ilen阻抗分析仪使用手册
Agilent安捷伦阻抗网络分析仪-操作指导说明书
安捷伦精密阻抗网络分析仪-操作指导说明书
11 触发设置
[Trigger]键，根据需要设置，默认连续扫 描，即曲线实时更新状态； -SINGLE:单次扫描
12 测试记录
将器件安装至夹具，进行数据记录。
需要先按[Marker]键，再数字输入（或转 动旋钮选择）对应的信号值，进行所需 数据抓取。
安捷伦精密阻抗网络分析仪-操作指导说明书
4 选择功能
[Meas]键，根据所需测量的参数，进行测 试功能选择。
安捷伦精密阻抗网络分析仪-操作指导说明书
5 曲线形式设置 [Format]键，根据需要，选择线性/LIN 或 对数/LOG 的形式显示。
[Display]键，根据需要，选择不同的显示 功能： -SPLIT:对 A、B 曲线分开单独显示； -HIDE INACT:只显示选中的 A 或 B 曲线； 6 曲线显示设置 -ACCUMULATE: 对 测 试 的 曲 线 进 行 多 次 叠加显示； -OFFSET:可输入设置参数补偿
安捷伦精密阻抗网络分析仪-操作指导说明书
序号
步骤
操作内容
图示
1 开机/初始化
a) 开机：仪器预热≥20min b) 初始化：[Preset]键，恢复预设状态
2 夹具选择
根据器件封装结构差异，选择相适应的 夹具，并正确安装。
安捷伦精密阻抗网络分析仪-操作指导说明书
[Cal]键，选择 FIXTURE COMPEN，进行以 下操作： 3 校准/减少误差 a) OPEN:开路清“0” b) SHORT:短路清“0”（需放置短路片）
13 结束
关机
安捷伦精密阻抗网络分析仪-操作指导说明书
9 信号源输入
[Start]键，再用数字键输入相应的起始信 号值； [Stop]键，再用数字键输入相应的终止信 号值；
Tektronix阻抗仪操作指导书
Tektronix 阻抗仪操作指导书一、目的:提供准确全面的操作指导,规范整个测试过程,确保测试产品质量.二、适用范围:Tektronix 手动阻抗测试仪操作人员. 三、周边需求:4.1电.气需求:4.1.1电源需求:AC220V4.1.2气源需求:6-8Kg/CM²(需过滤干燥,无油,无水) 3.2 工具、物料需求:3.2.1工具类:无3.2.2物料类:四、参考文件『DSA8200手动阻抗测试操作规范』.『Tektronix 阻抗测试仪操作规范』. 五、操作流程图:防静电手环 传动皮带2传动皮带1自动测试连接线手动测试线及手柄接地片六.机器生产作业说明:6.1操作面板说明:D E P6.2操作步骤说明6.2.1特性阻抗测试步骤说明:单击菜单列[SETUPS]之下拉式菜单[TDR] [SETUP DIALOGS]打开测试通道选择窗口点选C3或C4后,将[On Polarity]及[On Units][On Units]栏的小三角符号打开下拉菜单位.点选[Setups]之[Meas]菜单,打开输出数据类型选择窗口选择[Meas 1],并将其右边之[ON]选项打勾单击[Selecty Meas]选择下拉式菜单之[Pulse-Amplitude],的下拉式菜单中根据需要选择数据输出类型图示.点选如图红色框中所圈部位之计算器图标,在出现的窗口字段中输入“200”,在[Unit]字段中输入“P”键关毕窗口.输入数据如图所示.以上设置也可通过调节按键区之[ SCALE ]旋钮完成逆时针旋转按键区之[ PDSITION ]旋钮,将图中波形尾端调至第一个虚线格中.对接地片进行修剪,并将其套在测试探头之地线连接轴上将测试手柄探针插入阻抗线之信号孔(阻抗线中直接与线路相连的孔),将接地片插入接地孔,轻微用力压下保持压下状态,待窗口中波形平滑稳定为止键保存测试波形,运用[ Position ]或节,将波形结束端停留在最后一个虚线格中测试结果显示在窗口右边之结果显示字段中C3”为特性阻抗;47.26923”为特性阻抗测试值.6.2.1差动阻抗测试步骤说明:单击菜单列[SETUPS]之下拉式菜单[TDR][SETUP DIALOGS]打开测试通道选择窗口点选C3与C4后,将[On Polarity]及[On Units][On Units]栏的小三角符号打开下拉菜单位.注意图中红框圈住部分,C3为[ ]向上,C4单击快捷菜单列之[ F X ]键,打开函数计算窗口在[Math Waveform]窗口中选择[M1],在[Math输入“C3+C4”,并将[M1]右边的[ON]选项打勾按[OK]键保存并退出.[Setups]之[Meas]菜单,打开输出数据类型选择,[Meas 1],并将其右边之[ON]选项打勾.[Select Meas]选择下拉式菜单之[Pulse-Amplitude],下拉式菜单中根据需要选择数据输出类型,平均值[Region]按键,在显示的[G1]字段中输入70%,并将[On]选项打勾.设置如图.如需选择测试结果的最大值(Max)或最小值(Min),步骤与第8步骤进行设置单击图中红框圈入部位之计算器图标,在出现的窗口中字段中输入“25”,点[OK]键保存设置.调节按键区之[ SCALE ]旋钮,将图中黄框中所圈数字调整“200ps”.调节探头两支测试针之间距,将其放入待测差动线的两个信号孔上(直接与阻抗线连接的孔),轻微用力下压保持压下状态,待窗口中波形平滑稳定为止保存测试波形,运用[ Position ]或[ SCALE波形结束端停留在最后一个虚线格中.测试结果显示在窗口右边之结果显示字段中“M1”为差动阻抗;“74.12051”为差动阻抗测试值.七.环境条件7.1工作站环境要求:7.1.1.温度管控在22+/-2℃﹐湿度管控在55+/-5%。
Agilen阻抗分析仪使用手册
Agilent 4294A阻抗分析仪使用手册华中科技大学激光技术国家重点实验室2002年1月目录目录......................................................................................一、介绍..............................................................................二、基本原理： .................................................................三、A GILENT 4294A的主要技术指标: .............................四、前/后面板、硬/软键介绍 ...........................................五、测量方法......................................................................一、介绍Agilent 4294A精密阻抗分析仪可以对各种电子器件（元件和电路）以及电子材料和非电子材料的精确阻抗测量提供广泛的支持。
它是对电子元件进行设计、签定、质量控制和生产测试的强有力工具。
它所提供的性能和功能对于电路设计开发人员将获益匪浅。
此外，Agilent 4294A的优良测量性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供强有力的工具。
它具有：·在宽阻抗范围的宽频率范围内进行精确测量·强大的阻抗分析功能·便于使用并能用多种方式与PC机配套电子器件：无源元件：二端元件如电容器、电感器、铁氧体珠、电阻器、变压器、晶体/陶瓷谐振器、多芯片组件或阵列/网络元件的阻抗测量。
半导体元件：变容二极管的C－V（电流－电压）特性分析；二极管、晶体管或集成电路(IC)封装终端/引线的寄生分析；放大器的输入/输出阻抗测量。
阻抗仪操作规程(3篇)
第1篇一、概述阻抗仪是一种用于测量生物组织阻抗的仪器，广泛应用于生理学、医学、生物工程等领域。
本规程旨在指导使用者正确、安全地操作阻抗仪，确保测量结果的准确性和实验的安全。
二、操作前准备1. 确认仪器状态：检查阻抗仪是否处于正常工作状态，包括电源、显示屏、按键等。
2. 校准仪器：根据仪器说明书进行校准，确保测量精度。
3. 准备测试对象：选择合适的测试对象，确保其符合测试要求。
4. 配置测试参数：根据测试需求设置测试参数，如频率、波形、采样率等。
三、操作步骤1. 开启仪器：按下电源按钮，启动阻抗仪。
2. 连接电极：将电极正确连接到阻抗仪的电极夹上，确保连接牢固。
3. 选择测试模式：根据测试需求选择相应的测试模式，如人体阻抗测试、液体阻抗测试等。
4. 设置测试参数：根据测试对象和需求设置测试参数，如频率、波形、采样率等。
5. 准备测试对象：将被测试对象放置在测试平台上，确保其与电极充分接触。
6. 开始测试：按下测试开始按钮，仪器开始采集数据。
7. 观察数据：在显示屏上观察实时数据变化，必要时调整测试参数。
8. 数据记录：将测试数据记录在实验记录本或电子文档中。
9. 测试结束：完成测试后，关闭测试模式，断开电极连接。
四、注意事项1. 操作过程中，严禁触摸电极和测试对象，以免影响测量结果。
2. 防止电极受潮，定期检查电极夹和电极片，确保其干燥、清洁。
3. 避免将阻抗仪放置在高温、潮湿、有腐蚀性气体的环境中。
4. 使用过程中，如发现异常情况，立即停止操作，并通知专业人员处理。
5. 定期对阻抗仪进行维护和保养，确保仪器正常运行。
五、操作后处理1. 关闭仪器：完成测试后，关闭阻抗仪电源。
2. 清理电极：使用酒精棉球清洁电极夹和电极片，避免残留物影响下次测试。
3. 收集实验数据：整理实验记录，确保数据完整、准确。
4. 检查仪器状态：检查阻抗仪是否完好，如有损坏，及时更换或报修。
六、附则本规程适用于所有阻抗仪的操作，具体操作步骤可能因仪器型号和功能有所不同。
ilentEB网络分析仪使用方法精编版
i l e n t E B网络分析仪使用方法公司内部编号：（GOOD-TMMT-MMUT-UUPTY-UUYY-DTTI-前面板：部件的名称和功能按键工作通道/迹线区用于选择工作通道和迹线的一组按键。
输入区E5061B 的前面板上提供了用于输入数字数据的一组按键。
仪器状态区与宏程序功能、存储和调用功能、控制/管理功能以及预设 E5061B（将其返回到预设状态）相关的一组按键。
标记/分析区用于通过使用标记等来分析测量结果的一组按键。
最小值、峰值和带有目标值的点）。
还可以查找带宽参数（最多六个）并显示它们。
Marker Fctn 在中显示“Marker Fctn”菜单。
通过操纵“Marker Function”菜单，不仅可以指定通道中的标记扫描范围和标记耦合，还可以显示迹线上的统计数据。
Analysis在中显示“Analysis”菜单。
通过操纵“Analysis”菜单，可以使用故障定位、SRL 和每个极限测试的分析功能。
浏览区（前面板上没有标签）浏览区中的按键和旋钮用于在功能键菜单、表格（极限表、分段表等）或对话框中的选定（高亮显示的）区域中进行浏览，以及通过增加或减少来更改数据输入区域中的数值。
当使用屏幕上显示的浏览区按键，从两个或多个对象（功能键菜单、数据输入区域等）中选择一个要操纵对象的时，首先按中的 Foc（聚焦）键，以选择要操纵的对象（将焦点置于该对象上），然后操纵浏览区按键（旋钮），在选定（高亮显示）的对象之间移动或更改数值。
下面的描述说明了当焦点在功能键菜单上时和当焦点在数据输入区域中时浏览区按键的作用。
有关操纵表和对话框的更多信息，请参考所有这些功能的操纵步骤。
按键名称说明旋钮（顺时针旋转或逆时针转上下移动对功能键的选择（高亮显示）。
动）上/下箭头键上下移动对功能键的选择（高亮显示）。
右箭头键显示上一层功能键菜单。
左箭头键显示下一层功能键菜单。
Enter或旋钮（按下）执行选定功能键的功能。
阻抗分析仪的原理介绍
阻抗分析仪的原理介绍阻抗分析仪（Impedance Analyzer）是一种电学测试仪器，用于测量电路或设备的阻抗（Impedance）。
阻抗是描述电路或设备对输入信号的响应的参数，通常用复数来表示。
阻抗的定义和表示阻抗是电路或设备对输入信号的响应，通常包括阻抗大小和相位。
