光刻 与 刻蚀工艺流程简介共111页
光刻与刻蚀工艺ppt课件
6.1 概述
在集成电路制造中,主要的光刻设备是利用紫外光(≈0.2~ 0.4m)的光学仪器。
刻蚀:在光刻胶掩蔽下,根据需要形成微图形的膜层不同,采 用不同的刻蚀物质和方法在膜层上进行选择性刻蚀。
这样,去掉光刻胶以后,三维设计图形就转移到了衬底的相关 膜层上。图形转移工艺是如此重要,以至一种微电子工艺技术的水 平通常以光刻和刻蚀的图形线宽(特征尺寸)表示。
8.2 光刻工艺
以ULSI为例,对光刻技术的基本要求包括几个方面: a. 高分辨率:以线宽作为光刻水平的标志; b. 高灵敏度光刻胶:为提高产量,希望曝光时间尽量短; c. 低缺陷:光刻引入缺陷所造成的影响比其它工艺更为严重; d. 精密的套刻对准:一般器件结构允许套刻误差为线宽的10%; e. 对大尺寸基片的加工:在大尺寸基片上光刻难度更大。
下图(a)为典型的曝光反应曲线与正胶的影像截面图。反应曲线描述
在曝光与显影过程后,残存刻胶的百分率与曝光能量间的关系。值
得注意的是,即使未被曝光,少量刻胶也会溶于显影液中。 图 (a)的截面图说明了掩模 版图形边缘与曝光后光刻 胶图形边缘的关系。由于 衍射,光刻胶图形边缘一 般并不位于掩模版边缘垂 直投影的位置,而是位于 光总吸收能量等于其阈值 能量ET处。 图 (b)为负胶的曝光反应曲 线与图形的截面图。
8.2 光刻工艺
正胶和负胶图形转移
光刻胶通常可分为正性胶和负性 胶两类,两者经曝光和显影后得到的 图形正好相反。显影时,正胶的感光 区较易溶解而未感光区不溶解,所形 成的光刻胶图形是掩模版图形的正映 象。负胶的情况正相反,显影时感光 区较难溶解而未感光区溶解,形成的 光刻胶图形是掩模版图形的负映象。
6.1 概述
微电子单项工艺
掺杂 薄膜制备 图形转移
半导体工艺之光刻+刻蚀原理和流程PPT文档共115页
46、法律有权打破平静。——马·格林 47、在一千磅法律里,没有一盎司仁 爱。— —英国
48、法律一多,公正就少。——托·富 勒 49、犯罪总是以惩罚相补偿;只有处 罚才能 使犯罪 得到偿 还。— —达雷 尔
50、弱者比强者更能得到法律的称颂过于夸大,也会招来人们的反感轻蔑和嫉妒。——培根 22、业精于勤,荒于嬉;行成于思,毁于随。——韩愈
23、一切节省,归根到底都归结为时间的节省。——马克思 24、意志命运往往背道而驰,决心到最后会全部推倒。——莎士比亚
25、学习是劳动,是充满思想的劳动。——乌申斯基
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光刻与刻蚀工艺ppt
采用旋转涂胶方法可以提高生产效率,同时采用快速热处理技术可以加速光刻胶的化学反应,进一步缩短处理时间。
提高生产效率
光刻工艺的优化
03
刻蚀工艺详细介绍
离子刻蚀机
以离子束或离子束辅助化学反应的方式进行刻蚀。具有各向异性刻蚀、高分辨率和低损伤等优点,但刻蚀速率较慢,设备昂贵。
刻蚀机的种类与特点
国外光刻与刻蚀工艺发展现状
光刻工艺技术创新
介绍光刻工艺中具有代表性的技术创新,包括高分辨率光刻技术、浸润式光刻技术、多晶圆对准技术等。
刻蚀工艺技术创新
介绍刻蚀工艺中具有代表性的技术创新,包括离子束刻蚀技术、等离子刻蚀技术、反应离子刻蚀技术等。
光刻与刻蚀工艺的技术创新
光刻与刻蚀工艺的发展趋势
从技术、应用和产业三个维度分析光刻与刻蚀工艺未来的发展趋势,包括技术发展方向、应用领域拓展和产业布局优化等方面。
挑战1
挑战2
挑战3
挑战4
需要严格控制各种参数,如温度、湿度和压力等。
