元器件的可靠性测试DPA和FA起到的作用

元器件的可靠性测试DPA和FA起到的作用
 破坏性物理分析（以下简称DPA）和失效分析（以下简称FA）是一项新兴工程，起源于二战后期。

从20世纪50年代开始，国外就兴起了可靠性技术研究，而国内则是从改革开放初期开始发展。

接下来，小编就来讲解介绍一下。

 1、失效分析（FA）
 美国军方在20世纪60年代末到70年代初采用了以失效分析为中心的元器件质量保证计划，通过制造、试验暴露问题，经过失效分析找出原因，改进设计、工艺和管理，而后再制造，再试验，再分析，再改进的多次循环，在6～7年间使集成电路的失效率从7×10-5/h降到3×10-9/h，集成电路的失效率降低了4个数量级，成功的实现了“民兵Ⅱ”洲际导弹计划、阿波罗飞船登月计划。

可见FA在各种重大工程中的作用是功不可没的。

归结起来，FA 的作用有主要以下5点：。