华南理工大学测试中心TEM 1400 VS 2100F 性能、样品试用范围及收费标准对比表
1400 电镜 技术参数
1400 电镜技术参数
电镜技术参数如下：
1. 分辨率：\~。
2. 加速电压：40kV\~120kV。
3. 电子枪类型：冷束电子枪。
4. 灯丝类型：钨灯丝或LaB6灯丝。
5. 放大倍数：10\~1,200,000。
6. 样品台：标配五轴马达驱动样品台。
7. 样品移动范围：X/Y，2mm；Z，1mm；最大倾斜角，±70度以上。
8. 功能特色：形貌测试（具备EDS，可做衍射，但目前不开放）。
9. 样品要求：3mm直径铜环承载样品，薄区在50\~100nm以内为佳；严禁磁性样品，不测；制样方法若为固体，选择FIB切样、离子减薄或电解双喷制备样品，若为粉末可选择溶解滴液制备样品于铜网上。
以上信息仅供参考，如需了解更多信息，建议查阅相关书籍或咨询专业人士。
材料制备与分析测试仪器介绍
材料制备与分析测试仪器介绍
佚名
【期刊名称】《中国材料科技与设备》
【年(卷),期】2014(010)001
【摘要】产品名称：Helios NanoLabTM DualBeamTM（FIB／SEM）生产单位：FEI COMPANY 型号：HeliosNanoLabtm DualBeamTM 产品特点：快速、易用、绝佳图像质量纳米级物质成像、分析和控制这些未来研发的关键因素-因HeliosNanoLab DualBeam系列仪器的诞生而变得普通平淡。
【总页数】6页(P93-98)
【正文语种】中文
【中图分类】TB3
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2."互联网+"高校大型分析
测试仪器开放共享的管理探索与实践——以华南理工大学材料平台公共分析测试
中心为例3.仪器信息网“仪器书店”——分析测试类图书专卖店4.第三届中国西
部国际科学仪器及实验室装备展览会同期举办:2008西部分析测试主任会议及分
析仪器应用与技术发展论坛5.2007年第二届中国西部国际科学仪器及实验室装备展览会暨2007四川省分析测试学会学术报告会、西部分析测试中心主任研讨会将召开
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2100F高分辨电镜操作顺序--个人小结
2100F高分辨电镜操作顺序--个人小结编辑整理：尊敬的读者朋友们：这里是精品文档编辑中心，本文档内容是由我和我的同事精心编辑整理后发布的，发布之前我们对文中内容进行仔细校对，但是难免会有疏漏的地方，但是任然希望（2100F高分辨电镜操作顺序--个人小结）的内容能够给您的工作和学习带来便利。
同时也真诚的希望收到您的建议和反馈，这将是我们进步的源泉，前进的动力。
本文可编辑可修改，如果觉得对您有帮助请收藏以便随时查阅，最后祝您生活愉快业绩进步，以下为2100F高分辨电镜操作顺序--个人小结的全部内容。
装好试样后,开始操作JEM—2100F的步骤：1、打开beam阀,在LOW MAG下，找到薄区所在的位置;2、在LOW MAG下将放大倍数调至500倍，然后切换至MAG1；3、找到一个薄区，将放大倍数调至2000倍,按下STD FOCUS，再进行调Z的步骤：1）方法一：将试样边沿移至屏幕中心，按下IMAGE WOBB X，试样呈抖动状态,再通过调节，使屏幕中心试样不在抖动为止;2）、方法二：找到试样薄区，逆时针旋转BRIGHTNESS，使电子束汇聚为一点，再通过调节，使各衍射斑点汇聚于同一点；4、将放大倍数调至100K倍（调节放大倍数时，需要同时旋转BRIGHTNESS和MAG/CAM L），并将无试样区域移至屏幕中心，逆时针旋转BRIGHTNESS至电子束呈合适大小内、外圆形；5、按下BRIGHT TILT按钮，并通过调节SHIFT X和SHIFT Y将电子束移至屏幕中心，再通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y将电子束的内圆恰好移至外圆的中心(若电压对中过程中，平移与偏转相互影响,则联动比有问题,需要调最新的合轴文件）;6、再按下COND STIG按钮，通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y将电子束的内圆内的图形调成“奔驰”车标形状；7、逆时针旋转BRIGHTNESS，使电子束的内圆和外圆重合，再在HIGH VOLTAGE CONTROL 界面中点击“ON”，按下F4，通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y使内外圆同心缩放；8、检查电压对中和聚光镜消象散；9、顺时针旋转BRIGHTNESS，使电子束充满整个屏幕，套取一号聚光镜光阑，将电子束调至屏幕中心（机械对中）;10、再次合轴,将放大倍数调节至400K倍，再次检查电压对中和聚光镜消象散;11、将放大倍数调至100K倍,并将薄区边沿移至屏幕中心，通过调节OBJ FOCUS旋钮，将试样边沿调至为微欠焦(略显白色边沿），再将放大倍数调至400K倍，并将边沿区移至屏幕中心，按下F1，然后打开CCD,并调出傅里叶变换，按下OBJ STIG，通过调节DEF/STIG X和DEF/STIG Y和OBJ FOCUS旋钮（使傅里叶变换为一圆环)，得到清晰的高分辨像；12,关闭CCD，再按下F1，将放大倍数调至100K倍,找到感兴趣薄区，并将电子束汇聚于一点，按下SA DIFF按钮，并将相机常数调至60CM，手动将菊池线的交点移至电子束中心；至此，已完成电镜合轴、消象散、踩带轴的步骤，接下来便可进行选区电子衍射、明场像、暗场像和高分辨像的操作.一、选区电子衍射步骤:1、合轴完成后，在TEM、MAG1模式下，将感兴趣区移至屏幕中心；2、通过感兴趣大、小来套取合适的选区光阑；3、按下SA DIFF按钮转为衍射模式，获得相应的电子衍射花样，并通过调节MAG/CAM L 获得合适的相机常数（20-30CM）-—-不同相机常数的意义；4、通过顺时针旋转BRIGHTNESS和调节DIF FOCUS获得足够暗、圆锐的衍射斑点。