因此，阻抗一般用复数表示，表示为Z = R + jX，其中R是阻抗的实数部分，X是阻抗的虚数部分，j是虚数单位，满足j²=-1。
阻抗分为两种类型：纯电阻和纯电容阻抗。
当X为0时阻抗为纯电阻，当R为0时阻抗为纯电容阻抗，而当R和X都不为0时阻抗为复合阻抗。
阻抗分析仪的工作原理阻抗分析仪是通过对电路或设备发送一系列频率相同、大小不同的信号，并测量输出信号与输入信号之间的差异，计算阻抗的大小和相位，从而得到被测设备的阻抗信息。
阻抗分析仪的核心部件是信号发生器和检测器，信号发生器负责产生连续的正弦波信号，检测器负责测量反射回来的电压信号。
在测量时，信号发生器会发送一段正弦波信号，并将该信号送到被测电路或设备输入端。
随后检测器会检测输出端的电压信号，并将其与输入信号进行比较和分析，计算出被测电路或设备的阻抗信息。
阻抗分析仪可以在一定电压、电流条件下进行测量，并可以根据所需测量的参数（如阻抗大小、相位等）和测试频率进行设置。
一般情况下，阻抗分析仪可以测试100 Hz至1 MHz范围内的频率。
阻抗分析仪的应用阻抗分析仪广泛应用于电子设备、电池、太阳能电池等领域，主要用于测试电路或设备的阻抗、谐振频率、损耗等参数，以及帮助分析电路或设备的性能和故障。
例如，在电子领域中，阻抗分析仪可以用于测试电容、电感和滤波器等电路元件的性能，以及测试线路板和金属结构的阻抗和电磁兼容性。
在太阳能电池领域中，阻抗分析仪可以用于测试太阳能电池的阻抗特性、电子传输性能、损耗等参数。
总结阻抗分析仪是一种用于测量电路或设备阻抗的仪器，它通过发送一系列频率相同、大小不同的信号，并测量输出信号与输入信号之间的差异，来计算阻抗的大小和相位。
Agilent4294A精确阻抗分析报告操作手册
2.5实行测量并且观察结果
2.5.1连接DUT
Step1.逆时针方向转动电极的固紧螺丝，增加Agilent 16047 E的高、低电极之间的距离。
当安装1D5时，连接4294A后面板位于REF OVEN和EXT REF INPUT接口。选项1D5使Agilent4294A的测试信号更稳定、准确。
1.5使用局域网（LAN）端口
你可以用双扭非屏蔽线通过Agilent4294A后面板的连接器将其接入局域网。
步骤1：连接Agilent4294A到局域网，安全地插入局域网电缆到局域网端口。
湿度：15%—80%（相对湿度）
注意：超过温度范围将会导致仪器内部的凝聚。
1.9安装地点提供空旷地来散热
为了保证足够的通风，确保仪器后面至少180mm内、两边至少60mm内空旷。
为了保证产品测量准确，必须保证周围温度不超过范围，提供足够的冷却空间，也可以在室内放空调。
1.10清洁指南
断开Agilent4294A电源线以免发生电击。
Step2.把DUT的引线插到高、低电极里。
Step3.转动高、低电极的固紧螺丝，固定DUT的引线。
Step1.把16047 E测试夹具安到Agilent4294 A前面板上的测试接口上。
Step2.渐渐地旋转其中两个BNC接口上的旋转杆，使每对接口完全连接，确保使凹槽排列在两者的边上。
Step3. 顺时针拧夹具上的两个螺丝。
Step4. 顺时针旋转夹具上两个BNC接口的旋转杆，固定好夹具。
ilabpower eln使用手册
ILabPower ELN使用手册是为用户提供关于如何使用ILabPower ELN系统的指南。
ILabPower ELN是一种实验室信息管理系统，旨在帮助实验室人员更好地管理实验数据、样品和试剂等信息。
手册首先介绍了ILabPower ELN系统的基本概念和功能，帮助用户了解该系统的背景和基础。
接着，手册详细介绍了如何安装和配置ILabPower ELN系统，包括硬件和软件的安装、系统配置和网络设置等。
用户可以根据手册的指引正确地安装和配置系统，确保其正常运行。
在完成安装和配置后，用户可以使用手册中的指南开始使用ILabPower ELN系统。
手册将指导用户如何创建和管理实验项目、样品和试剂信息，如何记录实验数据和结果，以及如何进行数据分析和报告生成。
此外，手册还提供了关于ILabPower ELN系统的安全和备份等方面的指导，帮助用户保护数据的安全性和完整性。
总的来说，ILabPower ELN使用手册为用户提供了一套全面而详细的指南，帮助用户更好地使用ILabPower ELN系统。
通过阅读这本手册，用户可以快速上手并充分利用ILabPower ELN系统的各项功能，提高实验室的工作效率和数据质量。
ilentBC气相色谱质谱联用仪操作规程
i l e n t B C气相色谱质谱联用仪操作规程Document serial number【NL89WT-NY98YT-NC8CB-NNUUT-NUT108】1. 开机1）打开载气钢瓶控制阀，设置分压阀压力至。
2 ) 打开计算机，登录进入 Windows 7 系统。
3）打开 7000C（若 MSD真空腔内已无负压则应在打开 MSD电源的同时用手向右侧推真空腔的侧板直至侧面板被紧固地吸牢），等待仪器自检完毕。
4）桌面双击 GC-MS 图标，进入 MSD 化学工作站5）在上图仪器控制界面下，单击视图菜单，选择调谐及真空控制进入调谐与真空控制界面 , 在真空菜单中选择真空状态，观察真空泵运行状态，此仪器真空泵配置为分子涡轮泵，状态显示涡轮泵转速涡轮泵转速应很快达到 100 % ，否则，说明系统有漏气，应检查侧板是否压正、放空阀是否拧紧、柱子是否接好。
2. 调谐调谐应在仪器至少开机 2 个小时后方可进行，若仪器长时间未开机为得到好的调谐结果将时间延长至 4 小时。
1）首先确认打印机已连好并处于联机状态。
2 ) 在操作系统桌面双击 7000C 图标进入工作站系统。
3）在上图仪器控制界面下，单击仪器菜单，选择MS调谐进入调谐与真空控制界面。
4 ) 进行自动调谐 , 调谐结果自动打印。
5 ) 如果要手动保存或另存调谐参数，将调谐文件保存到中。
6 ) 然后点击视图然后选择仪器控制返回到仪器控制界面。
注意 : 自动调谐文件名为标准谱图调谐文件名为其余调谐方式有各自的文件名 .3. 样品测定方法建立 1 ） 7890B配置编辑点击仪器菜单 , 选择编辑 GC 配置进入画面。
在连接画面下，单击【仪器】【GC参数】，设置ALS，进样口，色谱柱，柱温箱参数。
2）分流不分流进样口参数设定,点击【仪器】【GC参数】在空白框内输入进样口的温度为250℃，选择隔垫吹扫流量模式标准，输入隔垫吹扫流量为 3ml/min 。
对于特殊应用亦可选择可切换的，进行关闭。
阻抗分析仪操作明
阻抗分析儀操作說明一、打開電源暖機電源開關阻抗分析儀操作面板備註：表示操作面板上既有的按鈕指令。
表示螢幕顯示按鈕上的按鈕指令。
二、校正儀器(1) 按鈕 Cal FIXTUER COMPEN OPEN 為開迴路效正，聽到BI 一聲即可 (黑、紅鱷魚夾量測頭不接觸) 。
(2) FIXTUER COMPEN SHORT 為閉迴路效正，聽到BI 即可 (黑、紅鱷魚夾量測頭接觸) 。
螢幕顯示按鈕(3) 接上量測試片設定頻率範圍，Start 為開始頻率設定，Stop 為結束頻率，初始設定為40HZ~1MHZ，最大可到110MHZ。
(4) Scale Ref AUTO SCALE 自動掃頻。
(5)Trigger HOLD自動掃頻中止SINGLE 自動掃頻一次GROUP自動掃頻依所輸入次數CONTINOUS 連續自動掃頻三、量測種類選取(1) 按鈕Meas Z-θ為阻抗量測。
(2) 按鈕Meas Cs-D 為電容及tangent loss量測。
量測以1KHZ下量測。
四、畫面顯示指令(1) 按鈕A、B 可在量測圖形或相位圖下做不同的顯現方式。
(2) 按鈕Display SPLIT ON 或OFF 為量測圖形跟相位圖是否分開顯示。
(3) 按鈕 FormatLin 或 Log為以取線性或對數顯示。
(4) 按鈕 MARKER 為移動指標到所要之位置。
可直接以數字輸入指定位置或以旋轉鈕調整。
五、等效電路量測(1) 按鈕 Display EQUIV CKT CIRCUIT ON 或 OFF 顯示電位種類。
(2) 按鈕 Display EQUIV CKT SELECT CIRCUIT (A~E)選取所要之等效電路圖。
(3) CALCULATE PARAMETERS 計算等效R1、L1、C1、C0等值。
(4) PARAMETERS ON 或OFF 為是否顯示R1、L1、C1、C0等值。
旋轉鈕數字輸入六、按鈕指令補充(1) 按鈕Marker MKR ON 或 OFFSUB MKR 可在圖形中加入其他標記CLEAR SUB MKR 清除其他標記(2) 按鈕 Utility MKR LIST ON 或 OFF(3) 按鈕 Search MAXMINPEAK NEXT PEAKNEXT PEAK LEFTNEXT PEAK RIGHT。
阻抗测量仪操作指南
阻抗测量仪操作指南引言阻抗测量仪作为一种常用的电子测试仪器，广泛应用于各个领域，包括电子工程、通信、医学和材料科学等。
它可以用来测量电路元件和材料的阻抗特性，有助于工程师和科研人员进行可靠性分析和性能评估。
本文将为大家提供一份简明扼要的阻抗测量仪操作指南，帮助读者了解如何正确使用和操作阻抗测量仪。
1. 基本原理阻抗测量仪基于交流电路理论和电压、电流测量原理。
它通过向电路中施加交流电压或电流信号，并测量电路中的电压和电流响应，从而计算得到电路的阻抗。
阻抗测量仪一般包括信号源、测量电压或电流的通道、计算器和显示器等组成部分。
2. 仪器设置在开始阻抗测量之前，首先需要正确设置仪器。
通常，仪器上会有一些旋钮和按钮，用于选择测量的参数和模式。
根据测量需求，需要选择合适的参数，如频率、信号幅度等。
此外，还需要连接合适的电缆和传感器，确保仪器与待测物之间的连通性良好。
3. 校准与校验阻抗测量仪的准确性对于测量结果的可靠性至关重要。
因此，在进行正式的测量之前，应当进行校准和校验。
校准可通过使用标准电阻和电容等校准件进行，以确认仪器的准确性。
校验则可以通过测量已知阻抗的元件或材料，验证仪器的准确性。
在校准和校验过程中，应当遵循仪器的操作手册和相关标准，确保结果的准确性和可重复性。
4. 测量步骤在进行阻抗测量时，需要按照以下步骤进行：(1) 设置合适的频率和信号幅度。
一般情况下，需要根据被测物的特性进行选择。
低频适用于测量大电容和大电感，而高频适用于测量小电容和小电感。
(2) 将被测物与仪器连接。
根据被测物的类型，选择合适的电缆和传感器，并正确连接到仪器上。
(3) 开始测量。
根据仪器的操作手册，按下开始测量的按钮或旋钮，仪器即会开始采集数据并进行计算。
(4) 分析和记录结果。
通过显示屏或输出接口，可以获得测量结果。
根据需求，可以对结果进行分析和处理，并记录在相关文件或报告中。
5. 结果解读阻抗测量仪的测量结果主要体现为电阻、电感和电容等参数。
阻抗分析仪产品说明书
压电陶瓷、超声清洗机、超声焊接机、超声传感器、水声传感器检测仪—阻抗分析仪PV50A、PV70A北京邦联时代电子科技有限公司Tel : 86-10-6255 42181.公司简介北京邦联时代电子科技有限公司由姚成刚（清华大学自动化系博士）、刘致立（清华大学计算机系博士）、肇津法（清华大学电力工程系博士）三人联合创立的，以高科技开发和研发实业化为基础的高新实业型技术公司。
公司聘请清华大学周铁英教授、中国科学院声学所朱厚卿教授、北京大学电子系栾桂冬教授、张金铎教授为公司技术顾问。
该公司目前已开发出取代进口仪器的、应用于工业超声、水声领域的阻抗分析仪PV50A、PV70A、PV70B（获清华大学挑战杯奖）和针对电力系统的远程测控系统VO2005以及工业控制领域的MS30等软硬件系统，已在多个工业领域取得显著的实际应用成果！公司在过去两年里取得了1项国家发明专利、2项实用新型专利。
本公司将本着为客户提供先进、实用的产品、周到的服务为己任。
我们的理念：诚实正直、信任、尊重和团队协作、发明和技术创新。
快速、创新，服务、团队，分享、价值是我们永恒的追求。
