共价晶体+点缺陷习题答案

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(完整word版)第二章晶体结构缺陷习题答案

(完整word版)第二章晶体结构缺陷习题答案

第二章晶体结构缺陷1.(错)位错属于线缺陷,因为它的晶格畸变区是一条几何线。

2.(错)螺型位错的柏氏失量与其位错线垂直,刃型位错的柏氏失量与其位错线是平行.3。

(错)肖特基缺陷是由于外来原子进入晶体而产生的缺陷。

4.(错)弗伦克尔缺陷是由于外来原子进入晶体而产生的缺陷。

二选择题1.非化学剂量化合物Zn1+x O中存在 A .A. 填隙阳离子B。

阳离子空位C. 填隙阴离子D. 阴离子空位2. 非化学计量化合物UO2+x中存在 C 。

A. 填隙阳离子B. 阳离子空位C。

填隙阴离子 D. 阴离子空位3.非化学剂量化合物TiO2-x中存在 D 。

A. 填隙阳离子B。

阳离子空位C。

填隙阴离子D。

阴离子空位4.螺型位错的位错线是 A 。

A。

曲线B。

直线C。

折线D。

环形线5.非化学剂量化合物ZnO1-x中存在 D 。

A。

填隙阳离子 B. 阳离子空位C. 填隙阴离子D。

阴离子空位6. 非化学计量化合物UO2+x中存在 C 。

A. 填隙阳离子B. 阳离子空位C. 填隙阴离子D. 阴离子空位三、名词解释1. 弗仑克尔缺陷原子离开其平衡位置二进入附近的间隙位置,在原来位置上留下空位所形成的缺陷,特点是填隙原子与空位总是成对出现。

2.固溶体:物种数:凡在固体条件下,一种组分(溶剂)内“溶解”了其它组分(溶质)而形成的单一、均匀的晶态固体称为固溶体。

四、解答题1.完成下列缺陷方程式,并且写出相应的化学式(1)NaCl 溶入CaCl 2中形成空位型固溶体;(2)CaCl 2溶人NaC1中形成空位型固溶体;解:(1)NaClNa Ca ’+ Cl Cl + V Cl ·Ca 1-x Na x Cl 2-x(2)CaCl 2Ca Na · + 2Cl Cl + V Na ' Na 1-2x Ca X Cl2完成下列缺陷方程式,并且写出相应的化学式(6分)(1)M gCl 2固溶在LiCl 晶体中形成填隙型Li 1-x Mg x Cl 1+x(2) SrO 固溶在Li 2O 晶体中形成空位型Li 2-2x Sr x O3.写出下列缺陷反应式①。

(完整word版)晶体中的结构缺陷试题及答案

(完整word版)晶体中的结构缺陷试题及答案

3、某晶体中一条柏氏矢量为a 001】的位错线,位错的一端位于晶体表面,另一端晶体中的结构缺陷试题及答案1、纯铁中空位形成能为 105KJ/mol ,将纯铁加热到 850C 后激冷至室温(20C ),若高温 下的空位能全部保留。

试求过饱和空位浓度和平衡空位浓度的比值 解:8500C:C i =Aex P (-Q/RT)…200C :C^Aexp(-Q/R12) Q,1 1、 105x102J/mol ,1 1、 =ex p ——(——-——)=exp --------- X ( ) R T 2 1/ 8.31J/mol 293 1123=ex p31.58 = 5.2x10132、画一个园形位错环,并在这个平面上任意划出 它的柏氏矢量及位线的方向,据此指出位错环各 线段的性质,注意指明刃型位错的正负及螺型位 错的左右?答:A 点负刃型位错。

C 点正刃型位错。

B 点左螺型位错。

D 点为右螺型位错。

其余各段为混合位错。

C C 2的螺型位错上所受的法向力, (已知a=0.4nm ) 解:和两条位错线相连接。

其中一条的柏矢量为I [呵,求另一条位错线的柏氏矢量。

解:据=0,即乙=乙 +b 3,a001] = -(i 111l + b 32 L 」二号1和e 1, e 2相交的位错为 e 3,可以和位错 e 1,e 2的柏氏回路 B ’+B ?相重合而^^1 十卫"^3 +'?24、在铝试样中,测得晶粒内部位错密度为 5咒109cm ,假定位错全部集中在亚晶界上,每个晶粒的截面均为正六边形,亚晶的倾斜角为5度,若位错全部是刃型位错b=|1o1】,柏氏矢量大小等于2>^10」0m,试求亚晶界上位错间距和亚晶的平均尺寸。

解:由图可见OA 为尹1 S o 丄0諾1”0—1必心=2.828 Xio^m1 )D =卫=2^10" 0=2.28nm ' 丿 3 0.0175X5(2,F P =5X109/cm 2=5咒 102/nm 2,1cm =107nm依题义位错全部集中亚晶上即正六边形六条边上则每条边上有位错 舸米z P 5X102根数为:一= -------=876 6VD =2.28nm ”•.六边形边长为:2.28X87 =198.36nm 则晶粒外接圆直径 d =2X198.36 =396.72nm5、铝单晶体沿[010]方向承受8000pa 的拉应力,求(111)面上柏氏矢量 卞=号*01由已知,e t =1 010 ]e 2 =1 001 ]设和 对e 3作回路 B 3.B 3前进并扩大时柏氏回路 B ’ +B 2的柏氏矢量为10 1 一即为DB或AD在T力作用下滑移T — cos 60 0 T i-X = X1 cos 60 0, OE 为(11 是f11 的法向= ,申为外力P和法向夹角由图可见cos 护=—a—,y3aP-T1 = — cos tp … F= 3.26 X10 (N /nm 2)= 0.577 , P和滑移方向BC夹角入=45 0 cos cos tp ,cos A = 8 X10 3X10 - X 10 - X0 8 /X —X1 cos 60 —1 .63 X10 —(N / nmf =養=4.613 X10 —(N /nm )6、假定某面心立方晶体的活动滑移系为①试给出引起滑移的位错的柏氏矢量, 并加以说明。

晶体缺陷习题及答案解析

晶体缺陷习题及答案解析

晶体缺陷习题与答案1 解释以下基本概念肖脱基空位、弗仑克尔空位、刃型位错、螺型位错、混合位错、柏氏矢量、位错密度、位错的滑移、位错的攀移、弗兰克—瑞德源、派—纳力、单位位错、不全位错、堆垛层错、汤普森四面体、位错反应、扩展位错、表面能、界面能、对称倾侧晶界、重合位置点阵、共格界面、失配度、非共格界面、内吸附。

