多参数吸水剖面测井解释方法及资料分析应用
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选用：磁定位 : 井温仪 : 同位素示踪伽马仪 : 释放器 : 中心流式电磁流量计或涡轮流量计。对于 分层配注井吸水剖面测井而言，这是最理想的注水 管串结构。
根据多参数测井和吸水剖面测井工艺技术的要 求，对于一般的笼统注水井，都应将注水管串下至射 孔段顶界 ;" 米以上，管柱底部安装喇叭口，效果是 最好的。这是因为这种管串结构对吸水剖面测井资 料的录取和解释以及避免工程事故等方面有如下优 点：
（$）避免同位素不到位。避免了由于射孔井段 间距较长、注水量较小（携带能力较弱）造成的同位 素上返不到位问题。
（!）能充分发挥各参数的作用。 （;）有利于井底遇阻层的分析。 （#）更有利于判断套管上部漏失。
对于分注井要求球座位置应在底部射孔段以下 至少 $" 米，一般配水器不要正对射孔段，进行多参 数测井要求配水器通径应大于 #<==。
（,）判断并消除沾污注水井井下不清洁、油套管 接箍、井下分注工具等都可能使同位素示踪测井受 沾污的影响。由于沾污的存在，凭所测同位素放射 性强度来解释地层的注入状况，必然存在一定程度 的误差。采用五参数注水剖面组合测井则可解决沾 污问题。如井下不清洁、在油套管接箍、井下分注工 具等处有同位素曲线峰值，而流量曲线无反应，或者 在注水层段虽然同位素曲线峰值较高，而流量较低， 井温等辅助曲线也无明显异常，则应视为有沾污，必 须进行消除才能获得可靠的资料。图 " 为中 ) ) 井
第 (’ 卷·第 # 期
多参数吸水剖面测井解释方法及资料分析应用
指用于测井解释读值和定量计算的井段，其特征是 每一个解释层段内同位素测井曲线的读数明显发生 突变，温度计和压力计的测井曲线按一定梯度变化。
（!）分层读取测井数值。逐层读取各条测井曲 线的平均值。
（"）定性分析测井资料。根据划分的解释层段， 分析曲线的形态和读数，可以大致判断吸水层位以 及相对吸水量。
!""# 年 $" 月 第 $) 卷第 * 期
国外测井技术 +%,-. +/-- -%00120 3/452%-%06
%&’( !""# 789( $) 28( *
多参数吸水剖面测井解释方法及资料分析应用
赵 慧 周 奇 王 卓 秦民君
（中国石油集团测井有限公司长庆事业部）
摘 要 油田开发进入中后期，准确掌握注水井各小层的吸水状况能够为油藏综合调整，挖潜增效提供可靠 的依据。五参数吸水剖面测井在三参数的基础上引入流量测井，克服了以往三参数测井的不足，突破三参数吸水 剖面测井的局限性，从而大大提高吸水剖面测井资料的测量和解释精度。
率和有效厚度资料：该段吸水的 # 个层 $ 和 # 号层， # 号层有效渗透率为 #*+* " $, - .!)#，有效厚度 / ’ %)，$ 号层有效渗透率为 !./ " $, - .!)#，有效厚度 ! ’ %)，因此可判断 # 号层存在大孔道。
（%）可以确定测井时实际总注水量是否与通知 注水量相符，精确计算小层注水量。如图 / " " 井 通知该井日wenku.baidu.com量为 +/ 方 0 天，而流量测量死水区点 测流量值为 /.+ 赫兹、射孔段上部流量值为 /*! 赫 兹，通过流量图板解释该井绝对注入量总合为 #+ ’ ! 方 0 天。经过同采油厂联系确认流量计算值准确。
关键词 多参数 吸水剖面 综合解释 资料分析
" 引言
同位素注水剖面测井一直是各油田普遍采用的 获取注水 井 注 入 剖 面 的 一 种 简 单 而 成 熟 的 测 井 方 法，测井中大部分采用伽马、磁定位、井温三参数组 合测井方法，随着注水开发、注入工艺、地质条件、完 井、投产方式、射孔等工艺的变化，随着资料应用程 度和需求的提高，示踪吸水剖面测井方法的缺陷逐 步暴露出来。如同位素微球沾污、沉淀、漏失等问题 使得利用吸水剖面测井资料来确定吸水层的吸水能 力带来一定的困难，且有部分井无法取得合格的吸 水剖面测井资料。为此，各油田都开展了吸水剖面 测井配套技术的研究工作，主要包括同位素粒径的 选择、同位素沾污控制和校正、组合测井和综合解释 方法研究等方面的工作，使得吸水剖面测井方法更 加完善，现在各油田都在努力推广五参数，采用示踪 法、井温法和流量法综合解释，提高剖面测井资料采 集成功率、解释精度和符合率。