2.产品介绍产品外观图：计算机操作界面图：本仪器是由清华大学和中国科学院声学所共同研制开发的，主要用于压电器件和设备的检测，是对压电器件和设备进行测量和分析的综合性解决方案，可以既快又方便地评估和测试压电器件的参数特性。
阻抗分析仪是根据超声设备生产过程中一些无法直观看到的，但对产品质量却有重要影响的技术指标，进行测量的一种可取代进口仪器的一种设备。
他的特点是：易用、指标和图形相结合、参数准确、价格低廉、对生产的可指导性非常强等。
阻抗分析仪主要适用对象为各类超声器件阻抗特性的测量，包括：压电陶瓷、换能器、超声清洗机、超声塑焊机、水声、磁致伸缩材料、超声粉碎机、超声雾化、超声洁牙、倒车雷达、超声测距、超声乳化、超声除垢、超声马达等等所有使用超声的设备。
对压电器件的进行阻抗测量是正确使用器件的前提条件。
阻抗测试操作及说明
作业内容：1开机程序1.1 开机前准备:分别将阻抗测试仪,电脑主机和显示屏接好电源. 将两根“MainCable ”电缆线分别接到“POLAR ”阻抗测试仪的“Main ”端口上,将1M 欧姆的防静电环插头接到“POLAR ”测试仪的“Wrist Strap ”端口上.如有需要,也可将脚踏开关接到“Foot Switch ”的端口上.根据测试需要,分别在“Main Cable ”的另一端口接上测试探头,测单线阻抗使用“POLAR IP-50”探头,差分线阻抗接“POLAR IP-100”探头.1.2开机:打开“POLAR ”测试仪的“Power ”开关,此时仪器面板上的“Power ”显示灯会亮红灯,表示电源已接通;再打开电脑显示屏开关,最后打开电脑主机开关..2菜单功能简介主菜单子菜单 主菜单子菜单New(开启新档) Details(详细客户资料) Open(开启旧档) Clear Results(清除结果) Save(储存) Insert(插入测试档案) Save as(另存新档)Delete(删除测试档案) Print(打印) Edit(编辑测试档案) Print Preview(预览列印) Test(执行测试档案) Recent(最近开启档案)Board Cut(剪下测试档案) Copy(复制测试档案)Exit(退出)Autolog(自动资料收集) Pasie(贴上测试档案)Auto Advance(选择记录状态) Board Note(备注) Datalog now(记录现在资料)Config(系统设定) Edit Line(编辑线)Import(档案输入) FileDatalog Report Generato(产生资料报告)Utilities Dignostics(诊断)主菜单子菜单主菜单 子菜单 View Reference(检视参考波形) Cursors(游标) Save Reference(储存参考波形)Graticule(网状背景) Overlay(重叠覆盖的波形) Select Testlist Columns(选择测试项目栏) Save Waveform(储存波形) Select Datalog Columns(选择收集项目栏)VerformView Stored Waveform(检视储存波形) Tool Bar(工具列)ViewStatus Bar(状态列)Display in mRho(mRho 显示)3测试步骤3.1将防静电环套在左手腕上.3.2双击电脑Windows 操作窗口中的“CITS800S ”快捷方式图案(如图1所示),此时操作软件和“POLAR ”测试仪会进入联机状态,若连接成功,测试仪面板上的“Busy ”灯会点亮1-3秒,并自动熄灭,软件进入操作主界面(如图2所示):3.3若待测试板以前曾经测试过,可以直接点击“File ”,再点击“Open ”,从存储文件夹中测试资料进行测试;若为新文件,则需重新建立测试资料.3.4新测试资料的建立:用鼠标左键点击“End ”,再点击右键,此时系统会弹出一主菜单,再点击菜单“Insert Test ”(如图3所示),出现测试参数设置的编辑框“Test Setup Editor ”.可根据提示输入相应的参数值,但在“Impedance ”中必须输入待测阻抗板的标准值;“Side ”可根据测量的面向选择“Top ”或“Bottom ”;根据测量的类型在“Probe ＆ Channel Select ”中选择单线阻抗(Single-Ended)或差分线阻抗(Differential Test),其它选项可以系统默认值为准,填写完成后按“OK ”键,系统将进入测试状态.(如图4所示),图3 图43.5系统进入测试状态后,选择待测阻抗条.用“IP-50”或“IP-100”的各探头与待测阻抗条的各孔接触完整,点击回车键“ENTER ”或踩脚踏开关,用鼠标点击“TEST ”标识.此时,仪器开始测量阻抗条的阻值,若符合阻抗值的要求,系统会提示“PASS ”;若不合格,系统会提示“FAIL ”,若多次测量仍为“FAIL ”则说明被测阻抗板的阻抗值达不到要求.3.6系统测试“PASS ”后,用鼠标拖动两条范围曲线,前面一条以曲线由上升变化为较平位置为起点,后面一条以曲线由较平变化为上升为终点(如图5所示).此操作完成后,点击“BOARD ”菜单中的“SNAP TESTLIMITSTO PERCENT BETWEEN CURSORS ”,系统会出现提示框,点击“OK ”键即选择,再点击“保存”,“OK ”即可进行测试.图1 图23.7测试:将待测试板平放再桌面上,分清TOP 和BOTTOM 层面,.然后将测试探头“IP-50”或“IP-100”的有“POLAR ”标识一面的两个(或一个)探头对准待测线条,保证接触良好.用鼠标点击测试按键,仪器自动进行测试,若测试合格,系统提示“PASS ”;不合格则提示“FAIL ”(如图6所示),若保存数据,点击“OK ”即可.(注意测试过程中要戴防静电环.)3.8测试完一个样件后,选取下一个样件进行测试.4阻抗测试仪的校正 4.1校正程序4.1.1 选择Utilities,然后再选择Diagnostics 指令,此时屏幕将显示校正的主画面. 4.1.2 校正前先确认TDR 面板仅接同轴电缆线,将不接测试棒,因校正程序第一步骤需确认同轴电缆线的水平传输时间符合要求,水平传输时间应在±10PS 内.4.1.3 确认水平时间应选择屏幕上的Learn Cable Length 功能,TDR 将自动检测水平传输时间.4.1.4 选择欲校正的阻值,如50欧姆,100欧姆.4.1.5 选择Check 键功能,将要求操作者输入已知的Air Line 数值. 4.2校正后的数值误差修正4.2.1 按住键盘CTRL 键不放,将鼠标的指示标识移至校正画面左上角的Lcon 标识,同时鼠标右键连按二次.4.2.2 在校正画面内将显示修正的指令栏.4.2.3 此时在Learn Cable Length 及Check 指令的右方将显示Apply Correction 指令,如修正水平传输时间的误差或参考阻抗值的误差,需按下Apply Correction TDR 将会自动修正.4.2.4 如水平传播时间及参考阻抗值都校正及修正完成后,按下OK 键即完成所有校正程序.5量测环境要求温度:22±2℃ 湿度:55±5% 6操作注意事项6.6.1操作时,必须全程配戴防静电手环.6.6.2操作时,严禁将探棒接近萤幕,以防静电造成损坏. 6.6.3测试前,须打开阻抗测试仪预热1小时.。
阻抗分析仪的操作与应用
阻抗匹配|匹配步骤
步骤6：匹配结束后，在Schematic一栏下可查看等效电路，其中ZL表示原始输入 阻抗，图标“ || ”为匹配电容，电容值为 9.4nF 。由此可知，需对感应线圈并联 9.4nF的电容，以使在160kHz频率处，感应线圈的阻抗的相角值为0。 注意：取消点击鼠标右键，点击两次，完全清除。
[System]-对仪器进行全局控制 [Local]-在被远程操控和本地工作状态间切换 [Preset]-将仪器恢复至出厂状态 [Copy]-将屏幕信息打印输出 [Save]-对数据、图标等信息进行存储. [Recall]-载入目标文件的参数 LCD 屏右侧软键配合以上①—⑥项进行使用
⑥
目录
阻抗分析仪简介
阻抗分析仪扫频|扫频结果
设计中心频率为 200kHz ，扫频中心频率为 207kHz，结果相对吻合。
目录
阻抗分析仪简介
阻抗参数测量 阻抗匹配
阻抗分析仪扫频
测量数据存储
数据采集|采集步骤
阻抗匹配|匹配步骤
步骤7：要将电路模型导出至word文档，点选主菜单的Edit-Copy，在弹出的Copy to Clipboard窗口中进行设置，单击OK，即可在word文档里通过Ctrl+V进行复制。
阻抗匹配完成后，对电容进行容值测量，使其为 9.4nF ，此处的电容一般为 瓷片电容，需具有300V以上的耐压值。市场购买的电容标称值一般有较大误差， 需要通过实际容值测量确定其精确容值。准备好电容后，将其与感应线圈进行并 联，并联后仍需再次利用Agilent 4294A型网络分析仪对其精确阻抗进行测量，观 察相角是否已调整为0，一般在正负10度范围都可以接受。
③
阻抗分析仪简介|前面板
④
旋钮-可连续调节数值 [↓] 和[↑]-可步进调节数值 [Entry Off]-关闭输入 [Back Space]-删除键 [0] - [9] [.] [-]-可设置具体数值及命名文件名 [G/n][M/μ][k/m][x1]-设置变量单位
4294阻抗分析仪磁谱测试手册
附录一 阻抗分析仪操作说明 1 打开电源，预热 30 分钟，装上 42942A terminal adapter（夹具 16454A 需要使用 42942A terminal adapter，使用 42942A terminal adapter 必须校准）。 2 校准：按仪器面板上的 cal 调出 Calibration menu→按 ADAPTER[ ]调出 Adapter Setup Menu→按 7 mm 42942A→SETUP→顺时针旋转 7 mm 42942A 的 OUTPUT port 平接头。 2.1 将校准头 OPEN 连接到 OUTPUT port 平接头→按 PHASE COMP[-]，等待直到 屏幕显示 PHASE COMP[DONE]→按 OPEN[-]，等待直至屏幕显示 OPEN[DONE]， 取下校准头 OPEN； 2.2 将校准头 SHORT 连接到 OUTPUT port 平接头→按 SHORT[-]，等待直到屏幕 显示 SHORT[DONE]，取下校准头 SHORT； 2.3 将校准头 LOAD 连接到 OUTPUT port 平接头→按 LOAD[-]，等待直到屏幕显 示 LOAD[DONE]，取下校准头 LOAD→按 done，完成校准。 3 装上夹具。 4 夹具补偿：按 cal 调出 Calibration menu→按 FIXTURE COMPEN，调出 FIXTURE COMPEN Menu。 4.1 使夹具处于断路状态。按 OPEN，进行开路补偿，等待直至屏幕显示 OPEN ON off； 4.2 使夹具处于短路状态。按 SHORT，进行短路补偿，等待直至屏幕显示 SHORT ON off； 4.3 将标准负载连接到测试夹具上。按 LOAD，进行负载补偿，等待直到屏幕显示 LOAD ON off。 5 选择测量参数：按仪器面板上的 meas，按需要测定参数的按钮。若不选择，则 两个通道分别默认为 z 和 θz。
阻抗分析仪的特性呢 分析仪如何操作
阻抗分析仪的特性呢分析仪如何操作阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行精准明确测量，它利用物体具有不同的导电作用，在物体表面加一固定的低电平电流时，通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。