2 指出图中各段位错的性质,并说明刃型位错部分的多余半原子面。

3 如图,某晶体的滑移面上有一柏氏矢量为b 的位错环,并受到一均匀切应力τ。

(1)分析该位错环各段位错的结构类型。

(2)求各段位错线所受的力的大小及方向。

(3)在τ的作用下,该位错环将如何运动?(4)在τ的作用下,若使此位错环在晶体中稳定不动,其最小半径应为多大?4 面心立方晶体中,在(111)面上的单位位错]101[2ab =,在(111)面上分解为两个肖克莱不全位错,请写出该位错反应,并证明所形成的扩展位错的宽度由下式给出πγ242Gb s d ≈(G 切变模量,γ层错能)。

5 已知单位位错]011[2a能与肖克莱不全位错]112[6a 相结合形成弗兰克不全位错,试说明:(1)新生成的弗兰克不全位错的柏氏矢量。

(2)判定此位错反应能否进行?(3)这个位错为什么称固定位错?6 判定下列位错反应能否进行?若能进行,试在晶胞上作出矢量图。

(1)]001[]111[]111[22a a a→+(2)]211[]112[]110[662a a a+→(3)]111[]111[]112[263a a a→+7 试分析在(111)面上运动的柏氏矢量为]101[2a b =的螺位错受阻时,能否通过交滑移转移到(111),(111),(111)面中的某个面上继续运动?为什么?8 根据晶粒的位向差及其结构特点,晶界有哪些类型?有何特点属性?9 直接观察铝试样,在晶粒内部位错密度为5×1013/m 2,如果亚晶间的角度为5o ,试估算界面上的位错间距(铝的晶格常数a=2.8×10-10m)。

晶体缺陷习题教(学)案答案解析

晶体缺陷习题教(学)案答案解析

晶体缺陷习题与答案1 解释以下基本概念肖脱基空位、弗仑克尔空位、刃型位错、螺型位错、混合位错、柏氏矢量、位错密度、位错的滑移、位错的攀移、弗兰克—瑞德源、派—纳力、单位位错、不全位错、堆垛层错、汤普森四面体、位错反应、扩展位错、表面能、界面能、对称倾侧晶界、重合位置点阵、共格界面、失配度、非共格界面、内吸附。

2 指出图中各段位错的性质,并说明刃型位错部分的多余半原子面。

3 如图,某晶体的滑移面上有一柏氏矢量为b 的位错环,并受到一均匀切应力τ。

(1)分析该位错环各段位错的结构类型。

(2)求各段位错线所受的力的大小及方向。

(3)在τ的作用下,该位错环将如何运动?(4)在τ的作用下,若使此位错环在晶体中稳定不动,其最小半径应为多大?4 面心立方晶体中,在(111)面上的单位位错]101[2ab =,在(111)面上分解为两个肖克莱不全位错,请写出该位错反应,并证明所形成的扩展位错的宽度由下式给出πγ242Gb s d ≈(G 切变模量,γ层错能)。

5 已知单位位错]011[2a能与肖克莱不全位错]112[6a 相结合形成弗兰克不全位错,试说明:(1)新生成的弗兰克不全位错的柏氏矢量。

(2)判定此位错反应能否进行?(3)这个位错为什么称固定位错?6 判定下列位错反应能否进行?若能进行,试在晶胞上作出矢量图。

(1)]001[]111[]111[22a a a→+ (2)]211[]112[]110[662a a a+→ (3)]111[]111[]112[263a a a→+7 试分析在(111)面上运动的柏氏矢量为]101[2ab =的螺位错受阻时,能否通过交滑移转移到(111),(111),(111)面中的某个面上继续运动?为什么?8 根据晶粒的位向差及其结构特点,晶界有哪些类型?有何特点属性?9 直接观察铝试样,在晶粒内部位错密度为5×1013/m 2,如果亚晶间的角度为5o ,试估算界面上的位错间距(铝的晶格常数a=2.8×10-10m)。

第四章晶体中的点缺陷与线缺陷作业题答案

第四章晶体中的点缺陷与线缺陷作业题答案
2 3 解: 3MgO 2Mg Al Mg i 3OO (1)
Al O
'

Al2 O3 2MgO 2Mg 'Al VO 2OO CaF2 '' 2YF3 2YCa VCa 6FF
(2) (4)
CaF2 YF3 YCa Fi' 2FF
CaF

'

2 B、 2YF3 2YCa VCa 6FF
CaF

"

A 可能性较大。因萤石晶体中存较多的八面体空隙,F-离子半径较小,形成填隙型固溶体比较稳定。 6、CeO2 为萤石结构,其中加入 15mol%CaO 形成固溶体,测得固溶体密度 D=7.01g/cm3,晶胞参数 a0= 0.5417nm,试通过计算判断生成的是哪一种类型固溶体。(已知原子量 Ce 140.12,Ca 40.08,O 16.00) 解:对于 CaO-CeO2 固溶体来说,从满足电中性来看,可以形成氧离子空位的固溶体也可形成 Ca2+嵌入阴 离子间隙中的固溶体,其固溶方程为:
当 CaCl2 中 Ca2+置换 KCl 中 K+而出现点缺陷,其缺陷反应式如下:
KCl ' CaCl2 Ca K 2ClCl +VK
CaCl2 中 Ca2+进入到 KCl 间隙中而形成点缺陷的反应式为:
KCl ' CaCl2 Ca i 2ClCl +2VK
5. 试写出以下缺陷方程(每组写出二种),并判断是否可以成立,同时简单说明理由。
CeO 2 CaO Ca " Ce VO O O CeO 2 2CaO Ca " Ce Ca i 2O O

第四章 晶体结构缺陷习题与解答

第四章 晶体结构缺陷习题与解答

第四章晶体结构缺陷习题与解答4.1 名词解释(a)弗伦克尔缺陷与肖特基缺陷;(b)刃型位错和螺型位错解:(a)当晶体热振动时,一些能量足够大的原子离开平衡位置而挤到晶格点的间隙中,形成间隙原子,而原来位置上形成空位,这种缺陷称为弗伦克尔缺陷。

如果正常格点上原子,热起伏后获得能量离开平衡位置,跃迁到晶体的表面,在原正常格点上留下空位,这种缺陷称为肖特基缺陷。

(b)滑移方向与位错线垂直的位错称为刃型位错。

位错线与滑移方向相互平行的位错称为螺型位错。

4.2试述晶体结构中点缺陷的类型。

以通用的表示法写出晶体中各种点缺陷的表示符号。

试举例写出CaCl2中Ca2+置换KCl中K+或进入到KCl间隙中去的两种点缺陷反应表示式。

解:晶体结构中的点缺陷类型共分:间隙原子、空位和杂质原子等三种。

在MX 晶体中,间隙原子的表示符号为MI或XI;空位缺陷的表示符号为:VM或VX。

如果进入MX晶体的杂质原子是A,则其表示符号可写成:AM或AX(取代式)以及Ai(间隙式)。

当CaCl2中Ca2+置换KCl中K+而出现点缺陷,其缺陷反应式如下:CaCl2++2Cl ClCaCl2中Ca2+进入到KCl间隙中而形成点缺陷的反应式为:CaCl2+2+2Cl Cl4.3在缺陷反应方程式中,所谓位置平衡、电中性、质量平衡是指什么?解:位置平衡是指在化合物MaXb中,M格点数与X格点数保持正确的比例关系,即M:X=a:b。

