美军标
美军标及国际防护标准简介

液体渗透防护侵入防护固体微粒防护海能达DMR对讲机可以耐受各种恶劣环境,比如极端的温度条件、跌落于仓库混凝土楼板,或需要防尘防湿的情况。
无论环境如何,海能达对讲机都可让您保持工作顺利进行,是您的最佳选择。
,所有海能达对讲机均采用美国军用标准 (MIL-STD) 及 IP 代码进行认证,您可以据此了解每种型号的坚固程度和防护等级。
那么,这些认证是什么?分别代表什么含义呢?MIL-STD-810美国 MIL-STD-810 是为美国军方设计的一系列环境工程考量和实验室测试,用于测试设备在寿命期内各种预期使用条件下的环境设计及限制情况。
该标准还制定了模拟设备所受环境影响的测试方法。
MIL-STD-810 不禁旨在根据装备系统性能要求,提供切实可行的装备设计和测试方法。
虽然该标准最初用于军事应用,但现在也常常用于商业产品。
MIL-STD-810 已为商业对讲机行业广泛采用,为客户提供易于理解的评级系统,并使用独立的测试方法,确保可靠的对讲机环境性能和耐用性。
MIL-STD-810 标准指南和测试方法旨在:● 确定环境应力顺序、耐受度和设备寿命等级● 用于制定适合设备及其环境寿命的分析和测试标准● 评估环境应力寿命周期下的设备性能● 发现设备设计、材料、制造工艺、包装技术和维护方法的缺陷和不足● 体现产品的合规性。
MIL-STD-810 涵盖各种环境条件,包括:低压高度测试;高温、低温及热震试验(工作及存储);雨雪环境试验(包括大风和冻雨情况);湿度、霉菌、盐雾防锈测试;沙尘暴露;爆炸性气体环境;泄漏;加速度;冲击和运输冲击;炮振;以及随机振动。
在对讲机行业内,MIL-STD-810 常用于测试和指示对讲机对温度、跌落、冲击和振动的耐受程度。
IP 等级IP 代码(国际防护或异物防护)由国际电工委员会 (IEC) 制定,“划分了机械和电子设备对异物入侵(如手和手指等身体部位)、灰尘、意外接触和液体渗入的防护程度”。
美军标mil- std810f《环境工程考虑和实验室测试》实验要求

美军标mil- std810f《环境工程考虑和实验室测试》实验要求
美军标MIL-STD 810F《环境工程考虑和实验室测试》是一项
针对军用设备的测试标准,用于评估设备在各种环境条件下的适应性和耐久性。
该标准涉及了多个方面的实验要求,包括以下内容:
1. 温度和湿度测试:要求在不同的温度和湿度条件下进行测试,以评估设备对极端温度和湿度的适应能力。
2. 高低温冲击测试:要求在快速变化的高低温环境下进行测试,以评估设备对温度冲击的抗性能。
3. 高温/低温操作测试:要求在高温和低温环境下进行实际操
作测试,以评估设备在极端温度条件下的性能和可靠性。
4. 气候变化测试:要求在不同气候条件下,如热带、沙漠、海洋等进行测试,以评估设备在不同环境条件下的适应性。
5. 恶劣工作环境测试:要求在环境中存在振动、冲击、震动、尘埃、湿度、盐雾等条件下进行测试,以评估设备在恶劣工作环境下的适应性和可靠性。
6. 气压测试:要求在不同气压条件下进行测试,包括高度变化和瞬态气压变化,以评估设备在高海拔和大气压变化等环境下的性能。
7. 振动和冲击测试:要求在不同振动和冲击条件下进行测试,
以评估设备对机械振动和冲击的适应能力。
8. 防尘和防水测试:要求在灰尘和水淋条件下进行测试,以评估设备对尘埃和湿度的抗性能。
9. 盐雾腐蚀测试:要求在盐雾环境下进行测试,以评估设备对盐雾腐蚀的抗性能。
以上是一些基本的实验要求,具体的测试方法和标准参数可以在MIL-STD 810F标准文档中找到。
该标准旨在确保军用设备在各种恶劣环境下均具备可靠性、耐久性和适应能力。
美军标电子装备环境试验 mil-std-810g
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广电计量-环境可靠性与电磁兼容试验中心:/美军标MIL-STD-810G认证检测美军标MIL-STD-810G并不是指的某个测试项目,其中我国军用装备环境试验标准GJB 150A就是根据美军标MIL-STD-810G为基础改编而来,它涵盖了气候环境、机械环境等可靠性测试,比较其他如常见的电子设备环境试验IEC60068和GB/T2423较为严格。
符合美国军用MIL-STD-810G标准的主要用户为军方、警方、电信工程、建筑工地、户外测量等需要在户外工作的用户,这些用户的工作环境容易遭受碰撞、雨水、沙尘等,导致装备损坏。
除了防震、防水、耐摔、防尘外,还可安装在野外车辆中使用。
该标准已被欧洲、日本、新加坡、欧洲、马来西亚等地的军警人员广泛使用。
具体项目如下(cnas认可):第2部分:低气压(高度)试验500.4Low Pressure (Altitude)第3部分:高温试验501.4High Temperature第4部分:低温试验502.4Low Temperature第5部分:温度冲击试验503.4Temperature Shock第7部分:太阳辐射试验505.4Solar Radiation (Sunshine)第8部分:淋雨试验506.4Rain第9部分:湿热试验507.4Humidity第10部分:霉菌试验508.5Fungus第11部分:盐雾试验509.4Salt Fog第12部分:砂尘试验510.4Sand and Dust第13部分:爆炸性大气试验511.4Explosive Atmosphere第14部分:浸渍试验512.4Immersion第15部分:加速度试验513.5Acceleration第16部分:振动试验514.5Vibration第17部分:噪声试验515.5Acoustic Noise第18部分:冲击试验516.5Shock第20部分:炮击振动试验519.5Gunfire Vibration第21部分:风压试验第22部分:积冰/冰雨试验521.2Icing/Freezing Rain第23部分:倾斜和摇摆试验第24部分:温度--湿度--振动--高520.2Temperature, Humidity, Vibration, and Altitude 第25部分:振动--噪声--温度试验523.2Vibro-Acoustic/Temperature第26部分:流体污染试验504 Contamination by Fluids第27部分:爆炸分离冲击试验517Pyroshock第28部分:酸性大气试验518Acidic Atmosphere第29部分:弹道冲击试验522Ballistic Shock依据国内外标准提供光老化试验、温湿度试验、气体腐蚀试验、机械振动试验、机械冲击试验、碰撞试验和跌落试验、防尘防水试验以及包装压力试验等多项环境和可靠性试验,涵盖了气候环境试验、机械环境试验及综合环境试验的绝大部分项目,能满足GJB、GB、GB/T、IEC、ISO、EN、MIL、SAE、ASTM、ISTA、JIS、IPC、JEDEC、GM、NISSAN等各种国际、国内环境及可靠性试验标准要求,同时满足相关军用标准要求。
美军标883的对应国内标准-概述说明以及解释

美军标883的对应国内标准-概述说明以及解释1.引言1.1 概述概述部分的内容可以包括以下几个方面:引言部分主要是对该篇文章的背景和意义进行简要介绍,可以提及以下内容:- 美军标883,也即美国军方的标准MIL-STD-883,是一份关于电子元器件可靠性测试方法的标准。
这份标准对于确保电子元器件的可靠性和性能至关重要,不仅在军事领域具有重要意义,也在民用领域有广泛应用。
- 近年来,我国的电子元器件产业迅速发展,国内对于电子元器件的测试与认证标准也日益重要。
为了满足国内市场对高质量电子元器件的需求,有必要对照美军标883制定国内对应的标准,以确保产品的质量与性能。
- 本文将对比分析美军标883与国内对应标准的内容和要求,探讨其差异与相似之处,并对其对国内电子元器件产业的影响与建议进行讨论。
通过对这两个标准的比较,可以为我国电子元器件产业的发展提供一定的借鉴和指导。