阻抗分析仪的特性：1、基本精准明确度:0.05[%]2、频率精准明确度:±0.005[%]3、量测参数:Z, L, C, R, Q, D, Y, G, B, X4、输出:10mV to 1V rms, 200uA to 20mA rms5、显示格式:串/并联电路,或两极式6、图形分析模式:任选两种参数依频率及直流偏压源扫描7、电表模式:可当标准LCR电表使用8、待测:组件连接9、备有很多的可选附件以供不同的测试需要.10、消耗因素:±0.0005（1+D*D2）11、质量因素:±0.05[%]（Q + 1/Q）阻抗分析仪紧要适用对象为各类超声器件阻抗特性的测量，包括:压电陶瓷、换能器、超声清洗机、超声塑焊机、水声、磁致伸缩材料、超声粉碎机、超声雾化、超声洁牙、超声测距、超声乳化、超声除垢、超声马达等等全部使用超声的设备。
气相色谱分析仪器检测使用探讨气相的气路系统，是一个载气连续运行、管路密闭的系统。
气路系统的气密性，载气流速的稳定性，以及流量测量的精准性都对色谱试验结果有影响，需要注意掌控。
气相色谱分析检测过程中，气相色谱仪对所用的气体纯度有较高的要求，为即达到工作要求，又能延长寿命，所用气体的纯度要达到或略高于仪器自身对气体纯度的要求；否则，若使用不符合要求的低纯度气体，会造成一系列不良影响；一般情况下，气体纯度选择应把握以下原则，即微量分析比常量分析要求高，毛细管柱分析比填充柱分析要求高，程序升温分析比恒温分析要求高，浓度型检测器比质量型检测器要求高，配有甲烷装置的FID比单FID要求高，中高档仪器比低档仪器要求高。
气相色谱中常用的载气有：氢气、氮气、氦气、氩气和空气。
Alere i 分析仪产品说明书
Alere™i Molecular. In minutes.™Alere™ i combines the benefits of speed and accuracy. You no longer need to compromise when testing your patients and making clinical decisions. A rapid molecular result with Alere™ i means no longer having to choose.Increase the likelihood of detection withAlere ™i .Speed andaccuracy combined.SPEEDP E R F O R M A N C EPCRCultureLateral FlowReadersConventional non-molecular methods have suboptimal limits of detection. Samples with low viral/bacterial loads could result in a false negative result.Even when starting with only a few hundred viruses or bacteria, Alere ™ i amplifies the sample up to a trillion times! Revolutionary molecular amplification increases the likelihood of detection, andmay compensate for suboptimal sample collection.POSITIVE PATIENTSAMPLEAlere ™ i is an innovative rapid molecular system with unique technology; making testing significantly faster than any other molecular method and more accurate than conventional rapid testing.CONVENTIONAL NON-MOLECULAR METHODSFALSE NEGATIVETRUE POSITIVEAlere ™ i features a unique isothermal nucleic acid amplification technology; all within a self-contained test cartridge. Instead of thermal cycling, the system uses enzymes to rapidly drive the amplificationprocess, and works at a single constant temperature.0M45M1H2H3H4H12H>24HAPPROX. TIME * Alere ™ i Influenza A & B provides results in less than 15 minutes. Alere ™ i Strep A provides results in 8 minutes or less. Alere ™i RSV provides results in 13 minutes or less.Sample to result in less than 15 minutes*15'design and small footprint, Alere ™ i is ideal in multiple settings that impact patient care.Visual touchscreeninterfacewith step-by-step instructionsAutomatedon-screen resultseliminates all subjectivity and interpretation errorsSmall and portablemaximizes bench space andcan be used at the point of careOut-of-the-box connectivityto industry leading open platformconnectivity solutions.Color-coded test consumablesto guide the userFirst-ever CLIA waived molecular tests© 2018 Alere. All rights reserved. The Alere Logo, Alere, Molecular. In minutes. and Test Target Treat are trademarks of the Alere group of companies. 120001915-04 02/18Contact your local Account Executive today or visit to learn more.1.877.441.7440 | Access to timely information enables targeted treatment decisions.Available Alere ™ i T estsAlere ™ i Influenza A & B CLIA waived Alere ™ i Strep A CLIA waived Alere ™ i RSV CLIA waivedAlere ™ i provides molecular sensitivity within an actionable timeframe, allowing the prudent use of antibiotics. Want to learn more about rapid diagnostics and antimicrobial stewardship? Visit today.Ordering InformationProduct NameProduct CodeAlere ™ i Instrument NAT-024Alere ™ i Barcode Scanner OPR2001ZWU1201Alere ™ Universal Printer alereiprinter Alere ™ i Influenza A & B 24 Test Kit425-024Alere ™ i Influenza A & B Control Swab Kit 425-080Alere ™ i Strep A 24 Test Kit 733-000Alere ™ i Strep A Control Swab Kit 733-080Alere ™ i RSV 24 Test Kit 435-000Alere ™ i RSVControl Swab Kit435-080。
电阻分析仪IMPEDANCE ANALYZER IM7580 Series的说明书
IMPEDANCE ANALYZERIs HereCover measurement frequencies from 100 kHz to 3 GHzChoose from 5 Models3GHz High Performance ReliabilityProvided by: (800)404-ATECAdvanced Test Equipment Corp .®Rentals • Sales • Calibration • Service2SMD TEST FIXTURE IM9201 (option)Use the 6-in-1 SMD Test Fixture IM9201 (option) to perform easy and reliable measurements.* IM7587High-stability, high-speed sweeping measurement up to 3 GHzHigh-stability Impedance Measurement up to 3 GHz *a single device. High-stability measurement with minimal variability deliversoutstanding cost performance for research and development.3pact body.variability.ity and speed of measurements.also reduces external radia-tion and improves noise resis-tance, meeting a high level ofEMC, despite being the light-est in its class.Inside the solid shield Advanced Design for Reliable Testing4All modelsRepeatability and analog measurement time(Reference data)Maximum speed0.5msCut takt time and increase productivity.0.10.10.10.1IM7583, IM7585, IM7587IM7580A, IM7581Measurement frequency 3 GHzMeasurement frequency 500 MHzMeasurement frequency 100 MHzMeasurement frequency 200 kHzSignal level : +1dBm Sample A : 1nHSignal level : +1dBm Sample B : 1nHSignal level: +1dBm Sample C : 100nHSignal level: +1dBm Sample D : 100μH00.0040.0040.10.020.010.0080.0080.20.040.030.0120.0120.30.060.050.020.020.0160.0160.40.080.0711110.5ms0.5ms 0.5ms 0.5ms10101010High-speed, highly stable measurement(Analog measurement time)R e p e a t a b i l i t y (Z , 3C