电中性是指在方程式两边应具有相同的有效电荷。

质量平衡是指方程式两边应保持物质质量的守恒。

4.4(a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6ev,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。

(b)如果MgO晶体中,含有百万分之一mol的Al2O3杂质,则在1600℃时,MgO晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势?说明原因。

解:(a)根据热缺陷浓度公式:exp(-)由题意△G=6ev=6×1.602×10-19=9.612×10-19JK=1.38×10-23 J/KT1=25+273=298K T2=1600+273=1873K298K:exp=1.92×10-511873K:exp=8×10-9(b)在MgO中加入百万分之一的Al2O3杂质,缺陷反应方程为:此时产生的缺陷为[ ]杂质。

第二章晶体中的缺陷答案

第二章晶体中的缺陷答案

第六章空位与位错本章的主要内容:晶体中的缺陷,晶体缺陷的分类晶体缺陷的形成点缺陷:点缺陷的种类,点缺陷的形成,点缺陷的运动,点缺陷的平衡浓度,点缺陷对材料性能的影响位错:位错理论的起源:位错基本类型及特征:刃型位错,螺型位错,混合位错柏氏矢量:确定方法,柏氏矢量的模,实际晶体中的柏氏矢量,柏氏矢量的特性,位错密度外力场中作用在位错线上的力位错运动:滑移,攀移,派一纳力位错的弹性性质:直螺错的应力场,直刃错的应力场,混合直位错的应力场位错的应变能位错间的交互作用:两根平行螺位错的交互作用,两根平行刃位错的交互作用,位错的塞积、位错的增殖实际晶体中的位错:单位位错,堆垛层错,不全位错:肖克莱,弗兰克不全位错位错反应1 填空1、在某温度下,晶体中的空位数与点阵数的比值称为___点缺陷的平衡浓度___。

2、ξ为位错线单位矢量,b为柏氏矢量,则bξ =0时为__刃型_位错,bξ =b时为_______右螺型___位错,bξ =-b时为___左螺型______位错。

3 三根右螺型位错线的正向都指向位错结点,则它们的柏氏矢量之和等于__零___。

4 设位错运动时引起晶体体积的变化为ϖV,则ϖV=0时为___滑移_____运动,ϖV≠0时为_____攀移__运动。

5 单位体积中位错线总长度称为__位错密度_____。

6、螺型位错的应力场只有两个相等的__切__应力分量,7、简单立方晶体、fcc晶体、bcc晶体和hcp晶体中单位位错的柏氏矢量依次是__a,_a/2[110]___、_____a/2[110]______、___a/3[11-20]____。

8 对含刃位错的晶体施加垂直于多余半原子面的压应力有利于__正____攀移,施加拉应力有助于___负__攀移。

9 作用在位错线上的力F d=_________________________,这个力F d与位错_垂直的τb___________方向。

10、位错可定义为_指晶体中某处一列或若干列原子发生了有规律的错排现象__。

晶体缺陷习题及答案解析

晶体缺陷习题及答案解析

晶体缺陷习题与答案1 解释以下基本概念肖脱基空位、弗仑克尔空位、刃型位错、螺型位错、混合位错、柏氏矢量、位错密度、位错的滑移、位错的攀移、弗兰克—瑞德源、派—纳力、单位位错、不全位错、堆垛层错、汤普森四面体、位错反应、扩展位错、表面能、界面能、对称倾侧晶界、重合位置点阵、共格界面、失配度、非共格界面、内吸附。

2 指出图中各段位错的性质,并说明刃型位错部分的多余半原子面。

3 如图,某晶体的滑移面上有一柏氏矢量为b 的位错环,并受到一均匀切应力τ。

(1)分析该位错环各段位错的结构类型。

(2)求各段位错线所受的力的大小及方向。

(3)在τ的作用下,该位错环将如何运动?(4)在τ的作用下,若使此位错环在晶体中稳定不动,其最小半径应为多大?4 面心立方晶体中,在(111)面上的单位位错]101[2ab =,在(111)面上分解为两个肖克莱不全位错,请写出该位错反应,并证明所形成的扩展位错的宽度由下式给出πγ242Gb s d ≈(G 切变模量,γ层错能)。

5 已知单位位错]011[2a 能与肖克莱不全位错]112[6a 相结合形成弗兰克不全位错,试说明:(1)新生成的弗兰克不全位错的柏氏矢量。

(2)判定此位错反应能否进行?(3)这个位错为什么称固定位错?6 判定下列位错反应能否进行?若能进行,试在晶胞上作出矢量图。

(1)]001[]111[]111[22a a a→+ (2)]211[]112[]110[662a a a+→ (3)]111[]111[]112[263a a a→+7 试分析在(111)面上运动的柏氏矢量为]101[2a b =的螺位错受阻时,能否通过交滑移转移到(111),(111),(111)面中的某个面上继续运动?为什么?8 根据晶粒的位向差及其结构特点,晶界有哪些类型?有何特点属性?9 直接观察铝试样,在晶粒内部位错密度为5×1013/m 2,如果亚晶间的角度为5o ,试估算界面上的位错间距(铝的晶格常数a=2.8×10-10m)。

晶体缺陷习题与答案Word版

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晶体缺陷习题与答案1 解释以下基本概念肖脱基空位、弗仑克尔空位、刃型位错、螺型位错、混合位错、柏氏矢量、位错密度、位错的滑移、位错的攀移、弗兰克—瑞德源、派—纳力、单位位错、不全位错、堆垛层错、汤普森四面体、位错反应、扩展位错、表面能、界面能、对称倾侧晶界、重合位置点阵、共格界面、失配度、非共格界面、内吸附。

2 指出图中各段位错的性质,并说明刃型位错部分的多余半原子面。

3 如图,某晶体的滑移面上有一柏氏矢量为b 的位错环,并受到一均匀切应力τ。

(1)分析该位错环各段位错的结构类型。

(2)求各段位错线所受的力的大小及方向。

(3)在τ的作用下,该位错环将如何运动?(4)在τ的作用下,若使此位错环在晶体中稳定不动,其最小半径应为多大?4 面心立方晶体中,在(111)面上的单位位错]101[2ab =,在(111)面上分解为两个肖克莱不全位错,请写出该位错反应,并证明所形成的扩展位错的宽度由下式给出πγ242Gb s d ≈(G 切变模量,γ层错能)。