华南理工大学收费标准
微区室
多功能X光电子能谱（Kratos Axis Ultra DLD）收费标准
收费项目名称 1.XPS常规测试［样品导电性良好］ 2.XPS常规测试［样品导电性差］ 3.XPS表面清洁处理 4.角分辨XPS测试（3个角度） 5.角分辨XPS测试（5个角度） 6.XPS深度剖析测试 （>100nm） 7.XPS深度剖析测试 （≤100nm） 8.解谱费（I类） 9.解谱费（II类） 10.解谱费（III类） 11.计量认证样品测试费 （常规测试） 12.计量认证样品解谱费（常规样品解谱费） 13.计量认证样品测试费 （深度分析测试） 14.计量认证样品解谱费（深度分析解谱费） 15.特殊测试机时费
扫描电镜收费标准
收费项目名称 1.高真空模式机时费 2.低真空仅对校内用户环境真空模式机时费 3.照片（每个样品免费2张，其余收费） 4.能谱分析（电镜机时费） 5.能谱分析第一点（校内机时费另收） 6.能谱分析第二点（校内机时费另收） 7.能谱Map图仅对校内用户Line图分析（机时费另收） 8.形貌分析 9.照片 10.成分分析 11.谱图 12.相貌和成分综合分析 13.分析报告 14.低真空仅对校内用户环境真空模式机时费（认证鉴定） 15.高真空模式机时费（认证鉴定） 16.能谱Map图仅对校内用户Line图分析（机时费另收)(认证鉴定） 17.能谱分析第一点（认证鉴定） 18.能谱分析第二点起（认证鉴定） 19.SEM图片输出（处理费） 20.打印扫描结果（处理费） 21.普通喷金（处理费） 22.超细喷金（处理费） 23.普通喷碳（处理费） 24.超细喷碳（处理费） 25.样品包埋（处理费） 26.大块样品加工（处理费)(校内自行处理免收费） 27.制样（处理费） 28.液氮冷冻制样（处理费)(校内自行处理免收费）
纸页抗张挺度测定仪的原理及应用
纸页抗张挺度测定仪的原理及应用孙广卫1 何北海1 侯 轶2 田英姿2 杨镇纲3 胡康生3(1.制浆造纸工程国家重点实验室(华南理工大学),广州,510640;2.华南理工大学造纸与污染控制国家工程研究中心,广州,510640;3.广州造纸有限公司,广州,510281)摘 要:本文介绍了一种用于实验室检测纸页纤维定向结构的新型仪器,分析了该仪器的基本原理、主要用途及对纸页抗张挺度检测的意义。
本文还结合造纸厂生产机台纸样的测量结果,分析抗张挺度指标所反映的在纸页抄造过程和质量方面存在的问题。
关键词:抗张挺度指数(TSI);抗张挺度极角(TSO) 众所周知,在造纸机上抄出来的机制纸与在实验室抄片器中抄出来的手抄纸中的纤维在排列方向上有所不同,实验室手抄纸中,纤维的排列基本上是各向同性的,但在纸机上,由于网速与浆速的差异以及成形网运行方向对纤维的定向剪切作用,使得纤维排列的主要取向以纸机纵向偏多。
这种纤维定向排列的现象,过去只认为会对纸页结构和匀度产生一定的影响,而对影响的程度难以定量分析和关联。
近期的研究发现[1],纤维的定向分布状态,不但对纸页的后加工性质(特别是印刷和涂布特性等)有重要的影响,且这种影响与纤维分布状态有定量的关系,因此已经受到了造纸工作者的关注。
最早分析纸页纤维定向分布的方法是利用测量纸页沿圆周各方向的抗张强度值间接得到的。
其测量原理基于纤维在某一方向分布的数量与该方向的抗张强度成一定的比例关系。
后来又采用零距抗张强度仪替代普通抗张强度仪,直接关联纤维自身的抗张强度与纤维定向的关系,使得纤维定向分布结果的精确性进一步提高[2]。
但是由于该方法要测量大量的纸样,且沿180°半圆射线方向按照一定的角度裁切纸样,需要专用的取样器,因此比较费时费力的。
近年来国外研制的纸页抗张挺度测量仪(TSO 仪),采用超声波非破坏测量方法,通过测量纸页在圆周各方向抗张挺度,可快速回归纤维在纸页中的定向分布。
华南理工大学分析测试中心仪器设备
7
X射线衍射（XRD）
D/max-IIIA
日本
8
原子荧光光度计
AFS-9130
北京
9
原子吸收光谱仪
Z-5000
日本
10
紫外可见分光光度计
DU-7HS
美国
11
红外碳硫仪
QL-HW2000B
南京
有机分析
设备
12
MALDI-TOF/TOF MS
autoflexIIIsmartbean
德国
13
液相色谱－质谱联用仪
Esquire HCT PLUS
德国
14
气相色谱质联用仪
瓦里安气相色谱3800型、质谱4000型
美国
15
超导核磁共振谱仪
AVANCE Digital
德国
16
显微激光拉曼光谱仪
LabRAMAramis
法国
17
傅里叶变换红外谱仪
Vector 33
德国
华南理工大学分析测试中心
序号
仪器名称
型号
ห้องสมุดไป่ตู้产地