需要不断优化工艺流程,提高生产效率。
对操作人员的技能和经验有较高的要求。
提高工艺精度的对策
采用先进的设备和技术,提高设备的稳定性和精度。
对策1
优化工艺参数,建立完善的数据库,实现参数的快速检索和准确控制。
对策2
采用高精度测量仪器,对产品进行准确的尺寸测量和质量控制。
曝光系统
曝光系统将掩膜上的图形转换为光束,并投射到光刻胶上。通常由光源、光阑、反射镜和投影透镜等组成。
运动系统
运动系统用于在光刻胶上扫描光束,以实现大面积的光刻。
光刻机工作原理
光学接触剂和干法接触剂
正性胶和负性胶
厚胶和薄胶
光刻与刻蚀工艺流程
光刻与刻蚀工艺流程光刻和刻蚀是微电子加工过程中常用的两个工艺步骤。
光刻用于创建芯片上的图案,而刻蚀则用于移除不需要的材料。
以下是光刻和刻蚀的工艺流程。
光刻工艺流程:1.沉积光刻胶:首先,在硅片上沉积一层光刻胶。
这是一个具有高度选择性和可重复性的光敏聚合物材料,能够在曝光过程中改变化学性质。
2.乾燥和前处理:将光刻胶乾燥,然后对其进行前处理,例如去除表面的污垢和残留物。
3.涂布光刻胶:用涂胶机将光刻胶均匀地涂布在硅片的表面。
4.烘烤:将涂覆有光刻胶的硅片进行烘烤,以去除溶剂并使光刻胶层变得坚硬和耐久。
5.对位:将掩模对位仪对准硅片上的光刻胶层,确保光刻胶上的图案与所需的芯片图案完全一致。
6.曝光:通过紫外线照射机将光传递到光刻胶上,使其形成与掩模图案相同的图案。
7.显影:使用显影液处理光刻胶,显影液会将未曝光的部分光刻胶溶解掉,只留下曝光过的部分。
刻蚀工艺流程:1.腐蚀栅极:首先,通过化学腐蚀将栅极区域的金属材料去除,只保留未覆盖的部分,以便后续步骤。
2.沉积绝缘层:然后,在晶圆上沉积一层绝缘层材料,用以隔离电路的不同层次。
3.涂胶和曝光:使用同样的光刻胶工艺,在绝缘层表面涂覆光刻胶,并将掩模对位仪对准绝缘层上的光刻胶层。
4.显影:通过显影液处理光刻胶,保留所需的图案,暴露绝缘层。
5.刻蚀绝缘层:使用化学腐蚀或物理刻蚀技术,将未被光刻胶保护的绝缘层材料去除,使其与下方的层次保持相同的图案。
6.清洗和检验:最后,对晶圆进行清洗,以去除残留的光刻胶和刻蚀剂。
然后,对刻蚀图案进行检验,确保其质量和精确度。
这就是光刻和刻蚀的工艺流程。
通过这些步骤,可以在微电子芯片上创建复杂的电路和结构,以实现功能丰富的科技产品。
光刻与刻蚀工艺流程ppt
硅片准备
涂胶种类
根据光刻掩膜版的要求,选择合适的涂胶材料。
涂胶厚度
控制涂胶的厚度,一般要求均匀、无气泡、无杂质。
涂胶
曝光方式
根据光刻掩膜版图形设计要求,选择合适的曝光方式。
曝光时间
控制曝光时间,保证光刻胶充分反应且不过度曝光。
曝光
显影液选择
根据光刻胶的性质,选择合适的显影液。
控制显影时间
显影时间要适当,以充分溶解光刻胶,同时避免损伤硅片表面。
纳米科技领域需要借助光刻和刻蚀技术来制造纳米级结构,从而进一步探索纳米世界的奥秘。
在生物医学工程领域,光刻和刻蚀技术可以制造出复杂的微纳结构,用于药物输送、组织工程等应用。
纳米科技
生物医学工程
建议与展望
06
优化工艺参数
通过严格控制实验参数,如波长、功率、曝光时间等,以提高工艺稳定性和效率。
引入先进设备
xx年xx月xx日
光刻与刻蚀工艺流程ppt
CATALOGUE
目录
光刻和刻蚀工艺简介光刻工艺详细流程刻蚀工艺详细流程光刻和刻蚀工艺的控制因素光刻和刻蚀工艺的未来发展建议与展望
光刻和刻蚀工艺简介
01
1
光刻工艺发展历程
2
3
最早的光刻工艺,分辨率较低,制程技术限制较大。
接触式光刻工艺
改善了分辨率和制程技术限制的问题,但仍然存在接触式光刻工艺的一些缺点。