引言部分的概述应该简洁明了,能够准确介绍该文章的主题和研究方法,同时能够激发读者的兴趣,引导读者进一步阅读后续内容。
1.2文章结构文章结构部分的内容可以包括以下内容:文章结构部分的主要目的是介绍本文的组织结构和各个章节的内容,以便读者能够更好地理解和阅读文章。
本文分为引言、正文和结论三个部分。
第一部分是引言部分。
在引言部分,首先要对文章的主题进行概述,简要介绍美军标883以及国内对应的标准的背景和重要性。
其次,说明文章结构,即介绍各个章节的内容和安排。
最后,阐明本文的目的,即通过对比分析美军标883和国内对应标准的内容,探讨其差异和影响,并给出相关建议。
第二部分是正文部分。
在正文部分,首先要详细介绍美军标883的内容,包括其主要内容和要求。
可以列举一些关键点和具体规定,以帮助读者更好地理解。
然后,介绍国内对应的标准,包括其起草背景、内容和适用范围等方面。
可以结合实际案例和数据进行说明,以论证国内对应标准的有效性和实用性。
第三部分是结论部分。
美军标MIL-0-13830A-63
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美国军用规火控仪器光学零件制造、装配和检验通用技术条件MIL-0-13830A-63代替MIL-0-13830(Ord)-54本规经国防部批准,陆、海、空军各部必须遵照执行。
1、围1.1、本规适用于火控仪器成品光学零件如透镜、棱镜、反射镜、分划板、窗口玻璃和楔形镜的制造、装配和检验。
2、引用文件2.1、在邀请投标或征求意见期间有效的下列文件,凡被本规引用的容,均作为本规的一个组成部分。
军用规:MIL-G-174 光学玻璃MIL-C-675 光学玻璃零件镀膜MIL-A-3920 热固性光学胶合剂MIL-S-11030 非固化聚硫密封剂MIL-M-13508 光学玻璃零件镀铝外反射膜MIL-A-14443 透镜粘结用玻璃金属粘结剂MIL-O-16898 光学零件的包装图纸:美国陆军弹药司令部F7560085 振动试验仪C7641866 光学零件表面质量标准样品(与具体采购业务有关的供货厂商,应从采购机构或者从签订合国军官指定的机构取得必要的规和图纸。
)3 技术要求3.1 总则:所有光学零件、组件和系统,除具体仪器技术条件或合同所附关图纸另有规定外,均须符合规各项要求。
3.2 材料:材料须符合相应规、零件图或仪器图的规定。
3.2.1 光学玻璃:除非签订合同军官另行批准,光学玻璃的品种和等级必须符合图纸以及通用规MIL-G-174 的规定。
允许使用规定以外的光学玻璃时,必须向签订合同军官提供有关光学玻璃的光学性能和设计数据的全套资料。
3.2.2胶合剂:除合同或订货单另有规定外,光学胶合剂必须符合军用规MIL-A-3920。
3.2.3粘结剂:用于粘合玻璃和金属的粘结剂必须符合军用规MIL-A-14443。
3.2.4密封剂:密封剂必须符合军用规MIL-S-11030。
3.2.5减反射膜:光学表面的减反射膜应符合军用规MIL-C-675。
3.2.5.1反射面:镀铝反射面应符合军用规MIL-M-13508。
3.3 外形尺寸:光学零件的外形尺寸和光学性能应符合图纸或合同的规定。
美军标关于表面疵病的说明
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一.定义:表面缺陷标准:依据美国军用标准MIL-PRF-13830B用两组数字表示表面缺陷大小。
例如40/20(或40-20)前者限制划痕大小,后者限制麻点大小。
道子、亮路都统称为划痕。
斑点、坑点、点子都称为麻点。
规定长与宽的比大于4:1的为划痕;长与宽的比小于4:1的为麻点。
当元件的不同区域表面光洁度要求不一样时,等效直径的计算以区域进行:表面质量要求高的内区域其等效直径以内区域为准(如有效孔径的区域),表面质量要求低的外区域计算的是整体元件的等效直径。
§美军标规定对于非圆形元件其直径取相等面积圆的直径。
划痕:以美国军用标准《MIL-O-13830》的表面质量划痕样板作为各级数划痕的比对标准。
(注意:美军标未指明划痕的计量单位也即未确定划痕的宽度和深度,只能以实际观察样版为标准。
)这里的划痕级数就是通常的划痕号数,标准样版有10#、20#、40#、60#、80# 5个级。
§SC-QA027表面质量标准共有7条划痕判定标准,前5条是美军标的规定,后两条是公司内控标准。
以下逐条讲解:1.当元件的划痕级数超过表面质量要求的划痕级数时,元件不合格。
例如:元件的表面质量要求为60—40,则代表元件的划痕必须≤60#,如果元件有>60#的划痕,则元件不合格。
2.当元件的划痕级数未超过表面质量要求的级数,但元件存在最大划痕时,所有最大划痕的长度之和应不超过元件直径的1/4。
例如:有一长30mm宽10mm的元件,元件的表面质量要求为60—40,有2条60#长为3 mm划痕。
它的等效直径为20mm1/4D为1/4×20=5mm最大划痕的长度和为:3mm+3mm=6mm6mm>5mm元件最大划痕的长度和超过元件直径的1/4。
所以元件不合格。
3.当元件存在最大划痕,而最大划痕的长度之和未超过1/4D,要求所有级数的划痕乘以划痕长度与元件直径之比所得乘积之和,不得超过最大划痕级数的一半。
美军标MIL

美军标MIL美国军用标准(MIL-PRF-13830B)性能标准军火控制设备用光学元件;监控生产、装配、检测的通用标准所有防御和代理部门可允许使用此种标准。
1.范围1.1 范围。
此标准包括精加工光学元件的生产、装配、检测,诸如:透镜,棱镜,面镜、光栅、窗口以及用于防火仪器或设备。
2.应用文件2.1本章列出的文件需要满足本标准3、4、5章的要求。
本章不包括本标准其他章节的文件或其他信息推荐的文件。
为了保证本目录的完整性,文件使用者必须注意文件须满足本标准3、4、5章列出的文件要求,无论这些内容是否在本章中列出。
2.2 其他政府文件,图纸及出版下列政府其他文件、图纸和出版组成本文件内容的一部分,扩大本文的范围。
除非另有规定,这些文件、图纸和出版是征求引用的。
图纸C7641866---光学元件表面质量标准(立约人要求的其他政府文件、图纸、出版复印件及具体的功能应该从签约事宜或签约指示得到。
)2.3 优先顺序本标准内容与其引出的参考有冲突时,以本标准内容为准。
本标准未述内容,可行法律法规代行除非有具体的免除通知。
(看附加有限标准合同条令)3.要求:3.1所有的光学元件,配件以及系统产品都必须符合这一标准的要求,除非具体的仪器标准或合同之可行图纸另有要求与定义。
3.2所用的材料也必须与图纸的说明以及使用文件的标准相一致3.2.1玻璃光学元件在规格,以及级别必须与图纸要求相一致。
允许使用玻璃材料时,应提供给合同管理人员相关的玻璃光学特性及设计数据完整的信息。
3.2.1.1 放射性材料本文中要求的光学材料应不含钍或其他加入的超过0.05%重量的放射性材料。
3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明,光学粘合剂必须同附录A的要求相一致。
3.2.3 粘连材料对于玻璃同金属相粘连,必须与附录D的要求相一致3.2.4密封材料用于密封的材料必须与附录E的要求相一致3.2.5 增透膜用于光学表面镀膜的增透膜必须与附录C的要求相一致3.2.5.1 反射表面铝化反射面必须与附录B的要求相一致3.3机械尺寸大小光学元件必须与合同以及图纸的要求的尺寸和光学数据相一致3.3.1边所有光学元件都应当倒边在(0.020-0.005英寸在45度+/-15度),沿面宽进行测量,除非有特殊指定。
外观标准

公式解释:将各条擦痕宽度、长度的乘积除以有 效径后求和,所求的和小于最大擦痕的1/2为合 格。
举例:零件有效径20mm,外观要求MIL:40-20, 有两条长1mm宽0.04mm 擦痕;1条长4mm宽 0.03mm擦痕;
3.当零件要求最大麻点直径为0.1mm或更 小时,任一两疵点的间距必须大于1mm.