微区分析
设备
1
扫描电子显微镜
S-3700N
日本
2
多功能光电子能谱仪
Axis Ultra DLD
英国
3
表面接触角测试仪
OCA40 Micro
德国
4
电子探针显微分析仪
EPMA1600
日本
5
电子万能试验机
AG-IC 50kN
日本
6
全洛氏硬度计
TH320
北京
无机分析
JEM-2100F 场发射透射电镜用双倾样品台非公开招标意见 …
JEM-2100F场发射透射电镜用双倾样品台非公开招标意见公示
粉末冶金研究院“JEM-2100F场发射透射电镜用双倾样品台”项目采用拟采用非公开招
标方式进行，该项目拟从捷欧迪拓姆（上海）贸易有限公司购买。
现将有关情况向潜在供应
商征求意见。
征求意见期限从2015年9月16日起至2015年9月23日止。
潜在供应商对公示内容有异议的，请于公示期满后两个工作日内以实名书面（包括联系人、地址、联系电话）形式将意见反馈至中南大学资产与实验室管理处（联系电话：88836825 联系人：肖老师）。
附：专家论证意见及专家姓名、工作单位、职称。
申请单位理由：
粉冶院的JEM-2100F场发射透射电镜配件双倾样品台、机械泵已使用7年，出现老化和
故障现象，已维修过多次，目前需要更换。
因双倾样品台、机械泵零部件是透射电镜不可缺
少的重要配件，而其他公司生产的零部件与JEM-2100F透射电镜均不兼容，只能向捷欧迪拓
姆贸易有限公司（日本电子在中国的代理公司）购买，故申请非公开招标采购。
2015年9月16日
JEM-2100F场发射透射电镜用双倾样品台
非公开招标采购专家论证意见表
2015年9月16日。
JEM－2100f透射电镜测角台的维护与故障处理
JEM－2100f透射电镜测角台的维护与故障处理刘小青;邓志刚;罗婷婷;谢峻林【摘要】简述了JEM －2100f透射电镜测角台结构及样品杆进样、取样工作原理，分析了引起测角台故障的原因，阐述了测角台故障处理方法及日常维护技巧。
%In this paper ,the goniometer structure and working principle ofinserting/removing speci‐men holder of JEM‐2100f transmission electron microscope were briefly introduced ,the goniometer failure causes were analyzed ,the fault handling methods and daily maintenance skills of goniometer were described.【期刊名称】《分析仪器》【年(卷),期】2015(000)002【总页数】3页(P96-98)【关键词】透射电镜;测角台;维护;故障处理【作者】刘小青;邓志刚;罗婷婷;谢峻林【作者单位】武汉理工大学材料研究与测试中心，武汉 430070;武汉理工大学材料研究与测试中心，武汉 430070;武汉理工大学材料研究与测试中心，武汉430070;武汉理工大学材料研究与测试中心，武汉 430070【正文语种】中文JEM-2100f透射电镜测角台(以下简称测角台)是透射电镜成像系统的重要组成部分，是JEM-2100f透射电镜能够在纳米及原子尺度进行物质微观形貌观测和晶体结构研究的关键部件之一。
测角台一旦出现故障势必导致透射电镜无法正常工作，熟悉测角台结构及其工作原理，掌握测角台的维护与故障处理技巧由此显得非常重要。
透射电镜维护与故障处理专业性很强 [1-8]。
对测角台而言，如果不是机器老化或测角台本身质量问题，测角台故障主要与样品杆前处理不够，以及进样、取样操作不当有关。
Aeroflex ATC-1400A 测试设备说明书
• Automatic frequency stepping
• VOR pairing or direct UHF frequency selection
• Variable interference and double interrogation pulse position
• DME serial data output
3
DME MODE CHARACTERISTICS
RANGE DELAY Range 0 to 399.99 NM selectable in 0.01 NM increments. -1 NM selected by individual switch Accuracy ±0.02 NM plus ±0.005% of selected range
Pulse Width 33 µs (±3 µs)
Amplitude Adjustable from 3 to 27 V
Timing DME function nominally 3.5 µs prior to P of range reply
1
XPDR Function 0.8 µs prior to P
Suppression Recovery
Selection of double interrogation and suppressor pulse provides a single interrogation after suppressor pulse spacing may be varied by interference/DBL interrogation switch.
