压痕不良分析简报
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测试异常画面
显微镜观察图片
1、OM下观察B/D区域左右两端IC无压痕，彩虹气泡状，不良品集中后端D1姚霞线 2、AOI验证：取样13pcs重新过AOI，均可拦截 3、经调查；36pcs调机品混入正常品，且9/20夜班B/D，AOI停用1天 4、AOI 没有text -------请袁洪晓经理给出发生原因 5、FOG功测没有text-------请熊小强经理给出后流对策
50103 IC 压痕不良分析简报
LCE联星工程部
LCE联星工程部
报告：陈晓兵
审核：罗小亮 2017.09.22
50103 IC压痕不良分析简报
一、情况描述(5W1H) When ：2017/09/21 Where ：D1线 Who ：联星 What ：异显 Why ：点亮测试画面出现显示异常 How many ：20/5524（0.36%） 二、异常原因说明 1、夜班作业5K，检出0.36%异显不良 2、不良经工程分析确认为IC压痕不良，现场确认不良为 B/D 1线作业 三、异常原因分析
四、改善对策
Item 临时对策 Action 1、作业夜班所有50103涉及批全部holding 2、老化测试：投800pcs 烘烤60° 2hrs 3、22号白班50103型号产线检出的功能不良全部 100%分析 长久对策 1、调机品使用专用tray盘存放 2、产品上贴上带有“调机品”字样标签 3、AOI停用需要制造、工程、品质经理以上人员 签字确认后，方可停用 Follow up 产线未检出IC压痕不良 产线未检出IC压痕不良 Owner/Due day 韩键/熊小强 9/22 韩键 9/22 袁洪晓 9/22