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（.）
对于分层配注井，示踪剂在井下的沾污比笼统
注水多了配水器和封隔器处的沉淀沾污。校正还要
参考水流方向。完成沾污校正后，再按式（)）、（,）分
别计算各层的吸水百分比和吸水量。
多参数吸水剖面测井资料解释方法，首先利用
“面积”法求每个注水层同位素示踪剂形成的“异常”
* % : / ::::):?9:?<, 1 : / =,9;;;,.>=< ( ) / )9?;?@:>9: 图 , @ ( ));A 型电磁流量计图版
（)）对于多级分注井：采用电磁流量计在配水器 上部定点测量，对测量资料针对不同位置的配水器 进行两维数据转换，然后采用分层递减的方法求取 全井和各配水器的日注量和注水比。
比，而滤积的示踪剂放射性强度又与示踪剂形成“异
常”面积成正比，即同位素示踪注入剖面测井原理。
因此，只需求出各注水层“异常”面积 !"、与各注水层 总“异常”面积 !#，即可求得各注水层相对吸水量 $" 为：
’
$" % !" & !!# #()
（)）
再与全井绝对吸水量 * 相乘得各注水层绝对
吸水量 *" 为：
当一个配水器控制多个射孔段注水时，利用同 位素吸水剖面的解释方法对各小层进行解释，得出 小层的日注量和吸水比。
（,）对于适应流量测井的合注井：采用电磁流量 计在射孔段上部定点测量，对测量资料针对不同位 置的射孔段进行两维数据转换，然后采用分层递减 的方法求取全井和各射孔段的日注量和注水比。
.、多参数吸水剖面资料综合解释步骤 同位素法吸水剖面没有单相、两相、三相之分， 而且也不用考虑物性参数的变化，测井解释也就相 对简单。根据以上测量原理和计算方法，一般而言， 吸水剖面测井解释主要包括以下步骤： （)）收集整理测井资料及有关数据。包括主要 的和辅助的测井资料以及有关的参考资料。 （,）划分测井解释层段。所谓测井解释层段是
$ 多参数吸水剖面测井要求的井下管串
$、注水管串下至射孔段顶界以上的笼统注水井 选用：磁定位 : 井温仪 : 同位素示踪伽马仪 : 释放器 : 外流式电磁流量计或涡轮流量计 对于笼统注水井吸水剖面测试而言，这是最理 想的注水管串结构，可充分发挥每个参数的作用。
!、注水管串下至射孔段底界或其以下带有多级 偏心配水器的分层配注井
! 资料分析及应用
图 ! 中 ) ) 井五参数注水剖面组合测井图
（(）以往的吸水剖面资料只能对各个注水层定 性解释，采用多参数吸水剖面测井通过电磁流量计 所测出的流量值和伽马仪所测同位素放射性强度相 配合，将定性分析与定量解释相结合就可以对吸水 状况做出全面的分析，较为准确地判断各个注水层 的注入量。图 ! 为中 ) ) 井五参数注水剖面组合测 井图，单纯以同位素“异常”面积来计算相对吸水量 的结论是 *’ 层为主力吸水层，而 *(+ 层为次要吸 水层，但是根据电磁流量计所测出的流量值和同位 素曲线相配合解释的结论是 *’ 层为次要吸水层， 相对注入量为 ,& - +%. ，绝对注入量为 % - %# 方 / 天； *(+ 层为主力吸水层，相对注入量为 %( - ’!.，绝对 注入量为 (’ - &$ 方 / 天。
（.）多参数注水剖面组合测井资料有利于判断 套管上部漏失部位以及井底遇阻层的分析。
（!）检查管柱漏失状况，采用多参数注水剖面组 合测井中的同位素曲线和流量曲线相互配合就能判
断是管柱漏失还是同位素沾污。当同位素曲线出现
图/
峰值而流量曲线无变化，则是同位素沾污；当同位素 曲线出现峰值而流量曲线也有流量显示，则是管柱 漏失。利用此方法可找出管柱漏失的准确位置，为 工程部门堵漏提供可靠依据。解释由单纯的定性分 析变为定性分析与定量解释相结合。
*" % *总 + $"
（,）
对于放射性沾污严重的井，还需要进行沾污校
正。以笼统注水为例，沾污校正方法如下：
设总 层 数 为 -，各 层 自 上 而 下 顺 序 为 )，,，