To buy, sell or trade in this product click on the link below: /IFR-Aeroflex-ATC-1400A-2-DME-Transponder-test-set.aspx
JEM-2100F操作指导书
JEM-2100F场发射枪透射电子显微镜操作规程1 透射电镜试验主要程序1.1 检查电镜冷却水箱、压缩机及真空系统是否工作正常。
1.2 开电镜主机电源，开电镜控制计算机，并登陆。
待通讯正常后，启动TEM CON控制程序。
1.3 控制程序启动后，系统自动启动抽真空动作。
1.4 待“HT status”显示“ready”后，将电子枪转换为“COND”模式，点击“Auto Procedure”的“start”。
1.5 待47分钟后，“HT conditioning”结束。
再等待0.5~1小时，点击“StartUp”，系统自动升高压、发射电流，直至200kV。
1.6 装入样品。
确认先将测角台归零，再将样品杆装入测角台。
并向冷阱填加液氮。
1.7 待“Beam Valve”激活后，点击“Open”，打开V1、V2阀。
开始实验。
1.8 按使用要求分别进行对中，消聚光镜像散。
1.9 低倍观察样品，寻找所要观察的合适位置，高倍聚焦消像散。
1.10 配合相应附件（STEM-HAADF、BF/DF、EDS）进行观察、记录。
1.11 工作结束时，点击“Beam Valve”的“close”关闭V1、V2阀。
1.12 点击“Stand By”，系统自动将电压降至160kV，使灯丝进入待机状态。
或者点击“AutoHT & Emission”中的“Turn Off”彻底关闭灯丝。
1.13 确认将测角台归零，取出样品台。
1.14 将液氮加热器装入冷阱，点击“Maintenance”下的“ACD & Bake”。
在“ACD & Bake”中将“ACD Heat”设为“on”。
2 基本操作程序2.1 开机/关机2.1.1 开机2.1.1.1 准备。
启动循环水冷机室内外机的电源，启动空气压缩机电源，接通氮气。
电子枪SF6气体压应0.30~0.32 MPa，高压发生器SF6气体压力应0.10~0.12MPa，压缩空气压力应达0.5MPa。
华南理工大学测试中心TEM 1400 VS 2100F 性能、样品试用范围及收费标准对比表
类别 其他 附件 优势对比
无
收费标准 (试运行)
机时费：300元/小时（自主上机：150元/小时），样品费：30元/样，能谱费：30元/次
机时费：400元/小时，样品费：30元/样，能谱费：30元/次
对比总结
1.由于换样速度快，收费相对便宜，适合在优化实验条件过程中，或者要用2100F做更详细的 分析前，进行样品的筛选； 1.需要放大倍数超过10万倍的样品（比例尺为20nm及以下）； 2.对于放大倍数要求较低的样品，如最大放大倍数在5万倍以下的样品（用2100F拍摄时，比 2.需要做元素空间分布的样品； 例尺为50nm及以上）； 3.需要做HAADF-STEM的样品 3.热稳定性相对较差的材料（如橡胶、乳液、高分子胶束、生物样品等）
机型 类别
JEM-1400Plus 120 kV
JEM-2100F 200 kV
1.低电压意味着，电子束能量低，对样品损伤较小，对于不太稳定样品（如热稳定性较差的高 加速 分子材料，氟化物无机材料等）有利； 电压 优势对比 2.低电压，有利于提高图像衬度（即明暗对比度），有利于观察只含有C、H、O、N等轻元素的 1.电压高，电镜的空间分辨率高，适合需要做高分辨、看晶格条纹的样品； 2.电压高，电子束的穿透能力强，有利于观察相对厚的样品的内部结构 材料（如纤维素、木质素胶束等）； 3.低电压对镜筒内的真空要求较低，因此换样速度较快，每次换样抽真空只需要1分钟左右 类别 Gatan 832 Gatan 994
1.832的最高像素（4008*2672）大于 994的最高像素（2048*2048），因此同样的放大倍数， CCD 相机 优势对比 832的视野更大，能拍到的东西更多； 2.832对电子束敏感度相对低，抗电子束辐照能力相对强，不容易被电子束打坏，做电子衍射 相对比较安全
华南理工大学货物招标任务书
一、设备名称：绝对量子效率测试仪数量：1套
二、功能及用途：
测量光电材料的光生电流特性在不同波长光照条件下的数值。
三、设备明细（如为配件，需在备注中注明）：
序号
设备及主要配件名称
技术指标
数量
备注
1
绝对量子效率测试仪
1 PL测试范围300nm—950nm
2测试样品种类固体（粉末，薄膜），液体，气体
一次测试可得到量子效率，吸收率，激发光子数，发射光子数以及校正系数等多种数据结果。
1
四、工作条件：
1电力要求：220-240V，单相
2工作温度：15-30度
3相对湿度：<80%
3尺寸规格420mm×350mm×300mm
1
2
激发光源
1光源150W长寿命氙灯（在正常使用情况下，可达3000个小时）
2激发波长250nm—850nm
3带宽10nm（半高宽）
4激发波长控制软件自动控制
1
3
多通道光谱探测器
1探测器制冷型背照式CCD（BT-CCD）
2测量波长范围200nm—950nm
1
5
采集和分析软件
1软件功能：
PL量子产率
量子产率激发波长依赖性
PL光谱（峰值波长FWHM）
PL激发光谱
色彩测试（色度、色温、显色性指数等）
2软件特点
人性化设置，整体测试时间小于60秒（一个样品）；
数据、图表可保存为多种常用格式；
具有自吸收校正和透射校正等多种校正功能，保证数据测试的准确性和稳定性；
3波长分辨率小于2nm
4光敏通道数1024
5 CCD制冷温度-15℃
6 A/D分辨率16 bቤተ መጻሕፍቲ ባይዱt
RF Solutions 1200 Super S RF测试仪说明书