二、国际标准ISO 10110
(1). 一般表面疵病:5/N×A 5:表面疵病的编码。 N:表面疵病的最大规格所允许的数量。 A:表面疵病的等级号。
5/2×0.25: 表示允许有2个,等级为0.25的一般表面 疵病存在。
C4×0.4 :表示允许有4个,等级为0.4的膜 层疵病存在。
(4). 崩边:EA E:崩边的标识符号 A:从表面最大允许的破口延伸,
单位:mm
E0.5:表示距离棱边最边缘起向内延伸距离 0.5mm以内。
应用判定: 5/N×A---- 5/2×0.25 1)零件表面任一疵病的面积不能大于A平方。对
该零件在a区域内合格,b区域内不合格。
综合判定为不合格品。
2.零件的直径小于20mm时,按面积折算最 大麻点值:D=D要求值X零件口径/20。 然后按照折算后的麻点值,遵照判定标 准1.执行。
举例:1零件 φ10mm,外观60-40,折算 后麻点最大直径D=40X10/20=20,这就 要求该零件最大麻点直径为0.2mm.其 它按上面判定标准1执行。
美军标外观标准详解
MIL 60-40: 表示零件表面允许最大擦痕宽度为0.06mm, 允许最大麻点直径0.4mm。
MIL 40-20: 表示零件表面允许最大擦痕宽度为0.04mm, 允许最大麻点直径0.2mm。
美军标milprfb

美国军用标准(MIL-PRF-13830B)性能标准军火控制设备用光学元件;监控生产、装配、检测地通用标准所有防御和代理部门可允许使用此种标准.1.范围1.1 范围.此标准包括精加工光学元件地生产、装配、检测,诸如:透镜,棱镜,面镜、光栅、窗口以及用于防火仪器或设备.2.应用文件2.1本章列出地文件需要满足本标准3、4、5章地要求.本章不包括本标准其他章节地文件或其他信息推荐地文件.为了保证本目录地完整性,文件使用者必须注意文件须满足本标准3、4、5章列出地文件要求,无论这些内容是否在本章中列出.2.2 其他政府文件,图纸及出版下列政府其他文件、图纸和出版组成本文件内容地一部分,扩大本文地范围.除非另有规定,这些文件、图纸和出版是征求引用地.图纸C7641866---光学元件表面质量标准(立约人要求地其他政府文件、图纸、出版复印件及具体地功能应该从签约事宜或签约指示得到.)2.3 优先顺序本标准内容与其引出地参考有冲突时,以本标准内容为准.本标准未述内容,可行法律法规代行除非有具体地免除通知.(看附加有限标准合同条令)3.要求:3.1所有地光学元件,配件以及系统产品都必须符合这一标准地要求,除非具体地仪器标准或合同之可行图纸另有要求与定义.3.2所用地材料也必须与图纸地说明以及使用文件地标准相一致3.2.1玻璃光学元件在规格,以及级别必须与图纸要求相一致.允许使用玻璃材料时,应提供给合同管理人员相关地玻璃光学特性及设计数据完整地信息.3.2.1.1 放射性材料本文中要求地光学材料应不含钍或其他加入地超过0.05%重量地放射性材料.3.2.2 粘着力除非合同和定单中有特殊说明,光学粘合剂必须同附录A地要求相一致.3.2.3 粘连材料对于玻璃同金属相粘连,必须与附录D地要求相一致3.2.4密封材料用于密封地材料必须与附录E地要求相一致3.2.5 增透膜用于光学表面镀膜地增透膜必须与附录C地要求相一致3.2.5.1 反射表面铝化反射面必须与附录B地要求相一致3.3机械尺寸大小光学元件必须与合同以及图纸地要求地尺寸和光学数据相一致3.3.1边所有光学元件都应当倒边在(0.020-0.005英寸在45度+/-15度),沿面宽进行测量,除非有特殊指定.如果边于在135度或者更大角度处交汇,则不需要倒边,除非图纸对此有特殊地要求.3.4平面度和缺陷光学玻璃平面度和缺陷都必须符合此标准或可行图纸或光学图表数据.3.4.1玻璃缺陷压模中地条纹、条痕、孔、气泡,裂纹、折叠等缺陷或存在于点、面或其他损坏元件性能地位置地材料应该拒收.3.5 光学玻璃表面质量3.5.1 光学用图纸和图表元件所用地图纸必须显示表面质量,图表表明光束地直径3.5.1.1 缺陷尺寸限制对于表面质量地许可范围通常以两个数字来表示(C7641866),表示在两个方面地级别要求.第一个数字表示划痕,第二个数字表示麻点.3.5.2划痕3.5.2.1 环形元件光学元件表面上最大尺寸划痕地总长不得超过光学元件直径地四分之一.3.5.2.1.1 划痕地最大总长度如果存在较大划痕,则这类划痕地总数乘以元件长度与直径地比值,这个数值不得超过最大划痕地总数地一半.如果不存在较大地划痕,则划痕地总数乘以元件长度与直径地比值,这个不得超过最大划痕数3.5.2.2 非环形光学元件.非环形元件计算地直径应是同等面积一个圆周地直径.在指定光学元件图纸或详图中透光区之外地划痕不被考虑在内,应用3.5.2.1.1规定地正确地公式.3.5.2.2.1 棱镜顶面为了方便划痕、麻点(S/D)地计算,棱镜顶面可视为一个单个面(等于各个顶面地总和),顶面地边不被考虑在可允许划痕总长范围之内除外.屋脊棱镜地S/D公差设在同等面积地元件地基础上.3.5.2.2 表面质量,中心区规定划痕数为20或更少地表面,在直径1/4”(6.35mm)环形范围内,划痕不应超过4个.此要求不用于划痕少于10个地表面.3.5.2.3 表面质量,外部区域在透光区之外地表面质量应为80-50,除非另有要求.3.5.2.4 镀膜划痕镀膜划痕不透入玻璃表面,在 3.5.2规定地同一限制内.镀膜划痕应视为与材料划痕不用地要求.3.5.3 麻点3.5.3.1 麻点设计麻点数为允许缺陷地真正直径,单位为1/100mm.如有不规则地麻点,直径取最大长度和最大宽度地平均值.3.5.3.2 最大尺寸麻点最大尺寸麻点可允许地数量应该是直径20mm或单个面地20mm区域有一个.所有麻点直径地总和由检验员估计,不应超过最大尺寸麻点直径地2倍.小于 2.5微M地麻点被忽略不计.3.5.3.3 表面质量麻点为10个或更少地表面上,所有麻点必须间隔至少1mm.麻点数多于可允许地10个时,不要求检测它地散射.3.5.4 气泡与杂质气泡应归为表面麻点.玻璃中地杂质被视为气泡.不规则地杂质地尺寸应为1/2(最大长度+最大宽度).气泡尺寸公差与麻点地一样,但气泡公差在麻点公差之外.3.5.4.1 最大尺寸气泡最大尺寸气泡可允许地数量应该是光径20mm或单个元件20mm区域有一个.所有气泡直径地总和由检验员估计,不应超过最大尺寸气泡直径地2倍.表面麻点为10个或更少,气泡应参照麻点要求地.(3.5.3.3)3.5.5 表面缺陷地尺寸限制如果图纸无规定,SD限制尺寸由表1决定,并且建立在放大地光束直径上. 3.5.5.1 放大地光束直径光束直径应从视觉数据中获得.它是所研究片子表面上一束进入观察者眼中地有轴向射线地直径.如果出射瞳孔超过 3.5mm,那进入到视线直径应为 3.5mm,如果退出瞳孔小于3.5mm,则光束直径应与出射瞳孔一样.3.5.5.2 光束尺寸小于表1光束尺寸小于但接近于焦平面所规定地尺寸,那缺陷尺寸由直立系统地放大倍数乘以目镜地放大倍数决定.3.5.5.3 区域一个表面上,如果一束轴向光束地直径是透光区地1/4或更少,则此表面应该分为中心区和外部区.中心区在宽度上是透光区地一半.光线区域尺寸应该3.7.11.1规定.3.6 胶合缺陷胶合透镜透光区内地胶合气泡、空隙、不可分解杂质、干污点、气孔、灰尘不应超过3.5.3.1、3.5.4.1规定地麻点、气泡限制定额.3.6.1胶合面地表面质量透光区地胶合缺陷应以胶合面是规定了表面质量地单个表面为基础考虑,如果没有规定,胶合表面质量应介于临界面地中间.3.6.2 边地分离光学元件地边地分离与胶合缺陷不应超过棱镜或透镜胶合面地倒边,距离上为大于元件胶合面倒边与透光区半径之间距离地1/2.边地分离与胶合缺陷地最大尺寸不应超过元件胶合面地1mm.边地分离与胶合缺陷尺寸总和测得高于棱镜、透镜表面倒边地1/2mm时,应不超过圆周地 10%.3.6.3 粘合缺陷(玻璃与金属)粘合地光学元件装置沿粘结面边有一个连续焊珠型地固化粘结物.3.6.3.1 空隙与分离满足3.7.2和3.8.2.5.2要求地,应该没有空隙或者分离超过粘合区地10%.3.7 光学元件详述3.7.1 操作温度胶合元件如果暴露在-80+/-2度,+160+/-2度华氏温度下不产生羽状物,会有分离、胶合软化或其它缺陷出现(3.6规定地除外).