5 已知单位位错]011[2a 能与肖克莱不全位错]112[6a 相结合形成弗兰克不全位错,试说明:(1)新生成的弗兰克不全位错的柏氏矢量。

(2)判定此位错反应能否进行?(3)这个位错为什么称固定位错?6 判定下列位错反应能否进行?若能进行,试在晶胞上作出矢量图。

(1)]001[]111[]111[22a a a→+ (2)]211[]112[]110[662a a a+→ (3)]111[]111[]112[263a a a→+7 试分析在(111)面上运动的柏氏矢量为]101[2ab =的螺位错受阻时,能否通过交滑移转移到(111),(111)面中的某个面上继续运动?为什么?1),(118 根据晶粒的位向差及其结构特点,晶界有哪些类型?有何特点属性?9 直接观察铝试样,在晶粒内部位错密度为5×1013/m2,如果亚晶间的角度为5o,试估算界面上的位错间距(铝的晶格常数a=2.8×10-10m)。

北京工业版第三章晶体缺陷习题答案

北京工业版第三章晶体缺陷习题答案

第三章晶体缺陷习题答案3-1解:纯金属晶体中主要点缺陷类型有肖脱基空位和弗兰克空位,还有和弗兰克空位等量的间隙原子。

点缺陷附近金属晶格发生畸变,由此会引起金属的电阻增加,体积膨胀,密度减小;同时可以加速扩散,过饱和点缺陷还可以提高金属的屈服强度。

3-2解:在一定温度下,晶体处于平衡状态时空位数和构成晶体的原子总数的比值称为晶体在该温度下的空位平衡浓度。

在一定的温度下总是存在一定浓度的空位,这是热力学平衡条件所要求的,这种空位浓度即为空位平衡浓度。

影响空位浓度的主要因素有空位形成能和温度。

当温度一定时,空位形成能越高则空位平衡浓度越低;当空位形成能一定时,温度越高则空位平衡浓度越高。

3-3解:由exp(/)E V C A E kT =-138502201exp(/)111051000exp[()] 6.9510exp(/)29311238.31E V E V C A E kT C A E kT -⨯==-⨯=⨯-3-4解:6002300112exp(/)11exp[()]exp(/)E V V E V C A E kT E C A E kT kT kT -==-⨯- 56600300121111ln/()8.61710(ln10)/() 1.98573873E V E C E eV C kT kT -=-=⨯⨯-=3-5解:exp(/)e V C A E kT =-exp(/)i i C A E kT '=-由题设,A A '=,0.76, 3.0v i E eV E eV ==, 所以当T=293K 时538exp(/)exp()/exp[(3.00.76)/(8.61710293)] 3.3910exp(/)e V i V i i C A E kT E E kT C A E kT --==-=-⨯⨯=⨯'-当T=773K 时514exp(/)exp()/exp[(3.00.76)/(8.61710773)] 4.0210exp(/)e V i V i i C A E kT E E kT C A E kT --==-=-⨯⨯=⨯'-3-6解:1为左螺旋位错,2为负刃型位错,3为右螺旋位错,4为正刃型位错。

晶体缺陷习题及答案

晶体缺陷习题及答案

晶体缺陷习题及答案晶体缺陷习题及答案晶体缺陷是固体材料中晶格结构的一种缺陷或不完美。

它们可以是原子、离子、分子或电子的缺陷,对材料的性质和行为有着重要的影响。

在材料科学和固体物理学中,研究晶体缺陷是一项重要的课题。

下面将为大家提供一些晶体缺陷的习题及答案,希望能够帮助大家更好地理解和掌握这一领域的知识。

习题一:什么是晶体缺陷?请简要描述一下晶体缺陷的种类。

答案:晶体缺陷是指固体材料中晶格结构的缺陷或不完美。

晶体缺陷可以分为点缺陷、线缺陷和面缺陷三种类型。

点缺陷包括空位、间隙原子、替位原子和杂质原子等;线缺陷包括位错和螺旋位错等;面缺陷包括晶界、堆垛层错和孪晶等。

习题二:请简要描述一下晶体中的空位缺陷和间隙原子缺陷。

答案:空位缺陷是指晶体中某些晶格位置上没有原子的缺陷。

在晶体中,原子有一定的热运动,有些原子可能会从晶格位置上跳出来,形成空位。

空位缺陷会导致晶体的密度减小,热稳定性降低。

间隙原子缺陷是指晶体中某些晶格位置上多出一个原子的缺陷。

在晶体中,有时会有一些原子占据了本不属于它们的晶格位置,形成间隙原子。

间隙原子缺陷会导致晶体的密度增大,热稳定性降低。

习题三:请简要描述一下晶体中的替位原子缺陷和杂质原子缺陷。

答案:替位原子缺陷是指晶体中某些晶格位置上被其他原子替代的缺陷。

在晶体中,有时会有一些原子替代了原本应该占据该位置的原子,形成替位原子。

替位原子缺陷会导致晶体的晶格常数发生变化,对晶体的性质产生重要影响。

杂质原子缺陷是指晶体中掺入了少量杂质原子的缺陷。

杂质原子可以是同位素原子或不同原子种类的原子。

杂质原子缺陷会导致晶体的导电性、光学性质等发生变化。

习题四:请简要描述一下晶体中的位错和螺旋位错。

答案:位错是指晶体中晶格排列发生错位的缺陷。

位错可以是边界位错或螺旋位错。

边界位错是指晶体中两个晶粒的晶格排列发生错位。

边界位错可以是位错线、位错面或位错体。

边界位错会影响晶体的力学性能和导电性能。

螺旋位错是指晶体中晶格排列呈螺旋状的缺陷。

第3章 晶体缺陷 笔记及课后习题详解(已整理 袁圆 2021.8.6)

第3章 晶体缺陷 笔记及课后习题详解(已整理 袁圆 2021.8.6)

第3章晶体缺陷笔记及课后习题详解(已整理袁圆 2021.8.6) 第3章晶体缺陷3.1 复习笔记一、点缺陷1.点缺陷的定义点缺陷是在结点上或邻近的微观区域内偏离晶体结构正常排列的一种缺陷。

2.点缺陷的特征尺寸范围约为一个或几个原子尺度,故称零维缺陷,包括空位、间隙原子、杂质或溶质原子。

3.点缺陷的形成晶体中,位于点阵结点上的原子以其平衡位置为中心作热振动,当某一原子具有足够大的振动能而使振幅增大到一定限度时,就可能克服周围原子对它的制约作用,跳离其原来的位置,使点阵中形成空结点,称为空位。