A cost effective alternative for analog cellular, SSB,paging and mobile radio testing1200 Super S 1SpecificationFrequency Range250 kHz to 999.9999 MHzResolution100 HzAccuracySame as Master OscillatorRange-127 to -20 dBmResolution10 dB steps with 11 dB vernierAccuracy2.5 dB3.0 dB @ -20 dB attenuator setting Spectral Purity Harmonics-30 dBcSpectral Purity Nonharmonics-55 dBcIF Image≤-35 dBResidual FM< 100 Hz (RMS, 0.3 to 3 kHz BW)Input Protection150 WFrequency Range0 to ±49.9975 MHz from receive frequency Resolution2.5 kHzAccuracySee Master OscillatorDuplex Output Level-40 dBm (Low), -15 dBm (High) into 50 ΩInput Protection0.25 WT/R Port-85 dBm ±10 dB fixed levelInternal Frequency Modulation Range0 to 50 kHz (1 kHz tone)FM Rate10 Hz to 30 kHz (Internal)2 Hz to 30 kHz (External) (DC when in variable generate)FM Accuracy±5% of reading, ±3% of full scale(1 kHz tone)FM Distortion< 1 % (to 20 kHz deviation)EXT MOD Sensitivity0.1 VRMS/kHz (- 0% + 30%)Amplitude Modulation Range0 to 90%AM Rate10 Hz to 10 kHz (30% maximum modulation above 5 kHz)AM Accuracy±5% of reading, ±3% of full scale(1 kHz tone)AM Distortion< 10% (to 60% modulation)EXT MOD sensitivity0.01 VRMS (0% to +30%)Generator #1 Frequency Range1 kHz #1 AccuracySame as Master Oscillator#1 Output Range0 to 2.5 V (RMS, into 150 Ω)#1 Distortion<0.5%#1 WaveshapeSineAudio Generator #2 Frequency Range:10 Hz to 30 kHz#2 Resolution0.1 Hz#2 Accuracy±0.01%#2 Output Range0 to 2.5 V (RMS, into 150 Ω)#2 Distortion (at 2.5 VRMS)<2% (10 Hz to 100 Hz) < 0.7%(100 Hz to 30 kHz)#2 WaveshapesSine, Square, Ramp, Triangle, TTLFrequency Range100 kHz to 999.9999 MHzResolution100 HzSensitivity2 µV typical (1 MHz to 1000 MHz, FM narrow) Antenna Input Protection0.25 WSelectivityMode Rx BW AF BWFM WIDE200 kHz80 kHzFM MID200 kHz8 kHzFM NAR15 kHz8 kHzSSB 6 kHz8 kHzAM NAR 6 kHz8 kHzAM NORM15 kHz8 kHzAdjacent Channel RejectionRx BW BW >40 dB Down200 kHz±300 kHz15 kHz±27 kHz6 kHz±12 kHzDemodulation OutputAM Output Level5 mV RMS/%FM Output Level60 mV RMS/1 kHzImpedance600 ΩMeter Range± 30 Hz to ± 10 kHz (full scale, 1-3-10 sequence)Meter Accuracy± Master Oscillator, +3% of full scaleFrequency Range10 Hz to 12 kHzMeter Range±3 Hz to ±300 Hz (full scale, decade sequence)Meter Accuracy±0.01%, ±3% of full scaleMeter Range2 kHz to 60 kHz (full scale, 2-6-20 sequence)Meter Accuracy±5% of reading, ±3% of full scale (1 kHz tone)Meter Range60% and 200% full scaleMeter Accuracy±5% of reading, ±3% of full scale (1 kHz tone)Input Level Ranges0 to 15 W and 0 to 150 W (peak or averageresponding)Accuracy±7% of reading, ±3% of full scale (1 to 600 MHz)±20% of reading, ±3% of full scale (600 to1000 MHz)Operating Conditions50 W continuous>50 W to 150 W (1 min ON, 5 min OFF)Range0 to 20 % at 1 kHzAccuracy± 1 % (at 10% distortion)Signal Frequency1 kHzInput Level0.25 to 2 VRMSInput Impedance10 kΩ nominalRange3 to 20 dB at 1 kHzAccuracy± 1 dB (at 12 dB SINAD)Signal Frequency1 kHzInput Level0.25 to 2 VRMSInput Impedance10 kΩ nominalLevel Display10 dB/divDynamic Range70 dBLog Linearity±2 dB (-90 to -30 dBm)Frequency Span ModesScan Width RBW1 MHz/div30 kHz500 kHz/div30 kHz200 kHz/div30 kHz100 kHz/ div30 kHz50 kHz/div30 kHz20 kHz/div 3 kHz10 kHz/div 3 kHz5 kHz/div 3 kHz2 kHz/div300 Hz1 kHz/div300 