根据条例,边分离或胶合缺陷增大可以拒收.3.7.2 相关湿度-温度操作胶合元件如果暴露在周围环境+130+/-2度华氏温度,至少95%地湿度,又持续暴露在空气温度-80+/-度,+160+/-2度华氏温度下不产生羽状物,会有分离、胶合软化或其它缺陷出现(3.6规定地除外).3.7.3 增透膜图纸规定地光学表面需镀层地镀上增透膜.3.7.4 光学黑化光学元件精磨面应用认可地技术黑化.3.7.5 清晰度每个物镜、聚光透镜、直立系统、目镜、平面镜、契子、窗口片、滤光片、棱镜、棱镜装置需要根据4.2.5规定开展清晰度检测.3.7.6 平行度、滤光片滤光片地平行度在图纸规定地公差范围之内.如果没有公差规定,在望远镜内或前面地滤光片不应超过光线偏转地1弧分.位于接目镜和出射光瞳之间地滤光片光线偏转不应超过5弧分.3.7.7 光栅刻度间距光栅刻度间距根据4.2.10.5检测.3.7.8 抛光面抛光面根据4.2.2检测时,没有灰色阴暗或条纹.3.7.9 透镜3.7.9.1 表面质量透镜地表面质量应根据可行图纸或仪器规定.如没有规定时,表面质量应如下:物镜、直立系统、窗口片和焦平面外至少存在15个屈光度地其他元件,S/D应为80/50或更好.物镜和聚光透镜中心区地S/D为20/5,外部区域为40/15.目镜地中心透镜中心区SD为40/15,外部区域为40/20.接目镜,不包括对称性地接目镜,中心区SD为40/20,外部区域为60/30.物镜和接目镜等同时,它们地中心区SD20/5,外部区域为40/15.在接目镜和出射光瞳之间地滤光片地SD中心区地为740/20,外部区域为60/30.在内部地滤光片与3.7.10.1地棱镜要求一样.在物镜前面地滤光片地SD80/50或更好.3.9.7.2 断口和边崩口如果崩口不影响装置上透镜地密封,未侵入透镜透光区地崩口是允许地.在最大端测得地所有崩口面大于1/2mm,这个面应该粗糙化,减少合金反射和其它崩口地可能.在棱镜边测得所有崩口宽度总和大于1/2mm,崩口总宽不应超过周长30%.任何面或边地断口应该被磨掉.精磨面积应该在本段崩口限制范围内.精磨面地崩口和断口总面积超过精磨面地2%或超过2mm厚应该拒收.如果石化崩口和断口影响光学路径、注膜或密封时无论尺寸大小都应拒收.3.7.9.3 同心度精磨时所有元件地边对应着光学轴直径作为中心.由两或多个元件构成地透镜应该胶合,而且以每个元件地轴与其它元件轴地重合轴作为中心.目透镜应该是6弧分之内地同心度.其它所有透镜应该是3弧分地同心度,除非图纸或规定另外有说明.中心化和胶合后,机械离心玻璃突出直径公差50%地应该去除.光学离心定义为:与透镜几何轴重合地入射光线折射后地角度偏转.3.7.10 棱镜和平面镜3.7.10.1 表面质量每个棱镜地表面质量应根据可行图纸和仪器规定.对于那些面,其焦平面外至少存在15个屈光度,它地SD80/50或更好.那些焦平面内存在5-15个屈光度地平面,中心区地表面质量为20/5,外部区域为40/15.焦平面内存在5个以内地屈光度,SD要求应于光栅相同.3.7.10.2 断口和边崩口边崩口未侵入棱镜透光区地,在下列限制中可以存在:崩口总宽度不超过崩口所在边地长度地30%.崩口从倒边处测得,不是从尖边处.例如倒边后,非倒边前.小于1/2mm地崩口不被考虑,不需石化.大于1/2mm地需要石化.从倒边处棱镜面测得崩口地侵入.如果紧靠抛光面地棱镜最短边地正常长度(测得倒边前尖角)为≤25.4毫M,崩口可以侵入表面1mm;如果长度为>25.4mm,可侵入表面2mm.如果崩口未影响注膜或密封,崩口没有侵入透光区,上述崩口可以存在.肉眼可视断口不允许存在.3.7.10.3 图纸要求角度差、尖塔差或由于金字塔形、球形,散光、清晰度、成像倾斜所引起地差地偏转由图纸规定.3.7.10.4 直棱镜直棱镜根据4.2.5.2规定检测.3.7.10.5 反射面-镀银或铝3.7.10.5.1 边目视透镜一部分镀银地面地边应该是尖形,规则状.检测时需放大镜协助,放大倍数与棱镜地相关.3.7.10.5.2 缺陷反射面地缺陷与其他光学表面一样,可用同样地方法,3.7.10.1规定.3.7.10.5.3 透光区光被穿透地棱镜透光区应无其他加工面留下地银或铝颗粒 .3.7.11 光栅3.7.11.1 表面质量表面质量由图规定.没有规定时,SD应遵照3.5.5.3地焦平面,区域尺寸除外.对于在中心面积内有光栅刻度端和那些在中心面积外有无刻度地水平和垂直线地光栅,它们地中心区应是中心面积,宽度上是透光区地一半.中心区域外有刻度地光栅,在宽度上1/2透光区,中心区应是中心面积,宽度上是透光区地3/4.在透光区范围外地缺陷如果不影响仪器性能可以允许其存在.3.7.11.2 边崩边崩限制根据3.7.9.2评价.3.7.11.3 平面地平行度光线平面地平行度应该在图纸规定地公差范围内.如果没有给定公差,公差应该是光线路径偏转6弧分.3.7.11.4 标记光栅标记利用目镜观察,放大倍数与在成品仪器里观察光栅地放大倍数相同.主要检测字母和数字(无论是在产品号码还是靠近刻度地地方)地清晰可读度.如果字母是清晰地,那么数字或字母是可以接受地.除非另有规定,印刷体字母或数字是允许地,但是光栅里所选字体必须统一,必须得到完成机构地认可.线拦腰分割线宽是允许地.光栅包括≥15线,每段包含5条线或断面是允许地.所有地线应是统一地宽度和深度,线地横断面应是尖地.沿着线方向线宽地稳定变化或突然变化不应超过线宽地20%.任何情况下光栅线弯曲都不超过线宽地1/2.光栅线横断面填充半径不应超过线宽.如果用合适目镜观察光栅时有可见酸燃烧,则应该引起拒收.3.7.11.5 照明光栅用仪器灯或相同范围地灯照射光栅线时,缺陷亮度高于光栅线地亮度,则缺陷应引起拒收.3.7.12契子和窗口片其表面质量应根据3.7.9.规定一致.3.8 光具组3.8.1 未装配地元件按设计规定完成地未装配地光具组根据与光具组相关地光学图例进行装配,根据4.2.9进行检测.3.8.2 装配地元件按设计规定完成他们各自装配地光具组将根据图纸和仪器规格加工,根据4.2.10进行检测.3.8.2.1 缺陷标准此规则里未包括地缺陷,没有损坏成品仪器地性能地缺陷,是可以接受地.缺陷地接受与否取决于元件在成品光具组中地位置.元件如果离焦平面有一定距离,它地缺陷就没有靠近焦平面地元件地缺陷后果严重.任何情况下应该着重强调地是棱镜或透镜地性能而不是它们地外形,除非后者确实说明它地工艺不精.重要地顺序如下:a.最精确地表面光栅地腐蚀表面焦平面内聚光透镜表面b.一般精确地表面光栅最近处物镜表面焦平面附近聚光透镜、中心透镜或棱镜c.不精确表面窗口片、物镜、棱镜、直立系统,目镜3.8.2.2 校准所有完成装配地光具组地光学元件进行校准,这样从光学轴上观察地出射光瞳,它地最小直径为≥90%主直径.在10%地出射透光区用目镜在2英尺地距离从光学轴地一点观测出射光瞳与出射透光区是同心地.3.8.2.3 密封连接根据规定,湿地密封化合物应用到光学元件上,形成不易破裂地边.注入密封化合物24小时后,方可观察仪器.3.8.2.4 填充使用填充、填隙、契子或光学元件下或周围有间隙应该拒收,除非图纸有规定.3.8.2.5 性能特征3.8.2.5.1 振动光学仪器按照规定 4.2.10.7进行振动检测后,所含杂质应在规定地范围内.如果没有详细地要求,任何所限空间地杂质不应在尺寸或数量上超过可允许麻点地规格.仪器持续此检测时应没有松动和损坏.3.8.2.5.2 冲击完成装配地光学元件通过玻璃与金属地粘合从其它元件那得到物理上地支持,因此需进行冲击实验.3.8.2.5.3 清洁成品仪器光学表面应该清洁,没有冷凝物和易挥发地物质.检查方法如 4.2.10.9.未经责任技术部门许可,禁止使用保留灰尘地油脂.3.8.2.5.4 视差应该据4.2.10.4消除视差.3.8.2.5.5 固定目镜焦距除非另有规定,目镜放置在-0.75-- -1.0屈光度时,物镜中心地光栅应该在焦点上.一个有放大3倍地校准后地屈光度计或同样地辅助望远镜可完成此项工作. 4. 审核4.1 通用条令除非合同或定单上有所规定,卖方负责所有检测要求地性能.除非另有规定,卖方可以利用自己地设施或政府认可地赢利性实验室进行实验检测.政府有权开展产品规格中所列地任何检测,这些检测是保证卖方及其服务满足要求地必要手段.4.1.1 检查和测试a.特征分类一致性检查和测试根据特征分类表规定地开展.立约人地质量程序或详细地检测程序保证了产品所有地特征方面与图纸和应用地规格要求,至少是性能标准所一致.除非合同和产品规定,特征样品检测必须应用产品规格特征分类表规定地检测等级根据下表2开展.针对特征地分类,有下列定义危急地:危机缺陷指判断和经验表明:缺陷导致产品单独使用、维护或依赖产品时,会有严重或不安全地状况发生;或者缺陷有可能妨碍一个工程地战术功能,像坦克、陆战车、导弹、航母、炮弹或其他主要军事程序.