V ) [%]R e p e a t a b i l i t y (Z , 3C V ) [%]R e p e a t a b i l i t y (Z , 3C V ) [%]R e p e a t a b i l i t y (Z , 3C V ) [%]Analog measurement time [ms]Analog measurement time [ms]Analog measurement time [ms]Analog measurement time [ms]5Compact body for greater mobilityTest head fits in the palm of your handLarge display for easy operationThe half-rack compact body is light and fit not only for line use, but also when measuring various sites on the go.The slim profile of the test head lets you install it close to the measurement target to help minimize influence from noise and other effects and enabling more accurate mea-surement.Customize the large screen according to desired bright-ness, color, and text size to fit your environment.H i g h l y r e s p o n s i v e t o u c h screen makes measurement s et tings a nd adju st m e nt s even easier.Compact form factor – 2 analyzers fit side-by-side on a full-size rack.Remarkably lightweight and compact for a measuring instrument ofthis class.TurntableFixtureNumber of display digits (3/4/5/6)Customizable display color (Background and display colors)Customizable text sizeSpace-saving Half-rack Size6Photo: IM7581Photo: IM7585IMPEDANCE ANALYZER IM7580AIMPEDANCE ANALYZER IM7581IMPEDANCE ANALYZER IM7583IMPEDANCE ANALYZER IM7585IMPEDANCE ANALYZER IM7587Measurement frequency 1 MHz to 300 MHzMeasurement range L : 0.0531 nH to .795 mH C : 0.1061 pF to i.59 μF (Depending on the measurement frequency)Measurement signal level -40.0 dBm to +7.0 dBm Basic accuracy Z : 0.72% rdg. θ: 0.41°Measurement frequency 100 kHz to 300 MHzMeasurement range L : 0.0531 nH to 7.95 mH C : 0.1061 pF to 15.9 μF(Depending on the measurement frequency)Measurement signal level -40.0 dBm to +7.0 dBm Basic accuracy Z : 0.72% rdg. θ: 0.41°Measurement frequency 1 MHz to 600 MHzMeasurement range L : 0.0265 nH to 0.795 mH C : 0.0531 pF to 1.59 μF (Depending on the measurement frequency)Measurement signal level -40.0 dBm to +1.0 dBm Basic accuracy Z : 0.65% rdg. θ: 0.38°Measurement frequency 1 MHz to 1.3 GHzMeasurement range L : 0.0123 nH to 0.795 mH C : 0.0245 pF to 1.59 μF (Depending on the measurement frequency)Measurement signal level -40.0 dBm to +1.0 dBm Basic accuracy Z : 0.65% rdg. θ: 0.38°Measurement frequency 1 MHz to 3 GHzMeasurement range L : 0.0053 nH to 0.795 mH C : 0.011 pF to 1.59 μF (Depending on the measurement frequency)Measurement signal level -40.0 dBm to +1.0 dBm Basic accuracy Z : 0.65% rdg. θ: 0.38°Select Your Testing Frequency from 5 Models5 models support a wide variety of applicationsIM7580A 1MHz to 600MHz 1MHz to 1.3GHz1MHz to 3GHz1MHz10MHz 100MHz1GHz3GHz1MHz to 300MHz 100kHz to 300MHzDisplayDisplay zoom functionMonitor functionMonitor voltage : 0.0 mV to 1000.0 mV Monitor current : 0.000 mA to 20.000 mAmeasurement signal level being applied to components in real time.Sweep graph display (1-graph/4-graph display),XY graph display (1-graph/2-graph display),Multi-display (simultaneous display of sweep and XY),List display, Peak displayThe graph display can be switched based on the type of measurement being performed. (with a total of 7 layouts available)8Intelligent measurement and analysisContinuous measurement functionMeasured value search functionConvenient functionality for performing measurement,reviewing measurement results, and judging measured values.Functions available in analyzer mode Functions available in LCR modePerform continuous measurement in the order of the measurement conditions saved with the panel save function.Measurements can combine LCR and Analyzer Mode measurement conditions.Continuous measurement can be performed using up to 46 measurement condition combinations, and can be implemented from EXT I/O.Save or load the measurement conditions, compensation values, and compensation conditions set in LCR mode or analyzer mode.Panel save and load functionNumber of panels that can be savedLCR Mode measurement conditions 30Analyzer Mode measurement conditions16A: Panel numbers set for continuous measurement;B: Measured values; C: Parameter judgment resultsSelecting an Analyzer Mode panel displays the waveform.A B B C CThe cursor can be moved automatically to a user-selected measured value point for one set of sweep measurement results.Move the cursor automatically according to user-configured settings once sweep measurement is complete.Auto search functionSearch optionsMaximum value Moves the cursor to the maximum value.Minimum value Moves the cursor to the minimum value.TargetMoves the cursor to a user-set measured value.L-Max value Moves the cursor to the local maximum value (a filter can be set).L-Min valueMoves the cursor to the local minimum value (a filter can be set).A: Cursor; B: Search result point; C: Measured values at result pointABC9Area and peak comparison functionsEquivalent circuit analysis functionSimulation function/residual error display Check whether measured values fall inside a previously configured judgment area. These functions are ideal for use in verifying non-defective products.Obtaining an overall judgment for each sweepFor multiple-frequency simultaneous judgmentsIdentifying resonance