离开平衡位置的原子有三个去处:(1)迁移到晶体表面或内表面的正常结点位置上,而使晶体内部留下空位,称为肖特基(Schottky)缺陷;(2)挤入点阵的间隙位置,而在晶体中同时形成数目相等的空位和间隙原子,则称为弗仑克尔(Frenkel)缺陷;(3)跑到其他空位中,使空位消失或使空位移位;(4)在一定条件下,晶体表面上的原子也可能跑到晶体内部的间隙位置形成间隙原子图3.1 晶体中的点缺陷(a)肖特基缺陷(b)弗伦克尔缺陷(c)间隙原子4.点缺陷的平衡浓度(1)点缺陷存在的影响①造成点阵畸变,使晶体的内能升高,降低了晶体的热力学稳定性;②由于增大了原子排列的混乱程度,并改变了其周围原子的振动频率,引起组态熵和振动熵的改变,使晶体熵值增大,增加了晶体的热力学稳定性。

晶体组态熵的增值:最小,即式中,Qf为空位形成能,单位为J/mol,R为气体常数,R= 8.31J/(mol・K)。

(2)点缺陷浓度的几个特点对离子晶体而言,无论是Schottky缺陷还是Frenkel缺陷均是成对出现的事实;同时离子晶体的点缺陷形成能一般都相当大,故在平衡状态下存在的点缺陷浓度是极其微小的。

二、线缺陷 1.位错的定义晶体中某一列或若干列原子有规律的错排。

2.线缺陷的特征在两个方向上尺寸很小,另外一个方向上延伸较长,也称一维缺陷。

3.位错(1)位错的分类①刃型位错:晶体的一部分相对于另一部分出现一个多余的半排原子面。

缺陷化学试题及答案

缺陷化学试题及答案

缺陷化学试题及答案一、选择题(每题2分,共20分)1. 缺陷化学中,点缺陷是指:A. 晶体中原子的缺失B. 晶体中原子的多余C. 晶体中原子的错位D. 以上都是答案:D2. 以下哪种缺陷不属于点缺陷?A. 空位B. 间隙原子C. 晶界D. 置换原子答案:C3. 晶体中空位的形成能与下列哪个因素无关?A. 晶体的类型B. 晶体的尺寸C. 晶体的温度D. 晶体的化学成分答案:B4. 间隙原子通常在晶体的哪个区域形成?A. 晶界B. 晶格点C. 晶格面D. 晶格边缘5. 置换原子缺陷在晶体中形成时,晶体的体积变化是:A. 增加B. 减少C. 不变D. 无法确定答案:C6. 下列哪种缺陷可以增加晶体的电导率?A. 空位B. 间隙原子C. 置换原子D. 晶界答案:B7. 晶体中缺陷的浓度与温度的关系是:A. 温度升高,缺陷浓度增加B. 温度升高,缺陷浓度减少C. 温度降低,缺陷浓度增加D. 温度降低,缺陷浓度减少答案:A8. 晶体中缺陷的存在对晶体的机械性能影响是:A. 总是增强B. 总是减弱C. 可能增强也可能减弱D. 没有影响答案:C9. 以下哪种缺陷可以作为晶体中的扩散通道?B. 间隙原子C. 置换原子D. 晶界答案:A10. 晶体中缺陷的浓度与晶体的化学成分的关系是:A. 无关B. 化学成分不同,缺陷浓度相同C. 化学成分不同,缺陷浓度可能不同D. 化学成分不同,缺陷浓度一定不同答案:C二、填空题(每题2分,共10分)1. 晶体中的点缺陷包括________、________和________。

答案:空位、间隙原子、置换原子2. 晶体中的缺陷浓度可以通过________或________来增加。

答案:提高温度、掺杂3. 晶体中缺陷的存在可以导致晶体的________和________发生变化。

答案:物理性质、化学性质4. 晶体中缺陷的类型包括点缺陷、线缺陷和________。

答案:面缺陷5. 晶体中缺陷的形成能是指形成缺陷时系统________的变化。

材料物理化学 第四章 晶体的点缺陷与线缺陷 习题

材料物理化学 第四章 晶体的点缺陷与线缺陷 习题

此非化学计量化合物的组成为: Fe 已知:Fe3+/Fe2+=0.1 则: ∴ α = 0.044 ∴x=2α+(1-3α)=1-α=0.956 又:∵[V
3+
Fe
O
]=α = 0.044
正常格点数 N=1+x=1+0.956=1.956
∴空位浓度为
9、非化学计量氧化物 TiO2-x 的制备强烈依赖于氧分压和温度:(a)试列出其 缺陷反应式。(b)求其缺陷浓度表达式。 解:非化学计量氧化物 TiO2-x,其晶格缺陷属于负离子缺位而使金属离子 过剩的类型。 (a)缺陷反应式为:2Ti Ti?/FONT> O2↑→2 OO→ + +3OO
由题意 △G=6ev=6× 1.602× 10-19=9.612× 10-19J K=1.38× 10-23 J/K T1=25+273=298K T2=1600+273=1873K 298K: exp =1.92× 10-51
1873K:
exp
=8× 10-9
(b)在 MgO 中加入百万分之一的 Al2O3 杂质,缺陷反应方程为:
CaCl2 中 Ca2+进入到 KCl 间隙中而形成点缺陷的反应式为: CaCl2 +2 +2ClCl
3、在缺陷反应方程式中,所谓位置平衡、电中性、质量平衡是指什么? 解: 位置平衡是指在化合物 MaXb 中, M 格点数与 X 格点数保持正确的比例 关系,即 M:X=a:b。电中性是指在方程式两边应具有相同的有效电荷。质量 平衡是指方程式两边应保持物质质量的守恒。
其中 R=8.314J/mol· K =6.4× 10-3
当 T1=1000K 时,

固体物理习题参考解答缺陷

固体物理习题参考解答缺陷

固体物理习题参考解答 缺陷1. 设U f 为费仑克尔缺陷形成能证明在温度T 时,达到热平衡的晶体中费仑克尔缺陷的数目为:n f =NN 1e u f k b t -2 式中N 和N ‘分别为晶体的原子格点总数和间隙位置数,解: 已知 N :晶体的原子格点数, N ‘:间隙位置数U f =U 1+U ’其中U 1:空位形成能 U ‘:填隙缺陷形成能可知,温度为T 时,某一格点上形成空位的几率为 n Ne U K b T 11=- (1) 某一间隙位置上形成填隙原子的几率为n N e U K b T ''1=- (2) 费仑克尔缺陷是形成填隙原子一空位对,即n 1=n ’=U f其几率为(1)×(2): T b K e NN n n )'U 1U (111+-=⋅⋅ 又∵U 1+U 1=U f ∴ n f =NN 1e U f K b T -22. 已知某晶体肖特基缺陷的形成能是1ev ,问温度从T =290K 到T =1000K 时,肖特基缺陷增大多少倍?解:由式 n 1=N eU K b T -11 n 2=N e U K b T -12α=n n 21=e U K b T T --12111()=)11(121T T b K U e - 代入数据:U 1=1ev ≈1.60×10-19(J) T 1=290K K B =1.38×10-23(J/K) T 2=1000Kα=exp 16010138101290110001923..⨯⨯-⎛⎝ ⎫⎭⎪⎡⎣⎢⎤⎦⎥--≈exp(28.4)= 2.1×1012(倍) the end 3. 已知铜金属的密度为8.93g/cm 3,原子量为63.54,它在1000K 及700K 时自扩散系数分别为1.65×10-11及3.43×10-15 cm 2/s ,又知空位邻近的原子跳入空位必须克服的势垒高度为0.8ev 。

