αK k k Cλγ==1189810223.410071.0/10998.2--⋅⨯=⨯⨯s m s m W k =h γ•k =1183410223.410625.6--⋅⨯⨯⋅⨯s s J =J 1510797.2-⨯ 对于Cu αK k k C λγ==118981095.110154.0/10998.2--⋅⨯=⨯⨯s ms m W k =h γ•k =118341095.110625.6--⋅⨯⨯⋅⨯s s J =J 151029.1-⨯11、欲用Mo 靶X 射线管激发Cu 的荧光X 射线辐射,所需施加的最低管电压是多少激发出的荧光辐射的波长是多少解:eV k =hc/λV k =×10-34××108/×10-19××10-10)=(kv)λ0=v(nm)=(nm)=(nm)其中 h 为普郎克常数,其值等于×10-34e 为电子电荷,等于×10-19c故需加的最低管电压应≥(kv),所发射的荧光辐射波长是纳米。
12、为使CuKα的强度衰减1/2,需要多厚的Ni 滤波片 解:由m -t 0I =I e μρ 得t= 13、试计算将Cu 辐射中的IK α/IK β从提高到600的Ni 滤片厚度(Ni 对CuK β的质量吸收系数μm=350cm 2/g )。
解:m k -t k k 0I =I eαμραα m k -t k k 0I =I e βμρββ 又 k 0k 0I =7.5I αβ k k I =600I αβ则()()m m k k -t --8.9t 45.7-3508==e e αβρμμ** t=×10-414、计算空气对CrK α的质量吸收系数和线吸收系数(假设空气中只有质量分数80%的氮和质量分数20%的氧,空气的密度为×10-3g /cm 3)。
解:μm=×+×=+=(cm 2/g )μ=μm ×ρ=××10-3=×10-2 cm -115、X 射线实验室中用于防护的铅屏,其厚度通常至少为lmm ,试计算这种铅屏对于CuKα、MoKα和60KV 工作条件下从管中发射的最短波长辐射的透射因数各为多少解:透射因数I/I 0=e -μmρt ,ρPb =,t=对CuK α,查表得μm=585cm 2g -1,其透射因数I/I 0=e -μmρt =e -585××=×e -289=71.1310-⨯对MoK α,查表得μm=141cm 2g -1,其透射因数I/I 0=e -μmρt =e -141××=×e -70=121.35210-⨯16、用倒易点阵概念推导立方晶系面间距公式。
解:d hkl 与其倒易点阵中的倒易矢量长度*hkl H u r 成反比hkl *hkl1d =H u r ****hklH =ha +kb +c l u r r r r 又因为立方晶系***b c c a a b 111a =b =c ======V V V a b c⨯⨯⨯r r r则*hkl h+k+H =a l u r*hkl H a u r因此hkl d17、利用倒易点阵概念计算立方晶系(110)和(111)面之间的夹角。
18、布拉格方程式中各符号的物理意义是什么该公式有哪些应用 布拉格方程各符号物理意义:满足衍射的条件为2dsinθ=nλd 为面间距,θ为入射线、反射线与反射晶面之间的交角,称掠射角或布拉格角,而2θ为入射线与反射线(衍射线)之间的夹角,称衍射角,n 为整数,称反射级数, λ为入射线波长。
布拉格方程应用:布拉格方程是X 射线衍射分布中最重要的基础公式,它形式简单,能够说明衍射的基本关系,一方面是用已知波长的X 射线去照射晶体,通过衍射角的测量求得晶体中各晶面的面间距d ,这就是结构分析—X 射线衍射学;另一方面是用一种已知面间距的晶体来反射从试样发射出来的X 射线,通过衍射角的测量求得X 射线的波长,这就是X 射线光谱学。
该法除可进行光谱结构的研究外,从X 射线的波长还可确定试样的组成元素。
电子探针就是按这原理设计的。
19、为什么说劳厄方程和布拉格方程实质上是一样的20、一束X 射线照射在一个晶面上,除“镜面反射”方向上可获得反射线外,在其他方向上有无反射线为什么与可见光的镜面反射有何异同为什么答:有,满足布拉格方程的方向上都能反射。
可见光的反射只在晶体表面进行,X 射线的反射是满足布拉格方程晶体内部所有晶面都反射。
21、α-Fe 属立方晶系,点阵参数 a=。
如用 CrKαX 射线(λ=照射,试求 (110)(200)及(211)可发生衍射的掠射角。
解:2hkl d sinθ=λ hkl λθ=arcsin =arcsin 2d 2a(110) θ=arcsin =34.4220.2866︒⨯(200) θ︒(211) θ︒ 22、衍射线的绝对强度、相对强度、累积强度(积分强度)的物理概念是什么答:累积强度、绝对强度(积分强度):某一组面网衍射的X 射线光量子的总数。