pointsDefine a range by setting upper and lower limits and display the judgment results as IN or NG.Define a range by setting upper, lower, left, and right limits and display the judgment results as IN or NG.This function makes a judgment at a pre-set point during sweeping. (Up to 16 points)Area judgmentPeak judgmentSpot judgmentJudgment areaJudgment areaIN judgment: Inside area IN judgment: Inside area NG judgment: Outside area NG judgment: Outside area A: Analysis resultsAAnalyze individual component values (L/C/R) for elements in the following five circuits based on measurement results.R1C1L1R1C1L1R1C1L1R1C0C1L1R1C1L1Measured values Simulated valuesZFrequencyDifferencePerform simulations based on the result of equivalent circuit analyses, compare that to actual measured values, and check the validity of the analysis result.Display the residual error to check the gap between the actual measurement and simulation numerically.Area judgment screenSpot judgment screenPeak judgment screen10Fully equipped with a range of built-in functions necessary for accurate and stable measurement.Compensation functionMonitor the connection between the measurement terminals and the sample.This capability is ideal for carrying out contact checks of induc-tive components with low DC resistance values such as induc-tors, ferrite cores, and common-mode filters.Verify that components and terminals are in contact during measure-ment. The impedance analyzer will output an error if fluctuations in the RMS value exceed a user-configured range that has been set using the initially acquired RMS value waveform as the reference value.Judgments based on user-configured upper and lower contact resistance limits Guaranteed accuracy range 0.1 Ω to 100 ΩMeasurement timing Before measurement, after measurement, or before and after measurementOutput formatScreen display / EXT I/O OutputActivate this function in order to output a measurement terminal contact error if the impedance measured value is greater than a user-configured reference value. Valid setting range 1 Ω to 10000 ΩOutput formatScreen error display or EXT I/O error outputValid setting range 0.01% to 100.0% of the reference value Output formatScreen error display or EXT I/O error outputTo truly measure accurately, all analyzers should first be set up to their optimal state.Electrical length compensationOpen and short compensationOpen, short, and load calibrationThe compensation process involves calibrating the measurement setup, from the impedance analyzer to the reference surface (ei-ther the test head terminals or the sample connection terminals). Connect the calibration kit (standard for open, short, and load), measure each piece of calibration data, and remove the cause of the margin of error.Enter the length of the electrical connection between the reference surface and the measurement sample connection surface to allow compensation of error caused by phase shift.If mounting a fixture on the test head, it is necessary to enter the fixture’s electrical length.Eliminate the causes of errors (such as fixtures or measurement cables) from the calibration standard surface to the sample con-nection terminal.Test head terminals (Calibrationreference surface)Sample connection terminals (Calibration reference surface)Impedance analyzerTest headCable(1 m (3.28 ft) or 2 m (6.56 ft))Connector / cable / test fixtureMeasurement sampleFunctions for Efficient, Accurate MeasurementContact checkChecking contact before and after measurementJudging the contact state based on measurement resultsDetecting chatter during measurementDCR measurementHi-Z reject functionWaveform judgment functionMeasured value > Upper limit: Displays “HI .”Upper limit ≥ Measured value ≥ Lower limit: Displays “IN .”Measured value < Lower limit: Displays “LO .”DCR measurementContact check / Hi-Z reject function11Handler InterfaceSoftware Full KeyboardLarge Screen for Better Viewing and ControlFast Measurement and Easy Screen Display1234AC C PreviousPreviousCurrentTRIG PreviousCurrent CurrentBDTRIGEOM EOM EOMReset on Reset offHoldPulse DelayINDEX SignalERR ERRPerform intricate external control.Select whether to base input timing on the trigger’s risingedge or falling edge.B C A D Choose to enable or disable trigger input during measurement. Bydisabling input, you can prevent erroneous input caused by chatter.2. Reset judgment resultYou can set the timing at which judgment results are reset.On: Reset the previous judgment results at the measurementcomplete signal’s rising edge.Off: Retain previous judgment until next judgment is output.When using trigger-synchronized output, you can ensure that the analog measurement signal is only output once the measurement signal has turned off.Screen size comparison for the IM3570 and IM7580 at the same ratioTrigger-synchronized output: The measurement signal is only applied to the sample during measurement.1. Trigger inputTiming and enable/disable settingsSelect whether to use pulse or hold output for the measurement complete signal.Pulse: You can set the duration for which the measurementcomplete signal is placed in the “on” state.Hold: The measurement