第一章 晶体结构缺陷习题及解答

第一章 晶体结构缺陷习题及解答

第一章 晶体结构缺陷习题与解答1.1 名词解释(a )弗伦克尔缺陷与肖特基缺陷;(b )刃型位错和螺型位错 解:(a )当晶体热振动时,一些能量足够大的原子离开平衡位置而挤到晶格点的间隙中,形成间隙原子,而原来位置上形成空位,这种缺陷称为弗伦克尔缺陷。

如果正常格点上原子,热起伏后获得能量离开平衡位置,跃迁到晶体的表面,在原正常格点上留下空位,这种缺陷称为肖特基缺陷。

(b )滑移方向与位错线垂直的位错称为刃型位错。

位错线与滑移方向相互平行的位错称为螺型位错。

1.2试述晶体结构中点缺陷的类型。

以通用的表示法写出晶体中各种点缺陷的表示符号。

试举例写出CaCl 2中Ca 2+置换KCl 中K +或进入到KCl 间隙中去的两种点缺陷反应表示式。

解:晶体结构中的点缺陷类型共分:间隙原子、空位和杂质原子等三种。

在MX 晶体中,间隙原子的表示符号为M I 或X I ;空位缺陷的表示符号为:V M 或V X 。

如果进入MX 晶体的杂质原子是A ,则其表示符号可写成:A M 或A X (取代式)以及A i (间隙式)。

当CaCl 2中Ca 2+置换KCl 中K +而出现点缺陷,其缺陷反应式如下:CaCl 2−→−KCl •K Ca +'k V +2Cl ClCaCl 2中Ca 2+进入到KCl 间隙中而形成点缺陷的反应式为:CaCl 2−→−KCl ••i Ca +2'k V +2Cl Cl1.3在缺陷反应方程式中,所谓位置平衡、电中性、质量平衡是指什么? 解:位置平衡是指在化合物M a X b 中,M 格点数与X 格点数保持正确的比例关系,即M :X=a :b 。

电中性是指在方程式两边应具有相同的有效电荷。

质量平衡是指方程式两边应保持物质质量的守恒。

1.4(a )在MgO 晶体中,肖特基缺陷的生成能为6ev ,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。