HzBandwidth (3 dB)DC to 1 MHzInput Ranges10 mV/div to 10 V/div (decade sequence)Horizontal Sweep Rate10 msec/div to 10 µsec/div(decade sequence)1200 Super S2AC VOLTSVoltage Range0 to 100 VRMSAccuracy10% ± 2 countsFrequency Range45 Hz to 10 kHzDC VOLTSVoltage Range0 to 100 VAccuracy10% ± 2 countsTCXOTemperature Stability±0.2 ppm (O to 50°C)Ageing±0.5 ppm/yearLine Voltage105 to 130 VAC210 to 260 VACFrequency50 to 400 HzPower Consumption60 W typicalDC Input12 to 30 VDCDimensions332 mm (13.06 in) wide, 185 mm (7.3 in) high, 445 mm (17.5 in) deepWeight17.2 kg (38 lbs) without optionsStability0.05 ppm/year (0 to 50°C)Gain30 dB (±2 dB) typical, 250 kHz to 1000 kHz Test Set Output with Analyzer Installed Variable to +10 dBm, FM and CWVariable to +4 dBm, AMFrequency Range1 to 999.9999 MHzOutput LevelTrack High-5 dBm (+3/-5 dB) Track Mid-15 dBm (±7 dB)Track Low-40 dBm (+5/-10 dB) Flatness±1 dB over center 30% of display±5 dB over remaining displayTracking Span10 kHz to 10 MHzOutput Impedance50 Ω (nominal)SpuriousHarmonic and non harmonic are <5 dBc, <10 dBtypicalImage (RF + 180 MHz) 0 dB typicalDynamic Range70 dBTracking Range200 Hz to 1.0 kHzWhen ordering please quote the full order numberinformationOrderingNumbers Versions1200SS-1101200 Super S, 110 VAC1200SS-110-C1200 Super S, 110 VAC with Certificate ofCalibration1200SS-2201200 Super S, 220 VAC operation1200SS-220-C1200 Super S, 220 VAC with Certificate ofCalibration1200SSH-1101200 Super S Hi Stability (0.05 ppmOCXO time base, tracking generator) 110VAC operaation1200SSH-110-C1200 Super S Hi Stability, 110 VAC, Cert.Cal1200SSH-2201200 Super S Hi Stability, 220 VACoperation1200SSH-220-C1200 Super S Hi Stability, 220 VAC withCertificate of CalibrationAccessoriesAC0002Soft padded carrying caseAC0488IEEE-488 (in lieu of RS-232) (not avail.with 1200SSP or AC0450)AC0489CLEAR CHANNEL LTRAC510Paging encoderAC1201Telescopic antennaAC1205MicrophoneAC2200Maintenance manualAC2201Rack mounting kitAC4101Return loss bridge 5 MHz to 1 GHz (req.1200 Super S Premium)AC5249Generate Amplifier +30 dBm1200 Super S31200 Super SIFR Americas, Inc., 10200 West York Street, Wichita, Kansas67215-8999,USA.E-mail:***************Tel: +1 316 522 4981 Toll Free USA: 1 800 835 2352 Fax: +1 316 522 1360As we are always seeking to improve our products, the information in this document gives only a general indication of the product capacity, performance and suitability, none of which shall form part of any contract. 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浅析JEOL JEM-2100F场发射透射电子显微镜的使用
浅析JEOL JEM-2100F场发射透射电子显微镜的使用
滕颖丽
【期刊名称】《现代科学仪器》
【年(卷),期】2015(000)006
【摘要】JEOL JEM-2100F场发射透射电子显微镜是由日本电子株式会社制造的大型精密仪器.随着计算机技术和微电子技术的应用,使其控制变得简单,自动化程度大大提高,整体性能得到进一步提升.该仪器的主要特点是亮度高,束斑小,分辨率高,新式侧插测角台更容易倾转、旋转等等.JEM-2100F场发射透射电子显微镜广泛应用于材料科学、生命科学、医学等领域,以及半导体、纳米材料等行业.本文介绍JEOL JEM-2100F场发射透射电子显微镜的使用方法,通过系统分析,对透射电镜的维护保养工作提出了一些建议.
