电子产品可靠性及老化测试简介

电子产品可靠性及老化

测试简介

Document serial number【NL89WT-NY98YT-NC8CB-NNUUT-NUT108】

电子产品可靠性及老化测试简介

为了验证终端产品的性能寿命，通常需要设计一系列的可靠性实验项目，最真实的模拟产品在实际使用中的场景，通过实验的结果评估产品的各方面性能，然而实验项目多种多样，如何合理的安排实验项目的顺序，以及分配项目样品的数量，从而达到最优的实验效果，是一个值得研究的课题。本文我们将对电子产品的可靠性及老化试验的分类，做一提纲性的说明。

图一：摩尔实验室可靠性测试实验室场景

摩尔实验室（MORLAB）在手机等电子产品可靠性测试方面积累了大量的实践经验，在此总结了相关的实验项目同大家分享，可靠性实验主要可分为7个类型（图二），我们将详细介绍各个类型所涉及的实验项目，顺序以及样品所需数量。

图二：可靠性实验主要可分为7个类型

结构可靠性老化实验链（通常需16 个样品）：

加速老化实验链（通常需16 个样品）：

接口老化实验链（通常需2个样品）：

防护等级测试链（通常需12 个样品）：

包装可靠性老化实验链（3 套包装）：

针对以上具体实验项目的标准及相关测试方法，可联系就近的摩尔实验室相关技术人员，我们愿竭诚为您服务。

如需更多资料，请发信到以下地址：或致电：028－。