采用先进的自动控制系统和智能化设备,实现工艺过程的实时监控和精准调控。
改进工艺流程
简化工艺流程,减少重复步骤,降低工艺时间和成本。
提高工艺稳定性与效率的措施
技术交叉融合
加强光刻和刻蚀工艺与材料科学、物理学、化学等学科的交叉融合,引入新技术,如纳米压印、离子束刻蚀等,提高工艺水平和效率。
集成电路制造工艺之光刻与刻蚀工艺讲课文档
水分子的机会将会降低,涂布HMDS的效果将会更加理想。
第六页,共111页。
涂胶
把硅片放在一个平整的金属托盘上,有小孔与真空管相连,硅片就被吸在托盘上 ,硅片与托盘一起旋转。
上可以得到的最细线宽,因而最高的分辨率
Rmax
1 2L
p h
第十九页,共111页。
光子曝光的最高的分辨率
不同的粒子束,因其能量、动量不同,则ΔL亦不同。对于光子 L 2
通常把上式看作是光2还要细的线条。
其物理图像是,光的波动性所显现的衍射效应限制了线宽≥ λ/2 。因此最高
线宽与线条间距相等的情况下,R定义为
R 1 (mm1) 2L
线条越细,分辨率越高。 光刻的分辨率受到光刻系统、光刻胶和工艺等各方面的限制。这里我们只从物
理角度对分辨率进行探讨。
光刻中所用的曝光光源是光、电子、离子和X射线等各种粒子束。从量子物 理的角度看,限制分辨率的因素是衍射。
第十八页,共111页。
正胶的感光区在显影时溶掉,没有感光的 区域在显影时不溶解,因此形成的光刻胶图 形是掩模版图形的正影像。
负胶的情况与正胶相反,经过显影后光刻胶层 上形成的是掩模版的负性图形。
正胶的分辨率比负胶高。
第二十三页,共111页。
、对比度
为了测量光刻胶的对比度,将一定厚度的光刻胶膜在不同的辐照剂量下曝 光,然后测量显影之后剩余光刻胶的膜厚,利用得到的光刻胶膜厚-曝光剂量
以正胶为例,部分区域的光刻胶受到的曝光剂量小 于Dc而大于Do,在显影过程中只有部分溶解。因此经过
光刻与刻蚀工艺流程资料111页PPT
▪
27、只有把抱怨环境的心情,化为上进的力量,才是成功的保证。——罗曼·罗兰
▪
28、知之者不如好之者,好之者不如乐之者。——孔子
▪
29、勇猛、大胆和坚定的决心能够抵得上武器的精良。——达·芬奇
▪
30、意志是一个强壮的盲人,倚靠在明眼的跛子肩上。——叔本华
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光刻与刻蚀工艺流程资料
21、没有人陪你走一辈子,所以你要 适应孤 独,没 有人会 帮你一 辈子, 所以你 要奋斗 一生。 22、当眼泪流尽的时候,留下的应该 是坚强 。 23、要改变命运,首先改变自己。
24、勇气很有理由被当作人类德性之 首,因 为这种 德性保 证了所 有其余 的德性 。--温 斯顿. 丘吉尔 。 25、梯子的梯阶从来不是用来搁脚的 ,它只 是让人 们的脚 放上一 段时间 ,以便 让别一 只脚快,这是不可能的,因为人类必须具备一种能应付逆境的态度。——卢梭
光刻与刻蚀工艺流程
Positive Photoresist 正性光刻胶-正胶 曝光后可溶解 显影时曝光的被溶解 高分辨率
Jincheng 影液中的溶剂 由于光刻胶膨胀而使分辨率降低 其主溶剂,如二甲苯等会引起环境和安全问题
Jincheng Zhang
正胶 Positive Photoresist
Jincheng Zhang
接触式曝光
Jincheng Zhang
接近式曝光机
掩膜与圆片表面有5-50μm间距 优点:较长的掩膜寿命 缺点:分辨率低(线宽> 3 um)
Jincheng Zhang
接近式曝光机
Jincheng Zhang