(b )如果MgO 晶体中,含有百万分之一mol 的Al 2O 3杂质,则在1600℃时,MgO 晶体中是热缺陷占优势还是杂质缺陷占优势?说明原因。

《固体物理学答案》第四章 晶体的缺陷

《固体物理学答案》第四章 晶体的缺陷

第四章 晶体的缺陷习 题1.求证在立方密积结构中,最大的间隙原子半径r 与母体原子半径R 之比为414.0Rr[解答]对于面心立方结构,如图4.1所示,1原子中心与8原子中心的距离,等于1原子中心与2原子中心的距离,对于立方密积模型,图 4.1 面心立方晶胞因为1原子与8原子相切,所以1原子与2原子也相切,同理,1,2,3,4原子依次相切,过1,2,3,4原子中心作一剖面,得到图4.2.1与2间的距离为图4.2通过面心立方晶胞上下左右面心的剖面图a R 222=, 即a R42=.与1,2,3,4相切的在1,2,3,4间隙中的小球的半径r 由下式决定 ,22r R a +=即a r)4221(-=.于是有414.012=-=Rr .2.假设把一个Na 原子从Na 晶体中移到表面上所需的能量为1eV,计算室温时肖特基缺陷的浓度. [解答]对于肖特基缺陷,在单原子晶体中空位数为Tk u B Nen 11-=式中N 为原子数, 1u 为将一个原子由晶体内的格点移到表面所需的能量,取室温时K T300=,得到温时肖特基缺陷的相对浓度176.382319110*72.1300*10*38.110*60.1exp 1-----==⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛-==e e N n Tk u B 3.在上题中,相邻原子向空位迁移时必须越过0.5eV 的势垒,设原子的振动频率为1012Hz 试估计室温下空位的扩散系数.计算温度C100时空位的扩散系数提高百分之几.[解答]由《固体物理教程》(4.32)式可知,空们扩散系数的表示式为T k E u Tk u b B e v a qqD Nen /)(01211111211+--==, (1) 式中a 为空们跳跃一步所跨的距离, 01v 为与空们相邻的原子的振动频率,1u 为形成一个空位所需要的能量,1E 为相邻原子抽空位迁移时必须越过的势垒高度,已知 晶体是体心立方结构,晶格常数A a 282.4'=空位每跳一步的距离为2/3'a a =,120110=v Hz ,=1u 1eV ,=1E 0.5eV 将上述数据代入(1)式,得到K T 300=,373K 时空位扩散系数分别为s m s m e D K /10*584.4/*10*10*282.4*23*212332)300*10*38.1/(10*6.1*5.11221030012319---=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛=-- sm s m e D K/10*874.3/*10*10*282.4*23*212282)373*10*38.1/(10*6.1*5.11221037322319---=⎪⎪⎭⎫ ⎝⎛=-- 于是得到430013001373110*451.8=-KKK D D D .从上式可知,温度C100时空位的扩散系数比室温下空位的扩散系数提高4个数量级.4.对于铜,形成一个不肖特基缺陷的能量为 1.2eV,形成一个填隙原子所需要的能量为4eV.估算接近1300K (铜的熔点)时,两种缺隙浓度时的数量级差多少. [解答]根据《固体物理教程》中(4.19)(4.20)式可知,空位和填隙原子的数目分别为T k u B Ne n /11-=,Tk u B Ne n /221-=.在第二式中已取间隙位置数等于原子数 ,由上述两式得单位体积铜中空位和填隙原子的浓度分别为Tk u B e m N n C /0111-==ρ, T k u B e m N n C /02221-==ρ.T k u B e m N n C /02221-==ρ.式中m 为摩尔质量,ρ为质量密度,将J eV u 19110*602.1*2.12.1-==,JeV u 19210*602.1*44-==,310*54.63-=m kg/mo1, 23010*022.6=N /mo1,310*92.8=ρkg/m 3,K T 1300=,K J k B /10*381.123-=代入1C 和2C 得3)1300*10*381.1/(10*602.1*2.133231231910*54.6310*9.8*10*022.6m e C ----=3243708.102810*891.1*10*454.8---==m m e3)1300*10*381.1/(10*602.1*433232231910*54.6310*9.8*10*022.6m e C ----=313369.352810*674.2*10*454.8---==m m e .从以上两式可以看出,接近K 1300(铜的熔点)时,肖特基缺陷和填隙原子缺陷浓度相差11个数量级.5.在离子晶体中,由于,电中性的要求,肖特基缺陷都成对地产生,令n 代表正负离子空位的对数,E 是形成一对肖特基缺陷所需要的能量,N 为整个离子晶体中正负离子对的数目,证明T k E B Ne n 2/-=.[解答]由N 个正离子中取出n 个正离子形成 n 个空位的可能方式数为!)!(!1n n N N W -=同样.由 个负离子中取出 个负离子形成 个空位的可能方式数也为!)!(!2n n N N W -=.因此,在晶体中形成 对正,负离子空位的可能方式数为211!)!(!⎥⎦⎤⎢⎣⎡-==n n N N W W W与无空位时相比,晶体熵的增量为!)!(!121n n N N nk nW k S B B -==∆若不考虑空位的出现对离子振动的影响,晶体的自由能!)!(!1200n n N N nT k nE F S T nE F F B --+=∆-+=,其中0F 是只与晶体体积有关的自由能,利用平衡条件0=⎪⎭⎫ ⎝⎛∂∂Tn F 及斯特林公式nN N N nN N nN 11!1≈-=得[]n n n N nN N n Tk E n F B T1)(12---∂∂-=⎪⎭⎫⎝⎛∂∂ 012=--=nnN n T k E B .由此得T k E B e nN n2/-=-.由于n N >>,因此得 T k E B Ne n 2/-=.6.试求有肖特基缺陷后,上题中的体积的相对变化VV V ./∆为无缺陷时的晶体体积.[解答]肖特基缺陷是晶体内部原子跑到晶体表面上,而使原来的位置变成空位,也就是说,肖特基缺陷将引起晶体体积的增大,设每个离子占据体积为v 则当出现 n 对正、负离子空位时,所增加的体积为nv V 2=∆.而晶体原体积为Nv V2=.由以上两式及上题中的结果Tk E B Ne n 2/-= 得T k E B e NnV V 2/-==∆. 7.设NaC1只有肖特基缺陷,在C800时用X 射线衍射测定NaC1的离子间距,由此确定的质量密度算得的分子量为58.430,而用化学方法测定的分子量为58.454.求在C800时缺陷的相对浓度.[解答]即使在C800时,晶体是的缺陷数目与正常格点上的原子数目相比也是很少的,因此,在忽略热膨胀的影响的情况下,X 射线测得的离子间距可视为正常离子间的距离,设NaC1晶体的离子间距为d , 则晶格常数为2d ,一个晶胞内包含4个 NaC1分子,再设晶体总质量是M,无缺陷时体积为0V 有缺陷时体积V ,用X 射线方法确定的分子质量可表示为M V d ⎥⎥⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎢⎢⎣⎡4)2(3.用化学方法测得的分子质量可视为真实的分子质量,可表示为M V d ⎥⎥⎥⎥⎦⎤⎢⎢⎢⎢⎣⎡034)2(.设用 射线方法和化学方法测定的分子量分别为,,'A A 则进一步得'032A N V Md =, A N V Md =0032, 基中0N 为阿伏加德罗常数,由以上两式得00'1V V V V A A ∆+==.以Nn表示缺陷时的相对浓度,利用上题结果NnV V =∆得缺陷的相对浓度4'10*1.41430.58454.581-=-=-=A A N n . 8.对下列晶体结构,指出最密原子排列的晶列方向,并求出最小滑移间距. (1) 体心立方; (2) 面心立方. [解答](1) 体心立方晶系原胞坐标系中的晶面族)(321h h h 的面间距221213232)()()(321h h h h h h ad h h h +++++=.可以看出,面间距最在的晶面族是{001},将该晶面指数代入《固体物理教程》(1.32)式,得到该晶面族对应的密勒指数为{001}.面间距最大的晶面上的格点最密,所以,密勒指数{001}晶面族是格点最密的面,面间距在的晶面间的结合力小,所以格点最密的面便是滑移面.最密的线一定分布在格点最密的面上.由图 4.3虚线标出的(110)晶面容易算出,最密的线上格点的周期为a 23. 具有简单晶格的晶体滑移时,是一个晶格周期一个晶格周期的一步步滑移,因此,最小滑移间距为a 23.图 4.3 体心立方晶胞(2)面心立方晶系原胞坐标系中的晶面族)(321h h h 的面间距232123212321)()()(321h h h h h h h h h ad h h h -+++-+++-=可以看出,面间距最大的晶面族是{111}.由第一章第15题可知,对于面心立方晶体,晶面指数)(321h h h 与晶面指数(hkl )的转换关系为将晶面指数{111}代入上式,得到该晶面族对应的密勒指数也为{111}.面间距最大的晶面上的格点最密,所以密勒指数 晶面族是格点最密的面,即{111}晶面族是滑移面。

材料科学基础晶体结构缺陷课后答案

材料科学基础晶体结构缺陷课后答案

3-1纯金属晶体中主要点缺陷类型有肖脱基空位和弗兰克空位,还有和弗兰克空位等量的间隙原子。

点缺陷附近金属晶格发生畸变,由此会引起金属的电阻增加,体积膨胀,密度减小;同时可以加速扩散,过饱和点缺陷还可以提高金属的屈服强度。

3-2答:在一定的温度下总是存在一定浓度的空位,这是热力学平衡条件所要求的,这种空位浓度为空位平衡浓度。

影响空位浓度的主要因素有空位形成能和温度。

3-3解:由exp(/)E V C A E kT =-138502201exp(/)111051000exp[()] 6.9510exp(/)29311238.31E V E V C A E kT C A E kT -⨯==-⨯=⨯- 3-4解:6002300112exp(/)11exp[()]exp(/)E V V E V C A E kT E C A E kT kT kT -==-⨯- 56600300121111ln/()8.61710(ln10)/() 1.98573873E V E C E eV C kT kT -=-=⨯⨯-=或190kJ/mol 3-5解:exp(/)e V C A E kT =-exp(/)i i C A E kT '=-由题设,A A '=,0.76, 3.0v i E eV E eV ==, 所以当T=293K 时538exp(/)exp()/exp[(3.00.76)/(8.61710293)] 3.3910exp(/)e V i V i i C A E kT E E kT C A E kT --==-=-⨯⨯=⨯'-当T=773K 时514exp(/)exp()/exp[(3.00.76)/(8.61710773)] 4.0210exp(/)e V i V i i C A E kT E E kT C A E kT --==-=-⨯⨯=⨯'-3-6答:1为左螺旋位错,2为负刃型位错,3为右螺旋位错,4为正刃型位错。