.，/ / / / / ，-；各层不进行消除沾污校正部分的吸水面
积为 !)，!,，/ / / ，!-；各层位间校正后的面积（各种
水量分别为 $" ( )，$" ( ,，6 $" ( 0，则各注水层绝对
吸水量为：
0
*)# %（$)# & !$)8）+ *) 8%)
（9）
特别值得一提的是，若用电磁流量计求得某一
地层相对吸水量，与利用同位素示踪测井求得的地
层相对吸水量相差甚远，应结合关井井温恢复曲线
和地质动态分析，确定是否为地层大孔道造成的。
,、电万磁方流量数计据解释方法
对于电磁流量计，其测井资料解释方法是利用 电磁流量计感应电压与流体的流速成线性关系的测 量原理，作出不同管柱下电磁流量计输出频率与流 量解释图板，根据电磁流量测量频率值查解释图板 得到流量，图 )、, 为不同仪器的解释图板。
* % : / ::::):.,;:<, 1 : / =.>,;?:=9;< ( ) / ,>;:9:=9., 图 ) @ ( ):,A 型电磁流量计图
注水剖面万组方合测数井据图，在井段 (#&# - + 0 (#&% - +1 处
图 " 中 ) ) 井五参数注水剖面组合测井图
同位素曲线有峰值，而流量曲线上无反应，井温曲线 也无异常，说明该处存在同位素沾污。
（!）判断储层的大孔道。注水井注水层位存在 大孔道是发生水窜的主要原因之一，水窜将直接降 低油田开发效果，从而降低最终采收率。因此，及时 搞清注水储层是否存在大孔道是非常重要的。应用 三参数同位素注水剖面测井资料较难判断储层是否 存在大孔道。应用五参数注水剖面组合测井资料就 能准确地反映储层是否存在大孔道。当同位素曲线 的峰值显示较低或无显示，而电磁流量计的流量显
面积，得到各个注水层的相对吸水量；再根据电磁流
量计测量结果，求得各个井段（该井段可能包含一个
注水层或几个注水层）总的绝对吸水量；再按各注水
层相对吸水量 $，把电磁流量计求得的各井段总的
绝对吸水量依次分配到对应的注水层里。假定电磁
流量计资料确定 ) 6 - 个井段的总绝对吸水量分别
为 *)，*, 6 *-，那么，第 7 个井段 ’ 个注水层相对吸
· .% ·
国外测井技术
#,,% 年
图 ! 中 " " 井五参数注水剖面组合测井图
示很高，辅助曲线明显异常，则说明储层中存在大孔
道。图 ! 为 " " 井五参数注水剖面组合测井图，在 井段 #$%& ’ & ( #$!% ’ %) 处同位素曲线峰值显示较 低，而流量显示很高，井温曲线异常明显，结合渗透
（#）进行同位素沾污校正。 （$）计算井下各层相对吸入流体流量。 （%）计算流量剖面。重复以上各步骤，自上而下 计算出各解释层的总吸入流量。 （&）检查修正解释结果。 （’）总结报告解释成果。每口井的吸水剖面测 井解释后，需要整理出数据表和绘出成果图，并要撰 写解释报告，报送生产和有关研究单位。
· !! ·
类型沾污面积乘以相应的校正系数后的面积之和）
由上而下为 !) ( ,，!, ( .，（! - ( )）—-；沾污面积 !0
(（0 1 2）对 3 层的分配（0 4 3）数学表达式为：
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"%)
% 结论
（$）多参数注水剖面组合测井资料能够判断注 水层位是否存在大孔道、管柱是否漏失，监督施工操 作是否符合要求，消除因井下不清洁等引起的沾污 影响，提高了资料的可靠性。
（#）多参数注水剖面组合测井仪所采用的电磁 流量计，克服了由于射孔井段间距较长、注水量较小 （携带能力较弱）造成的同位素上返不到位问题。
! 多参数吸水剖面测井资料解释方法
$、同位素吸水剖面解释方法 在示踪剂选择合适及正确施工条件下，地层的
第一作者简介：赵慧，女，满族，$)<) 年 > 月出生，测井工程师，$)); 年参加工作以来，先后从事过测井资料处理解释工作、测井
资料的验收万审方核工数作据。
· ., ·
国外测井技术
,::9 年
吸水量与 其 滤 积 的 放 射 性 同 位 素 示 踪 剂 强 度 成 正