【总页数】4页(P140-143)
【作者】滕颖丽
【作者单位】大连交通大学大连116028
【正文语种】中文
【中图分类】R443
【相关文献】
1.JEOL发布新一代通用型场发射扫描电镜 [J], ;
2.场发射透射电子显微镜及能谱功能开发 [J], 高峰;李智丽;杨维宇
3.先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展--基于透射电子显微镜和扫描透射
电子显微镜 [J], 李茂华;杨延清;黄斌;罗贤;张伟;韩明;汝继刚
4.JEOL JSM-35C型扫描电子显微镜故障及排除 [J], 张文德;李煊;陆敏
5.先进的电子断层扫描技术在材料科学中的发展——基于透射电子显微镜和扫描透射电子显微镜 [J], 李茂华;杨延清;黄斌;罗贤;张伟;韩明;汝继刚;
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Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+材料的发光性能和温度探测
第 45 卷第 4 期2024年 4 月Vol.45 No.4Apr., 2024发光学报CHINESE JOURNAL OF LUMINESCENCECa2MgTeO6∶Bi3+, Mn4+材料的发光性能和温度探测祝冰心，朱肖，王磊*，时秋峰，郭海洁，乔建伟，崔彩娥，黄平（太原理工大学物理学院，山西晋中 030600）摘要：通过高温固相法成功制备了一系列Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+荧光粉，对其微观结构、形貌、发光特性和温敏特性进行了表征。
Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+荧光粉具有不同温度敏感性的双发射中心，分别来自于Bi3+离子3P1 →1S0跃迁和Mn4+离子的2E g →4A2g跃迁。
由于Bi3+、Mn4+离子的发光强度随温度变化的规律不同，利用该特性进行测温研究，在200~500 K范围内，该荧光粉的最大绝对灵敏度和相对灵敏度分别达到0.027 K-1和1.83%·K-1，并且观察到荧光粉的发光颜色由橙黄色逐渐变为紫红色。
实验结果表明，Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+荧光粉作为光学测温材料在温度探测方面有一定的潜力。
关键词：光学测温；荧光强度比； Bi3+； Mn4+；温敏特性中图分类号：O482.31 文献标识码：A DOI： 10.37188/CJL.20240005Luminescent Properties and Temperature Sensing ofCa2MgTeO6∶Bi3+, Mn4+ PhosphorsZHU Bingxin， ZHU Xiao， WANG Lei*， SHI Qiufeng， GUO Haijie， QIAO Jianwei， CUI Caie， HUANG Ping （College of Physics， Taiyuan University of Technology， Jinzhong 030600， China）* Corresponding Author， E-mail： wanglei_keke@Abstract：A series of novel Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+ phosphors were successfully prepared using the high-tempera⁃ture solid-state method. The microstructure， morphology， luminescence properties， and temperature-sensitive prop⁃erties were characterized. The dual emission centers with different temperature sensitivity of Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+ phosphors are derived from the 3P1 →1S0 transition of Bi3+ ions and the 2E g→4A2g transition of Mn4+ ions， respectively. Since the luminescence centers of Bi3+ and Mn4+ ions vary with temperature， the phosphor s maximum absolute sensi⁃tivity and relative sensitivity are 0.027 K-1 and 1.83%·K-1 in the 200-500 K range， respectively. At the same time，the luminescence color of Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+ changes from orange at 200 K to purple at 500 K. The experimental results show that Ca2MgTeO6∶Bi3+，Mn4+ phosphors can be used as optical materials for temperature detection.Key words：optical temperature measurement； fluorescence intensity ratio； Bi3+； Mn4+； thermo-responsive charac⁃teristics1 引 言温度的准确测量在航空航天、国防、气候、电子、测量设备、工业自动化和医学研究领域至关重要[1-2]。