共价晶体+点缺陷习题答案

共价晶体+点缺陷习题答案

1、简述离子晶体的结构规则;A 负离子配位体多面体规则B电价规则C负离子多面体共用顶,共用棱,共用面的规则D不同种类正离子配位多面体连接规则E节约规则2、简述钙钛矿CaTiO3的晶体结构;在晶胞中画出(-11-2)晶面,指出原子沿[111]方向的堆垛顺序,并计算其面间距;3、指出CaF2(萤石)型结构的点阵类型,Ca2+和F-在晶胞中所处的位置、配位数、构成的多面体类型;4、硅酸盐晶体结构的基本特点、分类和结构单元分子式;写出单链和双链结构单元的分子式并图示之基本特点:A构成硅酸盐的基本结构单元为[SiO4]4-四面体。

B按电价规则,每个O2-最多只能为两个[SiO4]4-四面体所共有。

C按第三规则,[SiO4]4-四面体中未饱和的氧离子和金属正离子结合后,可以相互独立地在结构中存在,或者可以通过共用四面体顶点彼此连接成单链、双链或成层状、网状的复杂结构,但不能共棱和共面连接,且同一类型硅酸盐中,[SiO4]四面体间的连接方式一般只有一种。

D[SiO4]4-四面体中的Si-O-Si结合键通常并不是一条直线,而是夹角不等的折线,键角多为145°。

分类:孤岛状硅酸盐(原硅酸盐)结构;组群状硅酸盐晶体结构;链状硅酸盐晶体结构;层状硅酸盐晶体结构;架状硅酸盐晶体结构[Si4O11]n6n-:链状硅酸盐,双链结构;[SiO3]n2n-:链状硅酸盐,双链结构。

5、ZnS与金刚石型结构有何区别?金刚石结构立方ZnS型结构立方ZnS型结构:金刚石结构:区别:在闪锌矿(ZnS)中,S离子取代了fcc结点位置的碳原子,Zn离子则取代了4个四面体间隙中的碳原子。

6、共价晶体结构的特点,举出二种具有金刚石型结构的共价晶体。

共价晶体的共同特点是配位数服从8—N法则,N为原子的价电子数.这就是说结构中每个原子都有8—N个最近邻的原子。

这一特点就造成共价键结构具有饱和性。

具有金刚石型结构的还有:α-Sn,Si,Ge。

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1、简述离子晶体的结构规则;
A 负离子配位体多面体规则
B电价规则
C负离子多面体共用顶,共用棱,共用面的规则
D不同种类正离子配位多面体连接规则
E节约规则
2、简述钙钛矿CaTiO3的晶体结构;在晶胞中画出(-11-2)晶面,指出原子沿[111]方向的堆垛顺序,并计算其面间距;
3、指出CaF2(萤石)型结构的点阵类型,Ca2+和F-在晶胞中所处的位置、配位数、构成的多面体类型;
4、硅酸盐晶体结构的基本特点、分类和结构单元分子式;写出单链和双链结构单元的分子式并图示之
基本特点:
A构成硅酸盐的基本结构单元为[SiO4]4-四面体。

B按电价规则,每个O2-最多只能为两个[SiO4]4-四面体所共有。

C按第三规则,[SiO4]4-四面体中未饱和的氧离子和金属正离子结合后,可以相互独立地在结构中存在,或者可以通过共用四面体顶点彼此连接成单链、双链或成层状、网状的复杂结构,但不能共棱和共面连接,且同一类型硅酸盐中,[SiO4]四面体间的连接方式一般只有一种。

D[SiO4]4-四面体中的Si-O-Si结合键通常并不是一条直线,而是夹角不等的折线,键角多为145°。

分类:孤岛状硅酸盐(原硅酸盐)结构;组群状硅酸盐晶体结构;链状硅酸盐晶体结构;层状硅酸盐晶体结构;架状硅酸盐晶体结构
[Si4O11]n6n-:链状硅酸盐,双链结构;[SiO3]n2n-:链状硅酸盐,双链结构。

5、ZnS与金刚石型结构有何区别?
金刚石结构立方ZnS型结构
立方ZnS型结构:
金刚石结构:
区别:在闪锌矿(ZnS)中,S离子取代了fcc结点位置的碳原子,Zn离子则取代了4个四面体间隙中的碳原子。

6、共价晶体结构的特点,举出二种具有金刚石型结构的共价晶体。

共价晶体的共同特点是配位数服从8—N法则,N为原子的价电子数.这就是说结构中每个原子都有8—N个最近邻的原子。

这一特点就造成共价键结构具有饱和性。

具有金刚石型结构的还有:α-Sn,Si,Ge。

7、写出6种由C,Cu,O,Mg,Si,Al,Ti,H元素之间可能形成的不同类型且具有化学键的晶体。

指出这些晶体中原子间结合键的性质、晶体结构的类型和特征、性能特点,并画出立方晶系晶体的晶胞。

金属键:
a Al合金固溶体
b Cu合金固溶体
c Ti合金固溶体
d Mg合金固溶体
离子键:
a 镁橄榄石Mg2[SiO4]
晶体结构的类型:正交晶系
晶体结构特征:每个晶胞中有4个“分子”,其中有28个离子(8个Mg2+,4个Si4+和16个
(1)各[SiO4]4-四面体单独存在,其顶角相间地朝上朝下
(2)各[SiO4]4-四面体通过O-Mg-O键连接在一起。

(3)Mg2+周围有六个O2-位于几乎是正八面体[MgO6]的顶角,整个结构可看成是由四面体和八面体堆积而成的。

(4)O2-近似按照六方排列,因为氧离子比大多数其他离子尺寸大。

氧离子成密堆积结构是许多硅酸盐结构的一个特征。

性能特点:镁橄榄石结构紧密,Mg-O,Si-O静电键强,结构稳定,熔点1890℃,是碱性耐火材料中的重要矿物相。

b MgAl2O4尖晶石
晶体结构的类型:立方晶系,FCC
晶体结构特征:P63-64
性能特点:电价饱和,结构稳定。

Al—O键,Mg—O键均为较强的离子键,故结合牢固,硬度硬,熔点高(2135℃),化学稳定性好
c α-Al2O3刚玉
晶体结构的类型:三(菱)方晶系
晶体结构特征:P62
性能特点:刚玉性质极硬,莫氏硬度9,不易破碎,熔点2050℃,这与结构中Al-O键的结合强度密切相关。

d β-方石英SiO2
晶体结构的类型:立方晶系,面心立方点阵
晶体结构特征:P61
性能特点:石英晶体有熔点高、硬度高、化学稳定性好等持点,因为有较强的Si-O键及完整的结构
e TiO2(金红石)型结构
晶体结构的类型:四方晶系,体心四方布拉菲点阵
晶体结构特征:P61
共价键:
a SiC
b CH4。

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