根据多参数测井和吸水剖面测井工艺技术的要 求，对于一般的笼统注水井，都应将注水管串下至射 孔段顶界 ;" 米以上，管柱底部安装喇叭口，效果是 最好的。这是因为这种管串结构对吸水剖面测井资 料的录取和解释以及避免工程事故等方面有如下优 点：
（$）避免同位素不到位。避免了由于射孔井段 间距较长、注水量较小（携带能力较弱）造成的同位 素上返不到位问题。
（!）能充分发挥各参数的作用。 （;）有利于井底遇阻层的分析。 （#）更有利于判断套管上部漏失。
对于分注井要求球座位置应在底部射孔段以下 至少 $" 米，一般配水器不要正对射孔段，进行多参 数测井要求配水器通径应大于 #<==。
（,）判断并消除沾污注水井井下不清洁、油套管 接箍、井下分注工具等都可能使同位素示踪测井受 沾污的影响。由于沾污的存在，凭所测同位素放射 性强度来解释地层的注入状况，必然存在一定程度 的误差。采用五参数注水剖面组合测井则可解决沾 污问题。如井下不清洁、在油套管接箍、井下分注工 具等处有同位素曲线峰值，而流量曲线无反应，或者 在注水层段虽然同位素曲线峰值较高，而流量较低， 井温等辅助曲线也无明显异常，则应视为有沾污，必 须进行消除才能获得可靠的资料。图 " 为中 ) ) 井
第 (’ 卷·第 # 期
多参数吸水剖面测井解释方法及资料分析应用
指用于测井解释读值和定量计算的井段，其特征是 每一个解释层段内同位素测井曲线的读数明显发生 突变，温度计和压力计的测井曲线按一定梯度变化。
（!）分层读取测井数值。逐层读取各条测井曲 线的平均值。
（"）定性分析测井资料。根据划分的解释层段， 分析曲线的形态和读数，可以大致判断吸水层位以 及相对吸水量。
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国外测井技术 +%,-. +/-- -%00120 3/452%-%06
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多参数吸水剖面测井解释方法及资料分析应用
赵 慧 周 奇 王 卓 秦民君
（中国石油集团测井有限公司长庆事业部）
摘 要 油田开发进入中后期，准确掌握注水井各小层的吸水状况能够为油藏综合调整，挖潜增效提供可靠 的依据。五参数吸水剖面测井在三参数的基础上引入流量测井，克服了以往三参数测井的不足，突破三参数吸水 剖面测井的局限性，从而大大提高吸水剖面测井资料的测量和解释精度。
率和有效厚度资料：该段吸水的 # 个层 $ 和 # 号层， # 号层有效渗透率为 #*+* " $, - .!)#，有效厚度 / ’ %)，$ 号层有效渗透率为 !./ " $, - .!)#，有效厚度 ! ’ %)，因此可判断 # 号层存在大孔道。
（%）可以确定测井时实际总注水量是否与通知 注水量相符，精确计算小层注水量。如图 / " " 井 通知该井日wenku.baidu.com量为 +/ 方 0 天，而流量测量死水区点 测流量值为 /.+ 赫兹、射孔段上部流量值为 /*! 赫 兹，通过流量图板解释该井绝对注入量总合为 #+ ’ ! 方 0 天。经过同采油厂联系确认流量计算值准确。
关键词 多参数 吸水剖面 综合解释 资料分析
" 引言
同位素注水剖面测井一直是各油田普遍采用的 获取注水 井 注 入 剖 面 的 一 种 简 单 而 成 熟 的 测 井 方 法，测井中大部分采用伽马、磁定位、井温三参数组 合测井方法，随着注水开发、注入工艺、地质条件、完 井、投产方式、射孔等工艺的变化，随着资料应用程 度和需求的提高，示踪吸水剖面测井方法的缺陷逐 步暴露出来。如同位素微球沾污、沉淀、漏失等问题 使得利用吸水剖面测井资料来确定吸水层的吸水能 力带来一定的困难，且有部分井无法取得合格的吸 水剖面测井资料。为此，各油田都开展了吸水剖面 测井配套技术的研究工作，主要包括同位素粒径的 选择、同位素沾污控制和校正、组合测井和综合解释 方法研究等方面的工作，使得吸水剖面测井方法更 加完善，现在各油田都在努力推广五参数，采用示踪 法、井温法和流量法综合解释，提高剖面测井资料采 集成功率、解释精度和符合率。
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（.）
对于分层配注井，示踪剂在井下的沾污比笼统
