(集成电路原理)作业习题与答案

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4. 简述硅栅P阱CMOS的光刻步骤? 掩膜1: P阱光刻
P-well
P-well
P-well
N-Si-衬底
N+ P+
P+
N+
N+ P+
P
N-Si
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具体步骤如下: 1)生长二氧化硅(湿法氧化):
SiO2
Si-衬底
Si(固体)+ 2H2O SiO2(固体)+2H2
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集成电路原理课程
作业习题与答案
第0章 绪论 第1章 集成电路的基本制造工艺 第2章 集成电路中的晶体管及其寄生效应 第3章 集成电路中的无源元件
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第0章 绪论
1. 什么叫半导体集成电路? 2. 按照半导体集成电路的集成度来分,分为哪些类型,
请同时写出它们对应的英文缩写? 3. 按照器件类型分,半导体集成电路分为哪几类? 4. 按电路功能或信号类型分,半导体集成电路分为哪几类?
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4
3. 按照器件类型分,半导体集成电路分为哪几类?
电流I
参与导电的载流子 既有空穴又有电子,
称为双级型
Bipolar Junction Transistor
BJT型
Bi-CMOS
电流I
参与导电的载流 子只有空穴或电 子,称为单级型
MOS Transistor
MOS型
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P-well
P+
P+
N-Si
N+
N+
P-well
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1、P+区光刻 2、离子注入B+,栅区有多晶硅做
掩蔽,称为硅栅自对准工艺。 3、去胶
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P+
P-well
硼离子注入
P+
P+
P-well
去胶
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掩膜5 :N+区光刻
P-well
P+ P+
N+ N+
P-well
P+
P+
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III. 第三次光刻----P型基区扩散孔光刻
E
B
C
S
P+
n+
p
n-epi
n+-BL
n+
P+
Tepi
P-Si P-Si
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IV. 第四次光刻----N+发射区扩散孔光刻
EB
C
S
P+
n+
p
n-epi
n+-BL
n+
P+
Tepi
P-Si P-Si
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V. 第五次光刻----引线孔光刻
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2. 按照半导体集成电路的集成度来分,分为哪些类型, 请同时写出它们对应的英文缩写?
• 小规模集成电路 (Small Scale IC,SSI) • 中规模集成电路 (Medium Scale IC,MSI) • 大规模集成电路 (Large Scale IC,LSI) • 超大规模集成电路 (Very Large Scale IC,VLSI) • 特大规模集成电路 (Ultra Large Scale IC,ULSI) • 巨大规模集成电路 (Gigantic Scale IC,GSI)
N-Si
N+
N+
P-well
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1、N+区光刻 2、离子注入P+,栅区有多晶硅做掩
蔽,称为硅栅自对准工艺。 3、去胶
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N+
P+
P+
P-well
磷离子注入
P+
P+
N+
N+
P-well
去胶
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掩膜6 :光刻接触孔
P-well
P+
P+
N-Si
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N+
N+
种?
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7. SBD(Schottky-Barrier-Diode) 与pn结二极管相比较, 有何特点?SBD在TTL电路中有何作用?
8. 教材p.43, 图2.25示出肖特基箝位晶体管(SCT Schottky clamp transistor),说明其工作原理。
9. MOS集成电路中有哪些有源寄生效应? 10.画图说明MOS IC寄生沟道的形成原因。它对MOS集
P+ P+ N阱
N+- BL
N+
N+
P N阱
N+- BL
改进方法:在N阱里加隐埋层 • 使NPN管的集电极串联电阻减小; • 使CMOS器件的抗闩锁性能大大提高。
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7. 请画出NPN晶体管的版图,并且标注各层掺杂区域类型。
E
B
C
S
n+ P+
n+
p
P+
n+-BL
n-epi
P-Si
Siwk.baidu.com2隔离岛
P-well
♣ 淀积氮化硅 光刻有源区 场区氧化 去除有源区氮化硅及二氧化硅
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deposited nitride layer
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有源区
有源区光刻板 N型P型MOS制作区域
(漏-栅-源)
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1) 淀积氮化硅:
P-well
氧化膜生长(湿法氧化)
2) 光刻有源区:
P-well
纵向NPN EB C
N+
N+
P
N阱
在现有N阱 CMOS工艺 上增加一块
掩膜板
优点:
• NPN具有较薄的基区,提高了其性能;
• N阱使得NPN管C极与衬底隔开,可根据电路需要接电位;
缺点:
• 集电极串联电阻还是太大,影响双极器件的驱动能力。
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NMOS
PMOS
纵向NPN EB C
N+ N+ P--epi P+- SUB
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涂胶
P-well
氮化膜生长
有源区光刻板
P-well
对版曝光
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P-well
显影
3) 场区氧化:
P-well
场区氧化(湿法氧化)
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P-well 氮化硅刻蚀去胶
P-well 去除氮化硅薄膜及有源区SiO2
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掩膜3: 光刻多晶硅
P-well
P+
P+
N-Si
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npn C(n)
n+-BL
P-Si
S(p)
衬底接最低电位
隐埋层作用:1. 减小寄生pnp管的影响 2. 减小集电极串联电阻
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10
2. 在制作晶体管的时候,衬底材料电阻率的选取对器件
有何影响?