主要地:主要缺陷,次于危急缺陷,有可能导致失败,或减少产品某个目地地使用功能.微小地:这种缺陷不易减少产品特殊使用功能或偏离几乎不影响使用或操作地标准.b.可选择地一致性条令除非另有规定或合同提供,可选择地一致性程序,方法,或设备,比如统计加工控制,设备工致,可变样品或其他类型地样品计划等等,立约人至少提供条理要求地保证就可以使用.在应用这些可选择程序、设备或方法前,立约人应该以书面建议地形式将这些内容呈交给政府以供评估.根据要求,契约人应证实每个可选择地条令等于或好于规定地一致性条令.如果对立约人建议地可选择地一致性条提供同样地保证产生争议时,应该应用标准地条令.所有认可地可选择条令应该与立约人质量程序或检测程序保持一致.c.检测等级此文件中所有检测等级地参考和附录都应使用上表2特征样品地检测.4.2 检测方法4.2.1 光学元件检测光学元件检测依靠可行地产品规格利用批准地光学方法和设备开展.如没有批准地检测方法与设备,应采用下列通用标准程序.在责任技术活动认可前应采用合适地样品程序.4.2.1.1 机械尺寸应检测每个光学元件地机械尺寸是否与图纸地一致,应根据此标准要求地开展检测.4.2.1.2 放射性材料抛光玻璃用X射线光谱仪技术或批准地可选择地技术开展检测,符合3.2.1.1.开展X射线荧光地设备和方法,其钍和其他放射材料最小可觉察地等级为100ppm,有+/-25ppm地误差.样品不符和3.2.1.1要求地,此批所有地玻璃应该拒收.4.2.1.2 表面质量元件应利用下列方法符合3.5.2 3.5.5 3.6.1 3.7.9.1 3.7.10.1地要求开展检测.4.2.2.1 检测方法1待检元件应该从距离玻璃大约3英寸地地方用40瓦白炽灯泡或15瓦冷白荧灯照射背面,观测其精磨玻璃或乳白表面.大约占据1/2玻璃面地两或多个不透明水平棒放在玻璃前或与玻璃相连.4.2.2.2 方法2从40瓦或15瓦发出地光穿过精磨玻璃应该穿过元件.光径与黑色背景区成大约90度时,光从表面分散可观察到缺陷.4.2.3 温度测试4.2.3.1 测试1取每种型号胶合或粘合元件10片中地3片,在高低温下开展检测,根据3.7.1规定.如有因怀疑其质量,检验员认为必要时则有权要求开展额外样品检测.经过这些测试地元件将通过其他所有要求地测试.4.2.3.2 测试2胶合或粘合元件应在-80+/-2度F下5个小时.在此温度下视觉上检测,然后在室温下放置5小时后再检测.光学设备上没有羽毛状或网状地表面元件没有分离现象.开展此实验时光学仪器冷却至-80度或升温至室温过程中不应受到任何热冲击.4.2.3.3 测试3胶合光学装配在高温下应该开展以下测试.元件被严格固定,方法为它地胶合分界面大约在垂直面.扩大重量导致光学装配中胶合或粘合面每平方英寸5央司地抗煎应力受到其它元件地停滞.在任何情况下重量都不小于1央司.整套装置可以在周围温度+160+/-2F度2小时.透镜在室温下检测符合4.2.6规定地要求,并且一个元件与另一个地运动或滑动不超过0.002英寸.开展此实验时光学仪器升温至+160度或冷却至室温过程中不应受到任何热冲击.4.2.3.4 故障调查光学装置地故障阻碍了正常地发货,应展开调查原因.如果合同签定公司代表希望得知装置故障地原因,那么立约人应该在其公司管理人员代表在场地情况下立即展开调查.如果调查显示原因在于胶合或粘合,将不接受此光学装置以及它地胶合或粘合缺陷.立约人应改正胶合技术及改正先前生产地错误地光学装置.取此种型号地拒收品10片,经过检测,成功通过温度检察后再认可和发货.4.2.4温度-相关湿度4.2.4.1 样品尺寸合同初期取每种型号胶合或粘合元件10片中地3片,或者一旦改变胶合方法或胶合类型时,,在规定地温度、湿度下开展检测.如有因怀疑其质量,检验员认为必要时则有权要求开展额外样品检测.4.2.4.2 检测步骤胶合或粘合元件在干燥环境下应逐渐加热至+140+/-2F度,然后立即放置于95%湿度、周围温度+130/+/-2F度,时间为2小时.光学装置从湿环境中取出后立即擦干,冷却到室温.8小时后,元件开展4.2.3.2及4.2.3.3规定地检测.无论何时光学装置有边地分离或实验增加初期有胶合起泡,或者 3.6规定之外另有胶合失败现象时,应在相同步骤下重复本段规定地检测.元件没有通过最初地检测,或胶合缺陷改变,或重新检测后另有胶合缺陷发生,这些都应拒收,包括那些从相关批次挑选出来用于检测地、胶合缺陷可以存在地那些光学装配.所有元件被认可前如果要求,则应该再开展湿度检测,重新胶合与镀膜.4.2.4.3 拒收标准未通过4.2.4检测规定地元件,应按4.2.3.4规定地同样方式处理.4.2.5 清晰度检测清晰度检测是标准地检测,使用分辨放大倍数图表来开展,看图 1.分辨放大倍数检测光学性能.分辨放大倍数是一系列可以分辨地平行晶棒地对角边.通过观察包含相等间距平行晶棒地图表,测得分辨能力.使用望远镜获得足够地放大效果.分辨放大倍数图表由4套线组成,每套包括3或4条线,成45度(水平、垂直、2个成45度).3条线地那套,它地线是其实际线宽地5倍.4条线地那组,是实际线宽地7倍.线地宽度与间距地宽度是同等地.白色背景下是黑色线,黑色背景下是白色线.在4套线中心有一个识别数字.对比是100:1.正确尺寸地图表可以在准直仪里,或者直接可以观察.如果直接观察,图表应该距离望远镜至少2M2英尺,M是正被用于检测地望远镜地放大倍数.图表地对角边测得用秒表示,相当于反正切2W/X.W指图表线地宽度,X指准直仪焦距或图表到望远镜地距离.望远镜校准,这样图表在视线中间.增加辅助望远镜,方向至图表中心.辅助望远镜屈光度为0,这样检测中地望远镜可集中于分辨放大倍数图表中心地数字.读分辨读数时,辅助望远镜定焦在4条经线中地一条+/-1/8屈光度.所有经线有正确地线地读数.观察到地每条线没有被清楚地分离,则达到了分辨极限.4.2.5.1 物镜和直立系统利用上图表检测物镜和直立系统时,上图表应该放置到正确地距离,物镜或目。
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光洁度检验操作技巧
样本准备
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05
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美军标MIL-STD-810G_IEC60068_试验项⽬_项⽬差异美军标MIL-STD-810G与IEC60068试验项⽬区别,总体来说,美军标更严苛,举例对⽐测试项⽬如下: Test MIL-STD-810G IEC60068High Temperature⾼温Test Method 501.51、恒温试验:试验温度和试验时间均未规定,需客户⾃定义1、Dry Heat:The Test temperature and time are notdefined,need defined by client.2、循环试验:试验温度标准明确规定,且试验时间是最少3个循环,最多7个循环,每循环24h。
2、Temperature Cycling: The test temperature isdefined and the test time at least 3 cycles,at most 7cycles,24h a cycle.Dry Heat:The Test temperature and time are notdefined,need defined by client.LowTemperature低温Test Method 502.5no different from MIL-STD-810GHumidity 湿热Test Method 507.5交变湿热,试验周期为10周期,每周期持续时间24h,温度范围为30-60,相对湿度在85%-95%变化Cyclic damp heat test: 10 cycles,24h acycle,temperature from 30 to +60,RH from 85% to95%.1、⼀种是恒定湿热,即温度为40,相对湿度为90%-95%,试验时间96h1、Humidity:temperature 40,RH from 90% to95%,test time:96h2、交变湿热,有两等级,等级1温度范围为25-55,等级2温度范围为25-45,相对湿度均在85%-95%变化,试验周期不定,但最少2周期2、Cyclic damp heat test: have 2 grade,grade 1temperature form 25 to 55,grade 2 temperature form25 to 45, RH from 85% to 95%,the cycle is not definedbut at least 2 cycles.Vibration 振动Test Method 514.6依据产品安装平台明确规定了振动试验条件,需依据产品特点选定,且振动图谱⼤都为随机振动define the vibration test conditions by the installationplatform of the product,select the conditions by thefeature of the product and most of the figure israndom vibration.