注水多了配水器和封隔器处的沉淀沾污。校正还要
参考水流方向。完成沾污校正后，再按式（)）、（,）分
别计算各层的吸水百分比和吸水量。
多参数吸水剖面测井资料解释方法，首先利用
“面积”法求每个注水层同位素示踪剂形成的“异常”
* % : / ::::):?9:?<, 1 : / =,9;;;,.>=< ( ) / )9?;?@:>9: 图 , @ ( ));A 型电磁流量计图版
（)）对于多级分注井：采用电磁流量计在配水器 上部定点测量，对测量资料针对不同位置的配水器 进行两维数据转换，然后采用分层递减的方法求取 全井和各配水器的日注量和注水比。
比，而滤积的示踪剂放射性强度又与示踪剂形成“异
常”面积成正比，即同位素示踪注入剖面测井原理。
因此，只需求出各注水层“异常”面积 !"、与各注水层 总“异常”面积 !#，即可求得各注水层相对吸水量 $" 为：
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再与全井绝对吸水量 * 相乘得各注水层绝对
吸水量 *" 为：
当一个配水器控制多个射孔段注水时，利用同 位素吸水剖面的解释方法对各小层进行解释，得出 小层的日注量和吸水比。
（,）对于适应流量测井的合注井：采用电磁流量 计在射孔段上部定点测量，对测量资料针对不同位 置的射孔段进行两维数据转换，然后采用分层递减 的方法求取全井和各射孔段的日注量和注水比。
.、多参数吸水剖面资料综合解释步骤 同位素法吸水剖面没有单相、两相、三相之分， 而且也不用考虑物性参数的变化，测井解释也就相 对简单。根据以上测量原理和计算方法，一般而言， 吸水剖面测井解释主要包括以下步骤： （)）收集整理测井资料及有关数据。包括主要 的和辅助的测井资料以及有关的参考资料。 （,）划分测井解释层段。所谓测井解释层段是
$ 多参数吸水剖面测井要求的井下管串
$、注水管串下至射孔段顶界以上的笼统注水井 选用：磁定位 : 井温仪 : 同位素示踪伽马仪 : 释放器 : 外流式电磁流量计或涡轮流量计 对于笼统注水井吸水剖面测试而言，这是最理 想的注水管串结构，可充分发挥每个参数的作用。
!、注水管串下至射孔段底界或其以下带有多级 偏心配水器的分层配注井
! 资料分析及应用
图 ! 中 ) ) 井五参数注水剖面组合测井图
（(）以往的吸水剖面资料只能对各个注水层定 性解释，采用多参数吸水剖面测井通过电磁流量计 所测出的流量值和伽马仪所测同位素放射性强度相 配合，将定性分析与定量解释相结合就可以对吸水 状况做出全面的分析，较为准确地判断各个注水层 的注入量。图 ! 为中 ) ) 井五参数注水剖面组合测 井图，单纯以同位素“异常”面积来计算相对吸水量 的结论是 *’ 层为主力吸水层，而 *(+ 层为次要吸 水层，但是根据电磁流量计所测出的流量值和同位 素曲线相配合解释的结论是 *’ 层为次要吸水层， 相对注入量为 ,& - +%. ，绝对注入量为 % - %# 方 / 天； *(+ 层为主力吸水层，相对注入量为 %( - ’!.，绝对 注入量为 (’ - &$ 方 / 天。
（.）多参数注水剖面组合测井资料有利于判断 套管上部漏失部位以及井底遇阻层的分析。
（!）检查管柱漏失状况，采用多参数注水剖面组 合测井中的同位素曲线和流量曲线相互配合就能判
断是管柱漏失还是同位素沾污。当同位素曲线出现
图/
峰值而流量曲线无变化，则是同位素沾污；当同位素 曲线出现峰值而流量曲线也有流量显示，则是管柱 漏失。利用此方法可找出管柱漏失的准确位置，为 工程部门堵漏提供可靠依据。解释由单纯的定性分 析变为定性分析与定量解释相结合。
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（,）
对于放射性沾污严重的井，还需要进行沾污校
正。以笼统注水为例，沾污校正方法如下：
设总 层 数 为 -，各 层 自 上 而 下 顺 序 为 )，,，
.，/ / / / / ，-；各层不进行消除沾污校正部分的吸水面
积为 !)，!,，/ / / ，!-；各层位间校正后的面积（各种
水量分别为 $" ( )，$" ( ,，6 $" ( 0，则各注水层绝对