E
B
C
S
电阻率过大将增大集电极串联电阻,扩大饱和压降,
若过小耐压低,结电容增大,且外延时下推大。
5
4. 按电路功能或信号类型分,半导体集成电路分为哪几类?
1
0
输入与输出量均为二 进制的数字,不是高 电平,既是低电平, 在数字电路中表现为
“0”,“1”。
数模混合 集成电路
输入与输出量为连续变 化的模拟量
数字集成电路
模拟集成电路
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5. 什么是特征尺寸?它对集成电路工艺有何影响? 集成电路中半导体器件的最小尺寸如MOSFET的最小
N+
As掺杂(离子注入)
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去胶
N+
去除氧化膜
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外延层
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E
B
C
S
P+
n+
p
n-epi
n+-BL
n+
P+
Tepi
P-Si P-Si
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II. 第二次光刻----P隔离扩散孔光刻
EB
C
S
P+
n+
p
n+
P+
n-epi
n+-BL
Tepi
P-Si P-Si
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EB
CS
P+
n+
p
n+ P+
n-epi
n+-BL
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N+隐埋层
P-Si衬底
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具体步骤如下: • 生长二氧化硅(湿法氧化):
SiO2 Si-衬底
Si(固体)+ 2H2O SiO2(固体)+2H2
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② 隐埋层光刻:
涂胶
光源
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曝光
腌膜对准
显影
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刻蚀(等离子体刻蚀) ③ N+掺杂:
沟道长度。是衡量集成电路加工和设计水平的重要标志。 它的减小使得芯片集成度的直接提高。 6. 名词解释:集成度、wafer size、die size、摩尔定律? 集成度:一个芯片上容纳的晶体管的数目 wafer size:指包含成千上百个芯片的大圆硅片的直径 die size:指没有封装的单个集成电路 摩尔定律:集成电路的芯片的集成度每三年提四倍,而 加工尺寸缩小0.7倍。
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5. 以P阱CMOS工艺为基础的BiCMOS的有哪些不足?
NPN晶体管电流增益小;
集电极的串联电阻很大;
NPN管C极只能接固定电位,从而限制了NPN管的使用。
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6. 以N阱CMOS工艺为基础的BiCMOS的有哪些优缺点?
并请提出改进方法。
PMOS
P+ P+ N阱
NMOS N+ N+ P- SUB
N+
N+
P-well
多晶硅栅极
栅极氧化膜
P-well
去除氮化硅薄膜及有源区SiO2
♣ 生长栅极氧化膜 淀积多晶硅 光刻多晶硅
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P-well
生长栅极氧化膜 多晶硅光刻板
P-well
淀积多晶硅
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P-well
涂胶光刻
P-well
多晶硅刻蚀
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掩膜4 :P+区光刻
P-well
P+ P+
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第1章 集成电路的基本制造工艺
1. 四层三结的结构的双极型晶体管中隐埋层的作用? 2. 在制作晶体管的时候,衬底材料电阻率的选取对器件
有何影响? 3. 简单叙述一下pn结隔离的NPN晶体管的光刻步骤? 4. 简述硅栅p阱CMOS的光刻步骤? 5. 以P阱CMOS工艺为基础的BiCMOS的有哪些不足? 6. 以N阱CMOS工艺为基础的BiCMOS的有哪些优缺点?