接近式曝光
Jincheng Zhang
投影式曝光机
高抗蚀性 好黏附性
Jincheng Zhang
光刻工艺 Photolithography Process
光刻基本步骤
• 涂胶 Photoresist coating • 对准和曝光 Alignment and exposure • 显影 Development
Jincheng Zhang
μm
Jincheng Zhang
对准和曝光设备
接触式曝光机 接近式曝光机 投影式曝光机 步进式曝光机(Stepper)
Jincheng Zhang
接触式曝光机
设备简单 分辨率:可达亚微米 掩膜与圆片直接接触,掩膜寿命有限 微粒污染
Jincheng Zhang
接触式曝光机
类似于投影仪 掩膜与晶圆图形 1:1 分辨率:~1 um
光刻概述 Photolithography
临时性地涂覆光刻胶到硅片上 把设计图形最终转移到硅片上 IC制造中最重要的工艺 占用40 to 50% 芯片制造时间 决定着芯片的最小特征尺寸
(完整版)光刻与刻蚀工艺
光刻工艺过程
❖涂胶 coating ❖前烘 prebaking ❖曝光 exposure ❖显影 development ❖坚膜 postbake ❖刻蚀 etch ❖去胶 strip ❖检验 inspection
1、涂胶
SiO2
Si (1)氧化、清洗
光刻胶 SiO2
Si (2)涂胶、前烘
1、涂胶
❖ 在图形曝光的工 作区域,则需要等级 10或1的洁净室。
lithography
❖Introduction
❖ 光刻 ▪ 洁净室 ▪ 工艺流程 ▪ 光刻机 ▪ 光刻胶 ▪ 掩膜版
光刻原理(1)
❖ 掩膜版图形转移到光刻胶
▪ 在光刻过程中,光刻胶受到光辐射之后发生光 化学反应,其内部分子结构发生变化,在显影 液中光刻胶感光部分与未感光部分的溶解速度 相差非常大。
❖涂胶目的
▪ 在硅片表面形成厚度均匀、附着性强、并且没 有缺陷的光刻胶薄膜。
❖怎样才能让光刻胶粘的牢一些?
可以开始涂胶了……
❖ 怎么涂?
▪ 旋转涂胶法:把胶滴在硅片,然后使硅片高速旋转, 液态胶在旋转中因离心力作用由轴心沿径向(移动) 飞溅出去,但粘附在硅表面的胶受粘附力的作用而留 下。在旋转过程中胶所含的溶剂不断挥发,故可得到 一层均匀的胶膜
▪ (2)等级为M3.5的洁净室(公制),直径大 于或等于0.5um的尘埃粒子总数不超过103.5 (约3500个/m3)
❖ 100个/ft3= 3500个/m3
▪ 一个英制等级100的洁净室相当于公制等级 M3.5的洁净室。
洁净室(4)
❖ 对一般的IC制造 区域,需要等级100 的洁净室,约比一般 室内空气低4个数量 级。
Resist coat (wafer track)
光刻和刻蚀工艺流程
光刻和刻蚀工艺流程第一步:光刻掩膜准备光刻工艺的第一步是制备掩膜。
掩膜是一种类似于胶片的薄膜,上面有制作好的电路图形。
通常,光刻掩膜由专门的光刻工艺工程师根据电路图形设计,并通过专业软件生成掩膜图形。
之后将掩膜图形转移到掩膜胶片上。
第二步:光刻胶涂覆接下来,在待加工的硅片表面涂覆一层光刻胶。
光刻胶是一种特殊的光敏物质,具有对紫外光敏感的特性。
使用旋涂机将光刻胶均匀涂覆在硅片上。
第三步:软烘烤硅片上涂覆好光刻胶之后,需要进行软烘烤步骤。
软烘烤的作用是去除光刻胶中的溶剂以及帮助光刻胶更好地附着在硅片表面上。
软烘烤的温度和时间根据不同的光刻胶种类和工艺要求进行调节。
第四步:曝光曝光是光刻工艺的关键步骤。
在曝光台上,将掩膜和被涂覆光刻胶的硅片对准,并通过紫外光照射。