质子交换膜燃料电池 第6部分：双极板特性测试方法-最新国标
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5.3.1 在温度为 25 ℃条件下称量样品的质量 m1。 5.3.2 将由该金属丝悬挂着的样品浸入到温度为 25 ℃的蒸馏水中。样品浸没于水中但要保持其悬浮 于烧杯中，不接触烧杯壁，见图 1 所示。用一根细金属丝尽快地除去粘附在样品上的气泡后，称量水中 样品质量 m2。按照 GB/T 4472 的规定进行测试。 5.3.3 当样品的密度小于 1 g/cm3 时，则在金属丝上另挂一个坠子，把样品坠入测定介质中进行称重， 测定坠子在测定介质中的质量 m3。
5 双极板材料密度测试
5.1 测试仪器
测试仪器包括：分析天平、温度计和金属丝。 分析天平：精度为0.1 mg； 温度计：用于测定空气温度和水温，精度为0.5 ℃； 金属丝：镍铬铁或铂合金丝，直径小于0.2 mm，用于吊挂试样。
5.2 样品准备
5.2.1 5.2.2 5.2.3 5.2.4 5.2.5
4.4 数据处理
抗弯强度按照公式（1）进行计算：
··········································· （1）
式中： σ——抗弯强度，单位为兆帕（MPa）； P——断裂负荷值，单位为牛（N）； L——支座跨距，单位为毫米（mm）； b——试样的宽度，单位为毫米（mm）； h——试样厚度，单位为毫米（mm）。 取3个有效样品为一组，计算出平均值作为试验结果。
注：a) 双极板材料：与成品双极板材料状态一致的板材； b) 双极板部件：与使用状态一致的成品双极板。
2 规范性引用文件
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类别 EDX 能谱
布鲁克电制冷能谱仪 Quantax 200，配备XFlash® 5030T探பைடு நூலகம்器
布鲁克电制冷能谱仪Quantax 800，配备XFlash® Detector 6|60T探测器
优势对比 能在TEM模式下，检测样品中含哪些元素，并对其相对含量进行半定量分析
1.比前者的探测器接收面积大1倍，同等条件下，信号更强，谱图采集时间更短； 2.结合STEM功能模块，除了可以确定有哪些元素，还可以对这些元素进行空间分布的分析 （elemental mapping & line scanning） STEM 1.用于采集HAADF图像，图像的衬度对样品中所含元素的原子序数比较敏感，有利区分不同元素的 空间分布，一般来说，同样的图像，比TEM模式下，具有更高的明暗反差； 2. 结合EDX能谱探测器，可以做元素的空间分布分析
类别 其他 附件 优势对比
无
收费标准 (试运行)
机时费：300元/小时（自主上机：150元/小时），样品费：30元/样，能谱费：30元/次
机时费：400元/小时，样品费：30元/样，能谱费：30元/次
对比总结
1.由于换样速度快，收费相对便宜，适合在优化实验条件过程中，或者要用2100F做更详细的 分析前，进行样品的筛选； 1.需要放大倍数超过10万倍的样品（比例尺为20nm及以下）； 2.对于放大倍数要求较低的样品，如最大放大倍数在5万倍以下的样品（用2100F拍摄时，比 2.需要做元素空间分布的样品； 例尺为50nm及以上）； 3.需要做HAADF-STEM的样品 3.热稳定性相对较差的材料（如橡胶、乳液、高分子胶束、生物样品等）
1.832的最高像素（4008*2672）大于 994的最高像素（2048*2048），因此同样的放大倍数， CCD 相机 优势对比 832的视野更大，能拍到的东西更多； 2.832对电子束敏感度相对低，抗电子束辐照能力相对强，不容易被电子束打坏，做电子衍射 相对比较安全
994的图像采集速度（30 fps）大于832的图像采集速度（14 fps），因此，994图像采集更快，在 拍有漂移的样品（如样品不太稳定，或者是观察原位反应等）和放大倍数较大（如高分辨）时， 图像质量更高
机型 类别
JEM-1400Plus 120 kV
JEM-2100F 200 kV
1.低电压意味着，电子束能量低，对样品损伤较小，对于不太稳定样品（如热稳定性较差的高 加速 分子材料，氟化物无机材料等）有利； 电压 优势对比 2.低电压，有利于提高图像衬度（即明暗对比度），有利于观察只含有C、H、O、N等轻元素的 1.电压高，电镜的空间分辨率高，适合需要做高分辨、看晶格条纹的样品； 2.电压高，电子束的穿透能力强，有利于观察相对厚的样品的内部结构 材料（如纤维素、木质素胶束等）； 3.低电压对镜筒内的真空要求较低，因此换样速度较快，每次换样抽真空只需要1分钟左右 类别 Gatan 832 Gatan 994