未根据安装平台明确振动条件,且⼤部分试验条件为正弦扫频no define the vibration test conditions by theinstallation platform of the product and most of theconditions is sine sweep vibration.Shock 冲击Test Method 516.6依据产品安装平台明确规定了冲击试验条件,需依据产品特点选定,冲击波形为后峰锯齿波,梯形波,产品安装平台确定,试验条件可确定define the shock test conditions by the installationplatform of the product,select the conditions by thefeature of the product.shock wave characteristicssuch as terminal peak sawtooth pulse,Trapezoidalpulse.can confirm the test conditions by theinstallation platform of the product.未根据安装平台明确冲击条件,冲击波形为半正弦波,后峰锯齿波,梯形波,产品安装平台确定,试验条件⽆法确定,需客户指定;no define the shock test conditions by the installationplatform of the product.shock wave characteristicssuch as Half-sine,terminal peak sawtoothpulse,Trapezoidal pulse. can not confirm the testconditions althought know the installation platform ofthe product,it should defined by client.本⼈转载⾃:/Faq-63.html。
美军标1951靶标标准
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美军标1951靶标标准
美军标1951靶标标准是一种用于评估武器系统性能的标准,由美国军方制定。
该标准规定了不同距离上各种武器的射击精度要求,包括步枪、机枪、迫击炮等。
具体来说,美军标1951靶标标准将射击精度分为A、B、C三个等级,每个等级又分为近、中、远三个距离段。
对于每个距离段和等级,该标准都规定了武器的射击精度要求,如散布圆半径、最大偏差等。
这些要求是评估武器系统性能的重要依据,也是制定武器装备研制计划的重要参考。
美军标1951靶标标准的制定基于实战经验和技术研究,旨在提高武器系统的射击精度和作战效能。
该标准不仅适用于美国军方,也广泛应用于国际军贸和民间射击领域。
以上内容仅供参考,如需获取更准确的信息,建议查阅美军标1951靶标标准的原版文件。
美军标电缆M27500命名规范

73J u n e 2011 - C o p y r i g h t N e x a n sMIL-DTL-27500美军标线缆是由一根或多根美军标M22759单线加或不加屏蔽、外护套组成的电缆,本节内容主要介绍了组成电缆的命名规范。
MIL-DTL-27500美军标线缆规范电缆命名表格A表格B例如:电缆将以数字和字母的组合(不超过16个)加以识别,方法如下:M27500-22SD3T23=22号美国线规、3芯、镀锡铜线屏蔽、覆盖率85%、白色交联乙烯-四氟乙烯共聚物(XL-ETFE)护套。
当需要一种无屏蔽电缆或电线,或一种最低屏蔽覆盖率为85%的电缆时,规定:当需要最低屏蔽覆盖率为90%时,规定:- 用于优选的识别方法,用表|||A F 用于优选的识别方法,用表|||B A 用于任选的识别方法A ,表|||A G 用于任选的识别方法A ,表|||B B 用于任选的识别方法B ,表|||C K 用于任选的识别方法C L 用于任选的识别方法D P 用于任选的识别方法E S用于任选的识别方法FC 用于优选的识别方法,用表|||A H 用于优选的识别方法,用表|||BD 用于任选的识别方法A ,表|||A J 用于任选的识别方法A ,表|||BE 用于任选的识别方法B ,表|||C M 用于任选的识别方法C N 用于任选的识别方法D R 用于任选的识别方法E T用于任选的识别方法F电缆导线和屏蔽的识别方法基本电线规范符号序列CA MIL-W-22759/13 SC MIL-W-22759/33CB MIL-W-22759/14 SD MIL-W-22759/34CC MIL-W-22759/15 SE MIL-W-22759/35E MIL-W-22759/2 SM MIL-W-22759/41EA MIL-W-22759/1 SN MIL-W-22759/42JA MIL-W-25038/1 SP MIL-W-22759/43JB MIL-W-22759/28 SR MIL-W-22759/44JC MIL-W-22759/29 SS MIL-W-22759/45JD MIL-W-22759/30 ST MIL-W-22759/46JE MIL-W-22759/31 TA MIL-W-22759/8JFMIL-W-25038/3TEMIL-W-22759/16符号序列规范号电缆导线和屏蔽覆盖率的识别方法导体线规尺寸基本电线规范电缆中的导线数屏蔽类型及材料护套材料M27500223T23SD(表格A)(表格B)(表格C)(表格D)(表格E)美军标航空航天线缆产品规格741到15代表屏蔽电缆或带屏蔽和护套的电缆,2到15代表无屏蔽电缆、无护套电缆或无屏蔽护套电缆,带10芯到15芯的电缆,导体线规尺寸将限于12以下。
美军标简介
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美军标简介United States Military Standard2010—06-11 15:54主要分类:Acronym Type Definition [1]MIL-HDBK DefenseHandbook A guidance document containing standard procedural, technical,engineering, or design information about the materiel, processes, practices, and methods covered by the DSP. MIL—STD-962 covers the content and format for defense handbooks。
MIL—SPEC DefenseSpecification A document that describes the essential technical requirements for purchased material that is military unique or substantially modified commercial items。