光刻胶中被曝光的部分会发生化学变化,形成光刻胶的图形。
第五步:后烘烤曝光之后,需要进行后烘烤。
烘烤的目的是加强光刻胶的图形,使其更稳定并提高精度。
烘烤温度和时间根据不同的光刻胶种类和工艺要求进行调节。
第六步:显影显影是将光刻胶中未曝光的部分溶解掉的步骤。
将硅片浸入特定的显影液中,显影液会将光刻胶中溶解掉的部分清除掉,形成具有电路图形的光刻胶。
第七步:刻蚀刻蚀是将未被光刻胶保护的硅片表面精确地去除掉部分的步骤,以形成电路图形。
刻蚀液根据硅片的材料和刻蚀目标而确定。
将硅片浸入刻蚀液中,刻蚀液会剥离掉没有光刻胶保护的硅片表面,形成光刻胶的图形。
第八步:去光刻胶刻蚀完成后,需要将光刻胶从硅片上去除。
通常使用酸性或碱性溶液将光刻胶溶解掉。
去光刻胶后,就得到了具有电路图形的硅片。
以上就是光刻和刻蚀的工艺流程。
光刻和刻蚀工艺对于微电子芯片的制造至关重要,能够提供精确的电路图形,是制造集成电路的基础步骤。
随着技术的不断发展,光刻和刻蚀工艺也在不断改进,以满足高集成度和高性能的微电子芯片的制造需求。
第八章光刻与刻蚀工艺PPT课件
48
8.6.6 投影式曝光
优点:光刻版不受损伤, 对准精度高。
缺点:光学系统复杂, 对物镜成像要求高。
用于3μm以下光刻。
49
分步重复投影光刻机--Stepper
采用折射式光学系统和4X~5X的缩小透镜。 光刻版: 4X~5X; 曝光场:一次曝光只有硅片的一部分; 采用了分步对准聚焦技术。
KrF:λ= 248nm;
ArF:λ= 193nm;
F2激光器: λ= 157nm。
17
8.1 光刻工艺流程
高压汞灯紫外光谱
18
8.1 光刻工艺流程
ⅱ)曝光方式(曝光机) a.接触式:硅片与光刻版紧密接触。 b.接近式:硅片与光刻版保持5-50μm间距。 c.投影式:利用光学系统,将光刻版的图形投影在硅片上
光照时发生化学分解或聚合反应通过曝光转移设计图形到光刻胶上类似于照相机胶片上涂覆的光敏材料negativephotoresist负性光刻胶positivephotoresist正性光刻胶曝光后不可溶解曝光后可溶解显影时未曝光的被溶解显影时曝光的被溶解便宜高分辨率35负胶negativehotoresists
正胶的S大于负胶
42
8.3 光刻胶的基本属性
4) 光刻胶抗蚀能力 表征光刻胶耐酸碱(或等离子体)腐蚀的程度。 对湿法腐蚀:抗蚀能力较强;
干法腐蚀:抗蚀能力较差。 负胶抗蚀能力大于正胶; 抗蚀性与分辨率的矛盾:分辨率越高,抗蚀性越差;
43
8.6 紫外光曝光
光源: 紫外(UV)、深紫外(DUV);
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接触式曝光示意图 步进-重复(Stepper)曝光示意图20
8.1 光刻工艺流程
下一代曝光方法
光刻与刻蚀工艺流程课件
REPORT
CATALOG
DATE
ANALYSIS
SUMMAR Y
02
刻蚀工艺简介
刻蚀工艺的定义
刻蚀工艺:是指利用物理或化学方法,将材料表面的一部分 去除,以达到形成图案或结构的目的。
在半导体制造中,刻蚀工艺是关键的步骤之一,用于形成电 路、器件和其它微结构。
刻蚀工艺的原理
物理刻蚀
利用物理能量,如高能粒子或等 离子体,轰击材料表面,使其原 子或分子从表面溅射出来。
总结词
胶的均匀涂布是光刻工艺中的重要环节,直接影响到光刻胶的覆盖质量和均匀 性。
详细描述
在涂胶过程中,要确保胶液的均匀分布,避免出现胶层厚薄不均、气泡等问题 。可以采用匀胶机进行涂布,控制好涂布速度和温度,以保证胶的均匀性。
曝光能量控制问题