complete signal switches from “on” to“off” at trigger input.You can set the duration of the delay from output of judgment results to output of the measurement complete signal.3. Measurement complete signalOutput method and output delay4. Analog measurement signal Output delayThe touch screen is equipped with a full keyboard function. Comfortably and reliably perform various input operations.Larger touch screen than legacy models for improved readability and comfort.The multicore CPU achieves both high-speed measurement and high-speed communication, as well as easy screen operation. It is equipped with a display mode that, even with the measurement screen displayed, achieves the same high-speed response as if the screen were off.IM7580s screen IM3570 screen12Expansive Interface1. GP-IB2. RS-232C3. EXT I/O (Handler interface)5. USB (for PC connectivity)4. LANGP-IB INTERFACE Z3000RS-232C INTERFACE Z3001Main unit rearIM7587 Main unit front Test head included with the IM7580A / IM7581IM7580A / IM7581 Main unit sideIM7583 / IM7585 / IM7587 Main unit sidemeasurement PASS/FAIL judgments of power inductorsArea judgment14SMD TEST FIXTURE IM9201CALIBRATION KIT IM9905Exclusive OptionsAll-in-One Fixture for 6 SMD Sizes - Definitive 3GHz High Frequency Analysis Made Easy.2 Device Guides Let You Measure 6 Different SMD Sizes1. Install the device guide and position the component2. Release the stopper and anchor the pusher to secure the componentInstrument / OptionsDevice Guidefor 0201for 0402 to 1210StopperPusherDevice guideRelease stopperPusher holds down the componentSMD TEST FIXTURE IM92011516Ea = 1.0 + Er (Frequency : 100kHz to 999.99kHz)Measurement accuracyIM7580A / IM7581Z : ± (Ea + Eb ) [%]θ : ± 0.58 × (Ea + Eb ) [ ° ]ConditionsGuaranteed accuracy temperature and humidity range0°C to 40°C (32°F to 104°F), 20% rh to 80% rh (non-condensing)However, must be within ±5°C of the temperature at the time of calibration.Guaranteed accuracy period1 year (with open/short/load calibration enabled)Open/short/load calibrationenabled period Within 24 hours after calibrationWarm-up timeAt least 60 min.Measurement conditionsFrequency, power, and speed points at which open, short, and load calibration have been performed[%] ( Zx : Z measured value in [Ω] )Eb =ZsZxYo × 100Zx +.()17IM7583 / IM7585 / IM7587Zs = ( Zsr + 0.5 × F )1000Yo =( Yor + 0.15 × F )1000000[%] ( Zx : Z measured value in [Ω] )Eb =ZsZxYo × 100Zx +.()[Ω] ( F : measurement frequency [MHz] )[S] ( F : measurement frequency [MHz] )18Frequency [MHz]Frequency [MHz]0.010.010.10.11110101001001000100010000100001 p 1 f 1 n 1 p 1 m 1 u 1 u 1 n 10 p 10 f 10 n 10 p 10 m 10 u 10 u 10 n 100 p 100 f 100 n 100 p 100 m 100 u 100 u 100 n L [ H ]C [ F ]Basic measurement confirmation tableRange of measurementsRange of measurements LRange of measurements CIM7580A / IM7581IM7583 / IM7585 / IM7587(For -7dBm to +7dBm, SLOW2.)(For +1dBm, SLOW2.)0.8 %0.8 %1 % 1 %2 % 2 %5 %5 %10 %10 %Measurement frequency [MHz]Measurement frequency [MHz]Z [Ω]Z [Ω]0.11110100100010100100010001001001010110.10.119External controlList of EXT I/O handler interface signalsTiming chart*In this example, the TRIG signal’s active edge is the falling edge (ON).EOM: Off from trigger input to end of measurement processingINDEX: Off during probe chuck (probe cannot be removed from target)Pin I/O Signal1IN TRIG 2IN Unused 3IN Unused 4IN LD15IN LD36IN LD57IN Unused 8-ISO_5V 9-ISO_COM 10OUT ERR11OUT PARA1-HI,BIN1,PARA1-NG 12OUT PARA1-LO,BIN3,PARA2-NG 13OUT PARA2-IN,BIN5,PARA3-NG 14OUT AND,BIN715OUT PARA3-IN,BIN9,PARA4-IN 16OUT PARA4-HI 17OUT PARA4-LO 18OUT Unused19OUT OUT_OF_BINS,CIRCUIT_NG 20IN Unused 21IN Unused 22IN LD023IN LD224IN LD425IN LD626IN LD_VALID 27-ISO_COM 28OUT EOM 29OUT INDEX30OUT PARA1-IN,BIN2,PARA1-IN 31OUT PARA2-HI,BIN4,PARA2-IN 32OUT PARA2-LO,BIN6,PARA3-IN 33OUT PARA3-HI,BIN8,PARA4-NG 34OUT PARA3-LO,BIN1035OUT PARA4-IN 36OUT Unused 37OUTUnusedSignalFunctionTRIG External trigger LD0 to LD6Panel number selection EOM Measurement complete signal INDEX Analog measurement complete signal ERR Detection level error LD_VALID Panel loadISO_5V Isolated power supply 5 V input ISO_COMIsolated power supply common PARA1-HI to PARA4-HI Comparator judgment result: HI judgment PARA1-IN to PARA4-IN Comparator judgment result: IN judgment PARA1-LO to PARA4-LO Comparator judgment result: LO judgment OUT_OF_BINS Bin measurement resultBIN1-BIN10Bin judgment allocation: Bin 1 to Bin 10CIRCUIT_NGEquivalent circuit analysis: Comparator judgment result PARA1-NG to PARA4-NG Peak judgment result PARA1-IN to PARA3-IN Peak judgment resultANDResult of applying a logical AND operation to judgment results for measured values for four parameters (output when all judgment results are IN)Connector usedD-sub 37-pin Female #4-40 inch thread Compatible connectorsDC-37P-ULR (solder)DCSP-JB37PR (crimp)Japan Aviation Electronics Industry, Ltd.21436587920212223242526272829303132333435363714151617181910111213Electrical specifications Input signals Photocoupler-isolated, no-voltage contact inputInput “on” voltage: 0 V to 0.9 V / input “off” voltage: open or 5 V to 24 V Output signalsIsolated NPN open collector