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2)P阱光刻:
涂胶
光源
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曝光
腌膜对准
显影
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刻蚀(等离子体刻蚀) 3)P阱掺杂:
P+
硼掺杂(离子注入)
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去胶
P-well
去除氧化膜
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掩膜2: 光刻有源区
P-well
P+
P+
N-Si
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N+
N+
P-well
有源区:NMOS、PMOS 晶体管形成的区域
P-well
磷硅玻璃(PSG)
P+ P+
N+ N+
P-well
1、淀积PSG. 2、光刻接触孔 3、刻蚀接触孔
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P+ P+
N+ N+
P-well
淀积PSG
P+ P+
N+ N+
P-well
刻蚀接触孔
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P+ P+
N+ N+
P-well
光刻接触孔
P+ P+
N+ N+
P-well
去胶
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1. 为什么集成双极型晶体管会存在寄生效应?画出截面 图并说明何谓有源寄生效应。
2. 画出集成双极型晶体管截面图说明何谓无源寄生效应。 3. 如何抑制集成双极型晶体管的有源寄生效应和无源寄
生效应? 4. 如图所示横向pnp管、纵向pnp管的剖面图。试说明它
们的结构与特点。 5. 说明提高衬底pnp管电流增益的主要措施。 6. 双极IC中的集成二极管有几种形式?最常用的是哪几
并请提出改进方法。
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7. 请画出NPN晶体管的版图,并且标注各层掺杂区域类型。 8. 请画出CMOS反相器的版图,并标注各层掺杂类型和输
入输出端子。
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1. 四层三结的结构的双极型晶体管中隐埋层的作用?
EB
C
S
E(n+)
P+
n+
p
n+
P+
n-epi
B(p) pnp
EB
C
S
P+
n+
p
n-epi
n+-BL
n+
P+
Tepi
P-Si P-Si
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铝淀积
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VI. 第六次光刻----反刻铝
第一次光刻:N+隐埋层扩散孔光刻 第二次光刻:P隔离扩散孔光刻 第三次光刻:P型基区扩散孔光刻
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第四次光刻:N+发射区扩散孔光刻 第五次光刻:引线孔光刻 第六次光刻:反刻铝
5. 什么是特征尺寸?它对集成电路工艺有何影响? 6. 名词解释:集成度、wafer size、die size、摩尔定律?
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1. 什么叫半导体集成电路?
通过一系列的加工工艺,将晶体管,二极管等有源器件 和电阻,电容等无源元件,按一定电路互连。集成在一块 半导体基片上。封装在一个外壳内,执行特定的电路或系 统功能。
P+
n+
n+
P+
p
n-epi
n+-BL
TTL电路:0.2Ω.cm;模拟电路:0.5~5Ω.cm
P-Si
为了减小结电容,击穿电压高,外延层下推小,电阻率应取大; 为了减小集电极串联电阻,饱和压降小,电阻率应取小。
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3. 简单叙述一下pn结隔离的NPN晶体管的光刻步骤? I. 第一次光刻----N+隐埋层扩散孔光刻
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A
A’
P+
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E
B
E
B
n+
p
n+-BL
C
S
C
S
n+
P+
n-epi
P-Si
P+隔离扩散 P基区扩散
N+扩散 接触孔
铝线 隐埋层
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8. 请画出CMOS反相器的 版图,并标注各层掺杂类 型和输入输出端子。
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第2章 集成电路中的晶体管及其寄生效应
掩膜7 :光刻铝线
P-well
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P+ P+
N+ N+
P-well
1、淀积铝. 2、光刻铝 3、去胶
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P+
P+
N+
N+
P-well
P阱光刻→光刻有源区→光刻多晶硅 → P+区光刻→ N+区光刻→光刻接触孔 →光刻铝线
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铝线 PSG 场氧 栅极氧化膜 N+区 P+区 P-well N-型硅极板 多晶硅
成电路的正常工作产生什么影响?如何防止MOS集成 电路产生寄生沟道? 11.为什么说Latch-Up(锁定/闩锁)效应是CMOS IC存在的 一种特殊的寄生效应?画出其等效电路图,说明消除 “Latch-up”效应的方法? 12.如何解决MOS器件中的寄生双极晶体管效应?
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