MIL—STD—961 covers the content and format for defense specifications.MIL—STD DefenseStandard A document that establishes uniform engineering and technical requirements for military—unique or substantially modified commercial processes,procedures, practices, and methods. There are five types of defense standards: interface standards, design criteria standards, manufacturing process standards, standard practices, and test method standards. MIL—STD-962 covers the content and format for defense standards。
美军标跌落测试标准 -回复
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美军标跌落测试标准-回复标题:美军标跌落测试标准详解一、引言跌落测试是产品耐用性和安全性能评估的重要环节,尤其在军事装备领域,其重要性更是不言而喻。
美军标跌落测试标准,作为全球公认的严格且全面的测试体系,为各类军事设备的可靠性和坚固性提供了重要的评估依据。
本文将详细解读美军标跌落测试标准,包括其定义、目的、测试方法、评价标准以及实际应用。
二、美军标跌落测试标准定义美军标跌落测试标准,全称为"MIL-STD-810G Drop Test",是由美国国防部制定的一套用于评估装备在遭受意外跌落时的性能和耐受性的标准。
该标准旨在模拟设备在实际使用中可能遭遇的各种跌落情况,以确保设备在这些情况下仍能保持正常工作状态。
三、美军标跌落测试标准的目的美军标跌落测试标准的主要目的是评估设备在遭受意外跌落后的功能完整性、结构强度和安全性。
通过这一测试,可以预测设备在实际使用中可能出现的问题,从而提前进行改进和优化,提高设备的可靠性、耐用性和用户安全性。
四、美军标跌落测试方法1. 测试准备:首先,需要明确设备的预期使用环境和可能的跌落情况,然后选择相应的测试条件和方法。
2. 测试环境:根据设备的使用环境,可以选择在室内或室外进行测试,同时考虑温度、湿度、风速等环境因素的影响。
3. 跌落高度和角度:根据设备的尺寸、重量和预期使用情况,确定合适的跌落高度和角度。
一般来说,跌落高度越高,设备受到的冲击力越大。
4. 跌落表面:选择与预期使用环境相符的跌落表面,如混凝土、沙土、草地等。
5. 测试过程:将设备从预定的高度和角度自由落下,记录设备的状态和性能变化。
五、美军标跌落测试评价标准1. 功能完整性:设备在跌落后能否正常工作,包括但不限于开关、按键、显示屏、接口等功能是否正常。
2. 结构强度:设备在跌落后是否有明显的变形、破裂、脱落等现象。
3. 安全性:设备在跌落后是否存在电击、火灾、爆炸等安全隐患。
六、美军标跌落测试的实际应用美军标跌落测试标准广泛应用于各种军事装备的开发和测试中,包括但不限于通信设备、导航设备、武器系统、防护装备等。
美军标关于表面疵病的说明
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一.定义:表面缺陷标准:依据美国军用标准MIL-PRF-13830B用两组数字表示表面缺陷大小。
例如40/20(或40-20)前者限制划痕大小,后者限制麻点大小。
道子、亮路都统称为划痕。
斑点、坑点、点子都称为麻点。
规定长与宽的比大于4:1的为划痕;长与宽的比小于4:1的为麻点。
当元件的不同区域表面光洁度要求不一样时,等效直径的计算以区域进行:表面质量要求高的内区域其等效直径以内区域为准(如有效孔径的区域),表面质量要求低的外区域计算的是整体元件的等效直径。
§美军标规定对于非圆形元件其直径取相等面积圆的直径。
划痕:以美国军用标准《MIL-O-13830》的表面质量划痕样板作为各级数划痕的比对标准。
(注意:美军标未指明划痕的计量单位也即未确定划痕的宽度和深度,只能以实际观察样版为标准。
)这里的划痕级数就是通常的划痕号数,标准样版有10#、20#、40#、60#、80# 5个级。
§SC-QA027表面质量标准共有7条划痕判定标准,前5条是美军标的规定,后两条是公司内控标准。
以下逐条讲解:1.当元件的划痕级数超过表面质量要求的划痕级数时,元件不合格。
例如:元件的表面质量要求为60—40,则代表元件的划痕必须≤60#,如果元件有>60#的划痕,则元件不合格。
2.当元件的划痕级数未超过表面质量要求的级数,但元件存在最大划痕时,所有最大划痕的长度之和应不超过元件直径的1/4。
例如:有一长30mm宽10mm的元件,元件的表面质量要求为60—40,有2条60#长为3 mm划痕。
它的等效直径为20mm1/4D为1/4×20=5mm最大划痕的长度和为:3mm+3mm=6mm6mm>5mm元件最大划痕的长度和超过元件直径的1/4。
所以元件不合格。
3.当元件存在最大划痕,而最大划痕的长度之和未超过1/4D,要求所有级数的划痕乘以划痕长度与元件直径之比所得乘积之和,不得超过最大划痕级数的一半。
美军标外观标准技术培训内容
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11
2mm,1条40#划痕3mm,另
2条40#划痕2mm,2条20#划 痕2mm,10#划痕长度合计 10mm。
则所有级数的划痕乘以划痕长 度与元件直径之比所得乘积之 和为:
[50*(2+2)/10]+[40*( 3+2+2)/10]+[20*(2+2 )/10]+[10*10/10]=66,而 光学元件最大划痕为60#〈 66#,所以该光学元件不合格 。
3.规定长与宽的比大于4:1的为 划痕;长与宽的比小于4:1的为 麻点.
划痕
麻点
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二.等效区域表面光洁度计算
1.当元件的不同区域表面光洁度要 求不一样时,等效直径的计算以区域 进行:表面质量要求高的内区域其等 效直径以外的区域为准(如有效孔径 的区域 Clear Aperture/C.A),表面 质量要求低的外区域计算的整体光 学元件的等效直径.
40#
20#
A
B
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10#
5#
20#
16
则A区的麻点直径和为:
40+20+10=70〈40*2=80
B区的麻点直径为的和为:
20*2+10*4+5*1=85〉80
所以该光学元件为不合格。
3.当麻点质量要求为10或更优 此等级时,任何两个麻点的间距 必须大于1mm。
例:元件40mm*40mm的元件, 质量指标要求为20-10,有两个 5#的点子,点之间距离为 0.8mm.
2021/7/17
3
一:定义
表面缺陷标准:依据美国军用 标准MIL-PRF-13830B用两组 数字表示表面缺陷大小。例如 40/20 OR 40-20,前者限制 划痕大小,后者限制麻点大小; 在一些国外图纸常表示为 SCR/DIG。
美军标光洁度检验培训
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A区20-10
美军标光洁度检验培训
1.2光洁度名词的定义
⑽检测设备与检测方法:若定单有明确要求,按定单要求检验, 若无要求则按以下方式检验 。
1)当元件等效直径≤2mm
检测方法:用放大倍率40倍的体式显微镜通过透过与反射法观察元件抛 光、镀膜表面 检测设备:体视显微镜自带灯
2)当 Φ2mm<元件等效直径<Φ10mm
1.4麻点分析
麻点定义: 5# 麻点直径大小为0.05mm,
10# 麻点直径大小为0.1mm, 20# 麻点直径大小为0.2mm, 40# 麻点直径大小为0.4mm, 60# 麻点直径大小为0.6mm, 80# 麻点直径大小为0.8mm, 即麻点直径大小=(麻点# ×0.01)mm
美军标光洁度检验培训
例如:元件光洁度要求20/10,图中的小圈区域等效直径为 5mm,内有4条划痕,划痕宽度分别为0.006mm, 0.007mm,0.008mm,0.006mm,请问产品是否合格?
判断过程: 1.等效直径5mm<6.35mm,需要密集划痕判定
等效直径5mm
2.等效直径区域内有4条划痕,划痕宽度均
大于0.005mm,即大于10#划痕。
美军标光洁度检验培训
1.4麻点分析
如何判断麻点是合格还是不合格?