outputMaximum load voltage: 30 V / maximum output current: 50 mA/channel Residual voltage: 1 V or less (10 mA) or 1.5 V or less (50 mA)Built-in isolated power supply Voltage: 4.5 V to 5 V / maximum output current: 100 mA Floating relative to protective ground potential and measurement circuitHEADQUARTERS 81 Koizumi, Ueda, Nagano, 386-1192, Japan TEL +81-268-28-0562 FAX +81-268-28-0568 /E-mail:***************.jp HIOKI USA CORPORATIONTEL +1-609-409-9109 FAX +1-609-409-9108/E-mail:******************All information correct as of May 19, 2017. All specifications are subject to change without notice.series_IM7580E4-75M Printed in JapanDISTRIBUTED BYHIOKI (Shanghai) SALES & TRADING CO., LTD. TEL +86-21-63910090 FAX +86-21-63910360 /E-mail:**************.cnHIOKI SINGAPORE PTE. LTD.TEL +65-6634-7677 FAX +65-6634-7477E-mail:*****************.sg HIOKI KOREA CO., LTD.TEL +82-42-936-1281 FAX +82-42-936-1284E-mail:****************.jpNote: Company names and Product names appearing in this catalog are trademarks or registered trademarks of various companies.OptionsInterfacesGP-IB INTERFACE Z3000RS-232C INTERFACE Z3001RS-232C CABLE 9637Cable length : 1.8 m (5.91 ft)GP-IB CONNECTION CABLE 9151-02Cable length : 2 m (6.56 ft)*Any interlink-compatible cross-cable can be used as the RS-232C CABLE.InstrumentComposition : Main unit, Test Head, Connection cable Accessories : Power cord, Instruction manual, Impedance analyzer application discPhoto: IM7581Photo: IM7587Test fixtures or probes are not included with the main unit.Dedicated test fixture required.(See page 14 in this catalog.)Accuracy calculation with included softwareFree software forautomatically calculating measurement accuracy based on user-entered measurement conditions and measurement results can be downloaded from Hioki’s website.。
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i l e n阻抗分析仪使用手
册
集团标准化办公室：[VV986T-J682P28-JP266L8-68PNN]
Agilent 4294A阻抗分析仪
使用手册
华中科技大学激光技术国家重点实验室
2002年1月
目录
一、介绍
Agilent 4294A精密阻抗分析仪可以对各种电子器件（元件和电路）以及电子材料和非电子材料的精确阻抗测量提供广泛的支持。
它是对电子元件进行设计、签定、质量控制和生产测试的强有力工具。
它所提供的性能和功能对于电路设计开发人员将获益匪浅。
此外，Agilent 4294A的优良测量性能和功能为电路的设计和开发以及材料（电子材料和非电子材料）的研究和开发提供强有力的工具。
它具有：
·在宽阻抗范围的宽频率范围内进行精确测量
·强大的阻抗分析功能
·便于使用并能用多种方式与PC机配套
电子器件：
无源元件：二端元件如电容器、电感器、铁氧体珠、电阻
器、变压器、晶体/陶瓷谐振器、多芯片组件或阵列/网络元件的阻抗测量。
半导体元件：变容二极管的C－V（电流－电压）特性分析；
二极管、晶体管或集成电路(IC)封装终端/引线的寄生分析；
放大器的输入/输出阻抗测量。
其它元件：印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
材料：
介质材料：塑料、陶瓷、印制电路板和其它介质材料和损耗切角评估。
磁性材料：铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料：半导体材料的介电常熟、导电率和C－V特性。
二、基本原理：
Agilent 4294A 阻抗分析仪所采用的是自动平衡电桥技术。
如图所示：可以将平衡电桥看作一个放大器电路，基于欧姆定律V=I*R 进行测量。
被测器件(DUT)通过一个交流源激励，它的电压就是在高端H 监测到的电压。
低端L 为虚拟地，电压为0V 。
通过电阻器R 2的电流I 2跟通过被测器件(DUT)的电流I 相等。
因此，
输出电压和通过被测器件(DUT)的电流成正比，电压和电流自动平衡，这也就是它的名字的由来。
222R I V = 2
2121V R V I V Z == 在实际应用中，为了覆盖更加大的频率范围，通常用一个null-detector 和modulator 来代替电路中的放大器。
当然，这只是一个基本的测量原理电路，为了得到精确的结果，还有许多的附加电路。
三、Agilent 4294A 的主要技术指标: 参数
指标 工作频率
40Hz-110MHz ，1mHz 分辨率 基本阻抗精
度
±％ Q 精度
在Q=100,f ≤10MHz 时为±3%(典型值) 阻抗范围
3m Ω-500M Ω(*1)
(100Hz－200kHz)
四、前/后面板、硬/软键介绍
前面板示意图：（见仪器）
后面板示意图：（见仪器）
在阻抗分析仪的前面板上提供了分组的硬键和一个液晶显示屏，在显示屏的右侧是一些软菜单，可以通过位于旁边的8个按键（软键）来选择菜单中的内容。
46个按键位于前面板的右上方，根据它们的功能不同被分别放在六个区中。
每一个按键都有一个文字标记来说明它的功能。
下面将分组介绍硬键的具体功能：
1、激活通道区
【A】激活通道A，然后你就可以在通道A中设置参量以及进行分析工作
【B】激活通道A，然后你就可以在通道A中设置参量以及进行分析工作
2、测量区
【Meas】激活一个软键菜单，在其中你可以选择测量的参数
【Format】激活一个软键菜单，在其中你可以选择数据
显示的格式（曲线轴格式），并设置相位显
示单位
【Display】激活一个软键菜单，在其中你可以配置一般
的显示参量（不包括显示格式和比例设置）
并且可以进行等效电路分析
【Scale Ref】激活一个软键菜单，配置曲线的显示比例【Bw/Avg】激活一个软键菜单，配置带宽和平均设置【Cal】仪器校准
3、激励区
【Sweep】测试信号的扫描设定
【Source】设置频率(CW频率)，测试信号电平，和直流
偏置。
当你设定一个扫描参数时，你可以用
【Start】，【Stop】，【Center】，
【Span】来设定扫描范围
【Trigger】设置触发系统
【Start】指定扫描范围的开始值
【Stop】指定扫描范围的终止值
【Center】指定扫描范围的中间值
【Span】指定扫描范围
4、输入区
【O旋钮】你可以旋转这个旋钮来调整当前设定值，这
个方法更改的设定值立即生效，而不用再按
别的键。
同样你也可以用这个旋钮来改变光
标的水平位置
【↑】【↓】增加或减少当前的设定值，更改的设定值立
刻生效
【Entry Off】从输入模式切换到普通模式，参量的名称和
设定值也从液晶显示屏的左上方消失
【Back Space】删除光标左边的一个字符，同时光标左移一
位
【0】－【9】输入数字
【G/n】－【×1】设置输入数值的单位
5、标记区
【Marker】打开/关闭标记，配置标记设定【Marker→】改变当前标记值，例如你可以选择MKR→
START将当前标记值作为扫描范围的起始值，
从而开始以这个新的扫描范围进行扫描【Search】查找，如查找最大值、最小值等
【Utility】
6、仪器状态区
【System】控制管理整台仪器，也可以设置有限线测试功能
【Local】将分析仪从远程控制切换到本地控制，在这
里也可以配置GPIB和局域网
【Preset】初始化分析仪到它的初始状态【Copy】将显示屏上的曲线输出到打印机
【Save】存贮当前设置、测量数据、屏幕图象等
【Recall】载入分析仪中以前存储的信息
由于软键数目繁多，但从它的文本标记中可以很容易了解它的作用，所以这里就不再一一列举了。
五、测量方法
a)所需仪器：Agilent 4294A精密阻抗分析仪、16047A夹
具、被测物。
b)夹具安装，打开电源。
c)【Cal】->ADAPTER->NONE，选择分析仪工作在没有适配
器的环境下（因为我们所购买的仪器中没有需要补偿的
适配器，所以这里就不介绍适配器补偿的步骤了）。
d)指定测量环境
i.初始化【Preset】
ii.选择要测量的参数：【Meas】->***(如|Z|-D等，这里可以根据你所要测量的量来选择，选择完成后在
A、B两个通道中就会显示这两个参量的曲线)
iii.设置扫描参数的频率【Sweep】->PARAMETER[]-
>FREQ，然后设置扫描方式TYPE[]（这里根据所选择
的参量不同会有不同的方式，如线型(LIN)、对数
(LOG)）等，【Start】【Stop】设置扫描范围，或者
用【Center】【Span】是一样的效果
iv.【Source】设置频率(CW频率)，测试信号电平，和直流偏置等
v.【Bw/Avg】->BANDWIDTH[]设定带宽
e)夹具补偿
（1）【Cal】->FIXTURE COMPEN
（2）将夹具的两电极开路，按OPEN，当OPEN on OFF中
的on大写时开路补偿完成
（3）用短路器将两电极短路，按SHORT，当SHORT on OFF中的on大写时短路补偿完成，然后移开短路器
（4）如果需要更精确的补偿，可以选一个参数已知的器件，用上述方法进行负载补偿，一般情况下不需要
f)测量并观测结果，在这里可以根据不同的需要进行不同
的操作
i.夹好被测器件
ii.【A】激活A通道，【Format】选择一种显示格式，【Scale Ref】选择显示比例
iii.【B】激活B通道，【Format】选择一种显示格式，【Scale Ref】选择显示比例
iv.【Marker】标记一个点，并显示该点的数值，用旋钮可以改变标记点的位置
v.【Copy】打印，【Save】储存
上面所介绍的只是一个基本的测量步骤，还有许多步骤和功能因为不常用被忽略了，比如：电缆补偿、等效电路分析、BASIC程序设计、远程控制等等。