总结词
曝光能量是光刻工艺中的关键参数, 直接影响到曝光质量和光刻胶的溶解 度。
预烘
预烘
使光刻胶中的溶剂挥发, 增强光刻胶与硅片之间的 黏附力。
预烘温度和时间
根据光刻胶类型和特性而 定。
预烘作用
提高光刻胶的黏附性和稳 定性。
曝光
曝光
通过掩膜版将所需图案投影到光 刻胶上,使光刻胶发生化学反应
。
曝光方式
接触式曝光、接近式曝光、扫描 式曝光等。
曝光剂量
影响光刻胶的溶解性和分辨率。
坚膜温度的控制问题
总结词
坚膜温度是光刻工艺中的重要参数,直接影响到光刻胶的硬度和附着力。
详细描述
要选择合适的坚膜温度,以保证光刻胶的硬度和附着力。坚膜温度过高会导致光刻胶变脆,而坚膜温度过低会导 致光刻胶附着力下降,影响光刻效果。
腐蚀深度的问题
总结词
光刻与刻蚀工艺ppt课件
6.1 概述
光刻技术被用来界定p-n结的几何形状。
在形成SiO2之后。利用高速旋转机,将晶 片表面旋涂一层对紫外光敏感的材料,称 为光刻胶(photo-resist)。将晶片从旋转机 拿下之后[图 (c)],在80C~100C之间烘烤。 以驱除光刻胶中的溶剂并硬化光刻胶,加 强光刻胶与晶片的附着力。如图 (d)所示, 下一个步骤使用UV光源,通过一有图案的 掩模版对晶片进行曝光。对于被光刻胶覆 盖的晶片在其曝光的区域将依据光刻胶的 型态进行化学反应。而被暴露在光线中的 光刻胶会进行聚合反应,且在刻蚀剂中不 易去除。聚合物区域在晶片放进显影剂 (developer)后仍然存在,而未被曝光区域 (在不透明掩模版区域之下)会溶解并被洗去。
8.2 光刻工艺
正胶和负胶图形转移
光刻胶通常可分为正性胶和负性 胶两类,两者经曝光和显影后得到的 图形正好相反。显影时,正胶的感光 区较易溶解而未感光区不溶解,所形 成的光刻胶图形是掩模版图形的正映 象。负胶的情况正相反,显影时感光 区较难溶解而未感光区溶解,形成的 光刻胶图形是掩模版图形的负映象。
8.2 光刻工艺
光学光刻使用的正胶通常含有三种主要成分:酚醛树脂、感光 剂和有机溶剂。曝光前的光刻胶基本上不溶于显影液。曝光时, 感光剂 — 如 g 线(436 nm)和 i 线(365 nm)光刻时正胶中 的重氮醌(DNQ),因吸收光能而导致化学结构发生变化,在显 影液中的溶解度比曝光前高出很多(约100倍)。显影后,感光 部分光刻胶被溶解去除。
优点:有较高刻 自从80年代后期用多晶硅成功制作旋转式微马达于硅芯片上以来,微机电系统(microelectromechanical systems,MEMS)迅速引起人
们化的学注 方意式光。:等刻离子体(产li生t的h中o性g反r应a物p与h物质y表,面相又互作译用产图生挥形发性曝产物光。 ):使用带有某一层设计几 何图形的掩模版(mask),通过光化学反应,经过曝光和显影,使光 这种方式使得微机电系统产品类似于集成电路,可整批制造,廉价推广。
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光刻 与 刻蚀工艺流程简介
51、没有哪个社会可以制订一部永远 适用的 宪法, 甚至一 条永远 适用的 法律。 ——杰 斐逊 52、法律源于人的自卫本能。——英 格索尔
53、人们通常会发现,法律就是这样 一种的 网,触 犯法律 的人, 小的可 以穿网 而过, 大的可 以破网 而出, 只有中 等的才 会坠入 网中。 ——申 斯通 54、法律就是法律它是一座雄伟的大 夏,庇 护着我 们大家 ;它的 每一块 砖石都 垒在另 一块砖 石上。 ——高 尔斯华 绥 55、今天的法律未必明天仍是法律。 ——罗·伯顿