吸水量为：
0
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（9）
特别值得一提的是，若用电磁流量计求得某一
地层相对吸水量，与利用同位素示踪测井求得的地
层相对吸水量相差甚远，应结合关井井温恢复曲线
和地质动态分析，确定是否为地层大孔道造成的。
,、电万磁方流量数计据解释方法
对于电磁流量计，其测井资料解释方法是利用 电磁流量计感应电压与流体的流速成线性关系的测 量原理，作出不同管柱下电磁流量计输出频率与流 量解释图板，根据电磁流量测量频率值查解释图板 得到流量，图 )、, 为不同仪器的解释图板。
* % : / ::::):.,;:<, 1 : / =.>,;?:=9;< ( ) / ,>;:9:=9., 图 ) @ ( ):,A 型电磁流量计图
注水剖面万组方合测数井据图，在井段 (#&# - + 0 (#&% - +1 处
图 " 中 ) ) 井五参数注水剖面组合测井图
同位素曲线有峰值，而流量曲线上无反应，井温曲线 也无异常，说明该处存在同位素沾污。
（!）判断储层的大孔道。注水井注水层位存在 大孔道是发生水窜的主要原因之一，水窜将直接降 低油田开发效果，从而降低最终采收率。因此，及时 搞清注水储层是否存在大孔道是非常重要的。应用 三参数同位素注水剖面测井资料较难判断储层是否 存在大孔道。应用五参数注水剖面组合测井资料就 能准确地反映储层是否存在大孔道。当同位素曲线 的峰值显示较低或无显示，而电磁流量计的流量显
面积，得到各个注水层的相对吸水量；再根据电磁流
量计测量结果，求得各个井段（该井段可能包含一个
注水层或几个注水层）总的绝对吸水量；再按各注水
层相对吸水量 $，把电磁流量计求得的各井段总的
绝对吸水量依次分配到对应的注水层里。假定电磁
流量计资料确定 ) 6 - 个井段的总绝对吸水量分别
为 *)，*, 6 *-，那么，第 7 个井段 ’ 个注水层相对吸
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图 ! 中 " " 井五参数注水剖面组合测井图
示很高，辅助曲线明显异常，则说明储层中存在大孔
道。图 ! 为 " " 井五参数注水剖面组合测井图，在 井段 #$%& ’ & ( #$!% ’ %) 处同位素曲线峰值显示较 低，而流量显示很高，井温曲线异常明显，结合渗透
（#）进行同位素沾污校正。 （$）计算井下各层相对吸入流体流量。 （%）计算流量剖面。重复以上各步骤，自上而下 计算出各解释层的总吸入流量。 （&）检查修正解释结果。 （’）总结报告解释成果。每口井的吸水剖面测 井解释后，需要整理出数据表和绘出成果图，并要撰 写解释报告，报送生产和有关研究单位。
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类型沾污面积乘以相应的校正系数后的面积之和）
由上而下为 !) ( ,，!, ( .，（! - ( )）—-；沾污面积 !0
(（0 1 2）对 3 层的分配（0 4 3）数学表达式为：
0()
0
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% 结论
（$）多参数注水剖面组合测井资料能够判断注 水层位是否存在大孔道、管柱是否漏失，监督施工操 作是否符合要求，消除因井下不清洁等引起的沾污 影响，提高了资料的可靠性。
（#）多参数注水剖面组合测井仪所采用的电磁 流量计，克服了由于射孔井段间距较长、注水量较小 （携带能力较弱）造成的同位素上返不到位问题。
! 多参数吸水剖面测井资料解释方法
$、同位素吸水剖面解释方法 在示踪剂选择合适及正确施工条件下，地层的
第一作者简介：赵慧，女，满族，$)<) 年 > 月出生，测井工程师，$)); 年参加工作以来，先后从事过测井资料处理解释工作、测井
资料的验收万审方核工数作据。
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吸水量与 其 滤 积 的 放 射 性 同 位 素 示 踪 剂 强 度 成 正