判断标准一
当元件的麻点级数大于表面质量要求的麻点级数时, 元件不合格。 例如:一个元件光洁度要求40/20,实际上元件上有 一个0.3mm直径的麻点,那么元件合格吗? 判断过程:元件要求20#麻点,对应0.2mm麻点直 径,0.3mm>0.2mm,所以元件不合格。
检测方法:检验时产品与灯泡的距离在灯罩下方0-3cm,灯罩前方0-5cm, 眼睛与产品的距离为10-20cm,8倍放大镜用透过与反射法观察元件抛光、 镀膜表面 检测设备:60瓦白炽灯,黑背景
美军招标公司(3篇)
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第1篇一、引言美国,作为世界军事强国,其军事力量遍布全球。
为了维持庞大的军事开支,美国每年都会进行大量的军事采购。
在这个过程中,美军招标公司扮演着举足轻重的角色。
本文将带您走进美军招标公司,揭秘其背后的商业巨头。
二、美军招标公司的起源美军招标公司起源于美国独立战争时期。
当时,美国军队为了购买武器、弹药等物资,开始采用公开招标的方式。
这一做法逐渐成为美国军事采购的惯例,并在二战期间得到进一步发展。
随着美国军事力量的不断壮大,美军招标公司也应运而生。
三、美军招标公司的分类美军招标公司主要分为以下几类:1. 国防承包商:这类公司专门从事军事装备、武器系统、后勤保障等领域的承包业务。
例如,洛克希德·马丁公司、波音公司等。
2. 国防部门:美国国防部下属的多个部门,如国防采购局、国防后勤局等,也负责军事采购工作。
3. 国防相关机构:如美国国家安全局、中央情报局等,也涉及部分军事采购。
4. 国防行业协会:如美国国防工业协会、美国航空航天工业协会等,为美军招标公司提供行业信息和咨询服务。
四、美军招标公司的运作模式1. 招标公告:美军招标公司根据军事需求,发布招标公告,明确采购项目、技术指标、报价要求等信息。
2. 投标报名:有意向的公司根据招标公告,进行投标报名,提交投标文件。
3. 评审过程:美军招标公司对投标文件进行评审,包括技术评审、商务评审等。
4. 中标公示:评审结束后,中标公司公示,其他公司可对中标结果提出质疑。
5. 合同签订:中标公司与美军招标公司签订合同,开始执行项目。
6. 项目实施:中标公司按照合同要求,完成项目实施。
7. 验收与结算:美军招标公司对项目进行验收,确认项目质量合格后,与中标公司进行结算。
五、美军招标公司的优势1. 专业化:美军招标公司具有丰富的军事采购经验,能够提供专业化的服务。
2. 透明度:美军招标公司遵循公开、公平、公正的原则,确保采购过程的透明度。
3. 效率:美军招标公司采用高效的运作模式,缩短采购周期,提高采购效率。
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美军标简介United States Military Standard 2010-06-11 15:54主要分类:Acronym Type DefinitionMIL-HDBK DefenseHandbookA guidance document containing standard procedural, technical,engineering, or design information about the materiel, processes,practices, and methods covered by the DSP. MIL-STD-962 covers thecontent and format for defense handbooks.MIL-SPEC DefenseSpecificationA document that describes the essential technical requirements forpurchased material that is military unique or substantially modifiedcommercial items. MIL-STD-961 covers the content and format fordefense specifications.MIL-STD DefenseStandardA document that establishes uniform engineering and technicalrequirements for military-unique or substantially modifiedcommercial processes, procedures, practices, and methods. Thereare five types of defense standards: interface standards, designcriteria standards, manufacturing process standards, standardpractices, and test method standards. MIL-STD-962 covers thecontent and format for defense standards.MIL-PRF PerformanceSpecificationA performance specification states requirements in terms of therequired results with criteria for verifying compliance, but withoutstating the methods for achieving the required results. Aperformance specification defines the functional requirements for theitem, the environment in which it must operate, and interface andinterchangeability characteristics.MIL-DTL DetailSpecificationA specification that specifies design requirements, such as materialsto be used, how a requirement is to be achieved, or how an item isto be fabricated or constructed. A specification that contains bothperformance and detail requirements is still considered a detailspecification.具体分类:Non-exhaustive list of documentsH4 Handbook, a handbook containing vendor CAGE code detailsH8 Handbook, another handbook containing vendor CAGE code detailsMIL-E-7016F, pertains to the analysis of AC and DC loads on an aircraft.MIL-STD-105, Sampling Procedures and Tables for Inspection by Attributes (withdrawn)MIL-STD-188, a series related to telecommunicationsMIL-STD-202, quality standards for electronic parts.(电子电气元件质量标准)MIL-STD-498, on software development and documentationMIL-STD 461, "Requirements for the control of electromagnetic interference characteristics of subsystems and equipment"MIL-STD-810, test methods for determining the environmental effects on equipment(为被测器件环境影响不同的测试方法)MIL-STD-882, standard practice for system safetyMIL-STD-883, test method standard for microcircuits[6](微电路的测试方法标准)MIL-STD-1234, sampling, inspection, and testing of pyrotechnicsMIL-STD-1246C, particle and molecular contamination levels for space hardware (has been replaced with IEST-STD-1246).MIL-STD-1388-1A, Logistic Support Analysis (canceled and s/s by MIL-HDBK-502, Acquisition Logistics)MIL-STD-1388-2B, DOD requirements for a logistic support analysis record (canceled and s/s by MIL-PRF-49506, Logistics Management Information)MIL-STD-1394, this is concerned with the construction quality of hats and is often confused with IEEE 1394.MIL-STD-1397, Input/Output Interfaces, Standard Digital Data, Navy SystemsMIL-STD-1474, a sound measurement for small arms standardMIL-STD-1553, a digital communications busMIL-STD-1589, JOVIAL programming languageMIL-STD-1750A, an instruction set architecture (ISA) for airborne computersMIL-STD-1760, smart-weapons interface derived from MIL-STD-1553MIL-STD-1815, Ada programming languageMIL-STD-1913, Picatinny rail, a mounting bracket on firearmsMIL-STD-2196, pertains to optical fiber communicationsMIL-STD-2361, pertains to digital development, acquisition, and delivery of Army administrative, training and doctrine, and technical equipment publications in SGMLMIL-STD-2525, Common Warfighting SymbologyMIL-PRF-38534, General Specification For Hybrid Microcircuits.(混合电路的通用标准)MIL-PRF-38535, General Specification For Integrated Circuits (Microcircuits) Manufacturing.(集成电路制造的通用标准)美军可靠性名词定义与需求标准与规范MIL-STD-721可靠性与维修性名词定义MIL-STD-721, Definition of Terms for Reliability and MaintainabilityMIL-STD-454电子装备一般需求标准MIL-STD-454, Standard General Requirements for Electronic EquipmentMIL-STD-210军用装备气候环境极值MIL-STD-210, Climatic Extremes for Military EquipmentMIL-STD-1670空射武器环境准则与指引MIL-STD-1670, Environmental Criteria and Guidelines for Air-Launched WeaponsMIL-STD-785系统与装备研发与生产可靠性计划MIL-STD-785, Reliability Program for Systems and Equipment, Development and ProductionMIL-STD-1543太空与飞弹系统可靠性计划需求MIL-STD-1543, Reliability Program Requirements for Space and Missile SystemsMIL-STD-965零件管制计划MIL-STD-965, Parts Control ProgramMIL-STD-790电子零件规范可靠性保证计划MIL-STD-790, Reliability Assurance Program for Electronic Parts SpecificationMIL-HDBK-189可靠性成长管理MIL-HDBK-189, Reliability Growth ManagementMIL-STD-781可靠性设计鉴定与生产接收试验-指数分布MIL-STD-781, Reliability Design Qualification and Production Acceptance Tests: Exponential DistributionMIL-STD-810环境试验方法与工程指引MIL-STD-810, Environmental Test Methods and Engineering GuidelinesMIL-STD-883微电路试验方法与程序MIL-STD-883, Test Methods and Procedures for MicroelectronicsMIL-STD-750半导体装置试验方法MIL-STD-750, Test Methods for Semiconductor DevicesMIL-STD-202电气与电子零组件试验方法MIL-STD-202, Test Methods for Electronic and Electrical Component PartsMIL-STD-2074可靠性试验失效分类MIL-STD-2074 (AS), Failure Classification for Reliability TestingMIL-STD-105计数值检验抽样程序与表格MIL-STD-105, Sampling Procedures and Tables for Inspection by AttributeMIL-STD-690失效率抽样检定方案与程序MIL-STD-690, Failure Rate Sampling Plans and ProceduresMIL-STD-757由鉴证数据评估可靠性MIL-STD-757, Reliability Evaluation from Demonstration DataMIL-STD-1556政府与工业界数据交换计划MIL-STD-1556, Government/Industry Data Exchange Program (GIDEP)文档地址:/link?url=ATeXFYKphX5JR7czip7FEslh6uYZUVS4tN-uvcgVWIvjf-3H Vj8ORJnvuBeTwWY1mf4UvXp8a_CnqdqA20RfjcRtfkOWY-1xrxYnxPtY3tS。